JPH06294900A - ウィグラ磁場の偏向自動調整装置 - Google Patents
ウィグラ磁場の偏向自動調整装置Info
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- JPH06294900A JPH06294900A JP8429893A JP8429893A JPH06294900A JP H06294900 A JPH06294900 A JP H06294900A JP 8429893 A JP8429893 A JP 8429893A JP 8429893 A JP8429893 A JP 8429893A JP H06294900 A JPH06294900 A JP H06294900A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ウィグラ磁場の偏向調整に用する時間、労力
を大幅に短縮、軽減し、ユーザーからの偏光切替要求に
対して迅速、かつ高精度に対応する。 【構成】 ウィグラ２，３により発生する周期磁場中に
金属ワイヤ４を張設してパルス電流を通電し、ローレン
ツ力により生じたワイヤ４の変位をセンサ８，９で検出
する。この検出変位波形を波形取込部１２で取込み、磁
場分布波形演算部１３で磁場分布への変換演算を行な
う。この磁場分布波形間の位相差を位相差判定部１４で
検出し、偏向方向設定入力部１５による設定値と比較す
る。等しくない場合は、その位相差量に応じてモータ２
１〜２４を駆動し、ウィグラ２，３が所定の相対位置ず
れ量となるように調整する。その後、再び金属ワイヤ４
にパルス電流を印加し、上記の調整動作を繰り返して実
行し、予め設定した偏向方向の位相差と、検出した磁場
分布間の位相差が一致した時点で調整を終了する。
を大幅に短縮、軽減し、ユーザーからの偏光切替要求に
対して迅速、かつ高精度に対応する。 【構成】 ウィグラ２，３により発生する周期磁場中に
金属ワイヤ４を張設してパルス電流を通電し、ローレン
ツ力により生じたワイヤ４の変位をセンサ８，９で検出
する。この検出変位波形を波形取込部１２で取込み、磁
場分布波形演算部１３で磁場分布への変換演算を行な
う。この磁場分布波形間の位相差を位相差判定部１４で
検出し、偏向方向設定入力部１５による設定値と比較す
る。等しくない場合は、その位相差量に応じてモータ２
１〜２４を駆動し、ウィグラ２，３が所定の相対位置ず
れ量となるように調整する。その後、再び金属ワイヤ４
にパルス電流を印加し、上記の調整動作を繰り返して実
行し、予め設定した偏向方向の位相差と、検出した磁場
分布間の位相差が一致した時点で調整を終了する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、自由電子レーザ装置や
シンクロトロン放射光装置に設置されるウィグラまたは
アンジュレータと呼ばれる周期磁場装置に係り、特にウ
ィグラ磁場の偏向自動調整装置に関する。
シンクロトロン放射光装置に設置されるウィグラまたは
アンジュレータと呼ばれる周期磁場装置に係り、特にウ
ィグラ磁場の偏向自動調整装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、図４に示すような同一の周期長λ
ωを持つ２つの平面ウィグラＡ（２５）、ウィグラＢ
（２６）を共通のＺ軸を持ち、両方の磁場が直交するよ
うに配置した直交ウィグラにおいて、ウィグラＡ，Ｂを
Ｚ方向に相互位置調整することにより、中心軸（Ｚ軸）
上の周期磁場の偏向方向を可変できることが知られてい
る。
ωを持つ２つの平面ウィグラＡ（２５）、ウィグラＢ
（２６）を共通のＺ軸を持ち、両方の磁場が直交するよ
うに配置した直交ウィグラにおいて、ウィグラＡ，Ｂを
Ｚ方向に相互位置調整することにより、中心軸（Ｚ軸）
上の周期磁場の偏向方向を可変できることが知られてい
る。
【０００３】上記のようなウィグラ磁場において、周期
磁場の偏向方向を可変する際には、従来、次に示すよう
な方法により、互いに直交するウィグラ磁場の相互位置
調整を行なっている。以下、−４５°の直線偏向から左
回り円偏向へ偏向方向を調整する場合を例として説明す
る。
磁場の偏向方向を可変する際には、従来、次に示すよう
な方法により、互いに直交するウィグラ磁場の相互位置
調整を行なっている。以下、−４５°の直線偏向から左
回り円偏向へ偏向方向を調整する場合を例として説明す
る。
【０００４】図５に示すように、−４５°の直線偏向２
７は、直交する２つのウィグラＡ，Ｂの相互位置ずれ量
ＺB が０の時に得られる。この時、直交する２方向の磁
場分布及び合成磁場をｘｙ平面に投影した様子を図５
（ｂ）に示す。この時、図５（ａ）から判るように、直
交する２方向の磁場分布波形の位相差は０である。図５
は、図４の直交ウィグラにおいて、相対位置ずれ量がＺ
B ＝０の時の合成磁場の偏向方向を示したものである。
７は、直交する２つのウィグラＡ，Ｂの相互位置ずれ量
ＺB が０の時に得られる。この時、直交する２方向の磁
場分布及び合成磁場をｘｙ平面に投影した様子を図５
（ｂ）に示す。この時、図５（ａ）から判るように、直
交する２方向の磁場分布波形の位相差は０である。図５
は、図４の直交ウィグラにおいて、相対位置ずれ量がＺ
B ＝０の時の合成磁場の偏向方向を示したものである。
【０００５】これに対して左回り円偏向は、直交するウ
ィグラＡ，Ｂの相対位置ずれ量がＺB ＝λω／４の時に
得られる。この場合の磁場分布及びｘｙ平面に投影した
合成磁場を図６（ｂ）に示す。同図に示す矢印２８は、
合成磁場の偏向方向を示している。このとき直交する２
方向の磁場分布波形の位相差は、図６（ａ）に示すよう
にπ／２である。
ィグラＡ，Ｂの相対位置ずれ量がＺB ＝λω／４の時に
得られる。この場合の磁場分布及びｘｙ平面に投影した
合成磁場を図６（ｂ）に示す。同図に示す矢印２８は、
合成磁場の偏向方向を示している。このとき直交する２
方向の磁場分布波形の位相差は、図６（ａ）に示すよう
にπ／２である。
【０００６】従来は、上記したような直交２方向の磁場
分布を計測するために、ウィグラ中心軸（Ｚ軸）上をホ
ール素子でスキャニングさせる方法を用いている。直交
する２つのウィグラの相対位置は、位置ずれ量ＺB を計
測することで管理できるはずであるが、相対位置決め精
度を高めることができるとしても、最終的には偏向の切
替完了は、中心軸上磁場の位相差で評価する必要があ
り、上記の中心軸上における磁場計測は不可避であっ
た。
分布を計測するために、ウィグラ中心軸（Ｚ軸）上をホ
ール素子でスキャニングさせる方法を用いている。直交
する２つのウィグラの相対位置は、位置ずれ量ＺB を計
測することで管理できるはずであるが、相対位置決め精
度を高めることができるとしても、最終的には偏向の切
替完了は、中心軸上磁場の位相差で評価する必要があ
り、上記の中心軸上における磁場計測は不可避であっ
た。
【０００７】図７は、偏向方向の切替時の一連の作業フ
ローを示したものである。まず、直交するウィグラの相
対位置を調整し（ステップＸ1 ）、直交２方向の磁場を
ホール素子により計測する（ステップＸ2 ）。そして、
この計測結果から位相ずれを検出して（ステップＸ3
）、その位相ずれが所定値となったか否かを判断し
（ステップＸ4 ）、位相ずれが所定値に達していなけれ
ば（ステップＸ1 ）に戻る。上記のように位相ずれが所
定値に収束するまで、ウィグラの相対位置調整と磁場計
測を繰り返し、位相ずれが所定値となった時点で偏向切
替作業を終了する。
ローを示したものである。まず、直交するウィグラの相
対位置を調整し（ステップＸ1 ）、直交２方向の磁場を
ホール素子により計測する（ステップＸ2 ）。そして、
この計測結果から位相ずれを検出して（ステップＸ3
）、その位相ずれが所定値となったか否かを判断し
（ステップＸ4 ）、位相ずれが所定値に達していなけれ
ば（ステップＸ1 ）に戻る。上記のように位相ずれが所
定値に収束するまで、ウィグラの相対位置調整と磁場計
測を繰り返し、位相ずれが所定値となった時点で偏向切
替作業を終了する。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】上記従来における周期
磁場の偏向方向の切替作業では、ウィグラの相対位置調
整を行なう度にホール素子による磁場計測を行なうが、
この方法では磁場計測に長時間を用するため、自由電子
レーザ光、シンクロトロン放射光の偏光方向をユーザー
の要求に応えて迅速に切替ることができない。
磁場の偏向方向の切替作業では、ウィグラの相対位置調
整を行なう度にホール素子による磁場計測を行なうが、
この方法では磁場計測に長時間を用するため、自由電子
レーザ光、シンクロトロン放射光の偏光方向をユーザー
の要求に応えて迅速に切替ることができない。
【０００９】また、ウィグラの周期長λωが１ｃｍ以下
となるような短ピッチのウィグラ（所謂マイクロウィグ
ラ）に適用する際、ホール素子のスキャニング系の位置
決め精度に対する要求が高くなり、計測システム全体が
複雑化すると共に、コストが上昇する。
となるような短ピッチのウィグラ（所謂マイクロウィグ
ラ）に適用する際、ホール素子のスキャニング系の位置
決め精度に対する要求が高くなり、計測システム全体が
複雑化すると共に、コストが上昇する。
【００１０】更に、マイクロウィグラの場合、ホール素
子を挿入するウィグラのギャップ部分は、通常０．５〜
１ｃｍ程度しかなく、ホール素子そのものの大きさと殆
ど同定度又はそれ以下となるため、計測そのものが不可
能となる場合がある。
子を挿入するウィグラのギャップ部分は、通常０．５〜
１ｃｍ程度しかなく、ホール素子そのものの大きさと殆
ど同定度又はそれ以下となるため、計測そのものが不可
能となる場合がある。
【００１１】本発明は上記実情に鑑みてなされたもの
で、磁場計測に用する時間を短縮して、ウィグラ磁場の
偏向調整に用する時間、労力を大幅に短縮、軽減するこ
とができ、ユーザーからの偏光切替要求に対して迅速、
かつ高精度に対応できるウィグラ磁場の偏向自動調整装
置を提供することを目的とする。
で、磁場計測に用する時間を短縮して、ウィグラ磁場の
偏向調整に用する時間、労力を大幅に短縮、軽減するこ
とができ、ユーザーからの偏光切替要求に対して迅速、
かつ高精度に対応できるウィグラ磁場の偏向自動調整装
置を提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明に係るウィグラ磁
場の偏向自動調整装置は、互いに直交して配置したウィ
グラにより周期磁場を発生する周期磁場発生手段と、上
記周期磁場の偏向方向を予め設定する偏向方向設定手段
と、上記ウィグラ中心軸上に張設された金属ワイヤと、
この金属ワイヤに電流パルスを通電するパルス電源と、
このパルス電源による電流パルスの通電によって生じる
金属ワイヤの直交２方向の変位から上記ウィグラ中心軸
上での直交２方向の周期磁場を計測する計測手段と、こ
の計測手段により計測された２方向計測波形の位相差と
上記偏向方向設定手段による設定値との位相差を判定す
る位相差判定出手段と、この判定手段により判定された
位相差に基づいて上記直交するウィグラの相対位置を調
整し、上記直交２方向の周期磁場の位相差量を上記設定
値に一致させる手段とを具備したことを特徴とする。
場の偏向自動調整装置は、互いに直交して配置したウィ
グラにより周期磁場を発生する周期磁場発生手段と、上
記周期磁場の偏向方向を予め設定する偏向方向設定手段
と、上記ウィグラ中心軸上に張設された金属ワイヤと、
この金属ワイヤに電流パルスを通電するパルス電源と、
このパルス電源による電流パルスの通電によって生じる
金属ワイヤの直交２方向の変位から上記ウィグラ中心軸
上での直交２方向の周期磁場を計測する計測手段と、こ
の計測手段により計測された２方向計測波形の位相差と
上記偏向方向設定手段による設定値との位相差を判定す
る位相差判定出手段と、この判定手段により判定された
位相差に基づいて上記直交するウィグラの相対位置を調
整し、上記直交２方向の周期磁場の位相差量を上記設定
値に一致させる手段とを具備したことを特徴とする。
【００１３】
【作用】まず、偏向方向設定手段により偏向方向をプリ
セットした後、パルス電源より金属ワイヤにパルス電流
を印加する。この結果、上記金属ワイヤには、ウィグラ
により生じる周期磁場と電流パルスとの相互作用によ
り、周期磁場分布に応じた変位を生じる。この変位を計
測手段で計測し、変位波形から磁場分布への変換演算を
行なって磁場分布波形を求める。そして、位相差判定手
段で、上記磁場分布波形間の位相差と偏向方向設定手段
で設定された値と一致比較し、等しくない場合は、その
位相差量をモータドライバの駆動量に換算してウィグラ
駆動用モータを駆動し、ウィグラが所定の相対位置ずれ
量となるように調整する。上記の調整動作を繰り返して
実行し、予め設定した偏向方向に対応する位相差量と、
検出、演算した磁場分布間の位相差量が一致した時点で
調整を終了する。
セットした後、パルス電源より金属ワイヤにパルス電流
を印加する。この結果、上記金属ワイヤには、ウィグラ
により生じる周期磁場と電流パルスとの相互作用によ
り、周期磁場分布に応じた変位を生じる。この変位を計
測手段で計測し、変位波形から磁場分布への変換演算を
行なって磁場分布波形を求める。そして、位相差判定手
段で、上記磁場分布波形間の位相差と偏向方向設定手段
で設定された値と一致比較し、等しくない場合は、その
位相差量をモータドライバの駆動量に換算してウィグラ
駆動用モータを駆動し、ウィグラが所定の相対位置ずれ
量となるように調整する。上記の調整動作を繰り返して
実行し、予め設定した偏向方向に対応する位相差量と、
検出、演算した磁場分布間の位相差量が一致した時点で
調整を終了する。
【００１４】この結果、任意の偏向方向へのウィグラ磁
場の切替を簡便、迅速、かつ低コストで行なえるように
なり、ユーザーからの自由電子レーザ光、シンクロトロ
ン放射光の偏光可変要求に素早く対応できる。
場の切替を簡便、迅速、かつ低コストで行なえるように
なり、ユーザーからの自由電子レーザ光、シンクロトロ
ン放射光の偏光可変要求に素早く対応できる。
【００１５】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の一実施例に係
るウィグラ磁場の偏向自動調整装置について説明する。
図１において、２，３は互いに直交して配置されたウィ
グラで、ウィグラ２はＢy 方向の周期磁場を発生し、ウ
ィグラ３はＢx 方向の周期磁場を発生する。これらのウ
ィグラ２，３の中心軸上に極細の金属ワイヤ４が張設さ
れる。この金属ワイヤ４の一端は固定端５により固定さ
れ、他端はローラ６を介して重り７が取り付けられる。
この重り７により、金属ワイヤ４に張力を与えている。
この金属ワイヤ４には、パルス電源１から電流パルス印
加される。また、金属ワイヤ４には、側部に光学式のＸ
方向変位検出センサ８が設けられると共に、下部にＹ方
向変位検出センサ９が設けられる 上記金属ワイヤ４には、ウィグラ２，３により生じる周
期磁場と、パルス電源１からの電流パルスとの相互作用
（ローレンツ力）により、周期磁場分布に応じた変位を
生じる。この変位は、横波となって金属ワイヤ４中を伝
搬する。この金属ワイヤ４中を伝搬する横波は、時系列
変位波形として変位検出センサ８，９で検出される。こ
の変位検出センサ８，９で検出された変位波形は、Ｘ方
向変位計アンプ１０、Ｙ方向変位計アンプ１１で増幅さ
れた後、波形取込部１２でＡ／Ｄ変換され、磁場分布波
形演算部１３で変位波形から磁場分布への変換演算が行
なわれると同時に、雑音除去等の信号処理が施される。
この磁場分布波形演算部１３での磁場分布波形のイメー
ジを図３（ａ），（ｂ）に示す。
るウィグラ磁場の偏向自動調整装置について説明する。
図１において、２，３は互いに直交して配置されたウィ
グラで、ウィグラ２はＢy 方向の周期磁場を発生し、ウ
ィグラ３はＢx 方向の周期磁場を発生する。これらのウ
ィグラ２，３の中心軸上に極細の金属ワイヤ４が張設さ
れる。この金属ワイヤ４の一端は固定端５により固定さ
れ、他端はローラ６を介して重り７が取り付けられる。
この重り７により、金属ワイヤ４に張力を与えている。
この金属ワイヤ４には、パルス電源１から電流パルス印
加される。また、金属ワイヤ４には、側部に光学式のＸ
方向変位検出センサ８が設けられると共に、下部にＹ方
向変位検出センサ９が設けられる 上記金属ワイヤ４には、ウィグラ２，３により生じる周
期磁場と、パルス電源１からの電流パルスとの相互作用
（ローレンツ力）により、周期磁場分布に応じた変位を
生じる。この変位は、横波となって金属ワイヤ４中を伝
搬する。この金属ワイヤ４中を伝搬する横波は、時系列
変位波形として変位検出センサ８，９で検出される。こ
の変位検出センサ８，９で検出された変位波形は、Ｘ方
向変位計アンプ１０、Ｙ方向変位計アンプ１１で増幅さ
れた後、波形取込部１２でＡ／Ｄ変換され、磁場分布波
形演算部１３で変位波形から磁場分布への変換演算が行
なわれると同時に、雑音除去等の信号処理が施される。
この磁場分布波形演算部１３での磁場分布波形のイメー
ジを図３（ａ），（ｂ）に示す。
【００１６】そして、上記図３（ａ），（ｂ）に示した
Ｂx ，Ｂy の波形間の位相差が位相差判定部１４で検出
され、偏向方向設定入力部１５で入力された設定値に基
づく位相差と比較される。この位相差は、ウィグラ移動
量演算部１６で、モータドライバの駆動量に換算され
る。この駆動量は、モータドライバ１７，１８及びモー
タ切替回路１９，２０を介してウィグラ駆動用モータ２
１〜２４に伝達され、ウィグラ２，３が所定の相対位置
ずれ量となるようにＺ方向に移動される。
Ｂx ，Ｂy の波形間の位相差が位相差判定部１４で検出
され、偏向方向設定入力部１５で入力された設定値に基
づく位相差と比較される。この位相差は、ウィグラ移動
量演算部１６で、モータドライバの駆動量に換算され
る。この駆動量は、モータドライバ１７，１８及びモー
タ切替回路１９，２０を介してウィグラ駆動用モータ２
１〜２４に伝達され、ウィグラ２，３が所定の相対位置
ずれ量となるようにＺ方向に移動される。
【００１７】この一連の処理が終了すると、再びパルス
電源１から金属ワイヤ４にパルス電流を印加し、上記の
調整を繰り返す。図２は、上記の調整動作をフローチャ
ートにより示したものである。以下、このフローチャー
トに従って全体の調整動作を説明する。まず、偏向方向
設定入力部１５により、偏向方向、即ち位相差をプリセ
ットする（ステップＡ1 ）。次いで、パルス電源１より
金属ワイヤ４にパルス電流を印加する（ステップＡ2
）。この結果、上記金属ワイヤ４には、ウィグラ２，
３により生じる周期磁場と、パルス電源１からの電流パ
ルスとの相互作用により、周期磁場分布に応じた変位を
生じる。この変位は、横波となって金属ワイヤ４中を伝
搬し、時系列変位波形として変位検出センサ８，９によ
り検出される。この変位検出センサ８，９で検出された
変位波形は、変位計アンプ１０，１１で増幅された後、
波形取込部１２でＡ／Ｄ変換されて磁場分布波形演算部
１３に入力される（ステップＡ3 ）。これにより磁場分
布波形演算部１３は、変位波形から磁場分布への変換演
算を行ない、図３（ａ），（ｂ）に示すように磁場分布
波形Ｂx ，Ｂy を求める（ステップＡ4 ）。
電源１から金属ワイヤ４にパルス電流を印加し、上記の
調整を繰り返す。図２は、上記の調整動作をフローチャ
ートにより示したものである。以下、このフローチャー
トに従って全体の調整動作を説明する。まず、偏向方向
設定入力部１５により、偏向方向、即ち位相差をプリセ
ットする（ステップＡ1 ）。次いで、パルス電源１より
金属ワイヤ４にパルス電流を印加する（ステップＡ2
）。この結果、上記金属ワイヤ４には、ウィグラ２，
３により生じる周期磁場と、パルス電源１からの電流パ
ルスとの相互作用により、周期磁場分布に応じた変位を
生じる。この変位は、横波となって金属ワイヤ４中を伝
搬し、時系列変位波形として変位検出センサ８，９によ
り検出される。この変位検出センサ８，９で検出された
変位波形は、変位計アンプ１０，１１で増幅された後、
波形取込部１２でＡ／Ｄ変換されて磁場分布波形演算部
１３に入力される（ステップＡ3 ）。これにより磁場分
布波形演算部１３は、変位波形から磁場分布への変換演
算を行ない、図３（ａ），（ｂ）に示すように磁場分布
波形Ｂx ，Ｂy を求める（ステップＡ4 ）。
【００１８】そして、上記磁場分布波形Ｂx ，Ｂy 間の
位相差が位相差判定部１４で検出され、上記偏向方向設
定入力部１５で入力されたプリセット値に等しいか否か
比較される（ステップＡ5 ，Ａ6 ）。磁場分布波形Ｂx
，Ｂy 間の位相差がプリセット値に等しくない場合
は、検出値とプリセット値との位相差量が、ウィグラ移
動量演算部１６で、モータドライバの駆動量に換算され
る（ステップＡ7 ）。この駆動量は、モータドライバ１
７，１８及びモータ切替回路１９，２０を介してウィグ
ラ駆動用モータ２１〜２４に伝達され、ウィグラ２，３
が所定の相対位置ずれ量となるようにＺ方向に移動され
る（ステップＡ8 ）。
位相差が位相差判定部１４で検出され、上記偏向方向設
定入力部１５で入力されたプリセット値に等しいか否か
比較される（ステップＡ5 ，Ａ6 ）。磁場分布波形Ｂx
，Ｂy 間の位相差がプリセット値に等しくない場合
は、検出値とプリセット値との位相差量が、ウィグラ移
動量演算部１６で、モータドライバの駆動量に換算され
る（ステップＡ7 ）。この駆動量は、モータドライバ１
７，１８及びモータ切替回路１９，２０を介してウィグ
ラ駆動用モータ２１〜２４に伝達され、ウィグラ２，３
が所定の相対位置ずれ量となるようにＺ方向に移動され
る（ステップＡ8 ）。
【００１９】その後、ステップＡ2 に戻り、再びパルス
電源１から金属ワイヤ４にパルス電流を印加し、上記の
調整動作を繰り返して実行する。この繰り返し調整を行
なって、予め設定した偏向方向に対応する位相差量と、
検出、演算した磁場分布Ｂx ，ＢY 間の位相差量が一致
した時点で調整が終了する。
電源１から金属ワイヤ４にパルス電流を印加し、上記の
調整動作を繰り返して実行する。この繰り返し調整を行
なって、予め設定した偏向方向に対応する位相差量と、
検出、演算した磁場分布Ｂx ，ＢY 間の位相差量が一致
した時点で調整が終了する。
【００２０】
【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、周
期磁場中に張設した金属ワイヤにパルス電流を通電し、
ローレンツ力によって生じたワイヤの変位から周期磁場
の強度を計測しているので、磁場計測に要する時間を大
幅に短縮でき、ウィグラ磁場の偏向調整に要する時間、
労力を大幅に短縮、軽減することができる。これに伴っ
て、単位時間当りの調整繰り返し頻度を高めて、短時間
で高精度の偏向調整機能を実現でき、ユーザーからの自
由電子レーザ光やシンクロトロン放射光の偏光切替要求
に対して迅速かつ高精度に対応することができる。
期磁場中に張設した金属ワイヤにパルス電流を通電し、
ローレンツ力によって生じたワイヤの変位から周期磁場
の強度を計測しているので、磁場計測に要する時間を大
幅に短縮でき、ウィグラ磁場の偏向調整に要する時間、
労力を大幅に短縮、軽減することができる。これに伴っ
て、単位時間当りの調整繰り返し頻度を高めて、短時間
で高精度の偏向調整機能を実現でき、ユーザーからの自
由電子レーザ光やシンクロトロン放射光の偏光切替要求
に対して迅速かつ高精度に対応することができる。
【図１】本発明の一実施例に係るウィグラ磁場の偏向自
動調整装置の構成を示すブロック図。
動調整装置の構成を示すブロック図。
【図２】同実施例の動作を示すフローチャート。
【図３】同実施例における偏向調整前後の磁場分布波形
を示す図。
を示す図。
【図４】可変偏向機能を持つ直交ウィグラの外観構成を
示す斜視図。
示す斜視図。
【図５】図４の直交ウィグラにおいて、相対位置ずれ量
ＺB が０の時の合成磁場の偏向方向を示す図。
ＺB が０の時の合成磁場の偏向方向を示す図。
【図６】図４の直交ウィグラにおいて、相対位置ずれ量
ＺB がπ／２の時の合成磁場の偏向方向を示す図。
ＺB がπ／２の時の合成磁場の偏向方向を示す図。
【図７】従来における偏向調整の手順を示すフローチャ
ート。
ート。
１ パルス電源 ２ Ｂy 方向の周期磁場を発生するウィグラ ３ Ｂx 方向の周期磁場を発生するウィグラ ４ 金属ワイヤ ５ 金属ワイヤの固定端 ６ 金属ワイヤ支持用ローラ ７ 金属ワイヤに張力を与える重り ８ Ｘ方向変位検出センサ ９ Ｙ方向変位検出センサ １０ Ｘ方向変位計アンプ １１ Ｙ方向変位計アンプ １２ 変位波形取込部 １３ 磁場分布波形演算部 １４ 位相差判定部 １５ 偏向方向設定入力部 １６ ウィグラ移動量演算部 １７，１８ ウィグラ駆動用モータドライバ １９，２０ ウィグラ駆動用モータ切替回路 ２１〜２４ ウィグラ駆動用モータ
Claims (1)
- 【請求項１】 互いに直交して配置したウィグラにより
周期磁場を発生する周期磁場発生手段と、上記周期磁場
の偏向方向を予め設定する偏向方向設定手段と、上記ウ
ィグラ中心軸上に張設された金属ワイヤと、この金属ワ
イヤに電流パルスを通電するパルス電源と、このパルス
電源による電流パルスの通電によって生じる金属ワイヤ
の直交２方向の変位から上記ウィグラ中心軸上での直交
２方向の周期磁場を計測する計測手段と、この計測手段
により計測された２方向計測波形の位相差と上記偏向方
向設定手段による設定値との位相差を検出する位相差検
出手段と、この検出手段により検出された位相差に基づ
いて上記直交するウィグラの相対位置を調整し、上記直
交２方向の周期磁場の位相差量を上記設定値に一致させ
る手段とを具備したことを特徴とするウィグラ磁場の偏
向自動調整装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8429893A JPH06294900A (ja) | 1993-04-12 | 1993-04-12 | ウィグラ磁場の偏向自動調整装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8429893A JPH06294900A (ja) | 1993-04-12 | 1993-04-12 | ウィグラ磁場の偏向自動調整装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06294900A true JPH06294900A (ja) | 1994-10-21 |
Family
ID=13826574
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8429893A Withdrawn JPH06294900A (ja) | 1993-04-12 | 1993-04-12 | ウィグラ磁場の偏向自動調整装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06294900A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7176680B1 (en) * | 1999-05-11 | 2007-02-13 | Gravitec Instruments Limited | Measurement of magnetic fields using a string fixed at both ends |
-
1993
- 1993-04-12 JP JP8429893A patent/JPH06294900A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7176680B1 (en) * | 1999-05-11 | 2007-02-13 | Gravitec Instruments Limited | Measurement of magnetic fields using a string fixed at both ends |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000704 |