JP3018100B2 - 引張り式動的粘弾性測定装置 - Google Patents
引張り式動的粘弾性測定装置Info
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、引張り方式の動的粘弾性測定装置に関する
ものである。
ものである。
本発明は、引張り方式で動的粘弾性を測定する際、試
料内部に発生する緩和現象の収束を自動検出し、常に交
流力を上回る最適な張力を試料に加える測定を目的と
し、試料の長さ変化を検出する歪検出器と、試料に力を
加える電磁力発生器と、電磁力発生器を移動する移動機
構と、前記移動機構の移動量を制御する移動量制御部
と、前記歪検出器からの歪量を微分する歪量微分回路
と、任意の目標微分値を設定する目標微分値設定器と、
前記歪量微分回路と前記目標微分値設定値の出力を比較
し張力制御タイミング信号を出力する比較器とから構成
され、前記移動機構の移動や前記電磁力発生器の発生力
変更をした時、試料内部に応力緩和やクリープ等の緩和
現象が発生し試料にかかる実効的な張力と試料長さは相
関関係を持ちながら緩和時間だけ変化し続けるが、歪検
出器からの歪量を歪量微分回路が微分した値と目標微分
設定器にあらかじめ設定してある緩和現象が収束したと
判断できる目標の試料長微分値を前記比較器で比較して
前者が後者を下回った時、試料内部に発生した緩和現象
による試料にかかる実効的な張力の変動は影響のない程
度まで収束したと判断し前記比較器は張力制御タイミン
グ信号を出力できるため、試料に適切な張力を加えるた
めの移動機構の移動制御と電磁力発生器の電磁力制御を
試料に発生する緩和現象の影響を受けずにできるように
したものである。
料内部に発生する緩和現象の収束を自動検出し、常に交
流力を上回る最適な張力を試料に加える測定を目的と
し、試料の長さ変化を検出する歪検出器と、試料に力を
加える電磁力発生器と、電磁力発生器を移動する移動機
構と、前記移動機構の移動量を制御する移動量制御部
と、前記歪検出器からの歪量を微分する歪量微分回路
と、任意の目標微分値を設定する目標微分値設定器と、
前記歪量微分回路と前記目標微分値設定値の出力を比較
し張力制御タイミング信号を出力する比較器とから構成
され、前記移動機構の移動や前記電磁力発生器の発生力
変更をした時、試料内部に応力緩和やクリープ等の緩和
現象が発生し試料にかかる実効的な張力と試料長さは相
関関係を持ちながら緩和時間だけ変化し続けるが、歪検
出器からの歪量を歪量微分回路が微分した値と目標微分
設定器にあらかじめ設定してある緩和現象が収束したと
判断できる目標の試料長微分値を前記比較器で比較して
前者が後者を下回った時、試料内部に発生した緩和現象
による試料にかかる実効的な張力の変動は影響のない程
度まで収束したと判断し前記比較器は張力制御タイミン
グ信号を出力できるため、試料に適切な張力を加えるた
めの移動機構の移動制御と電磁力発生器の電磁力制御を
試料に発生する緩和現象の影響を受けずにできるように
したものである。
従来、この種の装置においては、試料の応力緩和やク
リープ現象等による試料に加わる実効的な張力変動に悪
影響をおよぼす緩和現象の収束時間とは無関係に一定時
間後に張力制御タイミング信号を出力する構成となって
いた。
リープ現象等による試料に加わる実効的な張力変動に悪
影響をおよぼす緩和現象の収束時間とは無関係に一定時
間後に張力制御タイミング信号を出力する構成となって
いた。
上記従来技術においては、試料に発生した緩和現象
（クリープ）の収束とは無関係に一定時間に次の張力制
御を行うため、緩和現象の収束が設定した一定時間より
短い場合は張力制御をすばやく出来る長所をもつ反面、
試料に発生している緩和現象による影響がまだ大きく試
料長の変動と試料に加わる実効的な張力も変動している
最中にもかかわらず、張力制御タイミング信号を出力し
次の張力制御を開始するため、張力制御は非常に不安定
な状況になったり、最悪の場合は制御不可能となり測定
中断になることも時々発生した。
（クリープ）の収束とは無関係に一定時間に次の張力制
御を行うため、緩和現象の収束が設定した一定時間より
短い場合は張力制御をすばやく出来る長所をもつ反面、
試料に発生している緩和現象による影響がまだ大きく試
料長の変動と試料に加わる実効的な張力も変動している
最中にもかかわらず、張力制御タイミング信号を出力し
次の張力制御を開始するため、張力制御は非常に不安定
な状況になったり、最悪の場合は制御不可能となり測定
中断になることも時々発生した。
また、試料に発生する緩和現象の影響は、測定する温
度、測定する張力により変化するものであるから、適切
な一定時間を見つけるのはほとんど不可能であった。
度、測定する張力により変化するものであるから、適切
な一定時間を見つけるのはほとんど不可能であった。
本発明は、このような従来の問題点を解消し、誰にで
も正しくすばやく測定のできる引張り方式の動的粘弾性
測定装置を提供することを目的とする。
も正しくすばやく測定のできる引張り方式の動的粘弾性
測定装置を提供することを目的とする。
本発明は、上記の問題を速やかに解決するために開発
されたものであり、試料の一端を固定的に把持する試料
ホルダーと、試料の他端を把持する試料チャックと、前
記試料チャックに連結された検出棒と、前記検出棒の位
置変化を検出する歪検出器と、前記検出棒の一端を設け
られ、前記検出棒および前記試料チャックを介して試料
に力を伝達する電磁力発生器と、前記電磁力発生器を移
動する移動機構と、前記電磁力発生器に張力を発生させ
る直流発生回路と、前記電磁力発生器に正弦波力を発生
させる正弦波発生器と、前記移動機構の移動量を制御す
る移動量制御部と、前記歪検出器から歪量を入力し微分
する歪量微分回路と、目標微分値を設定する目標微分値
設定器と、前記歪量微分回路の出力値と前記目標微分値
設定器からの出力を比較し張力制御タイミング信号を出
力する比較器とから構成されている。
されたものであり、試料の一端を固定的に把持する試料
ホルダーと、試料の他端を把持する試料チャックと、前
記試料チャックに連結された検出棒と、前記検出棒の位
置変化を検出する歪検出器と、前記検出棒の一端を設け
られ、前記検出棒および前記試料チャックを介して試料
に力を伝達する電磁力発生器と、前記電磁力発生器を移
動する移動機構と、前記電磁力発生器に張力を発生させ
る直流発生回路と、前記電磁力発生器に正弦波力を発生
させる正弦波発生器と、前記移動機構の移動量を制御す
る移動量制御部と、前記歪検出器から歪量を入力し微分
する歪量微分回路と、目標微分値を設定する目標微分値
設定器と、前記歪量微分回路の出力値と前記目標微分値
設定器からの出力を比較し張力制御タイミング信号を出
力する比較器とから構成されている。
上記構成の作用は、まず、ある張力の下で試料の熱膨
張な軟化に伴う長の変化が生じた場合、歪検出器で試料
長さの変化が検出される。このとき、試料に加わる実効
的な張力の変化が生じるため、前記移動機構を前記歪み
検出器の出力に基づいて移動量制御部が移動量ΔＬだけ
移動させるか、電磁力発生器の直流力をΔＦだけ変化さ
せるか、あるいは双方を一緒に変更する。これにより試
料内部には応力緩和あるいはクリープ等の緩和現象が発
生するため前記歪検出器の出力する歪量は、初めは大き
く変動して徐々に小さい変動となり、やがて収束する。
歪量と相関関係にある試料に加わる実効的な張力も同様
に変動し、やがて収束する。つまり、ある一定時間での
歪量変動量を知れば、試料に発生している緩和現象の収
束状況も把握できることになる。収束状況の情報とし
て、前記歪量微分回路は前記歪み検出器の時々刻々変動
する歪量を微分して比較器に出力する。一方、目標微分
値設定器には、緩和現象が収束したと判断できる程度の
目標微分値が設定してある。前記比較器は前記歪量微分
回路の出力する微分値と前記目標微分値設定値に設定し
た値を比較して前者が後者を下回った時、試料内部に発
生した緩和現象は収束したと判断できるため次の張力制
御に移っても良いという意味の張力制御タイミング信号
を出力する。このため、張力制御は緩和現象の影響で変
動し続けている試料の歪量を入力して不安定な制御ルー
プになることもなく、また必要以上に長い時間間隔で制
御ループになることもないため、正確ですばやい動的粘
弾性測定ができる。
張な軟化に伴う長の変化が生じた場合、歪検出器で試料
長さの変化が検出される。このとき、試料に加わる実効
的な張力の変化が生じるため、前記移動機構を前記歪み
検出器の出力に基づいて移動量制御部が移動量ΔＬだけ
移動させるか、電磁力発生器の直流力をΔＦだけ変化さ
せるか、あるいは双方を一緒に変更する。これにより試
料内部には応力緩和あるいはクリープ等の緩和現象が発
生するため前記歪検出器の出力する歪量は、初めは大き
く変動して徐々に小さい変動となり、やがて収束する。
歪量と相関関係にある試料に加わる実効的な張力も同様
に変動し、やがて収束する。つまり、ある一定時間での
歪量変動量を知れば、試料に発生している緩和現象の収
束状況も把握できることになる。収束状況の情報とし
て、前記歪量微分回路は前記歪み検出器の時々刻々変動
する歪量を微分して比較器に出力する。一方、目標微分
値設定器には、緩和現象が収束したと判断できる程度の
目標微分値が設定してある。前記比較器は前記歪量微分
回路の出力する微分値と前記目標微分値設定値に設定し
た値を比較して前者が後者を下回った時、試料内部に発
生した緩和現象は収束したと判断できるため次の張力制
御に移っても良いという意味の張力制御タイミング信号
を出力する。このため、張力制御は緩和現象の影響で変
動し続けている試料の歪量を入力して不安定な制御ルー
プになることもなく、また必要以上に長い時間間隔で制
御ループになることもないため、正確ですばやい動的粘
弾性測定ができる。
以下、本発明を一実施例に示した図面に基づき詳細に
説明する。
説明する。
第１図中１は試料であり、試料１の一端は試料ホルダ
ー２に固定的に把持されている。試料１の他端は試料チ
ャック３により把持されており、試料チャック３は検出
棒４の一端に連結されている。検出棒４は、２枚の板バ
ネ５により機構部保持体14に弾性的に固定され、かつ検
出棒４の運動は直線（一次元）方向に規制されている。
また、検出棒４の一部にはコア６が固定され、コア６の
周囲には差動トランス７が前記機構部保持体14に固定さ
れる形で保持され、コア６の相対変位を試料の歪として
検出する歪検出器を構成している。
ー２に固定的に把持されている。試料１の他端は試料チ
ャック３により把持されており、試料チャック３は検出
棒４の一端に連結されている。検出棒４は、２枚の板バ
ネ５により機構部保持体14に弾性的に固定され、かつ検
出棒４の運動は直線（一次元）方向に規制されている。
また、検出棒４の一部にはコア６が固定され、コア６の
周囲には差動トランス７が前記機構部保持体14に固定さ
れる形で保持され、コア６の相対変位を試料の歪として
検出する歪検出器を構成している。
検出棒４の他端にはコイル８が固定され、コイル８を
取巻く形で前記機構部保持体14に固定されたマグネット
９が配置され、コイル８とマグネット９とは電磁力発生
器を構成している。
取巻く形で前記機構部保持体14に固定されたマグネット
９が配置され、コイル８とマグネット９とは電磁力発生
器を構成している。
一方、前記試料１の周囲には、試料１の温度を設定す
る目的で炉17が配設されている。
る目的で炉17が配設されている。
図中の正弦波発生器23の出力（正弦波）は振幅を調節
され加算器21に送られ、直流発生回路22の出力と加算器
21で加算され、加算器21の出力は前記コイル８に送ら
れ、前記マグネット９との共働により直流重畳された正
弦波力を発生する。発生した力は前記検出棒４および前
記試料チャック３を介して前記試料１に歪を生じさせ、
試料１に生じた歪は検出棒４を介して前記コアに伝えら
れ、前記差動トランス７で検出された信号は歪測定回路
18に送られる。また、前記正弦波発生器23の出力および
前記歪測定回路18の出力は位相差測定回路19に送られ、
位相差信号として出力される。前記歪測定回路18の出力
は前記直流力発生回路22へ出力される。前記正弦波発生
器23の出力と、前記歪測定回路18の出力は振幅比測定回
路20が入力し、それぞれの振幅を測定し、力と歪の振幅
比信号として出力する。
され加算器21に送られ、直流発生回路22の出力と加算器
21で加算され、加算器21の出力は前記コイル８に送ら
れ、前記マグネット９との共働により直流重畳された正
弦波力を発生する。発生した力は前記検出棒４および前
記試料チャック３を介して前記試料１に歪を生じさせ、
試料１に生じた歪は検出棒４を介して前記コアに伝えら
れ、前記差動トランス７で検出された信号は歪測定回路
18に送られる。また、前記正弦波発生器23の出力および
前記歪測定回路18の出力は位相差測定回路19に送られ、
位相差信号として出力される。前記歪測定回路18の出力
は前記直流力発生回路22へ出力される。前記正弦波発生
器23の出力と、前記歪測定回路18の出力は振幅比測定回
路20が入力し、それぞれの振幅を測定し、力と歪の振幅
比信号として出力する。
一方、前記機構部保持14は軸受け13を介して、ボール
ネジ12と案内棒11に係合しており、ステッピングモータ
15の回転に伴う駆動ベルト16の運動により駆動されるボ
ールネジ12の回転に従い左右に移動する。前記案内棒1
1、ボールネジ12、軸受13、ステッピングモータ15、駆
動ベルト16は全体として、前記機構部保持体14の移動機
構を形成している。前記ステッピングモータ15は移動量
制御部24の出力に基づいて移動する。歪量微分回路25は
前記歪測定回路18の出力を微分し比較器26へ送出する。
目標微分値設定器27には試料の緩和現象が収束状態時に
前記歪量微分回路25が出力する値と同程度の小さい微分
値が設定してあり、前記比較器26と接続されている。前
記比較器26は前記歪量微分回路25の出力値と前記目標設
定器27の微分値と比較して前者が後者を下回った時張力
制御タイミング信号を出力する。
ネジ12と案内棒11に係合しており、ステッピングモータ
15の回転に伴う駆動ベルト16の運動により駆動されるボ
ールネジ12の回転に従い左右に移動する。前記案内棒1
1、ボールネジ12、軸受13、ステッピングモータ15、駆
動ベルト16は全体として、前記機構部保持体14の移動機
構を形成している。前記ステッピングモータ15は移動量
制御部24の出力に基づいて移動する。歪量微分回路25は
前記歪測定回路18の出力を微分し比較器26へ送出する。
目標微分値設定器27には試料の緩和現象が収束状態時に
前記歪量微分回路25が出力する値と同程度の小さい微分
値が設定してあり、前記比較器26と接続されている。前
記比較器26は前記歪量微分回路25の出力値と前記目標設
定器27の微分値と比較して前者が後者を下回った時張力
制御タイミング信号を出力する。
本実施例の動作を説明すると、前記コイル８およびマ
グネット９で発生した直流力が印加された状態で、前記
試料１に熱膨張や軟化に伴う長さ変化が生じると、前記
歪測定回路18で歪が測定され、これをゼロに復帰するよ
う前記移動量制御部24を動作させ前記ステッピングモー
タ15を回転させ移動機構を移動させる制御方式が、前記
直流発生回路22の電流値を変え電磁力発生器の発生する
直流力を変える制御方式が行われる。どちらの制御方式
で歪をゼロに復帰するかは、測定者の決める測定モード
で決定される（図示せず）。
グネット９で発生した直流力が印加された状態で、前記
試料１に熱膨張や軟化に伴う長さ変化が生じると、前記
歪測定回路18で歪が測定され、これをゼロに復帰するよ
う前記移動量制御部24を動作させ前記ステッピングモー
タ15を回転させ移動機構を移動させる制御方式が、前記
直流発生回路22の電流値を変え電磁力発生器の発生する
直流力を変える制御方式が行われる。どちらの制御方式
で歪をゼロに復帰するかは、測定者の決める測定モード
で決定される（図示せず）。
まず、移動機構を移動させる方式を説明すると、前記
移動量制御部24が前記歪測定回路18で測定した歪量に対
応して前記ステッピングモータ15を回転させると、前記
駆動ベルト16、ボールネジ12、軸受13、機構部保持体1
4、板バネ５、検出棒４、試料チャック３、試料１の順
で伝達される。前記検出棒４に固定された前記コア６と
前記コイル８は、検出棒４と一緒に移動する。試料１の
他端は前記試料ホルダー２に固定されており、かつ試料
ホルダー２は筐体ベース10に固定されているため、検出
棒４に固定された前記コア６は〔試料１の張力〕と〔電
磁力発生器の張力−バネ５の復元力〕とが釣り合った点
に移動する。この時、試料１は応力緩和やクリープ等の
緩和現象が発生した状況下にある。
移動量制御部24が前記歪測定回路18で測定した歪量に対
応して前記ステッピングモータ15を回転させると、前記
駆動ベルト16、ボールネジ12、軸受13、機構部保持体1
4、板バネ５、検出棒４、試料チャック３、試料１の順
で伝達される。前記検出棒４に固定された前記コア６と
前記コイル８は、検出棒４と一緒に移動する。試料１の
他端は前記試料ホルダー２に固定されており、かつ試料
ホルダー２は筐体ベース10に固定されているため、検出
棒４に固定された前記コア６は〔試料１の張力〕と〔電
磁力発生器の張力−バネ５の復元力〕とが釣り合った点
に移動する。この時、試料１は応力緩和やクリープ等の
緩和現象が発生した状況下にある。
次に、電磁力発生器の直流力を変え方式を説明する
と、前記直流発生回路22の電流値を前記歪測定回路18で
測定した歪量に対応した出力値は前記加算器21で前記正
弦波発生器23の出力値（＝０）と加算された電流が前記
コイル８に送出される。コイル８と前記マグネット９は
電磁力発生器を形成しているため、コイル８に流れた電
流に比例した張力は検出棒４、バネ５、試料チャック
３、試料１、試料ホルダー２、筐体ベース10と伝達され
る。検出棒４に固定されたコア６は〔試料１の張力〕と
〔電磁力発生器の張力−バネ５の復元力〕とが釣り合う
点に移動する。この時、試料１には応力緩和のため、移
動機構を移動した時と同じように緩和現象が発生してい
る。
と、前記直流発生回路22の電流値を前記歪測定回路18で
測定した歪量に対応した出力値は前記加算器21で前記正
弦波発生器23の出力値（＝０）と加算された電流が前記
コイル８に送出される。コイル８と前記マグネット９は
電磁力発生器を形成しているため、コイル８に流れた電
流に比例した張力は検出棒４、バネ５、試料チャック
３、試料１、試料ホルダー２、筐体ベース10と伝達され
る。検出棒４に固定されたコア６は〔試料１の張力〕と
〔電磁力発生器の張力−バネ５の復元力〕とが釣り合う
点に移動する。この時、試料１には応力緩和のため、移
動機構を移動した時と同じように緩和現象が発生してい
る。
試料１に発生した緩和現象は、試料１に加わる実効的
な張力を緩和時間だけ変えるため、前記コア６も連動し
て緩和時間だけ位置が変わり続ける。前記コア６の位置
変化は前記差動トランスを介し、前記歪測定回路に測定
され歪量として前記歪量微分回路25に送られ前記歪量微
分回路25は微分した出力を比較器26に出力する。試料１
に発生した緩和現象が収束してくると、前記コア６の位
置変化も収束してくるため、前記歪量微分回路25の出力
ちはゼロに収束してくる。前記比較器26は前記歪量微分
回路25の出力と前記目標微分値設定器27に設定して位置
と比較して前者が後者を下回った時、張力制御タイミン
グ信号を出力する。この張力制御タイミング信号は、試
料１内に発生した緩和現象による試料に加わる実効的な
張力変動の収束を自動検出した信号であるため、この信
号がアクティブになって時点で張力制御を再開すれば、
緩和現象が収束し安定した。前記歪測定回路18の歪量を
基に正確な張力制御が行える。
な張力を緩和時間だけ変えるため、前記コア６も連動し
て緩和時間だけ位置が変わり続ける。前記コア６の位置
変化は前記差動トランスを介し、前記歪測定回路に測定
され歪量として前記歪量微分回路25に送られ前記歪量微
分回路25は微分した出力を比較器26に出力する。試料１
に発生した緩和現象が収束してくると、前記コア６の位
置変化も収束してくるため、前記歪量微分回路25の出力
ちはゼロに収束してくる。前記比較器26は前記歪量微分
回路25の出力と前記目標微分値設定器27に設定して位置
と比較して前者が後者を下回った時、張力制御タイミン
グ信号を出力する。この張力制御タイミング信号は、試
料１内に発生した緩和現象による試料に加わる実効的な
張力変動の収束を自動検出した信号であるため、この信
号がアクティブになって時点で張力制御を再開すれば、
緩和現象が収束し安定した。前記歪測定回路18の歪量を
基に正確な張力制御が行える。
なお、移動量制御部24、歪量微分回路25、比較器26、
目標微分値設定器27はアナログ回路でも、デジタル回路
でも構成できることや、前記歪量微分回路25と目標微分
値設定器27の微分値を任意時間間隔での差分値に変更す
ることや、ステッピングモータ15を他の種類のモータに
変更すること等の選択、変更は本発明の内容を左右する
ものでないことはもちろんのことである。
目標微分値設定器27はアナログ回路でも、デジタル回路
でも構成できることや、前記歪量微分回路25と目標微分
値設定器27の微分値を任意時間間隔での差分値に変更す
ることや、ステッピングモータ15を他の種類のモータに
変更すること等の選択、変更は本発明の内容を左右する
ものでないことはもちろんのことである。
以上のように本発明によれば、歪量微分回路と比較器
と目標微分値設定器とを設けることにより、試料に発生
した緩和現象の収束を自動検出する手段を持つため、緩
和現象が制御ループに入っても、正確ですばやい張力制
御が実現できることにより、引張り式動的粘弾性測定装
置の測定の応用範囲を大きく広げることができる。
と目標微分値設定器とを設けることにより、試料に発生
した緩和現象の収束を自動検出する手段を持つため、緩
和現象が制御ループに入っても、正確ですばやい張力制
御が実現できることにより、引張り式動的粘弾性測定装
置の測定の応用範囲を大きく広げることができる。
第１図は本発明の一実施例を示す一部ブロック図入り断
面図である。 １……試料 ２……試料ホルダー ３……試料チャック ４……検出棒 ５……板バネ ６……コア ７……差動トランス ８……コイル ９……マグネット 10……筐体ベース 11……案内棒 12……ボールネジ 13……軸受 14……機構部保持体 15……ステッピングモータ 16……駆動ベルト 17……炉 18……歪測定回路 19……位相差測定回路 20……振幅比測定回路 21……加算器 22……直流発生回路 23……正弦波発生回路 24……移動量制御部 25……歪量微分回路 26……比較器 27……目標微分値設定値器
面図である。 １……試料 ２……試料ホルダー ３……試料チャック ４……検出棒 ５……板バネ ６……コア ７……差動トランス ８……コイル ９……マグネット 10……筐体ベース 11……案内棒 12……ボールネジ 13……軸受 14……機構部保持体 15……ステッピングモータ 16……駆動ベルト 17……炉 18……歪測定回路 19……位相差測定回路 20……振幅比測定回路 21……加算器 22……直流発生回路 23……正弦波発生回路 24……移動量制御部 25……歪量微分回路 26……比較器 27……目標微分値設定値器
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 19/00 - 19/10 G01N 11/00 - 11/16 G01N 3/00 - 3/62 ＪＩＣＳＴファイル（ＪＯＩＳ)
Claims (1)
- 【請求項１】試料の一端を固定的に把持する試料ホルダ
ーと、試料の他端を把持する試料チャックと、前記試料
チャックに連結された検出棒と、前記検出棒の位置変化
を検出する歪検出器と、前記検出棒の一端に設けられた
前記検出棒および前記試料チャックを介して試料に力を
伝達する電磁力発生器と、前記電磁力発生器を移動する
移動機構と、前記電磁力発生器に張力を発生させる直流
発生回路と、前記電磁力発生器に正弦波力を発生させる
正弦波発生器と、前記移動機構の移動量を制御する移動
量制御部と、前記歪検出器から歪量を入力し微分する歪
量微分回路と、目標微分値を設定する目標微分値設定器
と、前記歪量微分回路と前記目標微分値設定器との出力
値の大小を比較し結果を張力制御タイミング信号として
出力する比較器とを備え、前記試料に加える張力を制御
目標値にするため、前記移動機構を移動したり前記電磁
力発生器の電磁力を増減した時、試料内部に発生する緩
和現象のため試料への実効的な張力は緩和時間だけ変動
し続けるが、緩和現象の収束を前記歪量微分回路の出力
値と前記目標微分値設定器の設定値を前記比較器が比較
して前者が後者を下回った時前記張力制御タイミング信
号を出力することで自動検出できることを特徴とする引
張り式動的粘弾性測定装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2291052A JP3018100B2 (ja) | 1990-10-29 | 1990-10-29 | 引張り式動的粘弾性測定装置 |
| US07/783,047 US5182950A (en) | 1990-10-29 | 1991-10-28 | Tension type dynamic viscoelasticity measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2291052A JP3018100B2 (ja) | 1990-10-29 | 1990-10-29 | 引張り式動的粘弾性測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04164234A JPH04164234A (ja) | 1992-06-09 |
| JP3018100B2 true JP3018100B2 (ja) | 2000-03-13 |
Family
ID=17763812
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2291052A Expired - Fee Related JP3018100B2 (ja) | 1990-10-29 | 1990-10-29 | 引張り式動的粘弾性測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5182950A (ja) |
| JP (1) | JP3018100B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6205862B1 (en) | 1997-11-25 | 2001-03-27 | Seiko Instruments Inc. | Viscoelasticity measurement apparatus |
| FR2925691B1 (fr) * | 2007-12-21 | 2011-11-11 | 01Db Metravib | Procede et systeme de mesures couplees electriques et mecaniques pour caracteriser des materiaux en conditions dynamiques |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2936612A (en) * | 1956-01-11 | 1960-05-17 | Bell Telephone Labor Inc | Avoidance of fatigue effects under dynamic strain |
| US3664179A (en) * | 1970-05-11 | 1972-05-23 | Gilmore Ind Inc | Apparatus and method for controlling a resonant testing machine |
-
1990
- 1990-10-29 JP JP2291052A patent/JP3018100B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-10-28 US US07/783,047 patent/US5182950A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5182950A (en) | 1993-02-02 |
| JPH04164234A (ja) | 1992-06-09 |
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