JP2542190B2

JP2542190B2 - 粘弾性測定装置

Info

Publication number: JP2542190B2
Application number: JP61094360A
Authority: JP
Inventors: 義征大澤; 巧起小池; 満横内
Original assignee: RESUKA KK
Current assignee: RESUKA KK
Priority date: 1986-04-23
Filing date: 1986-04-23
Publication date: 1996-10-09
Anticipated expiration: 2011-10-09
Also published as: JPS62250335A

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕この発明は、高分子材料の力学的粘弾性を測定するた
めの粘弾性測定装置に関する。

〔従来の技術〕

高分子材料等の各種素材の粘弾性の測定は、新しい素
材の開発及び検査のために欠くことができない重要な測
定である。粘弾性の測定方法は、測定モードにより分類
すると、動的測定方法及び静的測定方法とがある。動的
な粘弾性測定方法としては、捩れ自由減衰法，振動リー
ド法，強制振動法とが知られている。静的な粘弾性測定
方法は、一定の歪を試料に与え、応力の時間変化（応力
緩和曲線）を解析することにより、粘弾性諸量を測定す
るものである。

この応力緩和測定方法は、その結果内に含まれる膨大
な情報にも拘らず、測定方法とデータ処理方法の未発達
から動的測定方法に比べてその真価を充分に発揮する迄
に至っていない。つまり、一定の歪を与えてから、数日
にわたって応力緩和曲線のデータを収集する必要があ
り、また、収集された多量のデータの計算処理が繁雑で
あった。

しかしながら、荷重センサの応答特性の向上及びマイ
クロコンピュータによるデータの処理能力を利用するこ
とによって、上述の応力緩和測定方法の持つ問題点が克
服されつつある。

〔発明が解決しようとする問題点〕

応力緩和曲線のデータを得る場合には、歪発生器によ
り試料に対して一定の歪を瞬間的に与え、荷重センサに
より応力の変化が測定される。しかしながら、試料の固
定端側での伸び又はガタがある場合には、試料に対して
加えられた歪の値に誤差が生じる。また、変位初期にお
ける緩和曲線から粘弾性諸量を導くことができれば、測
定時間の大幅な短縮が可能である。しかし、歪を印加し
た直後には、リンギング成分のような振動雑音が含まれ
ているので、変位初期における緩和曲線を用いるのが困
難であった。

従って、この発明の目的は、固定端側での伸び又はガ
タ，歪発生器の誤差等の影響を取り除くことにより、試
料の真の歪を測定することができる粘弾性測定装置を提
供することにある。

この発明の他の目的は、振動雑音が在っても、変位初
期における真の応力緩和曲線を抽出することができ、測
定時間の短縮化を可能にした粘弾性測定装置を提供する
ことにある。

〔問題点を解決するための手段〕

この発明は、共通の軸線上に配置され、軸線上で摺動
自在とされた第１の軸及び第２の軸と、第１の軸の上端
に設けられ、第１の軸により加えられる荷重を検出する
荷重センサと、第１の軸の下端及び第２の軸の上端に夫
々設けられた第１及び第２の試料係止手段と、第１及び
第２の試料係止手段の間に支持された試料の歪を検出す
るために、第１の軸及び第２の軸の軸線上の変位量を夫
々検出する第１及び第２の距離センサと、第１の距離セ
ンサの出力信号及び第２の距離センサの出力信号の差成
分から歪を求める手段と、第２の軸の下端側に配置さ
れ、試料に対して軸線上の圧縮方向或いは伸び方向の何
れかの方向の歪を与える歪発生器とを備えたことを特徴
とする粘弾性測定装置である。

〔作用〕

試料の上側の変位が第１の距離センサによって検出さ
れ、また、試料の下側の変位が第２の距離センサによっ
て検出される。従って、第１の距離センサ及び第２の距
離センサの出力信号の差から試料に対して与えられた歪
の真の値を測定することができる。また、所定の応力を
継続的に印加しておき、歪の変化を測定するクリープ測
定を行うことができる。更に、歪を瞬間的に加えた時の
初期の応力の変化に含まれる振動性の雑音を一方の距離
センサの出力信号によって除去することができる。

〔実施例〕

この発明の一実施例について下記の項目に従って説明
する。

a.基本的構成 b.機構部及び歪発生機構 c.制御システム d.変形例 a.基本的構成この一実施例は、試料に歪を与えると共に、歪測定，
応力測定等のためのセンサーが取り付けられた機構部
と、機構部の制御，センサーの出力信号の処理等を行う
マイクロコンピュータとにより構成されている。第１図
は、機構部の基本的構成を示す。

第１図において、１が下部ベース、２が上部ベース、
３及び４が中間ベースを夫々示す。これらのベース1,2,
3,4は、所定の間隔で平行に支持されている。上部チャ
ック５及び下部チャック６によって短冊状の試料７の両
端が挟持されている。試料７が二点鎖線で示す恒温槽８
内に収納された状態で粘弾性の測定が行われる。上部チ
ャック５は、軸９の一端に固着され、軸９の他端が応力
検出用の荷重センサ10の測定子に固着されている。荷重
センサ10は、軸11により支持される。軸11は、摺動自在
に上部ベース２により支持される。

荷重センサ10は、歪を試料７に対して印加する場合の
固定端側である。しかしながら、試料７に応力が印加す
る直前の位置（応力零の位置）に自動的に位置調整を行
うために、軸11が上部ベース２上に設けられたパルスモ
ータ12によって上下動可能とされている。パルスモータ
12の回転力は、ベルト13を介して軸スライド機構14に伝
達される。

下部チャック６は、軸15の一端に固着されている。軸
15は、軸９及び11と共通の軸線上において、中間ベース
４に摺動自在に挿通される。軸15の他端には、ストッパ
ー16が固着されている。また、中間ベース４に固着され
た円筒部材17と螺合する歪設定リング18が設けられる。
ストッパー16の円筒状の中空部内にスライダ19が収納さ
れる。スライダ19は、軸9,11,15と共通の軸線上におい
て、中間ベース３に摺動自在に挿通された軸20の一端に
固着される。中間ベース３に設けられた円筒部材21に位
置規制リング22が螺合される。この軸20の他端が上部ソ
レノイド23の作動軸と連結される。上部ソレノイド23
は、中間ベース３に固定される。一方、下部ベース１に
固定された下部ソレノイド24の作動軸と上部ソレノイド
23の作動軸とが連結される。

上部ソレノイド23及び下部ソレノイド24は、プッシュ
プルソレノイドであって、通電時に作動軸が電磁力によ
って変位させられる。上部ソレノイド23に駆動電流が供
給されると、Fuで示す上方に作動軸（軸20及びスライダ
19）が変位する。他方の下部ソレノイド24に駆動電流が
供給されると、Fdで示す下方に作動軸（軸20及びスライ
ダ19）が変位する。上部ソレノイド23又は下部ソレノイ
ド24により試料７に対して圧縮方向又は伸び方向の歪を
与えることができる。この歪の量は、歪設定リング18に
よって設定することができる。歪設定リング18とストッ
パー16の上端の間のギャップGuが圧縮方向又は伸び方向
の歪の量と対応している。第１図では、ストッパー16の
下端と位置規制リング22との間のギャップGdが示されて
いるが、上部ソレノイド23及び下部ソレノイド24への通
電がされていない状態では、ストッパー16が自重で下方
に落下するので、Gdが零である。

応力緩和測定時には、設定された歪が圧縮方向又は伸
び方向に瞬間的に印加され、荷重センサ10によって応力
の変化が測定される。圧縮方向の歪を発生する時には、
下部ソレノイド24がON（通電）とされるか、又は上部ソ
レノイド23及び下部ソレノイド24がOFF（非通電）とさ
れ、即ち、（Gd＝０）とされた状態において、歪設定リ
ング18によって、ギャップGu即ち、歪が設定される。

上部ソレノイド23がONされる時に、設定された歪が試
料７に付与される。上部ソレノイド23がONされるのに伴
い、スライダ19が上方に変位し、スライダ19がストッパ
ー16に衝合し、次に、ストッパー16の上部がギャップGu
の間を移動して歪設定リング18に衝突する。つまり、上
部ソレノイド23がONされてから、歪が発生する迄の間、
スライダ19が遊びの距離Luを変位する。

伸び方向の所定の歪は、上述と同様に、（Gd＝０）の
状態で歪設定リング18によってギャップGuを調整するこ
とにより設定される。歪を発生する時には、最初に、上
部ソレノイド23がONとされ、（Gu＝０）とされる。この
状態で形成されるギャップGdが設定された歪と等しい値
となる。次に、下部ソレノイド24がONとされ、やや遅れ
て上部ソレノイド23がOFFとされる。上部ソレノイド23
がOFFする時からスライダ19の下方への移動が開始し、
遊びの距離Ldを移動した後、スライダ19がストッパー16
に衝突する。スライダ19に伴って、ストッパー16の下部
がギャップGdの間を移動して位置規制リング22に衝突
し、伸び方向の歪が試料７に付与される。

上述のように、歪発生時に，遊びの距離Lu又はLdを設
けているのは、インパルス的な歪を発生するためであ
る。第２図は、プッシュプルソレノイド（上部ソレノイ
ド23及び下部ソレノイド24）を模式的に示し、31a及び3
1bが作動軸を示す。プッシュプルソレノイドのON時に
は、一方の作動軸31aが例えば下げられ、ギャップｄを
変位した後に、他方の作動軸31bに衝突する。プッシュ
プルソレノイドのONした時点からギャップｄが零となる
迄の動作特性は、第３図に示される。つまり、ONの時か
ら一点鎖線で示すタイミング迄の間は、加速度が小さ
く、ギャップｄの減少が遅く、一点鎖線で示すタイミン
グの後には、加速度が大きくなる。

前述のように、ストッパー16とスライダ19との間の遊
びの距離Lu又はLdを設けているのは、プッシュプルソレ
ノイドの動作特性で加速度が大きい領域（第３図の斜線
領域）を用いて歪を発生するためである。つまり、加速
度が大きい領域では、立ち上がりが極めて鋭いインパル
ス状の歪を発生できる。応力緩和曲線のデータから、粘
弾性諸量を導くための解析は、δ関数の歪を前提として
いる。従って、この一実施例では、δ関数に極めて近似
した歪が発生し、解析の結果として得られる測定データ
の精度を高くすることができる。

この一実施例では、上部チャック５が固着される軸９
に円板状の金属板25が取り付けられる。この金属板25と
近接して上部距離センサ26が設けられる。また、下部チ
ャック６が固着される軸15と一体に変位するストッパー
16に金属板27が取り付けられる。この金属板27と近接し
て下部距離センサ28が設けられる。距離センサ26及び28
の高周波コイルと金属板25及び27との夫々の間隔xu及び
xdによって、高周波コイルのインダクタンスが変化す
る。このインダクタンスを検出することにより、距離セ
ンサ26及び28は、上記の間隔に比例した出力電圧（直流
電圧）を夫々発生する。

距離センサ26及び28の出力電圧が夫々差動アンプ29に
供給される。差動アンプ29の出力端子30には、（xd−x
u）に相当する検出電圧が得られる。距離センサ26及び2
8は、クリープ測定時の歪の検出に用いられ、また、応
力緩和測定時の真の歪の検出に用いられ、更に、応力緩
和曲線の変位初期の上方の抽出に用いられる。

クリープ測定では、上部ソレノイド23又は下部ソレノ
イド24によって試料７に所定の応力が継続的に加えら
れ、その時の歪の変化が検出される。歪は、距離センサ
26及び28の出力電圧の差（xd−xu）として検出される。
実際には、上部チャック5,荷重センサ10等の試料７の固
定端側に伸び又はガタ等がある。しかしながら、この歪
の誤差は、２個の距離センサ26及び28の出力電圧に同等
に含まれるので、差動アンプ29から取り出される検出電
圧は、誤差がキャンセルされたものとなり、正確に歪を
示す値となる。

応力緩和測定時には、試料７に対して真に加えられた
歪の値を検出することが必要である。前述のように、歪
設定リング18によって機械的に歪が設定される。しか
し、歪発生機構の寸法誤差等があると、試料７に真に加
えられた歪の量が設定値と異なる。一例として、伸び方
向の歪Guを与える時に、全く誤差がなければ、（xu＝x
d）の初期状態で歪を発生した場合、〔（xd＋Gu）−xu
＝Gu〕となる。若し、歪発生機構に誤差αが在ると、
〔（xd＋Gu）−xu＝Gu＋α〕となる。従って、差動アン
プ29の出力電圧から真に加えられた歪（Gu＋α）を知る
ことができる。

更に、この一実施例では、第４図に示すように、歪が
瞬間的に与えられてから期間T1で応力の変化が検出さ
れ、次に、T2の休止期間後に、再び歪が加えられる動作
が設定された回数繰り返される。一例として、（T1＝T2
＝２時間）とされる。応力の立ち上がり時の情報及び応
力の緩和時の情報の両者から粘弾性諸量が導かれる。

歪が瞬間的に加えられた後の初期の応力Ｗの変化に
は、第４図において、破線32で示すような振動性の雑音
（所謂リンギング）が含まれている。この振動性の雑音
は、距離センサ26及び28の夫々の出力電圧に含まれるの
で、一方の距離センサ例えば距離センサ26の出力電圧か
ら雑音成分を抽出することができる。この抽出された雑
音成分によって荷重センサ10からの検出信号中の雑音成
分をキャンセルすることができる。この雑音の対策の処
理及び差動アンプ29の処理は、マイクロコンピュータで
実行される。

また、第４図における破線33で示すように、歪の印加
を停止しても、試料７のヒステリシスによって、応力Ｗ
が零に復帰しない。この状態で、次の測定を行うこと
は、測定誤差の発生の原因となる。従って、この一実施
例では、歪が加えられる前に荷重センサ10の指示が零と
なるように、パルスモータ12がマイクロコンピュータに
より制御され、自動的に零調が行われる。

b.機構部及び歪発生機構第５図は、この発明の一実施例の機構部を示す。下部
ベース１と中間ベース４とが４本の支柱41によって平行
に支持され、中間ベース４と上部ベース２とが４本の支
柱42によって平行に支持される。また、下部ベース１と
中間ベース３とが４本の支柱43によって平行に支持され
る。

上部ベース２上には、パルスモータ12が設けられ、パ
ルスモータ12の回転がベルト13を介してマイクロメータ
と同様の軸スライド機構14に伝達される。軸スライド機
構14によって軸11が上下方向に摺動される。44及び45
は、軸受けである。軸11を固定するために、ソレノイド
フィンガ46が設けられている。ソレノイドフィンガ46が
ONとされると、軸11がフィンガにより挟着され、位置固
定がなされる。

軸11と軸９との間に荷重センサ10が介在される。軸９
には、例えば、アルミニウムからなる金属板25が固着さ
れ、金属板25と近接した位置に距離センサ26が設けられ
る。距離センサ26の位置は、ねじ47及び48により調整さ
れる。軸９の先端に上部チャック５が設けられる。中間
ベース４を挿通された軸15の先端に下部チャック６が設
けられ、上部チャック５及び下部チャック６により短冊
状の高分子材料等の試料７の両端が夫々挟着される。試
料７は、所定温度に制御された恒温槽８内に収納され
る。

下部ベース１と中間ベース４との間の構造は、第６図
及び第７図に詳細に示される。第６図は、下部ベース１
に取り付けられた下部ソレノイド24及び中間ベース３に
取り付けられた上部ソレノイド23を示す。上部ソレノイ
ド23の軸49と下部ソレノイド24の軸50とがスリーブ51に
よって連結されている。上部ソレノイド23のON時にFuで
示す上方向の変位が発生し、下部ソレノイド24のON時に
Fdで示す下方向の変位が発生する。

第７図は、中間ベース３及び中間ベース４の間の構成
の詳細を示す。中間ベース３上に円筒部材21が固定さ
れ、円筒部材21の外周面に位置規制リング22が螺合して
いる。位置規制リング22をロックするためにロックリン
グ53が設けられている。上部ソレノイドの軸52とビス止
めされた軸20が円筒部材21内に挿通される。この軸20の
先端にスライダ19が固着されている。

また、中間ベース４に円筒部材17が取り付けられる。
円筒部材17の外周面に歪設定リング18が螺合される。54
は、歪設定リング18の位置をロックするためのロックリ
ングである。歪設定リング18には、目盛（図示せず）が
付されており、指針55によってギャップGu（即ち、歪）
の量が表示される。歪設定リング18の１回転が500〔μ
ｍ〕の歪と対応している。円筒部材17内に軸15が挿通さ
れる。56は、軸15の回り止めベアリングである。この軸
15は、中間ベース４を摺動自在に貫通し、その先端に下
部チャック６を有する。また、軸15に断熱材57が設けら
れ、距離センサ28等に軸15を介して熱が伝わることを防
止されている。

軸15の下端にストッパー16が取り付けられる。このス
トッパー16の中空部内に軸20の先端に固着されたスライ
ダ19が収納される。スライダ19は、上方に変位する時に
ストッパー16の上部内面に衝合し、また、下方に変位す
る時に、ストッパー16の下部内面に衝合する。このスラ
イダ19がストッパー16と衝合する迄の距離が遊びの距離
Ｌ（＝Lu＝Ld）である。ストッパー16の上端面と歪設定
リング18の下端面との間にギャップGuが存在し、ストッ
パー16の下端面と位置規制リング22の上端面との間にギ
ャップGdが存在する。

更に、ストッパー16の上部フランジが距離センサ28に
対する金属板27として用いられる。距離センサ28は、間
隔xdを測定する。また、距離センサ28は、ねじ58及び59
によってその位置の調整が可能とされている。

c.制御システム第８図は、センサからの信号を処理して粘弾性に関す
る諸量を求めると共に、測定シーケンスを制御するため
のシステム構成を示す。

第８図において61で示すバスラインに対し、16ビット
CPU62,RAM63,A/Dコンバータ64,キーボード65,プリンタ6
6及びXYプロッタ67が結合されている。また、マウス68,
CRTディスプレイ69,外部メモリ70が設けられている。

荷重センサ10の出力信号がゲインコントロールアンプ
72を介してA/Dコンバータ64に供給され、ディジタルの
荷重データに変換される。距離センサ26及び28の出力信
号がリニアライザ73及び74を夫々介してA/Dコンバータ6
4に供給され、ディジタルの距離データに変換される。
リニアライザ73及び74は、直線性の補償のための回路で
ある。これらの測定データは、RAM63に格納され、CPU62
により解析される。

また、インターフェース71が設けられ、インターフェ
ース71を介された制御データが制御回路75に供給され
る。制御回路75は、パルスモータ12,ソレノイドフィン
ガ46,上部ソレノイド23,下部ソレノイド24,恒温槽８の
温度調整器76を夫々制御する制御信号を発生する。第８
図では、省略されているが、恒温槽８の温度を検出する
温度センサが設けられており、この温度センサからの温
度データがA/Dコンバータ64に供給される。

上述のこの発明の一実施例の動作を第９図及び第10図
のフローチャートを参照して説明する。第９図は、測定
開始の前に行われる測定準備動作のフローチャートであ
り、第10図は、伸び方向の歪を与える測定時のフローチ
ャートである。

測定準備動作は、マニュアル操作で行われるので、最
初にスイッチ切り替えによりマニュアル動作が指定され
る（ステップ）。次に、下部ソレノイド24がONとさ
れ、ギャップGdがゼロとされる（ステップ）。この状
態で、歪設定リング18を回して、歪の設定がなされる
（ステップ）。また、下部距離センサ28の零調がなさ
れる（ステップ）。

次のステップにおいて、下部ソレノイド24がOFFと
され、上部ソレノイド23がONとされ、（Gu＝０）とされ
る。パルスモータ12がマニュアルスイッチで動作され、
上部チャック５の位置が調整され、試料７が上部チャッ
ク５及び下部チャック６に取り付けられる（ステップ
）。

荷重センサ10の出力信号が供給される応力指示計を見
ながら、応力指示計が動き始める迄、上部チャック５の
位置がパルスモータ12によって調整され、試料７の弛み
が除かれる（ステップ）。また、応力指示計の零調が
ステップでなされ、上部距離センサ26の零調がステッ
プでなされる。ステップにおいて、恒温槽８の温度
設定，荷重感度の設定，繰り返し時間Ｔの設定，繰り返
し回数の設定等の定数の設定が行われる。以上で測定準
備動作が完了する。

第10図に示される測定動作は、オート動作でなされ、
最初にオート動作が指定される（ステップ）。ステッ
プにおいて、パルスモータ12による自動零調が行わ
れ、荷重センサ10の出力信号で示される検出荷重がゼロ
に持ち来たされる。次に、所定時間を経過するか、又は
スタートスイッチを押すことによりスタートパルスが発
生する（ステップ）。

スタートパルスの立ち上がりでパルスモータ12がOFF
し、ソレノイドフィンガ46がONし、ブレーキがかかる
（ステップ）。この状態でステップにおいて、下部
ソレノイド24がONし、上部ソレノイド23がOFFし、試料
７に設定された歪が加わる。この場合、下部ソレノイド
24のONのタイミングが上部ソレノイド23のOFFのタイミ
ングよりやや先行される。この時から所定時間Ｔの間、
連続的に測定データがマイクロコンピュータに取り込ま
れる（ステップ）。つまり、荷重センサ10からのデー
タ，距離センサ26及び28の夫々からのデータ，温度デー
タがマイクロコンピュータに取り込まれる。

設定された測定時間Ｔを経過すると、下部ソレノイド
24がOFFし、上部ソレノイド23がONし、試料７が初期状
態に復帰する（ステップ）。また、ソレノイドフィン
ガ46がOFFし、パルスモータ12がONとなる（ステップ
）。試料７のヒステリシスを補正するために、次の測
定の前にパルスモータ12による自動零調がなされる（ス
テップ）。そして、設定された時間Ｔを経過後に自動
的にスタートパルスが発生する（ステップ）。スター
トパルスの発生回数から設定された回数に測定回数が達
したかどうか調べられる（ステップ）。測定回数が設
定回数に達しない場合には、ステップに戻り、測定動
作が繰り返される。測定回数が設定回数に達した場合に
は、ステップにおいて、測定終了信号が発生し、測定
動作が終了する。

d.変形例上述の動作説明は、応力緩和測定の場合である。しか
し、伸び方向に所定の応力を試料７に対して連続して加
え、試料７の歪の変化を距離センサ26及び28により測定
するクリープ測定行うようにしても良い。

また、歪を検出するために、高周波コイルのインダク
タンスの変化を検出するものに限らず、磁気的な距離セ
ンサ等を使用しても良い。更に、歪発生器としては、ソ
レノイドを使用するものに限らず、測定者のハンドル操
作によって駆動される歪発生機構を用いても良い。

〔発明の効果〕

この発明では、試料の上側及び下側の変位を夫々検出
する距離センサが設けられ、また、これらの距離センサ
により検出された変位の差から試料に加えられた歪を知
ることができる。従って、この発明に依れば、クリープ
測定時に正確に歪を測定できると共に、試料に真に加え
られた歪を測定できる。更に、歪印加時の変位初期にお
ける応力変化が振動性の雑音に影響されずに測定するこ
とができる。従って、応力緩和曲線の立ち上がりからの
情報を用いることができ、測定時間の短縮化を図ること
ができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の基本的構成を示す断面図、第２図及
び第３図はプッシュプルソレノイドの説明に用いる略線
図及び動作特性のグラフ、第４図は応力緩和曲線のグラ
フ、第５図はこの発明の一実施例における機構部の正面
図、第６図及び第７図は機構部の一部の詳細を夫々示す
一部断面図、第８図はこの発明の一実施例の電気的構成
を示すブロック図、第９図及び第10図はこの発明の一実
施例の動作説明に夫々用いるフローチャートである。図面における主要な符号の説明 5:上部チャック、6:下部チャック、7:試料、10:荷重セ
ンサ、12:パルスモータ、16:ストッパー、18:歪設定リ
ング、19:スライダ、23:上部ソレノイド、24:下部ソレ
ノイド、26:上部距離センサ、28:下部距離センサ。

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】共通の軸線上に配置され、上記軸線上で摺
動自在とされた第１の軸及び第２の軸と、上記第１の軸
の上端に設けられ、上記第１の軸により加えられる荷重
を検出する荷重センサと、上記第１の軸の下端及び上記
第２の軸の上端に夫々設けられた第１及び第２の試料係
止手段と、上記第１及び第２の試料係止手段の間に支持
された試料の歪を検出するために、上記第１の軸及び上
記第２の軸の上記軸線上の変位量を夫々検出する第１及
び第２の距離センサと、上記第１の距離センサの出力信
号及び上記第２の距離センサの出力信号の差成分から上
記歪を求める手段と、上記第２の軸の下端側に配置さ
れ、上記試料に対して上記軸線上の圧縮方向或いは伸び
方向の何れかの方向の歪を与える歪発生器とを備えたこ
とを特徴とする粘弾性測定装置。