JPS6240654B2 - - Google Patents
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- JPS6240654B2 JPS6240654B2 JP54064485A JP6448579A JPS6240654B2 JP S6240654 B2 JPS6240654 B2 JP S6240654B2 JP 54064485 A JP54064485 A JP 54064485A JP 6448579 A JP6448579 A JP 6448579A JP S6240654 B2 JPS6240654 B2 JP S6240654B2
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- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
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Landscapes
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は粘弾性測定装置に関し、特に固体の粘
弾性の温度―周波数特性を自動的に測定するよう
になつた固体粘弾性測定装置に関する。
弾性の温度―周波数特性を自動的に測定するよう
になつた固体粘弾性測定装置に関する。
固体粘弾性測定装置は高分子物質等の力学的性
質の研究のために使用され、固体試料に静的張力
と動的ひずみを与え温度と周波数に対する動的応
力を測定し、複素動的弾性率の温度―周波数特性
を与えるものである。通常温度は−150℃〜＋250
℃の温度領域にわたり変化させられ、周波数は
１，３，10，30，100Hzで測定される。
質の研究のために使用され、固体試料に静的張力
と動的ひずみを与え温度と周波数に対する動的応
力を測定し、複素動的弾性率の温度―周波数特性
を与えるものである。通常温度は−150℃〜＋250
℃の温度領域にわたり変化させられ、周波数は
１，３，10，30，100Hzで測定される。
温度および周波数の変更や、データ処理を自動
的に行うようになつた自動固体粘弾性装置は公知
である。
的に行うようになつた自動固体粘弾性装置は公知
である。
この従来式自動固体粘弾性測定装置は、各所定
周波数毎に温度を変化させて、温度―周波数粘弾
性特性を測定するものであり、例えば周波数１，
３，10，30，100Hzを−150℃〜＋250℃の温度領
域にわたつて測定する場合上記温度領域にわたり
固体試料温度を５回昇降させなければならず、測
定のための手間を要するものであつた。さらに温
度領域にわたる固体試料の温度を数回にわたり昇
降させることは冷暖房熱費がかかり不経済であ
る。
周波数毎に温度を変化させて、温度―周波数粘弾
性特性を測定するものであり、例えば周波数１，
３，10，30，100Hzを−150℃〜＋250℃の温度領
域にわたつて測定する場合上記温度領域にわたり
固体試料温度を５回昇降させなければならず、測
定のための手間を要するものであつた。さらに温
度領域にわたる固体試料の温度を数回にわたり昇
降させることは冷暖房熱費がかかり不経済であ
る。
さらに測定に際し固体試料は長時間静的ひずみ
を加えられた状態でさらに温度変化と動的ひずみ
を重畳されるので、固体試料が永久変化あるいは
力学的性質の経時変化を生じてしまう欠点があつ
た。
を加えられた状態でさらに温度変化と動的ひずみ
を重畳されるので、固体試料が永久変化あるいは
力学的性質の経時変化を生じてしまう欠点があつ
た。
本発明は上記欠点を解消する自動固体粘弾性測
定装置を提供するものである。
定装置を提供するものである。
詳細には本発明は、測定時間を短縮し、固体試
料の温度を測定温度領域、例えば−150℃〜＋250
℃で一回だけ昇降させる間に、所定周波数、例え
ば１，３，10，100Hzの全てについて温度―周波
数粘弾性特性を測定する自動固体粘弾性測定装置
を提供するものである。
料の温度を測定温度領域、例えば−150℃〜＋250
℃で一回だけ昇降させる間に、所定周波数、例え
ば１，３，10，100Hzの全てについて温度―周波
数粘弾性特性を測定する自動固体粘弾性測定装置
を提供するものである。
さらに本発明による自動固体粘弾性測定装置
は、温度を所定測定温度に上昇、又は下降させる
際には固体試料に静的張力を加えないようにし、
所定測定温度に達した時に固体試料に静的張力を
加えるようにして、固体試料の永久変形、力学的
性質の経時変化を防止せんとするものである。
は、温度を所定測定温度に上昇、又は下降させる
際には固体試料に静的張力を加えないようにし、
所定測定温度に達した時に固体試料に静的張力を
加えるようにして、固体試料の永久変形、力学的
性質の経時変化を防止せんとするものである。
本発明を以下に実施例の形で添付図とともに詳
細に説明する。
細に説明する。
自動固体粘弾性装置は第１図の立面図に示すよ
うに架台９上に配置された固体試料粘弾性測定部
１と、同じく架台９の下方に配置されたドライブ
アンプ１０と、モータコントローラ１１と、電源
部１２と、架台９の側方に配置された制御盤１３
に載置された力計アンプ１４と、ひずみ計アンプ
１５と、試料長計アンプ１６と、ブラウン管オシ
ロスコープ１７と、出力プリンタ１８と、操作制
御部１９と、温度制御部２０と、直流電源部２１
とで構成される。
うに架台９上に配置された固体試料粘弾性測定部
１と、同じく架台９の下方に配置されたドライブ
アンプ１０と、モータコントローラ１１と、電源
部１２と、架台９の側方に配置された制御盤１３
に載置された力計アンプ１４と、ひずみ計アンプ
１５と、試料長計アンプ１６と、ブラウン管オシ
ロスコープ１７と、出力プリンタ１８と、操作制
御部１９と、温度制御部２０と、直流電源部２１
とで構成される。
測定部１には力検出器２とひずみ検出器７とが
測定部１の本体に相対運動可能に取付けられてお
り、モータ３，８でそれぞれ変位可能である。永
久磁石と可動コイルで構成された加振器６はひず
み検出器７を貫通している第２シヤフト６ａを介
して試料５の一端に振動を加えるものである。試
料５の他端は力検出器２に弾性的に保持された第
１シヤフト２ａによつて保持されている。試料５
は恒温槽４内に配置され、恒温槽４に内蔵された
加熱ヒータと冷却パイプとによつて加熱あるいは
冷却される。なお恒温槽４には温度センサも内蔵
されている。
測定部１の本体に相対運動可能に取付けられてお
り、モータ３，８でそれぞれ変位可能である。永
久磁石と可動コイルで構成された加振器６はひず
み検出器７を貫通している第２シヤフト６ａを介
して試料５の一端に振動を加えるものである。試
料５の他端は力検出器２に弾性的に保持された第
１シヤフト２ａによつて保持されている。試料５
は恒温槽４内に配置され、恒温槽４に内蔵された
加熱ヒータと冷却パイプとによつて加熱あるいは
冷却される。なお恒温槽４には温度センサも内蔵
されている。
なお第２図において、参照番号２２は摺動抵抗
器型試料長検出器；２３は冷却ちつ素の供給を断
続する電磁弁である。操作制御部１９には操作ス
イツチパネル２４、マイクロコンピユータ２５、
ドライブコントローラ２６、切換スイツチ２７，
２８、デジタル表示器２９，３０等が設けられて
いる。
器型試料長検出器；２３は冷却ちつ素の供給を断
続する電磁弁である。操作制御部１９には操作ス
イツチパネル２４、マイクロコンピユータ２５、
ドライブコントローラ２６、切換スイツチ２７，
２８、デジタル表示器２９，３０等が設けられて
いる。
本実施例の作動を、第２図と第３図を参照し
て、以下に説明する。
て、以下に説明する。
試料５は第１シヤフト２ａと第２シヤフト６ａ
との間に取付けられる。試料５は恒温槽４内で所
定の温度に加熱又は冷却される。温度制御部２０
は恒温槽内に内蔵された温度センサからの温度検
知信号により、加熱ヒータ又はちつ素供給電磁弁
２３を制御し、恒温槽４を所定温度になるまで加
熱又は冷却する。温度勾配は通常毎分0.5〜２℃
である。
との間に取付けられる。試料５は恒温槽４内で所
定の温度に加熱又は冷却される。温度制御部２０
は恒温槽内に内蔵された温度センサからの温度検
知信号により、加熱ヒータ又はちつ素供給電磁弁
２３を制御し、恒温槽４を所定温度になるまで加
熱又は冷却する。温度勾配は通常毎分0.5〜２℃
である。
試料５は加振器６によつて振動されるが、この
振動はドライブアンプ１０からの交番励磁電流に
より生起される。これにより試料５は動的ひずみ
が与えられる。この動的ひずみはひずみ検出器７
で検出され、ひずみ計アンプ１５に送られる。こ
のひずみ検出器７は差動トランス型のものが好ま
しくは使用される。試料５に発生した応力は好ま
しくは差動トランスを応用した変位平衝形の力検
出器２で検出され力計アンプ１４に送られる。ひ
ずみ計アンプ１５と力計アンプ１４によつてひず
み信号と応力信号は操作制御部１９に適した統一
信号に変換される。
振動はドライブアンプ１０からの交番励磁電流に
より生起される。これにより試料５は動的ひずみ
が与えられる。この動的ひずみはひずみ検出器７
で検出され、ひずみ計アンプ１５に送られる。こ
のひずみ検出器７は差動トランス型のものが好ま
しくは使用される。試料５に発生した応力は好ま
しくは差動トランスを応用した変位平衝形の力検
出器２で検出され力計アンプ１４に送られる。ひ
ずみ計アンプ１５と力計アンプ１４によつてひず
み信号と応力信号は操作制御部１９に適した統一
信号に変換される。
第２シヤフト６ａは通常ばねで支持された構造
を有し、試料に静的な変形を与えた時にはばねの
弾性変形により、または試料部の加熱・冷却など
の熱的な変化があればシヤフト自体の熱膨張によ
つて差動トランスの鉄芯の位置が移動する。とこ
ろが、ひずみ検出器（差動トランス）の出力と鉄
芯の位置の関係には0.1％〜１％程度の非直線性
があり、振動ひずみを測定するとこの非直線性の
ために同一の振幅の振動ひずみであつても差動ト
ランスのコイルの位置と鉄芯の振幅中心との相対
位置によつて、検出される出力が変化する。ま
た、なるべく広範囲の振動変形を測定精度を犠牲
にすることなく検出するためには、差動トランス
の鉄芯の振幅中心の位置は差動トランスのコイル
の中心位置すなわち出力が零の位置に設定される
ことが好都合である。このため、本発明において
はひずみ検出器（差動トランス）をスライドテー
ブル上に設置し、送りねじをサーボモータで回転
制御して、振動ひずみの中心位置がひずみ検出器
出力の零に一致するように制御している。これに
より振幅測定値の再現性が向上し、更に振幅中心
位置の出力が零なので、振幅値に最も適した増幅
感度が使用できる。
を有し、試料に静的な変形を与えた時にはばねの
弾性変形により、または試料部の加熱・冷却など
の熱的な変化があればシヤフト自体の熱膨張によ
つて差動トランスの鉄芯の位置が移動する。とこ
ろが、ひずみ検出器（差動トランス）の出力と鉄
芯の位置の関係には0.1％〜１％程度の非直線性
があり、振動ひずみを測定するとこの非直線性の
ために同一の振幅の振動ひずみであつても差動ト
ランスのコイルの位置と鉄芯の振幅中心との相対
位置によつて、検出される出力が変化する。ま
た、なるべく広範囲の振動変形を測定精度を犠牲
にすることなく検出するためには、差動トランス
の鉄芯の振幅中心の位置は差動トランスのコイル
の中心位置すなわち出力が零の位置に設定される
ことが好都合である。このため、本発明において
はひずみ検出器（差動トランス）をスライドテー
ブル上に設置し、送りねじをサーボモータで回転
制御して、振動ひずみの中心位置がひずみ検出器
出力の零に一致するように制御している。これに
より振幅測定値の再現性が向上し、更に振幅中心
位置の出力が零なので、振幅値に最も適した増幅
感度が使用できる。
試料５は温度変化やひずみによつてたえず長さ
が変化するため、摺動抵抗器型試料長検出器２２
で試料長を常に検出し、これを試料長計アンプ１
６で操作制御部１９に適した統一信号に変換して
いる。
が変化するため、摺動抵抗器型試料長検出器２２
で試料長を常に検出し、これを試料長計アンプ１
６で操作制御部１９に適した統一信号に変換して
いる。
温度は第３図のＴで表示されるように直線的に
上昇される。試料温度は温度制御部２０からマイ
クロコンピユータ２５に常時伝達されており、よ
つて温度が第３図のＴで表示されるごとく時間t1
に於て温度が設定値θ１に到達すると、マイクロ
コンピユータ２５はドライブコントローラ２６に
試料５の初期張力もしくは初期ひずみ設定値を与
える。ドライブコントローラ２６は力計アンプ１
４からの信号と設定値との偏差信号を増幅してモ
ータコントローラ１１に制御信号を伝送する。モ
ータコントローラ１１はモータ３を駆動して応力
検出器２を移動させ試料５の初期張力もしくは初
期ひずみを設定値とする。モータ３の動作のタイ
ミングは第３図のＭのＦで示す。力計アンプ１４
からマイクロコンピユータ２５に伝送される信号
で、マイクロコンピユータ２５は試料５に初期張
力もしくは初期ひずみが与えられたことを確認す
る。引き続いてマイクロコンピユータ２５はドラ
イブコントローラ２６に所定振幅で所定の周波数
１の正弦波信号を送る。ドライブコントローラ
２６はひずみ計アンプ１５からの信号と正弦波信
号を比較して、その偏差信号を増幅してドライブ
アンプ１０に伝送する。ドライブアンプ１０は加
振器６を所定の振幅で駆動して試料５に動的ひず
みを与える。動的ひずみを与える時間は約３秒間
とし、この間にマイクロコンピユータ２５は力計
アンプ１４とひずみ計アンプ１５からの信号をサ
ンプリングする。続いてマイクロコンピユータ２
５からドライブコントローラ２６に次の設定周波
数２で加振器６を振動させるための指令が発せ
られる。以上のごとくして試料温度がθ１に達し
た瞬間に周波数１、２、３、４、５で
の正弦波動的ひずみに対しての粘弾性測定が行な
われる。この時間的関係は第３図のＤ，Ｓで明瞭
である。すなわち温度θ１に達した瞬間t1から約
△ｔ秒間この場合約15秒間で以上の５つの周波数
１、２、３、４、５で粘弾性測定を行
うことになる。第３図のＴで理解されるように△
ｔ秒間に温度は△θ上昇してしまうが、この△θ
が測定許容誤差の範囲となるように温度勾配を設
定するようにすることは可能である。例えば温度
勾配を１℃／minと△ｔ＝15秒（３秒×５）とす
れば△θ＝0.25℃となり測定精度上の問題となら
ない。時間（t1＋△ｔ）において５つの周波数
１、２、３、４、５の動的ひずみにおけ
る粘弾性測定が完了することになる。すなわち第
３図Ｄで図示のごとく周波数１、２、３、
４、５の動的ひずみを与えて、各周波数にお
いて、第３図Ｓで図示のごときサンプリング測定
を力計アンプ１４とひずみ計アンプ１５からの信
号に対して行うようにするのである。
上昇される。試料温度は温度制御部２０からマイ
クロコンピユータ２５に常時伝達されており、よ
つて温度が第３図のＴで表示されるごとく時間t1
に於て温度が設定値θ１に到達すると、マイクロ
コンピユータ２５はドライブコントローラ２６に
試料５の初期張力もしくは初期ひずみ設定値を与
える。ドライブコントローラ２６は力計アンプ１
４からの信号と設定値との偏差信号を増幅してモ
ータコントローラ１１に制御信号を伝送する。モ
ータコントローラ１１はモータ３を駆動して応力
検出器２を移動させ試料５の初期張力もしくは初
期ひずみを設定値とする。モータ３の動作のタイ
ミングは第３図のＭのＦで示す。力計アンプ１４
からマイクロコンピユータ２５に伝送される信号
で、マイクロコンピユータ２５は試料５に初期張
力もしくは初期ひずみが与えられたことを確認す
る。引き続いてマイクロコンピユータ２５はドラ
イブコントローラ２６に所定振幅で所定の周波数
１の正弦波信号を送る。ドライブコントローラ
２６はひずみ計アンプ１５からの信号と正弦波信
号を比較して、その偏差信号を増幅してドライブ
アンプ１０に伝送する。ドライブアンプ１０は加
振器６を所定の振幅で駆動して試料５に動的ひず
みを与える。動的ひずみを与える時間は約３秒間
とし、この間にマイクロコンピユータ２５は力計
アンプ１４とひずみ計アンプ１５からの信号をサ
ンプリングする。続いてマイクロコンピユータ２
５からドライブコントローラ２６に次の設定周波
数２で加振器６を振動させるための指令が発せ
られる。以上のごとくして試料温度がθ１に達し
た瞬間に周波数１、２、３、４、５で
の正弦波動的ひずみに対しての粘弾性測定が行な
われる。この時間的関係は第３図のＤ，Ｓで明瞭
である。すなわち温度θ１に達した瞬間t1から約
△ｔ秒間この場合約15秒間で以上の５つの周波数
１、２、３、４、５で粘弾性測定を行
うことになる。第３図のＴで理解されるように△
ｔ秒間に温度は△θ上昇してしまうが、この△θ
が測定許容誤差の範囲となるように温度勾配を設
定するようにすることは可能である。例えば温度
勾配を１℃／minと△ｔ＝15秒（３秒×５）とす
れば△θ＝0.25℃となり測定精度上の問題となら
ない。時間（t1＋△ｔ）において５つの周波数
１、２、３、４、５の動的ひずみにおけ
る粘弾性測定が完了することになる。すなわち第
３図Ｄで図示のごとく周波数１、２、３、
４、５の動的ひずみを与えて、各周波数にお
いて、第３図Ｓで図示のごときサンプリング測定
を力計アンプ１４とひずみ計アンプ１５からの信
号に対して行うようにするのである。
温度θ１における測定が完了された時点で、正
弦波信号動的ひずみの印加は停止される。ここで
マイクロコンピユータ２５はドライブコントロー
ラ２６に対して試料の張力設定信号を零とするよ
うに指令するから、ドライブアンプ１０を介して
モータ３が動作し、力検出器２が試料５側へ移動
して試料５の張力が解放され零とされる。この試
料５の張力解放動作は第３図ＭのＲで与えられ
る。試料５は張力零の状態で、すなわちひずみ零
の状態で、次の設定温度まで温度上昇がなされる
ことになる。温度がθ２に達した時に再び試料５
は前述のごとく設定張力が与えられ周波数１、
２、３、４、５の動的ひずみにおける粘
弾性が測定される。すなわち第３図Ｔの時間t2に
達して温度θ２となるが、この時間t2に於て測定
が繰返えされることとなる。なお時間t2に達する
間にサンプリングしたデータが演算処理されるこ
ととなるのである。演算処理の結果は出力プリン
タ１８で表示される。表示データは温度、周波
数、試料長、力振幅、ひずみ振幅、力とひずみの
位相角、位相角の正接、複素弾性率等である。
弦波信号動的ひずみの印加は停止される。ここで
マイクロコンピユータ２５はドライブコントロー
ラ２６に対して試料の張力設定信号を零とするよ
うに指令するから、ドライブアンプ１０を介して
モータ３が動作し、力検出器２が試料５側へ移動
して試料５の張力が解放され零とされる。この試
料５の張力解放動作は第３図ＭのＲで与えられ
る。試料５は張力零の状態で、すなわちひずみ零
の状態で、次の設定温度まで温度上昇がなされる
ことになる。温度がθ２に達した時に再び試料５
は前述のごとく設定張力が与えられ周波数１、
２、３、４、５の動的ひずみにおける粘
弾性が測定される。すなわち第３図Ｔの時間t2に
達して温度θ２となるが、この時間t2に於て測定
が繰返えされることとなる。なお時間t2に達する
間にサンプリングしたデータが演算処理されるこ
ととなるのである。演算処理の結果は出力プリン
タ１８で表示される。表示データは温度、周波
数、試料長、力振幅、ひずみ振幅、力とひずみの
位相角、位相角の正接、複素弾性率等である。
一般的には、測定条件は温度範囲が−150℃か
ら＋250℃において１℃／minの温度勾配で変化
される。そして10℃の間隔で５つの周波数１，
３，10，30，100Hzの正弦波状動的ひずみを与え
て粘弾性測定が行なわれる。すなわち10℃の間隔
で測定点は40点、測定回数は200となる。周波数
１，３，10，30，100Hzに対しての粘弾性を測定
するのに、従来５回の温度昇降を繰返していたた
め手間のかかる時間を要するものであつた。しか
しながら本発明の方法により温度の昇降は１回で
あるから非常に手間と時間が省略かつ短縮される
ことになり便利である。また試料５が張力を受け
る時間がかなり短かくされるため試料５にひずみ
のかかる程度が少なくなり、試料ののびがわずか
とされ、試料５の力学的特性の変化の影響（測定
中の温度とひずみより受ける）が従来方式に比べ
て著しく改善されることがわかる。
ら＋250℃において１℃／minの温度勾配で変化
される。そして10℃の間隔で５つの周波数１，
３，10，30，100Hzの正弦波状動的ひずみを与え
て粘弾性測定が行なわれる。すなわち10℃の間隔
で測定点は40点、測定回数は200となる。周波数
１，３，10，30，100Hzに対しての粘弾性を測定
するのに、従来５回の温度昇降を繰返していたた
め手間のかかる時間を要するものであつた。しか
しながら本発明の方法により温度の昇降は１回で
あるから非常に手間と時間が省略かつ短縮される
ことになり便利である。また試料５が張力を受け
る時間がかなり短かくされるため試料５にひずみ
のかかる程度が少なくなり、試料ののびがわずか
とされ、試料５の力学的特性の変化の影響（測定
中の温度とひずみより受ける）が従来方式に比べ
て著しく改善されることがわかる。
第１図は本発明の全体正面図を図示する図、第
２図は本発明の装置のブロツク図、第３図は本発
明の装置の作動のシークエンスを示すタイムチヤ
ート図である。 ２…力検出器、３，８…モータ、４…恒温槽、
５…被測定試料、６…加振器、７…ひずみ検出
器、２０…温度制御装置、２２…試料長検出器、
２５…マイクロコンピユータ、２６…ドライブコ
ントローラ。
２図は本発明の装置のブロツク図、第３図は本発
明の装置の作動のシークエンスを示すタイムチヤ
ート図である。 ２…力検出器、３，８…モータ、４…恒温槽、
５…被測定試料、６…加振器、７…ひずみ検出
器、２０…温度制御装置、２２…試料長検出器、
２５…マイクロコンピユータ、２６…ドライブコ
ントローラ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被測定試料を入れる恒温槽と、該恒温槽の温
度を制御して前記被測定試料の温度を連続的に変
化させる温度制御装置と、前記被測定試料に所定
振幅で所定周波数の振動を加える加振装置と、該
試料に加えるひずみを検出するひずみ検出器と、
該試料の応力を検出する力検出器と、該試料に静
的張力を加える張力装置と、前記被測定試料の温
度が設定温度に達した時に複数種類の所定振幅で
所定周波数の振動を与える正弦波信号を前記加振
器に切り替えて送る加振器駆動制御装置と、前記
ひずみ検出器からの信号と現在加振器に印加され
ている前記正弦波信号とを比較し前記振動を所定
の振幅に維持するように前記加振器に信号を送る
手段と、前記力検出器からの信号と前記試料に加
える静的張力の所定値とを比較し当該静的張力を
所定値に維持するように前記張力装置に信号を送
る手段と、前記ひずみ検出器と前記力検出器から
の信号を受けて粘弾性測定を行う手段とを有し、
前記恒温槽の温度が所定の温度に達し粘弾性測定
が開始されるまで前記張力装置が前記試料に所定
張力を加えないようにする手段とを有する粘弾性
測定装置。 ２ 被測定試料を入れる恒温槽と、該恒温槽の温
度を制御して前記被測定試料の温度を連続的に変
化させる温度制御装置と、前記被測定試料に所定
振幅で所定周波数の振動を加える加振装置と、該
試料に加えるひずみを検出するひずみ検出器と、
該試料の応力を検出する力検出器と、該試料に静
的張力を加える張力装置と、前記被測定試料の温
度が設定温度に達した時に複数種類の所定振幅で
所定周波数の振動を与える正弦波信号を前記加振
器に切り替えて送る加振器駆動制御装置と、前記
ひずみ検出器からの信号と現在加振器に印加され
ている前記正弦波信号とを比較し前記振動を所定
の振幅に維持するように前記加振器に信号を送る
手段と、前記力検出器からの信号と前記試料に加
える静的張力の所定値とを比較し当該静的張力を
所定値に維持するように前記張力装置に信号を送
る手段と、前記ひずみ検出器と前記力検出器から
の信号を受けて粘弾性測定を行う手段とを有し、
前記恒温槽の温度が所定の温度に達し粘弾性測定
が開始されるまで前記張力装置が前記試料に所定
張力を加えないようにする手段と、前記ひずみ検
出器を前記試料の長手方向に移動させる装置と、
該ひずみ検出器からの信号の平均値を演算しその
平均値を零とするように前記ひずみ検出器を移動
せしめ該ひずみ検出器を振動系の中心に追従させ
るように該ひずみ検出器移動装置を制御する手段
とを有する粘弾性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6448579A JPS55156835A (en) | 1979-05-24 | 1979-05-24 | Measuring device for viscoelasticity |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6448579A JPS55156835A (en) | 1979-05-24 | 1979-05-24 | Measuring device for viscoelasticity |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55156835A JPS55156835A (en) | 1980-12-06 |
| JPS6240654B2 true JPS6240654B2 (ja) | 1987-08-29 |
Family
ID=13259557
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6448579A Granted JPS55156835A (en) | 1979-05-24 | 1979-05-24 | Measuring device for viscoelasticity |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS55156835A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02100768A (ja) * | 1988-10-07 | 1990-04-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | イラスト作成装置 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5646443A (en) * | 1979-09-25 | 1981-04-27 | Toyo Baldwin:Kk | Fatigue preventing system for viscoelastic sample |
| JPS59128431A (ja) * | 1983-01-13 | 1984-07-24 | Iwamoto Seisakusho:Kk | 合成波を用いた複素動的弾性率の測定方法 |
| US5540088A (en) * | 1994-01-24 | 1996-07-30 | Bohlin Instruments Limited | Rheometer and method of measuring rheological properties |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4885189A (ja) * | 1972-02-10 | 1973-11-12 |
-
1979
- 1979-05-24 JP JP6448579A patent/JPS55156835A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4885189A (ja) * | 1972-02-10 | 1973-11-12 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02100768A (ja) * | 1988-10-07 | 1990-04-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | イラスト作成装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55156835A (en) | 1980-12-06 |
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