JPH07139902A - 移動測定装置 - Google Patents
移動測定装置Info
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- JPH07139902A JPH07139902A JP28489193A JP28489193A JPH07139902A JP H07139902 A JPH07139902 A JP H07139902A JP 28489193 A JP28489193 A JP 28489193A JP 28489193 A JP28489193 A JP 28489193A JP H07139902 A JPH07139902 A JP H07139902A
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- Japan
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- wire
- measuring
- path
- measuring device
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Particle Accelerators (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 測定用のセンサが、測定路が長い場合でも測
定路として設定された直線上を移動できる移動測定装置
を提供する。 【構成】 測定路に沿ってワイヤー10を張る。そのワ
イヤー10に高周波を印加する。一方、磁気測定素子1
6を支持する走行装置11に、ワイヤー10を挟む一対
の電極板15を設ける。その両電極板15に生じる電位
差がゼロになるように磁気測定素子16の位置制御を行
い、測定路の長さによって変化することの無いワイヤー
10を、位置決めの基準として用いることにより、測定
路が長くなった場合でも、磁気測定素子16がワイヤー
10によって測定路として設定された直線上を移動でき
るようにする。
定路として設定された直線上を移動できる移動測定装置
を提供する。 【構成】 測定路に沿ってワイヤー10を張る。そのワ
イヤー10に高周波を印加する。一方、磁気測定素子1
6を支持する走行装置11に、ワイヤー10を挟む一対
の電極板15を設ける。その両電極板15に生じる電位
差がゼロになるように磁気測定素子16の位置制御を行
い、測定路の長さによって変化することの無いワイヤー
10を、位置決めの基準として用いることにより、測定
路が長くなった場合でも、磁気測定素子16がワイヤー
10によって測定路として設定された直線上を移動でき
るようにする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、測定装置を被測定対
象から一定の距離を保って移動させながら測定を行う必
要のある例えば、加速器用マグネットのアンジュレータ
の磁場測定等に用いられる移動測定装置に関する。
象から一定の距離を保って移動させながら測定を行う必
要のある例えば、加速器用マグネットのアンジュレータ
の磁場測定等に用いられる移動測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】測定装置を被測定対象から一定の距離を
保って移動させながら測定を行う移動測定装置として例
えば、加速器用マグネットのアンジュレータの磁場測定
に用いられる磁場測定装置がある。
保って移動させながら測定を行う移動測定装置として例
えば、加速器用マグネットのアンジュレータの磁場測定
に用いられる磁場測定装置がある。
【0003】このような磁場測定装置では、マグネット
に沿って磁界の強度を測定する際、磁界の強度が距離に
反比例することから、マグネットと測定装置との距離を
常に一定に保って測定を行う必要がある。
に沿って磁界の強度を測定する際、磁界の強度が距離に
反比例することから、マグネットと測定装置との距離を
常に一定に保って測定を行う必要がある。
【0004】そのため、本願発明者は、特願平4−61
263号において、レーザ光を利用した磁場測定装置を
提案した。
263号において、レーザ光を利用した磁場測定装置を
提案した。
【0005】このレーザ光を利用した測定装置は、図4
に示すように、測定路に沿ってレーザ光を発生する誘導
光発生部1と、測定装置を積載した走行装置2とで構成
されている。
に示すように、測定路に沿ってレーザ光を発生する誘導
光発生部1と、測定装置を積載した走行装置2とで構成
されている。
【0006】誘導光発生部1は、X軸測定基準用レーザ
発光器2aと受光器2b及びY軸測定基準用レーザ発光
器3aと受光器3bとからなっており、二本の誘導用レ
ーザ光を発生する。
発光器2aと受光器2b及びY軸測定基準用レーザ発光
器3aと受光器3bとからなっており、二本の誘導用レ
ーザ光を発生する。
【0007】走行装置2は、レーザ光に平行に配置され
たZ軸ステージ4と、Z軸ステージ4上に設けられたX
軸ステージ5と、X軸ステージ5上に設けられたY軸ス
テージ6とからなっており、Y軸ステージ6には、先端
に磁気センサ7が設けられた棒状のプローブホルダー8
が取り付けられている。
たZ軸ステージ4と、Z軸ステージ4上に設けられたX
軸ステージ5と、X軸ステージ5上に設けられたY軸ス
テージ6とからなっており、Y軸ステージ6には、先端
に磁気センサ7が設けられた棒状のプローブホルダー8
が取り付けられている。
【0008】この上記X軸ステージ5は、調整ツマミ4
cを操作することにより、Z軸ステージ4によってZ軸
方向に移動し、Y軸ステージ6は、調整ツマミ5cを操
作することにより、X軸ステージ5によって、X軸方向
に移動する。また、プローブホルダー8は、調整ツマミ
6cを操作することにより、Y軸方向に移動するように
なっている。
cを操作することにより、Z軸ステージ4によってZ軸
方向に移動し、Y軸ステージ6は、調整ツマミ5cを操
作することにより、X軸ステージ5によって、X軸方向
に移動する。また、プローブホルダー8は、調整ツマミ
6cを操作することにより、Y軸方向に移動するように
なっている。
【0009】さらに、プローブホルダー8は、先端がX
軸レーザ発光部2aのレーザ光路上に位置し、一側がY
軸レーザ発光部3aのレーザ光路上に位置するようにな
っている。
軸レーザ発光部2aのレーザ光路上に位置し、一側がY
軸レーザ発光部3aのレーザ光路上に位置するようにな
っている。
【0010】測定を始める際には、調整ツマミ4c,5
cを操作してプローブホルダー8がX軸2a及びY軸レ
ーザ発光部3aのレーザ光を半分遮るように調整する。
そして、そのときの各受光部2b,3bの出力を測定し
て基準値としておく。
cを操作してプローブホルダー8がX軸2a及びY軸レ
ーザ発光部3aのレーザ光を半分遮るように調整する。
そして、そのときの各受光部2b,3bの出力を測定し
て基準値としておく。
【0011】然るのち、調整ツマミ4cを操作してX軸
ステージ5をZ軸ステージ4上を移動させ、レーザ光に
沿った位置の磁場を測定する。その際、例えばZ軸ステ
ージ4の誤差などによりプローブホルダー8がレーザ光
からずれると、レーザ光の遮光量の変化となって、その
ずれのX,Y成分は、それぞれの受光器2b,3bに検
出される。
ステージ5をZ軸ステージ4上を移動させ、レーザ光に
沿った位置の磁場を測定する。その際、例えばZ軸ステ
ージ4の誤差などによりプローブホルダー8がレーザ光
からずれると、レーザ光の遮光量の変化となって、その
ずれのX,Y成分は、それぞれの受光器2b,3bに検
出される。
【0012】このため、その検出値が前記基準値と等し
くなるように、調整ツマミ5c,6cを操作し、プロー
ブホルダー8のずれを補正して位置決めを行なうことに
より、磁気センサ7が、常に、レーザ光により測定路と
して設定された直線上を、コイルから一定の距離を保っ
て移動できるようになっている。
くなるように、調整ツマミ5c,6cを操作し、プロー
ブホルダー8のずれを補正して位置決めを行なうことに
より、磁気センサ7が、常に、レーザ光により測定路と
して設定された直線上を、コイルから一定の距離を保っ
て移動できるようになっている。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
レーザ光を用いた測定装置では、レーザ光の遮光量の変
化でプローブホルダーの傾きの調整を行っているため、
測定路が長い場合、レーザ光が、空気中のチリなどで散
乱して広がり、受光器の受光量が減って測定感度が低下
し、プローブホルダーの位置決め精度が悪化して測定路
として設定された直線上を移動できないという問題があ
る。
レーザ光を用いた測定装置では、レーザ光の遮光量の変
化でプローブホルダーの傾きの調整を行っているため、
測定路が長い場合、レーザ光が、空気中のチリなどで散
乱して広がり、受光器の受光量が減って測定感度が低下
し、プローブホルダーの位置決め精度が悪化して測定路
として設定された直線上を移動できないという問題があ
る。
【0014】そこで、この発明の課題は、測定路が長い
場合でもプローブホルダーの位置決め精度の悪化しない
移動測定装置を提供し、プローブホルダーが測定路とし
て設定された直線上を移動できるようにすることであ
る。
場合でもプローブホルダーの位置決め精度の悪化しない
移動測定装置を提供し、プローブホルダーが測定路とし
て設定された直線上を移動できるようにすることであ
る。
【0015】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、この発明では、測定路に沿って張られた誘導用ワイ
ヤーと、そのワイヤーを基準として参照し、支持した測
定装置(センサ等)の位置決めを行いながら測定路を移
動する走行装置とからなる構成としたのである。
め、この発明では、測定路に沿って張られた誘導用ワイ
ヤーと、そのワイヤーを基準として参照し、支持した測
定装置(センサ等)の位置決めを行いながら測定路を移
動する走行装置とからなる構成としたのである。
【0016】このとき、上記ワイヤーに高周波を印加
し、その高周波を介してワイヤーを参照するようにして
も良い。
し、その高周波を介してワイヤーを参照するようにして
も良い。
【0017】また、その高周波の検出手段として走行装
置に、対向する一対の導体板を設け、その導体板でワイ
ヤーを挟むようにしても良い。
置に、対向する一対の導体板を設け、その導体板でワイ
ヤーを挟むようにしても良い。
【0018】さらに、上記ワイヤーの撓みを補正する補
正手段を設けるようにしても良い。
正手段を設けるようにしても良い。
【0019】
【作用】このように構成される移動測定装置では、測定
路に沿って張られたワイヤーにより、測定装置の測定位
置の目標値が設定される。そして、その目標値を基準と
して測定装置の現在位置との偏差をもとめ、その偏差を
ゼロにするように測定装置の位置を決める。
路に沿って張られたワイヤーにより、測定装置の測定位
置の目標値が設定される。そして、その目標値を基準と
して測定装置の現在位置との偏差をもとめ、その偏差を
ゼロにするように測定装置の位置を決める。
【0020】このように、目標値をワイヤーにより設定
するため、測定路が長くなった場合でも、ワイヤー自体
が広がったり、小さくなったりせず、測定路の長さによ
って目標値が変化することが無い。したがって、ワイヤ
ーを直線状に張り渡すと、測定装置は、そのワイヤーに
よって指示された直線上を移動することができる。
するため、測定路が長くなった場合でも、ワイヤー自体
が広がったり、小さくなったりせず、測定路の長さによ
って目標値が変化することが無い。したがって、ワイヤ
ーを直線状に張り渡すと、測定装置は、そのワイヤーに
よって指示された直線上を移動することができる。
【0021】このとき、ワイヤーに高周波を印加してそ
の信号からワイヤーを参照できるようにすれば、非接触
で目標値が得られる。
の信号からワイヤーを参照できるようにすれば、非接触
で目標値が得られる。
【0022】また、この高周波の検出に、対向する一対
の導体板(以下電極板とする)でワイヤーを挟むように
した場合、ワイヤーと各電極板との間にはコンデンサー
が形成され、この間の容量によって各電極板には、同じ
周波数の高周波電圧が発生する。この高周波電圧の大き
さは、電極板とワイヤーとにより形成される容量によっ
て決まり、その容量は、ワイヤーと電極板の間隔で決ま
る。
の導体板(以下電極板とする)でワイヤーを挟むように
した場合、ワイヤーと各電極板との間にはコンデンサー
が形成され、この間の容量によって各電極板には、同じ
周波数の高周波電圧が発生する。この高周波電圧の大き
さは、電極板とワイヤーとにより形成される容量によっ
て決まり、その容量は、ワイヤーと電極板の間隔で決ま
る。
【0023】つまり、ワイヤーが一対の電極板の中央に
あるときは、両電極板に発生する電位差はゼロとなり、
ワイヤーがどちらかに片寄っていると、電位差が発生す
る。
あるときは、両電極板に発生する電位差はゼロとなり、
ワイヤーがどちらかに片寄っていると、電位差が発生す
る。
【0024】したがって、この電位差から、ワイヤーを
基準とした走行装置の偏差を検出できる。
基準とした走行装置の偏差を検出できる。
【0025】さらに、このとき、ワイヤーにX軸方向に
平行な一対の電極板と、Y軸方向に平行な一対の電極板
を設けるようにすれば、一本のワイヤーから偏差のX軸
及びY軸方向の偏差成分を検出できる。
平行な一対の電極板と、Y軸方向に平行な一対の電極板
を設けるようにすれば、一本のワイヤーから偏差のX軸
及びY軸方向の偏差成分を検出できる。
【0026】この際、張架されたワイヤーは、自重のた
めY軸方向に撓みを生じ、検出誤差を生じるが、その誤
差は、ワイヤーを支持する支点からの位置と、ワイヤー
の単位重量及びワイヤーへの水平張力から例えば、撓み
をカテナリー曲線として近似することによってあらかじ
め算出可能なため、その算出値により補正すれば、検出
誤差を防ぐことができる。
めY軸方向に撓みを生じ、検出誤差を生じるが、その誤
差は、ワイヤーを支持する支点からの位置と、ワイヤー
の単位重量及びワイヤーへの水平張力から例えば、撓み
をカテナリー曲線として近似することによってあらかじ
め算出可能なため、その算出値により補正すれば、検出
誤差を防ぐことができる。
【0027】
【実施例】以下、この発明の実施例を図面に基づいて説
明する。
明する。
【0028】図1に本発明の移動測定装置の一実施例を
模式的に示す。
模式的に示す。
【0029】この移動測定装置は、誘導用ワイヤー10
と走行装置11とからなっている。
と走行装置11とからなっている。
【0030】誘導用ワイヤー10は、測定路の両端に支
柱12を設け、その支柱12間に架け渡され、直線状の
測定路が設定される。
柱12を設け、その支柱12間に架け渡され、直線状の
測定路が設定される。
【0031】一方、走行装置11は、ワイヤー10と平
行に配置されたZ軸ステージ13とZ軸ステージ13上
に設けられたX軸ステージ14とからなり、X軸ステー
ジ14は、例えば、調整ツマミ(図示せず)を操作する
と、Z軸ステージ13によりZ軸方向に移動するように
なっている。
行に配置されたZ軸ステージ13とZ軸ステージ13上
に設けられたX軸ステージ14とからなり、X軸ステー
ジ14は、例えば、調整ツマミ(図示せず)を操作する
と、Z軸ステージ13によりZ軸方向に移動するように
なっている。
【0032】また、X軸ステージ14上には、対向する
一対の電極板15がワイヤー10と平行に、ワイヤー1
0を挟んで設けられており、調整ツマミ(図示せず)を
操作すると、X軸ステージ14によってX軸方向に移動
するようになっている。その電極板15には、磁場測定
素子16が取り付けられている。
一対の電極板15がワイヤー10と平行に、ワイヤー1
0を挟んで設けられており、調整ツマミ(図示せず)を
操作すると、X軸ステージ14によってX軸方向に移動
するようになっている。その電極板15には、磁場測定
素子16が取り付けられている。
【0033】一方、前記ワイヤー10には、発振器17
を接続し、高周波電圧を印加する。また、電極板15に
は、二現象オシロスコープ18を接続し、各電極板15
に発生する高周波電圧を観測するようになっている。
を接続し、高周波電圧を印加する。また、電極板15に
は、二現象オシロスコープ18を接続し、各電極板15
に発生する高周波電圧を観測するようになっている。
【0034】この実施例は、以上のように構成されてお
り、この移動測定装置では、Z軸ステージ13のX軸方
向の歪みを補正することができる。
り、この移動測定装置では、Z軸ステージ13のX軸方
向の歪みを補正することができる。
【0035】即ち、測定を始める際には、発振器17を
作動し、適当な周波数の高周波信号をワイヤー10に印
加する。
作動し、適当な周波数の高周波信号をワイヤー10に印
加する。
【0036】そして、オシロスコープ18を作動させて
各電極板15とワイヤー10間に生ずる容量によって両
電極板15に発生する高周波電圧を観測し、両電圧が同
じ波高値となるように、調整ツマミを操作し、ワイヤー
10が両電極板15の中央にくるように、X軸ステージ
14を位置させておく。
各電極板15とワイヤー10間に生ずる容量によって両
電極板15に発生する高周波電圧を観測し、両電圧が同
じ波高値となるように、調整ツマミを操作し、ワイヤー
10が両電極板15の中央にくるように、X軸ステージ
14を位置させておく。
【0037】次に、調整ツマミを操作してX軸ステージ
14をZ軸方向へ移動して測定路に沿って磁場の測定を
行う。
14をZ軸方向へ移動して測定路に沿って磁場の測定を
行う。
【0038】この際、例えば、Z軸ステージ13の誤差
等によりX軸ステージ14にずれが生じると、そのずれ
により、電極板15間のワイヤー10の位置がずれ、そ
のずれに応じた電圧差がオシロスコープ18により検出
される。
等によりX軸ステージ14にずれが生じると、そのずれ
により、電極板15間のワイヤー10の位置がずれ、そ
のずれに応じた電圧差がオシロスコープ18により検出
される。
【0039】したがって、調整ツマミを操作してX軸ス
テージ14を調整し、その電圧差を無くし、両検出電圧
が同じ値になるようにして、ワイヤー10が、両電極板
15の中央に位置するようにすると、ワイヤー10によ
り設定された基準位置に対し、その偏差がゼロになるよ
うに位置制御がなされ、X軸方向に対して一定の検出位
置が保持される。
テージ14を調整し、その電圧差を無くし、両検出電圧
が同じ値になるようにして、ワイヤー10が、両電極板
15の中央に位置するようにすると、ワイヤー10によ
り設定された基準位置に対し、その偏差がゼロになるよ
うに位置制御がなされ、X軸方向に対して一定の検出位
置が保持される。
【0040】この位置制御は、測定路全域に対して張り
渡されたワイヤー10により行うので、測定路が長くな
った場合でも、ワイヤー10が測定路の長さによってレ
ーザ光のように広がって変化することが無く、検出器の
感度低下を招いて検出精度の悪下を招くことが無い。し
たがって、磁場測定素子16はX軸方向に対し、ワイヤ
ー10によって測定路として設定された直線上を移動で
きる。
渡されたワイヤー10により行うので、測定路が長くな
った場合でも、ワイヤー10が測定路の長さによってレ
ーザ光のように広がって変化することが無く、検出器の
感度低下を招いて検出精度の悪下を招くことが無い。し
たがって、磁場測定素子16はX軸方向に対し、ワイヤ
ー10によって測定路として設定された直線上を移動で
きる。
【0041】Y軸方向に対しては、図1の一点鎖線で示
すように、電極板15をZ軸周りに90度回転させたも
のを設け、X軸方向の場合と同様に調整を行えば、磁場
測定素子16をY軸方向に対してもワイヤー10によっ
て測定路として設定された直線上を移動させることがで
きる。
すように、電極板15をZ軸周りに90度回転させたも
のを設け、X軸方向の場合と同様に調整を行えば、磁場
測定素子16をY軸方向に対してもワイヤー10によっ
て測定路として設定された直線上を移動させることがで
きる。
【0042】この場合、移動測定装置には、Y軸ステー
ジを設け、そのY軸ステージに磁場測定装置16を支持
させる。その一つの試みとして、例えば、図2に示すよ
うに、X軸方向とY軸方向の電極板15を箱型に組み合
わせたものをプローブホルダー8に設けたものが考えら
れる。
ジを設け、そのY軸ステージに磁場測定装置16を支持
させる。その一つの試みとして、例えば、図2に示すよ
うに、X軸方向とY軸方向の電極板15を箱型に組み合
わせたものをプローブホルダー8に設けたものが考えら
れる。
【0043】このとき、ワイヤー10は、自重によりY
軸方向に撓みを生じ、それが検出誤差となるが、この撓
みは、ワイヤー10の単位長重量とワイヤー10の水平
張力がわかれば、あらかじめ計算可能なため、その値に
よって撓みの分だけ電極板15の検出値を補正すれば良
い。
軸方向に撓みを生じ、それが検出誤差となるが、この撓
みは、ワイヤー10の単位長重量とワイヤー10の水平
張力がわかれば、あらかじめ計算可能なため、その値に
よって撓みの分だけ電極板15の検出値を補正すれば良
い。
【0044】この計算に用いることのできる一式として
カテナリー曲線の近似式を式(1)に示す。また、図3
にカテナリー曲線を示す。
カテナリー曲線の近似式を式(1)に示す。また、図3
にカテナリー曲線を示す。
【0045】 y=ccosh(x/c) , l=csinh(x/c) …(1) d=y−c=c{cosh(x/c)−1} ここで、 c=T/WC (m), T:ワイヤーの水平張力(Kg
f) WC :ワイヤーの単位長重量(Kgf/m) l:電線の最低点から任意点(x,y)までの電線実長
(m) d:(x,y)点からの弛度(m)
f) WC :ワイヤーの単位長重量(Kgf/m) l:電線の最低点から任意点(x,y)までの電線実長
(m) d:(x,y)点からの弛度(m)
【0046】
【効果】この発明は、以上のように構成し、ワイヤーを
用いて位置決めを行うようにしたので、測定路が長距離
に亙る場合でも、測定装置(センサ等)を、ワイヤーに
よって測定路として設定される直線上を精度良く移動さ
せることができる。
用いて位置決めを行うようにしたので、測定路が長距離
に亙る場合でも、測定装置(センサ等)を、ワイヤーに
よって測定路として設定される直線上を精度良く移動さ
せることができる。
【0047】このため、測定装置(センサ等)の検出精
度を向上させることができる。
度を向上させることができる。
【図1】実施例を示す模式図
【図2】他の実施例を示す斜視図
【図3】カテリーナ曲線を示す作用図
【図4】従来の磁気測定装置を示す図
10 ワイヤー 11 走行装置 13 Z軸テーブル 14 X軸テーブル 15 導体板(電極板) 16 磁場測定素子 17 発振器 18 オシロスコープ
Claims (1)
- 【請求項1】 測定路に沿って張られた誘導用ワイヤー
と、そのワイヤーを基準として参照し、支持した測定装
置の位置決めを行いながら測定路を移動する走行装置と
からなる移動測定装置
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28489193A JPH07139902A (ja) | 1993-11-15 | 1993-11-15 | 移動測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28489193A JPH07139902A (ja) | 1993-11-15 | 1993-11-15 | 移動測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07139902A true JPH07139902A (ja) | 1995-06-02 |
Family
ID=17684382
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28489193A Pending JPH07139902A (ja) | 1993-11-15 | 1993-11-15 | 移動測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07139902A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6687976B1 (en) | 1999-10-04 | 2004-02-10 | Tdk Corporation | Method of manufacturing magnetic head slider and method of fixing magnetic head slider |
JP2006010519A (ja) * | 2004-06-25 | 2006-01-12 | Jfe Electrical & Control Systems Inc | 板状製品のプロフィール計測装置 |
US7019522B1 (en) * | 2004-01-23 | 2006-03-28 | Advanced Design Consulting Usa | Apparatus for measuring the magnetic field produced by an insertion device |
CN107478144A (zh) * | 2017-07-27 | 2017-12-15 | 中国科学院高能物理研究所 | 一种基于四极磁铁和振动线技术的丝线定位装置和方法 |
-
1993
- 1993-11-15 JP JP28489193A patent/JPH07139902A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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