JPH06292088A - 固体撮像装置 - Google Patents
固体撮像装置Info
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- JPH06292088A JPH06292088A JP5074628A JP7462893A JPH06292088A JP H06292088 A JPH06292088 A JP H06292088A JP 5074628 A JP5074628 A JP 5074628A JP 7462893 A JP7462893 A JP 7462893A JP H06292088 A JPH06292088 A JP H06292088A
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- solid
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 固体撮像素子と対となる欠陥データを記憶し
たＲＯＭを必要とすることなく、欠陥画素を確実に補正
できるようにすると共に静電破壊や、ビデオカメラ搭載
後の経時変化に伴う欠陥変化にも対応できるようにする
ことを目的とする。 【構成】 固体撮像素子１と、この固体撮像素子１の出
力信号が供給される欠陥補正回路２と、この固体撮像素
子１の出力信号に基づいて欠陥画素を検出する欠陥検出
回路３とを有し、この欠陥検出回路３の出力信号に基づ
いて、この欠陥補正回路２でこの固体撮像素子１の欠陥
補正を行なうようにした固体撮像装置において、この欠
陥検出回路３をメモリ３ａと、加算回路３ｂと、基準値
Ｖref と比較する比較回路３ｃとより構成し、各フィー
ルドに対応する画素信号を夫々フィールド毎に加算回路
３ｂで加算してこのメモリ３ａに記憶し、所定数のフィ
ールドに亘って加算された画素信号のレベルを比較回路
３ｃで基準値Ｖref と比較して欠陥画素を検出するよう
にしたのである。
たＲＯＭを必要とすることなく、欠陥画素を確実に補正
できるようにすると共に静電破壊や、ビデオカメラ搭載
後の経時変化に伴う欠陥変化にも対応できるようにする
ことを目的とする。 【構成】 固体撮像素子１と、この固体撮像素子１の出
力信号が供給される欠陥補正回路２と、この固体撮像素
子１の出力信号に基づいて欠陥画素を検出する欠陥検出
回路３とを有し、この欠陥検出回路３の出力信号に基づ
いて、この欠陥補正回路２でこの固体撮像素子１の欠陥
補正を行なうようにした固体撮像装置において、この欠
陥検出回路３をメモリ３ａと、加算回路３ｂと、基準値
Ｖref と比較する比較回路３ｃとより構成し、各フィー
ルドに対応する画素信号を夫々フィールド毎に加算回路
３ｂで加算してこのメモリ３ａに記憶し、所定数のフィ
ールドに亘って加算された画素信号のレベルを比較回路
３ｃで基準値Ｖref と比較して欠陥画素を検出するよう
にしたのである。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＣＣＤ固体撮像素子等を
使用した固体撮像装置に関する。
使用した固体撮像装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般にＣＣＤ等の半導体で形成した固体
撮像素子では、半導体の局部的な結晶欠陥等によって感
度が低下する欠陥画素が生じることがあり、このような
場合、その欠陥画素が画質を劣化させる原因となること
が知られている。この欠陥画素に起因する画質劣化をな
くすために、ＣＣＤ等を用いた固体撮像装置において従
来より欠陥補正が行われていた。
撮像素子では、半導体の局部的な結晶欠陥等によって感
度が低下する欠陥画素が生じることがあり、このような
場合、その欠陥画素が画質を劣化させる原因となること
が知られている。この欠陥画素に起因する画質劣化をな
くすために、ＣＣＤ等を用いた固体撮像装置において従
来より欠陥補正が行われていた。
【０００３】従来の欠陥補正においては、固体撮像素子
の出荷選別時に、その固体撮像素子に含まれる欠陥画素
を検出し、その欠陥画素に関する欠陥データをＲＯＭに
記憶させ、このＲＯＭをこの固体撮像素子と対にして出
荷し、通常の撮像時に、このＲＯＭに記憶保持された欠
陥データに基づいて、この固体撮像素子の欠陥画素を特
定し、その欠陥画素についての画素信号に対して欠陥補
正を行うようにしていた。
の出荷選別時に、その固体撮像素子に含まれる欠陥画素
を検出し、その欠陥画素に関する欠陥データをＲＯＭに
記憶させ、このＲＯＭをこの固体撮像素子と対にして出
荷し、通常の撮像時に、このＲＯＭに記憶保持された欠
陥データに基づいて、この固体撮像素子の欠陥画素を特
定し、その欠陥画素についての画素信号に対して欠陥補
正を行うようにしていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
欠陥補正では、この固体撮像素子の出荷選別段階でＲＯ
Ｍに記憶保持した欠陥データを用いて欠陥補正を行うよ
うにしていたので、半導体の局部的な結晶欠陥等に伴う
画素欠陥には対応できるものの、この固体撮像素子のビ
デオカメラへの組込み時の静電破壊や、ビデオカメラの
搭載後の経時変化に伴う欠陥変化には対応できない不都
合があった。
欠陥補正では、この固体撮像素子の出荷選別段階でＲＯ
Ｍに記憶保持した欠陥データを用いて欠陥補正を行うよ
うにしていたので、半導体の局部的な結晶欠陥等に伴う
画素欠陥には対応できるものの、この固体撮像素子のビ
デオカメラへの組込み時の静電破壊や、ビデオカメラの
搭載後の経時変化に伴う欠陥変化には対応できない不都
合があった。
【０００５】また、この固体撮像素子とＲＯＭとを対に
したものでは製造に手間がかかると共にこのＲＯＭが付
属となることから価格が高くなり、且つ全体のサイズが
大きくなる不都合があった。
したものでは製造に手間がかかると共にこのＲＯＭが付
属となることから価格が高くなり、且つ全体のサイズが
大きくなる不都合があった。
【０００６】本発明は斯る点に鑑み固体撮像素子と対と
なる欠陥データを記憶したＲＯＭを必要とすることな
く、欠陥画素を確実に補正できるようにすると共に静電
破壊や、ビデオカメラ搭載後の経時変化に伴う欠陥変化
にも対応できるようにすることを目的とする。
なる欠陥データを記憶したＲＯＭを必要とすることな
く、欠陥画素を確実に補正できるようにすると共に静電
破壊や、ビデオカメラ搭載後の経時変化に伴う欠陥変化
にも対応できるようにすることを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明固体撮像装置は例
えば、図１に示す如く、固体撮像素子１と、この固体撮
像素子１の出力信号が供給される欠陥補正回路２と、こ
の固体撮像素子１の出力信号に基づいて欠陥画素を検出
する欠陥検出回路３とを有し、この欠陥検出回路３の出
力信号に基づいて、この欠陥補正回路２でこの固体撮像
素子１の欠陥補正を行うようにした固体撮像装置におい
て、この欠陥検出回路３をメモリ３ａと、加算回路３ｂ
と、基準値Ｖref と比較する比較回路３ｃとより構成
し、各フィールドに対応する画素信号を夫々フィールド
毎に加算回路３ｂで加算してこのメモリ３ａに記憶し、
所定数のフィールドに亘って加算された画素信号のレベ
ルをこの比較回路３ｃで基準値Ｖref と比較して欠陥画
素を検出するようにしたものである。
えば、図１に示す如く、固体撮像素子１と、この固体撮
像素子１の出力信号が供給される欠陥補正回路２と、こ
の固体撮像素子１の出力信号に基づいて欠陥画素を検出
する欠陥検出回路３とを有し、この欠陥検出回路３の出
力信号に基づいて、この欠陥補正回路２でこの固体撮像
素子１の欠陥補正を行うようにした固体撮像装置におい
て、この欠陥検出回路３をメモリ３ａと、加算回路３ｂ
と、基準値Ｖref と比較する比較回路３ｃとより構成
し、各フィールドに対応する画素信号を夫々フィールド
毎に加算回路３ｂで加算してこのメモリ３ａに記憶し、
所定数のフィールドに亘って加算された画素信号のレベ
ルをこの比較回路３ｃで基準値Ｖref と比較して欠陥画
素を検出するようにしたものである。
【０００８】また、本発明固体撮像装置は例えば図１に
示す如く、上述において、加算回路３ｂの出力信号を平
均してこのメモリ３ａに記憶するようにしたものであ
る。
示す如く、上述において、加算回路３ｂの出力信号を平
均してこのメモリ３ａに記憶するようにしたものであ
る。
【０００９】また、本発明固体撮像装置は、例えば図
１、図２に示す如く、メモリ３ａをｎ×ｍ個（ｎ及びｍ
は所定の正の整数）の画素信号が記憶できるものとし、
各フィールド毎に１画素信号づつずらした加算信号を順
次記憶するようにしたものである。
１、図２に示す如く、メモリ３ａをｎ×ｍ個（ｎ及びｍ
は所定の正の整数）の画素信号が記憶できるものとし、
各フィールド毎に１画素信号づつずらした加算信号を順
次記憶するようにしたものである。
【００１０】
【作用】斯る本発明においては、固体撮像素子１よりの
出力信号より、欠陥画素を検出し、この検出された欠陥
画素に基づいて欠陥補正を行なっているので、固体撮像
素子１と対となる欠陥データを記憶したＲＯＭを必要と
することなく、欠陥画素を確実に補正できると共に静電
破壊や、ビデオカメラ搭載後の経時変化等に伴う欠陥変
化にも対応できる。
出力信号より、欠陥画素を検出し、この検出された欠陥
画素に基づいて欠陥補正を行なっているので、固体撮像
素子１と対となる欠陥データを記憶したＲＯＭを必要と
することなく、欠陥画素を確実に補正できると共に静電
破壊や、ビデオカメラ搭載後の経時変化等に伴う欠陥変
化にも対応できる。
【００１１】
【実施例】以下図面を参照して本発明固体撮像装置の一
実施例につき説明する。図１において、１はＣＣＤ撮像
素子を示し、被写体からの入射光を撮像レンズ、光学フ
ィルタを介して、このＣＣＤ撮像素子１の撮像面に導く
如くする。本例においては説明を簡単にするため、この
ＣＣＤ撮像素子１は白黒映像信号が得られるものとす
る。
実施例につき説明する。図１において、１はＣＣＤ撮像
素子を示し、被写体からの入射光を撮像レンズ、光学フ
ィルタを介して、このＣＣＤ撮像素子１の撮像面に導く
如くする。本例においては説明を簡単にするため、この
ＣＣＤ撮像素子１は白黒映像信号が得られるものとす
る。
【００１２】このＣＣＤ撮像素子１の電荷転送方式とし
て例えばインターライン転送方式とする。この場合はフ
ィールド毎に画素の加算する組み合わせが変わるので、
一つの画素に欠陥があっても、奇数フィールド及び偶数
フィールドの両フィールドに欠陥が現れるため、この両
フィールドで欠陥補正が必要である。
て例えばインターライン転送方式とする。この場合はフ
ィールド毎に画素の加算する組み合わせが変わるので、
一つの画素に欠陥があっても、奇数フィールド及び偶数
フィールドの両フィールドに欠陥が現れるため、この両
フィールドで欠陥補正が必要である。
【００１３】このＣＣＤ撮像素子１の各画素の読出し
と、垂直及び水平転送の各駆動制御は、タイミング発生
回路４で発生される各種タイミング信号に基づいてドラ
イブ回路５によって行なわれる。このＣＣＤ撮像素子１
の撮像出力信号（ＣＣＤ出力信号）は、サンプルホール
ド回路６でサンプルホールドされ、かつＡ−Ｄ変換器７
でディジタル化された後、欠陥補正回路２及び欠陥検出
回路３に供給される。
と、垂直及び水平転送の各駆動制御は、タイミング発生
回路４で発生される各種タイミング信号に基づいてドラ
イブ回路５によって行なわれる。このＣＣＤ撮像素子１
の撮像出力信号（ＣＣＤ出力信号）は、サンプルホール
ド回路６でサンプルホールドされ、かつＡ−Ｄ変換器７
でディジタル化された後、欠陥補正回路２及び欠陥検出
回路３に供給される。
【００１４】この欠陥補正回路２は欠陥検出回路３で検
出された欠陥画素について、リアルタイムで、その画素
信号を例えば前後の画素信号の平均値で置換するいわゆ
る平均値補間によって欠陥補正を行う。
出された欠陥画素について、リアルタイムで、その画素
信号を例えば前後の画素信号の平均値で置換するいわゆ
る平均値補間によって欠陥補正を行う。
【００１５】次に本例の特徴とする欠陥検出回路３につ
き説明する。本例においてはＡ−Ｄ変換回路７の出力側
に得られるディジタル化された撮像出力信号をセレクタ
回路３ｄを介して加算回路３ｂ及びメモリ３ａに供給す
る如くする。
き説明する。本例においてはＡ−Ｄ変換回路７の出力側
に得られるディジタル化された撮像出力信号をセレクタ
回路３ｄを介して加算回路３ｂ及びメモリ３ａに供給す
る如くする。
【００１６】このメモリ３ａとしては水平方向にｎ個及
び垂直方向にｍ個のｎ×ｍ個の画素信号を記憶できる如
くする。このｎを大きくすれば本例では加算平均するの
で、この加算平均する回数が増えるため、より検出精度
が向上し、このｍが大きくなれば一度に検査する領域が
増えるため、１画面をスキャン（検査）する時間を短く
することができる。しかしながら、このｎ，ｍの増大は
使用するメモリ３ａの容量を増加させるためあまり大き
くすることは好ましくない。本例においては、このメモ
リ３ａとして水平方向に５個の画素信号を記憶できる如
くすると共に垂直方向に３個の画素信号を記憶できる１
５個の記憶素子２０ａ，２０ｂ，‥‥２０ｅ、２１ａ，
‥‥２１ｅ、２２ａ，‥‥２２ｅより構成する。
び垂直方向にｍ個のｎ×ｍ個の画素信号を記憶できる如
くする。このｎを大きくすれば本例では加算平均するの
で、この加算平均する回数が増えるため、より検出精度
が向上し、このｍが大きくなれば一度に検査する領域が
増えるため、１画面をスキャン（検査）する時間を短く
することができる。しかしながら、このｎ，ｍの増大は
使用するメモリ３ａの容量を増加させるためあまり大き
くすることは好ましくない。本例においては、このメモ
リ３ａとして水平方向に５個の画素信号を記憶できる如
くすると共に垂直方向に３個の画素信号を記憶できる１
５個の記憶素子２０ａ，２０ｂ，‥‥２０ｅ、２１ａ，
‥‥２１ｅ、２２ａ，‥‥２２ｅより構成する。
【００１７】この場合、本例においてはセレクタ３ｄは
フレーム毎に一方のフィールド例えば奇数フィールドの
画面における水平方向に５個、垂直方向に３個の計１５
個の画素信号をアドレスカウンタ３ｅの指示に従って通
過する如くする。この場合フレーム毎に水平方向に１画
素信号づつずらした１５個の画素信号を通過する如くす
る。
フレーム毎に一方のフィールド例えば奇数フィールドの
画面における水平方向に５個、垂直方向に３個の計１５
個の画素信号をアドレスカウンタ３ｅの指示に従って通
過する如くする。この場合フレーム毎に水平方向に１画
素信号づつずらした１５個の画素信号を通過する如くす
る。
【００１８】また本例においてはフレーム毎に、このセ
レクタ３ｄよりの１５個の画素信号とすでにメモリ３ａ
に記憶されている画素信号とを加算回路３ｂで加算し、
この加算回路３ｂよりの加算信号を平均回路３ｆで平均
して、メモリ３ａの所定の記憶素子に記憶する如くす
る。
レクタ３ｄよりの１５個の画素信号とすでにメモリ３ａ
に記憶されている画素信号とを加算回路３ｂで加算し、
この加算回路３ｂよりの加算信号を平均回路３ｆで平均
して、メモリ３ａの所定の記憶素子に記憶する如くす
る。
【００１９】本例においては、セレクタ３ｇにより５回
加算した画素信号を選択し、選択された画素信号を時分
割で、基準レベルＶref 例えば平均画素レベルと比較す
る比較回路３ｃに順次供給する如くする。
加算した画素信号を選択し、選択された画素信号を時分
割で、基準レベルＶref 例えば平均画素レベルと比較す
る比較回路３ｃに順次供給する如くする。
【００２０】この比較回路３ｃにおいて欠陥画素を検出
したときには、その欠陥画素の位置をアドレスカウンタ
１０によりアドレス変換し、ＲＡＭ１１に格納し、補正
パルス発生回路より、このアドレスで補正パルスを欠陥
補正回路２に供給する如くする。この欠陥補正回路２で
欠陥補正された撮像出力信号は、信号処理回路８により
各種の信号処理が施されてビデオ信号としてビデオ出力
端子９に導出される。
したときには、その欠陥画素の位置をアドレスカウンタ
１０によりアドレス変換し、ＲＡＭ１１に格納し、補正
パルス発生回路より、このアドレスで補正パルスを欠陥
補正回路２に供給する如くする。この欠陥補正回路２で
欠陥補正された撮像出力信号は、信号処理回路８により
各種の信号処理が施されてビデオ信号としてビデオ出力
端子９に導出される。
【００２１】ここでＣＣＤ撮像素子１から得られる画素
信号の空間的配列の一例は図４に示す如く、ｎ−１ライ
ンの画素信号がＡ11，Ａ12，Ａ13‥‥でｎラインの画素
信号がＡ21，Ａ22，Ａ23‥‥でｎ＋１ラインの画素信号
がＡ31，Ａ32，Ａ33‥‥であったとする。また、この図
４の空間的画素信号の配列においてｎラインの画素信号
Ａ25に対応する画素が欠陥であったとする。
信号の空間的配列の一例は図４に示す如く、ｎ−１ライ
ンの画素信号がＡ11，Ａ12，Ａ13‥‥でｎラインの画素
信号がＡ21，Ａ22，Ａ23‥‥でｎ＋１ラインの画素信号
がＡ31，Ａ32，Ａ33‥‥であったとする。また、この図
４の空間的画素信号の配列においてｎラインの画素信号
Ａ25に対応する画素が欠陥であったとする。
【００２２】今、図２Ａに示す如くメモリ３ａの記憶素
子２０ａ，２０ｂ‥‥２０ｅに画素信号Ａ11，Ａ12‥‥
Ａ15、記憶素子２１ａ，２１ｂ‥‥２１ｅに画素信号Ａ
21，Ａ22‥‥Ａ25、記憶素子２２ａ，２２ｂ‥‥２２ｅ
に画素信号Ａ31，Ａ32‥‥Ａ 35が記憶されていたとす
る。この場合セレクタ回路３ｄによる画素信号の選択は
フレーム毎に水平方向へ１画素づつずらして処理してい
るので、常にメモリ３ａの左端の列の記憶素子２０ａ，
２１ａ，２２ａに記憶されている画素信号が５回加算平
均された信号となっており、この左端の記憶素子２０
ａ，２１ａ，２２ａに記憶されている画素信号が検査信
号となる。
子２０ａ，２０ｂ‥‥２０ｅに画素信号Ａ11，Ａ12‥‥
Ａ15、記憶素子２１ａ，２１ｂ‥‥２１ｅに画素信号Ａ
21，Ａ22‥‥Ａ25、記憶素子２２ａ，２２ｂ‥‥２２ｅ
に画素信号Ａ31，Ａ32‥‥Ａ 35が記憶されていたとす
る。この場合セレクタ回路３ｄによる画素信号の選択は
フレーム毎に水平方向へ１画素づつずらして処理してい
るので、常にメモリ３ａの左端の列の記憶素子２０ａ，
２１ａ，２２ａに記憶されている画素信号が５回加算平
均された信号となっており、この左端の記憶素子２０
ａ，２１ａ，２２ａに記憶されている画素信号が検査信
号となる。
【００２３】この場合加算平均処理しているため、欠陥
画素に対応する画素信号は周囲の画素信号の平均画素レ
ベルよりも大きく（白点欠陥の場合）なり、ある基準レ
ベルＶref 例えばこの平均画素レベルよりも大きくな
り、欠陥画素を検出できる。
画素に対応する画素信号は周囲の画素信号の平均画素レ
ベルよりも大きく（白点欠陥の場合）なり、ある基準レ
ベルＶref 例えばこの平均画素レベルよりも大きくな
り、欠陥画素を検出できる。
【００２４】この画素信号Ａ25に対応する画素が欠陥で
あったときには図２Ａに示す如く右端の記憶素子２１ｅ
に記憶されており、次のフレームの奇数フィールドでは
図２Ｂに示す如くこの画素信号Ａ25は２回加算平均され
たものとなり、右端より２番目の記憶素子２１ｄに記憶
され、順次同様にして第４番目のフレームでは図２Ｃに
示す如く、この画素信号Ａ25は４回加算平均されたもの
となり、左端より２番目の記憶素子２１ｂに記憶され、
第５番目のフレームでは図２Ｄに示す如く、この画素信
号Ａ25は５回加算平均されたものとなり、左端の記憶素
子２１ａに記憶され、検査信号となる。その他の画素信
号も同様である。
あったときには図２Ａに示す如く右端の記憶素子２１ｅ
に記憶されており、次のフレームの奇数フィールドでは
図２Ｂに示す如くこの画素信号Ａ25は２回加算平均され
たものとなり、右端より２番目の記憶素子２１ｄに記憶
され、順次同様にして第４番目のフレームでは図２Ｃに
示す如く、この画素信号Ａ25は４回加算平均されたもの
となり、左端より２番目の記憶素子２１ｂに記憶され、
第５番目のフレームでは図２Ｄに示す如く、この画素信
号Ａ25は５回加算平均されたものとなり、左端の記憶素
子２１ａに記憶され、検査信号となる。その他の画素信
号も同様である。
【００２５】この場合、記憶素子２０ａに記憶されてい
るｎ−１ライン目の画素信号Ａ15は欠陥画素に対応せ
ず、そのレベルは図３Ａに示す如く基準レベルＶref 以
下なので、比較回路３ｃでは欠陥画素とは判定されな
い。然しながら、記憶素子２１ａに記憶されているｎラ
イン目の画素信号Ａ25は欠陥画素に対応し、そのレベル
は図３Ｂに示す如く、基準レベルＶref 以上なので、比
較回路３ｃでは、欠陥画素と判定し、この欠陥画素の位
置をＲＡＭ１１に記憶する如くする。また記憶素子２２
ａに記憶されているｎ＋１ライン目の画素信号Ａ35は欠
陥画素に対応せず、そのレベルは図３Ｃに示す如く、基
準レベルＶref 以下なので、比較回路３ｃでは欠陥画素
とは判定されない。
るｎ−１ライン目の画素信号Ａ15は欠陥画素に対応せ
ず、そのレベルは図３Ａに示す如く基準レベルＶref 以
下なので、比較回路３ｃでは欠陥画素とは判定されな
い。然しながら、記憶素子２１ａに記憶されているｎラ
イン目の画素信号Ａ25は欠陥画素に対応し、そのレベル
は図３Ｂに示す如く、基準レベルＶref 以上なので、比
較回路３ｃでは、欠陥画素と判定し、この欠陥画素の位
置をＲＡＭ１１に記憶する如くする。また記憶素子２２
ａに記憶されているｎ＋１ライン目の画素信号Ａ35は欠
陥画素に対応せず、そのレベルは図３Ｃに示す如く、基
準レベルＶref 以下なので、比較回路３ｃでは欠陥画素
とは判定されない。
【００２６】上述を奇数フィールド及び偶数フィールド
全域に亘って行い欠陥画素のアドレスをＲＡＭ１１に記
憶し、このＲＡＭ１１に記憶された欠陥画素のアドレス
に応じて補正パルスを欠陥補正回路２に送出して、欠陥
補正を行う如くする。
全域に亘って行い欠陥画素のアドレスをＲＡＭ１１に記
憶し、このＲＡＭ１１に記憶された欠陥画素のアドレス
に応じて補正パルスを欠陥補正回路２に送出して、欠陥
補正を行う如くする。
【００２７】以上述べた如く、本例によれば固体撮像素
子１よりの撮像出力信号より欠陥画素を検出し、この検
出された欠陥画素に基づいて欠陥補正を行なうので、こ
の固体撮像素子１と対となる欠陥データを記憶したＲＯ
Ｍを必要とすることなく、欠陥画素を確実に補正できる
と共に静電破壊や、ビデオカメラ搭載後の経時変化等に
伴う欠陥変化にも対応できる利益がある。
子１よりの撮像出力信号より欠陥画素を検出し、この検
出された欠陥画素に基づいて欠陥補正を行なうので、こ
の固体撮像素子１と対となる欠陥データを記憶したＲＯ
Ｍを必要とすることなく、欠陥画素を確実に補正できる
と共に静電破壊や、ビデオカメラ搭載後の経時変化等に
伴う欠陥変化にも対応できる利益がある。
【００２８】また、本例においては欠陥検出回路３のメ
モリ３ａとして、ｎ×ｍ個例えば５×３個の画素信号を
記憶できる記憶素子より構成したものを使用する如くし
たので、このメモリ容量を非常に少なくでき、回路規
模、消費電力を小さくできる利益がある。
モリ３ａとして、ｎ×ｍ個例えば５×３個の画素信号を
記憶できる記憶素子より構成したものを使用する如くし
たので、このメモリ容量を非常に少なくでき、回路規
模、消費電力を小さくできる利益がある。
【００２９】また本例においては欠陥検出回路３におい
て画素信号を所定フィールド例えば５フィールドに亘っ
て加算し、これにより欠陥画素を検出するので検出精度
が向上する利益がある。
て画素信号を所定フィールド例えば５フィールドに亘っ
て加算し、これにより欠陥画素を検出するので検出精度
が向上する利益がある。
【００３０】尚上述実施例においてはＣＣＤ撮像素子１
として白黒映像信号を得るものを使用した例につき述べ
たが、このＣＣＤ撮像素子としてカラーＣＣＤ撮像素子
を用いたときにおいても例えば現在の主流である補色市
松の色フィルタを用いた際にはインターライン転送方式
の読み出しにより各フィールドにおいて４種類の色加算
された出力信号が得られるが、同色信号のみを上述の同
様に処理すれば、上述と同様に欠陥画素を検出すること
ができ、上述同様の作用効果が得られることは容易に理
解できよう。この場合各フィールドの４色について平行
して同時処理するか、順番に処理するかはいずれも可能
である。このときの平行同時処理は総処理時間は短くな
るが、当然ながら回路規模が大きくなる。
として白黒映像信号を得るものを使用した例につき述べ
たが、このＣＣＤ撮像素子としてカラーＣＣＤ撮像素子
を用いたときにおいても例えば現在の主流である補色市
松の色フィルタを用いた際にはインターライン転送方式
の読み出しにより各フィールドにおいて４種類の色加算
された出力信号が得られるが、同色信号のみを上述の同
様に処理すれば、上述と同様に欠陥画素を検出すること
ができ、上述同様の作用効果が得られることは容易に理
解できよう。この場合各フィールドの４色について平行
して同時処理するか、順番に処理するかはいずれも可能
である。このときの平行同時処理は総処理時間は短くな
るが、当然ながら回路規模が大きくなる。
【００３１】また上述実施例ではＣＣＤ撮像素子の白点
欠陥につき述べたが、黒点欠陥のときは図１実施例にお
ける比較回路３ｃにおいて、平均画素レベルに基づいて
決めた所定レベルに達しないときを欠陥と判定するよう
にすれば上述と同様に本例を適用できることは勿論であ
る。
欠陥につき述べたが、黒点欠陥のときは図１実施例にお
ける比較回路３ｃにおいて、平均画素レベルに基づいて
決めた所定レベルに達しないときを欠陥と判定するよう
にすれば上述と同様に本例を適用できることは勿論であ
る。
【００３２】また本発明は上述実施例に限ることなく本
発明の要旨を逸脱することなくその他種々の構成が取り
得ることは勿論である。
発明の要旨を逸脱することなくその他種々の構成が取り
得ることは勿論である。
【００３３】
【発明の効果】以上述べた如く、本発明によれば固体撮
像素子１よりの撮像出力信号より欠陥画素を検出し、こ
の検出された欠陥画素に基づいて欠陥補正を行なうの
で、この固体撮像素子１と対となる欠陥データを記憶し
たＲＯＭを必要とすることなく、欠陥画素を確実に補正
できると共に静電破壊や、ビデオカメラ搭載後の経時変
化等に伴う欠陥変化にも対応できる利益がある。
像素子１よりの撮像出力信号より欠陥画素を検出し、こ
の検出された欠陥画素に基づいて欠陥補正を行なうの
で、この固体撮像素子１と対となる欠陥データを記憶し
たＲＯＭを必要とすることなく、欠陥画素を確実に補正
できると共に静電破壊や、ビデオカメラ搭載後の経時変
化等に伴う欠陥変化にも対応できる利益がある。
【００３４】また本発明においては欠陥検出回路３のメ
モリ３ａとしてｎ×ｍ個例えば５×３個の画素信号を記
憶できる記憶素子より構成したものを使用する如くした
ので、このメモリ容量を非常に少なくでき、回路規模、
消費電力を小さくできる利益がある。
モリ３ａとしてｎ×ｍ個例えば５×３個の画素信号を記
憶できる記憶素子より構成したものを使用する如くした
ので、このメモリ容量を非常に少なくでき、回路規模、
消費電力を小さくできる利益がある。
【００３５】また本発明においては欠陥検出回路３にお
いて画素信号を所定フィールド例えば５フィールドに亘
って加算し、これにより欠陥画素を検出するので検出精
度が向上する利益がある。
いて画素信号を所定フィールド例えば５フィールドに亘
って加算し、これにより欠陥画素を検出するので検出精
度が向上する利益がある。
【図１】本発明固体撮像装置の一実施例を示す構成図で
ある。
ある。
【図２】本発明の説明に供する線図である。
【図３】本発明の説明に供する線図である。
【図４】画素信号の空間的配列図である。
１ ＣＣＤ撮像素子 ２ 欠陥補正回路 ３ 欠陥検出回路 ３ａ メモリ ３ｂ 加算回路 ３ｃ 比較回路 ３ｄ，３ｇ セレクタ ３ｆ 平均回路 ８ 信号処理回路 １１ ＲＡＭ
Claims (3)
- 【請求項１】 固体撮像素子と、該固体撮像素子の出力
信号が供給される欠陥補正回路と、前記固体撮像素子の
出力信号に基づいて欠陥画素を検出する欠陥検出回路と
を有し、該欠陥検出回路の出力信号に基づいて前記欠陥
補正回路で前記固体撮像素子の欠陥補正を行うようにし
た固体撮像装置において、前記欠陥検出回路をメモリ
と、加算回路と、基準値と比較する比較回路とより構成
し、各フィールドに対応する画素信号を夫々フィールド
毎に前記加算回路で加算して前記メモリに記憶し、所定
数のフィールドに亘って加算された画素信号のレベルを
前記比較回路で基準値と比較して欠陥画素を検出するよ
うにしたことを特徴とする固体撮像装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の固体撮像装置において、
前記加算回路の出力信号を平均して前記メモリに記憶す
るようにしたことを特徴とする固体撮像装置。 - 【請求項３】 請求項１又は請求項２記載の固体撮像装
置において、前記メモリをｎ×ｍ個（ｎ及びｍは所定の
正の整数）の画素信号が記憶できるものとし、各フィー
ルド毎に１画素信号づつずらした加算信号を順次記憶す
るようにしたことを特徴とする固体撮像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07462893A JP3331666B2 (ja) | 1993-03-31 | 1993-03-31 | 固体撮像装置及び固体撮像装置の欠陥検出補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07462893A JP3331666B2 (ja) | 1993-03-31 | 1993-03-31 | 固体撮像装置及び固体撮像装置の欠陥検出補正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06292088A true JPH06292088A (ja) | 1994-10-18 |
| JP3331666B2 JP3331666B2 (ja) | 2002-10-07 |
Family
ID=13552656
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP07462893A Expired - Fee Related JP3331666B2 (ja) | 1993-03-31 | 1993-03-31 | 固体撮像装置及び固体撮像装置の欠陥検出補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3331666B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0762741A2 (en) * | 1995-08-29 | 1997-03-12 | SANYO ELECTRIC Co., Ltd. | Solid state image pick-up device having a high precision defective pixel detecting circuit with low power consumption |
| US6002433A (en) * | 1995-08-29 | 1999-12-14 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Defective pixel detecting circuit of a solid state image pick-up device capable of detecting defective pixels with low power consumption and high precision, and image pick-up device having such detecting circuit |
| KR100340052B1 (ko) * | 1998-06-30 | 2002-07-18 | 박종섭 | 이미지센서 |
| JP2011106942A (ja) * | 2009-11-17 | 2011-06-02 | Nohmi Bosai Ltd | 赤外線カメラの欠落素子位置を特定する装置および方法 |
-
1993
- 1993-03-31 JP JP07462893A patent/JP3331666B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0762741A2 (en) * | 1995-08-29 | 1997-03-12 | SANYO ELECTRIC Co., Ltd. | Solid state image pick-up device having a high precision defective pixel detecting circuit with low power consumption |
| EP0762741A3 (en) * | 1995-08-29 | 1998-02-04 | SANYO ELECTRIC Co., Ltd. | Solid state image pick-up device having a high precision defective pixel detecting circuit with low power consumption |
| US5854655A (en) * | 1995-08-29 | 1998-12-29 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Defective pixel detecting circuit of a solid state image pick-up device capable of detecting defective pixels with low power consumption and high precision, and image pick-up device having such detecting circuit |
| US6002433A (en) * | 1995-08-29 | 1999-12-14 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Defective pixel detecting circuit of a solid state image pick-up device capable of detecting defective pixels with low power consumption and high precision, and image pick-up device having such detecting circuit |
| KR100340052B1 (ko) * | 1998-06-30 | 2002-07-18 | 박종섭 | 이미지센서 |
| US6707493B1 (en) | 1998-06-30 | 2004-03-16 | Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. | Method and apparatus for error detection and correction in image sensor |
| JP2011106942A (ja) * | 2009-11-17 | 2011-06-02 | Nohmi Bosai Ltd | 赤外線カメラの欠落素子位置を特定する装置および方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3331666B2 (ja) | 2002-10-07 |
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