JPH06289134A - 距離測定装置の汚れ検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 距離測定装置と物体間とを光往復時間に基づ
いて演算された物体までの距離測定結果の低下より距離
測定装置の光透過路の汚れを判定するものである。 【構成】 距離測定対象となる物体７を照射する送光部
１と、送光部１によって照射された物体７よりの反射光
を受光する受光部２と、送光部１による送光時より受光
部２から受光出力取込み時に至るまでの時間に基づいて
物体７までの距離を測定する距離測定手段３１と、受光
部２より出力される受光出力を取り込み毎に、この受光
出力に基づいて物体７の検出及び未検出を判定する物体
検出手段３２と、距離測定手段３１による距離測定回数
と物体検出手段３２による物体未検出との割合による物
体未検出頻度に従って送光部１或は受光部２の光透過路
の汚れを判定する汚れ判定手段３３とを備えている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、物体に光を照射した
時から物体より反射光を受光するまでの時間に基づいて
物体までの距離を測定すると共に、距離測定能力の低下
より照射光或いは反射光の透過路の汚れを検出する距離
測定装置の汚れ検出装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】図９は例えば特公平３ー３０１１６号公
報に開示された従来の距離測定装置の汚れ検出装置の構
成を示すブロック図である。図において、１は物体７に
対して光を送光して照射する送光部であり、この送光部
１はレーザダイオード１１を励起してパルス発光させる
パルス駆動回路１２と、パルス発光によってレーザダイ
オード１１から出力されたレーザ光を拡散して離隔した
物体７を照射する送光レンズ１３より構成されている。

【０００３】２はレーザ光が照射された物体７からの反
射光を受光する受光部であり、この受光部２は反射光を
受光して受光素子２２の受光面に集光させる受光レンズ
２１を備えている。３は処理回路であり、この処理回路
３はパルス駆動回路１２によるレーザダイード１１の励
起時から受光素子２２による反射光検出時に至るまでの
時間より本距離測定装置と物体７との間の距離を演算す
る。

【０００４】４、５は送光部４と受光部５の前方にそれ
ぞれ配置されたガラス板の透明カバーであり、光透過路
となる送光窓と受光窓を構成する。６は例えば送光窓４
の光透過面の汚れを検出する汚れ検出部であり、この汚
れ検出部６はレーザ光が透過する送光窓４からの散乱光
を遮蔽体６３を通して受光する受光素子６１と、この受
光素子６１で光電変換された後に出力される電気信号
（以下、単に信号と記載する）のレベルに基づいて送光
窓４の汚れを検出する汚れ検出用処理回路６２を備えて
いる。

【０００５】次に、従来装置の動作について説明する。
送光部１のパルス駆動回路１２はレーザダイオード１１
を励起してレーザ光を出力させる。レーザ光は送光レン
ズ１３によって拡散され、送光窓４を通して前方に送光
される。そして、前方に距離測定対象となる物体７があ
れば、その物体７はレーザ光によって照射される。そし
て照射された物体７より反射光が受光窓５を通して受光
部２で受光される。受光部２では反射光を受光レンズ２
１によって受光素子２２の受光面に集光し、反射光を光
電変換により信号に変換する。

【０００６】この信号は処理回路３で所定のしきい値と
比較され、信号レベルがしきい値以上であれば物体７か
らの反射光による信号として検出される。さらに処理回
路３は、送光部１においてパルス駆動回路１２がレーザ
ダイオード１３を励起してレーザ光を出力させた時点か
ら受光部２の受光素子２２が反射光を検出した時点まで
の時間、即ちレーザ光が距離測定装置と物体７との間を
往復する時間を高速カウンタ（図示せず）で計測する。
次に、処理回路３は計測された往復時間をもとに下式で
距離測定装置と物体７との間の距離を求める。

【０００７】距離＝往復時間×光速／２

【０００８】一方、汚れ検出部６の汚れ検出用受光素子
６１は送光部１からの光で照射された送光窓４の内側お
よび外側の界面の散乱光を、遮蔽体６３を介して受光し
光電変換により信号に変換する。この信号は汚れ検出用
処理回路６２に入力される。汚れ検出用処理回路６２
は、入力された信号のレベルが低かったならば、送光窓
４の表面に付着した汚に光が当たって発生する散乱光が
微小であり、送光窓４を透過する光の方が多いとして送
光窓４の汚れ無しを判定する。

【０００９】しかし、反面、送光窓４の表面に汚れが付
着して汚れ検出用受光素６１に入光される散乱光が増加
すると、汚れ検出用処理回路６２に入力される信号のレ
ベルが高くなる。その結果、汚れ検出処理回路６２は汚
れ検出受光素子６１からの信号のレベルが所定値以上に
なると汚れ検出信号を発生する。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】従来の距離測定装置の
汚れ検出装置は以上のように、送光部より送光窓に光を
照射した際に送光窓の汚れよって発せられる散乱光を、
遮蔽体を通して受光部に導き、その受光量に基づいて汚
れを検出していた。しかし、この方法であると汚れの検
出範囲は光が照射された範囲に限定され、且つ、散乱光
を遮蔽体を通して受光部に導くと汚れ検出範囲はより狭
められるという問題点があった。

【００１１】更に、このように汚れ検出範囲を限定する
と、送光窓に汚れが均一に付着した場合は十分な散乱光
が発せられるので汚れ検出機能は正常に動作するが、汚
れ検出範囲外に比べて汚れ検出範囲内に付着した汚れが
僅か場合は十分な散乱光が発せられないため汚れ検出精
度は低下する。このことは、逆に言えば汚れ検出範囲外
に比べて汚れ検出範囲内が局部的に汚れた場合でも十分
な散乱光が発せられので、送光窓全体から見て距離測定
能力に影響の無い汚れであっても汚れ信号を出力してし
まうという問題点、また汚れ検出のために汚れ検出用受
光素子、汚れ検出用受光素子の出力信号を処理する回路
を設ける必要があるため装置自体が高価になるという問
題点があった。

【００１２】この発明は上記のような問題点を解決する
ためになされたもので、送光窓或は受光窓の特定の部分
に汚れ検出範囲を限定せずに、しかも特別な汚れ検出回
路を備えずとも各窓の汚れに起因する距離測定能力の低
下を検出することができる距離測定装置の汚れ検出装置
を得ることを目的とする。

【００１３】

【課題を解決するための手段】請求項１の発明にかかる
距離測定装置の汚れ検出装置は、距離測定対象となる物
体を照射する送光部と、この送光部によって照射された
物体よりの反射光を受光する受光部と、前記送光部によ
る送光時より前記受光部から受光出力取込み時に至るま
での時間に基づいて前記物体までの距離を測定する距離
測定手段と、前記受光部より出力される受光出力を取り
込み毎に、受光出力に基づいて前記物体の検出及び未検
出を判定する物体検出手段と、前記距離測定手段による
距離測定回数と前記物体検出手段による物体未検出との
割合による物体未検出頻度に従って前記送光部或は受光
部の光透過路の汚れを判定する汚れ判定手段とを備えた
ものである。

【００１４】請求項２の発明に係る距離測定装置の汚れ
検出装置は、距離測定対象となる物体を照射する送光部
と、この送光部によって照射された物体よりの反射光を
受光する受光部と、前記送光部による送光時より前記受
光部から受光出力取込み時に至るまでの時間に基づいて
前記物体までの距離を測定する距離測定手段と、この距
離測定手段によって測定された距離が予め設定された距
離しきい値未満である判定される毎に判定回数を計数す
る計数手段と、この計数手段による計数値に従って前記
送光部或は受光部の光透過路の汚れを判定する汚れ判定
手段とを備えたものである。

【００１５】請求項３の発明に係る距離測定装置の汚れ
検出装置は、距離測定対象となる物体を照射する送光部
と、この送光部によって照射された物体よりの反射光を
受光する受光部と、前記送光部による送光時より前記受
光部から受光出力取込み時に至るまでの時間に基づいて
前記物体までの距離を測定する距離測定手段と、この距
離測定手段による距離測定結果より測定距離が予め設定
された距離しきい値未満である時に、距離測定された物
体は前回、測定距離が距離しきい値未満であった物体と
同一の物体か否かを判定する同一物体判定手段と、同一
物体でないことが判定された時に、前記距離測定手段に
よって測定された距離が距離しきい値未満であると判定
した回数を計数し、且つ、同一物体の時には回数を計数
しない計数手段と、この計数手段による計数値に従って
前記送光部或は受光部の光透過路の汚れを判定する汚れ
判定手段とを備えたものである。

【００１６】請求項４の発明に係る距離測定装置の汚れ
検出装置は、距離測定対象となる物体を照射する送光部
と、この送光部にて照射された物体よりの反射光を受光
する受光部と、前記送光部による送光時より前記受光部
から受光出力取込み時に至るまでの時間に基づいて前記
物体までの距離を測定する距離測定手段と、この距離測
定手段によって測定された測定距離が予め設定された距
離しきい値未満であると判定される毎に判定回数を計数
する計数手段と、この計数手段による計数値に従って前
記送光部或は受光部の光透過路の汚れを判定する汚れ判
定手段と、この汚れ判定手段による光透過路の汚れ判定
後、前記距離しきい値を前記距離しきい値より大きな仮
の距離しきい値に変更するしきい値変更手段とを備えた
ものである。

【００１７】

【作用】請求項１の発明における距離測定装置の汚れ検
出装置は、物体を未検出である期間を計測した後に、距
離測定回数と物体未検出期間との割合を演算し、この割
合が所定値以上に達した場合は光透過路の汚れにより遠
距離の物体を検出する能力が低下して物体未検出期間が
増加したと判断する。

【００１８】請求項２の発明における距離測定装置の汚
れ検出装置は、距離測定装置で測定された距離が予め設
定された距離のしきい値を下回る回数を計測し、その回
数が所定回数以上連続する場合は光透過路の汚れにより
遠距離の物体を検出する能力が低下して物体未検出期間
が増加したと判断する。

【００１９】請求項３の発明における距離測定装置の汚
れ検出装置は、距離しきい値未満の距離に存在する同一
の物体を長期間に亘って検出した場合はその期間を計数
しないことで、計数値から光透過路の汚れに起因して長
期間に亘って遠距離の物体を検出できなかったと誤判定
されることはない。

【００２０】請求項４の発明における距離測定装置の汚
れ検出装置は、物体の測定距離が初期に設定された距離
しきい値未満の距離であることを検出した回数をカウン
トし、その回数が所定の回数以上連続する場合は、光透
過路に汚れが付着して遠距離の物体を検出する性能が低
下していると判定し、その後距離しきい値を仮に初期の
距離しきい値より上げることで、汚れ付着を判定した直
後に初期の距離しきい値を僅かに上廻る距離を測定して
も正規の測定距離として取り上げずに距離測定装置の汚
れ検出判定を維持する。

【００２１】

【実施例】

実施例１．以下、この発明の実施例１を図について説明
する。図１は本実施例における距離測定装置の汚れ検出
装置の構成を示すブロック図である。尚、図中図９と同
一符号は同一又は相当部分を示す。図において３Ａは本
実施例における処理回路であり、この処理回路３Ａは距
離測定対象となる物体を照射する送光部１と、この送光
部１によって照射された物体７よりの反射光を受光する
受光部２と、送光部１による送光時より受光部２から受
光出力取込み時に至るまでの時間に基づいて物体７まで
の距離を測定する距離測定手段３１と、受光部２より出
力される受光出力を取り込み毎に、受光出力に基づいて
物体７の検出及び未検出を判定する物体検出手段３２
と、距離測定手段３１による距離測定回数と物体検出手
段３２による物体未検出との割合による物体未検出頻度
に従って送光部１或は受光部２の送光窓４或いは受光窓
５の汚れを判定する汚れ判定手段３３とを備えている。

【００２２】次に、この実施例１の動作を図２のフロー
チャートに従って説明する前に汚れ検出処理方法につい
て説明する。この発明の対象となる距離測定装置は、送
光部１より発せられた光が距離測定対象物である物体７
に当たり反射して来る光（反射光）を受光部２で受光す
るまでの時間、即ち距離測定装置（図示しない）と物体
７との間を往復する光の往復時間を測定して物体７まで
の距離を演算するものである。だが、この種の距離測定
装置は送光部１より発生する光の強度は物体７において
距離の２乗に反比例して低下する。また物体７からの反
射光もやはり受光部２において距離の２乗に反比例して
強度が低下する。そのため、結果的に受光部２で受光さ
れる光の強度は距離の４乗に反比例して低下する。

【００２３】従って、受光部２で得られた信号を処理回
路３Ａで所定の信号レベルしきい値と比較して物体７の
有無を判定すると往復する光の強度が低下する遠距離に
位置する物体７ほど検出が困難になる。一方、送光部１
の光透過路、即ち送光窓４が汚れて物体７に照射される
光の強度が低下したり、受光部２の光透過路、即ち受光
窓５が汚れて受光素子２２で受光される光の強度が低下
すれば信号のレベルは低下するために物体７を検出でき
る距離は短くなる。

【００２４】これを具体的に説明すると、距離測定装置
の送光部１及び受光部２の各窓４、５に一様に汚れが付
着し、各窓４，５における光の透過率が例えば５０％に
低下したとすれば、受光部２では強度５０％の光を強度
５０％に低下して受光するため、受光した光の強度は５
０％×５０％低下して０．２５倍に低下する。よって、
距離測定装置が測定できる物体までの距離は受光強度
０．２５倍の４乗根である０．７倍となり、距離測定能
力は定格遠距離測定能力時に比べ３０％低下することに
なる。

【００２５】このように測定可能距離は光透過路の透過
率の平方根に比例して低下するので、光透過路に汚れが
付着しても近距離の物体の検出には影響がないが、遠距
離の物体の検出が不可能となり、距離測定時には近距離
に位置した物体の距離測定結果のみが出力されることに
なる。

【００２６】更に、このような距離測定装置を自動車に
前面に装着して前方の車両や障害物等の不特定な物体の
距離測定に利用する場合、物体は自動車からの距離に拘
わらずに近距離及び遠距離に分布すると考えられる。そ
こで、光透過路の汚れにより遠距離にある物体の距離測
定が不可能になると、近距離に物体が存在しない場合は
物体の距離未測定期間が増加する。 従って、距離測定
装置の距離測定回数と距離測定時において距離未測定期
間の割合を演算し、その割合が０．８未満か否かを調べ
れば距離測定装置の光透過路に汚れが付着しているか否
かを判定することができる。

【００２７】上記の汚れ検出処理方法を踏まえて本実施
例の動作を説明する。この処理は距離測定装置の光透過
路に汚れが付着し、距離測定回数に対して距離未測定
（物体未検出）期間、の割合が例えば０．８以上となっ
た時に光透過路の汚れを示す汚れフラグをセットするも
のである。処理回路３Ａは図２のフローチャートに示す
処理を例えば０．１秒毎に繰り返し実行される。先ず測
定回数を計数する第１カウンタ（図示せず）をインクリ
メントし（ステップＳ１１）、次に受光素子２２より入
力された信号のレベルが所定値以上であるか否かよって
物体７の検出或いは未検出を判定する（ステップＳ１
２）。この時物体７の未検出が判定されたならば、物体
の未検出期間を計数する第２カウンタ（図示せず）を
０．１秒分インクリメントする（ステップＳ１３）。

【００２８】だが、ステップＳ１２で物体７の検出が判
定されたならば第１カウンタのカウント値を呼び出し距
離測定回数が例えば１０００（距離測定期間で表すと１
０００×０．１秒＝１００秒）或はそれ以上かを判定す
る（ステップＳ１４）。そして距離測定回数が１０００
未満の場合は汚れ判定を行うための距離測定回数が不足
しているとして汚れ検出判定は行わない。そして０．１
秒後の次の処理周期で再度ステップＳ１１へ戻り第１カ
ウンタをインクリメントして物体７の検出を行う。即
ち、第１カウンタのカウント値が１０００以上になるま
でステップＳ１１〜１４を繰り返し、ステップＳ１２で
物体未検出が判定される毎にステップＳ１３で第２カウ
ンタをインクリメントする。

【００２９】そしてステップＳ１４において第１カウン
タのカウント値が１０００を超過したことが判定された
ならば第２カウンタのカウント値を第１カウンタのカウ
ント値で除算して距離測定回数に対する物体未検出期間
の割合を計算し（ステップＳ１５）、物体未検出期間の
割合が０．８未満であるか否かを判定する（ステップＳ
１６）。そして、物体未検出期間の割合が０．８未満で
あれば汚れ検出無しとして汚れ検出フラグをクリアする
（ステップＳ１７）。逆に０．８以上であれば汚れが付
着したと判断し汚れ検出フラグをセットし（ステップＳ
１８）、汚れ検出のための１回の処理を終了する。０．
１秒後に再びステップＳ１１〜１８の処理を繰り返す。

【００３０】以上のように本実施例では１０００回以
上、即ち１００秒以上継続して行ったの距離測定の期間
中、物体の距離測定がなされずに物体が未検出だった期
間の割合が０．８未満であれば不特定の物体を多数検出
したことになる。そして、距離測定装置の測定能力を低
下させる汚れは光透過路に付着していないと判断する。
しかし、物体未検出期間の割合が０．８以上になれば汚
れ付着により距離測定能力が低下したと判断する。

【００３１】尚、本実施例では汚れ検出のための距離測
定回数として１０００回（１０００×０．１秒＝１００
秒）以上を考え、汚れ検出のためのしきい値である物体
未検出期間の割合を０．８にしているが、これら距離測
定回数、しきい値は距離計測における一例であり、これ
に限定されることなく物体未検出期間を直接時間等で測
定する方法を用いても同様の効果が得られる。

【００３２】実施例２．以下、この発明の実施例２を図
について説明する。図３は本実施例における距離測定装
置の汚れ検出装置の構成を示すブロック図である。尚、
図中図９と同一符号は同一又は相当部分を示す。図にお
いて３Ｂは本実施例における処理回路であり、この処理
回路３Ｂは距離測定対象となる物体を照射する送光部１
と、送光部１によって照射された物体７よりの反射光を
受光する受光部２と、送光部１による送光時より受光部
２から受光出力取込み時に至るまでの時間に基づいて物
体７までの距離を測定する距離測定手段３１と、距離測
定手段３１によって測定された距離が予め設定された距
離しきい値未満である判定される毎に判定回数を計数す
る計数手段３４と、計数手段３４による計数値に従って
送光部１或は受光部２の光透過路の汚れを判定する汚れ
判定手段３３とを備えている。

【００３３】尚、実施例２における距離測定方法に関し
ては前記実施例１と実質的に変わりはないが、距離測定
装置の測定能力が光透過路の汚れの付着により例えば５
０ｍ（距離しきい値）未満となったことを検出すると汚
れ検出警報を発生する。処理回路３Ｂは図４のフローチ
ャートに示す処理を例えば０．１秒毎に例えば１００回
繰り返し実行される。

【００３４】次に、この実施例２の動作を図４のフロー
チャートに従って説明する。先ず受光素子２２より入力
された信号のレベルが所定値以上であるか否かよって物
体７の検出或いは未検出を判定する（ステップＳ２
１）。この時、物体検出が判定されたならば物体７まで
の距離を測定し、測定距離が距離しきい値である５０ｍ
未満であるか否かを判定する（ステップＳ２２）。そし
て測定距離が５０ｍ未満であることが判定されたならば
距離５０ｍ未満の検出回数をカウントするカウンタ（図
示せず）をインクリメントした後に（ステップＳ２
３）、カウント値を呼び出しカウント値が１００未満で
あるか否かを判定する（ステップＳ２５）。

【００３５】カウント値が今だ１００未満であることが
判定されたならば、距離５０ｍ以上離隔した物体を検出
する機会がまだあるとして光透過路の汚れ検出無しを判
定する（ステップＳ２６）。更に続く各処理周期毎にス
テップＳ２２で検出された物体７までの距離が５０ｍ未
満であることが判定されたならば、ステップＳ２３でカ
ウンタをインクリメントする。その結果ステップＳ２５
でカウント値が１００以上であることが判定されると、
光透過路が汚れて遠距離の物体７を検出する能力が低下
して距離５０ｍ未満の地点に位置した物体しか検出でき
ないと判断する。この能力低下判断により光透過路の汚
れ検出を判定し図示しない警報手段で汚れ検出警報の発
生を行う（ステップＳ２７）。

【００３６】しかして、物体７を検出した時に物体７ま
での距離が５０ｍ以上であることが判定されたならば
（ステップＳ２１，Ｓ２２）、ステップＳ２３でインク
リメントしたカウンタの値をクリアする（ステップＳ２
４）。従ってカウント値は零になり、当然カウント値は
１００未満であることが判定されるため（ステップＳ２
５）、汚れ検出無しを判定する（ステップＳ２６）。こ
れは、今まで距離５０ｍ未満の物体を検出していても、
光透過路に汚れが付着していないために遠距離（５０ｍ
以上）の物体７を検出する能力を維持していることを示
す。

【００３７】尚、実施例２では汚れ検出のための近距離
検出回数のしきい値を１００としているが、このしきい
値をさらに大きくすれば汚れ判定より確実なものとな
る。またしきい値は汚れ検出処理速度或いは汚れ検出処
理精度に応じて設定すればよい。

【００３８】実施例３．以下、この発明の実施例３を図
について説明する。図５は本実施例における距離測定装
置の汚れ検出装置の構成を示すブロック図である。尚、
図中図９と同一符号は同一又は相当部分を示す。図にお
いて３Ｃは本実施例における処理回路であり、この処理
回路３Ｃは距離測定対象となる物体を照射する送光部１
と、送光部１によって照射された物体７よりの反射光を
受光する受光部２と、送光部１による送光時より受光部
２から受光出力取込み時に至るまでの時間に基づいて物
体７までの距離を測定する距離測定手段３１と、距離測
定手段３１による距離測定結果より測定距離が予め設定
された距離しきい値未満である時に、距離測定された物
体は、前回測定距離が距離しきい値未満であった物体と
同一の物体か否かを判定する同一物体判定手段３５と、
同一物体でないことが判定された時に、前記距離測定手
段によって測定された距離が距離しきい値未満であると
判定した回数を計数し、且つ、同一物体の時には回数を
計数しない計数手段３４と、計数手段３４による計数値
に従って送光部１或は受光部２の光透過路の汚れを判定
する汚れ判定手段３３とを備えている。尚、実施例３に
おける距離測定方法は実施例２と実質的に変わりない。

【００３９】次に、この実施例３の動作を図６のフロー
チャートに従って説明する。先ず受光素子２２より入力
された信号のレベルが所定値以上であるか否かよって物
体７の検出或いは未検出を判定する（ステップＳ２
１）。この時、物体検出が判定されたならば物体７まで
の距離を測定し、測定距離が距離しきい値である５０ｍ
未満であるか否かを判定する（ステップＳ２２）。そし
て測定距離が５０ｍ未満であることが判定されたなら
ば、検出された物体７は前回検出された物体と同一であ
るか否かを判定する（ステップＳ２３）。この同一物体
判定方法としては、同一物体であれば距離測定装置と物
体との相対移動距離の変化量は零に等しいが、検出物体
が変わると測定された相対移動距離は前処理周期（０．
１秒周期）で測定された相対移動距離とは異なるために
変化量は零よりずれることになる。よって、相対移動距
離の変化量より検出された物体が同一物体か否かが判定
できる。

【００４０】従って、ステップＳ２３で距離測定した物
体が前回検出された物体と同一でない判定されたならば
距離５０ｍ未満の物体を検出した回数をカウントするカ
ウンタ（図示せず）をインクリメントする（ステップＳ
２４）。しかし同一物体であることが判定されたならば
カウンタをインクリメントせず、カウント値を呼び出し
カウント値が１００未満であるか否かを判定する（ステ
ップＳ２６）。

【００４１】カウント値が１００未満であることが判定
されたならば距離５０ｍ以上離隔した物体を検出できる
可能性があるとして距離測定装置の汚れ検出無しを判定
する（ステップＳ２７）。更に続く各処理周期毎に、ス
テップＳ２２で測定された物体７までの距離が５０ｍ未
満であり、しかもステップＳ２３で距離測定された物体
が前回（０．１秒前）距離５０ｍ未満であると判定され
た物体と異なることが判定されたならば、ステップＳ２
４でカウンタをインクリメントする。その結果ステップ
Ｓ２６でカウント値が１００以上であることが判定され
ると、光透過路が汚れて距離５０ｍ以上の遠距離の物体
７を検出する性能が低下していると判断する。この性能
低下判断により光透過路の汚れ検出を判定し汚れ検出警
報を発生すると共に（ステップＳ２８）、汚れ検出のた
めの１回目の処理を終了し、０．１秒後の距離測定時に
再び汚れ検出処理を繰り返す。

【００４２】しかして、物体７を検出しその物体７まで
の距離が５０ｍ以上であることが判定されたならば（ス
テップＳ２２）、ステップＳ２４でインクリメントした
カウンタの値をクリアする（ステップＳ２５）。従って
カウント値は零になり（ステップＳ２６）、汚れ検出無
しを判定する（ステップＳ２７）。これは即ち光透過路
に汚れが付着していないために遠距離の物体７を検出す
ることが可能であること示す。

【００４３】尚、各汚れ検出処理毎にステップＳ２３の
処理を行い距離測定された物体が前回検出された物体で
あることが判定されたならば、カウンタはインクリメン
トされないため、ステップＳ２６のカウント値判定にお
いてはカウント値は１００未満となる。よって、ステッ
プＳ２７では汚れ無しが判定される。従って、長時間に
渡り距離５０ｍ未満の同一の物体を連続して検出してい
るために遠距離の物体を検出できなくても光透過路に汚
れが付着したと誤判断されることはない。

【００４４】実施例４．以下、この発明の実施例４を図
について説明する。図７は本実施例における距離測定装
置の汚れ検出装置の構成を示すブロック図である。尚、
図中図９と同一符号は同一又は相当部分を示す。図にお
いて３Ｄは本実施例における処理回路であり、この処理
回路３Ｄは、距離測定対象となる物体を照射する送光部
１と、送光部１にて照射された物体７よりの反射光を受
光する受光部２と、送光部１による送光時より受光部２
から受光出力取込み時に至るまでの時間に基づいて物体
７までの距離を測定する距離測定手段３１と、距離測定
手段３１によって測定された測定距離が予め設定された
距離しきい値未満であると判定される毎に判定回数を計
数する計数手段３４と、計数手段３４による計数値に従
って送光部１或は受光部２の光透過路の汚れを判定する
汚れ判定手段３３と、汚れ判定手段３３による光透過路
の汚れ判定後、前記距離しきい値を前記距離しきい値よ
り大きな仮の距離しきい値に変更するしきい値変更手段
３６とを備えている。

【００４５】次に、この実施例４の動作を図８のフロー
チャートに従って説明する。先ず上述した方法で物体７
が検出されたならば、その物体７までの距離を測定する
（ステップＳ３１）。次に、距離測定装置の汚が検出さ
れているかを判断するために汚れ検出フラグを調べる
（ステップＳ３２）。測定初期時においては当然汚れ検
出はなされていない。そのため汚れ検出フラグはクリア
されて距離しきい値を距離測定範囲である５０ｍに設定
し（ステップＳ３３）、ステップＳ３１で検出した物体
７までの距離と距離しきい値とを比較する（ステップＳ
３５）。

【００４６】この比較の結果、測定距離が距離しきい値
より小さい時は、距離しきい値未満であることを検出し
た回数をカウントするカウンタ（図示せず）をインクリ
メントし（ステップＳ３６）、そしてカウンタのカウン
ト値が１００未満であるかを判定する（ステップＳ３
８）。この時、カウント値が１００未満であれば汚れ未
検出状態として汚れ検出フラグをクリアしておく（ステ
ップＳ３９）。以上、距離しきい値を５０ｍに設定した
状態でステップＳ３１，Ｓ３２，Ｓ３３，Ｓ３５，Ｓ３
６，Ｓ３８，Ｓ３９の一連の処理を０．１秒周期で１０
０回繰り返す。

【００４７】しかし、処理回数が１００回に至る前にス
テップＳ３５で測定された距離が距離しきい値より大き
くなったことが判定されたならば、カウンタをクリアす
る（ステップＳ３７）。カウンタクリアの結果、当然カ
ウント値は１００未満となり汚れ未検出として汚れ検出
フラグをクリア状態にし再び０．１秒周期で汚れ検出処
理を開始する。

【００４８】だが、ステップＳ３５における（測定距離
＜距離しきい値）の状態が継続し、カウント値が１００
以上になったことをステップＳ３８で判定されると、汚
れ検出がなされたとして汚れ検出フラグをセットする
（ステップＳ４０）。その結果汚れ検出フラグがセット
されたことを（ステップＳ３２）で判定されると、距離
しきい値が６０ｍに変更される（ステップＳ３４）。こ
れは即ち距離測定能力が５０ｍ未満であることが判定さ
れて汚れ検出が成された後に、距離しきい値をわずかに
上回る５２ｍの距離検出が一時的に判定されると、汚れ
未検出状態に戻り場合によっては汚れ検出状態と汚れ未
検出状態との間を行き来するといった事態を排除するた
めに距離しきい値にシステリシス特性を持たせるためで
ある。

【００４９】従って、汚れ検出が判定された後に、距離
しきい値を僅かに上回る距離例えば５２ｍ遠方の物体を
検出しても距離しきい値は６０ｍに変更されているた
め、この物体の測定距離により再び汚れ未検出状態が判
定されることはない。つまり距離しきい値にヒステリシ
ス特性をもたせることで、汚れ検出後に一時的にに距離
しきい値を僅かに上回る距離測定がなされても、汚れ検
出状態と汚れ未検出状態の間を行き来することは無く汚
れ検出判定の安定性が大幅に向上する。

【００５０】また距離測定装置の取り扱い者が汚れ検出
の結果に応じて距離測定装置を清掃したり、汚れが雨等
で自然に洗い流されたりして距離測定装置の測定能力が
回復した時には、しきい値６０ｍ以上離れた物体を検出
することが可能になって（測定距離＞距離しきい値距
離）の関係となり、カウンタはクリアされる（ステップ
Ｓ３５，Ｓ３７）。その結果、カウンタは１００未満と
なって汚れ検出フラグはクリアされる（ステップＳ３
８，Ｓ３９）。汚れ検出フラグのクリアが判定される
と、距離しきい値は再び５０ｍに戻る（ステップＳ３
２，Ｓ３３）。

【００５１】尚、本実施例では５０ｍ未満の距離に位置
する物体の距離測定回数を１００としているが、この回
数をさらに大きくすれば汚れ判定はより確実なものにな
る。更にこの近距離判定回数は距離測定装置を使用する
システムが要求する汚れ検出のスピード、精度に応じて
設定すればよい。

【００５２】

【発明の効果】請求項１の発明によれば、距離測定対象
となる物体を照射する送光部と、この送光部によって照
射された物体よりの反射光を受光する受光部と、前記送
光部による送光時より前記受光部から受光出力取込み時
に至るまでの時間に基づいて前記物体までの距離を測定
する距離測定手段と、この受光部より出力される受光出
力を取り込み毎に、この受光出力に基づいて前記物体の
検出及び未検出を判定する物体検出手段と、前記距離測
定手段による距離測定回数と前記物体検出手段による物
体未検出との割合による物体未検出頻度に従って前記送
光部或は受光部の光透過路の汚れを判定する汚れ判定手
段とを備えたので、汚れ検出のための特別の装置を用い
ることなく光透過路全般の汚れを検出するできると共
に、局部的な汚れ検出によって誤った汚れ検出情報が発
生しないため汚れ検出精度が向上するという効果があ
る。

【００５３】請求項２の発明によれば、距離測定対象と
なる物体を照射する送光部と、この送光部によって照射
された物体よりの反射光を受光する受光部と、前記送光
部による送光時より前記受光部から受光出力取込み時に
至るまでの時間に基づいて前記物体までの距離を測定す
る距離測定手段と、この距離測定手段によって測定され
た距離が予め設定された距離しきい値未満である判定さ
れる毎に判定回数を計数する計数手段と、この計数手段
による計数値に従って前記送光部或は受光部の光透過路
の汚れを判定する汚れ判定手段とを備えたので、汚れ検
出のための特別の装置を用いることなく光透過路全般の
汚れを検出できると共に、判定回数の計数値より汚れに
よる距離測定性能の低下の度合いが分かるため汚れに対
する対処を早期に立てることができるという効果があ
る。

【００５４】請求項３の発明によれば、距離測定対象と
なる物体を照射する送光部と、この送光部によって照射
された物体よりの反射光を受光する受光部と、前記送光
部による送光時より前記受光部から受光出力取込み時に
至るまでの時間に基づいて前記物体までの距離を測定す
る距離測定手段と、この距離測定手段による距離測定結
果より測定距離が予め設定された距離しきい値未満であ
る時に、距離測定された物体は前回、測定距離が距離し
きい値未満であった物体と同一の物体か否かを判定する
同一物体判定手段と、同一物体でないことが判定された
時に、前記距離測定手段によって測定された距離が距離
しきい値未満であると判定した回数を計数し、且つ、同
一物体の時には回数を計数しない計数手段と、この計数
手段による計数値に従って前記送光部或は受光部の光透
過路の汚れを判定する汚れ判定手段とを備えたので、汚
れ検出のための特別の装置を用いることなく光透過路全
般の汚れを検出できると共に、近距離に存在する同一物
体のみを長時間に亘って距離測定対象としたことで、遠
距離の物体を検出できなくても誤った汚れ判定がなされ
ないため汚れ判定精度が向上するという効果がある。

【００５５】請求項４の発明によれば、距離測定対象と
なる物体を照射する送光部と、この送光部にて照射され
た物体よりの反射光を受光する受光部と、前記送光部に
よる送光時より前記受光部から受光出力取込み時に至る
までの時間に基づいて前記物体までの距離を測定する距
離測定手段と、この距離測定手段によって測定された測
定距離が予め設定された距離しきい値未満であると判定
される毎に判定回数を計数する計数手段と、この計数手
段による計数値に従って前記送光部或は受光部の光透過
路の汚れを判定する汚れ判定手段と、この汚れ判定手段
による光透過路の汚れ判定後、前記距離しきい値を前記
距離しきい値より大きな仮の距離しきい値に変更するし
きい値変更手段とを備えたので、汚れ検出のための特別
の装置を用いることなく光透過路全般の汚れを検出でき
ると共に、距離しきい値にヒステリシス特性をもたせた
ことで汚れ検出判定の安定性が向上するという効果があ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】請求項１の発明による距離測定装置の汚れ検出
装置の一実施例の構成を示すブロック図である。

【図２】図１に示す距離測定装置の汚れ検出装置の動作
を説明するフローチャートである。

【図３】請求項２の発明による距離測定装置の汚れ検出
装置の一実施例の構成を示すブロック図である。

【図４】請求項２の発明による距離測定装置の汚れ検出
装置の動作を説明するフローチャートである。

【図５】請求項３の発明による距離測定装置の汚れ検出
装置の一実施例の構成を示すブロック図である。

【図６】請求項３の発明による距離測定装置の汚れ検出
装置の動作を説明するフローチャートである。

【図７】請求項４の発明による距離測定装置の汚れ検出
装置の一実施例の構成を示すブロック図である。

【図８】請求項４の発明による距離測定装置の汚れ検出
装置の動作を説明するフローチャートである。

【図９】従来の距離測定装置の汚れ検出装置の構成を示
すブロック図である。

【符号の説明】

１ 送光部 ２ 受光部 ４ 送光窓 ５ 受光窓 ７ 物体 ３１ 距離測定手段 ３２ 物体検出手段 ３３ 汚れ検出手段 ３４ 計数手段 ３５ 同一物体検出手段 ３６ しきい値変更手段

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【手続補正書】

【提出日】平成６年６月１６日

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】全文

【補正方法】変更

【補正内容】

【書類名】 明細書

【発明の名称】 距離測定装置の汚れ検出装置

【特許請求の範囲】

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、物体に光を照射した
時から物体より反射光を受光するまでの時間に基づいて
物体までの距離を測定すると共に、距離測定能力の低下
より照射光或いは反射光の透過路の汚れを検出する距離
測定装置の汚れ検出装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】図１１は例えば特公平３−３０１１６号
公報に開示された従来の距離測定装置の汚れ検出装置の
構成を示すブロック図である。図において、１は物体７
に対して光を送光して照射する送光部であり、この送光
部１はレーザダイオード１１を励起してパルス発光させ
るパルス駆動回路１２と、パルス発光によってレーザダ
イオード１１から出力されたレーザ光を集光して離隔し
た物体７を照射する送光レンズ１３より構成されてい
る。

【０００３】２はレーザ光が照射された物体７からの反
射光を受光する受光部であり、この受光部２は反射光を
受光して受光素子２２の受光面に集光させる受光レンズ
２１を備えている。３は処理回路であり、この処理回路
３はパルス駆動回路１２によるレーザダイード１１の励
起時から受光素子２２による反射光検出時に至るまでの
時間より本距離測定装置と物体７との間の距離を演算す
る。

【０００４】４、５は送光部４と受光部５の前方にそれ
ぞれ配置されたガラス板の透明カバーであり、光透過路
となる送光窓と受光窓を構成する。６は例えば送光窓４
の光透過面の汚れを検出する汚れ検出部であり、この汚
れ検出部６はレーザ光が透過する送光窓４からの散乱光
を遮蔽体６３を通して受光する受光素子６１と、この受
光素子６１で光電変換された後に出力される電気信号
（以下、単に信号と記載する）のレベルに基づいて送光
窓４の汚れを検出する汚れ検出用処理回路６２を備えて
いる。

【０００５】次に、従来装置の動作について説明する。
送光部１のパルス駆動回路１２はレーザダイオード１１
を励起してレーザ光を出力させる。レーザ光は送光レン
ズ１３によって集光され、送光窓４を通して前方に送光
される。そして、前方に距離測定対象となる物体７があ
れば、その物体７はレーザ光によって照射される。そし
て照射された物体７より反射光が受光窓５を通して受光
部２で受光される。受光部２では反射光を受光レンズ２
１によって受光素子２２の受光面に集光し、反射光を光
電変換により信号に変換する。

【０００６】この信号は処理回路３で所定のしきい値と
比較され、信号レベルがしきい値以上であれば物体７か
らの反射光による信号として検出される。さらに処理回
路３は、送光部１においてパルス駆動回路１２がレーザ
ダイオード１３を励起してレーザ光を出力させた時点か
ら受光部２の受光素子２２が反射光を検出した時点まで
の時間、即ちレーザ光が距離測定装置と物体７との間を
往復する時間を高速カウンタ（図示せず）で計測する。
次に、処理回路３は計測された往復時間をもとに下式で
距離測定装置と物体７との間の距離を求める。

【０００７】距離＝往復時間×光速／２

【０００８】一方、汚れ検出部６の汚れ検出用受光素子
６１は送光部１からの光で照射された送光窓４の内側お
よび外側の界面の散乱光を、遮蔽体６３を介して受光し
光電変換により信号に変換する。この信号は汚れ検出用
処理回路６２に入力される。汚れ検出用処理回路６２
は、入力された信号のレベルが低かったならば、送光窓
４の表面に付着した汚れに光が当たって発生する散乱光
が微小であり、送光窓４を透過する光の方が多いとして
送光窓４の汚れ無しを判定する。

【０００９】しかし、反面、送光窓４の表面に汚れが付
着して汚れ検出用受光素６１に入光される散乱光が増加
すると、汚れ検出用処理回路６２に入力される信号のレ
ベルが高くなる。その結果、汚れ検出処理回路６２は汚
れ検出受光素子６１からの信号のレベルが所定値以上に
なると汚れ検出信号を発生する。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】従来の距離測定装置の
汚れ検出装置は以上のように、送光部より送光窓に光を
照射した際に送光窓の汚れよって発せられる散乱光を、
遮蔽体を通して受光部に導き、その受光量に基づいて汚
れを検出していた。しかし、この方法であると汚れの検
出範囲は光が照射された範囲に限定され、且つ、散乱光
を遮蔽体を通して受光部に導くと汚れ検出範囲はより狭
められるという問題点があった。

【００１１】更に、このように汚れ検出範囲を限定する
と、送光窓に汚れが均一に付着した場合は十分な散乱光
が発せられるので汚れ検出機能は正常に動作するが、汚
れ検出範囲外に比べて汚れ検出範囲内に付着した汚れが
僅かな場合は十分な散乱光が発せられないため汚れ検出
精度は低下する。このことは、逆に言えば汚れ検出範囲
外に比べて汚れ検出範囲内が局部的に汚れた場合でも十
分な散乱光が発せられので、送光窓全体から見て距離測
定能力に影響の無い汚れであっても汚れ信号を出力して
しまうという問題点、また汚れ検出のために汚れ検出用
受光素子、汚れ検出用受光素子の出力信号を処理する回
路を設ける必要があるため装置自体が高価になるという
問題点があった。

【００１２】この発明は上記のような問題点を解決する
ためになされたもので、送光窓或は受光窓の特定の部分
に汚れ検出範囲を限定せずに、しかも特別な汚れ検出回
路を備えずとも各窓の汚れに起因する距離測定能力の低
下を検出することができる距離測定装置の汚れ検出装置
を得ることを目的とする。

【００１３】

【課題を解決するための手段】請求項１の発明にかかる
距離測定装置の汚れ検出装置は、距離測定対象となる物
体を照射する送光部と、この送光部によって照射された
物体よりの反射光を受光する受光部と、前記送光部によ
る送光時より前記受光部から受光出力取込み時に至るま
での時間に基づいて前記物体までの距離を測定する距離
測定手段と、前記受光部より出力される受光出力を取り
込み毎に、受光出力に基づいて前記物体の検出及び未検
出を判定する物体検出手段と、前記距離測定手段による
距離測定回数と前記物体検出手段による物体未検出との
割合による物体未検出頻度に従って前記送光部或は受光
部の光透過路の汚れを判定する汚れ判定手段とを備えた
ものである。

【００１４】請求項２の発明に係る距離測定装置の汚れ
検出装置は、距離測定対象となる物体を照射する送光部
と、この送光部によって照射された物体よりの反射光を
受光する受光部と、前記送光部による送光時より前記受
光部から受光出力取込み時に至るまでの時間に基づいて
前記物体までの距離を測定する距離測定手段と、この距
離測定手段によって測定された距離が予め設定された距
離しきい値未満である判定される毎に判定回数を計数す
る計数手段と、この計数手段による計数値に従って前記
送光部或は受光部の光透過路の汚れを判定する汚れ判定
手段とを備えたものである。

【００１５】請求項３の発明に係る距離測定装置の汚れ
検出装置は、距離測定対象となる物体を照射する送光部
と、この送光部によって照射された物体よりの反射光を
受光する受光部と、前記送光部による送光時より前記受
光部から受光出力取込み時に至るまでの時間に基づいて
前記物体までの距離を測定する距離測定手段と、この距
離測定手段による距離測定結果より測定距離が予め設定
された距離しきい値未満である時に、距離測定された物
体は前回、測定距離が距離しきい値未満であった物体と
同一の物体か否かを判定する同一物体判定手段と、同一
物体でないことが判定された時に、前記距離測定手段に
よって測定された距離が距離しきい値未満であると判定
した回数を計数し、且つ、同一物体の時には回数を計数
しない計数手段と、この計数手段による計数値に従って
前記送光部或は受光部の光透過路の汚れを判定する汚れ
判定手段とを備えたものである。

【００１６】請求項４の発明に係る距離測定装置の汚れ
検出装置は、距離測定対象となる物体を照射する送光部
と、この送光部によって照射された物体よりの反射光を
受光する受光部と、前記送光部による送光時より前記受
光部から受光出力取込み時に至るまでの時間に基づいて
前記物体までの距離を測定する距離測定手段と、初回の
検出から未検出になるまでを１検出機会として所定の距
離未満の近距離の物体の検出機会回数を計数する計数手
段と、この計数手段により近距離の物体の検出機会が所
定回数以上連続したとき前記送光部或は受光部の光透過
路の汚れを判定する汚れ判定手段とを備えたものであ
る。

【００１７】請求項５の発明に係る距離測定装置の汚れ
検出装置は、距離測定対象となる物体を照射する送光部
と、この送光部にて照射された物体よりの反射光を受光
する受光部と、前記送光部による送光時より前記受光部
から受光出力取込み時に至るまでの時間に基づいて前記
物体までの距離を測定する距離測定手段と、この距離測
定手段によって測定された測定距離が予め設定された距
離しきい値未満であると判定される毎に判定回数を計数
する計数手段と、この計数手段による計数値に従って前
記送光部或は受光部の光透過路の汚れを判定する汚れ判
定手段と、この汚れ判定手段による光透過路の汚れ判定
後、前記距離しきい値を前記距離しきい値より大きな仮
の距離しきい値に変更するしきい値変更手段とを備えた
ものである。

【００１８】

【作用】請求項１の発明における距離測定装置の汚れ検
出装置は、物体を未検出である期間を計測した後に、距
離測定回数と物体未検出期間との割合を演算し、この割
合が所定値以上に達した場合は光透過路の汚れにより遠
距離の物体を検出する能力が低下して物体未検出期間が
増加したと判断する。

【００１９】請求項２の発明における距離測定装置の汚
れ検出装置は、距離測定装置で測定された距離が予め設
定された距離のしきい値を下回る回数を計測し、その回
数が所定回数以上連続する場合は光透過路の汚れにより
遠距離の物体を検出する能力が低下したと判断する。

【００２０】請求項３の発明における距離測定装置の汚
れ検出装置は、距離しきい値未満の距離に存在する同一
の物体を長期間に亘って検出した場合はその期間を計数
しないことで、計数値から光透過路の汚れに起因して長
期間に亘って遠距離の物体を検出できなかったと誤判定
されることはない。

【００２１】請求項４の発明における距離測定装置の汚
れ検出装置は、距離測定結果が所定の距離未満であるか
否かを判別し、この距離判別の結果を用いて物体の初回
の検出から見失うまでのを１回の検出機会として、物体
の検出機会の回数を計測し、所定距離未満の物体の検出
機会が所定回数以上連続した場合に距離測定装置に汚れ
が付着したと判定する。

【００２２】請求項５の発明における距離測定装置の汚
れ検出装置は、物体の測定距離が初期に設定された距離
しきい値未満の距離であることを検出した回数をカウン
トし、その回数が所定の回数以上連続する場合は、光透
過路に汚れが付着して遠距離の物体を検出する性能が低
下していると判定し、その後距離しきい値を仮に初期の
距離しきい値より上げることで、汚れ付着を判定した直
後に初期の距離しきい値を僅かに上廻る距離を測定して
も正規の測定距離として取り上げずに距離測定装置の汚
れ検出判定を維持する。

【００２３】

【実施例】 実施例１．以下、この発明の実施例１を図について説明
する。図１は本実施例における距離測定装置の汚れ検出
装置の構成を示すブロック図である。尚、図中図９と同
一符号は同一又は相当部分を示す。図において３Ａは本
実施例における処理回路であり、この処理回路３Ａは距
離測定対象となる物体を照射する送光部１と、この送光
部１によって照射された物体７よりの反射光を受光する
受光部２と、送光部１による送光時より受光部２から受
光出力取込み時に至るまでの時間に基づいて物体７まで
の距離を測定する距離測定手段３１と、受光部２より出
力される受光出力を取り込み毎に、受光出力に基づいて
物体７の検出及び未検出を判定する物体検出手段３２
と、距離測定手段３１による距離測定回数と物体検出手
段３２による物体未検出との割合による物体未検出頻度
に従って送光部１或は受光部２の送光窓４或いは受光窓
５の汚れを判定する汚れ判定手段３３とを備えている。

【００２４】次に、この実施例１の動作を図２のフロー
チャートに従って説明する前に汚れ検出処理方法につい
て説明する。この発明の対象となる距離測定装置は、送
光部１より発せられた光が距離測定対象物である物体７
に当たり反射して来る光（反射光）を受光部２で受光す
るまでの時間、即ち距離測定装置（図示しない）と物体
７との間を往復する光の往復時間を測定して物体７まで
の距離を演算するものである。だが、この種の距離測定
装置は送光部１より発生する光の強度は物体７において
距離の２乗に反比例して低下する。また物体７からの反
射光もやはり受光部２において距離の２乗に反比例して
強度が低下する。そのため、結果的に受光部２で受光さ
れる光の強度は距離の４乗に反比例して低下する。

【００２５】従って、受光部２で得られた信号を処理回
路３Ａで所定の信号レベルしきい値と比較して物体７の
有無を判定すると往復する光の強度が低下する遠距離に
位置する物体７ほど検出が困難になる。一方、送光部１
の光透過路、即ち送光窓４が汚れて物体７に照射される
光の強度が低下したり、受光部２の光透過路、即ち受光
窓５が汚れて受光素子２２で受光される光の強度が低下
すれば信号のレベルは低下するために物体７を検出でき
る距離は短くなる。

【００２６】これを具体的に説明すると、距離測定装置
の送光部１及び受光部２の各窓４、５に一様に汚れが付
着し、各窓４，５における光の透過率が例えば５０％に
低下したとすれば、受光部２では強度５０％の光を強度
５０％に低下して受光するため、受光した光の強度は５
０％×５０％低下して０．２５倍に低下する。よって、
距離測定装置が測定できる物体までの距離は受光強度
０．２５倍の４乗根である０．７倍となり、距離測定能
力は定格遠距離測定能力時に比べ３０％低下することに
なる。

【００２７】このように測定可能距離は光透過路の透過
率の平方根に比例して低下するので、光透過路に汚れが
付着しても近距離の物体の検出には影響がないが、遠距
離の物体の検出が不可能となり、距離測定時には近距離
に位置した物体の距離測定結果のみが出力されることに
なる。

【００２８】更に、このような距離測定装置を自動車に
前面に装着して前方の車両や障害物等の不特定な物体の
距離測定に利用する場合、物体は自動車からの距離に拘
わらずに近距離及び遠距離に分布すると考えられる。そ
こで、光透過路の汚れにより遠距離にある物体の距離測
定が不可能になると、近距離に物体が存在しない場合は
物体の距離未測定期間が増加する。 従って、距離測定
装置の距離測定回数と距離測定時において距離未測定期
間の割合を演算し、その割合が所定未満か否かを調べれ
ば距離測定装置の光透過路に汚れが付着しているか否か
を判定することができる。

【００２９】上記の汚れ検出処理方法を踏まえて本実施
例の動作を説明する。この処理は距離測定装置の光透過
路に汚れが付着し、距離測定回数に対して距離未測定
（物体未検出）期間、の割合が例えば０．８以上となっ
た時に光透過路の汚れを示す汚れフラグをセットするも
のである。処理回路３Ａは図２のフローチャートに示す
処理を例えば０．１秒毎に繰り返し実行される。先ず測
定回数を計数する第１カウンタ（図示せず）をインクリ
メントし（ステップＳ１１）、次に受光素子２２より入
力された信号のレベルが所定値以上であるか否かよって
物体７の検出或いは未検出を判定する（ステップＳ１
２）。この時物体７の未検出が判定されたならば、物体
の未検出期間を計数する第２カウンタ（図示せず）を
０．１秒分インクリメントする（ステップＳ１３）。

【００３０】だが、ステップＳ１２で物体７の検出が判
定されたならば第１カウンタのカウント値を呼び出し距
離測定回数が例えば１０００（距離測定期間で表すと１
０００×０．１秒＝１００秒）或はそれ以上かを判定す
る（ステップＳ１４）。そして距離測定回数が１０００
未満の場合は汚れ判定を行うための距離測定回数が不足
しているとして汚れ検出判定は行わない。そして０．１
秒後の次の処理周期で再度ステップＳ１１へ戻り第１カ
ウンタをインクリメントして物体７の検出を行う。即
ち、第１カウンタのカウント値が１０００以上になるま
でステップＳ１１〜１４を繰り返し、ステップＳ１２で
物体未検出が判定される毎にステップＳ１３で第２カウ
ンタをインクリメントする。

【００３１】そしてステップＳ１４において第１カウン
タのカウント値が１０００を超過したことが判定された
ならば第２カウンタのカウント値を第１カウンタのカウ
ント値で除算して距離測定回数に対する物体未検出期間
の割合を計算し（ステップＳ１５）、物体未検出期間の
割合が０．８未満であるか否かを判定する（ステップＳ
１６）。そして、物体未検出期間の割合が０．８未満で
あれば汚れ検出無しとして汚れ検出フラグをクリアする
（ステップＳ１７）。逆に０．８以上であれば汚れが付
着したと判断し汚れ検出フラグをセットし（ステップＳ
１８）、汚れ検出のための１回の処理を終了する。０．
１秒後に再びステップＳ１１〜１８の処理を繰り返す。

【００３２】以上のように本実施例では１０００回以
上、即ち１００秒以上継続して行ったの距離測定の期間
中、物体の距離測定がなされずに物体が未検出だった期
間の割合が０．８未満であれば不特定の物体を多数検出
したことになる。そして、距離測定装置の測定能力を低
下させる汚れは光透過路に付着していないと判断する。
しかし、物体未検出期間の割合が０．８以上になれば汚
れ付着により距離測定能力が低下したと判断する。

【００３３】尚、本実施例では汚れ検出のための距離測
定回数として１０００回（１０００×０．１秒＝１００
秒）以上を考え、汚れ検出のためのしきい値である物体
未検出期間の割合を０．８にしているが、これら距離測
定回数、しきい値は距離計測における一例であり、これ
に限定されることなく物体未検出期間を直接時間等で測
定する方法を用いても同様の効果が得られる。

【００３４】実施例２．以下、この発明の実施例２を図
について説明する。図３は本実施例における距離測定装
置の汚れ検出装置の構成を示すブロック図である。尚、
図中図９と同一符号は同一又は相当部分を示す。図にお
いて３Ｂは本実施例における処理回路であり、この処理
回路３Ｂは距離測定対象となる物体を照射する送光部１
と、送光部１によって照射された物体７よりの反射光を
受光する受光部２と、送光部１による送光時より受光部
２から受光出力取込み時に至るまでの時間に基づいて物
体７までの距離を測定する距離測定手段３１と、距離測
定手段３１によって測定された距離が予め設定された距
離しきい値未満である判定される毎に判定回数を計数す
る計数手段３４と、計数手段３４による計数値に従って
送光部１或は受光部２の光透過路の汚れを判定する汚れ
判定手段３３とを備えている。

【００３５】尚、実施例２における距離測定方法に関し
ては前記実施例１と実質的に変わりはないが、距離測定
装置の測定能力が光透過路の汚れの付着により例えば５
０ｍ（距離しきい値）未満となったことを検出すると汚
れ検出警報を発生する。処理回路３Ｂは図４のフローチ
ャートに示す処理を例えば０．１秒毎に例えば１００回
繰り返し実行される。

【００３６】次に、この実施例２の動作を図４のフロー
チャートに従って説明する。先ず受光素子２２より入力
された信号のレベルが所定値以上であるか否かよって物
体７の検出或いは未検出を判定する（ステップＳ２
１）。この時、物体検出が判定されたならば物体７まで
の距離を測定し、測定距離が距離しきい値である５０ｍ
未満であるか否かを判定する（ステップＳ２２）。そし
て測定距離が５０ｍ未満であることが判定されたならば
距離５０ｍ未満の検出回数をカウントするカウンタ（図
示せず）をインクリメントした後に（ステップＳ２
３）、カウント値を呼び出しカウント値が１００未満で
あるか否かを判定する（ステップＳ２５）。

【００３７】カウント値が今だ１００未満であることが
判定されたならば、距離５０ｍ以上離隔した物体を検出
する機会がまだあるとして光透過路の汚れ検出無しを判
定する（ステップＳ２６）。更に続く各処理周期毎にス
テップＳ２２で検出された物体７までの距離が５０ｍ未
満であることが判定されたならば、ステップＳ２３でカ
ウンタをインクリメントする。その結果ステップＳ２５
でカウント値が１００以上であることが判定されると、
光透過路が汚れて遠距離の物体７を検出する能力が低下
して距離５０ｍ未満の地点に位置した物体しか検出でき
ないと判断する。この能力低下判断により光透過路の汚
れ検出を判定し図示しない警報手段で汚れ検出警報の発
生を行う（ステップＳ２７）。

【００３８】しかして、物体７を検出した時に物体７ま
での距離が５０ｍ以上であることが判定されたならば
（ステップＳ２１，Ｓ２２）、ステップＳ２３でインク
リメントしたカウンタの値をクリアする（ステップＳ２
４）。従ってカウント値は零になり、当然カウント値は
１００未満であることが判定されるため（ステップＳ２
５）、汚れ検出無しを判定する（ステップＳ２６）。こ
れは、今まで距離５０ｍ未満の物体を検出していても、
光透過路に汚れが付着していないために遠距離（５０ｍ
以上）の物体７を検出する能力を維持していることを示
す。

【００３９】尚、実施例２では汚れ検出のための近距離
検出回数のしきい値を１００としているが、このしきい
値をさらに大きくすれば汚れ判定より確実なものとな
る。またしきい値は汚れ検出処理速度或いは汚れ検出処
理精度に応じて設定すればよい。

【００４０】実施例３．以下、この発明の実施例３を図
について説明する。図５は本実施例における距離測定装
置の汚れ検出装置の構成を示すブロック図である。尚、
図中図９と同一符号は同一又は相当部分を示す。図にお
いて３Ｃは本実施例における処理回路であり、この処理
回路３Ｃは距離測定対象となる物体を照射する送光部１
と、送光部１によって照射された物体７よりの反射光を
受光する受光部２と、送光部１による送光時より受光部
２から受光出力取込み時に至るまでの時間に基づいて物
体７までの距離を測定する距離測定手段３１と、距離測
定手段３１による距離測定結果より測定距離が予め設定
された距離しきい値未満である時に、距離測定された物
体は、前回測定距離が距離しきい値未満であった物体と
同一の物体か否かを判定する同一物体判定手段３５と、
同一物体でないことが判定された時に、前記距離測定手
段によって測定された距離が距離しきい値未満であると
判定した回数を計数し、且つ、同一物体の時には回数を
計数しない計数手段３４と、計数手段３４による計数値
に従って送光部１或は受光部２の光透過路の汚れを判定
する汚れ判定手段３３とを備えている。尚、実施例３に
おける距離測定方法は実施例２と実質的に変わりない。

【００４１】次に、この実施例３の動作を図６のフロー
チャートに従って説明する。先ず受光素子２２より入力
された信号のレベルが所定値以上であるか否かよって物
体７の検出或いは未検出を判定する（ステップＳ２
１）。この時、物体検出が判定されたならば物体７まで
の距離を測定し、測定距離が距離しきい値である５０ｍ
未満であるか否かを判定する（ステップＳ２２）。そし
て測定距離が５０ｍ未満であることが判定されたなら
ば、検出された物体７は前回検出された物体と同一であ
るか否かを判定する（ステップＳ２３）。この同一物体
判定方法としては、同一物体であれば距離測定装置と物
体との相対移動距離の変化量は零に等しいが、検出物体
が変わると測定された相対移動距離は前処理周期（０．
１秒周期）で測定された相対移動距離とは異なるために
変化量は零よりずれることになる。よって、相対移動距
離の変化量より検出された物体が同一物体か否かが判定
できる。

【００４２】従って、ステップＳ２３で距離測定した物
体が前回検出された物体と同一でない判定されたならば
距離５０ｍ未満の物体を検出した回数をカウントするカ
ウンタ（図示せず）をインクリメントする（ステップＳ
２４）。しかし同一物体であることが判定されたならば
カウンタをインクリメントせず、カウント値を呼び出し
カウント値が１００未満であるか否かを判定する（ステ
ップＳ２６）。

【００４３】カウント値が１００未満であることが判定
されたならば距離５０ｍ以上離隔した物体を検出できる
可能性があるとして距離測定装置の汚れ検出無しを判定
する（ステップＳ２７）。更に続く各処理周期毎に、ス
テップＳ２２で測定された物体７までの距離が５０ｍ未
満であり、しかもステップＳ２３で距離測定された物体
が前回（０．１秒前）距離５０ｍ未満であると判定され
た物体と異なることが判定されたならば、ステップＳ２
４でカウンタをインクリメントする。その結果ステップ
Ｓ２６でカウント値が１００以上であることが判定され
ると、光透過路が汚れて距離５０ｍ以上の遠距離の物体
７を検出する性能が低下していると判断する。この性能
低下判断により光透過路の汚れ検出を判定し汚れ検出警
報を発生すると共に（ステップＳ２８）、汚れ検出のた
めの１回目の処理を終了し、０．１秒後の距離測定時に
再び汚れ検出処理を繰り返す。

【００４４】しかして、物体７を検出しその物体７まで
の距離が５０ｍ以上であることが判定されたならば（ス
テップＳ２２）、ステップＳ２４でインクリメントした
カウンタの値をクリアする（ステップＳ２５）。従って
カウント値は零になり（ステップＳ２６）、汚れ検出無
しを判定する（ステップＳ２７）。これは即ち光透過路
に汚れが付着していないために遠距離の物体７を検出す
ることが可能であること示す。

【００４５】尚、各汚れ検出処理毎にステップＳ２３の
処理を行い距離測定された物体が前回検出された物体で
あることが判定されたならば、カウンタはインクリメン
トされないため、ステップＳ２６のカウント値判定にお
いてはカウント値は１００未満となる。よって、ステッ
プＳ２７では汚れ無しが判定される。従って、長時間に
渡り距離５０ｍ未満の同一の物体を連続して検出してい
るために遠距離の物体を検出できなくても光透過路に汚
れが付着したと誤判断されることはない。

【００４６】実施例４．上記、実施例２では物体の測定
距離が予め設定されたしきい値以下であるこという計測
結果が、所定回数以上連続して出された場合に距離測定
装置の汚れにより遠距離物体の測定能力が低下したもの
と判定した。しかし、近距離に物体が存在する場合は、
例え遠方に検出可能な物体が存在したとしても距離測定
装置は近距離の物体を検出して測定する。

【００４７】そのため、近距離の同一物体或いは複数の
物体を連続して検出している時は、遠距離の物体を検出
する機会は長時間発生しない。従って、このような状況
で、「遠距離の物体を検出しないために距離測定装置が
汚れ測距性能が低下している」と即座に判定を下すのは
妥当でない。

【００４８】そこで、本実施例は、しきい値未満の近距
離の物体（同一の物体であっても複数の物体であっても
よい）を連続して検出している時には１つの検出機会と
してとらえることにより、各検出機会の間の時間は近距
離物体がないので、遠距離物体を検出できる環境下にあ
るとする。そして、この時、遠距離物体を検出できない
状況、即ち測定装置の汚れ検出を近距離の検出機会の連
続回数で判別するものである。

【００４９】以下、この発明の実施例４を図について説
明する。図７は本実施例における距離測定装置の汚れ検
出装置の構成を示すブロック図である。尚、図中図３と
同一符号は同一又は相当部分を示す。図において３Ｄは
本実施例における処理回路であり、この処理回路３Ｃ距
離測定手段３１、計数手段３４、汚れ判定手段３３に加
えて前回の測定結果が物体の未検出であるか否を判定す
る物体検出手段３２Ａを備えている。尚、実施例４にお
ける距離測定方法は実施例３と実質的に変わりない。

【００５０】この実施例５の動作を図７のフローチャー
トに従って説明する。先ず、物体７の検出を判定する
（ステップＳ２１）。もし、物体７の検出があればステ
ップＳ２２に進み、検出がなければステップＳ２６へ進
む。ステップＳ２２では検出した距離が５０ｍ未満であ
るか否を判定し、５０ｍ未満であればステップＳ２３Ａ
へ進み、５０ｍ以上であればステップＳ２５へ進む。

【００５１】ステップＳ２３Ａでは前回の測距結果が物
体７の未検出であるか否かを判別して前回未検出であれ
ば今回の検出が物体７の初回の検出であるとしてステッ
プＳ２４で５０ｍ未満の検出機会を計数するカウンタを
インクリメントしてステップＳ２６へ進む。

【００５２】ステップＳ２３Ａで前回も物体７を検出し
ていたと判定されれば同一の物体７、或いは他の物体で
あっても５０ｍ未満の範囲にある近距離の物体を引き続
き検出しているとして検出機会を計数するカウンタには
変更を与えずそのままステップＳ２６へ進む。

【００５３】一方、先のステップＳ２２で５０ｍ以上の
距離検出があったと判定された時はステップＳ２５で上
記カウンタをクリアしてステップＳ２６へ進む。ステッ
プＳ２６では上記カウンタ値が例えば１００未満である
か否かを判定してカウンタの値が１００未満であればス
テップＳ２７で汚れ検出はなかったとし、カウンタの値
が１００以上であればステップＳ２８で汚れが発生した
として汚れ警報を出して汚れ検出のため１回の処理を終
了し、０．１秒後に次の距離測定時に再び同じ処理を繰
り返す。

【００５４】これら一連の処理によって５０ｍ未満の距
離の検出機会の計数値から遠距離の物体を検出していな
いことが判別されて、距離測定装置によごれが発生した
ことを検出して、汚れ検出の警報が発生される。

【００５５】このように、本実施例では初回の検出から
未検出になるまでは同じ物体或いは複数の近距離の物体
を連続して検出しているとして、ステップＳ２３Ａで検
出の機会を判定しているので、長時間に亙って近距離に
ある物体を連続して検出し続けても、検出の機会の計数
値は増加させないから、近距離物体を連続して検出して
いる長時間に亙り遠距離物体の検出がないときでも誤っ
て距離測定装置に汚れが付着したと判断していしまうこ
とはない。

【００５６】実施例５．以下、この発明の実施例５を図
について説明する。図９は本実施例における距離測定装
置の汚れ検出装置の構成を示すブロック図である。尚、
図中図７と同一符号は同一又は相当部分を示す。図にお
いて３Ｅは本実施例における処理回路であり、この処理
回路３Ｄは、距離測定対象となる物体を照射する送光部
１と、送光部１にて照射された物体７よりの反射光を受
光する受光部２と、送光部１による送光時より受光部２
から受光出力取込み時に至るまでの時間に基づいて物体
７までの距離を測定する距離測定手段３１と、距離測定
手段３１によって測定された測定距離が予め設定された
距離しきい値未満であると判定される毎に判定回数を計
数する計数手段３４と、計数手段３４による計数値に従
って送光部１或は受光部２の光透過路の汚れを判定する
汚れ判定手段３３と、汚れ判定手段３３による光透過路
の汚れ判定後、前記距離しきい値を前記距離しきい値よ
り大きな仮の距離しきい値に変更するしきい値変更手段
３７とを備えている。

【００５７】次に、この実施例５の動作を図１０のフロ
ーチャートに従って説明する。先ず上述した方法で物体
７が検出されたならば、その物体７までの距離を測定す
る（ステップＳ３１）。次に、距離測定装置の汚が検出
されているかを判断するために汚れ検出フラグを調べる
（ステップＳ３２）。測定初期時においては当然汚れ検
出はなされていない。そのため汚れ検出フラグはクリア
されて距離しきい値を距離測定範囲である５０ｍに設定
し（ステップＳ３３）、ステップＳ３１で検出した物体
７までの距離と距離しきい値とを比較する（ステップＳ
３５）。

【００５８】この比較の結果、測定距離が距離しきい値
より小さい時は、距離しきい値未満であることを検出し
た回数をカウントするカウンタ（図示せず）をインクリ
メントし（ステップＳ３６）、そしてカウンタのカウン
ト値が１００未満であるかを判定する（ステップＳ３
８）。この時、カウント値が１００未満であれば汚れ未
検出状態として汚れ検出フラグをクリアしておく（ステ
ップＳ３９）。以上、距離しきい値を５０ｍに設定した
状態でステップＳ３１，Ｓ３２，Ｓ３３，Ｓ３５，Ｓ３
６，Ｓ３８，Ｓ３９の一連の処理を０．１秒周期で１０
０回繰り返す。

【００５９】しかし、処理回数が１００回に至る前にス
テップＳ３５で測定された距離が距離しきい値より大き
くなったことが判定されたならば、カウンタをクリアす
る（ステップＳ３７）。カウンタクリアの結果、当然カ
ウント値は１００未満となり汚れ未検出として汚れ検出
フラグをクリア状態にし再び０．１秒周期で汚れ検出処
理を開始する。

【００６０】だが、ステップＳ３５における（測定距離
＜距離しきい値）の状態が継続し、カウント値が１００
以上になったことをステップＳ３８で判定されると、汚
れ検出がなされたとして汚れ検出フラグをセットする
（ステップＳ４０）。その結果汚れ検出フラグがセット
されたことを（ステップＳ３２）で判定されると、距離
しきい値が６０ｍに変更される（ステップＳ３４）。こ
れは即ち距離測定能力が５０ｍ未満であることが判定さ
れて汚れ検出が成された後に、距離しきい値をわずかに
上回る５２ｍの距離検出が一時的に判定されると、汚れ
未検出状態に戻り場合によっては汚れ検出状態と汚れ未
検出状態との間を行き来するといった事態を排除するた
めに距離しきい値にヒステリシス特性を持たせるためで
ある。

【００６１】従って、汚れ検出が判定された後に、距離
しきい値を僅かに上回る距離例えば５２ｍ遠方の物体を
検出しても距離しきい値は６０ｍに変更されているた
め、この物体の測定距離により再び汚れ未検出状態が判
定されることはない。つまり距離しきい値にヒステリシ
ス特性をもたせることで、汚れ検出後に一時的にに距離
しきい値を僅かに上回る距離測定がなされても、汚れ検
出状態と汚れ未検出状態の間を行き来することは無く汚
れ検出判定の安定性が大幅に向上する。

【００６２】また距離測定装置の取り扱い者が汚れ検出
の結果に応じて距離測定装置を清掃したり、汚れが雨等
で自然に洗い流されたりして距離測定装置の測定能力が
回復した時には、しきい値６０ｍ以上離れた物体を検出
することが可能になって（測定距離＞距離しきい値距
離）の関係となり、カウンタはクリアされる（ステップ
Ｓ３５，Ｓ３７）。その結果、カウンタは１００未満と
なって汚れ検出フラグはクリアされる（ステップＳ３
８，Ｓ３９）。汚れ検出フラグのクリアが判定される
と、距離しきい値は再び５０ｍに戻る（ステップＳ３
２，Ｓ３３）。

【００６３】尚、本実施例では５０ｍ未満の距離に位置
する物体の距離測定回数を１００としているが、この回
数をさらに大きくすれば汚れ判定はより確実なものにな
る。更にこの近距離判定回数は距離測定装置を使用する
システムが要求する汚れ検出のスピード、精度に応じて
設定すればよい。

【００６４】

【発明の効果】請求項１の発明によれば、距離測定対象
となる物体を照射する送光部と、この送光部によって照
射された物体よりの反射光を受光する受光部と、前記送
光部による送光時より前記受光部から受光出力取込み時
に至るまでの時間に基づいて前記物体までの距離を測定
する距離測定手段と、この受光部より出力される受光出
力を取り込み毎に、この受光出力に基づいて前記物体の
検出及び未検出を判定する物体検出手段と、前記距離測
定手段による距離測定回数と前記物体検出手段による物
体未検出との割合による物体未検出頻度に従って前記送
光部或は受光部の光透過路の汚れを判定する汚れ判定手
段とを備えたので、汚れ検出のための特別の装置を用い
ることなく光透過路全般の汚れを検出するできると共
に、局部的な汚れ検出によって誤った汚れ検出情報が発
生しないため汚れ検出精度が向上するという効果があ
る。

【００６５】請求項２の発明によれば、距離測定対象と
なる物体を照射する送光部と、この送光部によって照射
された物体よりの反射光を受光する受光部と、前記送光
部による送光時より前記受光部から受光出力取込み時に
至るまでの時間に基づいて前記物体までの距離を測定す
る距離測定手段と、この距離測定手段によって測定され
た距離が予め設定された距離しきい値未満である判定さ
れる毎に判定回数を計数する計数手段と、この計数手段
による計数値に従って前記送光部或は受光部の光透過路
の汚れを判定する汚れ判定手段とを備えたので、汚れ検
出のための特別の装置を用いることなく光透過路全般の
汚れを検出できると共に、判定回数の計数値より汚れに
よる距離測定性能の低下の度合いが分かるため汚れに対
する対処を早期に立てることができるという効果があ
る。

【００６６】請求項３の発明によれば、距離測定対象と
なる物体を照射する送光部と、この送光部によって照射
された物体よりの反射光を受光する受光部と、前記送光
部による送光時より前記受光部から受光出力取込み時に
至るまでの時間に基づいて前記物体までの距離を測定す
る距離測定手段と、この距離測定手段による距離測定結
果より測定距離が予め設定された距離しきい値未満であ
る時に、距離測定された物体は前回、測定距離が距離し
きい値未満であった物体と同一の物体か否かを判定する
同一物体判定手段と、同一物体でないことが判定された
時に、前記距離測定手段によって測定された距離が距離
しきい値未満であると判定した回数を計数し、且つ、同
一物体の時には回数を計数しない計数手段と、この計数
手段による計数値に従って前記送光部或は受光部の光透
過路の汚れを判定する汚れ判定手段とを備えたので、汚
れ検出のための特別の装置を用いることなく光透過路全
般の汚れを検出できると共に、近距離に存在する同一物
体のみを長時間に亘って距離測定対象としたことで、遠
距離の物体を検出できなくても誤った汚れ判定がなされ
ないため汚れ判定精度が向上するという効果がある。

【００６７】請求項４の発明によれば、距離測定対象と
なる物体を照射する送光部と、この送光部によって照射
された物体よりの反射光を受光する受光部と、前記送光
部による送光時より前記受光部から受光出力取込み時に
至るまでの時間に基づいて前記物体までの距離を測定す
る距離測定手段と、初回の検出から未検出になるまでを
１検出機会として所定の距離未満の近距離の物体の検出
機会回数を計数する計数手段と、この計数手段により近
距離の物体の検出機会が所定回数以上連続したとき前記
送光部或は受光部の光透過路の汚れを判定する汚れ判定
手段とを備えたので、近距離物体を連続して検出してい
る長時間に亙り遠距離物体の検出がないときでも、誤っ
て距離測定装置に汚れが付着したと判断していしまうこ
とはないため汚れ判定精度が更に向上するという効果が
ある。

【００６８】請求項５の発明によれば、距離測定対象と
なる物体を照射する送光部と、この送光部にて照射され
た物体よりの反射光を受光する受光部と、前記送光部に
よる送光時より前記受光部から受光出力取込み時に至る
までの時間に基づいて前記物体までの距離を測定する距
離測定手段と、この距離測定手段によって測定された測
定距離が予め設定された距離しきい値未満であると判定
される毎に判定回数を計数する計数手段と、この計数手
段による計数値に従って前記送光部或は受光部の光透過
路の汚れを判定する汚れ判定手段と、この汚れ判定手段
による光透過路の汚れ判定後、前記距離しきい値を前記
距離しきい値より大きな仮の距離しきい値に変更するし
きい値変更手段とを備えたので、汚れ検出のための特別
の装置を用いることなく光透過路全般の汚れを検出でき
ると共に、距離しきい値にヒステリシス特性をもたせた
ことで汚れ検出判定の安定性が向上するという効果があ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】 請求項１の発明による距離測定装置の汚れ検
出装置の一実施例の構成を示すブロック図である。

【図２】 図１に示す距離測定装置の汚れ検出装置の動
作を説明するフローチャートである。

【図３】 請求項２の発明による距離測定装置の汚れ検
出装置の一実施例の構成を示すブロック図である。

【図４】 請求項２の発明による距離測定装置の汚れ検
出装置の動作を説明するフローチャートである。

【図５】 請求項３の発明による距離測定装置の汚れ検
出装置の一実施例の構成を示すブロック図である。

【図６】 請求項３の発明による距離測定装置の汚れ検
出装置の動作を説明するフローチャートである。

【図７】 請求項４の発明による距離測定装置の汚れ検
出装置の一実施例の構成を示すブロック図である。

【図８】 請求項４の発明による距離測定装置の汚れ検
出装置の動作を説明するフローチャートである。

【図９】 請求項５の発明による距離測定装置の汚れ検
出装置の一実施例の構成を示すブロック図である。

【図１０】 請求項５の発明による距離測定装置の汚れ
検出装置の動作を説明するフローチャートである。

【図１１】 従来の距離測定装置の汚れ検出装置の構成
を示すブロック図である。

【符号の説明】 １ 送光部、２ 受光部、４ 送光窓、５ 受光窓、７
物体、３１ 距離測定手段、３２、３２Ａ 物体検出
手段、３３ 汚れ検出手段、３４ 計数手段、３５ 同
一物体検出手段、３７ しきい値変更手段。

【手続補正２】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】全図

【補正方法】変更

【補正内容】

【図１】

【図２】

【図３】

【図４】

【図５】

【図６】

【図７】

【図８】

【図９】

【図１０】

【図１１】

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 距離測定対象となる物体を照射する送光
   部と、この送光部によって照射された物体よりの反射光
   を受光する受光部と、前記送光部による送光時より前記
   受光部から受光出力取込み時に至るまでの時間に基づい
   て前記物体までの距離を測定する距離測定手段と、前記
   受光部より出力される受光出力を取り込み毎に、この受
   光出力に基づいて前記物体の検出及び未検出を判定する
   物体検出手段と、前記距離測定手段による距離測定回数
   と前記物体検出手段による物体未検出との割合による物
   体未検出頻度に従って前記送光部或は受光部の光透過路
   の汚れを判定する汚れ判定手段とを備えたことを特徴と
   する距離測定装置の汚れ検出装置。
2. 【請求項２】 距離測定対象となる物体を照射する送光
   部と、この送光部によって照射された物体よりの反射光
   を受光する受光部と、前記送光部による送光時より前記
   受光部から受光出力取込み時に至るまでの時間に基づい
   て前記物体までの距離を測定する距離測定手段と、この
   距離測定手段によって測定された距離が予め設定された
   距離しきい値未満であると判定される毎に判定回数を計
   数する計数手段と、この計数手段による計数値に従って
   前記送光部或は受光部の光透過路の汚れを判定する汚れ
   判定手段とを備えたことを特徴とする距離測定装置の汚
   れ検出装置。
3. 【請求項３】 距離測定対象となる物体を照射する送光
   部と、この送光部によって照射された物体よりの反射光
   を受光する受光部と、前記送光部による送光時より前記
   受光部から受光出力取込み時に至るまでの時間に基づい
   て前記物体までの距離を測定する距離測定手段と、この
   距離測定手段による距離測定結果より測定距離が予め設
   定された距離しきい値未満である時に、距離測定された
   物体は前回、測定距離が距離しきい値未満であった物体
   と同一の物体か否かを判定する同一物体判定手段と、同
   一物体でないことが判定された時に、前記距離測定手段
   によって測定された距離が距離しきい値未満であると判
   定した回数を計数し、且つ、同一物体の時には回数を計
   数しない計数手段と、この計数手段による計数値に従っ
   て前記送光部或は受光部の光透過路の汚れを判定する汚
   れ判定手段とを備えたことを特徴とする距離測定装置の
   汚れ検出装置。
4. 【請求項４】 距離測定対象となる物体を照射する送光
   部と、この送光部にて照射された物体よりの反射光を受
   光する受光部と、前記送光部による送光時より前記受光
   部から受光出力取込み時に至るまでの時間に基づいて前
   記物体までの距離を測定する距離測定手段と、この距離
   測定手段によって測定された測定距離が予め設定された
   距離しきい値未満であると判定される毎に判定回数を計
   数する計数手段と、この計数手段による計数値に従って
   前記送光部或は受光部の光透過路の汚れを判定する汚れ
   判定手段と、この汚れ判定手段による光透過路の汚れ判
   定後、前記距離しきい値を前記距離しきい値より大きな
   仮の距離しきい値に変更するしきい値変更手段とを備え
   たことを特徴とする距離測定装置の汚れ検出装置。