JPH0628888Y2 - 配電盤の動作試験シユミレ−タ装置 - Google Patents
配電盤の動作試験シユミレ−タ装置Info
- Publication number
- JPH0628888Y2 JPH0628888Y2 JP1987129082U JP12908287U JPH0628888Y2 JP H0628888 Y2 JPH0628888 Y2 JP H0628888Y2 JP 1987129082 U JP1987129082 U JP 1987129082U JP 12908287 U JP12908287 U JP 12908287U JP H0628888 Y2 JPH0628888 Y2 JP H0628888Y2
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- Japan
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- program
- switchboard
- test
- output pattern
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- Supply And Distribution Of Alternating Current (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 A.産業上の利用分野 この考案は配電盤の動作試験シユミレータ装置に関す
る。
る。
B.考案の概要 この考案は配電盤試験用のシユミレータ装置において、 配電盤の機種が変更されても試験用プログラムを変えな
いで、シユミレーシヨンを行えるようにしたことによ
り、 シユミレーシヨン準備作業を大幅に減らすことができる
とともに繰返しのシユミレーシヨン精度の向上を図つた
ものである。
いで、シユミレーシヨンを行えるようにしたことによ
り、 シユミレーシヨン準備作業を大幅に減らすことができる
とともに繰返しのシユミレーシヨン精度の向上を図つた
ものである。
C.従来の技術 配電盤は電気系統あるいは機器を監視，制御するための
計測器や保護装置等を収納したものである。このため、
配電盤を工場で製作して出荷する前に各機器や装置等が
正確に動作するものであるかの試験を行う必要がある。
この試験をシユミレーシヨンと称して通常、所定のプロ
グラムを用い、このプログラムをマイクロコンピユータ
で処理している。
計測器や保護装置等を収納したものである。このため、
配電盤を工場で製作して出荷する前に各機器や装置等が
正確に動作するものであるかの試験を行う必要がある。
この試験をシユミレーシヨンと称して通常、所定のプロ
グラムを用い、このプログラムをマイクロコンピユータ
で処理している。
D.考案が解決しようとする問題点 従来、配電盤のシユミレーシヨンは同一機種が多数ある
場合に、シーケンサを使用し、プログラムを長時間かけ
て作成していた。このプログラムは同一の配電盤のシユ
ミレーシヨンには有効であるが、配電盤の機種に変更が
ある場合には、その都度、上記プログラムも変更しなけ
ればならないことと、配電盤の収納機器が複雑になると
試験用プログラム時間が長くなつて、シユミレーシヨン
準備作業に多大な時間を要する問題があつた。
場合に、シーケンサを使用し、プログラムを長時間かけ
て作成していた。このプログラムは同一の配電盤のシユ
ミレーシヨンには有効であるが、配電盤の機種に変更が
ある場合には、その都度、上記プログラムも変更しなけ
ればならないことと、配電盤の収納機器が複雑になると
試験用プログラム時間が長くなつて、シユミレーシヨン
準備作業に多大な時間を要する問題があつた。
E.問題点を解決するための手段 この考案は配電盤の動作試験をプログラムによりシユミ
レートするものにおいて、 予め作成された動作試験用のプログラムのプログラムパ
ターン発生部と、このプログラムパターン発生部からの
プログラムにより被試験用配電盤をシユミレーシヨン
し、そのシユミレーシヨンの状態を判断するマイクロコ
ンピユータと、このマイクロコンピユータで判断した被
試験用配電盤の状変を検知し、動作時間や動作間隔をす
べてパターン化して記憶する出力パターン記憶部と、こ
の出力パターン記憶部に与えられ、この記憶部の出力パ
ターンを繰返し配電盤に送出させるプレーバツク指令部
とを備えたものである。
レートするものにおいて、 予め作成された動作試験用のプログラムのプログラムパ
ターン発生部と、このプログラムパターン発生部からの
プログラムにより被試験用配電盤をシユミレーシヨン
し、そのシユミレーシヨンの状態を判断するマイクロコ
ンピユータと、このマイクロコンピユータで判断した被
試験用配電盤の状変を検知し、動作時間や動作間隔をす
べてパターン化して記憶する出力パターン記憶部と、こ
の出力パターン記憶部に与えられ、この記憶部の出力パ
ターンを繰返し配電盤に送出させるプレーバツク指令部
とを備えたものである。
F.作用 配電盤のシユミレーシヨンの場合には、出力パターン記
憶部に記憶された出力パターンをプレーバツクパターン
発生部からの指令で配電盤に送出する。その後は、出力
パターンにない試験だけを行えば、異なる機種の配電盤
のシユミレーシヨンがプログラムを変更することなく試
験できる。
憶部に記憶された出力パターンをプレーバツクパターン
発生部からの指令で配電盤に送出する。その後は、出力
パターンにない試験だけを行えば、異なる機種の配電盤
のシユミレーシヨンがプログラムを変更することなく試
験できる。
G.実施例 以下図面を参照してこの考案の一実施例を説明する。
第１図において、１はシユミレータ装置で、この装置１
はリモートＩ／Ｏ装置２に伝送ライン３により接続され
る。リモートＩ／Ｏ装置２は複数のリモートＩ／Ｏ２ａ
〜２ｄから構成され、各リモートＩ／Ｏ２ａ〜２ｄには
被試験用配電盤３ａ〜３ｄが接続される。
はリモートＩ／Ｏ装置２に伝送ライン３により接続され
る。リモートＩ／Ｏ装置２は複数のリモートＩ／Ｏ２ａ
〜２ｄから構成され、各リモートＩ／Ｏ２ａ〜２ｄには
被試験用配電盤３ａ〜３ｄが接続される。
シユミレータ装置１はマイクロプロセツサからなるシユ
ミレータ１ａと、このシユミレータ１ａに接続される試
験用プログラムパターン発生部１ｂとＣＲＴあるいはキ
ーボード部１ｃと、配電盤の状変を検知して動作時間や
動作間隔をすべてパターン化して記憶する出力パターン
記憶部１ｄ及びプレーバツク指令部１ｅから構成され
る。
ミレータ１ａと、このシユミレータ１ａに接続される試
験用プログラムパターン発生部１ｂとＣＲＴあるいはキ
ーボード部１ｃと、配電盤の状変を検知して動作時間や
動作間隔をすべてパターン化して記憶する出力パターン
記憶部１ｄ及びプレーバツク指令部１ｅから構成され
る。
出力パターン記憶部１ｄはプログラムパターン発生部１
ｂのプログラムにより配電盤をシユミレートしたときの
配電盤の状変を検知して動作時間や動作間隔をすべてパ
ターン化して記憶しておく記憶部である。従つて、以後
同じ機種の配電盤をシユミレーシヨンする際には、プレ
ーバツク指令部１ｅからの指令で記憶部１ｄから出力パ
ターンを読み出してシユミレートするようにしたもので
ある。
ｂのプログラムにより配電盤をシユミレートしたときの
配電盤の状変を検知して動作時間や動作間隔をすべてパ
ターン化して記憶しておく記憶部である。従つて、以後
同じ機種の配電盤をシユミレーシヨンする際には、プレ
ーバツク指令部１ｅからの指令で記憶部１ｄから出力パ
ターンを読み出してシユミレートするようにしたもので
ある。
次に上記実施例の動作を述べる。まず、試験用の配電盤
３ａ〜３ｄをリモートＩ／Ｏ装置２に接続する。この配
電盤３ａ〜３ｄは同一機種のもので、各配電盤３ａ〜３
ｄにプログラムパターン発生部１ｂから試験プログラム
をシユミレータ１ａを通して配電盤３ａ〜３ｄに供給し
それらの試験を行う。試験の結果はリモートＩ／Ｏ装置
２を介してシユミレータ１ａに与えられる。シユミレー
タ１ａは試験結果を判断してＣＲＴ等に表示するととも
に配電盤の状変等のパターンを出力パターン記憶部１ｄ
に記憶する。
３ａ〜３ｄをリモートＩ／Ｏ装置２に接続する。この配
電盤３ａ〜３ｄは同一機種のもので、各配電盤３ａ〜３
ｄにプログラムパターン発生部１ｂから試験プログラム
をシユミレータ１ａを通して配電盤３ａ〜３ｄに供給し
それらの試験を行う。試験の結果はリモートＩ／Ｏ装置
２を介してシユミレータ１ａに与えられる。シユミレー
タ１ａは試験結果を判断してＣＲＴ等に表示するととも
に配電盤の状変等のパターンを出力パターン記憶部１ｄ
に記憶する。
第２図Ａはシユミレータ１ａで判断された配電盤の各機
器の状変(1),(2)…の動作時間や動作間隔のすべてが記
憶される過程を示すプログラムフローの説明図で、記憶
スイツチＳＷ１をオンさせることにより出力パターンが
記憶部１ｄに記憶される。図中ＣＮＴはマスターカウン
タである。
器の状変(1),(2)…の動作時間や動作間隔のすべてが記
憶される過程を示すプログラムフローの説明図で、記憶
スイツチＳＷ１をオンさせることにより出力パターンが
記憶部１ｄに記憶される。図中ＣＮＴはマスターカウン
タである。
第２図Ｂは出力パターン記憶部１ｄに記憶されたパター
ンをプレーバツク指令部１ｅの指令で再生するときのプ
ログラムフローの説明図で、指令があると再生スイツチ
ＳＷ２がオンになり、記憶されたパターン通りに配電盤
のシユミレーシヨンを行う。
ンをプレーバツク指令部１ｅの指令で再生するときのプ
ログラムフローの説明図で、指令があると再生スイツチ
ＳＷ２がオンになり、記憶されたパターン通りに配電盤
のシユミレーシヨンを行う。
次に上記とは機種が異なる配電盤のシユミレーシヨンを
行う場合にも同様にシユミレーシヨンでき、異なる試験
項目だけをその後に試験すれば良い。
行う場合にも同様にシユミレーシヨンでき、異なる試験
項目だけをその後に試験すれば良い。
H.考案の効果 以上述べたように、この考案によれば、試験用プログラ
ムを変更しないでシユミレーシヨンを行うことができる
ようにしたので、シユミレーシヨンする配電盤に合わせ
てプログラムする手間が省けるためにシユミレーシヨン
準備作業を大幅に減らすことができるとともに複雑な機
器を有する配電盤の試験においてもプログラム時間は長
くならない利点がある。
ムを変更しないでシユミレーシヨンを行うことができる
ようにしたので、シユミレーシヨンする配電盤に合わせ
てプログラムする手間が省けるためにシユミレーシヨン
準備作業を大幅に減らすことができるとともに複雑な機
器を有する配電盤の試験においてもプログラム時間は長
くならない利点がある。
第１図はこの考案の一実施例を示すブロツク図、第２図
Ａ，Ｂはプログラムフローを示す説明図である。 １……シユミレータ装置、２……リモートＩ／Ｏ装置、
１ａ……シユミレータ、１ｂ……プログラムパターン発
生部、１ｄ……出力パターン記憶部、１ｅ……プレーバ
ツク指令部、３ａ〜３ｄ……配電盤。
Ａ，Ｂはプログラムフローを示す説明図である。 １……シユミレータ装置、２……リモートＩ／Ｏ装置、
１ａ……シユミレータ、１ｂ……プログラムパターン発
生部、１ｄ……出力パターン記憶部、１ｅ……プレーバ
ツク指令部、３ａ〜３ｄ……配電盤。
Claims (1)
- 【請求項１】配電盤の動作試験をプログラムによりシュ
ミレートするものにおいて、 予め作成された動作試験用のプログラムのプログラムパ
ターン発生部と、このプログラムパターン発生部からの
プログラムにより被試験用配電盤をシュミレーション
し、そのシュミレーションの状態を判断するマイクロコ
ンピュータと、このマイクロコンピュータと被試験用配
電盤との間に設けられたリモートＩ／Ｏ装置と、前記マ
イクロコンピュータで判断した被試験用配電盤の状変を
検知し動作時間や動作間隔をすべてパターン化して記憶
する出力パターン記憶部と、この出力パターン記憶部に
与えられ、この記憶部の出力パターンを繰り返し被試験
用配電盤にリモートＩ／Ｏ装置を介して与えるための指
令を送出するプレーバック指令部とを備えた配電盤の動
作試験シュミレータ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987129082U JPH0628888Y2 (ja) | 1987-08-25 | 1987-08-25 | 配電盤の動作試験シユミレ−タ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987129082U JPH0628888Y2 (ja) | 1987-08-25 | 1987-08-25 | 配電盤の動作試験シユミレ−タ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6434803U JPS6434803U (ja) | 1989-03-03 |
| JPH0628888Y2 true JPH0628888Y2 (ja) | 1994-08-03 |
Family
ID=31383026
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1987129082U Expired - Lifetime JPH0628888Y2 (ja) | 1987-08-25 | 1987-08-25 | 配電盤の動作試験シユミレ−タ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0628888Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018191463A (ja) * | 2017-05-10 | 2018-11-29 | 三菱電機エンジニアリング株式会社 | 配電盤の試験装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57149465U (ja) * | 1981-03-17 | 1982-09-20 | ||
| JPS59193158U (ja) * | 1983-06-10 | 1984-12-21 | 三甲株式会社 | 篭体 |
| JPS6070560U (ja) * | 1983-10-20 | 1985-05-18 | 大日本インキ化学工業株式会社 | 保温容器 |
-
1987
- 1987-08-25 JP JP1987129082U patent/JPH0628888Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6434803U (ja) | 1989-03-03 |
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