JP2018191463A - 配電盤の試験装置 - Google Patents

Abstract

【課題】配電盤に対する保護連動試験、制御連動試験、インターロック試験を短時間且つ高精度で実施する。【解決手段】配電盤の保護連動試験、制御連動試験、インターロック試験を行うための制御指令を入力する入力用ターミナルユニット９及び制御機器応動、制御機器故障を出力する出力用ターミナルユニット１０と、配電盤に対する制御指令及び制御機器応動、制御機器故障の出力設定を画面選択で行うタッチパネル１と、制御指令に基づいて配電盤１１の試験を行うための処理を行うＣＰＵユニット３と、ＣＰＵユニットに電源を供給する電源ユニット２とを備え、配電盤１に接続された第１のブロックＡに、入力用ターミナルユニット９及び出力用ターミナルユニット１０を備えると共に、第２のブロックＢに、タッチパネル１と、ＣＰＵユニット３と、電源ユニット２とを備え、第１のブロックＡと第２のブロックＢは通信ケーブル８を介して接続した。【選択図】図１

Description

この発明は、配電盤の試験である保護連動試験、制御連動試験、インターロック試験等の時間短縮を可能とするための配電盤の試験装置に関するものである。

従来例による配電盤の試験は、制御指令、制御機器応動、制御機器故障を押釦スイッチ、表示灯、補助継電器等の構成により行われている。

従来の配電盤の試験装置として、遠方監視制御システムや給電システム等を一括して管理する配電盤に接続し、操作スイッチ部、配電盤からの入力指令を演算処理する手段を備えた模擬遮断器と、スタート指令が入力されると指定したタイミングで指定した状変データを前記模擬遮断器に与え、また、指定した操作指令が入力されると指定したタイミングで指定した応動出力データを前記模擬遮断器に与えるコンピュータを備えることで、多機能な試験を簡単且つ容易に行うものがある（例えば、特許文献１参照）。

特開平１０−２８２１７０号公報（図１ないし図４）

従来の配電盤の試験装置は、上述したように構成されているので、試験を実施するためには、押釦スイッチ、表示灯、補助継電器を多数準備しなければならず、多数の配線をすることが必要である。また、制御指令、制御機器応動、制御機器故障の出力時間の設定や制御信号、故障信号のパルス化のために時限の異なる複数のタイマーリレーが必要であるなどの問題点があった。

この発明は上記のような課題を解決するためになされたものであり、制御指令、制御機器応動、制御機器故障の出力時間の設定や制御信号、故障信号のパルス化を押釦スイッチ、表示灯、補助継電器、タイマーリレーを使用せずにできる配電盤の試験装置を得ることを目的とする。

この発明に係る配電盤の試験装置は、配電盤の保護連動試験、制御連動試験、インターロック試験を行うための制御指令を入力する入力用ターミナルユニット及び制御機器応動、制御機器故障を出力する出力用ターミナルユニットと、前記配電盤に対する制御指令及び制御機器応動、制御機器故障の出力設定を画面選択で行うタッチパネルと、前記制御指令に基づいて前記配電盤の試験を行うための処理を行うＣＰＵと、前記ＣＰＵに電源を供給する電源ユニットとを備えた。

この発明によれば、タッチパネルにより、配電盤に対する制御指令及び制御機器応動、制御機器故障の出力設定を画面選択で行うようにしたので、制御指令、制御機器応動、制御機器故障の出力時間の設定や制御信号、故障信号のパルス化を押釦スイッチ、表示灯、補助継電器、タイマーリレーを使用せずにでき、短時間で健全確認ができる。

この発明の実施の形態１に係る配電盤の試験装置を示すブロック図である。

実施の形態１．

図１はこの発明の実施の形態１に係る配電盤の試験装置を示すブロック図である。以下、この発明の実施の形態１を図１に基づいて説明する。図１において、１はタッチパネル、２は電源ユニット、３はＣＰＵユニット、４は通信ユニット、５はＨＵＢ、６はＡＣ／ＤＣコンバータ、７はリモートＩ／Ｏユニット、８は通信用ケーブル、９は入力用ターミナルユニット、１０は出力用ターミナルユニット、１１は配電盤である。

図１に示すように、試験装置には、配電盤１に接続されたブロックＡに、配電盤１１の保護連動試験、制御連動試験、インターロック試験を行うための制御指令を入力する入力用ターミナルユニット９と、制御機器応動、制御機器故障を出力する出力用ターミナルユニット１０を備えている。また、ブロックＡに通信ケーブル８を介して接続されたブロックＢに、配電盤１１に対する制御指令、制御機器応動、制御機器故障の出力時間の設定や制御信号、故障信号のパルス幅の設定を画面選択で行うタッチパネル１と、制御指令に基づいて配電盤１１の保護連動試験、制御連動試験、インターロック試験を行うための処理を行うＣＰＵユニット３と、ＣＰＵユニット３に電源を供給する電源ユニット２とを備えている。ここで、配電盤１１と、試験装置のブロックＡとブロックＢは、ラックに収納されている。

次に動作について説明する。図１において、入力用ターミナルユニット９及び出力用ターミナルユニット１０と、配電盤１１の端子台及びコネクタとの間を配線する。この状態で、タッチパネル１の画面操作を行うと、制御信号や故障信号がＣＰＵユニット３で処理され、通信ケーブル８で接続されたリモートＩ／Ｏユニット７と通信ユニット４を介して出力用ターミナルユニット１０から配電盤１１に出力される。

同様に、配電盤１１からの制御信号や表示信号は、入力用ターミナルユニット９から通信ケーブル８で接続されたリモートＩ／Ｏユニット７と通信ユニット４を介してＣＰＵユニット３で処理され、タッチパネル１に表示される。また、ＣＰＵ３ユニットは、電源ユニット２から電源の供給を受け、リモートＩ／Ｏユニット７、入力用ターミナルユニット９、及び、出力用ターミナルユニット１０は、ＡＣ／ＤＣコンバータでＡＣ１００を変換したＤＣ２４電源の供給を受ける。

したがって、上記実施の形態１によれば、タッチパネル１により、配電盤１１に対する制御指令及び制御機器応動、制御機器故障の出力設定を画面選択で行うようにしたので、制御指令、制御機器応動、制御機器故障の出力時間の設定や制御信号、故障信号のパルス化を押釦スイッチ、表示灯、補助継電器、タイマーリレーを使用せずにでき、短時間で健全確認ができる。

また、配電盤１に接続されたブロックＡとタッチパネル１が備えられたブロックＢとを通信ケーブル８を介して接続したので、配線本数を削減することができる。

また、前記タッチパネル１により、制御指令、制御機器応動、制御機器故障の出力時間の設定及び制御信号、故障信号のパルス幅の設定を画面選択で行うようにしたので、配電盤試験の時間短縮及び試験精度向上を可能とすることができる。

さらに、ブロックＡに備えられた入力用ターミナルユニット９及び出力用ターミナルユニット１０と、ブロックＢに備えられたタッチパネル１と、ＣＰＵユニット３と、電源ユニット２とを、ラックに収納したことで、試験装置を容易に構築することができる。

１ タッチパネル
２ 電源ユニット
３ ＣＰＵユニット
４ 通信ユニット
５ ＨＵＢ
６ ＡＣ／ＤＣコンバータ
７ リモートＩ／Ｏユニット
８ 通信用ケーブル
９ 入力用ターミナルユニット
１０ 出力用ターミナルユニット
１１ 制御盤

Claims (4)

1. 配電盤の保護連動試験、制御連動試験、インターロック試験を行うための制御指令を入力する入力用ターミナルユニット及び制御機器応動、制御機器故障を出力する出力用ターミナルユニットと、
   前記配電盤に対する制御指令及び制御機器応動、制御機器故障の出力設定を画面選択で行うタッチパネルと、
   前記制御指令に基づいて前記配電盤の試験を行うための処理を行うＣＰＵユニットと、
   前記ＣＰＵに電源を供給する電源ユニットと
   を備えた配電盤の試験装置。
2. 前記配電盤に接続された第１のブロックに、前記入力用ターミナルユニット及び前記出力用ターミナルユニットを備えると共に、第２のブロックに、前記タッチパネルと、前記ＣＰＵユニットと、前記電源ユニットとを備え、前記第１のブロックと前記第２のブロックは通信ケーブルを介して接続した
   ことを特徴とする請求項１に記載の配電盤の試験装置。
3. 前記タッチパネルは、制御指令、制御機器応動、制御機器故障の出力時間の設定及び制御信号、故障信号のパルス幅の設定を画面選択で行う
   ことを特徴とする請求項１または２に記載の配電盤の試験装置。
4. 前記第１のブロックに備えられた前記入力用ターミナルユニット及び前記出力用ターミナルユニットと、前記第２のブロックに備えられた前記タッチパネルと、前記ＣＰＵユニットと、前記電源ユニットとを、ラックに収納した
   ことを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１項に記載の配電盤の試験装置。

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