JPH06260379A - クリーンルームのガス監視システム - Google Patents

クリーンルームのガス監視システム

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Publication number
JPH06260379A
JPH06260379A JP4098493A JP4098493A JPH06260379A JP H06260379 A JPH06260379 A JP H06260379A JP 4098493 A JP4098493 A JP 4098493A JP 4098493 A JP4098493 A JP 4098493A JP H06260379 A JPH06260379 A JP H06260379A
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JP
Japan
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gas
clean room
manufacturing apparatus
semiconductor element
element manufacturing
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP4098493A
Other languages
English (en)
Inventor
Hironori Sonobe
浩徳 園部
Yasuhisa Yoshida
康久 吉田
Hiroshi Matsuzawa
浩 松澤
Eriko Chiba
恵里子 千葉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Electronic Device Solutions Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Microelectronics Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 半導体素子製造装置において製品の被害を最
小にし、センサ数の大幅な削減を可能とし、瓦斯遮断装
置を的確に駆動して瓦斯漏れの被害が大きくならないよ
うにすることにある。 【構成】 ガスセンサからのガス濃度信号が所定値以上
となった場合に、該ガスセンサの反応ガス種リスト及び
ガス濃度補正係数と製造管理用コンピュータからの半導
体素子製造装置の稼働状況及びガス使用状況に関する情
報により漏洩したガス種及びその場所を推定し、その推
定情報に基づき前記ガス遮断装置を駆動するガス遮断装
置駆動手段を前記ガス監視用コンピュータに設けると共
に、漏洩したガス種及びその場所の前記推定情報に基づ
き所定の半導体素子製造装置の作動を制御する作動制御
手段を製造管理用コンピュータに設けたものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、クリーンルーム内の半
導体製造工程において発生する恐れのあるガス漏れに対
処するためのクリーンルームのガス監視システムに関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の分野に関する技術として
は、例えば図5に示すようなものがあった。
【0003】図5は、従来におけるクリーンルームのガ
ス監視システムを示すの概略図である。
【0004】同図に示すが如く半導体製造工程を行うた
めのクリーンルーム101には、付属設備としてガスボ
ンベ102及び真空ポンプ103を有する半導体素子製
造装置104と、装置コントローラ105とが設置され
ている。半導体素子製造装置104と装置コントローラ
105とは主にSECS規格の通信によって結ばれ、さ
らに装置コントローラ105がLAN106を介してク
リーンルーム101の外部に設けられた製造装置管理ホ
ストコンピュータ107に接続されている。
【0005】処理時は、装置コントローラ105が処理
ウェーハの製品名、ロットNo、ウェーハNo等を読取
り、そのデータをホストコンピュータ107に転送す
る。ホストコンピュータ107は、送られてきたデータ
をキーにしてそのウェーハに該当する処理レシピを検索
し、装置コントローラ105へ検索された処理レシピを
ダウンロードする。このレシピにより製造装置104は
各ウェーハの加工を行っている。
【0006】また、クリーンルーム101は、密室構造
であり、ダストの発生や不純物の混入を抑制するため循
環式の空調を採用している。一方、クリーンルーム10
1内に設置された製造装置104は有毒ガス/可燃性ガ
スを使用するものが多く、万一のガス漏れ時の被害は、
このようなクリーンルーム環境下では多大なものとなる
傾向がある。
【0007】そのため、半導体素子製造装置104やそ
の付属設備であるガスボンベ102及び真空ポンプ10
3には、それぞれガス漏れを検出するガスセンサ10
8,109,110がガス種毎に装備され、これらのガ
スセンサ108,109,110はクリーンルーム10
1外のガス漏れ指示警報装置111に接続されている。
ガスボンベ102でガス漏れが発生した場合は、ガスセ
ンサ109でガス漏れを検出し、ガス漏れ指示警報装置
111においてガス漏れ発生を表示すると共に、該指示
警報装置111のロジックによりガス漏れを起こしたボ
ンベのバルブ遮断装置112を駆動して、そのガスバル
ブを閉じるこれにより、ガスの漏出を止めることが一般
に行われている。なお、ガス漏れ指示警報装置111に
は、手動遮断スイッチ(図示省略)も設けられ、人の判
断による全ガスバルブ遮断の機能も有している。
【0008】しかし、半導体素子製造装置104にガス
センサ108が設置されていても、完全に密閉されたガ
スボンベストッカ102とは異なり、製造装置104で
は密閉性が低いためにガス漏れ発生時には製造装置10
4外のクリーンルーム作業環境に有毒ガスが漏洩する場
合や、他にも製造装置104やボンベストッカ102以
外の配管等でガス漏れが発生する場合もある。
【0009】そこで、クリーンルームは循環式空調であ
って万一室内でガス漏れが発生した場合はリターン口か
ら排出されることから、リターン口にそのクリーンルー
ムで使用する全てのガス種類に対応したガスセンサを設
置し、クリーンルーム室内でのガスも漏れを総合的にモ
ニタする手法(手法1)も従来より知られている。その
一例を図6に示す。
【0010】同図の例では、循環式空調のクリーンルー
ム201内には、4台の半導体素子製造装置202〜2
05が設置され、その各製造装置202〜205はLA
N206を介してクリーンルーム201外の製造管理コ
ンピュータ207と接続されている。さらに、製造装置
202〜205で使用する5種類のガスA〜Eを各種別
にそれぞれ充填したガスボンベ208〜212が設置さ
れている。
【0011】製造装置202〜205には、使用するガ
スA〜Eに応じてガスセンサ213〜218が装着さ
れ、ガスボンベ208〜212にはガス遮断弁219〜
224が装着されている。そして、クリーンルーム20
1の空調リターン口225には、ガスA〜Eにそれぞれ
対応したガスセンサ226〜230が装着されている。
これらガスセンサ213〜218,226〜230及び
ガス遮断弁219〜224はすべて多重伝送装置231
を介してクリーンルーム201外のガス監視コンピュー
タ232に接続されている。多重伝送装置231は監視
区域毎に設けられている。
【0012】クリーンルームが複数の部屋に分かれてい
る場合において上記手法1を用いた場合を図7に示す。
同図に示すが如く、クリーンルームはA室、B室、C室
と3部屋に分かれており、そのうち、A室のみに半導体
素子製造装置302が設置されている。ガスボンベ室3
03には、ガスセンサ304,305がガス種毎に設置
され、製造装置302にもガスセンサ306が設置され
ている。さらに、各部屋の空調リターン口には、その部
屋で使用するガス種毎のガスセンサ307〜315が設
置されている。そして、それらガスセンサがガス漏れ監
視用コンピュータ316に接続されている。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記手
法1では次のような問題点があった。
【0014】(1)半導体素子製造装置やボンベストッ
カでは使用ガス種が限られているため、設置するガスセ
ンサも少ないが、空調リターン口ではクリーンルーム内
で使用するガスの種類に対応したすべてのガスセンサを
設置しなければならなず、ガスセンサの数が非常に多く
なる。特に、上記図7に示すようにクリーンルームが複
数の部屋に分かれているような場合では、その部屋で使
用しているガス種の全てのガスセンサを設置する必要か
あるため、部屋数が多い場合は、そのガスセンサ数は1
00以上にも及ぶこともあり、費用やメンテナンスに多
くの時間を要する。
【0015】(2)各ガスセンサの検知ガスへの識別性
が低く、他の種類のガスと混同してしまう。即ち、所定
濃度以上のガス漏れ時は、空調リターン口に設置した検
知ガス種の異なる複数のガスセンサが反応してしまうこ
とがあり、漏洩したガス種の特定が困難であり、迅速な
対応がとれない。
【0016】(3)半導体素子製造装置へガス漏れの情
報が伝わらないため、製造装置は供給ガスが停止しても
処理を続行したり、供給ガス不足による非常処理に移行
したりして装置処理中のウェーハに対する適切な処置が
行われない。
【0017】(4)半導体素子製造装置でガス漏れが発
生した場合に、その製造装置にガスを供給するガスボン
ベが不明なため、該当する監視区域やクリーンルーム全
体のガスボンベに対してバルブ遮断処置を行うことにな
ってしまう。この場合、ガス漏れ時には関係ない区域の
ガスボンベまでバルブ遮断し、半導体素子製造に大きな
悪影響が出る。
【0018】(5)クリーンルームが複数の部屋に分か
れているような場合では、各部屋の空調リターン口でガ
ス漏れを検知しても、クリーンルームが循環式空調であ
るため、漏れたガスがガス漏れが発生していない部屋に
も回り込み、他の部屋のガスセンサでも検知されてしま
い、ガス漏れが発生した部屋を確定することが困難であ
るばかりでなく、1カ所でガス漏れが発生すると他の部
屋まで影響を与えることになり、被害を大きくする。
【0019】本発明は、上述の如き従来の問題点を解決
するためになされたもので、その目的は、半導体素子製
造装置において製品の被害を最小にし、センサ数の大幅
な削減を可能とし、瓦斯遮断装置を的確に駆動して瓦斯
漏れの被害が大きくならないようにすることにある。
【0020】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、第1の発明の特徴は、循環式空調のクリーンルーム
内に設けられた半導体素子製造装置と、前記半導体素子
製造装置を管理する製造管理用コンピュータと、前記半
導体素子製造装置へガス供給を行うガスボンベストッカ
と、前記クリーンルームの空調リターン口に設けられた
ガスセンサと、前記ガス供給を遮断するためのガス遮断
装置と、ガスセンサからのガス濃度信号が所定値以上と
なるガス漏洩時に前記ガス遮断装置を駆動するガス監視
用コンピュータとを備えたクリーンルームのガス監視シ
ステムにおいて、前記ガスセンサからのガス濃度信号が
所定値以上となった場合に、該ガスセンサの反応ガス種
リスト及びガス濃度補正係数と前記製造管理用コンピュ
ータからの半導体素子製造装置の稼働状況及びガス使用
状況に関する情報により漏洩したガス種及びその場所を
推定し、その推定情報に基づき前記ガス遮断装置を駆動
するガス遮断装置駆動手段を前記ガス監視用コンピュー
タに設けると共に、漏洩したガス種及びその場所の前記
推定情報に基づき所定の半導体素子製造装置の作動を制
御する作動制御手段を前記製造管理用コンピュータに設
けたものである。
【0021】第2の発明の特徴は、第1の発明におい
て、クリーンルームの空調リターン口に設けられた複数
のガスセンサの指示濃度比率を、各ガスセンサの反応ガ
ス種及びその補正係数リストと照合し、漏洩したガス種
及びその場所の前記推定情報を生成するようにする。
【0022】第3の発明の特徴は、循環式空調のクリー
ンルーム内に設けられた半導体素子製造装置と、前記半
導体素子製造装置を管理する製造管理用コンピュータ
と、前記半導体素子製造装置へガス供給を行うガスボン
ベストッカと、前記半導体素子製造装置及びガスボンベ
ストッカに設けられたガスセンサと、前記ガス供給を遮
断するためのガス遮断装置と、ガスセンサからのガス濃
度信号が所定値以上となった場合に前記ガス遮断装置を
駆動するガス監視用コンピュータとを備えたクリーンル
ームのガス監視システムにおいて、前記半導体素子製造
装置またはガスボンベストッカに装着されたガスセンサ
からのガス濃度信号が所定値以上となった場合に、前記
半導体素子製造装置とガスボンベストッカと供給ガスに
おける各識別情報の対応リストを参照し、その参照結果
に基づき前記ガス遮断装置を駆動するガス遮断装置駆動
手段と、前記半導体素子製造装置またはガスボンベスト
ッカに装着されたガスセンサからのガス濃度信号が所定
値以上となった場合に、該ガスセンサが装着された半導
体素子製造装置の装置名、漏洩ガス名、供給停止ガス
名、及び前記ガス遮断装置の駆動により影響を受ける半
導体素子製造装置の装置名を含むID情報を前記製造管
理用コンピュータに送るID送信手段とを前記ガス監視
用コンピュータに設けると共に、前記ID情報に基づき
所定の半導体素子製造装置の作動を制御する作動制御手
段を前記製造管理用コンピュータに設けたものである。
【0023】第4の発明の特徴は、循環式空調のクリー
ンルーム内の所定の部屋に設けられた半導体素子製造装
置と、前記半導体素子製造装置へガス供給を行うガスボ
ンベストッカと、前記クリーンルームの各部屋の空調リ
ターン口にそれぞれ設けられたガスセンサと、前記ガス
供給を遮断するためのガス遮断装置と、前記ガスセンサ
からのガス濃度信号が所定値以上となるガス漏洩時に前
記ガス遮断装置を駆動するガス監視用コンピュータとを
備えたクリーンルームのガス監視システムにおいて、前
記ガスセンサとして多種類のガスを検知する第1のガス
センサを設置すると共にし、クリーンルーム全体の空調
リターン口には該クリーンルーム内で使用するガスの種
類ごとに検知する第2のガスセンサを複数個設置し、前
記ガス監視用コンピュータにより、前記ガス漏洩時に前
記第1のガスセンサでガス漏れ発生の部屋を確定すると
共に、前記第2のガスセンサで漏れているガスの種類を
確定し、その確定結果に基づき前記ガス遮断装置を駆動
するようにしたものである。
【0024】第5の発明の特徴は、前記第4の発明にお
いて、前記ガス漏れ時にクリーンルームの循環式空調を
中断して、このクリーンルーム内の排気を該クリーンル
ームの外部を送出し、クリーンルームに外気を取り入れ
るようにしたものである。
【0025】
【作用】上述の如き構成によれば、第1の発明は、クリ
ーンルームの空調リターン口で瓦斯漏れが検出された場
合は、ガス監視用コンピュータで瓦斯漏れを検知した複
数の瓦斯センサの反応瓦斯種リスト及びガス濃度補正係
数から漏洩した瓦斯種を特定し、製造管理用コンピュー
タからの半導体素子製造装置の稼働状況及びガス使用状
況により漏洩した場所を推定して供給ガスの遮断を行
い、その情報を製造管理用コンピュータに送ることで、
例えば瓦斯漏れの発生した半導体素子製造装置を安全に
停止させる。これにより、供給瓦斯停止となる半導体素
子製造装置それぞれにおいて製品の被害を最小にするこ
とができる。
【0026】第2の発明では、複数のガスセンサの指示
濃度比率を使用するのでセンサ数の削減を可能とする。
【0027】第3の発明では、瓦斯センサからのガス濃
度データはガス監視用コンピュータで処理及び判断さ
れ、瓦斯漏れに該当するガスボンベストッカの瓦斯遮断
装置を駆動する。
【0028】第4の発明では、正常な状態の場合は第2
の瓦斯センサが設置された空調リターン口を排気が通ら
なようにし、各部屋の空調リターン口で瓦斯漏れを検知
した場合は、その部屋の排気を切り替えて、瓦斯漏れが
発生した部屋の排気のみが第2の瓦斯センサを設置して
あるクリーンルーム全体の空調リターン口を通過させ
る。これにより、漏れた瓦斯の種類を確定し、ガス監視
用コンピュータにより該当する瓦斯の瓦斯遮断装置を駆
動し、瓦斯漏れの被害が大きくならないようにする。
【0029】第5の発明では、ガス漏れ時にクリーンル
ームの循環式空調を中断して、このクリーンルーム内の
排気を該クリーンルームの外部を送出し、クリーンルー
ムに外気を取り入れるようにして、瓦斯漏れが発生して
いない部屋に影響を及ばさないようにする。
【0030】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図1は、本発明の第1実施例に係るクリーンルー
ムのガス監視システムを示す概略図である。
【0031】循環式空調のクリーンルーム1の同室に設
置された4機の半導体素子製造装置2〜5は、LAN6
を介してクリーンルーム1外の製造管理用コンピュータ
7と接続されている。さらに、製造装置2〜5で使用す
る5種類のガスA〜Eを各種別毎に充填したガスボンベ
ストッカ8〜12が設置されている。なお、本実施例で
は上記した図5で示す装置コントローラ及び真空ポンプ
と同機能のものが設置されているが、これらの説明は省
略する。
【0032】製造装置2はガスA、製造装置3はガス
B,C、製造装置4はガスC、及び製造装置5はガス
D,Eをそれぞれ使用し、これら使用するガスに対応し
て各製造装置2〜5にはガスセンサ13〜18が装着さ
れている。装置が使用するガスは、ガスボンベ8〜12
に装着されたガス遮断装置19〜24を介して各製造装
置2〜5に供給されるようになっている。
【0033】そして、クリーンルーム1の空調リターン
口25には、ガスA用のガスセンサ26、ガスB用のガ
スセンサ27、及びガスC用のガスセンサ28が装着さ
れている。
【0034】製造装置2〜5に装着したガスセンサ13
〜18、ガスボンベ8〜12に装着されたガス遮断装置
19〜24、及び空調リターン口25に装着されたガス
センサ26,27,28は、監視区域(半導体製造ライ
ンが複数の区域に分けられている)毎に設置された多重
伝送装置31に接続されている。多重伝送装置31はガ
ス漏れ監視ホストコンピュータ32に接続され、そのガ
ス漏れ監視ホストコンピュータ32が通信回線33を介
して製造管理用ホストコンピュータ7に接続されてい
る。ここで、ガス漏れ監視ホストコンピュータ32に
は、非常表示灯の点灯や緊急放送等の機能も有する。
【0035】多重伝送装置31は、各ガスセンサからの
入力(ガス濃度)をデジタル信号に変換の後、多重化し
てガス漏れ監視ホストコンピュータ32に送信し、同様
に該ガス漏れ監視ホストコンピュータ32からの指示に
より製造管理用ホストコンピュータ7は、指定のガス遮
断装置19〜24を駆動するようになっている。
【0036】次に、以上のように構成されるガス監視シ
ステムの動作を説明する。
【0037】処理手順の一例として製造装置4でガス漏
れが発生した場合を想定すると、ガスセンサ16の信号
(ガス濃度)は多重化伝送装置31で多重化し、ガス監
視用ホストコンピュータ32へ送信する。ガス監視用ホ
ストコンピュータ32は、送られたデータをガス濃度に
換算し、その濃度が事前に設定したアラームレベル以上
の場合はガス漏れと判断する。
【0038】ガス監視用ホストコンピュータ32が図2
に示す対応表を参照して、自動的に供給元のガスボンベ
10のガス遮断装置22を駆動して漏洩ガスの供給を止
める。同時に、ガス漏れが発生した製造装置名(装置I
D)、漏洩ガス名(ガスID)、供給停止ガス名(ガス
ID)、ガス停止により影響を受ける製造装置名もしく
は製造装置ID(この場合は製造装置3)を製造管理用
ホストコンピュータ7へ送信する。
【0039】製造管理用ホストコンピュータ7は、ガス
漏れが発生した製造装置4を緊急停止させ、ガス遮断の
影響を受ける各製造装置についても現在の状況をチェッ
クし、(1)枚葉処理装置で現在処理中であれば次のウ
ェーハの処理開始を止めて製造装置を停止させる、
(2)処理待ちの製造装置の場合は次の処理割り付けを
外す、(3)処理中であるが現在の処理レシピが供給停
止ガスを使用していない場合はそのまま処理を続行す
る、等の安全と製品への被害を最小にする最適に方法を
製造装置に指示する。
【0040】ボンベ8〜12のいずれかからガス漏れが
発生した場合も、同様に漏洩ガスを遮断すると共に、遮
断ガスの影響を受ける製造装置をガス監視用ホストコン
ピュータ32が製造管理用ホストコンピュータ7に知ら
せ、安全と製品への被害を最小にする最適な方法を製造
装置に指示する。また、ガスボンベ8〜12及び製造装
置2〜5以外の例えば配管等からガスが漏洩し場合は、
空調リターン口25に設置したガスセンサ26〜28で
5種類のガスを検出する。
【0041】上述したように従来一般に、ガスセンサの
ガス識別性は低く、多種のガスに反応する。図3に示す
ように例えばガスA用のガスセンサは、ガスAに反応す
る以外にガスBに0.5の感度で反応する。つまり、ガ
スBが100ppm存在する雰囲気は、ガスA用のガス
センサによってガスAが50ppm存在する(ガスC;
1000ppmであればガスA;30ppm)と判断さ
れてしまう。同様のことがガスB,C用のガスセンサに
もいえるため、例えば高濃度のガスAが漏れた場合は、
ガスセンサA,B,C全てが反応してアラームを発生し
てしまい、従来では実際の漏洩ガス種が判別できなかっ
た。
【0042】これに対して、本実施例ではガスセンサが
多種のガスに反応することを利用し、ガス漏れが発生し
た場合に、各ガスセンサ単独の濃度ではなく、各ガスセ
ンサ指示濃度の比率を利用する。例えば、ガスA,B,
C用の各ガスセンサの指示濃度が1:0.7:0.4で
あればガスAであり、指示濃度が0.5:1:0.3で
あればガスBであると判断する。ガス濃度が変動しても
3個のガスセンサ26〜28の指示濃度比率は一定であ
るため、全ガスセンサがアラームを発生するような高濃
度のガス漏れ時であっても、本実施例の手法によれば漏
出ガス種を迅速に特定することが可能となる。さらに、
ガスセンサの指示濃度比率でガス種を判断するため、空
調リターン口25にガスD,E用のガスセンサを設置せ
ずともそのガス漏れを検出することができる。
【0043】図4は、本発明の第2実施例に係るクリー
ンルームのガス監視システムを示す概略図である。
【0044】本実施例では、クリーンルーム51が複数
の部屋A,B,Cに分かれ、その各部屋A,B,Cの空
調リターン口と全体の空調リターン口にガスセンサを設
置してガス漏れを検知する場合を示している。
【0045】A室に設置されている半導体素子製造装置
52及び付属設備(図示省略)とガスボンベ室53に
は、ガス漏れを検知するガスセンサ54,55,56が
ガス種毎に設置され、このガスセンサ54,55,56
がガス漏れ監視ホストコンピュータ57に接続されてい
る。例えば製造装置52でガス漏れが発生した場合は、
ガスセンサ54でガス漏れを検出し、その製造装置52
にガスを供給しているガスボンベのバルブを閉め、ガス
の露出を止める。
【0046】また、各部屋A,B,Cの空調リターン口
には、他種類のガスを検知するガスセンサ58〜60を
それぞれ設置し、クリーンルーム全体の空調リターン口
には各ガスの種類毎にガス漏れを検知するガスセンサ6
1〜63が設置されている。これらのガスセンサ61〜
63もガス漏れ監視ホストコンピュータ57に接続され
ている。
【0047】クリーンルームは循環式空調のため、各部
屋A,B,Cの排気は全てリターン口を通過して循環し
ている。そのため、どこかでガス漏れが発生すれば、必
ずリターン口でガス漏れを検知することができる。さら
に、全体のリターン口に設置したガスセンサ61〜63
でガスの種類ごとにガス漏れを検知し、漏れているガス
の種類を確定する。
【0048】正常時は部屋のリターン口のバルブ64〜
66を全て閉じてガスセンサ61〜63を設置したリタ
ーン口を通過しないで循環させ、ガス漏れが発生した場
合は、ガス漏れが発生した部屋のリターン口のバルブの
みを開き、その排気のみがガスセンサ61〜63を設置
したリターン口を通過するようにし、漏れたガスの種類
を確定する。
【0049】各部屋A,B,Cのリターン口に設置した
ガスセンサ58〜60と全体のリターン口に設置したガ
スセンサ61〜63とでガス漏れを検知し、ガス漏れが
発生した部屋と漏れたガスの種類を確定し、接続されて
いるガス漏れ監視ホストコンピュータ57により該当す
るガスボンベのガス遮断装置を閉めることを可能にす
る。
【0050】本実施例のように3部屋で3種類のガスを
使用した場合には、クリーンルームの雰囲気用のガスセ
ンサは従来では9個必要であったものを、本実施例では
6個に削減できる。実際は、部屋数及びガス種共に10
数を越えるので、そのガスセンサの削減数ば大きなもの
となる。
【0051】また、ガス漏れが発生した場合、循環式空
調であるクリーンルームでは、漏れたガスがクリーンル
ーム内を循環し、ガス漏れが発生していない部屋まで及
ぶ恐れがあり、危険である。そこで、ガス漏れを検知し
た場合は、バルブ67を閉め、バルブ68,69を開
き、循環式空調を止める。これにより、リターン口から
の排気を排気ガス処理装置を介してクリーンルーム51
の外に送出し、外気をフィルタ71を介してクリーンル
ーム51内に取り込み、漏れたガスが発生した部屋以外
へガスの流入を防止し、被害を最小限にすることができ
る。
【0052】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、第1の発明
では、例えば瓦斯漏れの発生した半導体素子製造装置を
安全に停止させることができ、供給瓦斯停止となる半導
体素子製造装置それぞれにおいて製品の被害を最小にす
ることが可能となる。
【0053】第2の発明では、複数のガスセンサの指示
濃度比率を使用するのでセンサ数の大幅な削減を可能と
する。
【0054】第3の発明では、瓦斯漏れに該当するガス
ボンベストッカの瓦斯遮断装置を適格に駆動することが
可能となる。
【0055】第4の発明では、これにより、漏れた瓦斯
の種類を確定し、ガス監視用コンピュータにより該当す
る瓦斯の瓦斯遮断装置を的確に駆動し、瓦斯漏れの被害
が大きくならないようにすることができる。
【0056】第5の発明では、瓦斯漏れが発生していな
い部屋に影響を及ばさないようにすることが可能とな
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例に係るクリーンルームのガ
ス監視システムを示す概略図である。
【図2】第1実施例で使用する瓦斯センサと供給瓦斯の
対応表を示す図である。
【図3】第1実施例で使用する瓦斯種と濃度補正係数の
リストを示す図である。
【図4】本発明の第2実施例に係るクリーンルームのガ
ス監視システムを示す概略図である。
【図5】従来におけるクリーンルームのガス監視システ
ムを示すの概略図である。
【図6】従来におけるクリーンルームの他のガス監視シ
ステムを示すの概略図である。
【図7】従来におけるクリーンルームの他のガス監視シ
ステムを示すの概略図である。
【符号の説明】
2〜5 半導体素子製造装置 8〜12 ガスボンベストッカ 19〜24 ガス遮断弁 13〜18 ガスセンサ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松澤 浩 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1 株式会 社東芝多摩川工場内 (72)発明者 千葉 恵里子 神奈川県川崎市川崎区駅前本町25番地1 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 循環式空調のクリーンルーム内に設けら
    れた半導体素子製造装置と、前記半導体素子製造装置を
    管理する製造管理用コンピュータと、前記半導体素子製
    造装置へガス供給を行うガスボンベストッカと、前記ク
    リーンルームの空調リターン口に設けられたガスセンサ
    と、前記ガス供給を遮断するためのガス遮断装置と、ガ
    スセンサからのガス濃度信号が所定値以上となるガス漏
    洩時に前記ガス遮断装置を駆動するガス監視用コンピュ
    ータとを備えたクリーンルームのガス監視システムにお
    いて、 前記ガスセンサからのガス濃度信号が所定値以上となっ
    た場合に、該ガスセンサの反応ガス種リスト及びガス濃
    度補正係数と前記製造管理用コンピュータからの半導体
    素子製造装置の稼働状況及びガス使用状況に関する情報
    により漏洩したガス種及びその場所を推定し、その推定
    情報に基づき前記ガス遮断装置を駆動するガス遮断装置
    駆動手段を前記ガス監視用コンピュータに設けると共
    に、 漏洩したガス種及びその場所の前記推定情報に基づき所
    定の半導体素子製造装置の作動を制御する作動制御手段
    を前記製造管理用コンピュータに設けたことを特徴とす
    るクリーンルームのガス監視システム。
  2. 【請求項2】 クリーンルームの空調リターン口に設け
    られた複数のガスセンサの指示濃度比率を、各ガスセン
    サの反応ガス種及びその補正係数リストと照合し、漏洩
    したガス種及びその場所の前記推定情報を生成するよう
    にしたことを特徴とする請求項1記載のクリーンルーム
    のガス監視システム。
  3. 【請求項3】 循環式空調のクリーンルーム内に設けら
    れた半導体素子製造装置と、前記半導体素子製造装置を
    管理する製造管理用コンピュータと、前記半導体素子製
    造装置へガス供給を行うガスボンベストッカと、前記半
    導体素子製造装置及びガスボンベストッカに設けられた
    ガスセンサと、前記ガス供給を遮断するためのガス遮断
    装置と、ガスセンサからのガス濃度信号が所定値以上と
    なった場合に前記ガス遮断装置を駆動するガス監視用コ
    ンピュータとを備えたクリーンルームのガス監視システ
    ムにおいて、 前記半導体素子製造装置またはガスボンベストッカに装
    着されたガスセンサからのガス濃度信号が所定値以上と
    なった場合に、前記半導体素子製造装置とガスボンベス
    トッカと供給ガスにおける各識別情報の対応リストを参
    照し、その参照結果に基づき前記ガス遮断装置を駆動す
    るガス遮断装置駆動手段と、 前記半導体素子製造装置またはガスボンベストッカに装
    着されたガスセンサからのガス濃度信号が所定値以上と
    なった場合に、該ガスセンサが装着された半導体素子製
    造装置の装置名、漏洩ガス名、供給停止ガス名、及び前
    記ガス遮断装置の駆動により影響を受ける半導体素子製
    造装置の装置名を含むID情報を前記製造管理用コンピ
    ュータに送るID送信手段とを前記ガス監視用コンピュ
    ータに設けると共に、 前記ID情報に基づき所定の半導体素子製造装置の作動
    を制御する作動制御手段を前記製造管理用コンピュータ
    に設けたことを特徴とするクリーンルームのガス監視シ
    ステム。
  4. 【請求項4】 循環式空調のクリーンルーム内の所定の
    部屋に設けられた半導体素子製造装置と、前記半導体素
    子製造装置へガス供給を行うガスボンベストッカと、前
    記クリーンルームの各部屋の空調リターン口にそれぞれ
    設けられたガスセンサと、前記ガス供給を遮断するため
    のガス遮断装置と、前記ガスセンサからのガス濃度信号
    が所定値以上となるガス漏洩時に前記ガス遮断装置を駆
    動するガス監視用コンピュータとを備えたクリーンルー
    ムのガス監視システムにおいて、 前記ガスセンサとして多種類のガスを検知する第1のガ
    スセンサを設置すると共に、クリーンルーム全体の空調
    リターン口には該クリーンルーム内で使用するガスの種
    類ごとに検知する第2のガスセンサを複数個設置し、 前記ガス監視用コンピュータにより、前記ガス漏洩時に
    前記第1のガスセンサでガス漏れ発生の部屋を確定する
    と共に、前記第2のガスセンサで漏れているガスの種類
    を確定し、その確定結果に基づき前記ガス遮断装置を駆
    動するようにしたことを特徴とするクリーンルームのガ
    ス監視システム。
  5. 【請求項5】 前記ガス漏れ時にクリーンルームの循環
    式空調を中断して、このクリーンルーム内の排気を該ク
    リーンルームの外部を送出し、クリーンルームに外気を
    取り入れるようにした請求項4記載のクリーンルームの
    ガス監視システム。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1064503A1 (en) * 1998-03-16 2001-01-03 Asyst Technologies, Inc. Intelligent minienvironment
KR20020080130A (ko) * 2001-04-11 2002-10-23 삼성전자 주식회사 반도체 클린 룸 모니터링용 무선 센서 시스템

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