JPH06247615A

JPH06247615A - 走行体の異常判定方法および装置

Info

Publication number: JPH06247615A
Application number: JP3187893A
Authority: JP
Inventors: Jun Torikai; 潤鳥飼; Takashi Togawa; 孝外川
Original assignee: Toray Industries Inc
Current assignee: Toray Industries Inc
Priority date: 1993-02-22
Filing date: 1993-02-22
Publication date: 1994-09-06

Abstract

(57)【要約】【目的】連続走行体を構成する同一形状の各物体の形
状を直接測定し、隣接物体の特性データとの比較、ま
た、定期的測定による経時的変化を調べることにより異
常物体を早期に発見し、計画的に点検・交換することに
よりフィルム破れを減少させて生産収率を上げると共
に、予防保全、計画保全により労働条件の改善にもつな
がる連続走行体の異常判定方法および装置を提供する。【構成】同一形状の複数の物体を連結して連続的に走
行している走行体の外形を連続的に測定し、この測定し
た個々の物体ならびに隣接する物体について形態上の特
性値を求め、これらの特性値と走行体に応じて定めた所
定の閾値とを比較することにより、走行体を構成する個
々の物体の形状異常を判定する走行体の異常判定方法。
異常判定装置は、複数の物体から基準となる特定の物体
を検出する第一のセンサ20,21と、個々の物体の形態上
の特性を検出する第二ないし第四のセンサ22〜27と、こ
れら各センサによる検出の制御とデータ処理を行う制御
手段40とを備えている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、布用幅出し機，プラス
チックフィルム延伸機，フィルム幅出し機あるいは２軸
延伸機等のテンタクリップを始めとし、同一形状の物体
からなる走行体の異常を判定する走行体の異常判定方法
および装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】例えば、延伸フィルム製造における延伸
加工は、樹脂を融点以下の適当な温度で延伸して分子と
結晶に配向を与え、機械的強度の向上、光学的性質やガ
ス透過性の改善等の未延伸時には得られない性質を付与
するものである。延伸方法は、フィルムを引き伸ばす方
法とフィルム形態とにより幾つかに分類され、例えば、
Ｔダイでフィルムを押出した後、同時二軸延伸装置また
は逐次延伸装置により連続的に延伸するフラットフィル
ム延伸法がある。逐次延伸装置は、ダイから押し出され
たフィルムを冷却ロールで固化させて延伸用原反とし、
この延伸用原反を延伸温度まで加熱してロールにより縦
方向に延伸した後冷却し、次いで当該縦延伸したフィル
ムの両端をテンタクリップで把持して横延伸装置に導入
し、加熱下で横方向に延伸し、引き続き緊張のまま適当
な温度で熱処理して配向を固定した後両端の未延伸部を
除去して巻取機に巻き取るものである。

【０００３】テンタクリップによるフィルム等の把持装
置としては、図１１及び図１２に示すような構成のもの
がある。図１１及び図１２において左右一対のテンタク
リップ１、１は、夫々レール２、２上に相対して摺動可
能に配設された一対のクリップ台３、３上に取り付けら
れており、クリップ台３、３は、テンタ８の入口部８ａ
から出口部８ｂに向かって所定の速度で移動し、出口部
８ｂで１８０°反転して入口部８ａに戻るようになって
いる。クリップ本体４は、クリップ台３に載置固定され
ており、ベース４ａからアーチ形に起立した起立部を有
し、当該起立部の上端には、支軸５によりクリップレバ
ー６の略中央部が回動可能に支持されている。

【０００４】クリップレバー６は、上部６ａとクリップ
本体４との間に張設されたスプリング１２のばね力によ
り実線で示す位置に回動され、下部６ｂのエッジ６ｃと
クリップ本体４のベース４ａに配設されたライナ７との
間でフィルム１１の両側端部（耳部）を把持するように
なっている。また、テンタ８の出口部８ｂ、入口部８ａ
にはクリップオープナ９ａ、９ｃ、クリップクローザ９
ｂ、９ｄ及びウエアリング１０ａ、１０ｂが設けられて
いる。

【０００５】フィルム１１は、左右両側端部がクリップ
レバー６、６の各エッジ６ｃ、６ｃとライナ７、７との
間に把持され、レール２、２上を摺動するクリップ台
３、３と共に移動し、テンタ８を通過する間に横（左
右）に所定の倍率に延伸される。左右のクリップレバー
６、６は、各上部６ａ、６ａがテンタ８の出口部８ｂの
クリップオープナ９ａ、９ａ及びウエアリング１０ａに
接触するとスプリング１２、１２のばね力に抗して図１
１に２点鎖線で示すように回動し、フィルム１１の両側
端部の把持を解除し、当該フィルム１１を次工程に送り
出す。

【０００６】次いで、左右のテンタクリップ１、１が夫
々１８０°方向転換し、クリップレバー６、６の上部６
ａ、６ａがウエアリング１０ａ及びクリップクローザ９
ｂ、９ｂに接触すると、これらのクリップレバー６、６
がスプリング１２、１２のばね力により図１１の実線の
位置に回動復帰する。一方、テンタ８の入口部８ａにお
いてクリップレバー６、６は、上部６ａ、６ａがクリッ
プオープナ９ｃ、９ｃとウエアリング１０ｂとにより図
１１に示す２点鎖線の位置まで回動され、次いで、上部
６ａ、６ａがクリップクローザ９ｄ、９ｄと接触する
と、再び実線で示す位置に復帰してフィルム１１の両側
端部を把持する。このようなテンタクリップ１は、テン
タ１台当たり数百乃至数千個（５００〜２５００個程
度）使用され、互いに連結されてクリップチェーン１７
を形成している。

【０００７】ところで、フィルム１１が搬送途中で蛇行
したり、長手方向で幅が変化した場合、テンタ８の入口
部８ａの間隔が一定であると正しくフィルム１１のエッ
ジを把持することが出来なくなり、この結果、フィルム
１１が破れたり、ひどい場合には装置に巻き込まれて故
障の原因となる。そこで、テンタ８の入口部８ａ即ち、
左右のウエアリング１０ｂ、１０ｂ、クリップオープナ
９ｃ、９ｃ、クリップクローザ９ｄ、９ｄ及び入口部の
レール２、２を夫々セルベージガイダ１５、１５上に設
置し、各支点１６、１６を中心として回動可能として入
口部８ａの間隔を調整可能とし、更に各セルベージガイ
ダ１５のフィルム１１がオープン状態のテンタクリップ
１、１のクリップレバー６、６とライナ７、７との間に
把持される直前位置にエッジセンサ（図示せず）を配設
して常時フィルム１１のエッジを監視し、当該フィルム
１１の幅が狭くなったときには左右のセルベージガイダ
１５、１５を内側に回動させ、フィルム１１の幅が広く
なったときにはセルベージガイダ１５、１５を外方に回
動させ、左右のテンタクリップ１、１が常にフィルム１
１の左右のエッジを正しく把持するように制御してい
る。

【０００８】また、このテンタクリップ１はフィルムの
把持を確実に行なう必要があるが、生産機ではこのテン
タクリップ１をテンタ８の１台当り５００〜２５００個
使用するのが通常であるので、長時間の運転後には多数
のテンタクリップ１の中にはガタ、ユルミ、機械的損
耗、バネのヘタリ等が生じてフィルム１１の把持不良を
起こすものがでてくる。

【０００９】また、隣接するテンタクリップ１を連結す
る連結ピンにも同様な現象が生じ、クリップチェーン全
体の長さに伸びが生じたり、左右のクリップの位相がズ
レたりしてくる。このようなクリップの把持不良、クリ
ップチェーンの伸び、位相ズレはフィルムの搬送を不安
定にし、フィルム破れを引き起こす要因となる。

【００１０】このクリップの把持不良対策として特公平
４−５１４５８号公報に開示されているごとく、テンタ
出口にフィルム耳部の把持跡状態を検知するフィルム把
持検出器を設け、該フィルム把持検出器からの信号と予
め設定された良否判定基準とを比較してフィルム把持状
態の良否を判定し、フィルムが破れる前に不良クリップ
を発見する方法が知られている。

【００１１】また、クリップチェーンの異常監視方法と
しては、本発明者等による特願平５−３７０１号に開示
されているごとく、クリップ通過検知センサをテンタ内
に設け、先頭クリップより順次各クリップの通過時刻を
調べ、このデータに基づいてクリップチェーンの異常を
検出する方法が知られている。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】しかし、特公平４−５
１４５８号公報に開示されている方法は、フィルム耳部
にクリップによってつけられた把持跡状態の変化でクリ
ップの良否を判定しているため、フィルムの厚さ，品
種，生産条件が変わると把持跡状態が大きく変化し、ま
た、個々のクリップによる把持跡データもバラつくの
で、これらの変化の範囲を大きく超えたものしか異常と
判定できず、フィルムが破れる以前に不良クリップを検
出するという予防保全の効果は小さかった。

【００１３】また、本発明者等による特願平５−３７０
１号に開示されている方法は、クリップ連結ピンの損耗
によるクリップチェーンの不良は早期に検出できるが、
クリップそのものの良否判定は行なえなかった。そのた
め、クリップ起因でフィルムに破れが発生すると、クリ
ップの点検、異常クリップの特定、交換に時間がかか
り、生産収率が低下すると共に、突発的な破れ対策とし
て保全要員の確保、常時待機等の労務上の問題もあっ
た。

【００１４】本発明は上述の点に鑑みてなされたもので
あり、走行体を構成する同一形状の各物体の形状を直接
測定し、隣接物体の特性データとの比較、また、定期的
測定による経時的変化を調べることにより異常物体を早
期に発見し、計画的に点検・交換することによりフィル
ム破れを減少させて生産収率を上げると共に、予防保
全、計画保全により労働条件の改善にもつながる走行体
の異常判定方法および装置を提供することを目的とする
ものである。

【００１５】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の走行体の異常判定方法においては、同一形
状の複数の物体を連結して連続的に走行している走行体
の外形を連続的に測定し、この測定した個々の物体なら
びに隣接する物体について形態上の特性値を求め、これ
らの特性値と前記走行体に応じて定めた所定の閾値とを
比較することにより、前記走行体を構成する個々の物体
の形状異常を判定する構成としたものである。

【００１６】好ましくは、前記形態上の特性値を、測定
した個々の物体についての前記測定値の平均値差，傾き
差，段差とする。また、本発明の走行体の異常判定装置
においては、同一形状の複数の物体を連結して連続的に
走行している走行体の外形を連続的に測定して個々の物
体の形状異常を判定する装置において、複数の物体から
基準となる特定の物体を検出する第一のセンサと、個々
の物体の形態上の特性を検出する第二ないし第四のセン
サと、これら各センサによる検出の制御とデータ処理を
行う制御手段とを備えた構成としたものである。

【００１７】ここで、走行体に関して測定すべきデータ
は、そのデータが走行体の形態を表す特性値として有効
であるものなら何でも良い。例えば、フィルム延伸工程
におけるテンタクリップでは、クリップレバー６のエッ
ジ６ｃとベース４ａに配設されたライナ７との間でフィ
ルム１１を把持するのであるから、ライナ７の表面に傷
がついたり、ライナ７の水平度が狂ったりしてくると均
一な把持ができなくなる。

【００１８】そこで、ライナ７の表面高さや表面状態
を、例えばレーザ式変位計あるいは差動トランス方式変
位計等を用いて測定すると良い。また、同様に、クリッ
プレバー６のエッジ６ｃとベース４ａに配設されたライ
ナ７との間で、フィルムエッジを把持するわけである
が、ライナ７上のどの位置でフィルムエッジを把持して
いるかは、非常に重要である。

【００１９】例えば、クリップレバー６を回動可能に支
持している支軸５の中に装着されたブッシュが磨耗して
くるとフィルムエッジの把持位置が変化したり、把持力
が変化し、テンタ内で延伸した時にフィルム破れの原因
となる。そこで、クリップレバー６のエッジ６ｃとライ
ナ７との相対位置を、例えば２台のレーザ式変位計、あ
るいは差動トランス方式変位計等を用いて測定すると良
い。

【００２０】なお、これらの測定は、フィルム製造時に
行なっても良いが、測定に使用するセンサの応答周波数
に上限があり、100ｍ／min以上のライン速度では必要な
分解能が得られないことがある。そこで、品種切替、定
期点検等の時に、テンタクリップを10〜30ｍ／minの低
速で走行させながら測定すると、必要な分解能を得るこ
とができる。

【００２１】ここで、測定されたデータは、例えば、ク
リップのライナ７の表面高さであれば１点のデータでは
なく、ライナ７の幅に相当する長さだけ連続した連続デ
ータになる。これらの連続データは、レコーダに記録し
て目視により判定しても良いが、パーソナルコンピュー
タ等の電子制御手段を利用してデータ処理する方が精度
の向上、所要時間の短縮、所要労力の軽減等の点で好ま
しい。

【００２２】電子制御手段を利用してデータ処理する場
合は以下のように行う。センサで測定されたデータはＡ
／Ｄ変換されて電子制御装置に取り込まれるが、１つの
クリップに関するデータだけで数十〜数百の数になる。
これらのデータを数百〜数千に及ぶクリップ全てについ
て記憶するのはメモリの容量、アクセス時間を考えると
得策ではない。

【００２３】そこで、各クリップに関する測定データを
いくつかの特性値で代表させることが必要になる。例え
ば、前述のライナ７の表面高さの場合は１つのクリップ
に関して得られた数十〜数百のデータの平均値（＝その
クリップのライナ表面高さ）、傾き（＝そのクリップの
ライナの傾き）、最高値−最小値（＝傷などがあった場
合のピーク値）、等を求めれば数十〜数百のデータを数
個の特性値に圧縮でき、数百〜数千に及ぶクリップ全て
について記憶することができる。

【００２４】これらの特性値に対して予め定めておいた
閾値と比較することによって異常なクリップの発生を徴
候の段階でとらえることができる。また、クリップ起因
のフィルム破れは、単独のクリップに起因する場合と、
隣接したクリップ間の違いによって発生する場合とがあ
る。そこで、各クリップの特性値として得られた平均
値、傾きの差及び隣接部段差を隣接クリップ間の違いを
表す特性値として求め記憶し、これらの特性値に対して
予め定めておいた閾値と比較することによって異常なク
リップの発生を早期に検出することができる。

【００２５】更に、これら一連の測定、データ処理、記
憶という操作を定期的に実施し、同一クリップに対する
特性値の経時的変化を求め、予め定めておいた閾値と比
較することによって劣化が進んでいるクリップの同定を
容易に行なうことができる。

【００２６】

【作用】連続して走行している同一形状物体の外形を連
続的に測定し、これらの測定データを演算処理して各物
体の特徴を表すいくつかの特性データとして代表させ
る。また、隣接する物体間の特性値の差を求め、これも
特性データの１つとする。これらの特性データを所定の
閾値と比較することにより走行体の異常を判定する。ま
た、これら走行体がエンドレスで周回走行している場合
には、各物体を同定してその特性データを記憶し、定期
的に一連の測定を行ない、経時変化を調べることによっ
て走行体の異常を判定する。

【００２７】

【実施例】以下、本発明方法の走行体の異常判定方法お
よび装置を用い、プラスチックフィルム延伸機における
テンタクリップの異常を判定する一実施例を、図１ない
し図１０に基づいて説明する。なお、図１１及び図１２
と同一部材には同一符号を付してその説明を省略する。

【００２８】図１は、走行体の異常判定装置の概略構成
を示すブロック図で、異常判定装置は、テンタ８に設け
られる各種センサ２０〜２７と、これらセンサ２０〜２
７とは別個に設けられる制御手段４０とを備えており、
制御手段４０は、アナログ−ディジタル変換器（以下、
「Ａ／Ｄ変換器」という）４１、コンピュータ（ＥＣ
Ｕ）４２、タイマ４３、揮発メモリ４４および不揮発メ
モリ４５を有している。

【００２９】また、図２は、テンタ８に設けられる各種
センサ２０〜２７の配置を示し、テンタ８のフィルム１
１の左右両側にクリップチェーン１７，１７があり、こ
れらのクリップチェーン１７，１７は矢印のように移動
してフィルム１１をテンタ入口部８ａから出口部８ｂ方
向に搬送する。クリップチェーン１７，１７が入口部８
ａに戻ってくる手前の左右のウエアリング１０ｂ，１０
ｂに近接して先頭クリップセンサ２０，２１が配置され
ており、クリップチェーン１７の移動方向に従ってライ
ナ表面高さセンサ２２，２３、エッジ位置センサ２４，
２６及びライナ位置センサ２５，２７が所定の間隔で配
置されている。

【００３０】先頭クリップセンサ２０，２１はクリップ
チェーン１７，１７を構成する一連のクリップの中から
基準となる特定のクリップ、即ち、先頭クリップを検出
し、ライナ表面高さセンサ２２，２３はクリップのライ
ナ７の表面高さを測定し、エッジ位置センサ２４，２６
はクリップのエッジ６ｃの位置を、ライナ位置センサ２
５，２７はクリップのライナ７の位置を各々測定する。

【００３１】先頭クリップには物理的なマークをつける
ことにより容易に同定が可能である。このような先頭ク
リップセンサとしては、例えば、クリップ表面に小孔を
開けたり、表面を部分的に鏡面にして反射率を上げる等
により、光電式センサを使用することができる。また、
先頭クリップに機械的な凹凸を付加することにより、先
頭クリップセンサとして、渦電流式，超音波式センサを
使用することもできる。更に、先頭クリップに機械的な
突起を設けることにより、接触式センサも使用すること
ができる。

【００３２】ライナ表面高さセンサ２２，２３は、ライ
ナ表面の微小な高さ変化を検出するために測定面積が小
さく、測定精度が高いものが望ましい。このようなセン
サとしては、微小な接触子を使用する接触式の差動トラ
ンス方式変位センサ、微小なレーザスポットを対象物に
照射して反射してくるスポットの位置で変位を測定する
非接触式のレーザ変位計等が使用できる。

【００３３】また、エッジ位置センサ２４，２６やライ
ナ位置センサ２５，２７は、それぞれクリップの移動方
向に対して垂直な方向でのエッジ６ｃ、ライナ７の位置
変化を測定するものであるから、ライナ表面高さセンサ
２２，２３と同様に微小な接触子を使用する接触式の差
動トランス方式変位センサ、微小なレーザスポットを対
象物に照射して反射してくるスポットの位置で変位を測
定する非接触式のレーザ変位計等が使用できる。

【００３４】上記センサ２０〜２７のそれぞれから出力
される各アナログ信号は、図１のＡ／Ｄ変換器４１に入
力され、ディジタル信号に変換されてコンピュータ４２
に入力される。コンピュータ４２は、オペレータによる
指示を受けて先頭クリップ検知を行い、以降各センサ２
２〜２７の信号をタイマ４３からのタイミングパルスに
従ってＡ／Ｄ変換し、１周期分のデータを揮発メモリ４
４に取り込む。また、コンピュータ４２は、揮発メモリ
４４に取り込んだデータを処理して各クリップの特性値
を求め、所定の閾値と比較して良否判定を行ない、表示
出力すると共に、各クリップの特性値と良否判定結果を
ハードディスク等の不揮発メモリ４５き込む。さらに、
コンピュータ４２は、オペレータの指示により、過去の
測定データとの経時変化を調べ、クリップの良否判定を
行なう場合もある。

【００３５】ここで、所定の閾値は、例えば、定期点検
直後等の正常状態での測定値、経時変化による変化分お
よび個々のクリップによる測定値のバラつき等を考慮し
て定める。タイマ４３は、現在の時刻を示すと同時に、
各センサからのデータをＡ／Ｄ変換して取り込むタイミ
ングパルスを発生する。なお、タイマーはコンピュータ
４２内蔵のものを使用しても良い。

【００３６】以下、図３および図４に示すフローチャー
トを参照しつつさらに詳細にデータ取込みについて説明
する。オペレータよりの測定開始の指示が来ると、制御
手段４０のコンピュータ４２に内蔵されているプログラ
ムが起動し、予め記憶しておいたデータやオペレータに
よって入力されたデータに基づいて測定条件を定め、各
変数の値を初期値にセットする（ステップＳ１）。

【００３７】例えば、クリップの幅を100 mm、クリップ
間の間隔を２５mm，全クリップの個数を1000個、クリッ
プ移動速度を３０ｍ／min とすると、１mm間隔でデータ
を取り込むためにタイマ４３がＡ／Ｄ変換器４１に出力
すべきＡ／Ｄ取込間隔時間ｔは、３０ｍ／min が(30×1
000)／(60×1000)mm／msecであるから、ｔ＝(60×1000)／(30×1000)＝２msec となり、全クリップが１周するのに必要な時間は、 (100＋25)×1000／(30×1000／60) ＝250sec となるので、クリップ間の間隔が伸びた場合を想定して
少し多めの260secを測定時間Ｔ₀ とする。また、累積測
定時間Ｔ_A は、測定開始時であるから０にセットする。

【００３８】これらの測定準備が終了するとステップＳ
２に移り、先頭クリップセンサ２０，２１からの信号を
待つ。先頭クリップセンサ２０，２１からの信号を受け
取ると実際の測定が開始され、タイマ４３からＡ／Ｄ取
込間隔時間ｔ毎にタイミングパルスが出され（ステップ
Ｓ３）、この信号に従ってライナ表面高さセンサ２２，
２３の出力取込み（ステップＳ４）、エッジ位置センサ
２４，２６の出力取込み（ステップＳ５）、ライナ位置
センサ２５，２７の出力取込み（ステップＳ６）の一連
のＡ／Ｄ変換による信号取込みが実行される。

【００３９】次に、累積測定時間Ｔ_A にＡ／Ｄ取込間隔
時間ｔが加算され（ステップＳ７）、この加算時間Ｔ
（＝Ｔ_A ＋ｔ）が測定時間Ｔ₀ と比較され、ＴがＴ₀ よ
り小であればステップＳ３に戻る（ステップＳ８）。ス
テップＳ８でＴ＝Ｔ₀ になると一連の測定が終了する。
この時点で取り込まれたデータは制御手段４０の揮発メ
モリ４４上に存在するが、これらのデータは単なるデー
タの羅列であり個々のクリップに対応したデータにはな
っていない。

【００４０】そこでまず、一連のデータのうち、どの部
分のデータが何番目のクリップに対応しているのかを分
別し、個別クリップデータの同定を行なう（ステップＳ
９）。この個別クリップデータの同定に関する詳細は後
述する。個別クリップデータの同定が終了すると各クリ
ップに対して平均高さ（ステップＳ１０）、傾き（ステ
ップＳ１１）、最高値と最小値の高低差（ステップＳ１
２）が求められ、隣接しているクリップ間の高さ差（ス
テップＳ１３）、傾き差（ステップＳ１４）、段差（ス
テップＳ１５）が求められる。

【００４１】これら一連のクリップ特性データが求まる
と、予め定めておいた閾値と各特性データを比較して個
別クリップの良否が判定される（ステップＳ１６）。こ
の結果は表示され、オペレータの指示により印刷され
（ステップＳ１７）、最後に不揮発メモリ４５に書き込
まれて（ステップＳ１８）測定が終了する。次に、一連
のデータのうち、どの部分のデータが何番目のクリップ
に対応しているか、個別クリップデータの同定の仕方
（図４、ステップＳ９）を図５〜図８を参照して説明す
る。

【００４２】図５は測定したデータのうちの１つ、例え
ば、ライナ表面高さのデータをモデル的に示したもので
ある。横軸は時間で、縦軸はセンサ出力（Ｖ）を示して
いる。センサの出力は図５に実線で示すように連続して
おり、ライナ表面部で高い値を、クリップ間の間隙で低
い値を持つ矩形波的な信号が得られる。

【００４３】しかし、Ａ／Ｄ変換によるデータ取込み
は、Ａ／Ｄ取込間隔時間ｔ毎の間欠測定であるので、実
際に制御手段４０のコンピュータ４２に取り込まれたデ
ータは図５に○印で示した点のデータである。この○印
の点のデータの中から個別クリップに対応する部分を同
定するためには、まず、個別クリップデータの立上りエ
ッジ点を求め、次に立下りエッジ点を求め、この立上り
エッジ点と立下りエッジ点の間を個々のクリップに対応
するデータとし、順次番号付けを行なえば良い。

【００４４】すなわち、図８に示すフローチャートにお
いて、ステップＳ９１で変数の初期化を行ない、図５の
○印で示された生データの差分値Δを次式から求める
（ステップＳ９３）。 Δ＝〔生データ〕_i+1−〔生データ〕_i この差分値Δが所定の傾き１より大きければ、まだ急峻
に立上っている部分なのでステップＳ９２に戻り、１つ
先の生データを見る（ステップＳ９４）。

【００４５】もし、差分値Δが所定の傾き１より小さく
なれば、図６に示すように急峻な立上り部から平坦なク
リップのライナ部に入ったことを示すので、その点をＮ
Ｕ番目のクリップデータの立上りエッジ点Ｐ_U とする
（ステップＳ９５）。このとき、ステップＳ９５におい
ては、ＮＵ＝ＮＵ＋１，〔立上りエッジ〕_NU=i+1とな
る。

【００４６】次に、さらに１つ先の生データとの差分値
Δを次式から求める（ステップＳ９７）。 Δ＝〔生データ〕_i+1−〔生データ〕_i この差分値Δを傾き２と比較し（ステップＳ９８）、こ
れが傾き２よりも小さくなれば図７に示すように平坦な
クリップのライナ部からクリップ間の間隙部へ立下るこ
とを意味するので、この点をＮＤ番目のクリップデータ
の立下り点Ｐ_Dとする（ステップＳ９９）。このとき、
ステップＳ９９においては、ＮＤ＝ＮＤ＋１，〔立上り
エッジ〕_ND=iとなる。

【００４７】この一連の操作を全生データに対して行な
えば、全てのクリップに対応するデータを定めることが
できる。つまり、Ｎ番目のクリップに対応するデータ
は、生データの立上りエッジＮから立下りエッジＮの部
分であり、この間のデータの平均値を求めればＮ番目の
クリップの平均高さが求まり（図４、ステップＳ１
０）、このデータに対して最小自乗法により直線近似を
行なえばＮ番目のクップの傾きが求まり（図４、ステッ
プＳ１１）、このデータの中の最高値と最小値の差を求
めればＮ番目のクリップの高低差（図４，ステップＳ１
２）が求まる。

【００４８】更に、生データの立上りエッジＮ＋１から
立下りエッジＮのデータを引くと隣接クリップ段差（図
４、ステップＳ１５）が得られる。次に、これら一連の
測定結果に対して、過去の測定データとの経時変化に関
する調べ方を図９のフローチャートを参照しながら説明
する。まず、クリップ１周分の全クリップに関する特性
データのうち、最新のデータを基点として過去数回から
１０回分のデータを読み込む（ステップＳ６１）。

【００４９】このデータを、クリップナンバを横軸に、
特性値を縦軸としてモデル的にグラフ表示すると図１０
のようになる。図１０において実線Ｉが最新のもので、
以下実線II,III,IVの順に時系列的に古いものであり、
このグラフから特性値の変化が大きなクリップがすぐに
判り、オペレータが適切な処置をとることができる。な
お、図１０のグラフ表示はあくまで一例であり、３次元
表示などより判り易いグラフ表示にすると、オペレータ
の判断を助けることができる。

【００５０】更に、オペレータの判断に依存せず、定量
的に判断を行なうためには、同一クリップの経時的な変
化を演算する（ステップＳ６２）。次に、この経時的な
変化値と所定の閾値を比較することによりクリップの良
否を判定し（ステップＳ６３）、オペレータに表示し、
出力し（ステップＳ６４）、終了する。

【００５１】このようにしてクリップ特性値の経時的変
化を調べることにより、劣化の徴候を初期の段階でとら
えることができる。前述した走行体の異常判定装置を用
い、クリップ幅100 mm、クリップ間隔２５mmのクリップ
1000個が連結されたフィルムテンタにおいて、差動トラ
ンス方式の接触式変位計（アンリツ電気（株）社製，電
子マイクロメータＫ１０４Ｂ）を用いてライナ表面高さ
を測定した。

【００５２】この結果、クリップの傾きと隣接クリップ
の傾き差の２つの指標で異常と判定されたクリップを取
り外して調べたところ、クリップ間を連絡している連絡
ピンが片減りし、移動方向にクリップ端部が持ち上がっ
た形で走行していたことが判った。また、前記と同じフ
ィルムテンタにおいてレーザ変位計（オムロン社製，３
Ｚ４Ｍ）を用いてライナ表面高さを測定した。

【００５３】その結果、ライナ高さの高低差異常と判定
されたクリップを取り外して調べたところ、ライナ７を
クリップ１に取りつけているリベットが緩んでいること
が判った。さらに、前記と同じフィルムテンタにおいて
クリップ閉の状態にし、２台のレーザ変位計（オムロン
社製，３Ｚ２Ｍ）を用い、１台でエッジの位置を、他の
１台でライナの位置をそれぞれ測定した。

【００５４】その結果、ライナ位置と、ライナ位置とエ
ッジ位置の差の２つの指標で異常と判定されたクリップ
を取り外して調べたところ、クリップレバー６を回動可
能に支持している支軸５の中に装着されたブッシュが磨
耗し、正常位置よりもエッジ６ｃが前に飛出しているこ
とが判った。

【００５５】

【発明の効果】以上説明したように本発明の走行体の異
常判定方法および装置によれば、走行体の形状を直接測
定し、各走行体の特性値を求め、各特性値による良否判
定のみならず隣接する走行体間の特性値の比較、また、
定期測定による経時変化による良否判定により、走行体
の異常を早期に発見し、計画的に点検、保全することに
よりフィルム破れ等の工程異常を防止して生産収率を上
げると共に、予防保全、計画保全が実行可能となり、保
全要員の削減、緊急呼出のための待機の廃止など労働条
件の改善等の優れた効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の走行体の異常判定方法および装置を説
明するもので、走行体の異常判定装置の概略構成を示す
ブロック図である。

【図２】図１に示す走行体の異常判定装置におけるセン
サの配置を示す平面図である。

【図３】本発明によるテンタクリップの測定方法の手順
を示す第一のフローチャートである。

【図４】本発明によるテンタクリップの測定方法の手順
を示す第二のフローチャートである。

【図５】テンタクリップの測定において得られた原デー
タより個別クリップに対応する部分を同定する方法を示
す模式図である。

【図６】図５に示すデータに基づいて、クリップデータ
の立上りエッジ点の求め方を示す模式図である。

【図７】図５に示すデータに基づいて、クリップデータ
の立下りエッジ点の求め方を示す模式図である。

【図８】図５〜図７の手順を示すフローチャートであ
る。

【図９】定期測定によって得られたデータを用いて特性
値の経時変化を測定する手順を示すフローチャートであ
る。

【図１０】特性値の経時変化の表示例を示すグラフであ
る。

【図１１】テンタによりクリップがフィルムを把持した
状態を示す断面図である。

【図１２】図１１のテンタの概要を示す平面図である。

【符号の説明】

１テンタクリップ２レール３クリップ台４クリップ本体５支軸６クリップレバー６ａ上部６ｂ下部６ｃエッジ７ライナ８テンタ８ａ入口部８ｂ出口部９ａ，９ｃクリップオープナ９ｂ，９ｄクリップクローザ１０ａ，１０ｂウエアリング１１フィルム１２スプリング１５セルベージガイダ１６支点１７クリップチェーン２０，２１先頭クリップセンサ（第一のセン
サ）２２，２３ライナ表面高さセンサ（第二のセン
サ）２４，２６エッジ位置センサ（第三のセンサ）２５，２７ライナ位置センサ（第四のセンサ）４０制御手段４１アナログ−ディジタル変換器４２コンピュータ（ＥＣＵ）４３タイマ４４揮発メモリ４５不揮発メモリ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】同一形状の複数の物体を連結して連続的
に走行している走行体の外形を連続的に測定し、この測定した個々の物体ならびに隣接する物体について
形態上の特性値を求め、これらの特性値と前記走行体に応じて定めた所定の閾値
とを比較することにより、前記走行体を構成する個々の
物体の形状異常を判定することを特徴とする、走行体の
異常判定方法。
【請求項２】前記形態上の特性値が、測定した個々の
物体についての平均値，傾き，最高・最小値および隣接
する物体についての前記測定値の平均値差，傾き差，段
差である、請求項１記載の走行体の異常判定方法。
【請求項３】同一形状の複数の物体を連結して連続的
に走行している走行体の外形を連続的に測定して個々の
物体の形状異常を判定する装置において、複数の物体か
ら基準となる特定の物体を検出する第一のセンサと、個
々の物体の形態上の特性を検出する第二ないし第四のセ
ンサと、これら各センサによる検出の制御とデータ処理
を行う制御手段とを備えたことを特徴とする、走行体の
異常判定装置。