JPH06244078A - 露光装置 - Google Patents

露光装置

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JPH06244078A
JPH06244078A JP5050157A JP5015793A JPH06244078A JP H06244078 A JPH06244078 A JP H06244078A JP 5050157 A JP5050157 A JP 5050157A JP 5015793 A JP5015793 A JP 5015793A JP H06244078 A JPH06244078 A JP H06244078A
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、露光装置において、デバイスに応じ
た露光原板の設計に要する時間を従来に比して一段と短
縮する。 【構成】位置決め手段15A〜15D内に新たに位置合
わせマークの露光用光学系16A〜16Dを設け、当該
露光用光学系16A〜16Dにより位置合わせマークを
被露光基板13上に露光すると共に、位置合わせ光学系
17A〜17Dによつて位置合わせマークを検出し、第
1のパターンと第2のパターンを位置合わせするように
する。これによりユーザは露光原板の設計の際、位置合
わせマークの配置位置を考慮することなく本来の露光対
象である第2のパターンの設計に専念でき、露光原板の
設計に要していた手間を従来に比して格段的に軽減する
ことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【目次】以下の順序で本発明を説明する。 産業上の利用分野 従来の技術 発明が解決しようとする課題(図9〜図12) 課題を解決するための手段(図1、図2、図4) 作用(図3、図5〜図8) 実施例(図1〜図8) 発明の効果
【0002】
【産業上の利用分野】本発明は露光装置に関し、例えば
液晶デイスプレイの製造に用いられる露光装置に適用し
て好適なものである。
【0003】
【従来の技術】従来、半導体基板やガラス基板上に設計
パターンを順次露光し、各種のデバイスを製造するこの
種の露光装置においては、基板上に既存するパターンと
次工程の設計パターンとの位置合わせに用いられるマー
ク(すなわちアライメントマーク)を設計パターンと同
じ光学系を用いて基板上に露光するようになされてい
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところでこのアライメ
ントマークは位置合わせ精度を向上させるためにも設計
パターンにできるだけ近い位置、可能であれば設計パタ
ーン内に形成されることが望ましいのであるが、液晶デ
イスプレイのように設計パターン(すなわち画素部)内
にアライメントマークを形成することができない場合に
は、基板のうち設計パターンの周辺領域にアライメント
マークを配置しなければならない。
【0005】しかしアライメントマークを形成すること
ができる位置は、設計パターンの大きさやレイアウト、
また基板の大きさによつてそれぞれ異なり(例えば図9
において斜線で示す領域や図10において十字マークで
示す位置)、デバイスの変更の度にアライメントマーク
の配置位置を考慮して露光原板のパターンを設計しなけ
ればならなかつた。
【0006】またアライメントマークの配置位置が決定
しても一枚の基板上に複数のデバイスパターンA1〜A
4を隣接するように配置する場合には、レチクル1上に
形成された設計パターンAの上下位置に形成された一対
のアライメントマーク2及び3を一度に露光すると、ア
ライメントマーク2及び3の一方が他のデバイスパター
ンA1、A2及びA3、A4のパターン中に形成される
ため、露光位置に応じてアライメントマーク1又は2の
いずれかを選択的に露光しなければならない(図1
1)。
【0007】しかしこの場合には、レチクル上で異なる
位置に配置されたアライメントマーク2及び3を用いる
ことになるためレンズデイストーシヨンの影響によつて
アライメント精度の低下を回避することができなかつ
た。そこで基板を保持するステージを移動させながら、
レチクル上の同じ位置に形成されたアライメントマーク
3を逐次露光することによつてレンズデイストーシヨン
の影響をなくすことが考えられるが(図12)、この場
合には基板のサイズが大きくなるに伴つてアライメント
マークの露光に必要なステージの移動距離が長くなるた
め1枚の基板を露光するのに必要な時間が長くなる問題
があつた。
【0008】またこの場合には、基板のサイズが同じで
も高い位置合わせ精度を得るために使用するアライメン
トマークの数を多くすると、その分1枚の基板を露光す
るのに必要な時間が長くなる問題があつた。
【0009】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、デバイスの設計に要する時間を短縮することがで
き、また位置合わせマークの露光に要する時間を従来に
比して一段と短縮することができる露光装置を提案しよ
うとするものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、被露光基板13上に形成された第
1のパターンと露光原板11上に形成された第2のパタ
ーンとを位置決めする複数の位置決め手段15A〜15
Dと、当該第2のパターンを第1のパターン上に重ねて
露光する投影光学系12とを備えた露光装置において、
位置決め手段15A〜15Dはそれぞれ、投影光学系1
2とは別の光学系でなり、位置決めの基準となる位置合
わせマーク30A〜30Dを被露光基板13上に露光す
る露光用光学系16A〜16Dと、少なくとも露光用光
学系16A〜16D内の、被露光基板13に対する対物
光学系の光軸と光軸を同じくし、位置合わせマーク30
A〜30Dを検出することによつて第1のパターンと第
2のパターンとを位置合わせする位置合わせ用光学系1
7A〜17Dとを設けるようにする。
【0011】また本発明においては、位置決め手段15
A〜15Dの位置はそれぞれ、位置合わせマーク30A
〜30Dの位置に応じ、投影光学系12に対して任意の
位置に移動する移動手段を設けるようにする。
【0012】
【作用】位置決め手段15A〜15D内に新たに設けら
れた露光用光学系16A〜16Dにより位置合わせマー
ク30A〜30Dを被露光基板13上に露光し、次に位
置合わせ光学系17A〜17Dによつて位置合わせマー
ク30A〜30Dを検出し、第1のパターンと第2のパ
ターンを位置合わせする。これによりユーザは露光原板
の設計の際、位置合わせマーク30A〜30Dの配置位
置を考慮することなく本来の露光対象である第2のパタ
ーンの設計に専念でき、露光原板の設計に要していた手
間を従来に比して格段的に軽減することができる。
【0013】またこのとき位置決め手段15A〜15D
内の露光用光学系16A〜16Dと位置合わせ用光学系
17A〜17Dの光軸は互いに同じであるため、被露光
基板13上に形成された位置合わせマーク30A〜30
Dと置合わせ用光学系17A〜17Dの相対位置は一致
する。従つて複数の位置合わせマーク30A〜30Dに
ついて一度に位置合わせでき、従来に比して位置合わせ
に要する時間を一段と短縮することができる。
【0014】
【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。
【0015】図1において、10は全体として投影露光
装置を示し、レチクル11上に形成された設計パターン
11Aを投影レンズ12を介して基板13上に投影する
ようになされている。また投影露光装置10は、投影レ
ンズ12を取り囲む位置に固定された複数組(本図では
4組)の位置合わせ用光学系15A〜15Dを有し(図
2)、これら4組の位置合わせ用光学系15A〜15D
を基板13上へのアライメント用レチクルパターンの露
光と、基板13の位置合わせに共用するようになされて
いる。
【0016】ここで位置合わせ用光学系15A〜15D
は、それぞれ対物光学系の光軸を同一とする光学系によ
つて構成される露光部16A〜16Dと位置合わせ部1
7A〜17Dによつてなり、ビームスプリツタ18A〜
18Dを介してレチクルパターンを露光し、又は基板1
3上の既存するデバイスパターンと次層の設計パターン
が所定の位置関係になるように位置合わせするようにな
されている。この露光部16A〜16Dと位置合わせ部
17A〜17Dは、それぞれ次のように構成されてい
る。
【0017】すなわち露光部16A〜16Dは、露光用
の光源19A〜19Dとシヤツタ20A〜20D、さら
にレチクル21A〜21Dによつて構成されている。こ
こでシヤツタ20A〜20Dは露光動作と位置合わせ動
作の切換用のシヤツタであり、露光時に開き、位置合わ
せ時に閉じるようになされている。またレチクル21A
〜21D上にはアライメントマークの原画パターンが形
成されており、露光時にこのパターンが基板13上に一
度に露光されるようになされている。
【0018】一方、位置合わせ部17A〜17Dは、レ
ーザ光を用いた位置合わせ方式とテレビジヨンカメラを
用いた位置合わせ方式のいずれにも適用し得るように受
光素子22A〜22DとCCDカメラ23A〜23Dを
有し、レーザ光源24A〜24Dより基板13に照射さ
れたレーザ光の反射光を指標25A〜25D、レーザビ
ームスプリツタ26A〜26D、27A〜27Dを介し
て受光し、基板13上に形成されたアライメントマーク
30A〜30Dと指標25A〜25Dの位置が一致する
ようにステージ14を駆動して基板13を所定の位置に
移動させるようになされている。
【0019】因にレーザ光源24A〜24Dは、露光部
16A〜16Dによるアライメントマーク30A〜30
Dの露光の終了後、露光用の光源19A〜19Dに代わ
つて基板13を照射し、位置合わせ処理に移行するよう
になされている。またこの位置合わせ部17A〜17D
により位置合わせ用光学系15A〜15Dは、図2にお
いて十文字によつて示す方向、すなわちX軸方向及びY
軸方向の両方向に対して位置合わせできるようになされ
ている。
【0020】以上の構成において、投影露光装置10に
よるアライメントマークの露光とこれを用いた位置合わ
せ動作を、まず6個のデバイスパターンもしくは相当す
る大きさのデバイス31と4個のアライメントマーク3
0A〜30Dを図3に示す位置関係に配置する場合を例
にとつて説明する。この場合、6個のデバイスパターン
もしくは相当する大きさのデバイス31と4個のアライ
メントマーク30A〜30Dはそれぞれ投影光学系12
と露光部16A〜16Dにより基板13上に露光され、
特に4個のアライメントマーク30A〜30Dは一度に
露光される。
【0021】このようにアライメントマーク30A〜3
0Dを一度に露光することができる結果、従来方式のよ
うにステージを移動させてアライメントマークを1つづ
つ順に露光する場合に比して格段的に短時間で全てのア
ライメントマーク30A〜30Dの露光を完了すること
ができる。またこのとき基板13上に露光される4個の
アライメントマーク30A〜30Dの露光位置と6個の
デバイスパターンもしくは相当する大きさのデバイス3
1の露光位置は独立の関係にあるため、ユーザは各デバ
イスパターンもしくは相当する大きさのデバイス31に
対応する設計パターン11Aの設計に専念することがで
き、アライメントマーク30A〜30Dの配置のために
費やされていた時間を節約することもできる。
【0022】このようにレチクルパターンの設計に要す
る時間の短縮に加え、露光時間の短縮も実現できる投影
露光装置10であるが、位置合わせに要する時間も短縮
することができる。すなわち露光処理による露光処理が
終了し、投影露光装置10が次の層の露光処理に移る
と、位置合わせ用光学系15A〜15Dは露光部16A
〜16Dのシヤツタ20A〜20Dを閉じ、露光用の光
源19A〜19Dに代えてレーザ光源24A〜24Dよ
り射出されるレーザ光を基板13上に照射する。
【0023】このときレーザ光によつて照射される4個
のアライメントマーク30A〜30Dの相対位置と位置
合わせ部17A〜17Dの相対位置は、位置合わせ部1
7A〜17Dの光軸と露光部16A〜16Dの光軸が互
いに一致するため一致しており、従来のようにアライメ
ントマークを露光するための露光光学系とそのマークを
アライメントするアライメント光学系が独立の関係には
ない。
【0024】従つて指標25A〜25Dの相対位置とア
ライメントマーク30A〜30Dの相対位置とは同一で
あり、熱プロセス等による基板13の変形によるアライ
メントマーク30A〜30Dの設計値からのずれ量を見
込んだアライメント範囲をもつように位置合わせ用光学
系15A〜15Dを設計することにより、4組の位置合
わせ用光学系15A〜15Dによる全ての位置合わせ動
作を同時に完了することができる。
【0025】以上の構成によれば、位置合わせ用光学系
15A〜15Dに露光機能を付加したことにより、設計
パターンを含む原画パターンの設計に要する時間や、ア
ライメントマークの露光に要する時間および基板上に形
成されたデバイスパターンを次工程の設計パターンの位
置合わせに要する時間のそれぞれについて従来に比して
一段と短縮することができる。
【0026】なお上述の実施例においては、4組の位置
合わせ用光学系15A〜15Dの取付け位置を投影レン
ズ12を取り囲む位置に固定する場合について述べた
が、本発明はこれに限らず、取付け位置を任意の方向に
可変できるようにしても良い(図4において矢印で示
す)。
【0027】例えば図5に示すように、1枚の基板13
に2×4個のデバイスパターン31もしくは相当する大
きさのデバイスを露光するためにデバイスサイズの変更
があり、そのため基板のサイズが大きくなる場合には、
位置合わせ用光学系15Aと15C、また位置合わせ用
光学系15Bと15Dの間の距離を広く配置するだけ
で、基板サイズの変更にも対処することができる。
【0028】また例えば図6に示すように、基板サイズ
は一定のまま、1枚の基板に3×3個のデバイスもしく
は相当する大きさのデバイスを露光しなければならない
ためアライメントマーク30A〜30Dの露光位置を変
更しなければならない場合や、例えば図7に示すよう
に、デバイスが変更され、基板上の露光領域のレイアウ
トが変更されてアライメントマーク30A〜30Dの露
光位置を変更しなければならない場合にも容易に対処す
ることができ、アライメントマークの配置位置の設計に
要する時間を短縮することができる。
【0029】これらの場合、デバイスを露光するのに必
要なパラメータを管理する露光データ内のデータとし
て、アライメントマークの座標データを用意したり、各
デバイスに対応した複数のアライメントマークの座標デ
ータ群のうちデバイスに応じていずれの座標データ群を
使用するかといつた情報を用意すれば、投影露光装置1
0は位置合わせ用光学系15A〜15Dの位置を自動的
に位置合わせすることができる。
【0030】さらに上述の実施例においては、基板13
の四隅に4個のアライメントマーク30A〜30Dを一
度に露光する場合について述べたが、本発明はこれに限
らず、位置合わせの精度を向上させるため4個以上のア
ライメントマークを同一基板上に露光するようにしても
良い。例えば8個のアライメントマークを同一基板上に
露光する場合、8組の位置合わせ用光学系を用意し、8
個のアライメントマークを一度に露光しても良く、また
図8に示すように4組の位置合わせ用光学系の取り付け
位置を可変し、4個ずつ2回に分けて露光しても良い。
【0031】後者の場合、4組の位置合わせ用光学系を
用いてまず4個のアライメントマーク30A〜30Dに
ついて位置合わせ用の計測を実行し、次に4組の位置合
わせ光学系を移動させて残る4個のアライメントマーク
32A〜32Dについて同様の計測を実行した後、全て
の計測データについて種々の統計処理を実行することに
より、位置合わせに必要な制御用のパラメータを算出す
るようにすれば良い。この結果、位置合わせの精度を向
上するため多数のアライメントマークを基板上に形成し
なければならない場合にも、アライメントマークの配置
位置を含めた設計等に要する時間及び位置合わせに要す
る時間を格段に短縮することができる。
【0032】さらに上述の実施例においては、位置合わ
せ用光学系15A〜15Dを投影レンズ12の周囲に4
組配置する場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、2組以上配置する場合にも広く適用し得る。さらに
上述の実施例においては、基板上に露光されるデバイス
の形状やレイアウト、また基板の形状がそれぞれ図3、
図5〜図8である場合について述べたが、本発明はこれ
に限らず、デバイスの形状やレイアウト、また基板の形
状は他の形状でも良く、種々の組み合わせが考えられ
る。
【0033】さらに上述の実施例においては、レーザ光
を用いた位置合わせ方式とテレビジヨンカメラを用いた
位置合わせ方式のいずれにも適用し得るように受光素子
22A〜22DとCCDカメラ23A〜23Dを位置合
わせ部17A〜17D内に設ける場合について述べた
が、本発明はこれに限らず、いずれか一方の方式にのみ
適用し得るように構成しても良い。
【0034】さらに上述の実施例においては、露光機能
を有する位置合わせ用光学系15A〜15Dを投影露光
装置10に適用する場合について述べたが、本発明はこ
れに限らず、他の光露光装置や液晶デイスプレイ用の露
光装置などいわゆるフオトリソグラフイ技術によつて基
板上のレジストに次工程の設計パターンを露光する露光
装置に広く適用し得る。
【0035】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、位置決め
手段内に位置合わせマークの露光用光学系を新たに設け
たことにより、ユーザは露光原板の設計の際、位置合わ
せマークの配置位置を考慮することなく本来の露光対象
である第2のパターンの設計に専念できる。これにより
露光原板の設計に要していた手間を従来に比して格段的
に軽減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による露光装置の一実施例を示す略線的
構成図である。
【図2】投影レンズと位置合わせ光学系の配置例の説明
に供する平面図である。
【図3】基板上のデバイスとアライメントマークの配置
例を示す平面図である。
【図4】投影レンズと位置合わせ光学系の他の配置例の
説明に供する平面図である。
【図5】基板上のデバイスとアライメントマークの他の
配置例を示す平面図である。
【図6】基板上のデバイスとアライメントマークの他の
配置例を示す平面図である。
【図7】基板上のデバイスとアライメントマークの他の
配置例を示す平面図である。
【図8】基板上のデバイスとアライメントマークの他の
配置例を示す平面図である。
【図9】従来技術における課題の説明に供する平面図で
ある。
【図10】従来技術における課題の説明に供する平面図
である。
【図11】従来技術における課題の説明に供する平面図
である。
【図12】従来技術における課題の説明に供する平面図
である。
【符号の説明】
1、11、21A〜21D……レチクル、2、3、30
A〜30D、31A〜31D、32A〜32D……アラ
イメントマーク、10……投影露光装置、12……投影
レンズ、13……基板、14……ステージ、15A〜1
5D……位置合わせ用光学系、16A〜16D……露光
部、17A〜17D……位置合わせ部、18A〜18
D、26A〜26D、27A〜27D……ビームスプリ
ツタ、19A〜19D……露光用光源、20A〜20D
……シヤツタ、22A〜22D……受光素子、23A〜
23D……CCDカメラ、24A〜24D……レーザ光
源、25A〜25D……指標。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被露光基板上に形成された第1のパターン
    と露光原板上に形成された第2のパターンとを位置決め
    する複数の位置決め手段と、当該第2のパターンを前記
    第1のパターン上に重ねて露光する投影光学系とを備え
    た露光装置において、 前記位置決め手段はそれぞれ、 前記投影光学系とは別の光学系でなり、前記位置決めの
    基準となる位置合わせマークを前記被露光基板上に露光
    する露光用光学系と、 少なくとも前記露光用光学系内の、前記被露光基板に対
    する対物光学系の光軸と光軸を同じくし、前記位置合わ
    せマークを検出することによつて前記第1のパターンと
    前記第2のパターンとを位置合わせする位置合わせ用光
    学系とを具えることを特徴とする露光装置。
  2. 【請求項2】前記位置決め手段の位置はそれぞれ、 前記位置合わせマークの位置に応じ、前記投影光学系に
    対して任意の位置に移動する移動手段を具えることを特
    徴とする請求項1に記載の露光装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001312069A (ja) * 2000-04-28 2001-11-09 Canon Inc 液晶パネル用走査型露光装置および走査型露光方法
JP2010169949A (ja) * 2009-01-23 2010-08-05 Hitachi High-Technologies Corp 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法

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