JPH06240456A - 半導体装置のアルミニウム配線の形成方法及び装置 - Google Patents

半導体装置のアルミニウム配線の形成方法及び装置

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JPH06240456A
JPH06240456A JP5068261A JP6826193A JPH06240456A JP H06240456 A JPH06240456 A JP H06240456A JP 5068261 A JP5068261 A JP 5068261A JP 6826193 A JP6826193 A JP 6826193A JP H06240456 A JPH06240456 A JP H06240456A
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bubbler
forming
aluminum wiring
carrier gas
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Hidekazu Kondo
英一 近藤
Toru Mitomo
亨 三友
Hiroshi Yamamoto
浩 山本
Tomohiro Oota
与洋 太田
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/448Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for generating reactive gas streams, e.g. by evaporation or sublimation of precursor materials
    • C23C16/4481Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for generating reactive gas streams, e.g. by evaporation or sublimation of precursor materials by evaporation using carrier gas in contact with the source material
    • C23C16/4482Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for generating reactive gas streams, e.g. by evaporation or sublimation of precursor materials by evaporation using carrier gas in contact with the source material by bubbling of carrier gas through liquid source material

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Abstract

(57)【要約】 【目的】半導体装置の内部Al配線をCVDにより高速
で安定的に形成する。 【構成】CVD装置を用いて原料を供給する場合、原料
の粘度、蒸気圧等の物性に応じ、バブラー容器6内の圧
力を大気圧以下に圧力調節器9により一定にコントロー
ルする。バブラー容器6の温度は原料の熱安定性、蒸気
圧を考慮して決定する。例えば、DMAHの場合は圧力
は500〜20Torrの範囲、オイルバス温度30〜
100℃が望ましい。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、有機アルミニウム化合
物原料を気化させて化学気相成長を行う方法及び装置に
関し、特に、半導体装置の配線材料の製造に供する減圧
化学気相成長方法及び装置に関する。
【0002】
【従来の技術】現在の半導体装置作製において、化学気
相成長法(CVD:ChemicalVapor De
position)による成膜は非常に重要な技術とな
っている。有機金属化合物原料を用いて各種金属、金属
化合物、絶縁膜を堆積することは広く行われており、た
とえばW,Ta,Mo,GaAs,GaP,GaAlA
s,CdTe,SiO2 ,Al2 3 ,Ta2 5 ,S
nO2 ,InO2 ,TiO2 ,TiN等が作成され、半
導体材料、電極材料、絶縁材料、誘電材料等に用いられ
ている。
【0003】一般に、有機金属化合物原料は蒸気圧が低
く常温では固体もしくは液体である。従って、このよう
な原料は、いわゆるエバポレーターや、バブラー(発泡
気化器)等の気化器により気化させて反応容器に供給す
る必要がある。その際、堆積物の組成・品質維持のため
には、これらの原料供給量を精度よく一定に維持する必
要がある。この方法としては、 (1)あらかじめ流量を一定に制御したキャリアガスを
これらの原料に通じさせて直ちに反応容器に供給するバ
ブリング方式 (2)反応容器内部の圧力をこれらの原料の蒸気圧より
低く維持し、その差圧によって気化原料を反応容器に供
給し、また同時に輸送量をマスフローコントローラー
(MFC)によって調節する蒸気圧差方式 (3)これらの原料が液体である場合、原料を一定流量
に制御してバブラーに供給し、気化させたのち、反応容
器に供給する液相直接制御方式 (4)これらの原料に通じさせたキャリアガス中の原料
濃度を、濃度センサーによって測定し、測定濃度に応じ
てキャリアガス流量を調節しながら、原料を供給する濃
度センサ方式 などが既に当業者において知られている。
【0004】また、高精度の圧力制御を実現するため、
前記(1)の改良技術として、特開平4−7847号公
報には、キャリアガスを大気圧以下に減圧することが記
載されており、特開平4−14827号公報には、気化
部と反応容器との間に圧力緩衝部を設けることが開示さ
れている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】近年、半導体デバイス
の高集積化、微細化の進展に伴い、新しい半導体材料や
合成法の検討も進み、そのための新規な原料も開発され
るようになった。半導体装置内部のA1配線をCVD法
によって作成する際には、トリメチルアルミニウム(T
MA)、トリイソブチルアルミニウム(TIBA)、ジ
メチルアルミニウムハイドライド(DMAH)等の有機
アルミニウム原料が用いられる。中でもDMAHは、他
の原料に比べて低温で分解し、選択性を有して堆積し、
単結晶組織が得られ、また堆積して得られた膜には不純
物が含まれない等の利点があり、微細加工性と高品質・
低抵抗性とを満足する有望な材料である。
【0006】これらの原料の中には、従来用いてきた原
料ガス供給系では良好に輸送できないものが多い。たと
えば、DMAHは粘度が約4000cP(センチポア
ズ)と高いことと、蒸気圧が室温で2.7Torrと低
く、また高い温度ではバブラー内で原料自体が分解して
しまうため蒸気圧を確保できない。上記したような各種
原料に於いては、粘性が高いかあるいは蒸気圧が小さい
ため、前記(1)のバブリング方式では供給量が不十分
である。特に、高粘性液体ではバブラーに吹込んだキャ
リアガスが液体中にとじ込められてしまうが、気泡が開
裂し、キャリアガスが開放されるためには、長時間掛け
て充分気泡が発達する必要があり、安定したバブリング
を行うことはできない。そのため、供給量の時間変動が
大きい。また、(2)の蒸気差圧法はキャリアガスを用
いないため安定性は良いが、制御可能な流量が少量であ
り、実用上問題である。(3)の液相輸送制御は、安定
性がよく、温度管理も容易であるが、DMAHのような
高粘度の液体原料には使用できない。
【0007】また、スループットやプロセスマージンを
確保するためには、短時間で成膜できることが望まし
い。一般にCVDによる成膜は、反応が原料の供給律速
となるような条件下で行う。反応律速領域下では、基板
の温度や成膜雰囲気の圧力の極く微少な変動が、結果に
大きく影響するためである。従って、原料供給速度を大
とすることが望ましいが、従来の技術では、供給速度は
小さい。
【0008】さらにまた、半導体装置のアルミニウム配
線をCVD法によって形成する場合には、堆積速度を自
在に制御できることが望ましい。例えば、図5に示すよ
うなコンタクト構造を形成する場合には、CVD埋込ヴ
ィア21をCVDによって埋め込み、ついで上層のCV
Dブランケットアルミニウム23の配線層を形成する
が、ヴィア21の形成時には良好な埋め込み性を得るた
め、上層配線形成時に比べて堆積速度を遅くする必要が
ある。アルミニウムCVDでは、ガス流量、原料中の有
機アルミニウム原料分圧、もしくは堆積温度を変えるこ
とで、堆積速度の制御を行うことができる。ガス流量を
変更することは、ガス流れを乱しウェハ内の均一性を損
う可能性がある。堆積時にはウェハを150〜300℃
にヒーターを用いて加熱しているが、この堆積温度を急
激に変動させることは困難である。なぜなら、ヒーター
への通電量を変化させても熱伝達遅れのため温度が追随
して変化しないからである。有機アルミニウム原料分圧
を変化させるには通常バブリング温度を変化させるが、
バブラーの温浴ヒーター温度もまた入力電力変化に追随
して急変させることはできない。
【0009】なお、前記したような高粘性、低蒸気圧液
体原料を供給する手段として特開平03−112892
号公報に示されるようなガス供給装置が提案されている
が、この装置においても実際に動作させると泡の形状の
制御が困難であり安定性がいいとは言えない。また、大
量に輸送する場合には流量や温度を上げる必要がある
が、この場合でも泡の制御に対して困難が予想される。
また、気化量を急激に変化させることもできない。
【0010】上述したように、高粘度、低蒸気圧で分解
温度の低い原料の供給は、供給速度の安定性や供給量の
確保・制御の上で、多くの問題が存在する。そのため、
このような原料を用いる半導体素子の製造法上の大きな
障害となると考えられる。本発明の目的は上記問題点を
解決して、半導体装置内部のA1配線の製造に供する有
機アルミニウム化合物原料を、効率よく大量にしかも安
定に輸送する有機金属気相合成方法及び装置を提供する
ことにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は、有機アルミニ
ウム化合物原料を、キャリアガスとともにバブラーによ
り気化させ、このキャリアガスを用いて輸送し、減圧下
の反応容器に供給し、アルミニウムの化学気相成長によ
って半導体装置のアルミニウム配線を形成する際に、こ
の反応容器の圧力をバブラーの圧力よりも低くし、かつ
気化雰囲気の圧力を大気圧よりも低く保つ方法を提供す
る。この場合、アルミニウム配線の形成中に、所定のプ
ログラムに従って、バブラー内圧力の変化をプログラム
制御すると好適である。また粘度が1000cP以上の
有機アルミニウム化合物を用いるとよい。さらに、有機
アルミニウム化合物をジメチルアルミニウムハイドライ
ドとすれば、一層好適である。また、キャリアガスの吹
き込みを行うノズル一本当りのガス流量を100scc
m以上5000sccm以下とするとよい。
【0012】上記方法を実施するための装置は、反応容
器とバブラーとの間に設けた圧力調節弁と、バブラー内
の圧力検出器と、圧力調節弁の開度調節器と、前記圧力
検出器から圧力信号によって開度調節器の開度を所望の
値に制御する制御装置とを有する装置である。
【0013】
【作用】本発明の作用を述べるにあたり、先ず、バブラ
ーにキャリアガスを送入した場合の気化速度について考
察する。キャリアガスによって、単位時間(ここでは1
分間)に新たに発生する体積をΔV(cc/min)、
気化効率をη(0<η≦1)、原料の蒸気圧(Tor
r)をPvap.とすれば、気化速度Qv (mol/mi
n)は、 Qv =η・Pvap.・ΔV/(R/T) …(1) と表わすことができる。但しRは気体定数(cc・To
rr/mol・K)、Tは温度(K)である。すなわ
ち、キャリアガスの供給速度をF(SCCM)、気化圧
力(バブラーの場合は内圧)をPとすると、 ΔV=760F・T/273P …(2) である。従って、気化原料の供給速度Q(mol/mi
n)は次式で表わすことができる。
【0014】 Q=η・(Pvap./P)・(F/VM ) …(3) ここで、VM はモル体積(cc)である。(3)式よ
り、バブラー内圧力Pを減ずることが、原料供給速度増
大のために効果的であることが解る。従って、供給量を
増加させるためには少なくとも気化雰囲気の圧力は大気
圧よりも減ずる必要があることが理解される。また、P
を一定に維持することは、Qを一定とするために必須で
あることが理解される。
【0015】さらに、バブラー内を減圧すると、吹込ま
れたガスが、原料の粘性に抗して気泡を形成しやすくな
り、1000cP以上の高粘度液体であってもバブリン
グが安定する。しかしながら、気化雰囲気の安定性の観
点からは、気化雰囲気の減圧のみの効果では充分ではな
い。気化物質の形態変化(液体であれば、泡の崩壊、異
常な突沸や粘性等の経時変化)によってバブラー内圧が
突如変化した場合に、バブラーが接続されている反応容
器の圧力変化をもたらす。また逆に何等かの原因で反応
容器の内圧が変化した場合には、気化圧力の変動を来
す。従って、バブラーの圧力は反応容器の圧力よりも高
く設定することは、変動分のマージン確保の作用をな
す。以上が本発明の反応容器の圧力をバブラーの圧力よ
りも低くし、かつ気化雰囲気の圧力を大気圧よりも低く
保つという要件の作用である。
【0016】また、必然的に反応容器とバブラーの圧力
を分離する手段が必要であり、通常、圧力調節弁を用い
る。圧力調節弁を用いることにより、反応器の圧力によ
らず気化雰囲気の圧力を一定に調節することができる。
気化雰囲気の圧力を適当な検出器によって検出し、適当
な制御器によって圧力調節弁の開度を調節することによ
って、自動的に気化雰囲気の圧力を一定に維持すること
が可能となり、原料の供給速度は安定化される。以上が
本発明装置の作用効果である。
【0017】アルミニウム配線の形成中に堆積速度を変
化させる場合には、圧力調節弁の開度を調節しバブラー
内圧を変化させることによって、有機アルミニウム化合
物の供給速度を変化させればよい。実際の操業において
は、シーケンサなどで、プログラムに従って、バブラー
内圧力を変化させる手段を備えるとよい。本発明者らは
更にバブリングを安定に行うことのできるキャリアガス
流量範囲について検討を行った結果、好ましい範囲は1
00〜5000sccm、より好ましい範囲は500〜
5000sccmであることを見出した。すなわち、1
00sccm以下の場合には気泡の生成が極めて間欠的
にしか起こらない。そのためガスの供給も間欠的になっ
てしまう。ガス流量が過大である場合には、気泡が安定
に形成されないのみならず有機アルミニウム化合物原料
(DMAH等)内にガスの「パイプ」ができてしまい、
このパイプ内をガスが流通してしまうため気化量が低下
してしまう。したがっていずれの場合にも成膜は安定に
行われず、成膜速度が低下したり、膜厚が不均一になっ
たりする。なお、ここでいうキャリアガス流量とは、バ
ブリングを行う供給ノズル一本当りの値であって、複数
のノズルを同時に用いる場合には、気泡の発生も各ノズ
ル独立に生じるので、本発明の作用する全キャリアガス
流量は一本当りの流量にノズル数を乗じた値となる。
【0018】
【実施例】本発明の構成を図1を用いて説明する。図1
は本発明の1実施例のフローシートである。図1におい
て、キャリアガスボンベ1から供給されるキャリアガス
は流量調節器(マスフローコントローラ)2、3、スト
ップバルブ4を経て、バブラー容器6に入る。原料7は
温度コントロールされたオイルバス8内のバブラー容器
6に収納されている。圧力計および圧力制御器9、圧力
調節弁10を経て反応容器11に原料を送る。ノズル1
2は基板13に対向している。14はシーケンサ(制御
装置)である。この装置を用いて原料を供給する場合、
バブラー容器6内の圧力を大気圧以下に圧力制御器9に
より一定にコントロールする。この時の圧力は原料の粘
度、蒸気圧等の物性により適当な値を選択する。実際に
圧力を制御する場合は、バブラー容器6内のみでなく、
キャリアガスのマスフローコントローラ3から圧力調節
弁10の間を制御する形でもよい。オイルバス8の温度
については原料の熱安定性、蒸気圧を考慮して決定す
る。例えば、DMAHの場合は圧力は500〜20To
rrの範囲、オイルバス温度30〜100℃が望ましい
値となる。
【0019】〔実施例1〕図1に示す装置を用いてA1
−CVD成膜を行った。高粘度液体原料7としてはDM
AHを用いた。キャリアガスとして水素をマスフローコ
ントローラ2により100sccmに制御して流した。
バブラー容器6内の圧力は圧力制御器9で100Tor
r一定とした。オイルバス温度は50℃、またすべての
配管は図示されていないヒータにより70℃に加熱し
た。このとき、DMAH流量は図4に示すように約8.
5sccmの値が得られた。
【0020】成膜条件として反応容器11内圧力は2T
orr、基板13の温度は260℃とした。このような
条件で成膜した結果、成膜速度3500Å/minで均
一性の良い膜(±5%)が形成した。また、図3に示す
ようにラン毎の膜厚変動ななく、安定していた。 〔実施例2〕図1に示す装置を用い、種々のバブラー内
圧力(50〜760Torr) に関して、Al−CVD
成膜を行った。運転中はバブラー容器6内の圧力は一定
とした。バブラー内圧力以外の条件については実施例1
と同一条件とした。結果を図2に示す。バブリングの圧
力を減ずることによって、成膜速度は400Å/min
から6000Å/minに上昇した。
【0021】〔比較例1〕図1に示す装置において、バ
ブラー内圧を760Torr(大気圧) として、Al−
CVD成膜を行った。原料、キャリアガス、その流量、
オイルバス温度等の条件や成膜条件は実施例1と同一と
した。このような条件で成膜した結果、成膜速度は40
0Å/minであり、均一性の悪いまだらの膜が形成さ
れた。
【0022】〔実施例3〕図1に示す装置を用い、図5
に示す配線構造の形成を行った。絶縁膜24にヴィアホ
ールをあけ、第1アルミニウム配線22と連結するCV
D埋込みヴィア21をCVDブランケットアルミニウム
23と共に形成した。ここでヴィア径は0.3μmであ
る。まず、バブラー内を150TorrとしDMAH供
給量を少なくしてカバレッジが良好となるようにして2
分間ヴィアの埋込み堆積を行い、ついでバブラー内圧を
50TorrとしDMAH供給量を大としてブランケッ
ト膜を2分間成膜した。バブラーの制御圧力の設定値
は、時間毎にシーケンサ14から圧力制御器9に与え
た。
【0023】〔比較例2〕図1に示す装置において、制
御器を除去して圧力調節弁の開度を手動で調節し、キャ
リアガス、その流量、オイルバス温度等の条件や成膜条
件を第1実施例と同一とし、Al−CVD成膜を40ラ
ンを行った。1回のランでは5分間成膜を行った。この
場合の膜厚変化を図3に示す。各ランごとに成膜速度は
ばらつく一方、ラン数の増加と共に、膜厚が減少した。
【0024】このような変動は主として反応容器内圧力
の変動や、原料の粘度、量の変化に伴なうバブラー内圧
の変動により、DMAH流量が変動したことに起因する
ものである。 〔比較例3〕図1に示す装置において、原料、キャリア
ガス、その流量、オイルバス温度等の条件や成膜条件を
実施例1と同一とし、バブラー内圧力100Torrお
よび760Torrの場合について、DMAH流量を測
定した。DMAH流量の測定は、反応容器と圧力調節弁
との間に赤外分光分析セルを設け、FTIR法によって
行った。図4(b)に示す通り、760Torrの常圧
バブリングではDMAH流量は約1.6±1.6scc
mと小さくかつ不安定であったが、100Torrに減
圧した結果図4(b)に示すように安定した。このよう
な常圧バブリング時の流量変動が、比較例1に示した低
成膜速度かつ不均一成膜の原因である。
【0025】〔実施例4〕図1に示す装置を用い、Al
のブランケットCVDを行った。原料としては、TIB
Aを用い、バブラー内圧力100Torrと、760T
orrの2例を試みた。TIBAを用いた際のオイルバ
ス温度は50℃、配管温度は70℃、基板温度は400
℃(供給律速領域) である。バブリング圧力100To
rr,760Torrにおける成長速度は各々、6μm
/分、0.8μm/分であり、減圧バブリングがTIB
A供給量を増し、成長速度を高くすることに効果的であ
ることを確認できた。
【0026】なお、本発明は、上記実施例中の装置構
成、堆積条件には限定されない。原料有機アルミニウム
も上記に限定されるものではなく、硼化物、窒化物、ま
た各種有機アルミニウム化合物の混合物や、有機アルミ
ニウム化合物を適当な溶媒中に溶解させたものでもよ
い。 〔実施例5〕図1に示す装置を用い、キャリアガス流量
500sccmとした他は実施例1と同じ条件でAlの
CVD膜生成を行った。平均成膜速度は実施例1よりも
大きく約5000Å/分、面内均一性は±3%以内であ
った。この状態はキャリアガス流量3000sccmま
で維持された。3000−5000sccmでは実施例
1とほぼ同一の値であった。
【0027】〔比較例4〕図1に示す装置を用い、キャ
リアガス流量を50sccmとした他は実施例1と同じ
条件としてAl−CVD膜生成を行った。平均成膜速度
は実施例1と同一であった。しかし、6インチ基板内の
膜厚分布は実施例1では±3%以内であったが、この例
では膜厚分布が±15%であった。
【0028】〔比較例5〕図1に示す装置を用い、キャ
リアガス流量6000sccmとした他は実施例1と同
じ条件でAlのCVD膜生成を行った。平均成膜速度は
実施例1の約2/3に低下し、しかもキャリアガス流量
の増加と共に成膜速度は低下した。
【0029】
【発明の効果】本発明によって、低蒸気圧、高粘度の各
種液体原料もしくは固体原料の供給速度を安定化し、大
量に供給して高速成長を実現した。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例のフローシートである。
【図2】バブラー内圧と成膜速度の関係を示すグラフで
ある。
【図3】ラン数と膜厚の関係を示すチャートである。
【図4】DMAH供給量のチャートである。
【図5】配線構造の断面図である。
【符号の説明】
1 キャリアガスボンベ 2,3 流量調節器(マスフローコントローラ) 4,5 ストップバルブ 6 バブラー容器 7 原料 8 オイルバス 9 圧力計および圧力制御器 10 圧力調節弁 11 反応容器 12 ノズル 13 基板 14 シーケンサ 15 圧力計及び圧力制御器 21 ヴィア 22 第1アルミニウム配線 23 CVDブランケットアルミニウム 24 絶縁膜
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山本 浩 千葉市中央区川崎町1番地 川崎製鉄株式 会社技術研究本部内 (72)発明者 太田 与洋 千葉市中央区川崎町1番地 川崎製鉄株式 会社技術研究本部内

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 有機アルミニウム化合物原料を、キャリ
    アガスとともにバブラーにより気化させ、該キャリアガ
    スを用いて輸送し、減圧下の反応容器に供給して、アル
    ミニウムの化学気相成長によって半導体装置のアルミニ
    ウム配線を形成する際に、該反応容器の圧力を該バブラ
    ーの圧力よりも低くし、かつ気化雰囲気の圧力を大気圧
    よりも低く保つことを特徴とする半導体装置のアルミニ
    ウム配線の形成方法。
  2. 【請求項2】 アルミニウム配線の形成中に、バブラー
    内圧力をプログラム制御することを特徴とする請求項1
    記載の半導体装置のアルミニウム配線の形成方法。
  3. 【請求項3】 粘度が1000cP以上の有機アルミニ
    ウム化合物を用いることを特徴とする請求項1又は2記
    載のアルミニウム配線の形成方法。
  4. 【請求項4】 有機アルミニウム化合物が、ジメチルア
    ルミニウムハイドライドであることを特徴とする請求項
    1〜3のいずれかに記載のアルミニウム配線の形成方
    法。
  5. 【請求項5】 キャリアガスの吹き込みを行うノズル一
    本当りのガス流量を100sccm以上5000scc
    m以下とすることを特徴とする請求項1〜4のいずれか
    に記載のアルミニウム配線の形成方法。
  6. 【請求項6】 反応容器とバブラーとの間に設置された
    圧力調節弁と、バブラー内の圧力検出器と、圧力調節弁
    の開度調節器と、前記圧力検出器からの圧力信号によっ
    て前記開度調節器の開度を制御する制御装置とを備えた
    ことを特徴とする半導体装置のアルミニウム配線の形成
    装置。
JP5068261A 1992-12-21 1993-03-26 半導体装置のアルミニウム配線の形成方法及び装置 Withdrawn JPH06240456A (ja)

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