JPH06236447A - Ｉｃカード用マイクロコンピュータ - Google Patents
Ｉｃカード用マイクロコンピュータInfo
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- JPH06236447A JPH06236447A JP5021465A JP2146593A JPH06236447A JP H06236447 A JPH06236447 A JP H06236447A JP 5021465 A JP5021465 A JP 5021465A JP 2146593 A JP2146593 A JP 2146593A JP H06236447 A JPH06236447 A JP H06236447A
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- JP
- Japan
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- burn
- data
- test
- routine
- mode
- Prior art date
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- Pending
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- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07F—COIN-FREED OR LIKE APPARATUS
- G07F7/00—Mechanisms actuated by objects other than coins to free or to actuate vending, hiring, coin or paper currency dispensing or refunding apparatus
- G07F7/08—Mechanisms actuated by objects other than coins to free or to actuate vending, hiring, coin or paper currency dispensing or refunding apparatus by coded identity card or credit card or other personal identification means
- G07F7/10—Mechanisms actuated by objects other than coins to free or to actuate vending, hiring, coin or paper currency dispensing or refunding apparatus by coded identity card or credit card or other personal identification means together with a coded signal, e.g. in the form of personal identification information, like personal identification number [PIN] or biometric data
- G07F7/1008—Active credit-cards provided with means to personalise their use, e.g. with PIN-introduction/comparison system
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31701—Arrangements for setting the Unit Under Test [UUT] in a test mode
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/006—Identification
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/24—Marginal checking or other specified testing methods not covered by G06F11/26, e.g. race tests
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F12/00—Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
- G06F12/14—Protection against unauthorised use of memory or access to memory
- G06F12/1416—Protection against unauthorised use of memory or access to memory by checking the object accessibility, e.g. type of access defined by the memory independently of subject rights
- G06F12/1425—Protection against unauthorised use of memory or access to memory by checking the object accessibility, e.g. type of access defined by the memory independently of subject rights the protection being physical, e.g. cell, word, block
- G06F12/1433—Protection against unauthorised use of memory or access to memory by checking the object accessibility, e.g. type of access defined by the memory independently of subject rights the protection being physical, e.g. cell, word, block for a module or a part of a module
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06Q—INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G06Q20/00—Payment architectures, schemes or protocols
- G06Q20/30—Payment architectures, schemes or protocols characterised by the use of specific devices or networks
- G06Q20/34—Payment architectures, schemes or protocols characterised by the use of specific devices or networks using cards, e.g. integrated circuit [IC] cards or magnetic cards
- G06Q20/355—Personalisation of cards for use
- G06Q20/3558—Preliminary personalisation for transfer to user
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ユーザーへ出荷後はユーザーモードしか実行
できないようにしたＩＣカード用マイクロコンピュータ
を得ることを目的とする。 【構成】 出荷時に該マイクロコンピュータが出荷され
たことを示す出荷データ６１２を書き込む領域をテスト
ＥＥＰＲＯＭ領域６１に設け、一方、外部からの実行命
令に従って各プログラムに分岐する分岐ルーチン３４の
前に出荷データ６１２が書き込まれているか否かを確認
する出荷確認ルーチン３６を設け、出荷確認ルーチン３
６においてテストＥＥＰＲＯＭ領域６１に出荷データ６
１２が書き込まれていることが確認されるとユーザーモ
ード以外には分岐しないようにした。
できないようにしたＩＣカード用マイクロコンピュータ
を得ることを目的とする。 【構成】 出荷時に該マイクロコンピュータが出荷され
たことを示す出荷データ６１２を書き込む領域をテスト
ＥＥＰＲＯＭ領域６１に設け、一方、外部からの実行命
令に従って各プログラムに分岐する分岐ルーチン３４の
前に出荷データ６１２が書き込まれているか否かを確認
する出荷確認ルーチン３６を設け、出荷確認ルーチン３
６においてテストＥＥＰＲＯＭ領域６１に出荷データ６
１２が書き込まれていることが確認されるとユーザーモ
ード以外には分岐しないようにした。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明はＩＣカード用マイクロ
コンピュータに係り、特に各種処理を行うためのユーザ
ープログラムと共に、マイクロコンピュータのテスト
(製品テスト)を実行するテストプログラムを内蔵したマ
イクロコンピュータに関するものである。
コンピュータに係り、特に各種処理を行うためのユーザ
ープログラムと共に、マイクロコンピュータのテスト
(製品テスト)を実行するテストプログラムを内蔵したマ
イクロコンピュータに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】この種のマイクロコンピュータを内蔵し
たＩＣカードは、例えば特開平２−２９３１９６号公報
等に開示されている。テストプログラムは、マイクロコ
ンピュータの製品テストを行うためのものであり、十分
な機能テストが可能となるように、マイクロコンピュー
タの全ての領域の任意のアドレスにアクセスすることの
できる機能が設けられている。このテストプログラムは
通常、カード(マイクロコンピュータ)の製造者あるいは
発行者のもとで使用され、出荷後はテストプログラムを
介して他人のプログラムの領域にアクセスしてこれをコ
ピーしたりデータを改ざんする等、悪用されることを防
止するため、テストプログラムの実行およびアクセスに
関して、暗証コードの照合等の手法によりセキュリティ
を持たせる必要がある。
たＩＣカードは、例えば特開平２−２９３１９６号公報
等に開示されている。テストプログラムは、マイクロコ
ンピュータの製品テストを行うためのものであり、十分
な機能テストが可能となるように、マイクロコンピュー
タの全ての領域の任意のアドレスにアクセスすることの
できる機能が設けられている。このテストプログラムは
通常、カード(マイクロコンピュータ)の製造者あるいは
発行者のもとで使用され、出荷後はテストプログラムを
介して他人のプログラムの領域にアクセスしてこれをコ
ピーしたりデータを改ざんする等、悪用されることを防
止するため、テストプログラムの実行およびアクセスに
関して、暗証コードの照合等の手法によりセキュリティ
を持たせる必要がある。
【０００３】図１３は従来のこの種のＩＣカード用マイ
クロコンピュータの機能ブロック図であり、図において
１はＩＣカード用マイクロコンピュータ(以下カード用
マイコンとする)、２はデータの処理を行うＣＰＵ、３
は各種プログラムが格納された不揮発性メモリであるマ
スクＲＯＭ、４はデータを一時的に記憶する揮発性メモ
リであるＲＡＭ、５は外部からのデータの入出力制御を
行う入出力制御回路、６は処理結果等のデータを格納す
るための書き込み可能な不揮発性メモリであるＥＥＰＲ
ＯＭ、７は上記各部分の相互の接続を行うバスである。
また、８は電源端子(Ｖcc端子)、９はグランド端子(Ｇ
ＮＤ端子)、１０はリセット端子(ＲＳＴ端子)、１１は
クロック端子(ＣＬＫ端子)、１２は入出力端子(Ｉ／Ｏ
端子)であり、これらは外部との電気的接触をとる端子
群を構成する。
クロコンピュータの機能ブロック図であり、図において
１はＩＣカード用マイクロコンピュータ(以下カード用
マイコンとする)、２はデータの処理を行うＣＰＵ、３
は各種プログラムが格納された不揮発性メモリであるマ
スクＲＯＭ、４はデータを一時的に記憶する揮発性メモ
リであるＲＡＭ、５は外部からのデータの入出力制御を
行う入出力制御回路、６は処理結果等のデータを格納す
るための書き込み可能な不揮発性メモリであるＥＥＰＲ
ＯＭ、７は上記各部分の相互の接続を行うバスである。
また、８は電源端子(Ｖcc端子)、９はグランド端子(Ｇ
ＮＤ端子)、１０はリセット端子(ＲＳＴ端子)、１１は
クロック端子(ＣＬＫ端子)、１２は入出力端子(Ｉ／Ｏ
端子)であり、これらは外部との電気的接触をとる端子
群を構成する。
【０００４】また図１４には、従来のカード用マイコン
の動作フローチャートを示した。さらに図１５には、従
来のカード用マイコンのメモリマップを示した。図１５
の(ａ)はユーザープログラム実行時のメモリマップ、
(ｂ)はテストプログラム実行時のメモリマップである。
図１５において、分岐ルーチン３４は図１４のステップ
Ｓ２で実行される。また、ユーザプログラム３１、テス
トプログラム３２およびバーンインテストプログラム３
３は図１４のユーザーモード(ステップＳ３)、テストモ
ード(ステップＳ５)およびバーンインモード(ステップ
Ｓ６)でそれぞれ実行される。また、暗証コード確認ル
ーチン３５は暗証コード確認ルーチン(ステップＳ４)で
実行される。また、６１はユーザーモードからはアクセ
スできないテストＥＥＰＲＯＭ領域を示す。このテスト
ＥＥＰＲＯＭ領域６１は、例えばユーザーモードにある
時にはこの領域にアクセスできないようにアドレスを限
定する手段を設けることにより実現され、その詳細は上
述した特開平２−２９３１９６号公報等に開示されてい
る。そしてこのテストＥＥＰＲＯＭ領域６１には、暗証
コード確認ルーチン３５において外部から入力されるキ
ーコードと照合される暗証コードが格納される。なお図
１５において、ＥＥＰＲＯＭ６およびテストＥＥＰＲＯ
Ｍ領域６１はＥＥＰＲＯＭ６の領域であり、その他の分
岐ルーチン３４、暗証コード確認ルーチン３５、ユーザ
ープログラム３１、テストプログラム３２およびバーン
インテストプログラム３３はマスクＲＯＭ３内に格納さ
れたものである。
の動作フローチャートを示した。さらに図１５には、従
来のカード用マイコンのメモリマップを示した。図１５
の(ａ)はユーザープログラム実行時のメモリマップ、
(ｂ)はテストプログラム実行時のメモリマップである。
図１５において、分岐ルーチン３４は図１４のステップ
Ｓ２で実行される。また、ユーザプログラム３１、テス
トプログラム３２およびバーンインテストプログラム３
３は図１４のユーザーモード(ステップＳ３)、テストモ
ード(ステップＳ５)およびバーンインモード(ステップ
Ｓ６)でそれぞれ実行される。また、暗証コード確認ル
ーチン３５は暗証コード確認ルーチン(ステップＳ４)で
実行される。また、６１はユーザーモードからはアクセ
スできないテストＥＥＰＲＯＭ領域を示す。このテスト
ＥＥＰＲＯＭ領域６１は、例えばユーザーモードにある
時にはこの領域にアクセスできないようにアドレスを限
定する手段を設けることにより実現され、その詳細は上
述した特開平２−２９３１９６号公報等に開示されてい
る。そしてこのテストＥＥＰＲＯＭ領域６１には、暗証
コード確認ルーチン３５において外部から入力されるキ
ーコードと照合される暗証コードが格納される。なお図
１５において、ＥＥＰＲＯＭ６およびテストＥＥＰＲＯ
Ｍ領域６１はＥＥＰＲＯＭ６の領域であり、その他の分
岐ルーチン３４、暗証コード確認ルーチン３５、ユーザ
ープログラム３１、テストプログラム３２およびバーン
インテストプログラム３３はマスクＲＯＭ３内に格納さ
れたものである。
【０００５】次に図１４のフローチャートに従って動作
を説明する。カード用マイコン１はＶcc端子８、ＧＮＤ
端子９、ＲＳＴ端子１０、ＣＬＫ端子１１およびＩ／Ｏ
端子によって外部と接続される。まず、ＲＳＴ端子１０
を介して外部からリセット信号を受信すると(ステップ
Ｓ１)、ＣＰＵ２は予めマスクＲＯＭ３内の所定のアド
レスに格納されている分岐ルーチン３４を実行する(ス
テップＳ２)。分岐ルーチン３４では、Ｉ／Ｏ端子１２
からユーザーモード実行命令が入力された場合にはユー
ザーモード(ステップＳ３)に分岐する。ユーザーモード
では、まず外部から入力されたシリアルデータが入出力
制御回路５でシリアル／パラレル変換され、バス７を介
してＣＰＵ２へ取り込まれる。ＣＰＵ２はユーザープロ
グラム３１に従ってデータ処理を行い、一時的に記憶の
必要なデータはＲＡＭ４へ格納され、また処理結果等、
常時格納が必要なデータはＥＥＰＲＯＭ６へ格納され
る。また外部へ出力されるデータは入出力制御回路５で
パラレル／シリアル変換が行われ、Ｉ／Ｏ端子１２を介
してシリアルで外部へ転送される(ステップＳ３)。
を説明する。カード用マイコン１はＶcc端子８、ＧＮＤ
端子９、ＲＳＴ端子１０、ＣＬＫ端子１１およびＩ／Ｏ
端子によって外部と接続される。まず、ＲＳＴ端子１０
を介して外部からリセット信号を受信すると(ステップ
Ｓ１)、ＣＰＵ２は予めマスクＲＯＭ３内の所定のアド
レスに格納されている分岐ルーチン３４を実行する(ス
テップＳ２)。分岐ルーチン３４では、Ｉ／Ｏ端子１２
からユーザーモード実行命令が入力された場合にはユー
ザーモード(ステップＳ３)に分岐する。ユーザーモード
では、まず外部から入力されたシリアルデータが入出力
制御回路５でシリアル／パラレル変換され、バス７を介
してＣＰＵ２へ取り込まれる。ＣＰＵ２はユーザープロ
グラム３１に従ってデータ処理を行い、一時的に記憶の
必要なデータはＲＡＭ４へ格納され、また処理結果等、
常時格納が必要なデータはＥＥＰＲＯＭ６へ格納され
る。また外部へ出力されるデータは入出力制御回路５で
パラレル／シリアル変換が行われ、Ｉ／Ｏ端子１２を介
してシリアルで外部へ転送される(ステップＳ３)。
【０００６】また、分岐ルーチン(ステップＳ２)でＩ／
Ｏ端子１２からテストモード実行命令が入力された場合
にはテストモード(ステップＳ５)に分岐するが、このテ
ストモードに分岐する前には、上述したテストプログラ
ム３２へのアクセスに関してセキュリティをかけるため
に暗証コード確認ルーチン３５(ステップＳ４)が実行さ
れる。暗証コード確認ルーチン３５では、Ｉ／Ｏ端子１
２から入力されるキーコードとＥＥＰＲＯＭ６内のテス
トＥＥＰＲＯＭ領域６１に予め格納された暗証コードが
照合され、両者が一致すればテストモード(ステップＳ
５)への分岐が許可され、テストプログラム３２に従っ
てテストが実行される。上述のようにテストプログラム
３２は任意のアドレスをアクセスすることができる機能
が設けられており、ＣＰＵ２はテストプログラム３２に
従って各アドレスをアクセスして製品テストを行う。な
お、暗証コード確認ルーチン３５(ステップＳ４)でキー
コードと暗証コードが一致しない場合には、テストモー
ド(ステップＳ５)へ分岐することはできず、例えばカー
ド用マイコンは動作を停止する。また、分岐ルーチン
(ステップＳ２)でＩ／Ｏ端子１２からバーンインモード
実行命令が入力された場合には、バーンインモード(ス
テップＳ６)に分岐して、ＣＰＵ２はバーンインテスト
プログラム３３に従って、モード選択によりリードオン
リー、ライトあるいはダミーライトの何れかのバーンイ
ンテストを実行することになる。
Ｏ端子１２からテストモード実行命令が入力された場合
にはテストモード(ステップＳ５)に分岐するが、このテ
ストモードに分岐する前には、上述したテストプログラ
ム３２へのアクセスに関してセキュリティをかけるため
に暗証コード確認ルーチン３５(ステップＳ４)が実行さ
れる。暗証コード確認ルーチン３５では、Ｉ／Ｏ端子１
２から入力されるキーコードとＥＥＰＲＯＭ６内のテス
トＥＥＰＲＯＭ領域６１に予め格納された暗証コードが
照合され、両者が一致すればテストモード(ステップＳ
５)への分岐が許可され、テストプログラム３２に従っ
てテストが実行される。上述のようにテストプログラム
３２は任意のアドレスをアクセスすることができる機能
が設けられており、ＣＰＵ２はテストプログラム３２に
従って各アドレスをアクセスして製品テストを行う。な
お、暗証コード確認ルーチン３５(ステップＳ４)でキー
コードと暗証コードが一致しない場合には、テストモー
ド(ステップＳ５)へ分岐することはできず、例えばカー
ド用マイコンは動作を停止する。また、分岐ルーチン
(ステップＳ２)でＩ／Ｏ端子１２からバーンインモード
実行命令が入力された場合には、バーンインモード(ス
テップＳ６)に分岐して、ＣＰＵ２はバーンインテスト
プログラム３３に従って、モード選択によりリードオン
リー、ライトあるいはダミーライトの何れかのバーンイ
ンテストを実行することになる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】従来のＩＣカード用マ
イクロコンピュータは以上のように構成されていたの
で、出荷後でも分岐ルーチンにおいてテストモード実行
命令が入力され、暗証コード確認ルーチンにおいて外部
からのキーコードが暗証コードとがたまたま一致した場
合にはテストプログラムの実行が可能となり、例えばテ
ストプログラムを介して他人のプログラムへアクセス
し、プログラムをコピーしたりあるいは改ざんすること
が可能になってしまうという問題点があった。また、テ
ストプログラムと同様にバーンインテストプログラム
も、マイクロコンピュータの全ての領域の任意のアドレ
スにアクセスできる機能が設けられているが、バーンイ
ンテストプログラムの実行およびアクセスに関するセキ
ュリティについては何等、対策が施されていなかった。
このためバーンインテストプログラムへは、分岐ルーチ
ンにおいてバーンインモード実行命令を入力するだけで
容易に分岐が可能であり、バーンインテストプログラム
を介して他人のプログラムへのアクセスが可能になって
しまう等の問題点があった。また、バーンインモードに
おいては、バーンインテスト実行中に正常にモード選択
されたか否かを知る手段が無いという問題点もあった。
イクロコンピュータは以上のように構成されていたの
で、出荷後でも分岐ルーチンにおいてテストモード実行
命令が入力され、暗証コード確認ルーチンにおいて外部
からのキーコードが暗証コードとがたまたま一致した場
合にはテストプログラムの実行が可能となり、例えばテ
ストプログラムを介して他人のプログラムへアクセス
し、プログラムをコピーしたりあるいは改ざんすること
が可能になってしまうという問題点があった。また、テ
ストプログラムと同様にバーンインテストプログラム
も、マイクロコンピュータの全ての領域の任意のアドレ
スにアクセスできる機能が設けられているが、バーンイ
ンテストプログラムの実行およびアクセスに関するセキ
ュリティについては何等、対策が施されていなかった。
このためバーンインテストプログラムへは、分岐ルーチ
ンにおいてバーンインモード実行命令を入力するだけで
容易に分岐が可能であり、バーンインテストプログラム
を介して他人のプログラムへのアクセスが可能になって
しまう等の問題点があった。また、バーンインモードに
おいては、バーンインテスト実行中に正常にモード選択
されたか否かを知る手段が無いという問題点もあった。
【０００８】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、ユーザーに出荷された後はより
確実にユーザーモードにしか分岐しないようにした、信
頼性のより高いＩＣカード用マイクロコンピュータ等を
得ることを目的とする。
ためになされたもので、ユーザーに出荷された後はより
確実にユーザーモードにしか分岐しないようにした、信
頼性のより高いＩＣカード用マイクロコンピュータ等を
得ることを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記の目的に鑑み、第１
の発明はユーザープログラム、テストプログラム、およ
びこれらのプログラムに実行命令に従って選択的に分岐
する分岐ルーチンを格納するマスクＲＯＭと、このマス
クＲＯＭに格納されたルーチンおよびプログラムに従っ
てデータ処理を行うためのＣＰＵと、データを一時記憶
するＲＡＭと、記憶保持の必要なデータを格納すると共
に上記ユーザープログラムからはアクセスできないテス
トＥＥＰＲＯＭ領域を含むＥＥＰＲＯＭと、外部とのデ
ータの入出力制御を行う入出力制御回路と、外部との電
気的接続を行う端子群と、上記各部分を相互に接続する
バスと、を備えたＩＣカード用マイクロコンピュータで
あって、上記マスクＲＯＭが上記分岐ルーチンの前に出
荷確認ルーチンを含み、上記テストＥＥＰＲＯＭ領域が
上記マイクロコンピュータが出荷されたことを示す出荷
データを書き込む領域を含み、上記出荷確認ルーチンで
上記テストＥＥＰＲＯＭ領域に上記出荷データが書き込
まれていることが確認されると上記ユーザープログラム
にしか分岐しないＩＣカード用マイクロコンピュータに
ある。
の発明はユーザープログラム、テストプログラム、およ
びこれらのプログラムに実行命令に従って選択的に分岐
する分岐ルーチンを格納するマスクＲＯＭと、このマス
クＲＯＭに格納されたルーチンおよびプログラムに従っ
てデータ処理を行うためのＣＰＵと、データを一時記憶
するＲＡＭと、記憶保持の必要なデータを格納すると共
に上記ユーザープログラムからはアクセスできないテス
トＥＥＰＲＯＭ領域を含むＥＥＰＲＯＭと、外部とのデ
ータの入出力制御を行う入出力制御回路と、外部との電
気的接続を行う端子群と、上記各部分を相互に接続する
バスと、を備えたＩＣカード用マイクロコンピュータで
あって、上記マスクＲＯＭが上記分岐ルーチンの前に出
荷確認ルーチンを含み、上記テストＥＥＰＲＯＭ領域が
上記マイクロコンピュータが出荷されたことを示す出荷
データを書き込む領域を含み、上記出荷確認ルーチンで
上記テストＥＥＰＲＯＭ領域に上記出荷データが書き込
まれていることが確認されると上記ユーザープログラム
にしか分岐しないＩＣカード用マイクロコンピュータに
ある。
【００１０】第２の発明は、ユーザープログラム、テス
トプログラム、およびこれらのプログラムに実行命令に
従って選択的に分岐する分岐ルーチンを格納するマスク
ＲＯＭと、このマスクＲＯＭに格納されたルーチンおよ
びプログラムに従ってデータ処理を行うためのＣＰＵ
と、データを一時記憶するＲＡＭと、記憶保持の必要な
データを格納すると共に上記ユーザープログラムからは
アクセスできないテストＥＥＰＲＯＭ領域を含むＥＥＰ
ＲＯＭと、外部とのデータの入出力制御を行う入出力制
御回路と、外部との電気的接続を行う端子群と、上記各
部分を相互に接続するバスと、を備えたＩＣカード用マ
イクロコンピュータであって、上記端子群が電源端子を
含み、上記マイクロコンピュータがさらに上記電源端子
の電源電圧が低下していないことを検出する電圧検出手
段を設け、上記マスクＲＯＭが出荷確認ルーチンおよび
この出荷確認ルーチンの前後いずれかに上記電源端子の
電源電圧を検出する電圧検出ルーチンを上記分岐ルーチ
ンの前に含み、上記テストＥＥＰＲＯＭ領域が上記マイ
クロコンピュータが出荷されたことを示す出荷データを
書き込む領域を含み、上記出荷確認ルーチンで上記テス
トＥＥＰＲＯＭ領域に上記出荷データが書き込まれてい
ないことが確認されても、上記電圧検出ルーチンで上記
電圧端子の電源電圧の低下が検出された場合には上記ユ
ーザープログラムにしか分岐しないＩＣカード用マイク
ロコンピュータにある。
トプログラム、およびこれらのプログラムに実行命令に
従って選択的に分岐する分岐ルーチンを格納するマスク
ＲＯＭと、このマスクＲＯＭに格納されたルーチンおよ
びプログラムに従ってデータ処理を行うためのＣＰＵ
と、データを一時記憶するＲＡＭと、記憶保持の必要な
データを格納すると共に上記ユーザープログラムからは
アクセスできないテストＥＥＰＲＯＭ領域を含むＥＥＰ
ＲＯＭと、外部とのデータの入出力制御を行う入出力制
御回路と、外部との電気的接続を行う端子群と、上記各
部分を相互に接続するバスと、を備えたＩＣカード用マ
イクロコンピュータであって、上記端子群が電源端子を
含み、上記マイクロコンピュータがさらに上記電源端子
の電源電圧が低下していないことを検出する電圧検出手
段を設け、上記マスクＲＯＭが出荷確認ルーチンおよび
この出荷確認ルーチンの前後いずれかに上記電源端子の
電源電圧を検出する電圧検出ルーチンを上記分岐ルーチ
ンの前に含み、上記テストＥＥＰＲＯＭ領域が上記マイ
クロコンピュータが出荷されたことを示す出荷データを
書き込む領域を含み、上記出荷確認ルーチンで上記テス
トＥＥＰＲＯＭ領域に上記出荷データが書き込まれてい
ないことが確認されても、上記電圧検出ルーチンで上記
電圧端子の電源電圧の低下が検出された場合には上記ユ
ーザープログラムにしか分岐しないＩＣカード用マイク
ロコンピュータにある。
【００１１】第３の発明は、ユーザープログラム、テス
トプログラム、バーンインテストプログラム、およびこ
れらのプログラムに実行命令に従って選択的に分岐する
分岐ルーチンを格納するマスクＲＯＭと、このマスクＲ
ＯＭに格納されたルーチンおよびプログラムに従ってデ
ータ処理を行うためのＣＰＵと、データを一時記憶する
ＲＡＭと、記憶保持の必要なデータを格納すると共に上
記ユーザープログラムからはアクセスできないテストＥ
ＥＰＲＯＭ領域を含むＥＥＰＲＯＭと、外部とのデータ
の入出力制御を行う入出力制御回路と、外部との電気的
接続を行う端子群と、上記各部分を相互に接続するバス
と、を備えたＩＣカード用マイクロコンピュータであっ
て、上記マスクＲＯＭが上記バーンインテストプログラ
ムに分岐する前にバーンインデータ確認ルーチンを含
み、上記テストＥＥＰＲＯＭ領域が上記バーンインテス
トプログラムを実行することを予め宣言するバーンイン
データを書き込む領域を含み、上記バーンインデータ確
認ルーチンで上記テストＥＥＰＲＯＭ領域に上記バーン
インデータが書き込まれていないと上記バーンインテス
トプログラムに分岐しないＩＣカード用マイクロコンピ
ュータにある。
トプログラム、バーンインテストプログラム、およびこ
れらのプログラムに実行命令に従って選択的に分岐する
分岐ルーチンを格納するマスクＲＯＭと、このマスクＲ
ＯＭに格納されたルーチンおよびプログラムに従ってデ
ータ処理を行うためのＣＰＵと、データを一時記憶する
ＲＡＭと、記憶保持の必要なデータを格納すると共に上
記ユーザープログラムからはアクセスできないテストＥ
ＥＰＲＯＭ領域を含むＥＥＰＲＯＭと、外部とのデータ
の入出力制御を行う入出力制御回路と、外部との電気的
接続を行う端子群と、上記各部分を相互に接続するバス
と、を備えたＩＣカード用マイクロコンピュータであっ
て、上記マスクＲＯＭが上記バーンインテストプログラ
ムに分岐する前にバーンインデータ確認ルーチンを含
み、上記テストＥＥＰＲＯＭ領域が上記バーンインテス
トプログラムを実行することを予め宣言するバーンイン
データを書き込む領域を含み、上記バーンインデータ確
認ルーチンで上記テストＥＥＰＲＯＭ領域に上記バーン
インデータが書き込まれていないと上記バーンインテス
トプログラムに分岐しないＩＣカード用マイクロコンピ
ュータにある。
【００１２】第４の発明は、ユーザープログラム、テス
トプログラム、複数のモードを有するバーンインテスト
プログラム、およびこれらのプログラムに実行命令に従
って選択的に分岐する分岐ルーチンを格納するマスクＲ
ＯＭと、このマスクＲＯＭに格納されたルーチンおよび
プログラムに従ってデータ処理を行うためのＣＰＵと、
データを一時記憶するＲＡＭと、記憶保持の必要なデー
タを格納すると共に上記ユーザープログラムからはアク
セスできないテストＥＥＰＲＯＭ領域を含むＥＥＰＲＯ
Ｍと、外部とのデータの入出力制御を行う入出力制御回
路と、外部との電気的接続を行う端子群と、上記各部分
を相互に接続するバスと、を備えたＩＣカード用マイク
ロコンピュータであって、上記端子群が入出力端子を含
み、上記バーンインテストプログラムが上記複数のモー
ドのいずれを実行中かを示すモード判別信号を、上記入
出力端子を介して外部に出力する判別信号出力ステップ
を含むＩＣカード用マイクロコンピュータにある。
トプログラム、複数のモードを有するバーンインテスト
プログラム、およびこれらのプログラムに実行命令に従
って選択的に分岐する分岐ルーチンを格納するマスクＲ
ＯＭと、このマスクＲＯＭに格納されたルーチンおよび
プログラムに従ってデータ処理を行うためのＣＰＵと、
データを一時記憶するＲＡＭと、記憶保持の必要なデー
タを格納すると共に上記ユーザープログラムからはアク
セスできないテストＥＥＰＲＯＭ領域を含むＥＥＰＲＯ
Ｍと、外部とのデータの入出力制御を行う入出力制御回
路と、外部との電気的接続を行う端子群と、上記各部分
を相互に接続するバスと、を備えたＩＣカード用マイク
ロコンピュータであって、上記端子群が入出力端子を含
み、上記バーンインテストプログラムが上記複数のモー
ドのいずれを実行中かを示すモード判別信号を、上記入
出力端子を介して外部に出力する判別信号出力ステップ
を含むＩＣカード用マイクロコンピュータにある。
【００１３】
【作用】第１の発明に係わるＩＣカード用マイクロコン
ピュータでは、分岐ルーチンの前に出荷確認ルーチンを
設けたことによりテストＥＥＰＲＯＭ領域に出荷データ
を書き込んだ出荷後は、出荷確認ルーチンにおいてユー
ザーモードにのみ分岐する。
ピュータでは、分岐ルーチンの前に出荷確認ルーチンを
設けたことによりテストＥＥＰＲＯＭ領域に出荷データ
を書き込んだ出荷後は、出荷確認ルーチンにおいてユー
ザーモードにのみ分岐する。
【００１４】第２の発明に係わるＩＣカード用マイクロ
コンピュータでは、第１の発明に加えて電圧検出手段と
電圧検出ルーチンを設けたことにより、出荷確認ルーチ
ンでユーザーモード以外に分岐しても電源電圧の低下を
検出すると電圧検出ルーチンにおいてユーザーモードに
分岐する。
コンピュータでは、第１の発明に加えて電圧検出手段と
電圧検出ルーチンを設けたことにより、出荷確認ルーチ
ンでユーザーモード以外に分岐しても電源電圧の低下を
検出すると電圧検出ルーチンにおいてユーザーモードに
分岐する。
【００１５】第３の発明に係わるＩＣカード用マイクロ
コンピュータでは、バーンインテストプログラムに分岐
する前にバーンインデータ確認ルーチンを設けたことに
より、テストＥＥＰＲＯＭ領域にバーンインデータが書
き込まれていないとバーンインテストプログラムが実行
できないので、誤ったバーンイン実行命令でバーンイン
テストを実行することがなくなる。また、バーンインテ
ストプログラムの実行およびアクセスに関してセキュリ
ティをかけることができる。
コンピュータでは、バーンインテストプログラムに分岐
する前にバーンインデータ確認ルーチンを設けたことに
より、テストＥＥＰＲＯＭ領域にバーンインデータが書
き込まれていないとバーンインテストプログラムが実行
できないので、誤ったバーンイン実行命令でバーンイン
テストを実行することがなくなる。また、バーンインテ
ストプログラムの実行およびアクセスに関してセキュリ
ティをかけることができる。
【００１６】第４の発明に係わるＩＣカード用マイクロ
コンピュータでは、バーンインテストプログラムが実行
中のモードを示すモード判別信号を入出力端子を介して
外部に発生する判別信号出力ステップを含んでいるの
で、どのバーンインモードを実行中か外部から判別でき
る。
コンピュータでは、バーンインテストプログラムが実行
中のモードを示すモード判別信号を入出力端子を介して
外部に発生する判別信号出力ステップを含んでいるの
で、どのバーンインモードを実行中か外部から判別でき
る。
【００１７】
【実施例】以下、各発明の実施例を図について説明す
る。 実施例１．図１は第１の発明の一実施例によるカード用
マイコンの機能ブロック図、図２は図１のカード用マイ
コンの動作フローチャート、図３は図１のカード用マイ
コンのテストプログラム実行時のメモリマップを示す図
である。カード用マイコン１ａにおいて、従来のものと
同一もしくは相当する部分は同一符号で示し、その説明
は省略する。図において、マスクＲＯＭ３ａには従来の
ユーザープログラム３１、テストプログラム３２、バー
ンインテストプログラム３３、分岐ルーチン３４、暗証
コード確認ルーチン３５に加えてさらに図３に示す出荷
確認ルーチン３６が内蔵されている。またＥＥＰＲＯＭ
６ａの図３に示すテストＥＥＰＲＯＭ領域６１には、暗
証コード確認ルーチン３５で使用される暗証コード６１
１に加えて出荷確認ルーチン３６で使用される出荷デー
タ６１２が格納されている。
る。 実施例１．図１は第１の発明の一実施例によるカード用
マイコンの機能ブロック図、図２は図１のカード用マイ
コンの動作フローチャート、図３は図１のカード用マイ
コンのテストプログラム実行時のメモリマップを示す図
である。カード用マイコン１ａにおいて、従来のものと
同一もしくは相当する部分は同一符号で示し、その説明
は省略する。図において、マスクＲＯＭ３ａには従来の
ユーザープログラム３１、テストプログラム３２、バー
ンインテストプログラム３３、分岐ルーチン３４、暗証
コード確認ルーチン３５に加えてさらに図３に示す出荷
確認ルーチン３６が内蔵されている。またＥＥＰＲＯＭ
６ａの図３に示すテストＥＥＰＲＯＭ領域６１には、暗
証コード確認ルーチン３５で使用される暗証コード６１
１に加えて出荷確認ルーチン３６で使用される出荷デー
タ６１２が格納されている。
【００１８】次に図２の動作フローチャートに従って動
作を説明する。この実施例のカード用マイコン１ａで
は、このカード用マイコンあるいはこれを内蔵したＩＣ
カードを出荷する前に、テストモード(ステップＳ６)に
入りテストプログラム３２を実行してテストＥＥＰＲＯ
Ｍ領域６１に任意の出荷データ６１２が書き込まれ、そ
の後出荷される。なお、暗証コード６１１は出荷データ
６１２と同時に書き込まれる場合もあるが、例えばカー
ド用マイコン(或はカード)の製造者と発行者との間でお
互いのプログラムの機密保持を図るため、製造過程の途
中で暗証コードが書き込まれている場合もある。出荷前
の動作は、ＲＳＴ端子１０からリセット信号を受信する
と(ステップＳ１)、ＣＰＵ２は予めマスクＲＯＭ３ａ内
の所定の番地に格納されている出荷確認ルーチン３６
(ステップＳ２)を実行する。出荷確認ルーチン３６では
テストＥＥＰＲＯＭ領域６１に出荷データ６１２が書き
込まれているか否かを確認する。出荷前は出荷データ６
１２は書き込まれていないので、分岐ルーチン(ステッ
プＳ４)に移る。分岐ルーチン３４(ステップＳ４)以降
の動作は従来のものと同じであり、外部からＩ／Ｏ端子
１２を介して入力されるいずれかのモード実行命令に従
って分岐を行い、各モードのプログラムが実行される。
作を説明する。この実施例のカード用マイコン１ａで
は、このカード用マイコンあるいはこれを内蔵したＩＣ
カードを出荷する前に、テストモード(ステップＳ６)に
入りテストプログラム３２を実行してテストＥＥＰＲＯ
Ｍ領域６１に任意の出荷データ６１２が書き込まれ、そ
の後出荷される。なお、暗証コード６１１は出荷データ
６１２と同時に書き込まれる場合もあるが、例えばカー
ド用マイコン(或はカード)の製造者と発行者との間でお
互いのプログラムの機密保持を図るため、製造過程の途
中で暗証コードが書き込まれている場合もある。出荷前
の動作は、ＲＳＴ端子１０からリセット信号を受信する
と(ステップＳ１)、ＣＰＵ２は予めマスクＲＯＭ３ａ内
の所定の番地に格納されている出荷確認ルーチン３６
(ステップＳ２)を実行する。出荷確認ルーチン３６では
テストＥＥＰＲＯＭ領域６１に出荷データ６１２が書き
込まれているか否かを確認する。出荷前は出荷データ６
１２は書き込まれていないので、分岐ルーチン(ステッ
プＳ４)に移る。分岐ルーチン３４(ステップＳ４)以降
の動作は従来のものと同じであり、外部からＩ／Ｏ端子
１２を介して入力されるいずれかのモード実行命令に従
って分岐を行い、各モードのプログラムが実行される。
【００１９】一方、出荷後の場合は出荷データ６１２が
すでに書き込まれている。このため、出荷確認ルーチン
３６(ステップＳ２)でこのことが確認されると、ユーザ
ーモード(ステップＳ３)に分岐する。従って出荷後はテ
ストモードおよびバーンインモードへ分岐することはな
く、テストプログラムおよびバーンインテストプログラ
ムの実行およびアクセスに関して高いセキュリティをか
けることができる。なお、上記実施例では従来と同様に
テストモード(ステップＳ６)に分岐する前に暗証コード
確認ルーチン３５(ステップＳ５)を設けているが、出荷
確認ルーチン３６(ステップＳ２)を設けたことにより出
荷後のテストプログラムおよびバーンインテストプログ
ラムの実行およびアクセスに関してはすでに高いセキュ
リティがかけられており、従って暗証コード確認ルーチ
ン３５(ステップＳ５)は必要に応じて設ければよい。
すでに書き込まれている。このため、出荷確認ルーチン
３６(ステップＳ２)でこのことが確認されると、ユーザ
ーモード(ステップＳ３)に分岐する。従って出荷後はテ
ストモードおよびバーンインモードへ分岐することはな
く、テストプログラムおよびバーンインテストプログラ
ムの実行およびアクセスに関して高いセキュリティをか
けることができる。なお、上記実施例では従来と同様に
テストモード(ステップＳ６)に分岐する前に暗証コード
確認ルーチン３５(ステップＳ５)を設けているが、出荷
確認ルーチン３６(ステップＳ２)を設けたことにより出
荷後のテストプログラムおよびバーンインテストプログ
ラムの実行およびアクセスに関してはすでに高いセキュ
リティがかけられており、従って暗証コード確認ルーチ
ン３５(ステップＳ５)は必要に応じて設ければよい。
【００２０】実施例２．図４は第２の発明の一実施例に
よるカード用マイコンの機能ブロック図である。この実
施例のカード用マイコンでは実施例１のカード用マイコ
ンにさらに、Ｖcc端子８における電源電圧が低下してい
ないことを検出する電圧検出手段である電圧検出回路１
３を設けている。この電圧検出回路１３は、出荷データ
が書き込まれているにもかかわらず、電源電圧が低いと
出荷確認ルーチンにおいて、出荷データが書き込まれて
いないと判断され、分岐ルーチンに分岐してしまうこと
を防止するためのものである。この電圧検出回路１３は
例えば公知のＭ５１２０ＴＬ、ＬＰ等の電圧比較器から
構成される。また図５は図４のカード用マイコンの動作
フローチャート、図６は図４のカード用マイコンのテス
トプログラム実行時のメモリマップを示す図である。図
５の動作フローチャートでは出荷確認ルーチン(ステッ
プＳ２)の後に電圧検出ルーチン(ステップＳ４)が設け
られており、図６の電圧検出ルーチン３７がここで実行
される。この電圧検出ルーチン３７は出荷確認ルーチン
３６と同様にマスクＲＯＭ３ａ内に内蔵されている。
よるカード用マイコンの機能ブロック図である。この実
施例のカード用マイコンでは実施例１のカード用マイコ
ンにさらに、Ｖcc端子８における電源電圧が低下してい
ないことを検出する電圧検出手段である電圧検出回路１
３を設けている。この電圧検出回路１３は、出荷データ
が書き込まれているにもかかわらず、電源電圧が低いと
出荷確認ルーチンにおいて、出荷データが書き込まれて
いないと判断され、分岐ルーチンに分岐してしまうこと
を防止するためのものである。この電圧検出回路１３は
例えば公知のＭ５１２０ＴＬ、ＬＰ等の電圧比較器から
構成される。また図５は図４のカード用マイコンの動作
フローチャート、図６は図４のカード用マイコンのテス
トプログラム実行時のメモリマップを示す図である。図
５の動作フローチャートでは出荷確認ルーチン(ステッ
プＳ２)の後に電圧検出ルーチン(ステップＳ４)が設け
られており、図６の電圧検出ルーチン３７がここで実行
される。この電圧検出ルーチン３７は出荷確認ルーチン
３６と同様にマスクＲＯＭ３ａ内に内蔵されている。
【００２１】次に図５の動作フローチャートに従って動
作を説明する。実施例１のものと同様にこの実施例のカ
ード用マイコン１ａでも、このカード用マイコンあるい
はこれを内蔵したＩＣカードを出荷する前に、テストモ
ード(ステップＳ７)に入りテストプログラム３２を実行
してテストＥＥＰＲＯＭ領域６１に任意の出荷データ６
１２が書き込まれる。出荷前の動作は実施例１のものと
ほぼ同じなので省略する。そして出荷後、ＲＳＴ端子１
０からリセット信号を受信すると(ステップＳ１)、ＣＰ
Ｕ２は予めマスクＲＯＭ３ａ内の所定の番地に格納され
ている出荷確認ルーチン３６(ステップＳ２)を実行す
る。出荷確認ルーチン３６ではテストＥＥＰＲＯＭ領域
６１に出荷データ６１２が書き込まれているか否かを確
認し、書き込まれていることが確認されるとユーザーモ
ード(ステップＳ３)に分岐し、テストモード(ステップ
Ｓ７)およびバーンインモード(ステップＳ８)へは分岐
できなくなっている。しかしながらテストＥＥＰＲＯＭ
領域６１に出荷データ６１２が書き込まれているにもか
かわらず電源電圧が低いと、出荷確認ルーチン３６(ス
テップＳ２)で出荷データ６１２がまだ書き込まれてい
ないと判断され、分岐ルーチン３４(ステップＳ５)に分
岐してしまう可能性がある。そこで、電圧検出ルーチン
３７(ステップＳ４)では電圧検出回路１３でＶcc端子８
の電源電圧を検出し、これが所定の電圧以下(低電圧)で
あれば出荷確認ルーチン３６(ステップＳ２)での判断は
無効にされユーザーモード(ステップＳ３)に分岐するよ
うにした。これにより出荷後においては、テストプログ
ラムおよびバーンインテストプログラムの実行およびア
クセスに関してさらに高いセキュリティをかけることが
できる。
作を説明する。実施例１のものと同様にこの実施例のカ
ード用マイコン１ａでも、このカード用マイコンあるい
はこれを内蔵したＩＣカードを出荷する前に、テストモ
ード(ステップＳ７)に入りテストプログラム３２を実行
してテストＥＥＰＲＯＭ領域６１に任意の出荷データ６
１２が書き込まれる。出荷前の動作は実施例１のものと
ほぼ同じなので省略する。そして出荷後、ＲＳＴ端子１
０からリセット信号を受信すると(ステップＳ１)、ＣＰ
Ｕ２は予めマスクＲＯＭ３ａ内の所定の番地に格納され
ている出荷確認ルーチン３６(ステップＳ２)を実行す
る。出荷確認ルーチン３６ではテストＥＥＰＲＯＭ領域
６１に出荷データ６１２が書き込まれているか否かを確
認し、書き込まれていることが確認されるとユーザーモ
ード(ステップＳ３)に分岐し、テストモード(ステップ
Ｓ７)およびバーンインモード(ステップＳ８)へは分岐
できなくなっている。しかしながらテストＥＥＰＲＯＭ
領域６１に出荷データ６１２が書き込まれているにもか
かわらず電源電圧が低いと、出荷確認ルーチン３６(ス
テップＳ２)で出荷データ６１２がまだ書き込まれてい
ないと判断され、分岐ルーチン３４(ステップＳ５)に分
岐してしまう可能性がある。そこで、電圧検出ルーチン
３７(ステップＳ４)では電圧検出回路１３でＶcc端子８
の電源電圧を検出し、これが所定の電圧以下(低電圧)で
あれば出荷確認ルーチン３６(ステップＳ２)での判断は
無効にされユーザーモード(ステップＳ３)に分岐するよ
うにした。これにより出荷後においては、テストプログ
ラムおよびバーンインテストプログラムの実行およびア
クセスに関してさらに高いセキュリティをかけることが
できる。
【００２２】なお、上記実施例では電圧検出ルーチン
(ステップＳ４)を出荷確認ルーチン(ステップＳ２)の後
に設けたが、電圧検出ルーチンは出荷確認ルーチンの前
に設けても同様の効果を奏する。さらに上記実施例にお
いても出荷確認ルーチン３６(ステップＳ２)および電圧
検出ルーチン３７(ステップＳ４)を設けたことにより、
出荷後におけるテストプログラムおよびバーンインテス
トプログラムの実行およびアクセスに関してはすでにセ
キュリティがかけられており、従って暗証コード確認ル
ーチン３５は必要に応じて設ければよい。
(ステップＳ４)を出荷確認ルーチン(ステップＳ２)の後
に設けたが、電圧検出ルーチンは出荷確認ルーチンの前
に設けても同様の効果を奏する。さらに上記実施例にお
いても出荷確認ルーチン３６(ステップＳ２)および電圧
検出ルーチン３７(ステップＳ４)を設けたことにより、
出荷後におけるテストプログラムおよびバーンインテス
トプログラムの実行およびアクセスに関してはすでにセ
キュリティがかけられており、従って暗証コード確認ル
ーチン３５は必要に応じて設ければよい。
【００２３】実施例３．図７は第３の発明の一実施例に
よるカード用マイコンの動作フローチャート、図８はこ
のカード用マイコンのテストプログラム実行時のメモリ
マップを示す図である。またこの実施例のカード用マイ
コンの機能ブロック図は図１に示すものと同じである。
この実施例のカード用マイコンは、バーンインテストプ
ログラムを誤ったバーンインモード実行命令で実行する
ことを防止したり、さらにはバーンインテストプログラ
ムの実行およびアクセスに関してセキュリティをかけら
れるようにしたものである。図７の動作フローチャート
において、バーンインモード(ステップＳ７)の前にはバ
ーンインデータ確認ルーチン(ステップＳ６)が設けられ
ている。さらにバーンインモード(ステップＳ７)におい
て、ステップＳ７１はモード選択ルーチン、ステップＳ
７２はリードオンリーモード、ステップＳ７３はライト
モード、ステップＳ７４はダミーライトモード、ステッ
プＳ７５は動作停止ステップである。また図８におい
て、バーンインデータ確認ルーチン３８およびモード選
択ルーチン３９は図７のステップＳ６およびバーンイン
モードＳ７のステップ７１でそれぞれ実行されるもの
で、共にマスクＲＯＭ３ａに格納されている。モード選
択ルーチン３９はバーンインテストプログラム３３の一
部として含まれるものである。そしてバーンインテスト
を実行する前には、図８に示すようにテストＥＥＰＲＯ
Ｍ領域６１にバーンインデータ６１３を書き込む必要が
ある。
よるカード用マイコンの動作フローチャート、図８はこ
のカード用マイコンのテストプログラム実行時のメモリ
マップを示す図である。またこの実施例のカード用マイ
コンの機能ブロック図は図１に示すものと同じである。
この実施例のカード用マイコンは、バーンインテストプ
ログラムを誤ったバーンインモード実行命令で実行する
ことを防止したり、さらにはバーンインテストプログラ
ムの実行およびアクセスに関してセキュリティをかけら
れるようにしたものである。図７の動作フローチャート
において、バーンインモード(ステップＳ７)の前にはバ
ーンインデータ確認ルーチン(ステップＳ６)が設けられ
ている。さらにバーンインモード(ステップＳ７)におい
て、ステップＳ７１はモード選択ルーチン、ステップＳ
７２はリードオンリーモード、ステップＳ７３はライト
モード、ステップＳ７４はダミーライトモード、ステッ
プＳ７５は動作停止ステップである。また図８におい
て、バーンインデータ確認ルーチン３８およびモード選
択ルーチン３９は図７のステップＳ６およびバーンイン
モードＳ７のステップ７１でそれぞれ実行されるもの
で、共にマスクＲＯＭ３ａに格納されている。モード選
択ルーチン３９はバーンインテストプログラム３３の一
部として含まれるものである。そしてバーンインテスト
を実行する前には、図８に示すようにテストＥＥＰＲＯ
Ｍ領域６１にバーンインデータ６１３を書き込む必要が
ある。
【００２４】次に図７の動作フローチャートに従って動
作を説明する。上述のようにバーンインテストプログラ
ム３３を実行する前には必ずテストＥＥＰＲＯＭ領域６
１に任意のバーンインデータ６１３を書き込んでおく。
そして、従来の動作と同様に分岐ルーチン３４(ステッ
プＳ２)で外部からＩ／Ｏ端子１２を介してバーンイン
モード実行命令が入力されるとバーンインモード(ステ
ップＳ７)に分岐することになるが、バーンインモード
に分岐する前にバーンインデータ確認ルーチン３８(ス
テップＳ６)が行われる。このバーンインデータ確認ル
ーチンでは、テストＥＥＰＲＯＭ領域６１にバーンイン
データ６１３が書き込まれているか否かを確認し、書き
込まれていればバーンインモード(ステップＳ７)に分岐
することが許可され、書き込まれていない場合には、例
えばカード用マイコンは動作を停止する(ステップＳ７
５)。バーンインモード(ステップＳ７)ではモード選択
ルーチン３９(ステップＳ７１)において外部からＩ／Ｏ
端子１２を介してモード選択信号１４が入力され、この
信号に従ってリードオンリーモード(ステップＳ７２)、
ライトモード(ステップＳ７３)、ダミーライトモード
(ステップＳ７４)および動作停止(ステップＳ７５)を選
択して実行する。このように、バーンインテスト実行前
には必ずバーンインデータを予めＥＥＰＲＯＭ６ａのテ
ストＥＥＰＲＯＭ領域６１に書き込んでおかないとバー
ンインモードへの分岐が許可されないので、バーンイン
テストプログラムを誤ったバーンインモード実行命令で
実行することを防止したり、さらにはバーンインテスト
プログラムの実行およびアクセスに関してセキュリティ
をかけることができる。
作を説明する。上述のようにバーンインテストプログラ
ム３３を実行する前には必ずテストＥＥＰＲＯＭ領域６
１に任意のバーンインデータ６１３を書き込んでおく。
そして、従来の動作と同様に分岐ルーチン３４(ステッ
プＳ２)で外部からＩ／Ｏ端子１２を介してバーンイン
モード実行命令が入力されるとバーンインモード(ステ
ップＳ７)に分岐することになるが、バーンインモード
に分岐する前にバーンインデータ確認ルーチン３８(ス
テップＳ６)が行われる。このバーンインデータ確認ル
ーチンでは、テストＥＥＰＲＯＭ領域６１にバーンイン
データ６１３が書き込まれているか否かを確認し、書き
込まれていればバーンインモード(ステップＳ７)に分岐
することが許可され、書き込まれていない場合には、例
えばカード用マイコンは動作を停止する(ステップＳ７
５)。バーンインモード(ステップＳ７)ではモード選択
ルーチン３９(ステップＳ７１)において外部からＩ／Ｏ
端子１２を介してモード選択信号１４が入力され、この
信号に従ってリードオンリーモード(ステップＳ７２)、
ライトモード(ステップＳ７３)、ダミーライトモード
(ステップＳ７４)および動作停止(ステップＳ７５)を選
択して実行する。このように、バーンインテスト実行前
には必ずバーンインデータを予めＥＥＰＲＯＭ６ａのテ
ストＥＥＰＲＯＭ領域６１に書き込んでおかないとバー
ンインモードへの分岐が許可されないので、バーンイン
テストプログラムを誤ったバーンインモード実行命令で
実行することを防止したり、さらにはバーンインテスト
プログラムの実行およびアクセスに関してセキュリティ
をかけることができる。
【００２５】実施例４．図９は第３の発明の他の実施例
によるカード用マイコンの動作フローチャートを示す図
である。この実施例のカード用マイコンの機能ブロック
図は図１に示すものと同じである。この実施例では実施
例３のバーンインデータ６１３に従ってバーンインモー
ドにおけるモードの選択を行うようにしたものである。
従ってこの実施例のメモリマップ図は図８のメモリマッ
プにおいてモード選択ルーチン３９を省略したものとな
る。さらにテストＥＥＰＲＯＭ領域６１に書き込まれる
のバーンインデータ６１３は、バーンインモードで実行
しようとするモードに対して予め定められたデータが書
き込まれる。ここでは例えば、リードオンリーモードを
選択する場合は“５５H"、ライトモードを選択する場合
は“ＡＡH"、そしてダミーライトモードを選択する場合
は“５ＡH"のバーンインデータ６１３を書き込むことと
する。
によるカード用マイコンの動作フローチャートを示す図
である。この実施例のカード用マイコンの機能ブロック
図は図１に示すものと同じである。この実施例では実施
例３のバーンインデータ６１３に従ってバーンインモー
ドにおけるモードの選択を行うようにしたものである。
従ってこの実施例のメモリマップ図は図８のメモリマッ
プにおいてモード選択ルーチン３９を省略したものとな
る。さらにテストＥＥＰＲＯＭ領域６１に書き込まれる
のバーンインデータ６１３は、バーンインモードで実行
しようとするモードに対して予め定められたデータが書
き込まれる。ここでは例えば、リードオンリーモードを
選択する場合は“５５H"、ライトモードを選択する場合
は“ＡＡH"、そしてダミーライトモードを選択する場合
は“５ＡH"のバーンインデータ６１３を書き込むことと
する。
【００２６】次に図９の動作フローチャートに従って動
作を説明する。バーンインテストプログラム３３を実行
する前には必ずテストＥＥＰＲＯＭ領域６１に実行する
モードを選択するバーンインデータ６１３を書き込んで
おく。そして、分岐ルーチン３４(ステップＳ２)で外部
からＩ／Ｏ端子１２を介してバーンインモード実行命令
が入力されるとバーンインモード(ステップＳ７)に分岐
することになるが、バーンインモードに分岐する前にバ
ーンインデータ確認ルーチン３８(ステップＳ６)が行わ
れる。このバーンインデータ確認ルーチンでは、テスト
ＥＥＰＲＯＭ領域６１のバーンインデータ６１３の内容
を参照して、“５５H"ならリードオンリーモード(ステ
ップＳ７１)、“ＡＡH"ならライトモード(ステップＳ７
２)、そして“５ＡH"の場合はダミーライトモード(ステ
ップＳ７３)を実行する。また、バーンインデータ６１
３がそれ以外のデータなら動作を停止する(ステップＳ
７４)。以上のように、この実施例ではバーンインデー
タ６１３からバーンインモード(ステップＳ７)への分岐
が許可されているか否か、およびバーンインモード(ス
テップＳ７)においてどのモードを選択するかが判断さ
れる。従って上記実施例３の図７のモード選択ルーチン
(ステップＳ７１)で示される、バーンインモードでのモ
ード選択のためのモード選択信号を外部から入力するル
ーチンが必要なくなった。
作を説明する。バーンインテストプログラム３３を実行
する前には必ずテストＥＥＰＲＯＭ領域６１に実行する
モードを選択するバーンインデータ６１３を書き込んで
おく。そして、分岐ルーチン３４(ステップＳ２)で外部
からＩ／Ｏ端子１２を介してバーンインモード実行命令
が入力されるとバーンインモード(ステップＳ７)に分岐
することになるが、バーンインモードに分岐する前にバ
ーンインデータ確認ルーチン３８(ステップＳ６)が行わ
れる。このバーンインデータ確認ルーチンでは、テスト
ＥＥＰＲＯＭ領域６１のバーンインデータ６１３の内容
を参照して、“５５H"ならリードオンリーモード(ステ
ップＳ７１)、“ＡＡH"ならライトモード(ステップＳ７
２)、そして“５ＡH"の場合はダミーライトモード(ステ
ップＳ７３)を実行する。また、バーンインデータ６１
３がそれ以外のデータなら動作を停止する(ステップＳ
７４)。以上のように、この実施例ではバーンインデー
タ６１３からバーンインモード(ステップＳ７)への分岐
が許可されているか否か、およびバーンインモード(ス
テップＳ７)においてどのモードを選択するかが判断さ
れる。従って上記実施例３の図７のモード選択ルーチン
(ステップＳ７１)で示される、バーンインモードでのモ
ード選択のためのモード選択信号を外部から入力するル
ーチンが必要なくなった。
【００２７】実施例５．図１０は第４の発明の一実施例
によるカード用マイコンの動作フローチャートを部分的
に示したものであり、分岐ルーチンからバーンインモー
ドに分岐する部分が示されている。全体の動作は図７に
示された実施例３のものと同じである。この実施例のカ
ード用マイコンは、バーンインテスト実行中にいずれの
モードが実行されているかを示す判別信号を外部に出力
するようにしたものである。これを実現させるためバー
ンインモード(ステップＳ７)で実行されるバーンインテ
ストプログラム３３は、実行中のモードを示すモード判
別信号１５をＩ／Ｏ端子１２に出力する判別信号出力ス
テップ(ステップＳ７６〜Ｓ７８)を設けている。その他
の部分は実施例３のものと同じであり、機能ブロック図
は図１に示すものとなり、またメモリマップは図７に示
すものとなる。
によるカード用マイコンの動作フローチャートを部分的
に示したものであり、分岐ルーチンからバーンインモー
ドに分岐する部分が示されている。全体の動作は図７に
示された実施例３のものと同じである。この実施例のカ
ード用マイコンは、バーンインテスト実行中にいずれの
モードが実行されているかを示す判別信号を外部に出力
するようにしたものである。これを実現させるためバー
ンインモード(ステップＳ７)で実行されるバーンインテ
ストプログラム３３は、実行中のモードを示すモード判
別信号１５をＩ／Ｏ端子１２に出力する判別信号出力ス
テップ(ステップＳ７６〜Ｓ７８)を設けている。その他
の部分は実施例３のものと同じであり、機能ブロック図
は図１に示すものとなり、またメモリマップは図７に示
すものとなる。
【００２８】次に図１０の動作フローチャートに従って
動作を説明する。従来の動作と同様に分岐ルーチンでバ
ーンインモード実行命令が入力されるとバーンインモー
ド(ステップＳ７)に分岐することになるが、バーンイン
モードに分岐する前にバーンインデータ確認ルーチン３
８(ステップＳ６)が行われる。このバーンインデータ確
認ルーチンでは、テストＥＥＰＲＯＭ領域６１にバーン
インデータ６１３が書き込まれているか否かを確認し、
書き込まれていればバーンインモード(ステップＳ７)に
分岐することが許可され、書き込まれていない場合に
は、例えばカード用マイコンは動作を停止する(ステッ
プＳ７５)。バーンインモード(ステップＳ７)ではモー
ド選択ルーチン３９(ステップＳ７１)において外部から
Ｉ／Ｏ端子１２を介してモード選択信号１４が入力さ
れ、この信号に従ってリードオンリーモード(ステップ
Ｓ７２)、ライトモード(ステップＳ７３)、ダミーライ
トモード(ステップＳ７４)および動作停止(ステップＳ
７５)を選択して実行する。そしてリードオンリーモー
ド(ステップＳ７２)実行中には常にＩ／Ｏ端子１２に
“５５H"のモード判別信号１５を出力する(ステップＳ
７６)。またライトモード(ステップＳ７３)実行中には
常に“ＡＡH"のモード判別信号１５を出力する(ステッ
プＳ７７)。またダミーライトモード(ステップＳ７４)
実行中には常に“ＡＡH"のモード判別信号１５を出力す
る(ステップＳ７８)。このように、バーンインテストに
おいて実行中のモードを示すモード判別信号を外部に出
力することにより、いずれのモードのテストが行われて
いるのかが外部で判別できるようになった。
動作を説明する。従来の動作と同様に分岐ルーチンでバ
ーンインモード実行命令が入力されるとバーンインモー
ド(ステップＳ７)に分岐することになるが、バーンイン
モードに分岐する前にバーンインデータ確認ルーチン３
８(ステップＳ６)が行われる。このバーンインデータ確
認ルーチンでは、テストＥＥＰＲＯＭ領域６１にバーン
インデータ６１３が書き込まれているか否かを確認し、
書き込まれていればバーンインモード(ステップＳ７)に
分岐することが許可され、書き込まれていない場合に
は、例えばカード用マイコンは動作を停止する(ステッ
プＳ７５)。バーンインモード(ステップＳ７)ではモー
ド選択ルーチン３９(ステップＳ７１)において外部から
Ｉ／Ｏ端子１２を介してモード選択信号１４が入力さ
れ、この信号に従ってリードオンリーモード(ステップ
Ｓ７２)、ライトモード(ステップＳ７３)、ダミーライ
トモード(ステップＳ７４)および動作停止(ステップＳ
７５)を選択して実行する。そしてリードオンリーモー
ド(ステップＳ７２)実行中には常にＩ／Ｏ端子１２に
“５５H"のモード判別信号１５を出力する(ステップＳ
７６)。またライトモード(ステップＳ７３)実行中には
常に“ＡＡH"のモード判別信号１５を出力する(ステッ
プＳ７７)。またダミーライトモード(ステップＳ７４)
実行中には常に“ＡＡH"のモード判別信号１５を出力す
る(ステップＳ７８)。このように、バーンインテストに
おいて実行中のモードを示すモード判別信号を外部に出
力することにより、いずれのモードのテストが行われて
いるのかが外部で判別できるようになった。
【００２９】実施例６．最後に第２の発明と第４の発明
を組み合わせたカード用マイコンの実施例について説明
する。図１１はこの実施例によるカード用マイコンの動
作フローチャート、図１２にはこのカード用マイコンの
テストプログラム実行時のメモリマップを示す図であ
る。この実施例のカード用マイコンの機能ブロック図は
図４に示すものと同じである。各図における符号は上述
した実施例と同一のものを付した。この実施例では、分
岐ルーチン３４(ステップＳ５)の前に出荷確認ルーチン
３６(ステップＳ２)および電圧検出ルーチン３７(ステ
ップＳ４)が設けられ、さらにテストモード(ステップＳ
７)の前には暗証コード確認ルーチン３５(ステップＳ
６)、バーンインモード(ステップＳ９)の前にはバーン
インデータ確認ルーチン３８(ステップＳ８)が設けら
れ、さらにバーンインモード(ステップＳ９)で実行され
るバーンインテストプログラム３３は実行中のモードを
示す信号を発生する判別信号出力ステップ(ステップＳ
１０)を含んでいる。そして、ＥＥＰＲＯＭ６ａのテス
トＥＥＰＲＯＭ領域６１には暗証コード６１１、出荷デ
ータ６１２およびバーンインデータ６１３が書き込まれ
る。
を組み合わせたカード用マイコンの実施例について説明
する。図１１はこの実施例によるカード用マイコンの動
作フローチャート、図１２にはこのカード用マイコンの
テストプログラム実行時のメモリマップを示す図であ
る。この実施例のカード用マイコンの機能ブロック図は
図４に示すものと同じである。各図における符号は上述
した実施例と同一のものを付した。この実施例では、分
岐ルーチン３４(ステップＳ５)の前に出荷確認ルーチン
３６(ステップＳ２)および電圧検出ルーチン３７(ステ
ップＳ４)が設けられ、さらにテストモード(ステップＳ
７)の前には暗証コード確認ルーチン３５(ステップＳ
６)、バーンインモード(ステップＳ９)の前にはバーン
インデータ確認ルーチン３８(ステップＳ８)が設けら
れ、さらにバーンインモード(ステップＳ９)で実行され
るバーンインテストプログラム３３は実行中のモードを
示す信号を発生する判別信号出力ステップ(ステップＳ
１０)を含んでいる。そして、ＥＥＰＲＯＭ６ａのテス
トＥＥＰＲＯＭ領域６１には暗証コード６１１、出荷デ
ータ６１２およびバーンインデータ６１３が書き込まれ
る。
【００３０】以下、図１１の動作フローチャートに従っ
て動作を簡単に説明する。この実施例のカード用マイコ
ン１ａでも、このカード用マイコンあるいはこれを内蔵
したＩＣカードを出荷する前に、テストモード(ステッ
プＳ７)に入りテストプログラム３２を実行してテスト
ＥＥＰＲＯＭ領域６１に任意の出荷データ６１２が書き
込まれる。そして出荷後は、ＲＳＴ端子１０からリセッ
ト信号を受信すると(ステップＳ１)、ＣＰＵ２は予めマ
スクＲＯＭ３ａ内の所定の番地に格納されている出荷確
認ルーチン３６(ステップＳ２)を実行する。出荷確認ル
ーチン３６ではテストＥＥＰＲＯＭ領域６１に出荷デー
タ６１２が書き込まれているか否かを確認し、書き込ま
れているとユーザーモード(ステップＳ３)に分岐し、テ
ストモード(ステップＳ７)およびバーンインモード(ス
テップＳ８)へは分岐できなくなっている。しかしなが
らテストＥＥＰＲＯＭ領域６１に出荷データ６１２が書
き込まれているにもかかわらず電源電圧が低いと、出荷
確認ルーチン３６(ステップＳ２)で出荷データ６１２が
書き込まれていないと判断され、分岐ルーチン３４(ス
テップＳ５)に分岐してしまう可能性がある。そこで、
電圧検出ルーチン３７(ステップＳ４)では電圧検出回路
１３でＶcc端子８の電源電圧を検出し、これが所定の電
圧以下(低電圧)であれば出荷確認ルーチン３６(ステッ
プＳ２)での判断は無効にされユーザーモード(ステップ
Ｓ３)に分岐する。これにより出荷後においては、テス
トプログラムおよびバーンインテストプログラムの実行
およびアクセスに関してさらに高いセキュリティをかけ
ることができる。
て動作を簡単に説明する。この実施例のカード用マイコ
ン１ａでも、このカード用マイコンあるいはこれを内蔵
したＩＣカードを出荷する前に、テストモード(ステッ
プＳ７)に入りテストプログラム３２を実行してテスト
ＥＥＰＲＯＭ領域６１に任意の出荷データ６１２が書き
込まれる。そして出荷後は、ＲＳＴ端子１０からリセッ
ト信号を受信すると(ステップＳ１)、ＣＰＵ２は予めマ
スクＲＯＭ３ａ内の所定の番地に格納されている出荷確
認ルーチン３６(ステップＳ２)を実行する。出荷確認ル
ーチン３６ではテストＥＥＰＲＯＭ領域６１に出荷デー
タ６１２が書き込まれているか否かを確認し、書き込ま
れているとユーザーモード(ステップＳ３)に分岐し、テ
ストモード(ステップＳ７)およびバーンインモード(ス
テップＳ８)へは分岐できなくなっている。しかしなが
らテストＥＥＰＲＯＭ領域６１に出荷データ６１２が書
き込まれているにもかかわらず電源電圧が低いと、出荷
確認ルーチン３６(ステップＳ２)で出荷データ６１２が
書き込まれていないと判断され、分岐ルーチン３４(ス
テップＳ５)に分岐してしまう可能性がある。そこで、
電圧検出ルーチン３７(ステップＳ４)では電圧検出回路
１３でＶcc端子８の電源電圧を検出し、これが所定の電
圧以下(低電圧)であれば出荷確認ルーチン３６(ステッ
プＳ２)での判断は無効にされユーザーモード(ステップ
Ｓ３)に分岐する。これにより出荷後においては、テス
トプログラムおよびバーンインテストプログラムの実行
およびアクセスに関してさらに高いセキュリティをかけ
ることができる。
【００３１】また、例えば出荷前にバーンインモード
(ステップＳ９)を実行する場合には、予めテストＥＥＰ
ＲＯＭ領域６１にバーンインデータ６１３を書き込んで
おく。そしてバーンインデータ確認ルーチン(ステップ
Ｓ８)でバーンインデータ６１３が書き込まれているこ
とが確認されると、バーンインモード(ステップＳ９)へ
の分岐が許可され、バーンインテストプログラム３３が
実行される。さらにバーンインモード(ステップＳ９)で
リードオンリーモード、ライトモード、ダミーライトモ
ードのいずれのモードを実行中かが判別できるように判
別信号出力ステップ(ステップＳ１０)でモード判別信号
がＩ／Ｏ端子１２を介して外部に出力される。これによ
り、バーンインテストプログラムを誤ったバーンインモ
ード実行命令で実行することが防止でき、さらにはバー
ンインテストプログラムの実行およびアクセスに関して
セキュリティをかけることもできる。さらにバーンイン
モード(ステップＳ９)で実行中のモードをモード判別信
号から判断することができる。
(ステップＳ９)を実行する場合には、予めテストＥＥＰ
ＲＯＭ領域６１にバーンインデータ６１３を書き込んで
おく。そしてバーンインデータ確認ルーチン(ステップ
Ｓ８)でバーンインデータ６１３が書き込まれているこ
とが確認されると、バーンインモード(ステップＳ９)へ
の分岐が許可され、バーンインテストプログラム３３が
実行される。さらにバーンインモード(ステップＳ９)で
リードオンリーモード、ライトモード、ダミーライトモ
ードのいずれのモードを実行中かが判別できるように判
別信号出力ステップ(ステップＳ１０)でモード判別信号
がＩ／Ｏ端子１２を介して外部に出力される。これによ
り、バーンインテストプログラムを誤ったバーンインモ
ード実行命令で実行することが防止でき、さらにはバー
ンインテストプログラムの実行およびアクセスに関して
セキュリティをかけることもできる。さらにバーンイン
モード(ステップＳ９)で実行中のモードをモード判別信
号から判断することができる。
【００３２】なお、実施例６に限らず、以上説明してき
た各実施例は色々に組み合わせが可能であり、必要に応
じて複数の機能を備えたＩＣカード用マイクロコンピュ
ータを実現することが可能である。
た各実施例は色々に組み合わせが可能であり、必要に応
じて複数の機能を備えたＩＣカード用マイクロコンピュ
ータを実現することが可能である。
【００３３】
【発明の効果】以上のように第１の発明によれば、出荷
時にテストＥＥＰＲＯＭ領域に出荷データを書き込み分
岐ルーチンの前に出荷確認ルーチンを設けたので、出荷
後はユーザープログラム以外は実行できなくなり、テス
トプログラムおよびバーンインテストプログラムの実行
およびアクセスに関してより高いセキュリティをかけた
信頼性の高いＩＣカード用マイクロコンピュータが得ら
れる効果がある。
時にテストＥＥＰＲＯＭ領域に出荷データを書き込み分
岐ルーチンの前に出荷確認ルーチンを設けたので、出荷
後はユーザープログラム以外は実行できなくなり、テス
トプログラムおよびバーンインテストプログラムの実行
およびアクセスに関してより高いセキュリティをかけた
信頼性の高いＩＣカード用マイクロコンピュータが得ら
れる効果がある。
【００３４】第２の発明によれば、第１の発明に加えて
さらに電源電圧を検出する電圧検出回路を内蔵し、分岐
ルーチンの前に出荷確認ルーチンと電圧検出ルーチンを
設けたので、電源電圧が低くても出荷後はユーザープロ
グラム以外は実行できなくなり、電源電圧の低下による
出荷確認ルーチンでの判断誤りが防止でき、より信頼性
の高いＩＣカード用マイクロコンピュータが得られる効
果がある。
さらに電源電圧を検出する電圧検出回路を内蔵し、分岐
ルーチンの前に出荷確認ルーチンと電圧検出ルーチンを
設けたので、電源電圧が低くても出荷後はユーザープロ
グラム以外は実行できなくなり、電源電圧の低下による
出荷確認ルーチンでの判断誤りが防止でき、より信頼性
の高いＩＣカード用マイクロコンピュータが得られる効
果がある。
【００３５】第３の発明によれば、バーンインモード実
行命令を受信しバーンインテストプログラムに分岐する
前にバーンインデータ確認ルーチンを設け、またバーン
インテストプログラムの実行前にはテストＥＥＰＲＯＭ
領域にバーンインデータを書き込むようにし、バーンイ
ンデータ確認ルーチンではテストＥＥＰＲＯＭ領域にバ
ーンインデータが書き込まれていないとバーンインテス
トプログラムに分岐しないようにしたので、容易にバー
ンインテストプログラムを実行することができなくな
り、誤った実行命令によりバーンインテストプログラム
が実行されるのが防止され、さらにはバーンインテスト
プログラムの実行およびアクセスに関してセキュリティ
をかけることがでるＩＣカード用マイクロコンピュータ
が得られる効果がある。
行命令を受信しバーンインテストプログラムに分岐する
前にバーンインデータ確認ルーチンを設け、またバーン
インテストプログラムの実行前にはテストＥＥＰＲＯＭ
領域にバーンインデータを書き込むようにし、バーンイ
ンデータ確認ルーチンではテストＥＥＰＲＯＭ領域にバ
ーンインデータが書き込まれていないとバーンインテス
トプログラムに分岐しないようにしたので、容易にバー
ンインテストプログラムを実行することができなくな
り、誤った実行命令によりバーンインテストプログラム
が実行されるのが防止され、さらにはバーンインテスト
プログラムの実行およびアクセスに関してセキュリティ
をかけることがでるＩＣカード用マイクロコンピュータ
が得られる効果がある。
【００３６】第４の発明によれば、バーンインテストプ
ログラムにおいて各モード実行中、常にそれぞれのモー
ドを示すモード判別信号を入出力端子を介して外部に出
力する判別信号出力ステップを設けたので、バーンイン
モードにおいて、いずれのモードを実行中か外部で判別
できるＩＣカード用マイクロコンピュータが得られる効
果がある。
ログラムにおいて各モード実行中、常にそれぞれのモー
ドを示すモード判別信号を入出力端子を介して外部に出
力する判別信号出力ステップを設けたので、バーンイン
モードにおいて、いずれのモードを実行中か外部で判別
できるＩＣカード用マイクロコンピュータが得られる効
果がある。
【図１】第１の発明の一実施例によるＩＣカード用マイ
クロコンピュータの機能ブロック図である。
クロコンピュータの機能ブロック図である。
【図２】第１の発明の一実施例によるＩＣカード用マイ
クロコンピュータの動作フローチャートである。
クロコンピュータの動作フローチャートである。
【図３】第１の発明の一実施例によるＩＣカード用マイ
クロコンピュータのテストプログラム実行時のメモリマ
ップである。
クロコンピュータのテストプログラム実行時のメモリマ
ップである。
【図４】第２の発明の一実施例によるＩＣカード用マイ
クロコンピュータの機能ブロック図である。
クロコンピュータの機能ブロック図である。
【図５】第２の発明の一実施例によるＩＣカード用マイ
クロコンピュータの動作フローチャートである。
クロコンピュータの動作フローチャートである。
【図６】第２の発明の一実施例によるＩＣカード用マイ
クロコンピュータのテストプログラム実行時のメモリマ
ップである。
クロコンピュータのテストプログラム実行時のメモリマ
ップである。
【図７】第３の発明の一実施例によるＩＣカード用マイ
クロコンピュータの動作フローチャートである。
クロコンピュータの動作フローチャートである。
【図８】第３の発明の一実施例によるＩＣカード用マイ
クロコンピュータのテストプログラム実行時のメモリマ
ップである。
クロコンピュータのテストプログラム実行時のメモリマ
ップである。
【図９】第３の発明の他の実施例によるＩＣカード用マ
イクロコンピュータの動作フローチャートである。
イクロコンピュータの動作フローチャートである。
【図１０】第４の発明の一実施例によるＩＣカード用マ
イクロコンピュータの動作フローチャートである。
イクロコンピュータの動作フローチャートである。
【図１１】さらに別の実施例によるＩＣカード用マイク
ロコンピュータの動作フローチャートである。
ロコンピュータの動作フローチャートである。
【図１２】図１１のＩＣカード用マイクロコンピュータ
のテストプログラム実行時のメモリマップである。
のテストプログラム実行時のメモリマップである。
【図１３】従来のＩＣカード用マイクロコンピュータの
機能ブロック図である。
機能ブロック図である。
【図１４】従来のＩＣカード用マイクロコンピュータの
動作フローチャートである。
動作フローチャートである。
【図１５】(ａ)は従来のＩＣカード用マイクロコンピュ
ータのユーザープログラム実行時のメモリマップ、(ｂ)
はテストプログラム実行時のメモリマップである。
ータのユーザープログラム実行時のメモリマップ、(ｂ)
はテストプログラム実行時のメモリマップである。
１ａ ＩＣカード用マイクロコンピュータ(カード用マ
イコン) ２ ＣＰＵ ３ａ マスクＲＯＭ ４ ＲＡＭ ５ 入出力制御回路 ６ａ ＥＥＰＲＯＭ ７ バス ８ Ｖcc端子 ９ ＧＮＤ端子 １０ ＲＳＴ端子 １１ ＣＬＫ端子 １２ Ｉ／Ｏ端子 １３ 電圧検出回路 １４ モード選択信号 １５ モード判別信号 ３１ ユーザープログラム ３２ テストプログラム ３３ バーンインテストプログラム ３４ 分岐ルーチン ３５ 暗証コード確認ルーチン ３６ 出荷確認ルーチン ３７ 電圧検出ルーチン ３８ バーンインデータ確認ルーチン ３９ モード選択ルーチン ６１ テストＥＥＰＲＯＭ領域 ６１１ 暗証コード ６１２ 出荷データ ６１３ バーンインデータ
イコン) ２ ＣＰＵ ３ａ マスクＲＯＭ ４ ＲＡＭ ５ 入出力制御回路 ６ａ ＥＥＰＲＯＭ ７ バス ８ Ｖcc端子 ９ ＧＮＤ端子 １０ ＲＳＴ端子 １１ ＣＬＫ端子 １２ Ｉ／Ｏ端子 １３ 電圧検出回路 １４ モード選択信号 １５ モード判別信号 ３１ ユーザープログラム ３２ テストプログラム ３３ バーンインテストプログラム ３４ 分岐ルーチン ３５ 暗証コード確認ルーチン ３６ 出荷確認ルーチン ３７ 電圧検出ルーチン ３８ バーンインデータ確認ルーチン ３９ モード選択ルーチン ６１ テストＥＥＰＲＯＭ領域 ６１１ 暗証コード ６１２ 出荷データ ６１３ バーンインデータ
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成６年１月１４日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項２
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００５
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００５】次に図１４のフローチャートに従って動作
を説明する。カード用マイコン１はＶcc端子８、ＧＮＤ
端子９、ＲＳＴ端子１０、ＣＬＫ端子１１およびＩ／Ｏ
端子１２によって外部と接続される。まず、ＲＳＴ端子
１０を介して外部からリセット信号を受信すると(ステ
ップＳ１)、ＣＰＵ２は予めマスクＲＯＭ３内の所定の
アドレスに格納されている分岐ルーチン３４を実行する
(ステップＳ２)。分岐ルーチン３４では、Ｉ／Ｏ端子１
２からユーザーモード実行命令が入力された場合にはユ
ーザーモード(ステップＳ３)に分岐する。ユーザーモー
ドでは、まず外部から入力されたシリアルデータが入出
力制御回路５でシリアル／パラレル変換され、バス７を
介してＣＰＵ２へ取り込まれる。ＣＰＵ２はユーザープ
ログラム３１に従ってデータ処理を行い、一時的に記憶
の必要なデータはＲＡＭ４へ格納され、また処理結果
等、常時格納が必要なデータはＥＥＰＲＯＭ６へ格納さ
れる。また外部へ出力されるデータは入出力制御回路５
でパラレル／シリアル変換が行われ、Ｉ／Ｏ端子１２を
介してシリアルで外部へ転送される(ステップＳ３)。
を説明する。カード用マイコン１はＶcc端子８、ＧＮＤ
端子９、ＲＳＴ端子１０、ＣＬＫ端子１１およびＩ／Ｏ
端子１２によって外部と接続される。まず、ＲＳＴ端子
１０を介して外部からリセット信号を受信すると(ステ
ップＳ１)、ＣＰＵ２は予めマスクＲＯＭ３内の所定の
アドレスに格納されている分岐ルーチン３４を実行する
(ステップＳ２)。分岐ルーチン３４では、Ｉ／Ｏ端子１
２からユーザーモード実行命令が入力された場合にはユ
ーザーモード(ステップＳ３)に分岐する。ユーザーモー
ドでは、まず外部から入力されたシリアルデータが入出
力制御回路５でシリアル／パラレル変換され、バス７を
介してＣＰＵ２へ取り込まれる。ＣＰＵ２はユーザープ
ログラム３１に従ってデータ処理を行い、一時的に記憶
の必要なデータはＲＡＭ４へ格納され、また処理結果
等、常時格納が必要なデータはＥＥＰＲＯＭ６へ格納さ
れる。また外部へ出力されるデータは入出力制御回路５
でパラレル／シリアル変換が行われ、Ｉ／Ｏ端子１２を
介してシリアルで外部へ転送される(ステップＳ３)。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】従来のＩＣカード用マ
イクロコンピュータは以上のように構成されていたの
で、出荷後でも分岐ルーチンにおいてテストモード実行
命令が入力され、暗証コード確認ルーチンにおいて外部
からのキーコードが暗証コードとがたまたま一致した場
合にはテストプログラムの実行が可能となり、例えばテ
ストプログラムを介して他人のデータへアクセスし、デ
ータをコピーしたりあるいは改ざんすることが可能にな
ってしまうという問題点があった。また、テストプログ
ラムと同様にバーンインテストプログラムも、マイクロ
コンピュータの全ての領域の任意のアドレスにアクセス
できる機能が設けられているが、バーンインテストプロ
グラムの実行およびアクセスに関するセキュリティにつ
いては何等、対策が施されていなかった。このためバー
ンインテストプログラムへは、分岐ルーチンにおいてバ
ーンインモード実行命令を入力するだけで容易に分岐が
可能であり、バーンインテストプログラムを介して他人
のデータへのアクセスが可能になってしまう等の問題点
があった。また、バーンインモードにおいては、バーン
インテスト実行中に正常にモード選択されたか否かを知
る手段が無いという問題点もあった。
イクロコンピュータは以上のように構成されていたの
で、出荷後でも分岐ルーチンにおいてテストモード実行
命令が入力され、暗証コード確認ルーチンにおいて外部
からのキーコードが暗証コードとがたまたま一致した場
合にはテストプログラムの実行が可能となり、例えばテ
ストプログラムを介して他人のデータへアクセスし、デ
ータをコピーしたりあるいは改ざんすることが可能にな
ってしまうという問題点があった。また、テストプログ
ラムと同様にバーンインテストプログラムも、マイクロ
コンピュータの全ての領域の任意のアドレスにアクセス
できる機能が設けられているが、バーンインテストプロ
グラムの実行およびアクセスに関するセキュリティにつ
いては何等、対策が施されていなかった。このためバー
ンインテストプログラムへは、分岐ルーチンにおいてバ
ーンインモード実行命令を入力するだけで容易に分岐が
可能であり、バーンインテストプログラムを介して他人
のデータへのアクセスが可能になってしまう等の問題点
があった。また、バーンインモードにおいては、バーン
インテスト実行中に正常にモード選択されたか否かを知
る手段が無いという問題点もあった。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１０】第２の発明は、ユーザープログラム、テス
トプログラム、およびこれらのプログラムに実行命令に
従って選択的に分岐する分岐ルーチンを格納するマスク
ＲＯＭと、このマスクＲＯＭに格納されたルーチンおよ
びプログラムに従ってデータ処理を行うためのＣＰＵ
と、データを一時記憶するＲＡＭと、記憶保持の必要な
データを格納すると共に上記ユーザープログラムからは
アクセスできないテストＥＥＰＲＯＭ領域を含むＥＥＰ
ＲＯＭと、外部とのデータの入出力制御を行う入出力制
御回路と、外部との電気的接続を行う端子群と、上記各
部分を相互に接続するバスと、を備えたＩＣカード用マ
イクロコンピュータであって、上記端子群が電源端子を
含み、上記マイクロコンピュータがさらに上記電源端子
の電源電圧が低下していないことを検出する電圧検出手
段を設け、上記マスクＲＯＭが出荷確認ルーチンおよび
この出荷確認ルーチンの前後いずれかに上記電源端子の
電源電圧を検出する電圧検出ルーチンを上記分岐ルーチ
ンの前に含み、上記テストＥＥＰＲＯＭ領域が上記マイ
クロコンピュータが出荷されたことを示す出荷データを
書き込む領域を含み、上記出荷確認ルーチンで上記テス
トＥＥＰＲＯＭ領域に上記出荷データが書き込まれてい
ないことが確認されても、上記電圧検出ルーチンで上記
電源端子の電源電圧の低下が検出された場合には上記ユ
ーザープログラムにしか分岐しないＩＣカード用マイク
ロコンピュータにある。
トプログラム、およびこれらのプログラムに実行命令に
従って選択的に分岐する分岐ルーチンを格納するマスク
ＲＯＭと、このマスクＲＯＭに格納されたルーチンおよ
びプログラムに従ってデータ処理を行うためのＣＰＵ
と、データを一時記憶するＲＡＭと、記憶保持の必要な
データを格納すると共に上記ユーザープログラムからは
アクセスできないテストＥＥＰＲＯＭ領域を含むＥＥＰ
ＲＯＭと、外部とのデータの入出力制御を行う入出力制
御回路と、外部との電気的接続を行う端子群と、上記各
部分を相互に接続するバスと、を備えたＩＣカード用マ
イクロコンピュータであって、上記端子群が電源端子を
含み、上記マイクロコンピュータがさらに上記電源端子
の電源電圧が低下していないことを検出する電圧検出手
段を設け、上記マスクＲＯＭが出荷確認ルーチンおよび
この出荷確認ルーチンの前後いずれかに上記電源端子の
電源電圧を検出する電圧検出ルーチンを上記分岐ルーチ
ンの前に含み、上記テストＥＥＰＲＯＭ領域が上記マイ
クロコンピュータが出荷されたことを示す出荷データを
書き込む領域を含み、上記出荷確認ルーチンで上記テス
トＥＥＰＲＯＭ領域に上記出荷データが書き込まれてい
ないことが確認されても、上記電圧検出ルーチンで上記
電源端子の電源電圧の低下が検出された場合には上記ユ
ーザープログラムにしか分岐しないＩＣカード用マイク
ロコンピュータにある。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２３
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２３】実施例３．図７は第３の発明の一実施例に
よるカード用マイコンの動作フローチャート、図８はこ
のカード用マイコンのテストプログラム実行時のメモリ
マップを示す図である。またこの実施例のカード用マイ
コンの機能ブロック図は図１に示すものと同じである。
この実施例のカード用マイコンは、バーンインテストプ
ログラムを誤ったバーンインモード実行命令で実行する
ことを防止したり、さらにはバーンインテストプログラ
ムの実行およびアクセスに関してセキュリティをかけら
れるようにしたものである。図７の動作フローチャート
において、バーンインモード(ステップＳ７)の前にはバ
ーンインデータ確認ルーチン(ステップＳ６)が設けられ
ている。さらにバーンインモード(ステップＳ７)におい
て、ステップＳ７１はモード選択ルーチン、ステップＳ
７２はリードオンリーモード、ステップＳ７３はライト
モード、ステップＳ７４はダミーライトモード、ステッ
プＳ７５は動作停止ステップである。また図８におい
て、バーンインデータ確認ルーチン３８およびモード選
択ルーチン３９は図７のステップＳ６およびバーンイン
モードＳ７のステップＳ７１でそれぞれ実行されるもの
で、共にマスクＲＯＭ３ａに格納されている。モード選
択ルーチン３９はバーンインテストプログラム３３の一
部として含まれるものである。そしてバーンインテスト
を実行する前には、図８に示すようにテストＥＥＰＲＯ
Ｍ領域６１にバーンインデータ６１３を書き込む必要が
ある。
よるカード用マイコンの動作フローチャート、図８はこ
のカード用マイコンのテストプログラム実行時のメモリ
マップを示す図である。またこの実施例のカード用マイ
コンの機能ブロック図は図１に示すものと同じである。
この実施例のカード用マイコンは、バーンインテストプ
ログラムを誤ったバーンインモード実行命令で実行する
ことを防止したり、さらにはバーンインテストプログラ
ムの実行およびアクセスに関してセキュリティをかけら
れるようにしたものである。図７の動作フローチャート
において、バーンインモード(ステップＳ７)の前にはバ
ーンインデータ確認ルーチン(ステップＳ６)が設けられ
ている。さらにバーンインモード(ステップＳ７)におい
て、ステップＳ７１はモード選択ルーチン、ステップＳ
７２はリードオンリーモード、ステップＳ７３はライト
モード、ステップＳ７４はダミーライトモード、ステッ
プＳ７５は動作停止ステップである。また図８におい
て、バーンインデータ確認ルーチン３８およびモード選
択ルーチン３９は図７のステップＳ６およびバーンイン
モードＳ７のステップＳ７１でそれぞれ実行されるもの
で、共にマスクＲＯＭ３ａに格納されている。モード選
択ルーチン３９はバーンインテストプログラム３３の一
部として含まれるものである。そしてバーンインテスト
を実行する前には、図８に示すようにテストＥＥＰＲＯ
Ｍ領域６１にバーンインデータ６１３を書き込む必要が
ある。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２５
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２５】実施例４．図９は第３の発明の他の実施例
によるカード用マイコンの動作フローチャートを示す図
である。この実施例のカード用マイコンの機能ブロック
図は図１に示すものと同じである。この実施例では実施
例３のバーンインデータ６１３に従ってバーンインモー
ドにおけるモードの選択を行うようにしたものである。
従ってこの実施例のメモリマップ図は図８のメモリマッ
プにおいてモード選択ルーチン３９を省略したものとな
る。さらにテストＥＥＰＲＯＭ領域６１に書き込まれる
バーンインデータ６１３は、バーンインモードで実行し
ようとするモードに対して予め定められたデータが書き
込まれる。ここでは例えば、リードオンリーモードを選
択する場合は“５５H"、ライトモードを選択する場合は
“ＡＡH"、そしてダミーライトモードを選択する場合は
“５ＡH"のバーンインデータ６１３を書き込むこととす
る。
によるカード用マイコンの動作フローチャートを示す図
である。この実施例のカード用マイコンの機能ブロック
図は図１に示すものと同じである。この実施例では実施
例３のバーンインデータ６１３に従ってバーンインモー
ドにおけるモードの選択を行うようにしたものである。
従ってこの実施例のメモリマップ図は図８のメモリマッ
プにおいてモード選択ルーチン３９を省略したものとな
る。さらにテストＥＥＰＲＯＭ領域６１に書き込まれる
バーンインデータ６１３は、バーンインモードで実行し
ようとするモードに対して予め定められたデータが書き
込まれる。ここでは例えば、リードオンリーモードを選
択する場合は“５５H"、ライトモードを選択する場合は
“ＡＡH"、そしてダミーライトモードを選択する場合は
“５ＡH"のバーンインデータ６１３を書き込むこととす
る。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２６
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２６】次に図９の動作フローチャートに従って動
作を説明する。バーンインテストプログラム３３を実行
する前には必ずテストＥＥＰＲＯＭ領域６１に実行する
モードを選択するバーンインデータ６１３を書き込んで
おく。そして、分岐ルーチン３４(ステップＳ２)で外部
からＩ／Ｏ端子１２を介してバーンインモード実行命令
が入力されるとバーンインモード(ステップＳ７)に分岐
することになるが、バーンインモードに分岐する前にバ
ーンインデータ確認ルーチン３８(ステップＳ６)が行わ
れる。このバーンインデータ確認ルーチンでは、テスト
ＥＥＰＲＯＭ領域６１のバーンインデータ６１３の内容
を参照して、“５５H"ならリードオンリーモード(ステ
ップＳ７２)、“ＡＡH"ならライトモード(ステップＳ７
３)、そして“５ＡH"の場合はダミーライトモード(ステ
ップＳ７４)を実行する。また、バーンインデータ６１
３がそれ以外のデータなら動作を停止する(ステップＳ
７５)。以上のように、この実施例ではバーンインデー
タ６１３からバーンインモード(ステップＳ７)への分岐
が許可されているか否か、およびバーンインモード(ス
テップＳ７)においてどのモードを選択するかが判断さ
れる。従って上記実施例３の図７のモード選択ルーチン
(ステップＳ７１)で示される、バーンインモードでのモ
ード選択のためのモード選択信号を外部から入力するル
ーチンが必要なくなった。
作を説明する。バーンインテストプログラム３３を実行
する前には必ずテストＥＥＰＲＯＭ領域６１に実行する
モードを選択するバーンインデータ６１３を書き込んで
おく。そして、分岐ルーチン３４(ステップＳ２)で外部
からＩ／Ｏ端子１２を介してバーンインモード実行命令
が入力されるとバーンインモード(ステップＳ７)に分岐
することになるが、バーンインモードに分岐する前にバ
ーンインデータ確認ルーチン３８(ステップＳ６)が行わ
れる。このバーンインデータ確認ルーチンでは、テスト
ＥＥＰＲＯＭ領域６１のバーンインデータ６１３の内容
を参照して、“５５H"ならリードオンリーモード(ステ
ップＳ７２)、“ＡＡH"ならライトモード(ステップＳ７
３)、そして“５ＡH"の場合はダミーライトモード(ステ
ップＳ７４)を実行する。また、バーンインデータ６１
３がそれ以外のデータなら動作を停止する(ステップＳ
７５)。以上のように、この実施例ではバーンインデー
タ６１３からバーンインモード(ステップＳ７)への分岐
が許可されているか否か、およびバーンインモード(ス
テップＳ７)においてどのモードを選択するかが判断さ
れる。従って上記実施例３の図７のモード選択ルーチン
(ステップＳ７１)で示される、バーンインモードでのモ
ード選択のためのモード選択信号を外部から入力するル
ーチンが必要なくなった。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２７
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２７】実施例５．図１０は第４の発明の一実施例
によるカード用マイコンの動作フローチャートを部分的
に示したものであり、分岐ルーチンからバーンインモー
ドに分岐する部分が示されている。全体の動作は図７に
示された実施例３のものと同じである。この実施例のカ
ード用マイコンは、バーンインテスト実行中にいずれの
モードが実行されているかを示す判別信号を外部に出力
するようにしたものである。これを実現させるためバー
ンインモード(ステップＳ７)で実行されるバーンインテ
ストプログラム３３は、実行中のモードを示すモード判
別信号１５をＩ／Ｏ端子１２に出力する判別信号出力ス
テップ(ステップＳ７６〜Ｓ７８)を設けている。その他
の部分は実施例３のものと同じであり、機能ブロック図
は図１に示すものとなり、またメモリマップは図６に示
すものとなる。
によるカード用マイコンの動作フローチャートを部分的
に示したものであり、分岐ルーチンからバーンインモー
ドに分岐する部分が示されている。全体の動作は図７に
示された実施例３のものと同じである。この実施例のカ
ード用マイコンは、バーンインテスト実行中にいずれの
モードが実行されているかを示す判別信号を外部に出力
するようにしたものである。これを実現させるためバー
ンインモード(ステップＳ７)で実行されるバーンインテ
ストプログラム３３は、実行中のモードを示すモード判
別信号１５をＩ／Ｏ端子１２に出力する判別信号出力ス
テップ(ステップＳ７６〜Ｓ７８)を設けている。その他
の部分は実施例３のものと同じであり、機能ブロック図
は図１に示すものとなり、またメモリマップは図６に示
すものとなる。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３３
【補正方法】変更
【補正内容】
【００３３】
【発明の効果】以上のように第１の発明によれば、出荷
時にテストＥＥＰＲＯＭ領域に出荷データを書き込み、
かつ分岐ルーチンの前に出荷確認ルーチンを設けるよう
にしたので、出荷後はユーザープログラム以外は実行で
きなくなり、テストプログラムおよびバーンインテスト
プログラムの実行およびアクセスに関してより高いセキ
ュリティをかけた信頼性の高いＩＣカード用マイクロコ
ンピュータが得られる効果がある。
時にテストＥＥＰＲＯＭ領域に出荷データを書き込み、
かつ分岐ルーチンの前に出荷確認ルーチンを設けるよう
にしたので、出荷後はユーザープログラム以外は実行で
きなくなり、テストプログラムおよびバーンインテスト
プログラムの実行およびアクセスに関してより高いセキ
ュリティをかけた信頼性の高いＩＣカード用マイクロコ
ンピュータが得られる効果がある。
【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３５
【補正方法】変更
【補正内容】
【００３５】第３の発明によれば、バーンインモード実
行命令を受信しバーンインテストプログラムに分岐する
前にバーンインデータ確認ルーチンを設け、またバーン
インテストプログラムの実行前にはテストＥＥＰＲＯＭ
領域にバーンインデータを書き込むようにし、バーンイ
ンデータ確認ルーチンではテストＥＥＰＲＯＭ領域にバ
ーンインデータが書き込まれていないとバーンインテス
トプログラムに分岐しないようにしたので、容易にバー
ンインテストプログラムを実行することができなくな
り、誤った実行命令によりバーンインテストプログラム
が実行されるのが防止され、さらにはバーンインテスト
プログラムの実行およびアクセスに関してセキュリティ
をかけることができるＩＣカード用マイクロコンピュー
タが得られる効果がある。
行命令を受信しバーンインテストプログラムに分岐する
前にバーンインデータ確認ルーチンを設け、またバーン
インテストプログラムの実行前にはテストＥＥＰＲＯＭ
領域にバーンインデータを書き込むようにし、バーンイ
ンデータ確認ルーチンではテストＥＥＰＲＯＭ領域にバ
ーンインデータが書き込まれていないとバーンインテス
トプログラムに分岐しないようにしたので、容易にバー
ンインテストプログラムを実行することができなくな
り、誤った実行命令によりバーンインテストプログラム
が実行されるのが防止され、さらにはバーンインテスト
プログラムの実行およびアクセスに関してセキュリティ
をかけることができるＩＣカード用マイクロコンピュー
タが得られる効果がある。
【手続補正１１】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図９
【補正方法】変更
【補正内容】
【図９】
Claims (4)
- 【請求項１】 ユーザープログラム、テストプログラ
ム、およびこれらのプログラムに実行命令に従って選択
的に分岐する分岐ルーチンを格納するマスクＲＯＭと、
このマスクＲＯＭに格納されたルーチンおよびプログラ
ムに従ってデータ処理を行うためのＣＰＵと、データを
一時記憶するＲＡＭと、記憶保持の必要なデータを格納
すると共に上記ユーザープログラムからはアクセスでき
ないテストＥＥＰＲＯＭ領域を含むＥＥＰＲＯＭと、外
部とのデータの入出力制御を行う入出力制御回路と、外
部との電気的接続を行う端子群と、上記各部分を相互に
接続するバスと、を備えたＩＣカード用マイクロコンピ
ュータであって、 上記マスクＲＯＭが上記分岐ルーチンの前に出荷確認ル
ーチンを含み、上記テストＥＥＰＲＯＭ領域が上記マイ
クロコンピュータが出荷されたことを示す出荷データを
書き込む領域を含み、上記出荷確認ルーチンで上記テス
トＥＥＰＲＯＭ領域に上記出荷データが書き込まれてい
ることが確認されると上記ユーザープログラムにしか分
岐しないＩＣカード用マイクロコンピュータ。 - 【請求項２】 ユーザープログラム、テストプログラ
ム、およびこれらのプログラムに実行命令に従って選択
的に分岐する分岐ルーチンを格納するマスクＲＯＭと、
このマスクＲＯＭに格納されたルーチンおよびプログラ
ムに従ってデータ処理を行うためのＣＰＵと、データを
一時記憶するＲＡＭと、記憶保持の必要なデータを格納
すると共に上記ユーザープログラムからはアクセスでき
ないテストＥＥＰＲＯＭ領域を含むＥＥＰＲＯＭと、外
部とのデータの入出力制御を行う入出力制御回路と、外
部との電気的接続を行う端子群と、上記各部分を相互に
接続するバスと、を備えたＩＣカード用マイクロコンピ
ュータであって、 上記端子群が電源端子を含み、上記マイクロコンピュー
タがさらに上記電源端子の電源電圧が低下していないこ
とを検出する電圧検出手段を設け、上記マスクＲＯＭが
出荷確認ルーチンおよびこの出荷確認ルーチンの前後い
ずれかに上記電源端子の電源電圧を検出する電圧検出ル
ーチンを上記分岐ルーチンの前に含み、上記テストＥＥ
ＰＲＯＭ領域が上記マイクロコンピュータが出荷された
ことを示す出荷データを書き込む領域を含み、上記出荷
確認ルーチンで上記テストＥＥＰＲＯＭ領域に上記出荷
データが書き込まれていないことが確認されても、上記
電圧検出ルーチンで上記電圧端子の電源電圧の低下が検
出された場合には上記ユーザープログラムにしか分岐し
ないＩＣカード用マイクロコンピュータ。 - 【請求項３】 ユーザープログラム、テストプログラ
ム、バーンインテストプログラム、およびこれらのプロ
グラムに実行命令に従って選択的に分岐する分岐ルーチ
ンを格納するマスクＲＯＭと、このマスクＲＯＭに格納
されたルーチンおよびプログラムに従ってデータ処理を
行うためのＣＰＵと、データを一時記憶するＲＡＭと、
記憶保持の必要なデータを格納すると共に上記ユーザー
プログラムからはアクセスできないテストＥＥＰＲＯＭ
領域を含むＥＥＰＲＯＭと、外部とのデータの入出力制
御を行う入出力制御回路と、外部との電気的接続を行う
端子群と、上記各部分を相互に接続するバスと、を備え
たＩＣカード用マイクロコンピュータであって、 上記マスクＲＯＭが上記バーンインテストプログラムに
分岐する前にバーンインデータ確認ルーチンを含み、上
記テストＥＥＰＲＯＭ領域が上記バーンインテストプロ
グラムを実行することを予め宣言するバーンインデータ
を書き込む領域を含み、上記バーンインデータ確認ルー
チンで上記テストＥＥＰＲＯＭ領域に上記バーンインデ
ータが書き込まれていないと上記バーンインテストプロ
グラムに分岐しないＩＣカード用マイクロコンピュー
タ。 - 【請求項４】 ユーザープログラム、テストプログラ
ム、複数のモードを有するバーンインテストプログラ
ム、およびこれらのプログラムに実行命令に従って選択
的に分岐する分岐ルーチンを格納するマスクＲＯＭと、
このマスクＲＯＭに格納されたルーチンおよびプログラ
ムに従ってデータ処理を行うためのＣＰＵと、データを
一時記憶するＲＡＭと、記憶保持の必要なデータを格納
すると共に上記ユーザープログラムからはアクセスでき
ないテストＥＥＰＲＯＭ領域を含むＥＥＰＲＯＭと、外
部とのデータの入出力制御を行う入出力制御回路と、外
部との電気的接続を行う端子群と、上記各部分を相互に
接続するバスと、を備えたＩＣカード用マイクロコンピ
ュータであって、 上記端子群が入出力端子を含み、上記バーンインテスト
プログラムが上記複数のモードのいずれを実行中かを示
すモード判別信号を、上記入出力端子を介して外部に出
力する判別信号出力ステップを含むＩＣカード用マイク
ロコンピュータ。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5021465A JPH06236447A (ja) | 1993-02-09 | 1993-02-09 | Ｉｃカード用マイクロコンピュータ |
| DE69428616T DE69428616T2 (de) | 1993-02-09 | 1994-02-08 | Mikrorechner für IC-Karte |
| EP94101896A EP0610886B1 (en) | 1993-02-09 | 1994-02-08 | Microcomputer for IC card |
| US08/193,460 US5506396A (en) | 1993-02-09 | 1994-02-08 | Microcomputer for IC card |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5021465A JPH06236447A (ja) | 1993-02-09 | 1993-02-09 | Ｉｃカード用マイクロコンピュータ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06236447A true JPH06236447A (ja) | 1994-08-23 |
Family
ID=12055739
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5021465A Pending JPH06236447A (ja) | 1993-02-09 | 1993-02-09 | Ｉｃカード用マイクロコンピュータ |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5506396A (ja) |
| EP (1) | EP0610886B1 (ja) |
| JP (1) | JPH06236447A (ja) |
| DE (1) | DE69428616T2 (ja) |
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| US6300224B1 (en) | 1999-07-30 | 2001-10-09 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Methods of dicing semiconductor wafer into chips, and structure of groove formed in dicing area |
| JP2006505841A (ja) * | 2002-11-07 | 2006-02-16 | ローベルト ボッシュ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 制御装置内のマイクロコントローラのメモリ領域を確実に検査する方法および保護されたマイクロコントローラを有する制御装置 |
| JP2008146381A (ja) * | 2006-12-11 | 2008-06-26 | Ricoh Co Ltd | 組み込みコンピュータ機器 |
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|---|---|---|---|---|
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| DE19711478A1 (de) * | 1997-03-19 | 1998-10-01 | Siemens Ag | Integrierte Schaltung und Verfahren zum Testen der integrierten Schaltung |
| FR2767624B1 (fr) * | 1997-08-21 | 2002-05-10 | Activcard | Dispositif portable electronique pour systeme de communication securisee, et procede d'initialisation de ses parametres |
| JP3198997B2 (ja) * | 1997-08-28 | 2001-08-13 | 日本電気株式会社 | マイクロコンピュータ及びそのバーンインテスト方法 |
| DE19804784A1 (de) * | 1998-02-06 | 1999-08-12 | Philips Patentverwaltung | Chipkarte mit integrierter Schaltung |
| JP2002157212A (ja) * | 2000-11-17 | 2002-05-31 | Hitachi Ltd | 情報処理システム並びに携帯用電子機器および情報処理装置 |
| US20030140261A1 (en) * | 2002-01-24 | 2003-07-24 | Minoru Takasaki | Control apparatus |
| JP4182740B2 (ja) * | 2002-12-06 | 2008-11-19 | 沖電気工業株式会社 | マイクロコンピュータ |
| JP3997917B2 (ja) * | 2003-01-10 | 2007-10-24 | 株式会社デンソー | 地図検索装置 |
| DE602004020414D1 (de) | 2003-02-24 | 2009-05-20 | St Microelectronics Sa | Verfahren und Vorrichtung zur Auswahl der Betriebsart einer Integrierten Schaltung |
| FR2851668A1 (fr) | 2003-02-24 | 2004-08-27 | St Microelectronics Sa | Procede et dispositif de selection de mode de fonctionnement d'un circuit integre |
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| US8365983B2 (en) * | 2009-11-20 | 2013-02-05 | Intel Corporation | Radio-frequency reconfigurations of microelectronic systems in commercial packages |
| CN102592683B (zh) * | 2012-02-23 | 2014-12-10 | 苏州华芯微电子股份有限公司 | 一种芯片测试模式的进入方法及相关装置 |
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| JPH0682405B2 (ja) * | 1986-01-14 | 1994-10-19 | カシオ計算機株式会社 | テストプログラム起動方式 |
| JPH0827730B2 (ja) * | 1986-11-07 | 1996-03-21 | 沖電気工業株式会社 | シングルチップマイクロコンピュータ及びそのテスト方法 |
| US4777355A (en) * | 1986-12-24 | 1988-10-11 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | IC card and system for checking the functionality thereof |
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-
1993
- 1993-02-09 JP JP5021465A patent/JPH06236447A/ja active Pending
-
1994
- 1994-02-08 US US08/193,460 patent/US5506396A/en not_active Expired - Fee Related
- 1994-02-08 DE DE69428616T patent/DE69428616T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1994-02-08 EP EP94101896A patent/EP0610886B1/en not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
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|---|---|
| DE69428616D1 (de) | 2001-11-22 |
| DE69428616T2 (de) | 2002-08-01 |
| EP0610886A2 (en) | 1994-08-17 |
| US5506396A (en) | 1996-04-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040210 |