JPH06230749A - 液晶ディスプレイ - Google Patents
液晶ディスプレイInfo
- Publication number
- JPH06230749A JPH06230749A JP1909293A JP1909293A JPH06230749A JP H06230749 A JPH06230749 A JP H06230749A JP 1909293 A JP1909293 A JP 1909293A JP 1909293 A JP1909293 A JP 1909293A JP H06230749 A JPH06230749 A JP H06230749A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- wiring
- tft
- thin film
- film transistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 画面部を構成するＴＦＴを簡便に検査できる
回路内蔵型のＬＣＤの提供。 【構成】 ガラス基板１０上に、画面部１１を構成する
マトリクス状に配列された薄膜トランジスタ１４と、上
記画面部１１に周囲に形成され、該薄膜トランジスタ１
４を駆動する走査側駆動回路１２および信号側駆動回路
１３を構成する薄膜トランジスタ回路と、上記薄膜トラ
ンジスタ１４と走査側駆動回路１２とを接続するゲート
配線１７と、上記薄膜トランジスタ１４と信号側駆動回
路１３とを接続するドレイン配線１８を有する液晶ディ
スプレイにおいて、画面部１１と走査側駆動回路１２と
の間の各ゲート配線１７にこのゲート配線１７より幅広
の検査用パッド２０を設け、かつ画面部１１と信号側駆
動回路１３の間の各ドレイン配線１８にこのドレイン配
線１８より幅広の検査用パッド２１を設けた液晶ディス
プレイ。
回路内蔵型のＬＣＤの提供。 【構成】 ガラス基板１０上に、画面部１１を構成する
マトリクス状に配列された薄膜トランジスタ１４と、上
記画面部１１に周囲に形成され、該薄膜トランジスタ１
４を駆動する走査側駆動回路１２および信号側駆動回路
１３を構成する薄膜トランジスタ回路と、上記薄膜トラ
ンジスタ１４と走査側駆動回路１２とを接続するゲート
配線１７と、上記薄膜トランジスタ１４と信号側駆動回
路１３とを接続するドレイン配線１８を有する液晶ディ
スプレイにおいて、画面部１１と走査側駆動回路１２と
の間の各ゲート配線１７にこのゲート配線１７より幅広
の検査用パッド２０を設け、かつ画面部１１と信号側駆
動回路１３の間の各ドレイン配線１８にこのドレイン配
線１８より幅広の検査用パッド２１を設けた液晶ディス
プレイ。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、同一基板上に画面部及
び周囲部の薄膜トランジスタを形成した液晶ディスプレ
イにおいて、周囲部の薄膜トランジスタを用いて画面部
の薄膜トランジスタ等のアクイィブ素子を駆動させる液
晶ディスプレイに関する。
び周囲部の薄膜トランジスタを形成した液晶ディスプレ
イにおいて、周囲部の薄膜トランジスタを用いて画面部
の薄膜トランジスタ等のアクイィブ素子を駆動させる液
晶ディスプレイに関する。
【０００２】
【従来の技術】薄膜トランジスタを用いた液晶ディスプ
レイ（以下、ＴＦＴ−ＬＣＤと略記する。）において
は、薄膜トランジスタ（以下、ＴＦＴと略記する。）を
組み合わせた駆動回路を画面部を構成するＴＦＴの周囲
に形成することによって、画面部を構成するＴＦＴを駆
動させる回路内蔵型の液晶ディスプレイ（以下、ＬＣＤ
と略記する。）となる。回路内蔵型のＬＣＤは、画面部
の周囲にＩＣ回路を実装する必要が無く、ＬＣＤの小型
軽量化が実現できる。回路内蔵型のＬＣＤの従来例とし
ては、特開昭６３−３７３９４号公報記載ものなどがあ
る。
レイ（以下、ＴＦＴ−ＬＣＤと略記する。）において
は、薄膜トランジスタ（以下、ＴＦＴと略記する。）を
組み合わせた駆動回路を画面部を構成するＴＦＴの周囲
に形成することによって、画面部を構成するＴＦＴを駆
動させる回路内蔵型の液晶ディスプレイ（以下、ＬＣＤ
と略記する。）となる。回路内蔵型のＬＣＤは、画面部
の周囲にＩＣ回路を実装する必要が無く、ＬＣＤの小型
軽量化が実現できる。回路内蔵型のＬＣＤの従来例とし
ては、特開昭６３−３７３９４号公報記載ものなどがあ
る。
【０００３】ＴＦＴ−ＬＣＤは、高画質表示が可能なこ
とから各種用途への適用が考えられているものの、価格
が非常に高いことからその普及が阻まれている。ＴＦＴ
−ＬＣＤのコスト高については、ＴＦＴの欠陥による不
良の発生が一つの要因と考えられている。このため、近
年では欠陥の修正を行うことによってＴＦＴ−ＬＣＤの
不良率を下げ、コストダウンを図るといった技術開発が
盛になされている。
とから各種用途への適用が考えられているものの、価格
が非常に高いことからその普及が阻まれている。ＴＦＴ
−ＬＣＤのコスト高については、ＴＦＴの欠陥による不
良の発生が一つの要因と考えられている。このため、近
年では欠陥の修正を行うことによってＴＦＴ−ＬＣＤの
不良率を下げ、コストダウンを図るといった技術開発が
盛になされている。
【０００４】ＴＦＴの欠陥を修正するためには、欠陥Ｔ
ＦＴの検出が重要である。ＴＦＴに関する検査技術の従
来例としては、エス・アイ・ディー ９１ ダイジェス
ト（１９９１年）（ＳＩＤ ９１ Ｄｉｇｅｓｔ）の第
６８２頁から第６８５頁において説明されている様な技
術や、電子材料１９９２年２月号第７２頁から第７５頁
において説明されている技術がある。これらのＴＦＴに
関する検査技術は、画面部のみＴＦＴを用いている型の
ＴＦＴ−ＬＣＤを主な対象にしたもので、画面部を構成
するＴＦＴのマトリクスからでているゲート配線あるい
はドレイン配線の端子部にＴＦＴ評価用の回路をプロー
ブピンなどで直接接続するといった検査法を用いるもの
である。従って、このような検査法を用いるためには、
ゲート配線あるいはドレイン配線の端子部は基板の最外
周に出ている必要があるのである。
ＦＴの検出が重要である。ＴＦＴに関する検査技術の従
来例としては、エス・アイ・ディー ９１ ダイジェス
ト（１９９１年）（ＳＩＤ ９１ Ｄｉｇｅｓｔ）の第
６８２頁から第６８５頁において説明されている様な技
術や、電子材料１９９２年２月号第７２頁から第７５頁
において説明されている技術がある。これらのＴＦＴに
関する検査技術は、画面部のみＴＦＴを用いている型の
ＴＦＴ−ＬＣＤを主な対象にしたもので、画面部を構成
するＴＦＴのマトリクスからでているゲート配線あるい
はドレイン配線の端子部にＴＦＴ評価用の回路をプロー
ブピンなどで直接接続するといった検査法を用いるもの
である。従って、このような検査法を用いるためには、
ゲート配線あるいはドレイン配線の端子部は基板の最外
周に出ている必要があるのである。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、回路内蔵型
のＬＣＤには、上述したように画面部を構成するＴＦＴ
とこれの周囲に形成されたＴＦＴからなる駆動用回路が
あるが、この２種類のＴＦＴの中では、特に画面部を構
成するＴＦＴの方が、その数が非常に多いために欠陥の
発生する確率も高くなっている。このため、回路内蔵型
のＬＣＤにおいても画面部を構成するＴＦＴの検査を行
う必要がある。
のＬＣＤには、上述したように画面部を構成するＴＦＴ
とこれの周囲に形成されたＴＦＴからなる駆動用回路が
あるが、この２種類のＴＦＴの中では、特に画面部を構
成するＴＦＴの方が、その数が非常に多いために欠陥の
発生する確率も高くなっている。このため、回路内蔵型
のＬＣＤにおいても画面部を構成するＴＦＴの検査を行
う必要がある。
【０００６】ところが、従来の回路内蔵型のＬＣＤでは
画面部を構成するＴＦＴのマトリクスからでているゲー
ト配線の延長上あるいはドレイン配線の延長上に駆動用
回路が形成されるため、プローブピンを用いて接続する
ことのできる基板の最外周に出ている端子部は、駆動用
回路から延びている配線となる。従って、このような回
路内蔵型のＬＣＤにあっては、プローブピンをゲート配
線あるいはドレイン配線に直接接続しようとしても、ゲ
ート配線およびドレイン配線の線幅が５〜１０μｍと非
常に狭く、駆動用回路までほぼ同一の線幅であるためこ
れら配線にプローブピンを確実に接続することが非常に
困難となり、事実上、プローブピンをゲート配線あるい
はドレイン配線に直接接続することができないものとな
っている。よって、このような事情から画面部の周囲に
駆動用回路が形成されている回路内蔵型のＬＣＤでは、
画面部を構成するＴＦＴの検査を行うことが非常に困難
となっている。
画面部を構成するＴＦＴのマトリクスからでているゲー
ト配線の延長上あるいはドレイン配線の延長上に駆動用
回路が形成されるため、プローブピンを用いて接続する
ことのできる基板の最外周に出ている端子部は、駆動用
回路から延びている配線となる。従って、このような回
路内蔵型のＬＣＤにあっては、プローブピンをゲート配
線あるいはドレイン配線に直接接続しようとしても、ゲ
ート配線およびドレイン配線の線幅が５〜１０μｍと非
常に狭く、駆動用回路までほぼ同一の線幅であるためこ
れら配線にプローブピンを確実に接続することが非常に
困難となり、事実上、プローブピンをゲート配線あるい
はドレイン配線に直接接続することができないものとな
っている。よって、このような事情から画面部の周囲に
駆動用回路が形成されている回路内蔵型のＬＣＤでは、
画面部を構成するＴＦＴの検査を行うことが非常に困難
となっている。
【０００７】本発明の目的は、画面部を構成するＴＦＴ
を簡便に検査できる回路内蔵型のＬＣＤを提供すること
にある。
を簡便に検査できる回路内蔵型のＬＣＤを提供すること
にある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】請求項１記載のＬＣＤ
は、ガラス基板上に、画面部を構成するマトリクス状に
配列されたＴＦＴと、前記画面部の周囲に形成され、該
ＴＦＴを駆動させる駆動回路を構成するＴＦＴ回路と、
上記ＴＦＴと上記ＴＦＴ回路とを接続する配線部を有す
るＬＣＤにおいて、上記配線部に該配線部より幅広の検
査用パッドを設けたことを特徴とする。
は、ガラス基板上に、画面部を構成するマトリクス状に
配列されたＴＦＴと、前記画面部の周囲に形成され、該
ＴＦＴを駆動させる駆動回路を構成するＴＦＴ回路と、
上記ＴＦＴと上記ＴＦＴ回路とを接続する配線部を有す
るＬＣＤにおいて、上記配線部に該配線部より幅広の検
査用パッドを設けたことを特徴とする。
【０００９】請求項２記載のＬＣＤは、ガラス基板上
に、画面部を構成するマトリクス状に配列されたＴＦＴ
と、前記画面部の周囲に形成され、該ＴＦＴを駆動させ
る駆動回路を構成するＴＦＴ回路と、前記ＴＦＴと前記
ＴＦＴ回路とを接続する配線部を有するＬＣＤにおい
て、上記配線部より配線を分岐させた分岐配線を設け、
これら分岐配線を上記ＴＦＴ回路を乗り越えさせ、かつ
これら分岐配線相互を上記ガラス基板の外周部において
短絡させたことを特徴とする。
に、画面部を構成するマトリクス状に配列されたＴＦＴ
と、前記画面部の周囲に形成され、該ＴＦＴを駆動させ
る駆動回路を構成するＴＦＴ回路と、前記ＴＦＴと前記
ＴＦＴ回路とを接続する配線部を有するＬＣＤにおい
て、上記配線部より配線を分岐させた分岐配線を設け、
これら分岐配線を上記ＴＦＴ回路を乗り越えさせ、かつ
これら分岐配線相互を上記ガラス基板の外周部において
短絡させたことを特徴とする。
【００１０】請求項３記載のＬＣＤは、上記請求項２記
載のＬＣＤにおいて、分岐配線を短絡させてなる短絡部
とＴＦＴ回路との間にガラス基板の切断線を設けたこと
を特徴とする。
載のＬＣＤにおいて、分岐配線を短絡させてなる短絡部
とＴＦＴ回路との間にガラス基板の切断線を設けたこと
を特徴とする。
【００１１】
【作用】請求項１記載のＬＣＤにあっては、画面部を構
成するＴＦＴとこれの周囲に形成されたＴＦＴ回路との
間の配線部に検査用パッドを設けたことにより、この検
査用パッドが設けられている部分の配線部の線幅が広く
なり、よって該配線部に検査用のプローブピンを直接接
続することが可能となる。
成するＴＦＴとこれの周囲に形成されたＴＦＴ回路との
間の配線部に検査用パッドを設けたことにより、この検
査用パッドが設けられている部分の配線部の線幅が広く
なり、よって該配線部に検査用のプローブピンを直接接
続することが可能となる。
【００１２】また、請求項２記載のＬＣＤにあっては、
画面部を構成するＴＦＴとこれの周囲に形成されたＴＦ
Ｔ回路との間の配線部より配線を分岐させた分岐配線を
設け、これら分岐配線を上記ＴＦＴ回路の外側で短絡さ
せたことにより、ガラス基板の外周部の近傍までＴＦＴ
のマトリックスから出ている配線が延びたものとなり、
従って、該配線に検査用のプローブピンを直接接続する
ことが可能となる。
画面部を構成するＴＦＴとこれの周囲に形成されたＴＦ
Ｔ回路との間の配線部より配線を分岐させた分岐配線を
設け、これら分岐配線を上記ＴＦＴ回路の外側で短絡さ
せたことにより、ガラス基板の外周部の近傍までＴＦＴ
のマトリックスから出ている配線が延びたものとなり、
従って、該配線に検査用のプローブピンを直接接続する
ことが可能となる。
【００１３】
【実施例】以下、本発明の液晶ディスプレイの第一の実
施例を説明する。図１は実施例の回路内蔵型のＬＣＤに
用いられるＴＦＴ基板の全体構成図であり、図２はゲー
ト線及びドレイン線に検査用パッドを設けた詳細図であ
る。
施例を説明する。図１は実施例の回路内蔵型のＬＣＤに
用いられるＴＦＴ基板の全体構成図であり、図２はゲー
ト線及びドレイン線に検査用パッドを設けた詳細図であ
る。
【００１４】まず、図１を用いてＴＦＴ基板の全体構成
を説明する。図１において符号１０はＴＦＴ基板であ
り、このＴＦＴ基板１０は厚さ１．１mm程度の薄いガラ
スからなっている。ＴＦＴ基板１０上には、半導体プロ
セスによりＴＦＴが形成されている。ＴＦＴは、実際に
表示を行う画面部１１を構成するＴＦＴ１４と、このＴ
ＦＴ１４を駆動させるための走査側駆動回路１２と信号
側駆動回路１３とを構成するＴＦＴに区分される。走査
側駆動回路１２と信号側駆動回路１３とは、画面部１１
の周囲に形成されている。
を説明する。図１において符号１０はＴＦＴ基板であ
り、このＴＦＴ基板１０は厚さ１．１mm程度の薄いガラ
スからなっている。ＴＦＴ基板１０上には、半導体プロ
セスによりＴＦＴが形成されている。ＴＦＴは、実際に
表示を行う画面部１１を構成するＴＦＴ１４と、このＴ
ＦＴ１４を駆動させるための走査側駆動回路１２と信号
側駆動回路１３とを構成するＴＦＴに区分される。走査
側駆動回路１２と信号側駆動回路１３とは、画面部１１
の周囲に形成されている。
【００１５】ＴＦＴ−ＬＣＤにおいて画面部１１のＴＦ
Ｔ１４は、画素１５を介して対向基板（図示略）の対向
電極１６に電気的につながっている。ただし、ＴＦＴ１
４を検査する時点においては、ＴＦＴ１４は上記対向基
板と組み合わされた状態にはなっていない。なお、図１
においては１つのＴＦＴ１４のみしか示していないが、
実際のＴＦＴ−ＬＣＤにおいては、多数のＴＦＴ１４が
マトリクス状に配列している。例えば、パーソナルコン
ピュータ用のＴＦＴ−ＬＣＤの場合は、１列６４０個の
ＴＦＴが、４８０列並んでいる。
Ｔ１４は、画素１５を介して対向基板（図示略）の対向
電極１６に電気的につながっている。ただし、ＴＦＴ１
４を検査する時点においては、ＴＦＴ１４は上記対向基
板と組み合わされた状態にはなっていない。なお、図１
においては１つのＴＦＴ１４のみしか示していないが、
実際のＴＦＴ−ＬＣＤにおいては、多数のＴＦＴ１４が
マトリクス状に配列している。例えば、パーソナルコン
ピュータ用のＴＦＴ−ＬＣＤの場合は、１列６４０個の
ＴＦＴが、４８０列並んでいる。
【００１６】上記ＴＦＴ１４は、図２に示すように酸化
スズ、インジウム酸化スズ等の透明な導電材料で形成さ
れた画素電極１５ａと電気的に接続されて該画素電極１
５ａに印加するためもので、ゲート１４ａ、ドレイン１
４ｂ及びソース１４ｃの各要素から構成されたものであ
る。ゲート１４ａはゲート配線１７に接続され、ドレイ
ン１４ｂはドレイン配線１８と接続されている。また、
ソース１４ｃは上記画素電極１５ａと接続されている。
スズ、インジウム酸化スズ等の透明な導電材料で形成さ
れた画素電極１５ａと電気的に接続されて該画素電極１
５ａに印加するためもので、ゲート１４ａ、ドレイン１
４ｂ及びソース１４ｃの各要素から構成されたものであ
る。ゲート１４ａはゲート配線１７に接続され、ドレイ
ン１４ｂはドレイン配線１８と接続されている。また、
ソース１４ｃは上記画素電極１５ａと接続されている。
【００１７】上記ゲート配線１７は走査側駆動回路１２
に接続されたものであり、また、ドレイン配線１８は信
号側駆動回路１３に接続されたものである。ゲート配線
１７およびドレイン配線１８の線幅は５〜１０μｍ程度
とされる。例えば、パーソナルコンピュータ用のＴＦＴ
−ＬＣＤの場合では、ゲート配線１７は４８０列のＴＦ
Ｔ列からそれぞれ１本ずつでている。また、ドレイン配
線１８は１列６４０個のＴＦＴより１本ずつでており、
列方向の４８０個のＴＦＴのドレインが接続されてい
る。
に接続されたものであり、また、ドレイン配線１８は信
号側駆動回路１３に接続されたものである。ゲート配線
１７およびドレイン配線１８の線幅は５〜１０μｍ程度
とされる。例えば、パーソナルコンピュータ用のＴＦＴ
−ＬＣＤの場合では、ゲート配線１７は４８０列のＴＦ
Ｔ列からそれぞれ１本ずつでている。また、ドレイン配
線１８は１列６４０個のＴＦＴより１本ずつでており、
列方向の４８０個のＴＦＴのドレインが接続されてい
る。
【００１８】上記走査側駆動回路１２あるいは信号側駆
動回路１３の構成については、特開昭６３−３７３９４
号等に示されている技術を用いることができる。これら
走査側駆動回路１２と信号側駆動回路１３からは外部の
信号源と接続される入力端子１９がでている。
動回路１３の構成については、特開昭６３−３７３９４
号等に示されている技術を用いることができる。これら
走査側駆動回路１２と信号側駆動回路１３からは外部の
信号源と接続される入力端子１９がでている。
【００１９】ところで、従来の回路内蔵型のＬＣＤにお
いては、図１に見られるように入力端子１９と画面部１
１との間に上記走査側駆動回路１２と信号側駆動回路１
３があるため、入力端子１９より電気的に各ＴＦＴ１４
を直接検査することは困難であった。
いては、図１に見られるように入力端子１９と画面部１
１との間に上記走査側駆動回路１２と信号側駆動回路１
３があるため、入力端子１９より電気的に各ＴＦＴ１４
を直接検査することは困難であった。
【００２０】一方、この第一の実施例では、画面部１１
と走査側駆動回路１２との間の各ゲート配線１７に検査
用パッド２０が設けられ、かつ、画面部１１と信号側駆
動回路１３の間の各ドレイン配線１８に検査用パッド２
１が設けられている。これら検査用パッド２０，２１の
大きさは、隣接する配線等と短絡する恐れが無い程度と
される。例えば、対角２５cm程度のパーソナルコンピュ
ータ用ＴＦＴ−ＬＣＤの場合、ゲート配線１７上の検査
用パッド２０の大きさは、１００μｍ角程度、ドレイン
配線１８上の検査用パッド２１の大きさは、８０μｍ角
程度となる。
と走査側駆動回路１２との間の各ゲート配線１７に検査
用パッド２０が設けられ、かつ、画面部１１と信号側駆
動回路１３の間の各ドレイン配線１８に検査用パッド２
１が設けられている。これら検査用パッド２０，２１の
大きさは、隣接する配線等と短絡する恐れが無い程度と
される。例えば、対角２５cm程度のパーソナルコンピュ
ータ用ＴＦＴ−ＬＣＤの場合、ゲート配線１７上の検査
用パッド２０の大きさは、１００μｍ角程度、ドレイン
配線１８上の検査用パッド２１の大きさは、８０μｍ角
程度となる。
【００２１】このような回路内蔵型のＬＣＤにあって
は、検査用パッド２０，２１が設けられていることか
ら、これら検査用パッド２０，２１に検査用のプローブ
ピンを直接接続することによって該プローブピンとゲー
ト配線１７あるいはドレイン配線１８との接続も確実に
行うことができる。従って、検査用パッド２０，２１に
検査装置のプローブピンを直接接続させることによっ
て、画面部１１のＴＦＴ１４・・・の検査を容易に行うこ
とができる。
は、検査用パッド２０，２１が設けられていることか
ら、これら検査用パッド２０，２１に検査用のプローブ
ピンを直接接続することによって該プローブピンとゲー
ト配線１７あるいはドレイン配線１８との接続も確実に
行うことができる。従って、検査用パッド２０，２１に
検査装置のプローブピンを直接接続させることによっ
て、画面部１１のＴＦＴ１４・・・の検査を容易に行うこ
とができる。
【００２２】つぎに、本発明の液晶ディスプレイの第二
の実施例について、図３を用いて説明する。図３に示し
た第二の実施例が、図１に示した第一の実施例と異なる
ところは、第一の実施例が、画面部１１と走査側駆動回
路１２との間にある各ゲート配線１７に検査用パッド２
０を設け、かつ、画面部１１と信号側駆動回路１３の間
にある各ドレイン配線１８に検査用パッド２１を設けた
のに対し、検査用パッド２０，２１を設けることなく、
画面部１１と走査側駆動回路１２との間にある各ゲート
配線１７から分岐させた分岐配線３５を設け、かつ、画
面部１１と信号側駆動回路１３の間にある各ドレイン配
線１８より分岐させた分岐配線３７を設けた点である。
の実施例について、図３を用いて説明する。図３に示し
た第二の実施例が、図１に示した第一の実施例と異なる
ところは、第一の実施例が、画面部１１と走査側駆動回
路１２との間にある各ゲート配線１７に検査用パッド２
０を設け、かつ、画面部１１と信号側駆動回路１３の間
にある各ドレイン配線１８に検査用パッド２１を設けた
のに対し、検査用パッド２０，２１を設けることなく、
画面部１１と走査側駆動回路１２との間にある各ゲート
配線１７から分岐させた分岐配線３５を設け、かつ、画
面部１１と信号側駆動回路１３の間にある各ドレイン配
線１８より分岐させた分岐配線３７を設けた点である。
【００２３】各ゲート配線１７より出た分岐配線３５
は、走査側駆動回路１２を越えてＴＦＴ基板１０の外周
部近傍まで延び、外周部で短絡部３５ａに接続すること
によって相互に短絡している。
は、走査側駆動回路１２を越えてＴＦＴ基板１０の外周
部近傍まで延び、外周部で短絡部３５ａに接続すること
によって相互に短絡している。
【００２４】また、各ドレイン配線１８より出た分岐配
線３７は、信号側駆動回路１３を越えて、ＴＦＴ基板１
０の外周部近傍まで延び、外周部で短絡部３７ａに接続
することによって相互に短絡している。
線３７は、信号側駆動回路１３を越えて、ＴＦＴ基板１
０の外周部近傍まで延び、外周部で短絡部３７ａに接続
することによって相互に短絡している。
【００２５】これらの分岐配線３５及び３７が設けられ
ているＴＦＴ基板１０上には、各分岐配線３５を相互に
短絡している短絡部３５ａと走査側駆動回路１２との間
と、各分岐配線３７を相互に短絡している短絡部３７ａ
と信号側駆動回路１３との間とを通るスクライブ線（切
断線）３８が引かれている。
ているＴＦＴ基板１０上には、各分岐配線３５を相互に
短絡している短絡部３５ａと走査側駆動回路１２との間
と、各分岐配線３７を相互に短絡している短絡部３７ａ
と信号側駆動回路１３との間とを通るスクライブ線（切
断線）３８が引かれている。
【００２６】このような回路内蔵型のＬＣＤにあって
は、ＴＦＴ基板１０の外周部近傍まで分岐配線３５及び
３７が延びているので、実質的にゲート配線１７および
ドレイン配線１８が外周部近傍まで延びたものとなり、
ゲート配線１７あるいはドレイン配線１８と検査用のプ
ローブピンとを直接接続することができる。従って、分
岐配線３５および３７に検査装置のプローブピンを直接
接続することによって、画面部１１の各ＴＦＴ１４の検
査を容易に行うことができる。また、画面部１１を構成
する各ＴＦＴ１４の検査の終了後、ＴＦＴ基板１０をス
クライブ線３８に沿って切り離すことによって、ＴＦＴ
−ＬＣＤの駆動に分岐配線３５および３７の影響が出る
ことを防ぐことができる。
は、ＴＦＴ基板１０の外周部近傍まで分岐配線３５及び
３７が延びているので、実質的にゲート配線１７および
ドレイン配線１８が外周部近傍まで延びたものとなり、
ゲート配線１７あるいはドレイン配線１８と検査用のプ
ローブピンとを直接接続することができる。従って、分
岐配線３５および３７に検査装置のプローブピンを直接
接続することによって、画面部１１の各ＴＦＴ１４の検
査を容易に行うことができる。また、画面部１１を構成
する各ＴＦＴ１４の検査の終了後、ＴＦＴ基板１０をス
クライブ線３８に沿って切り離すことによって、ＴＦＴ
−ＬＣＤの駆動に分岐配線３５および３７の影響が出る
ことを防ぐことができる。
【００２７】
【発明の効果】以上説明したように請求項１記載のＬＣ
Ｄは、画面部を構成するＴＦＴとこれの周囲に形成され
たＴＦＴ回路との間の配線部に該配線部より幅広の検査
用パッドを設けたものであるから、この検査用パッドが
設けられている部分の配線部の線幅が広くなり、よって
該配線部に検査用のプローブピンを直接接続することが
できるとともにこの接続も確実に行うことができ、従っ
て画面部を構成するＴＦＴを簡便に検査することができ
る。
Ｄは、画面部を構成するＴＦＴとこれの周囲に形成され
たＴＦＴ回路との間の配線部に該配線部より幅広の検査
用パッドを設けたものであるから、この検査用パッドが
設けられている部分の配線部の線幅が広くなり、よって
該配線部に検査用のプローブピンを直接接続することが
できるとともにこの接続も確実に行うことができ、従っ
て画面部を構成するＴＦＴを簡便に検査することができ
る。
【００２８】また、請求項２記載のＬＣＤは、配線部よ
り配線を分岐させた分岐配線を設け、これら分岐配線を
上記薄膜トランジスタ回路を乗り越えさせ、かつこれら
分岐配線相互を上記ガラス基板の外周部において短絡さ
せたものであるから、ガラス基板の外周部の近傍までＴ
ＦＴのマトリックスからでている配線が延びたものとな
り、従って該配線に検査用のプローブピンを直接接続す
ることができ、これにより画面部を構成するＴＦＴを簡
便に検査することができる。
り配線を分岐させた分岐配線を設け、これら分岐配線を
上記薄膜トランジスタ回路を乗り越えさせ、かつこれら
分岐配線相互を上記ガラス基板の外周部において短絡さ
せたものであるから、ガラス基板の外周部の近傍までＴ
ＦＴのマトリックスからでている配線が延びたものとな
り、従って該配線に検査用のプローブピンを直接接続す
ることができ、これにより画面部を構成するＴＦＴを簡
便に検査することができる。
【００２９】また、請求項３記載のＬＣＤは、短絡部と
ＴＦＴ回路との間にガラス基板の切断線を設けたもので
あるから、短絡部を用いて画面部を構成するＴＦＴを検
査した後、ガラス基板を切断線に沿って切り離すことに
よって、ＴＦＴ−ＬＣＤの駆動に分岐配線の影響が出る
ことを防ぐことができる。
ＴＦＴ回路との間にガラス基板の切断線を設けたもので
あるから、短絡部を用いて画面部を構成するＴＦＴを検
査した後、ガラス基板を切断線に沿って切り離すことに
よって、ＴＦＴ−ＬＣＤの駆動に分岐配線の影響が出る
ことを防ぐことができる。
【図１】 第一の実施例の回路内蔵型のＬＣＤに用いら
れるＴＦＴ基板の全体構成図である。
れるＴＦＴ基板の全体構成図である。
【図２】 第一の実施例の回路内蔵型のＬＣＤのゲート
配線及びドレイン配線に検査用パッドを設けた詳細図で
ある。
配線及びドレイン配線に検査用パッドを設けた詳細図で
ある。
【図３】 第二の実施例の回路内蔵型のＬＣＤに用いら
れるＴＦＴ基板の全体構成図である
れるＴＦＴ基板の全体構成図である
１０…ＴＦＴ基板，１１…画面部，１２…走査側駆動回
路，１３…信号側駆動回路，１４…ＴＦＴ，１５…画
素，１５ａ・・・画素電極，１６…対向電極，１７…ゲー
ト配線，１８…ドレイン配線，１９…入力端子，２０…
検査用パッド，３２１・・・検査用パッド，３５…分岐配
線，３５ａ・・・短絡部，３７…分岐配線，３７ａ・・・短絡
部，３８…スクライブ線。
路，１３…信号側駆動回路，１４…ＴＦＴ，１５…画
素，１５ａ・・・画素電極，１６…対向電極，１７…ゲー
ト配線，１８…ドレイン配線，１９…入力端子，２０…
検査用パッド，３２１・・・検査用パッド，３５…分岐配
線，３５ａ・・・短絡部，３７…分岐配線，３７ａ・・・短絡
部，３８…スクライブ線。
Claims (3)
- 【請求項１】 ガラス基板上に、画面部を構成するマト
リクス状に配列された薄膜トランジスタと、前記画面部
の周囲に形成され、該薄膜トランジスタを駆動させる駆
動回路を構成する薄膜トランジスタ回路と、前記薄膜ト
ランジスタと前記薄膜トランジスタ回路とを接続する配
線部を有する液晶ディスプレイにおいて、 前記配線部に該配線部より幅広の検査用パッドを設けた
ことを特徴とする液晶ディスプレイ。 - 【請求項２】 ガラス基板上に、画面部を構成するマト
リクス状に配列された薄膜トランジスタと、前記画面部
の周囲に形成され、該薄膜トランジスタを駆動させる駆
動回路を構成する薄膜トランジスタ回路と、前記薄膜ト
ランジスタと前記薄膜トランジスタ回路とを接続する配
線部を有する液晶ディスプレイにおいて、 前記配線部より配線を分岐させた分岐配線を設け、これ
ら分岐配線を前記薄膜トランジスタ回路を乗り越えさ
せ、かつこれら分岐配線相互を前記ガラス基板の外周部
において短絡させたことを特徴とする液晶ディスプレ
イ。 - 【請求項３】 請求項２記載の液晶ディスプレイにおい
て、分岐配線を短絡させてなる短絡部と薄膜トランジス
タ回路との間にガラス基板の切断線を設けたことを特徴
とする液晶ディスプレイ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1909293A JPH06230749A (ja) | 1993-02-05 | 1993-02-05 | 液晶ディスプレイ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1909293A JPH06230749A (ja) | 1993-02-05 | 1993-02-05 | 液晶ディスプレイ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06230749A true JPH06230749A (ja) | 1994-08-19 |
Family
ID=11989831
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1909293A Pending JPH06230749A (ja) | 1993-02-05 | 1993-02-05 | 液晶ディスプレイ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06230749A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6469441B1 (en) | 1999-06-29 | 2002-10-22 | Lg Electronics Inc. | Plasma display panel having a metallic electrode with a wider end portion |
| US7535522B2 (en) | 2004-06-24 | 2009-05-19 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display and method of inspecting the same |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0329925A (ja) * | 1989-06-28 | 1991-02-07 | Hitachi Ltd | 液晶表示装置 |
| JPH05173164A (ja) * | 1991-12-25 | 1993-07-13 | Sanyo Electric Co Ltd | 液晶表示パネル |
-
1993
- 1993-02-05 JP JP1909293A patent/JPH06230749A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0329925A (ja) * | 1989-06-28 | 1991-02-07 | Hitachi Ltd | 液晶表示装置 |
| JPH05173164A (ja) * | 1991-12-25 | 1993-07-13 | Sanyo Electric Co Ltd | 液晶表示パネル |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6469441B1 (en) | 1999-06-29 | 2002-10-22 | Lg Electronics Inc. | Plasma display panel having a metallic electrode with a wider end portion |
| US7535522B2 (en) | 2004-06-24 | 2009-05-19 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Liquid crystal display and method of inspecting the same |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100831280B1 (ko) | 액정표시장치 | |
| KR100392575B1 (ko) | 액정 표시 장치 및 그 제조 방법 | |
| US7532265B2 (en) | Integrated circuit with the cell test function for the electrostatic discharge protection | |
| US8305542B2 (en) | Thin film transistor array substrate with improved test terminals | |
| KR101238337B1 (ko) | 어레이 기판 및 이를 갖는 액정표시장치 | |
| CN111864108B (zh) | Oled显示面板 | |
| JP2008026900A (ja) | 駆動チップ、それを具備した表示装置及びリペア方法 | |
| US8373813B2 (en) | Array substrate, method of manufacturing the same and method of repairing the same | |
| JP3381681B2 (ja) | 液晶表示装置およびその断線補修方法 | |
| JP4262521B2 (ja) | 表示装置及びその検査方法 | |
| US7990486B2 (en) | Liquid crystal display panel with line defect repairing mechanism and repairing method thereof | |
| JP2003029296A (ja) | アレイ基板及びその検査方法並びに液晶表示装置 | |
| JP3119357B2 (ja) | 液晶表示装置 | |
| JP2872274B2 (ja) | 液晶表示装置 | |
| KR102078994B1 (ko) | 액정표시장치 및 이의 검사방법 | |
| JPH06230749A (ja) | 液晶ディスプレイ | |
| KR100517135B1 (ko) | 박막트랜지스터 기판 | |
| JP2003322874A (ja) | 液晶表示素子 | |
| JP3087730B2 (ja) | 液晶表示装置の製造方法 | |
| JP4515659B2 (ja) | 液晶表示パネル | |
| TW523595B (en) | Matrix substrate, its inspection method and liquid crystal display device | |
| KR20070077989A (ko) | 박막 트랜지스터 기판 및 이를 포함한 액정 표시 패널 | |
| JPH117044A (ja) | 表示装置用アレイ基板 | |
| KR100488943B1 (ko) | 리페어라인이 형성된 액정표시장치 및 그 제조방법 | |
| JP2000155532A (ja) | 表示装置および液晶表示装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19970701 |