JPH06230048A - 周波数特性測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 作業効率の良い確実な測定精度を有する周波
数特性測定装置を提供する。 【構成】 インターフェース３が補正治具１２を内蔵し
ている。操作ボックス５を操作して、動作モード、測定
モードを選択する。インターフェース３の制御部６は、
測定モードに従ってスイッチ部７のスイッチ群Ｓａ、Ｓ
ｂを切り換える。スペクトラムアナライザー１の制御部
８は、動作モードに従って測定を開始し、通常測定の測
定結果を測定用記憶部１０に記憶し、補正測定の測定結
果を補正用記憶部１１に記憶した後、これら測定結果を
ＣＲＴ９によって画像処理する。通常測定終了後におい
ては特に、トラッキングジェネレータ２に対して、被測
定物１３の周波数特性が基準に合致するものであれば発
光ダイオード２ａを点灯させ良品であることを使用者に
知らせ、基準に合致しなければ発光ダイオード２ｂがを
点灯させ不良品であることを使用者に知らせる構成。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、高周波部品の周波数特
性測定に関するもので特にＲＦ信号入出力端子を有する
ＲＦモジュレーター・分配器等の生産用に使用されるも
のである。

【０００２】

【従来の技術】従来の周波数特性測定装置のブロック図
を図７に示す。周波数特性測定装置は、周波数特性を画
像解析するスぺクトラムアナライザー１’と、スぺクト
ラムアナライザー１’から指示された周波数のサンプル
信号ｆ１を生成するトラッキングジェネーレーター２’
によって構成される。

【０００３】図７において、「動作モード」として「補
正測定」を開始する前には、被測定物１３を外し治具端
子ＡとＢを直接接続する。「補正測定」は、このように
して、被測定物１３以外の測定経路そのものに存在する
周波数特性を予め得るために行うものである。その後こ
れをはずし、「動作モード」として「通常測定」を開始
する前には、治具端子Ａ、Ｂを被測定物１３に接続し
て、サンプル信号ｆ１、出力信号ｆ２の授受が行える状
態にする。上記各「動作モード」において、被測定物１
３の入出力端子が複数ある場合、治具端子Ａ、Ｂはそれ
ぞれ種類が複数あるので、「測定モード」によっては用
いる種類の組合せを変える。

【０００４】使用者（図示せず）は周波数特性測定装置
の動作モードについて、操作ボックス５’を操作し「測
定せず」、「測定開始」のいずれかを選択する。「測定
開始」を選択する際にはその前に、目的の「動作モー
ド」、「測定モード」に従って治具端子Ａ、Ｂ各々の種
類を選び上記の通り接続する。

【０００５】操作ボックス５’は、選択された動作モー
ドを伝達するため信号Ｐ１を生成し、スペクトラムアナ
ライザー１’の制御部８’に与える。信号Ｐ１の値につ
いてここでは簡単のため仮に「測定せず」のとき
「０」、「測定開始」のとき「１」とする。

【０００６】スペクトラムアナライザー１’の制御部
８’は、信号Ｐ１の値が「０」、「１」のいずれである
かによって、現在の動作モードが「測定せず」、「測定
開始」のいずれであるかを判別する。信号Ｐ１の値が
「０」であれば、現在の動作モードが「測定せず」であ
ると解し待機状態を繰り返す。信号Ｐ１の値が「１」で
あれば、現在の動作モードが「測定開始」であると解し
測定を開始する。スペクトラムアナライザー１’の測定
用記憶部１０は、測定する周波数Ｆ（Ｉ）（例えば、Ｉ
は１から１０００までで、Ｆ（１）＝１、Ｆ（２）＝
２、…、Ｆ（１０００）＝１０００（単位はＭＨｚ））
を初期設定として記憶している。まず記憶制御信号Ｐｍ
の授受によって、制御部８’は測定用記憶部１０からＩ
＝１として周波数Ｆ（１）の値を取り込み、周波数Ｆ
（１）の情報を載せた信号Ｐ２を生成しトラッキングジ
ェネレーター２’に与える。

【０００７】トラッキングジェネレーター２’は、与え
られた信号Ｐ２を解して指示されたとおり周波数Ｆ
（１）＝１（ＭＨｚ）のサンプル信号ｆ１を生成して、
これを治具端子Ａを通して被測定物１３に供給する。被
測定物１３は、自らの周波数特性に基づいた出力信号ｆ
２を生成しこれを、治具端子Ｂを通してスペクトラムア
ナライザー１’の制御部８’に与える。

【０００８】スペクトラムアナライザー１’の制御部
８’は、出力信号ｆ２の出力レベルを計測しその値を出
力レベルＬＥＶＥＬ（１）とする。制御部８’は記憶制
御信号Ｐｍの授受によって、出力レベルＬＥＶＥＬ
（１）の値をデータとして測定用記憶部１０に与える。
測定用記憶部１０は、Ｉ＝１に対応するアドレス上に出
力レベルＬＥＶＥＬ（１）の値を記憶する。

【０００９】引き続いて、スペクトラムアナライザー
１’の制御部８’は、Ｉの値を順次２、…、１００と増
やして、周波数Ｆ（２）、…、Ｆ（１０００）に対して
計測した出力レベルＬＥＶＥＬ（２）、…、ＬＥＶＥＬ
（１０００）を測定用記憶部１０のＩの値に対応するア
ドレス上に記憶する。最後に、記憶されている周波数Ｆ
（１）、Ｆ（２）、…、Ｆ（１０００）、出力レベルＬ
ＥＶＥＬ（１）、ＬＥＶＥＬ（２）、…、ＬＥＶＥＬ
（１０００）を測定用記憶部１０から記憶制御信号Ｐｍ
の授受によって呼び出し、画像処理信号Ｐｃの授受によ
ってＣＲＴ９に与える。

【００１０】ＣＲＴ９は、画像処理信号Ｐｃに基づいて
画像を描く。その画像内に周波数に対する出力レベルの
値をプロットしたグラフを図８に示す。図８（ａ）に示
すように表示されるグラフＢは、治具端子Ａ、Ｂを直接
接続して補正測定を行ったときの周波数に対する出力レ
ベルの値をプロットしたものである。このあと図８
（ｂ）のように使用者はＣＲＴ９の画像内にあるこのグ
ラフＢを手書きしてなぞりマーキング部Ｂ’として画面
上に残す。次に、被測定物１３を治具端子Ａ、Ｂに接続
し直し通常測定を行う。図８（ｃ）に示すグラフＡは、
その時の各周波数に対する出力レベルの値をプロットし
たものである。使用者は、図８（ｃ）におけるマーキン
グ部Ｂ’とグラフＡとを比較して被測定物１３の周波数
特性の良否を感覚的に判定する。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】上述のように、被測定
物１３の周波数特性を測定する場合、補正測定を行う前
に、治具端子Ａ、Ｂを直接接続する手作業と、補正測定
を行った後通常測定を開始する前に、直接接続していた
治具端子Ａ、Ｂを被測定物１３に接続し直す手作業が伴
い、作業能率が低下していた。また、被測定物１３の入
出力端子が多い場合接続し直す箇所が増えて使用者は混
乱し作業能率は最悪の状態となる。

【００１２】さらに、ＣＲＴ９の画面上において補正測
定開始前に、マーキング部Ｂ’を消す手作業と更に補正
測定終了後、新たに補正基準のグラフＢをなぞりマーキ
ング部Ｂ’を描き直す手作業が伴い作業能率が低下して
いた。また、被測定物１３の入出力端子が多い場合、入
出力端子の各組合せごとに補正基準が必要となるためマ
ーキング部Ｂ’を複数描く手作業を伴うのでさらに作業
能率が低下していた。

【００１３】マーキング部Ｂ’とグラフＡを視覚的に比
較する際、視認する対象が２つあるのでその関係を判断
することは困難である。また、被測定物１３の入出力端
子が多い場合、マーキング部Ｂ’が複数あるので視認に
より判断する際混乱が生じ、判断の誤りがさらに起こり
やすくなる。また、この視認により被測定物１３の周波
数特性の良否を判別していたので、使用者の個性、疲労
具合いによってその判定がさまざまで定まらず測定結果
の信頼性が劣り品質低下の要因にもなった。さらに、こ
の視認による判定及び上記手作業は使用者の疲労度を深
めて結果としてより一層判定結果の信頼性を劣化させる
ことになる。

【００１４】本発明は、このような問題を解決し、作業
効率の良い確実な測定精度を有する周波数特性測定装置
を提供することを目的とする。

【００１５】

【課題を解決するための手段】本発明の周波数特性測定
装置は、被測定物が接続される第１、第２治具と、制御
手段と、該制御手段によって制御され測定に使用する周
波数と該周波数に対応した測定値を記憶する第１記憶手
段と、前記制御手段から指示された周波数のサンプル信
号を生成する信号生成手段と、前記信号生成手段からの
サンプル信号を前記第１治具に供給する供給手段と、前
記第２治具からの信号を測定値として前記制御手段に与
える測定値伝送手段と、前記第１、第２治具を被測定物
を介さずに接続したものと等価な等価治具回路と、該等
価治具回路を前記信号生成手段と前記制御手段に接続す
る手段と、前記制御手段によって画像表示制御される第
１表示手段とを備え、前記第１表示手段には、前記測定
値、等価治具回路の出力値が画像表示されることを特徴
とする。

【００１６】更に、前記第１治具又は第２治具が複数設
けられているとともに、所定の治具を前記制御手段から
の選択信号によって選択するスイッチ回路が設けられて
いることを特徴とする。

【００１７】或いは更に、前記制御手段によって制御さ
れ前記等価治具回路の出力を補正基準として記憶する第
２記憶手段を有し、前記制御手段は、前記第１、第２記
憶手段から前記測定値、補正基準を呼び出してその差を
前記第１表示手段に表示することを特徴とする。

【００１８】又は更に、前記制御手段は、全ての前記差
の値からその最大値、最小値を算出し、前記最大値と最
小値の少なくとも一方が許容限界幅を外れていれば不良
と判定し、その判定結果を第２表示手段又は上記第１表
示手段によって表示することを特徴とする。

【００１９】

【作用】このようにすれば、補正基準を測定する前に第
１、第２治具を被測定物を介さずに接続し直す手間と、
測定値を測定する前に第１、第２治具を被測定物に接続
し直す手間を省くことができる。

【００２０】更に、複数の第１治具又は第２治具によれ
ば被測定物の入出力端子が多くても、複数の入出力端子
に第１治具又は第２治具を予め接続しておくことがで
き、上記スイッチ回路によって、サンプル信号を供給す
るもの又は出力信号を得るものをそれぞれ複数の第１治
具又は第２治具から選択することができる。

【００２１】或いは更に、前記制御手段が、前記第１、
第２記憶手段から呼び出される前記測定値、補正基準の
差を前記第１表示手段に表示すれば、視認する対象が１
つで済む。又は更に、前記制御手段が、全ての前記差の
値からその最大値、最小値を算出し、前記最大値と最小
値の少なくとも一方が許容限界幅を外れていれば不良と
判定し、その判定結果を第２表示手段又は上記第１表示
手段によって表示すれば、周波数特性の良否を定量的に
演算した後判断することができる。

【００２２】

【実施例】本発明を実施した周波数特性測定装置を図示
に基づいて説明する。そのブロック図を図１に示し、こ
の時のインターフェース３内部のスイッチ制御に関わる
回路図を図２に示す。

【００２３】図２において、治具端子Ａ１、Ａ２から成
る測定治具４ａと、治具端子Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３、Ｂ４、
Ｂ５から成る測定治具４ｂの根元を板状に成形した樹脂
Ｊによって固定して１つの測定治具４と成す。補正治具
１２は、治具端子Ａ３とＢ６を直接接続したものと治具
端子Ａ４とＢ７を直接接続したものから構成される。治
具端子Ａ３はスイッチＳ３の端子アに接続されており、
治具端子Ａ４はスイッチＳ２の端子アに接続されてい
る。一方、治具端子Ｂ６はスイッチＳ１６の端子アに接
続されており、治具端子Ｂ７はスイッチＳ１６の端子イ
に接続されている。

【００２４】尚、治具端子Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３、Ｂ４、Ｂ
５はインピーダンスが互いに等しいので、補正測定をす
る際、治具端子Ｂ１と治具端子Ａ１、或いは治具端子Ｂ
１と治具端子Ａ２を直接接続する２通りの組合せで十分
であるので、補正治具１２における直接接続する治具端
子の組合せも２通りとしている。従って、治具端子Ａ１
とＡ４は同じものとし、治具端子Ａ２とＡ３も同じもの
とし、治具端子Ｂ６、Ｂ７は治具端子Ｂ１〜Ｂ５と同じ
ものとする。

【００２５】スイッチ群Ｓａは、スイッチＳ１、Ｓ２、
Ｓ３、Ｓ４、Ｓ５から構成される。スイッチ群Ｓｂは、
スイッチＳ６、Ｓ７、Ｓ８、Ｓ９、Ｓ１０、Ｓ１１、Ｓ
１２、Ｓ１３、Ｓ１４、Ｓ１５、Ｓ１６から構成され
る。スイッチ部７は、スイッチ制御信号ＰSW（図１）に
基づいてスイッチＳ１、Ｓ２、Ｓ３、Ｓ４、Ｓ５、Ｓ
６、Ｓ７、Ｓ８、Ｓ９、Ｓ１０、Ｓ１１、Ｓ１２、Ｓ１
３、Ｓ１４、Ｓ１５、Ｓ１６の端子ウ−ア間、端子ウ−
イ間のいずれか一方を導通することによって、測定治具
４ａ、補正治具１２にある治具端子Ａ１、Ａ２、Ａ３、
Ａ４のいずれか１つを選択してこれと端子Ｔ１を導通さ
せ、さらに測定治具４ｂ、補正治具１２にある治具Ｂ
１、Ｂ２、Ｂ３、Ｂ４、Ｂ５、Ｂ６、Ｂ７のいずれか１
つを選択してこれと端子Ｔ２を導通させる。尚、端子Ｔ
１にはサンプル信号ｆ１が与えられ、端子Ｔ２から出力
信号ｆ２が出力される。

【００２６】スイッチＳ１において、端子ウは端子Ｔ１
に接続され、端子イはスイッチＳ２の端子ウに接続さ
れ、端子アはスイッチＳ３の端子ウに接続されている。
スイッチＳ２において、端子イはスイッチＳ４の端子イ
に接続されている。スイッチＳ３において、端子イはス
イッチＳ５の端子イに接続されている。スイッチＳ４に
おいて、端子アは抵抗Ｒ１を介して接地されており、端
子ウはＣＡＴＶ出力端子１４に接続されている。スイッ
チＳ５において、端子アは抵抗Ｒ２を介して接地されて
おり、端子ウはＵＨＦ出力端子１５に接続されている。

【００２７】スイッチＳ６において、端子ウは端子Ｔ２
に接続され、端子イはスイッチＳ７の端子ウに接続さ
れ、端子アはスイッチＳ８の端子ウに接続されている。
スイッチＳ７において、端子イはスイッチＳ１１の端子
アに接続され、端子アはスイッチＳ９の端子ウに接続さ
れている。スイッチＳ８において、端子イはスイッチＳ
１４の端子アに接続され、端子アはスイッチＳ１０の端
子ウに接続されている。スイッチＳ９において、端子イ
はスイッチＳ１２の端子アに接続され、端子アはスイッ
チＳ１３の端子アに接続されている。スイッチＳ１０に
おいて、端子アはスイッチＳ１５の端子アに接続され、
端子イはスイッチＳ１６の端子ウに接続されている。

【００２８】スイッチＳ１１において、端子イは抵抗Ｒ
３を介して接地されており、端子ウはＰＣＭ入力端子１
６に接続されている。スイッチＳ１２において、端子イ
は抵抗Ｒ４を介して接地されており、端子ウはＣＡＴＶ
入力端子１７に接続されている。スイッチＳ１３におい
て、端子イは抵抗Ｒ５を介して接地されており、端子ウ
はＦＳＫ入力端子１８に接続されている。スイッチＳ１
４において、端子イは抵抗Ｒ６を介して接地されてお
り、端子ウはＵＨＦ入力端子１９に接続されている。ス
イッチＳ１５において、端子イは抵抗Ｒ７を介して接地
されており、端子ウはＶ／Ｕ入力端子２０に接続されて
いる。

【００２９】測定治具４において、治具端子Ａ１、Ａ
２、Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３、Ｂ４、Ｂ５はそれぞれ、スイッ
チ部７のＣＡＴＶ出力端子１４、ＵＨＦ出力端子１５、
ＰＣＭ入力端子１６、ＣＡＴＶ入力端子１７、ＦＳＫ入
力端子１８、ＵＨＦ入力端子１９、Ｖ／Ｕ入力端子２０
に接続されている。

【００３０】被測定物１３のコネクタ１３ａに測定治具
４をはめ込み、容易に被測定物１３のＣＡＴＶ入力端子
ａ１と治具端子Ａ１、被測定物１３のＵＨＦ入力端子ａ
２と治具端子Ａ２、被測定物１３のＰＣＭ出力端子ｂ１
と治具端子Ｂ１、被測定物１３のＣＡＴＶ出力端子ｂ２
と治具端子Ｂ２、被測定物１３のＦＳＫ出力端子ｂ３と
治具端子Ｂ３、被測定物１３のＵＨＦ出力端子ｂ４と治
具端子Ｂ４、被測定物１３のＶ／Ｕ出力端子ｂ５と治具
端子Ｂ５を全部同時に接続することができる。

【００３１】また、インターフェース３は補正治具１２
を内蔵しているので、従来のように「補正測定」を開始
する前に、測定治具４ａの治具端子Ａ１、Ａ２のいずれ
かと測定治具４ｂの治具端子Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３、Ｂ４、
Ｂ５のいずれかを直接リード線（図示せず）等で接続す
る必要はない。従って、一旦被測定物１３のコネクタ１
３ａにはめ込んだ測定治具４を「動作モード」を変更す
る度に外したり接続し直したりする手間がかからず、各
「測定モード」ごとに「補正測定」、「通常測定」をソ
フトウェア上で一度に行うことができる。

【００３２】例えば、コネクタ１３ａにはめ込んだ測定
治具４を外さずに「動作モード」として「補正測定開
始」を選択し、その「測定モード」として「ＣＡＴＶ〜
Ｖ／Ｕ」を選択すれば、スイッチＳ１において端子ウ−
イ間が導通し、スイッチＳ２において端子ウ−ア間が導
通し、端子Ｔ１と治具端子Ａ４が導通する。同時に、ス
イッチＳ６、Ｓ８においていずれも端子ウ−ア間が導通
し、スイッチＳ１０、Ｓ１６においていずれも端子ウ−
イ間が導通し、端子Ｔ２と治具端子Ｂ７が導通する。治
具端子Ａ１とＡ４が同じものであり、治具端子Ｂ５とＢ
７が同じものであるので、この状態で補正測定を行うこ
とができ、「測定モード」が「ＣＡＴＶ〜Ｖ／Ｕ」であ
るときの補正基準を得ることができる。また、治具端子
Ａ１とＡ４が同じものであり、治具端子Ｂ１〜Ｂ４とＢ
７が同じものであるので、この補正基準は「測定モー
ド」が「ＣＡＴＶ〜ＵＨＦ」、「ＣＡＴＶ〜ＦＳＫ」、
「ＣＡＴＶ〜ＣＡＴＶ」、「ＣＡＴＶ〜ＰＣＭ」である
ときの補正基準ともなる。

【００３３】続いて、コネクタ１３ａにはめ込んだ測定
治具４をそのまま外さずに「動作モード」として「通常
測定開始」を選択し、その「測定モード」として「ＣＡ
ＴＶ〜Ｖ／Ｕ」を選択すれば、スイッチＳ１、Ｓ２にお
いていずれも端子ウ−イ間が導通し、端子Ｔ１とＣＡＴ
Ｖ出力端子１４及び治具端子Ａ１が導通する。同時に、
スイッチＳ６、Ｓ８、Ｓ１０、Ｓ１５においていずれも
端子ウ−ア間が導通し、端子Ｔ２とＶ／Ｕ入力端子２０
及び治具端子Ｂ５が導通する。この状態で、通常測定を
行えば、「測定モード」が「ＣＡＴＶ〜Ｖ／Ｕ」の測定
値を得ることができる。この測定値から上記の「測定モ
ード」が「ＣＡＴＶ〜Ｖ／Ｕ」の補正基準を差し引けい
て補正値を導けば、被測定物１３の周波数特性を得るこ
とができる。

【００３４】図１において、図２、７に示し説明した箇
所と同じものには同じ符号を付し説明を省略する。使用
者（図示せず）は周波数特性測定装置の動作モードにつ
いて、操作ボックス５を操作し「測定せず」、「補正測
定開始」、「通常測定開始」のいずれかを選択するとと
もに、「補正測定開始」、「通常測定開始」を選択する
際には、その「測定モード」をも選択する。

【００３５】操作ボックス５は、選択された動作モード
を伝達するため信号ＭＯＤＥを生成しインターフェース
３の制御部６に与える。信号ＭＯＤＥは、データＭ１、
Ｍ２を有しており、データＭ１の値についてここでは簡
単のため仮に「測定せず」のとき「０」、「補正測定開
始」のとき「１」、「通常測定開始」のとき「２」とす
る。データＭ２は、治具端子Ａ１〜Ａ４、Ｂ１〜Ｂ７の
うち用いるものに対応する値を有する。例えばデータＭ
２を２桁の８進数として、８の位で治具端子Ａ１〜Ａ４
を識別し（Ａ１なら１、Ａ２なら２、Ａ３なら３、Ａ４
なら４）、１の位で治具端子Ｂ１〜Ｂ７を識別する（Ｂ
１なら１、Ｂ２なら２、…、Ｂ７なら７）。仮に使用す
る組合せとして治具端子Ａ１、Ｂ２を選択するならばデ
ータＭ２の値は「１２」となる。

【００３６】スペクトラムアナライザー１の制御部８
は、信号Ｐ１の値が「０」、「１」、「２」のいずれで
あるかによって、現在の動作モードが「測定せず」、
「補正測定開始」、「通常測定開始」のいずれであるか
を判別する。信号Ｐ１の値が「０」であれば、現在の動
作モードが「測定せず」であると解し待機状態を繰り返
す。信号Ｐ１の値が「１」であれば、現在の動作モード
が「補正測定開始」であると解し補正測定を開始する。
信号Ｐ１の値が「２」であれば、現在の動作モードが
「通常測定開始」であると解し通常測定を開始する。ス
ペクトラムアナライザー１の制御部８は、測定用記憶部
１０上に、測定する周波数Ｆ（Ｉ）（例えば、Ｉは１か
ら１０００までで、Ｆ（１）＝１、Ｆ（２）＝２、…、
Ｆ（１０００）＝１０００（単位はＭＨｚ））を初期設
定として有している。まず記憶制御信号Ｐｍの授受によ
って、制御部８は測定用記憶部１０から周波数Ｆ（Ｉ）
の値を取り込み、周波数Ｆ（Ｉ）のデータを載せた信号
Ｐ２を生成しトラッキングジェネレーター２に与える。

【００３７】トラッキングジェネレーター２は、与えら
れた信号Ｐ２を解して指示されたとおり周波数Ｆ（Ｉ）
のサンプル信号ｆ１を生成して、これを端子Ｔ１を介し
スイッチ群Ｓａを通して補正治具１２若しくは被測定物
１３に供給する。補正治具１２若しくは被測定物１３
は、自らの周波数特性に基づいた出力信号ｆ２を生成し
これを、スイッチ部７のスイッチ群Ｓｂを通し端子Ｔ２
を介してスペクトラムアナライザー１の制御部８に与え
る。尚、トラッキングジェネレータ２は、発光ダイオー
ド２ａ、２ｂを有しており、通常測定終了後、製品化さ
れた被測定物１３の周波数特性が基準に合致するもので
あれば発光ダイオード２ａが点灯し良品であることを使
用者に知らせ、基準に合致しなければ発光ダイオード２
ｂが点灯し不良品であることを使用者に知らせる。

【００３８】スペクトラムアナライザー１の制御部８
は、出力信号ｆ２の出力レベルを計測しその値を出力レ
ベルＬＥＶＥＬ（Ｉ）とする。制御部８は記憶制御信号
Ｐｍｃ、Ｐｍの授受によって出力レベルＬＥＶＥＬ
（Ｉ）の値を、補正測定の場合は補正基準Ｂ（Ｉ）とし
て補正用記憶部１１に与え、通常測定の場合は測定値Ａ
（Ｉ）として測定用記憶部１０に与える。補正用記憶部
１１は、Ｉの値に対応するアドレス上に補正基準Ｂ
（Ｉ）の値を記憶する。測定用記憶部１０は、Ｉの値に
対応するアドレス上に測定値Ａ（Ｉ）の値を記憶する。

【００３９】次に、インターフェース３の制御部６によ
る制御動作のフローチャートを図６に示しこれに基づい
て順に説明する。＃１０において動作を開始し、＃２０
において信号Ｐ１が有する値を「０」に初期化する。＃
３０において操作ボックス５から与えられる信号ＭＯＤ
Ｅを取り込みデータＭ１、Ｍ２を得る。＃４０において
データＭ１の値で条件分岐を行う。データＭ１の値が
「０」なら動作モードは「測定せず」であるので＃４１
進む。データＭ１の値が「１」なら動作モードは「補正
測定開始」であるので＃５０に進む。データＭ１の値が
「２」なら動作モードは「通常測定開始」であるので＃
６０に進む。＃４１において信号Ｐ１の有する値を
「０」に変えるので、信号Ｐ１の値がデータＭ１の値と
等しいものとなる。＃４２において信号Ｐ１をスペクト
ラムアナライザー１の制御部８に与える。このあと、＃
３０に戻るが、「動作モード」が「測定せず」である
間、操作ボックス５から与えられるデータＭ１、Ｍ２の
値がずっと不変であるので＃３０、＃４０、＃４１、＃
４２のループを繰り返し待機状態のままとする。

【００４０】＃５０において信号Ｐ１の有する値を
「１」に変えるので、信号Ｐ１の値がデータＭ１の値と
等しいものとなる。＃５１において使用予定の治具端子
を指示するデータＭ２によってスイッチ制御信号ＰSWを
生成する。＃５２において信号Ｐ１をスペクトラムアナ
ライザー１の制御部８に与えるとともに、スイッチ制御
信号ＰSWをスイッチ部７に供給する。＃５０〜＃５２は
「補正測定開始」の準備動作であるので、補正治具１２
が測定対象となっている。このあと、＃３０に戻るが、
補正測定を行っている間、操作ボックス５から与えられ
るデータＭ１、Ｍ２の値がずっと不変であるので＃３
０、＃４０、＃６０、＃６１、＃６２のループを繰り返
し、スイッチ部７を同じ状態に保つ。

【００４１】＃６０において信号Ｐ１の有する値を
「２」に変えるので、信号Ｐ１の値がデータＭ１の値と
等しいものとなる。＃６１において使用予定の治具端子
を指示するデータＭ２によってスイッチ制御信号ＰSWを
生成する。＃６２において信号Ｐ１をスペクトラムアナ
ライザー１の制御部８に与えるとともに、スイッチ制御
信号ＰSWをスイッチ部７に供給する。＃６０〜＃６２は
「通常測定開始」の準備動作であるので、被測定物１３
が測定対象となっている。このあと、＃３０に戻るが、
通常測定を行っている間、操作ボックス５から与えられ
るデータＭ１、Ｍ２の値がずっと不変であるので＃３
０、＃４０、＃５０、＃５１、＃５２のループを繰り返
し、スイッチ部７を同じ状態に保つ。

【００４２】図１において、スイッチ部７は、前述のス
イッチ制御信号ＰSWに基づいて、スイッチ群Ｓａ、Ｓｂ
を切り換える。スイッチ群Ｓａの切り換えによって、測
定治具４ａ、補正治具１２にある複数の治具端子Ａ１〜
Ａ４の中で、現在の「測定モード」に対応するもの１つ
だけが端子Ｔ１と導通する。スイッチ群Ｓｂの切り換え
によって、測定治具４ｂ、補正治具１２にある複数の治
具端子Ｂ１〜Ｂ７の中で、現在の「測定モード」に対応
するもの１つだけが端子Ｔ２と導通する。

【００４３】次に、スペクトラムアナライザー１の制御
部８による制御動作のフローチャートを図４、５に示し
これに基づいて説明する。尚、図５のフローチャート
は、、によって図４のフローチャートに連続するも
のである。

【００４４】＃１００において動作を開始する。＃２０
０において初期設定を行う。パラメータＸは、補正測定
を１度は済ましている（＝「１」）か否か（＝「０」）
を示すものであり、ここでは「０」と成す。パラメータ
Ｙは、通常測定を１度は済ましている（＝「１」）か否
か（＝「０」）を示すものであり、ここでは「０」と成
す。所定値ＢＩＧは、周波数特性出力レベルの最大値に
ついて、製品としての被測定物１３の品質許容限界を示
すものでありここでは、仮に１０００と設定する。所定
値ＳＭＡＬＬは、周波数特性出力レベルの最小値につい
て、製品としての被測定物１３の品質許容限界を示すも
のでありここでは、仮に１００と設定する。

【００４５】＃３００においてトラッキングジェネレー
ター２によって生成されるサンプル信号ｆ１の周波数Ｆ
（１）、Ｆ（２）、…、Ｆ（１０００）を設定する。こ
こでは、仮にＦ（１）＝１（ＭＨｚ）、Ｆ（２）＝２
（ＭＨｚ）、…、Ｆ（１０００）＝１０００（ＭＨｚ）
とする。

【００４６】＃４００においてインターフェース３から
与えられる信号Ｐ１を取り込む。＃５００において信号
Ｐ１の値が「０」、「１」、「２」のいずれであるかに
よって、現在の測定モードが「測定せず」、「補正測定
開始」、「補正測定開始」のいずれであるかを判別す
る。現在の測定モードが「測定せず」であれば（Ｐ１＝
０）、＃４００に戻り待機状態を繰り返す。現在の測定
モードが「補正測定開始」であれば（Ｐ１＝１）、＃６
００に進み補正測定を開始する。現在の測定モードが
「通常測定開始」であれば（Ｐ１＝２）、＃７００に進
み通常測定を開始する。

【００４７】＃６００においてまずＩ＝１として計測サ
ブルーティンの＃９００に進む。＃９００において信号
Ｐ２の値を周波数Ｆ（Ｉ）に設定する。＃９１０におい
て信号Ｐ２をトラッキングジェネレータ２に与える。こ
のときすでに前述の通り、現在の測定モードが「補正測
定開始」であるので、補正治具１２が測定対象となるよ
うにスイッチ部７は切り換わっている。

【００４８】一方、トラッキングジェネレータ２は、こ
の信号Ｐ２に基づいて周波数がＦ（Ｉ）（初めはＦ
（１）＝１ＭＨｚ）のサンプル信号ｆ１を生成する。サ
ンプル信号ｆ１はインターフェース３の端子Ｔ１を介し
スイッチ群Ｓａによって補正治具１２に与えられる。補
正治具１２は、サンプル信号ｆ１に基づいて出力信号ｆ
２を生成する。出力信号ｆ２はスイッチ群Ｓｂによって
端子Ｔ２を介してスペクトラムアナライザー１の制御部
８に与えられる。

【００４９】＃９３０において出力信号ｆ２の出力レベ
ルを計測し、その値を周波数Ｆ（Ｉ）に対する出力レベ
ルＬＥＶＥＬ（Ｉ）として、計測サブルーティン＃９０
０〜＃９３０を終了し＃６１０に進む。＃６１０におい
て補正基準Ｂ（Ｉ）の値を出力レベルＬＥＶＥＬ（Ｉ）
の値と等しく置く。＃６２０において補正基準Ｂ（Ｉ）
の値を伝達するための記憶制御信号Ｐｍｃを生成し、こ
れを＃６３０において補正用記憶部１１に与える。補正
用記憶部１１は、記憶制御信号Ｐｍｃに基づき、Ｉ（初
めはＩ＝１）に対応するアドレス上に出力レベルＬＥＶ
ＥＬ（Ｉ）の値を記憶し、最終的に記憶保持された補正
基準Ｂ（１）、Ｂ（２）、…、Ｂ（１０００）を得る。

【００５０】＃６４０において、Ｉの値が１０００に達
したかどうかを判別し達して無ければ＃６５０に進んで
Ｉに１を加えた値を新たにＩとして＃９００に戻り測定
を繰り返す。Ｉの値が１０００に達していれば、＃６６
０に進み補正測定を終了し、パラメータＸの値を１とし
て＃４００に戻る。＃６６０において画像処理のサブル
ーティンに進み、補正測定の結果を画面に映しても良
い。

【００５１】また、動作モードが「通常測定開始」であ
る場合＃７００においてパラメータＸの値が１かどうか
で判断する。Ｘ＝１ならば、補正基準Ｂ（１）、Ｂ
（２）、…、Ｂ（１０００）が用意されているので＃７
０５に進む。Ｘ＝０ならば、補正測定がまだ成されてい
ないので＃４００に戻る。

【００５２】＃７０５においてまずＩ＝１として計測サ
ブルーティンの＃９００に進む。＃９００において信号
Ｐ２の値を周波数Ｆ（Ｉ）に設定する。＃９１０におい
て信号Ｐ２をトラッキングジェネレータ２に与える。こ
のときすでに、現在の測定モードが「通常測定開始」で
あるので、被測定物１３が測定対象となるようにスイッ
チ部７は切り換わっている。

【００５３】トラッキングジェネレータ２は、この信号
Ｐ２に基づいて周波数がＦ（Ｉ）（初めはＦ（１）＝１
ＭＨｚ）のサンプル信号ｆ１を生成し、これをインター
フェース３の端子Ｔ１を介しスイッチ群Ｓａを通じて測
定治具４に接続された被測定物１３に与える。被測定物
１３は、サンプル信号ｆ１に基づいて出力信号ｆ２を生
成し、これをスイッチ群Ｓｂを通じて端子Ｔ２を介して
スペクトラムアナライザー１の制御部８に供給する。

【００５４】＃９３０において出力信号ｆ２の出力レベ
ルを計測し、その値を周波数Ｆ（Ｉ）に対する出力レベ
ルＬＥＶＥＬ（Ｉ）として、計測サブルーティン＃９０
０〜＃９３０を終了し＃７１０に進む。＃７１０におい
て測定値Ａ（Ｉ）の値を出力レベルＬＥＶＥＬ（Ｉ）の
値とする。＃７２０において測定値Ａ（Ｉ）の値を有す
る記憶制御信号Ｐｍを生成し、これを＃７３０において
測定用記憶部１０に与える。測定用記憶部１０は、記憶
制御信号Ｐｍに基づき、Ｉ（初めはＩ＝１）に対応する
アドレス上に出力レベルＬＥＶＥＬ（Ｉ）の値を記憶
し、最終的に記憶保持された測定値Ａ（１）、Ａ
（２）、…、Ａ（１０００）を得る。

【００５５】＃７４０においてＩの値が１０００に達し
たか否かを判別し、達して無ければ＃７５０に進み、達
していれば＃７６０に進む。＃７５０においてＩに１を
加えた値を新たにＩとして＃９００に戻り測定を繰り返
す。＃７６０において通常測定を終了し、パラメータＹ
の値を１として図５の＃７７０に進む。図５に示すフロ
ーチャートは、画像処理を行い製品としての良否を判定
するサブルーティンである。

【００５６】＃７７０において初期設定を行う。ここで
Ｉの値を新たに１と設定する。パラメータＭＡＸ、ＭＩ
Ｎ、ＬＥＤの値を０と設定する。＃７８０において記憶
制御信号Ｐｍ、Ｐｍｃによって測定用記憶部１０、補正
用記憶部１１のＩ（初めはＩ＝１）に対応するアドレス
に格納された測定値Ａ（Ｉ）、補正基準Ｂ（Ｉ）をそれ
ぞれ取り込む。＃７９０において補正値Ｃ（Ｉ）の値を
Ａ（Ｉ）−Ｂ（Ｉ）の減算結果とする。

【００５７】＃８００において補正値Ｃ（Ｉ）、周波数
Ｆ（Ｉ）の両値を伝えるために画像処理信号Ｐｃを生成
し、＃８１０において画像処理信号ＰｃをＣＲＴ９に供
給する。ここで、ＣＲＴ９は画像処理信号Ｐｃで与えら
れた画像処理プログラム（図示せず）によって表示した
画面内のグラフ上に、横軸の原点に対する相対座標をＦ
（Ｉ）とし、縦軸の原点に対する相対座標をＣ（Ｉ）と
する点をプロットする。＃７８０〜＃８５０の媒介変数
Ｉを携えた１０００回のループの後には、１０００個の
点のプロットが完成する。画像処理プログラムによる処
理を行えば、各点を線で結ぶこともできる。

【００５８】ＣＲＴ９による画像処理の計算例とそれに
基づいた周波数Ｆ（Ｉ）と補正値Ｃ（Ｉ）の関係を描い
たグラフを図３に示す。補正値Ｃ（Ｉ）の計算の１例を
図８（ａ）に示す。補正基準Ｂ（Ｉ）をすべて基準の０
レベルとしたグラフＢ”を図３（ｂ）に示し、このグラ
フ上に補正値Ｃ（Ｉ）を＃８００、＃８１０によってプ
ロットしたグラフＣを図３（ｃ）に示す。図８（ｃ）に
示した従来のグラフＡ、Ｂと較べて図３（ｃ）のグラフ
Ｃ、Ｂ”は視認しやすいが、本実施例では、この画像処
理結果を視覚的に把握することによって製品化した被測
定物１３の良否を判定せずに、定量的に判定するため＃
８２０に進む。

【００５９】＃８２０においてパラメータＭＡＸが補正
値Ｃ（Ｉ）より大きいかを判別し、大きければ＃８３０
へ進み、小さければ＃８２５に進む。＃８２５において
パラメータＭＡＸの値を補正値Ｃ（Ｉ）の値とする。＃
７８０〜＃８５０の１０００回のループ後には、パラメ
ータＭＡＸの値は、補正値Ｃ（１）、Ｃ（２）、…、Ｃ
（１０００）の中の最大値を与えることになる。

【００６０】＃８３０においてパラメータＭＩＮが補正
値Ｃ（Ｉ）より小さいかを判別し、小さければ＃８４０
へ進み、大きければ＃８３５に進む。＃８３５において
パラメータＭＩＮの値を補正値Ｃ（Ｉ）の値とする。＃
７８０〜＃８５０の１０００回のループ後には、パラメ
ータＭＩＮの値は、補正値Ｃ（１）、Ｃ（２）、…、Ｃ
（１０００）の中の最小値を与えることになる。

【００６１】＃８４０においてＩの値が１０００に達し
たか否かを判別し、達していなければ＃８５０に進み、
達していれば＃８６０に進む。＃８５０においてＩの値
に１加えた値を新たにＩとして＃７８０に戻る。この条
件分岐により、＃７８０〜＃８５０が媒介変数Ｉを携え
て１０００回ループすることになる。

【００６２】＃８６０においてパラメータＭＡＸが品質
許容限界を示す所定値ＢＩＧより小さいかを判別し、小
さければ＃８７０へ進み、大きければ＃８８５に進む。
＃８７０においてパラメータＭＩＮが品質許容限界を示
す所定値ＳＭＡＬＬより大きいかを判別し、大きければ
＃８８０へ進み、小さければ＃８８５に進む。＃８８０
においてトラッキングジェネレータ２の「ＧＯ発光ダイ
オード」２ａを点灯させるため、パラメータＬＥＤの値
を１とする。＃８８５においてトラッキングジェネレー
タ２の「ＮＧ発光ダイオード」２ｂを点灯させるため、
パラメータＬＥＤの値を２とする。＃８９０においてパ
ラメータＬＥＤの値を持つ信号Ｐ２を生成する。＃８９
５においてこの信号Ｐ２をトラッキングジェネレーター
２に与えて、図４の＃４００に戻る。

【００６３】このあと、トラッキングジェネレーター２
は、信号Ｐ２によって受けたパラメータＬＥＤの値が１
ならば良品であることを示す発光ダイオード２ａを点灯
し、パラメータＬＥＤの値が２ならば不良品であること
を示す発光ダイオード２ｂを点灯する。すなわち、製品
化された被測定物１３の周波数特性の良否を、ＣＲＴ９
の画像視認による曖昧な視覚的判断に任せずに、スペク
トラムアナライザー１の制御部８が定量的に判定した結
果である発光ダイオード２ａ、２ｂの点灯で決定する。

【００６４】上記のとおり、図４、図５のフロチャート
の説明において簡単のため、図６の＃５０の制御におい
て信号Ｐ１はデータＭ１だけを有しこれによって「動作
モード」だけを伝達するものとした。しかし、信号ＭＯ
ＤＥと同様に、信号Ｐ１がデータＭ１だけでなくデータ
Ｍ２も有し「測定モード」をも伝達するとしてもよい。

【００６５】このとき、「動作モード」が補正測定であ
れば（データＭ１の値が１）、補正用記憶部１１は各
「測定モード」ごとに（データＭ２の値ごとに対応させ
て）別の記憶領域を設定し、現在の「測定モード」に該
当する記憶領域に補正基準Ｂ（１）、Ｂ（２）、…、Ｂ
（１０００）を記憶する。「動作モード」が通常測定で
あれば（データＭ１の値が２）、測定用記憶部１０は各
「測定モード」ごとに（データＭ２の値ごとに対応させ
て）別の記憶領域を設定し、現在の「測定モード」に該
当する記憶領域に測定値Ａ（１）、Ａ（２）、…、Ａ
（１０００）を記憶する。

【００６６】これに伴って、各「測定モード」ごとに補
正測定が既に完了し補正基準が用意されているかどうか
を記憶しておくため、図４の、＃６６０、＃７００にて
用いられるパラメータＸも各「測定モード」ごとに用意
し、図４、図５のフローチャートも、測定値Ａ（１）、
Ａ（２）、…、Ａ（１０００）、補正基準Ｂ（１）、Ｂ
（２）、…、Ｂ（１０００）、パラメータＸが関わる箇
所をすべて各「測定モード」ごとに対応づけて変更す
る。

【００６７】或いは、「補正測定開始」、「通常測定開
始」を指示する各「動作モード」において、全ての「測
定モード」が自動的に順に行われるように、図４、図５
に示した＃６００〜＃６６０、＃７００〜＃８９５を各
「測定モード」ごとに順に並べてもよい。こうすれば、
被測定物１３が入出力端子の多いものである場合、何度
も操作ボックス５を操作して「測定モード」をインプッ
トする手間を省くことができる。

【００６８】尚、図４、図５、図６に示したフローチャ
ートにおいて便宜上、測定を即刻中止する割り込みサブ
ルーティンや、プロッター（図示せず）等他の出力機器
でグラフィック処理を行うサブルーティン等他のサブル
ーティンを適宜挿入してもよい。また、測定する周波数
等の測定条件を変更するため図４の＃３００による初期
設定の値を変更してもよい。品質の向上を図るため、製
品化した被測定物１３の良否を決定する所定値ＢＩＧ、
ＳＭＡＬＬを、図４の＃２００において変更してもよ
い。

【００６９】また、発光ダイオード２ａ、２ｂを本実施
例ではトラッキングジェネレータ２に設けたが、スペク
トラムアナライザー１、インターフェース３、操作ボッ
クス５等他の箇所に設けてもよいし、あるいは代わりに
ＣＲＴ９の画面内に良品、不良品を示す表示がなされる
ように画像処理を行ってもよい。また上記制御動作につ
いては、スペクトラムアナライザー１の制御部８によら
ずに、中央演算処理装置と記憶部から構成されるインタ
ーフェース３の制御部６等他の制御部（図示せず）に任
せてもよい。

【００７０】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
補正基準を測定する前に治具を被測定物を介さずに接続
し直す手間と、測定値を測定する前に治具を被測定物に
接続し直す手間を省くことができ作業性が向上する。

【００７１】更に、被測定物の入出力端子が多くても各
入出力端子専用に接続する治具を用意することにより、
複数の該入出力端子に治具を予め接続しておくことが可
能となり、さらにこの状態のままで、サンプル信号を供
給するものと、出力信号を得るものとを、スイッチ回路
によって複数の治具から選択することができるので、測
定する前に治具を接続し直す作業を繰り返し行う手間が
無くなり、作業能率が大幅に向上するとともに、被測定
物の入出力端子及びその周辺の接続作業による損傷を防
止することができ歩留まり率が向上する。

【００７２】或いは更に、制御手段が、記憶手段から呼
び出される測定値、補正基準の差である補正値を算出し
て表示手段に表示することにより、視認する対象が１つ
で済み周波数特性の良否の判定を迅速に確実に行うこと
が可能となり、判定作業における使用者の疲労と混乱が
減り、その判定の信頼性が向上し、製品化した被測定物
の品質が改善される。

【００７３】又は更に、制御手段が、全ての補正値から
算出したその最大値、最小値の少なくとも一方が許容限
界幅を外れていれば不良と判定し、その判定結果を表示
することにより、使用者が視認によって感覚的に判断す
ることが無くなり使用者の個性、疲労による誤差が滅失
し、その判断が定量的に演算された結果によるものであ
るので、判定の信頼性が絶対的なものとなり品質が至極
向上するとともに、判定作業における使用者の疲労と混
乱も激減するので作業能率がさらに向上する。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明を実施した周波数特性測定装置のブロ
ック図。

【図２】 本発明を実施した周波数特性測定装置のイン
ターフェース内部のスイッチ制御に関わる回路図。

【図３】 本発明を実施した周波数特性測定装置の画像
処理による計算例とそれに基づいた周波数と補正値のグ
ラフを示す図。

【図４】 本発明を実施した周波数特性測定装置のスペ
クトラムアナライザーの制御部による制御動作のフロー
チャート。

【図５】 本発明を実施した周波数特性測定装置のスペ
クトラムアナライザーの制御部による制御動作のフロー
チャート。

【図６】 本発明を実施した周波数特性測定装置のイン
ターフェースの制御部による制御動作のフローチャー
ト。

【図７】 従来の周波数特性測定装置のブロック図。

【図８】 従来の画像処理により得られる周波数と測定
値のグラフを示す図。

【符号の説明】 １ スペクトラムアナライザー １’ スペクトラムアナライザー ２ トラッキングジェネレーター ２’ トラッキングジェネレーター ２ａ、２ｂ 発光ダイオード ３ インターフェース ４ 測定治具 ５ 操作ボックス ６ 制御部 ７ スイッチ部 ８ 制御部 ９ ＣＲＴ １０ 測定用記憶部 １１ 補正用記憶部 １２ 補正治具 １３ 被測定物 １３ａ コネクター １４ ＣＡＴＶ出力端子 １５ ＵＨＦ出力端子 １６ ＰＣＭ入力端子 １７ ＦＳＫ入力端子 １８ ＣＡＴＶ入力端子 １９ ＵＨＦ入力端子 ２０ Ｖ／Ｕ入力端子 ＭＯＤＥ 信号 Ｐ１、Ｐ２ 信号 ｆ１ サンプル信号 ｆ２ 出力信号 ＰSW スイッチ制御信号 Ｐｍ、Ｐｍｃ 記憶制御信号 Ｐｃ 画像処理信号 Ａ１〜Ａ４ 治具端子 Ｂ１〜Ｂ７ 治具端子 ａ１ ＣＡＴＶ入力端子 ａ２ ＵＨＦ入力端子 ｂ１ ＰＣＭ出力端子 ｂ２ ＦＳＫ出力端子 ｂ３ ＣＡＴＶ出力端子 ｂ４ ＵＨＦ出力端子 ｂ５ Ｖ／Ｕ出力端子 Ｓａ、Ｓｂ スイッチ郡 Ｔ１、Ｔ２ 端子 Ｓ１〜Ｓ１５ スイッチ ア、イ、ウ 端子 Ａ グラフ（測定値） Ｂ グラフ（補正基準） Ｂ’ マーキング部 Ｂ” 補正基準 Ｃ グラフ（補正値） Ｉ 媒介変数 Ｆ（Ｉ） 周波数 Ａ（Ｉ） 測定値 Ｂ（Ｉ） 補正基準 Ｃ（Ｉ） 補正値

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被測定物が接続される第１、第２治具
   と、 制御手段と、 該制御手段によって制御され測定に使用する周波数と該
   周波数に対応した測定値を記憶する第１記憶手段と、 前記制御手段から指示された周波数のサンプル信号を生
   成する信号生成手段と、 前記信号生成手段からのサンプル信号を前記第１治具に
   供給する供給手段と、 前記第２治具からの信号を測定値として前記制御手段に
   与える測定値伝送手段と、 前記第１、第２治具を被測定物を介さずに接続したもの
   と等価な等価治具回路と、 該等価治具回路を前記信号生成手段と前記制御手段に接
   続する手段と、 前記制御手段によって画像表示制御される第１表示手段
   とを備え、 前記第１表示手段には、前記測定値、等価治具回路の出
   力値が画像表示されることを特徴とする周波数特性測定
   装置。
2. 【請求項２】 前記第１治具又は第２治具が複数設けら
   れているとともに、所定の治具を前記制御手段からの選
   択信号によって選択するスイッチ回路が設けられている
   ことを特徴とする請求項１の周波数特性測定装置。
3. 【請求項３】 前記制御手段によって制御され前記等価
   治具回路の出力を補正基準として記憶する第２記憶手段
   を有し、前記制御手段は、前記第１、第２記憶手段から
   前記測定値、補正基準を呼び出してその差を前記第１表
   示手段に表示することを特徴とする請求項１の周波数特
   性測定装置。
4. 【請求項４】 前記制御手段は、全ての前記差の値から
   その最大値、最小値を算出し、前記最大値と最小値の少
   なくとも一方が許容限界幅を外れていれば不良と判定
   し、その判定結果を第２表示手段又は上記第１表示手段
   によって表示することを特徴とする請求項１の周波数特
   性測定装置。