JPH06221955A - 容器の欠陥検査方法 - Google Patents
容器の欠陥検査方法Info
- Publication number
- JPH06221955A JPH06221955A JP4166593A JP4166593A JPH06221955A JP H06221955 A JPH06221955 A JP H06221955A JP 4166593 A JP4166593 A JP 4166593A JP 4166593 A JP4166593 A JP 4166593A JP H06221955 A JPH06221955 A JP H06221955A
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- JP
- Japan
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- inspected
- light
- vessel
- phenomenon
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 シュリーレン現象を利用し、容器の溶接ミス
とかピンホール等の欠陥を光学的に検査できる経済性の
高い検査方法を提供する。 【構成】 シュリーレン現象を観察できる光学系の集光
レンズ２で集束された光束５内に密閉した被検査容器６
を設置し、この被検査容器６の中に該容器６の周囲の雰
囲気とは光の屈折率又は温度の異なる圧縮気体を入れ、
その被検査容器６から漏れ出る気体によって発生する上
記雰囲気の乱れ現象を受光部４により検出し、被検査容
器６の欠陥有無を検査する。
とかピンホール等の欠陥を光学的に検査できる経済性の
高い検査方法を提供する。 【構成】 シュリーレン現象を観察できる光学系の集光
レンズ２で集束された光束５内に密閉した被検査容器６
を設置し、この被検査容器６の中に該容器６の周囲の雰
囲気とは光の屈折率又は温度の異なる圧縮気体を入れ、
その被検査容器６から漏れ出る気体によって発生する上
記雰囲気の乱れ現象を受光部４により検出し、被検査容
器６の欠陥有無を検査する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、自動車等に搭載される
燃料タンク等、流体を入れる容器の溶接ミスとかピンホ
ール等の欠陥を光学的に検査する検査方法に関するもの
である。
燃料タンク等、流体を入れる容器の溶接ミスとかピンホ
ール等の欠陥を光学的に検査する検査方法に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】従来、自動車の燃料タンク等、流体容器
の溶接ミスとかピンホール等の欠陥の有無を検査するに
は、被検査容器を水の中に入れた後、この被検査容器内
に圧縮空気を入れて、気泡の発生如何で良・不良の判定
をしていた。また、別の方法として、被検査容器を真空
チャンバー内に収容して真空にした後、その被検査容器
内に特殊な圧縮ガスを入れ、漏れたガスをガス探知機で
発見する方法も用いられていた。
の溶接ミスとかピンホール等の欠陥の有無を検査するに
は、被検査容器を水の中に入れた後、この被検査容器内
に圧縮空気を入れて、気泡の発生如何で良・不良の判定
をしていた。また、別の方法として、被検査容器を真空
チャンバー内に収容して真空にした後、その被検査容器
内に特殊な圧縮ガスを入れ、漏れたガスをガス探知機で
発見する方法も用いられていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記方法のうちの気泡
による前者の方法では、検査後の被検査容器の乾燥に手
間と時間が掛かり、また、真空チャンバーを用いた後者
の方法では、検査設備が高価になって経済性に乏しく、
しかも、それなりの広いスペースが必要であるという問
題があった。
による前者の方法では、検査後の被検査容器の乾燥に手
間と時間が掛かり、また、真空チャンバーを用いた後者
の方法では、検査設備が高価になって経済性に乏しく、
しかも、それなりの広いスペースが必要であるという問
題があった。
【０００４】本発明はこのような問題を解決したもので
あって、その目的はシュリーレン現象を利用し、容器の
溶接ミスとかピンホール等の欠陥を光学的に検査できる
経済性の高い検査方法を提供することにある。ここで、
シュリーレン現象とは、透明物質中にある屈折率のわず
かな変化を、受光部側で明暗の差として観察できる光学
的現象（例えば陽炎）のことである。因みに、空気は熱
せられると膨張し、密度が変わって屈折率も変わる。
あって、その目的はシュリーレン現象を利用し、容器の
溶接ミスとかピンホール等の欠陥を光学的に検査できる
経済性の高い検査方法を提供することにある。ここで、
シュリーレン現象とは、透明物質中にある屈折率のわず
かな変化を、受光部側で明暗の差として観察できる光学
的現象（例えば陽炎）のことである。因みに、空気は熱
せられると膨張し、密度が変わって屈折率も変わる。
【０００５】例えば、屈折率が空気のそれと異なるガラ
ス等の透明な物質を空気中で光の光路に入れたとき、光
源からの光線がガラス面ではガラスの中をそのまま直進
することなく、ガラスの屈折率分だけ光は方向を変えら
れる。そして、光は空気中に出る時点でガラスの屈折率
とガラスの厚み分だけ位置がずれ、そのずれた間隔で当
初の光路方向と平行に進むことになる。これと同じ原理
で、空気中でも一部温度変化により屈折率の異なる部分
があると、光の方向は屈折率の分だけ変わる。
ス等の透明な物質を空気中で光の光路に入れたとき、光
源からの光線がガラス面ではガラスの中をそのまま直進
することなく、ガラスの屈折率分だけ光は方向を変えら
れる。そして、光は空気中に出る時点でガラスの屈折率
とガラスの厚み分だけ位置がずれ、そのずれた間隔で当
初の光路方向と平行に進むことになる。これと同じ原理
で、空気中でも一部温度変化により屈折率の異なる部分
があると、光の方向は屈折率の分だけ変わる。
【０００６】即ち、光源から出た光を反射鏡に当てると
焦点に集光する。したがって、焦点に遮光板を置いた位
置から反射鏡を見れば、反射鏡全面に光源が見える訳で
明るく見える。もし、反射光路上の所定位置に温度変化
した空気があれば、光源からの光はその所定位置で屈折
し、集光点は遮光板側にずれて光は見えず暗くなる。そ
して、温度変化がいろいろと起こることで、日中の陽炎
のようにゆらゆらと明暗が見える。
焦点に集光する。したがって、焦点に遮光板を置いた位
置から反射鏡を見れば、反射鏡全面に光源が見える訳で
明るく見える。もし、反射光路上の所定位置に温度変化
した空気があれば、光源からの光はその所定位置で屈折
し、集光点は遮光板側にずれて光は見えず暗くなる。そ
して、温度変化がいろいろと起こることで、日中の陽炎
のようにゆらゆらと明暗が見える。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の第１番目の発明の特徴とする容器の欠陥検
査方法は、シュリーレン現象を観察できる光学系の光路
中に密閉した被検査容器を設置し、この被検査容器の中
に該容器の周囲の雰囲気とは光の屈折率又は温度の異な
る圧縮気体を入れ、その被検査容器から漏れ出る気体に
よって発生する上記雰囲気の乱れ現象を受光部により検
出して、上記被検査容器の欠陥を検査するものである。
に、本発明の第１番目の発明の特徴とする容器の欠陥検
査方法は、シュリーレン現象を観察できる光学系の光路
中に密閉した被検査容器を設置し、この被検査容器の中
に該容器の周囲の雰囲気とは光の屈折率又は温度の異な
る圧縮気体を入れ、その被検査容器から漏れ出る気体に
よって発生する上記雰囲気の乱れ現象を受光部により検
出して、上記被検査容器の欠陥を検査するものである。
【０００８】また、本発明の第２番目の発明の特徴とす
る容器の欠陥検査方法は、シュリーレン現象を観察でき
る光学系の光路中に密閉した被検査容器を設置し、この
被検査容器の近傍の雰囲気を加熱する一方、該被検査容
器の中に空気等の圧縮気体を入れ、その被検査容器から
漏れ出る気体により上記加熱された部分の雰囲気を乱
し、この乱れ現象を受光部により検出して上記被検査容
器の欠陥を検査するものである。
る容器の欠陥検査方法は、シュリーレン現象を観察でき
る光学系の光路中に密閉した被検査容器を設置し、この
被検査容器の近傍の雰囲気を加熱する一方、該被検査容
器の中に空気等の圧縮気体を入れ、その被検査容器から
漏れ出る気体により上記加熱された部分の雰囲気を乱
し、この乱れ現象を受光部により検出して上記被検査容
器の欠陥を検査するものである。
【０００９】
【作用】溶接等の加工が終了した被検査容器を密閉して
シュリーレン現象を観察できる光学系の光路中に設置
し、観察する被検査容器の部分にカメラや望遠鏡等の受
光部のピントを合わせておく。そして、外部から加熱さ
れた圧縮気体（例えば、圧縮空気）、又は被検査容器の
周囲の雰囲気（例えば、大気）と屈折率の異なる圧縮気
体を被検査容器の中に入れる。
シュリーレン現象を観察できる光学系の光路中に設置
し、観察する被検査容器の部分にカメラや望遠鏡等の受
光部のピントを合わせておく。そして、外部から加熱さ
れた圧縮気体（例えば、圧縮空気）、又は被検査容器の
周囲の雰囲気（例えば、大気）と屈折率の異なる圧縮気
体を被検査容器の中に入れる。
【００１０】もし、被検査容器に溶接ミスとかピンホー
ルがあると、その部分から気体が吹き出して被検査容器
の周囲の雰囲気に乱れが生じ、その屈折光による明暗を
受光部で観察できる。この場合、被検査容器の周囲の雰
囲気は動きが少ない状態（例えば、静止状態）にしてお
けば、微妙な屈折率の違いで起きる現象をも観察でき
る。なお、被検査容器の近傍の雰囲気を予め加熱してお
けば、圧縮気体は加熱する必要はなく、また屈折率の異
なるものを用いる必要もない。
ルがあると、その部分から気体が吹き出して被検査容器
の周囲の雰囲気に乱れが生じ、その屈折光による明暗を
受光部で観察できる。この場合、被検査容器の周囲の雰
囲気は動きが少ない状態（例えば、静止状態）にしてお
けば、微妙な屈折率の違いで起きる現象をも観察でき
る。なお、被検査容器の近傍の雰囲気を予め加熱してお
けば、圧縮気体は加熱する必要はなく、また屈折率の異
なるものを用いる必要もない。
【００１１】
【実施例】本発明の実施例を説明する前に、図４と図５
を参照しながらシュリレーン現象を捉えるための光学系
を説明する。先ず、図３において、１は光源からの光路
上に設けた直線の縁（光の絞り）、２は縁１を通過した
光線の集光レンズ、３は集光レンズ２の焦点ｆに配置さ
れた遮光板、４はカメラや望遠鏡等の受光部（光電変換
器等の電気的な検出器でもよい）であって、集光レンズ
２によって縁１の像が焦点ｆに作られる光学系を構成す
る。
を参照しながらシュリレーン現象を捉えるための光学系
を説明する。先ず、図３において、１は光源からの光路
上に設けた直線の縁（光の絞り）、２は縁１を通過した
光線の集光レンズ、３は集光レンズ２の焦点ｆに配置さ
れた遮光板、４はカメラや望遠鏡等の受光部（光電変換
器等の電気的な検出器でもよい）であって、集光レンズ
２によって縁１の像が焦点ｆに作られる光学系を構成す
る。
【００１２】この光学系では、遮光板３は光源の像の縁
１に平行な縁を持っており、受光部４のピントは脈理ｓ
に合わせておく。脈理ｓに屈折率の違った所が無けれ
ば、受光部４のピント面では一様の明るさである。も
し、屈折率の違った所があれば、そこを通った光は屈折
して方向が変わる。そして、もし、遮光板３の縁の下側
に曲がったとすれば、その光は遮光板３で遮られるから
受光部４のピント面では暗くなり、また、逆の方向に曲
がれば明るくなる。
１に平行な縁を持っており、受光部４のピントは脈理ｓ
に合わせておく。脈理ｓに屈折率の違った所が無けれ
ば、受光部４のピント面では一様の明るさである。も
し、屈折率の違った所があれば、そこを通った光は屈折
して方向が変わる。そして、もし、遮光板３の縁の下側
に曲がったとすれば、その光は遮光板３で遮られるから
受光部４のピント面では暗くなり、また、逆の方向に曲
がれば明るくなる。
【００１３】このようにして、屈折率の異なる割合によ
って受光部４のピント面に明暗の像ができる。一方、図
４に示す光学系では先の集光レンズ２の代わりに反射鏡
２０が用いられている。そして、反射鏡２０はその焦点
距離だけ縁１から離間して配置されていると共に、この
反射鏡２０の焦点距離だけ離間して遮光板３が配置され
ていて、図３に示すものと同様な作用を実行できる。
って受光部４のピント面に明暗の像ができる。一方、図
４に示す光学系では先の集光レンズ２の代わりに反射鏡
２０が用いられている。そして、反射鏡２０はその焦点
距離だけ縁１から離間して配置されていると共に、この
反射鏡２０の焦点距離だけ離間して遮光板３が配置され
ていて、図３に示すものと同様な作用を実行できる。
【００１４】次に、本発明の実施例を図１〜図２を参照
しながら説明する。これらの図に示されている各実施例
では先の図３に示す光学系が用いられるので、光学系自
体の構成については、図３で用いた符号と同一符号を用
いて、その説明が省略されている。
しながら説明する。これらの図に示されている各実施例
では先の図３に示す光学系が用いられるので、光学系自
体の構成については、図３で用いた符号と同一符号を用
いて、その説明が省略されている。
【００１５】図１の第１実施例では、集光レンズ２と遮
光板３の間に形成される光束５内に密閉された被検査容
器６を設置し、この被検査容器６の中に外部から熱せら
れた圧縮空気等の加熱圧縮気体を入れて、欠陥有無の検
査を実行する。即ち、光束５内に設置された被検査容器
６に欠陥がなくてガス漏れがなければ、該被検査容器６
の周囲の雰囲気には屈折率の異なる部分が発生しないの
で、受光部４のピント面では明暗の変化がない。
光板３の間に形成される光束５内に密閉された被検査容
器６を設置し、この被検査容器６の中に外部から熱せら
れた圧縮空気等の加熱圧縮気体を入れて、欠陥有無の検
査を実行する。即ち、光束５内に設置された被検査容器
６に欠陥がなくてガス漏れがなければ、該被検査容器６
の周囲の雰囲気には屈折率の異なる部分が発生しないの
で、受光部４のピント面では明暗の変化がない。
【００１６】そして、被検査容器６にピンホール等のガ
ス漏れを生ずるような欠陥があれば、加熱圧縮気体が被
検査容器６より吹き出し、その吹き出し部分の雰囲気に
脈理の変動が起こり、その部分を通った光は屈折して方
向が変わる。この屈折した光が遮光板３側に曲がると、
集光点が遮光板３側に向かってずれるために受光部４の
ピント面では暗くなるが、逆の方向へ曲がると明るくな
る。このようにして屈折率の異なる割合により受光部４
のピント面の像に明暗の変化が生じ、被検査容器６の欠
陥が検出される。
ス漏れを生ずるような欠陥があれば、加熱圧縮気体が被
検査容器６より吹き出し、その吹き出し部分の雰囲気に
脈理の変動が起こり、その部分を通った光は屈折して方
向が変わる。この屈折した光が遮光板３側に曲がると、
集光点が遮光板３側に向かってずれるために受光部４の
ピント面では暗くなるが、逆の方向へ曲がると明るくな
る。このようにして屈折率の異なる割合により受光部４
のピント面の像に明暗の変化が生じ、被検査容器６の欠
陥が検出される。
【００１７】次に、図２の第２実施例では、集光レンズ
２と遮光板３の間に形成される光束５内に透明な真空室
７を設け、この真空室７内に密閉された被検査容器６を
設置した後で、真空室７内を真空ポンプ８により真空引
きすると共に、被検査容器６の中に外部から圧縮空気等
の圧縮気体を入れ、先の第１実施例と同様に欠陥有無の
検査を実行できる。この第２実施例によれば、被検査容
器６を真空室７内に設置して行うので被検査容器６周囲
の雰囲気の動きがなく、微妙な屈折率の違いで起こるシ
ュリーレン現象も観察でき、高精度の検査を行うことが
できる。
２と遮光板３の間に形成される光束５内に透明な真空室
７を設け、この真空室７内に密閉された被検査容器６を
設置した後で、真空室７内を真空ポンプ８により真空引
きすると共に、被検査容器６の中に外部から圧縮空気等
の圧縮気体を入れ、先の第１実施例と同様に欠陥有無の
検査を実行できる。この第２実施例によれば、被検査容
器６を真空室７内に設置して行うので被検査容器６周囲
の雰囲気の動きがなく、微妙な屈折率の違いで起こるシ
ュリーレン現象も観察でき、高精度の検査を行うことが
できる。
【００１８】なお、図１における被検査容器６の近傍に
脈理を形成するための加熱装置（図示せず）を設置し、
検査実行に先立って該部分の雰囲気を加熱しておけば、
被検査容器６の中に入れる圧縮空気等の圧縮気体を加熱
するとか、被検査容器６周囲の雰囲気とは光の屈折率の
異なる圧縮気体を用いる必要がない。そして、もし被検
査容器に欠陥があって圧縮気体が漏れ出すと、この圧縮
気体が上記加熱されている部分の雰囲気を乱して、これ
が受光部４のピント面における像の明暗の動きとして観
察され、欠陥有無を検査することもできる。また、以上
説明の実施例では、光学系に集光レンズが用いられてい
るが、これは反射鏡を用いてもよい。
脈理を形成するための加熱装置（図示せず）を設置し、
検査実行に先立って該部分の雰囲気を加熱しておけば、
被検査容器６の中に入れる圧縮空気等の圧縮気体を加熱
するとか、被検査容器６周囲の雰囲気とは光の屈折率の
異なる圧縮気体を用いる必要がない。そして、もし被検
査容器に欠陥があって圧縮気体が漏れ出すと、この圧縮
気体が上記加熱されている部分の雰囲気を乱して、これ
が受光部４のピント面における像の明暗の動きとして観
察され、欠陥有無を検査することもできる。また、以上
説明の実施例では、光学系に集光レンズが用いられてい
るが、これは反射鏡を用いてもよい。
【００１９】
【発明の効果】本発明は上記の如くであって、容器の欠
陥検査方法としてシュリーレン現象を観察できる光学系
を利用したので、検査設備をコンパクト化できることは
勿論のこと、経済的でしかも高精度の検査が可能であ
り、実施も容易にできる点と相俟って、その実用的価値
は極めて多大である。
陥検査方法としてシュリーレン現象を観察できる光学系
を利用したので、検査設備をコンパクト化できることは
勿論のこと、経済的でしかも高精度の検査が可能であ
り、実施も容易にできる点と相俟って、その実用的価値
は極めて多大である。
【図１】本発明の第１実施例を示す構成図である。
【図２】本発明の第２実施例を示す構成図である。
【図３】本発明を実施するために用いるシュリーレン現
象を観察できる光学系の構成図である。
象を観察できる光学系の構成図である。
【図４】図３に示す光学系の変形例の構成図である。
１は光源の縁、２は集光レンズ、３は遮光板、４は受光
部、５は光束、６は被検査容器、２０は反射鏡、ｓは脈
理である。
部、５は光束、６は被検査容器、２０は反射鏡、ｓは脈
理である。
Claims (2)
- 【請求項１】 シュリーレン現象を観察できる光学系の
光路中に密閉した被検査容器を設置し、この被検査容器
の中に該容器の周囲の雰囲気とは光の屈折率又は温度の
異なる圧縮気体を入れ、その被検査容器から漏れ出る気
体によって発生する上記雰囲気の乱れ現象を受光部によ
り検出して、上記被検査容器の欠陥を検査することを特
徴とする容器の欠陥検査方法。 - 【請求項２】 シュリーレン現象を観察できる光学系の
光路中に密閉した被検査容器を設置し、この被検査容器
の近傍の雰囲気を加熱する一方、該被検査容器の中に空
気等の圧縮気体を入れ、その被検査容器から漏れ出る気
体により上記加熱された部分の雰囲気を乱し、この乱れ
現象を受光部により検出して上記被検査容器の欠陥を検
査することを特徴とする容器の欠陥検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4166593A JPH06221955A (ja) | 1993-01-22 | 1993-01-22 | 容器の欠陥検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4166593A JPH06221955A (ja) | 1993-01-22 | 1993-01-22 | 容器の欠陥検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06221955A true JPH06221955A (ja) | 1994-08-12 |
Family
ID=12614687
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4166593A Pending JPH06221955A (ja) | 1993-01-22 | 1993-01-22 | 容器の欠陥検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06221955A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015021778A (ja) * | 2013-07-17 | 2015-02-02 | 東洋製罐グループホールディングス株式会社 | 被検査物の検査方法及びその検査装置 |
| CN112964432A (zh) * | 2021-02-08 | 2021-06-15 | 博众精工科技股份有限公司 | 一种漏点位置检测装置 |
| EP3848691A3 (en) * | 2020-01-09 | 2021-10-06 | Kimball Electronics Indiana, Inc. | Imaging system for leak detection |
-
1993
- 1993-01-22 JP JP4166593A patent/JPH06221955A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015021778A (ja) * | 2013-07-17 | 2015-02-02 | 東洋製罐グループホールディングス株式会社 | 被検査物の検査方法及びその検査装置 |
| EP3848691A3 (en) * | 2020-01-09 | 2021-10-06 | Kimball Electronics Indiana, Inc. | Imaging system for leak detection |
| TWI833060B (zh) * | 2020-01-09 | 2024-02-21 | 美商金柏電子印第安納公司 | 用於洩漏檢測之成像系統 |
| CN112964432A (zh) * | 2021-02-08 | 2021-06-15 | 博众精工科技股份有限公司 | 一种漏点位置检测装置 |
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