JPS6168543A - 検体における欠陥の光学的検査方法及びその装置 - Google Patents

検体における欠陥の光学的検査方法及びその装置

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JPS6168543A
JPS6168543A JP19106584A JP19106584A JPS6168543A JP S6168543 A JPS6168543 A JP S6168543A JP 19106584 A JP19106584 A JP 19106584A JP 19106584 A JP19106584 A JP 19106584A JP S6168543 A JPS6168543 A JP S6168543A
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JP
Japan
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specimen
sample
screen
light
defect
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Pending
Application number
JP19106584A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyuki Yoshimi
裕之 吉見
Toshihiko Sugimoto
俊彦 杉本
Yozo Oishi
大石 洋三
Ryuzo Yamashita
隆三 山下
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nitto Denko Corp
Original Assignee
Nitto Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Priority to JP19106584A priority Critical patent/JPS6168543A/ja
Publication of JPS6168543A publication Critical patent/JPS6168543A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
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  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔利用分野〕 本発明は、検体における欠陥部のレンズ作用ないし球面
作用を利用してなるフィルムなどの検体における脈理、
膨大部などの欠陥の光学的検査方法及びその装置に関す
るものである。
〔従来の技術〕
従来、フィルムなどの検体における脈理、異物混入によ
る膨大部、表面上の翔みなどの欠陥の光学的検査方法と
しては、検体に平行光線を入射させてその透過光又は反
射光をスクリーンに投影させ、形成された投影像におけ
る明暗分布を観察することによって行う方法が知られて
いた。この方法は、検体の欠陥部と正常部との光線透過
率の差又は欠陥部における異常反射を利用したものであ
る。
従来の方法による検体検査における合否の判別は、スク
リーン上の投影像の明暗の程度に基づいて行われる。
〔解決すべき問題点〕
しかしながら、従来の方法では検査結果の信頼性に劣り
、高い検査精度を維持することが困難であるという問題
があった。
すなわち、投影像における明暗の程度の肉眼による識別
には限界があること、肉眼による明暗の識別は定性的に
なりやすいこと、高精度の検査を維持するためには微砂
な明るさの違い(明暗)を識別しなければならないこと
、さらに検体における欠陥の程度と投影像の明暗の程度
が必ずしも対応しないことなどが原因して均質性にすぐ
れて高品位の検体の選別検査全維持することが困難であ
ったO 〔問題点の解決手段〕 本発明者らは上記の問題点を克服し、高い検査精度を維
持できて、かつ、その作業が簡便な検査方法を開発する
ために鋭意研究を重ねた結果、検体の欠陥部がレンズ作
用ないし球面作用を有することを見出し、この知見に基
づいて本発明をなすに至った。
すなわち、本発明は、検体に光を入射させて検体に訃け
る欠陥部のレンズ作用ないし球面作用を受けた透過光又
は反射光を受光袋MK集束させることを特徴とする検体
における欠陥の光学的検査方法及び 点光源と検体支持体と、点光源から検体に入射した光束
の透過光束又は反射光束の投影を受ける受光装置とから
なり、検体支持体に支持された検体と受光装置との間隔
が可変であることを特徴とする検体における欠陥の光学
的検査装置を提供するものである。
〔実施例〕
本発明の方法をこれを使用した装置の実施例を表わした
図面に基づいて説明する。
第1図に表わした実施例は、透過光束に適用する場合の
ものである。この装置は、ランプ2及びピンホール3か
らなる点光源1と、点光源からの光束を平行光束とする
集光レンズ4と、集光レンズによって形成された平行光
束の入射を受ける透光性の検体5を支持する検体支持体
6と、検体を透過した光束の投影を受けるスクリーン7
とからなっている0台8に固定されたスクリーンは、台
ごと移動しうるようになっており、検体支持体6ひいて
は検体5からの距離を変えることができるようKなって
いる。なお、9はデジタル式の表示kgであり、これは
検体支持体6とスクリーン用の台8とのあいだに介在さ
せた抵抗型メジャー1oと連結させて検体とスクリーン
との距離を測定表示尽せるためのものである。
上記の装置を用いての検体における欠陥の検査は次のよ
うにして行われる。
すなわち%第2図のように例えば異物の混入などで膨大
部5aヲ有する透光性のラミネートフィルムからなる検
体5を検体支持体6で固定し、これヲ集光レンズ4とス
クリーン7とのあいだに配置して検体5に集光レンズで
平行光束11bとした点光源1からの光束11a’i入
射させ、その透過光束11c qスクリーン7に投影さ
せる。その際、検体の膨大部5a’(5透過した光束は
膨大部のレンズ作用を受けて集束光線束11c′となる
ので、この集束光線束に対応させてヌクリーンを移動さ
せ膨大部のレンズとしての焦点なもし擬似焦点に相当す
る集束光線束11cの集束点としての輝点像lidをス
クリーンに結ばせ、そのときの検体からスクリーンまで
の距離を測定する。この測定値をあらかじめ設定した基
準値と比べその大小により検体の合否が決定される。こ
れは、検体における欠陥としての膨大部の曲率半撓(大
きさ)の逆数と前記測定値(レンズの(擬似)焦点距離
に相当)の逆数とが比例関係にあることに基づく。この
ように本発明では欠陥の程度を定量的に評価して検査を
行うことができる。
第3図はほかの実施例を表わしたものであシ、これは反
射光束に適用する場合の装置である。反射光束を利用す
るものけ、殊に非透光性の検体12における窪み状の欠
陥12aの検査に有利である(第4図) この装置は第3図のように、上記した実施例(第2図)
における検体5とスクリーン7の平行光束11bに対す
る垂直配置にかえて、検体12を平行光束11bに対し
て傾けて配置しその反射光束lieを受けるようにスク
リーン7を配置したものである。
この装置による検体における欠陥の検査は、検体の窪み
状欠陥部12aにおける球面作用を受けた反射光束li
e’をスクリーンに投影させ、スクリーンe[動させて
反射光束が集束して形成する輝点の位置を求めるほかF
i北記した実施例の装置による場合と同様である。
本発明の方法が検査の対象とする検体における欠陥は、
膨大部や窪みあるいは脈理などのレンズ作用又は球面作
用を有するものである。検体の材質、形態等に・ついて
特に限定はない。
また、本発明の装置においては前記の実施例で用いた集
光レンズ4は必須のものでない。さらに、凸レンズなど
を付加してこれを透過光束又は反射光束に適用すること
Kよシ、透過光束を利用した窪みなどの発散光束を形成
する欠陥に適用できる装置又は反射光束を利用した膨大
部などの収束光束を形成する欠陥に適用できる装置を構
成することも可能である。なお、装置における点光源を
形成するだめの光源としては、例えばハロゲンランプ、
キセノンランプ、タングステンランプ、レーザー光など
をあげることができる。もちろん、これらに限定するも
のでない。また、受光装置としては、例えば黒色布など
からなるスクリーンのほか、焦点面測定用光電装置など
をあげることができる。ざらに、装置における検体支持
体に支持された検体と受光装置との間隔は可変であるこ
とが必要であるが、その可変手段としては、検体(検体
支持体)又は受光装置のいずれか一方が移動しうるよう
になっていてもよいし、その両方が移動しうるようにな
っていてもよい。
〔発明の効果〕
本発明の方法によれば、検体における欠陥部のレンズ作
用ないし球面作用を受けた光を集束させて検査するよう
にしたので、検体における欠陥の程度を定量的に評価す
ることができる。その結果信頼性にすぐれる検査結果を
得ることができるとともに、高精度の検査を簡単な作業
で容易に維持することができる。
また、上記の方法を使用した本発明の装置によれば、簡
便な操作でかつ効率的に検査作業を行うことができて、
装置の組立ても容易である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の方法における透過光束に適用される装
置の実施例の斜視説明図、第2図は膨大部を有する透光
性検体(部分)の例を表わした断面図、第3図は本発明
の方法における反射光束に適用はれる装置の実施例の斜
視説明図、第4図は窪みを有する検体(部分)の例を表
わした断面図である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、検体に光を入射させ、検体における欠陥部のレンズ
    作用ないし球面作用を受けた透過光又は反射光を受光装
    置に集束させることを特徴とする検体における欠陥の光
    学的検査方法。 2、検体がフィルムである特許請求の範囲第1項記載の
    方法。 3、点光源と、検体支持体と、点光源から検体に入射し
    た光束の透過光束又は反射光束の投影を受ける受光装置
    とからなり、検体支持体に支持された検体と受光装置と
    の間隔が可変であることを特徴とする検体における欠陥
    の光学的検査装置。 4、点光源からの光束を平行光束とする集光レンズを点
    光源と検体支持体とのあいだに設けてなる特許請求の範
    囲第3項記載の装置。
JP19106584A 1984-09-12 1984-09-12 検体における欠陥の光学的検査方法及びその装置 Pending JPS6168543A (ja)

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