CN109269435A - 一种去除材料深度的检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种去除材料深度的检测方法，首先对齿轮轴过渡圆处进行表面探伤，标记缺陷部位，使用样膏对缺陷部位的过渡圆尺寸进行采样，在缺陷周围标记修理边界，在边界内进行修磨，并平滑过渡至修理边界处，再使用样膏对修磨后的缺陷部位的过渡圆进行采样，最后使用显微镜对两次采集的过渡圆尺寸进行比对检测，得出结果；采用本发明所述检测方法，使齿轮轴过渡圆处的手工钳修去除材料的深度能够检测，解决了发动机在维修时，对齿轮轴过渡圆处出现的故障进行手工钳修后去除材料深度无法控制的技术难题，避免因无法确定去除材料深度造成零件报废，大大降低了该型号发动机的维修成本。

Description

一种去除材料深度的检测方法
技术领域
本发明属于机械装配修理技术领域，具体涉及一种去除材料深度的检测方法。
背景技术
某型航空发动机中央齿箱中设置有壳体组合件、一对弧齿锥齿轮、三支点主轴承、三支点密封跑道、3套小轴承，10个油路喷点，通过一对弧齿锥齿轮的啮合运动实现中央齿箱的传动功能。
中央齿箱齿轮到寿大修时，齿轮轴过渡圆处故障率为10％，为保证技术要求，需要对其过渡圆处故障进行手工钳修去除材料，并控制去除材料的厚度；由于齿轮轴过渡圆位置的特殊性，手工钳修去除材料的深度无法检测，造成零件报废，维修成本较高。
发明内容
为了解决了现有技术中存在的问题，本发明提供一种去除材料深度的检测方法，使齿轮轴过渡圆处的手工钳修去材料的深度能够检测，解决了发动机在修理过程中对齿轮轴过渡圆处出现故障手工钳修后去除材料深度无法控制的技术难题。
为了实现上述目的，本发明采用的技术方案是，一种去除材料深度的检测方法，包括以下步骤：
步骤1，对工件表面过渡圆处进行表面探伤，并标记缺陷部位；
步骤2，对步骤1检测出的工件缺陷部位的过渡圆尺寸以及外形轮廓进行采样；
步骤3，在步骤1检测出的缺陷周围标记修理边界，然后在修理边界区域内对工件的缺陷部位进行修磨；
步骤4，对经步骤3修理后的工件线性显示部位再次进行表面探伤检查，若探伤检查不合格，则重复步骤1～步骤3的操作；若探伤检查合格，则进行下一步；
步骤5，对经过步骤4处理后工件缺陷部位的过渡圆尺寸及外形轮廓进行采样；
步骤6，将步骤2和步骤5所得样品的圆弧进行正投影，对比步骤2和步骤5所得样品的过渡圆尺寸。
步骤1中，表面探伤采用磁粉检测或渗透检测。
步骤2中，采样时采用样膏或橡皮泥。
步骤5中采样所用样膏或橡皮泥与步骤3中所用样膏或橡皮泥为同批制作。
步骤2和未使用的橡皮泥或样膏保存在恒温恒湿的装置中。
步骤3中采用手动修磨工具对工件的缺陷部位进行修磨。
步骤3中，对缺陷部位进行修磨时遵循每次少量多次的原则，并且从缺陷部位向修磨修理边界处平滑过渡。
步骤3中，对缺陷部位进行修磨时借助放大镜对缺陷部位进行放大。
步骤4中所采用的探伤方法应与步骤1中所述探伤方法相同。
步骤6中，采用万能显微镜将步骤2和步骤5所得样品的过渡圆正投影进行放大比对，过渡圆修磨前的半径和修磨后的半径之差最大处不超过0.1mm。
与现有技术相比，本发明至少具有以下有益效果：采用本发明所述检测方法，使齿轮轴过渡圆处的手工钳修去材料的深度能够检测，解决了发动机在修理过程中，对齿轮轴过渡圆处出现的故障进行手工钳修后去除材料深度无法控制的技术难题，避免因无法确定去除材料深度造成零件报废，大大降低了该型号发动机的维修成本，保证了产品的交付质量。
进一步的，表面探伤采用磁粉检测或渗透检测，方法均为现行常用方法，使用范围广，易于操作。
进一步的，样膏和橡皮泥的可塑性好，易于控制，原料易得而且能反复使用。
进一步的，步骤2和未使用的橡皮泥或样膏保存在恒温恒湿的装置中，样膏或橡皮泥不变形，保证样膏采样尺寸的准确性。
进一步的，修磨时遵循每次少量多次的原则，避免一次修磨过多而导致零件报废。
进一步的，步骤4中所采用的探伤方法应与步骤1中所述探伤方法相同确保检测结果的一致性和稳定性。
进一步的，步骤5中采样所用样膏与步骤3中所用样膏为同批制作，减小因采样不准确对修磨结果比对的影响。
进一步的，采用放大镜对缺陷部位放大，有利于工人修磨时观察准确。
附图说明
图1为某机齿轮轴过渡圆位置示意图。
图2为另一型号齿轮轴过渡圆位置示意图。
图3为本发明的齿轮轴过渡圆处手工钳修去材料深度过程控制示意图。
图中，1-第一过渡圆，2-第二过渡圆，3-第三过渡圆。
具体实施方式
下面结合附图对本发明进行详细解释。
一种去除材料深度的检测方法，包括以下步骤：
步骤1，对工件表面过渡圆处进行表面探伤，并标记缺陷部位，表面探伤采用磁粉检测或渗透检测；
步骤2，对步骤1检测出的工件缺陷部位的过渡圆尺寸以及外形轮廓用样膏或橡皮泥进行采样；
步骤3，在步骤1检测出的缺陷周围标记修理边界，然后在修理边界区域内对齿轮轴的缺陷部位进行修磨；对缺陷部位进行修磨时遵循每次少量多次的原则，并且从缺陷部位向修磨修理边界处平滑过渡；采用手动修磨工具对齿轮轴的缺陷部位进行修磨，对缺陷部位进行修磨时借助放大镜对缺陷部位进行放大。
步骤4，对经步骤3修理后的齿轮线性显示部位再次进行表面探伤检查，探伤方法与步骤1所用方法相同；若探伤检查不合格，则重复步骤1～步骤3的操作；若探伤检查合格，将探伤部位进行清洗后，进行后续工作；
步骤5，对经过步骤4处理后齿轮轴缺陷部位的过渡圆尺寸及外形轮廓进行采样，使用步骤3中所制备的样膏或橡皮泥；
步骤6，将步骤2和步骤5所得样品的圆弧进行正投影，对比步骤2和步骤5所得样品的过渡圆尺寸；采用万能显微镜将步骤2和步骤5所得样品的过渡圆正投影进行放大比对，使用万能工具显微镜进行正投影，所述正投影是指将样膏的过渡圆在显微镜的载物台上正投影；对样膏的过渡圆尺寸进行检测，对比修理前后的过渡圆尺寸；过渡圆修磨前的半径R0和修磨后的半径R1之差最大处不超过0.1mm，即去除的材料厚度不超过0.1mm；步骤2和未使用的橡皮泥或样膏保存在恒温恒湿的装置中。
如图1和图2所示，第一过渡圆1、第二过渡圆2和第三过渡圆3，本发明就是对第一过渡圆1、第二过渡圆2和第三过渡圆3进行检测和修磨。
若对齿轮轴过渡圆进行了多次修磨，修磨掉的齿轮过渡圆材料厚度应为多次修磨厚度之和。
实施例1，采用本发明所述方法对某航空发动机齿轮轴过渡圆处手工钳修去除材料深度进行检测：
步骤1，对齿轮轴过渡圆处进行表面磁粉探伤，并标记缺陷部位；
步骤2，对步骤1检测出的齿轮轴缺陷部位的过渡圆尺寸以及外形轮廓用样膏进行采样；
步骤3，在步骤1检测出的缺陷周围标记修理边界，然后在修理边界区域内对齿轮轴的缺陷部位进行修磨；对缺陷部位进行修磨时遵循每次少量多次的原则，并且从缺陷部位向修磨修理边界处平滑过渡；采用手动修磨工具对齿轮轴的缺陷部位进行修磨，对缺陷部位进行修磨时借助放大镜对缺陷部位进行放大；若对齿轮轴过渡圆进行了多次修磨，修磨掉的齿轮轴过渡圆材料厚度应为多次修磨厚度之和。
步骤4，对经步骤3修理后的齿轮线性显示部位再次进行表面探伤检查，探伤方法与步骤1所用方法相同；若探伤检查不合格，则重复步骤1～步骤3的操作；若探伤检查合格，将探伤部位进行清洗后，进行后续工作；
步骤5，对经过步骤4处理后齿轮轴缺陷部位的过渡圆尺寸及外形轮廓进行采样，使用步骤3中所制备的样膏；
步骤6，将步骤2和步骤5所得样品的圆弧进行正投影，对比步骤2和步骤5所得样品的过渡圆尺寸；采用万能显微镜将步骤2和步骤5所得样品的过渡圆正投影进行放大比对，使用万能工具显微镜进行正投影，所述正投影是指将样膏的过渡圆在显微镜的载物台上正投影；对样膏的过渡圆尺寸进行检测，对比修理前后的过渡圆尺寸；过渡圆修磨前的半径R0和修磨后的半径R1之差最大处为0.08mm，即去除的材料厚度不超过0.08mm。
如图1和图2所示，第一过渡圆1、第二过渡圆2和第三过渡圆3，本发明就是对第一过渡圆1、第二过渡圆2和第三过渡圆3进行检测和修磨。

Claims (10)

1.一种去除材料深度的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤1，对工件表面过渡圆处进行表面探伤，并标记缺陷部位；
步骤2，对步骤1检测出的工件缺陷部位的过渡圆尺寸以及外形轮廓进行采样；
步骤3，在步骤1检测出的缺陷周围标记修理边界，然后在修理边界区域内对工件的缺陷部位进行修磨；
步骤4，对经步骤3修理后的工件线性显示部位再次进行表面探伤检查，若探伤检查不合格，则重复步骤1～步骤3的操作；若探伤检查合格，则进行下一步；
步骤5，对经过步骤4处理后工件缺陷部位的过渡圆尺寸及外形轮廓进行采样；
步骤6，将步骤2和步骤5所得样品的圆弧进行正投影，对比步骤2和步骤5所得样品的过渡圆尺寸。
2.根据权利要求1所述的去除材料深度的检测方法，其特征在于，步骤1中，表面探伤采用磁粉检测或渗透检测。
3.根据权利要求1所述的去除材料深度的检测方法，其特征在于，步骤2中，采样时采用样膏或橡皮泥。
4.根据权利要求3所述的去除材料深度的检测方法，其特征在于，步骤5中采样所用样膏或橡皮泥与步骤2中所用样膏或橡皮泥为同批制作。
5.根据权利要求1所述的去除材料深度的检测方法，其特征在于，步骤2和未使用的橡皮泥或样膏保存在恒温恒湿的装置中。
6.根据权利要求1所述的去除材料深度的检测方法，其特征在于，步骤3中采用手动修磨工具对工件的缺陷部位进行修磨。
7.根据权利要求6所述的去除材料深度的检测方法，其特征在于，步骤3中，对缺陷部位进行修磨时遵循每次少量多次的原则，并且从缺陷部位向修磨修理边界处平滑过渡。
8.根据权利要求1所述的去除材料深度的检测方法，其特征在于，步骤3中，对缺陷部位进行修磨时借助放大镜对缺陷部位进行放大。
9.根据权利要求1所述的去除材料深度的检测方法，其特征在于，步骤4中所采用的探伤方法应与步骤1中所述探伤方法相同。
10.根据权利要求1所述的去除材料深度的检测方法，其特征在于，步骤6中，采用万能显微镜将步骤2和步骤5所得样品的过渡圆正投影进行放大比对，过渡圆修磨前的半径和修磨后的半径之差最大处不超过0.1mm。
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