JPH06201377A - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
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- JPH06201377A JPH06201377A JP4357695A JP35769592A JPH06201377A JP H06201377 A JPH06201377 A JP H06201377A JP 4357695 A JP4357695 A JP 4357695A JP 35769592 A JP35769592 A JP 35769592A JP H06201377 A JPH06201377 A JP H06201377A
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Abstract
射率が高いような場合における測距情報算出時間を、大
幅に短縮する。 【構成】 受光手段1よりの増幅信号を積分する積分手
段20,21と、受光手段よりの増幅信号をA/D変換
するA/D変換手段101と、受光手段よりの増幅信号
が所定レベルを超えたか否かを判定するレベル判定手段
25,26,27と、該レベル判定手段にて所定レベル
以下であることが判定されている場合には、積分手段に
て得られる情報に基づいて測距情報を算出し、所定レベ
ルを超えていることが判定されている場合には、A/D
変換手段にて得られる情報に基づいて測距情報を算出す
る演算手段103とを備え、受光手段よりの増幅信号が
所定レベルを超えていることが判定されている場合に
は、積分手段にて積分を行うことなく、直ちに受光手段
よりの増幅信号をA/D変換手段にてA/D変換し、こ
のA/D変換情報に基づいて測距情報を算出するように
している。
Description
投射するIRED等の投光手段と、該投光手段よりの前
記測距対象物での反射光を受光するPSD等の受光手段
とを備えたアクティブ方式の測距装置の改良に関するも
のである。
は、既に知られている様に、投射した信号光の反射光を
PSD等の受光素子により受光し、その二つの信号出力
によって受光面上の反射光の位置を検出することによ
り、被写体距離を得るものである。
の被写体を想定し、S/Nの向上を図るため、常に受光
信号をある一定時間積分し、その蓄積された信号により
被写体距離を得ていた。
来例では、近距離、高反射率の被写体であっても、つま
り受光信号が大きい(強い)場合でも、常に受光信号を
蓄積するので、その蓄積時間の為に測距時間が長くかか
っていた。
物までの距離が近い、或は、その反射率が高いような場
合における測距情報算出時間を、大幅に短縮することの
できる測距装置を提供することである。
の増幅信号を積分する積分手段と、受光手段よりの増幅
信号をA/D変換するA/D変換手段と、前記受光手段
よりの増幅信号が所定レベルを超えたか否かを判定する
レベル判定手段と、該レベル判定手段にて所定レベル以
下であることが判定されている場合には、前記積分手段
にて得られる情報に基づいて測距情報を算出し、所定レ
ベルを超えていることが判定されている場合には、前記
A/D変換手段にて得られる情報に基づいて測距情報を
算出する演算手段とを備え、受光手段よりの増幅信号が
所定レベルを超えていることが判定されている場合に
は、積分手段にて積分を行うことなく、直ちに受光手段
よりの増幅信号をA/D変換手段にてA/D変換し、こ
のA/D変換情報に基づいて測距情報を算出するように
している。
に説明する。
置の構成を示す回路図であり、同図において、1は受光
素子であるところのPSD(半導体位置検出器)であ
る。2,4は抵抗、3,5はオペアンプであり、これら
により前記PSD1の出力電流を電圧に変換するための
電流電圧変換回路を構成している。6,7はPSD1に
受光されるDC成分をカットするためのキャパシタ、
8,9は次段オペアンプゲイン決定用兼PSD出力電圧
加算用抵抗、10,11はPSD1の一方の出力(A)
と他方の出力(B)を選択するサンプル用アナログスイ
ッチ、12は前記アナログスイッチ10,11を介して
入力する電圧を増幅する為の増幅アンプ、13は前記増
幅アンプ12の増幅率を決める抵抗である。
「−1」倍する為の抵抗、16,17は増幅アンプ12
の出力電圧を電流に変換する抵抗、18,19は増幅ア
ンプ12の出力と後述するオペアンプ29の出力を選択
するアナログスイッチ、20は積分アンプ、21は積分
キャパシタ、22は積分キャパシタ21に蓄積された電
荷を放電させるためのアナログスイッチである。23は
放電用抵抗、24は積分アンプ20の出力電圧を判定す
るコンパレータであり、判定信号CP2を出力する。2
5,26はR2,R1の抵抗値を持ち、所定の基準電圧
Vcを分圧する抵抗、27は増幅アンプ12の出力電圧
と前記所定の基準電圧Vcを分圧された電圧{Vc・R
1/(R1+R2)}を判定するコンパレータであり、
判定信号CP1を出力する。28は投光素子であるとこ
ろのIRED(赤外発光ダイオード)である。29は増
幅アンプ12の出力電圧を「−1」倍するオペアンプで
ある。
D変換するA/D変換回路、102はIRED28を駆
動する駆動回路、103は前記駆動回路102を制御し
たり、前記アナログスイッチ10,11,18,19,
22のON,OFFを制御する信号SPL1,SPL
2,SPL3,SPL4,SPL5を出力するCPUで
ある。
て、図1,図3,図4を用いて動作説明を行う。
信号SPL1,SPL2,SPL3,SPL4をOFF
にし、信号SPL5をON状態として、積分キャパシタ
21の電荷をリセット状態とする。また、受光信号が大
きい(強い)か否かのフラグLを「0」とする(ステッ
プ101)。
PL2をONにし、IRED28を発光させ、該IRE
D28の反射光を受光したPSD1の出力信号を電流電
圧変換し、DCカットした信号の総和を(A+B)を増
幅アンプ12に入力するべく状態にする(ステップ10
2→103→104)。次いで、内蔵したタイマ1をス
タートさせ、ある一定時間(「x」ms)をカウントす
る(ステップ105→106)。そして、一定時間が経
過の後、前記タイマ1をリセットし、IRED28を消
灯し、新たにタイマ1をスタートさせ、カウントを開始
する(ステップ107→108→109)。
msに達したかどうかを判定する(ステップ110)。
この結果、「x」msに達していなければ、ステップ1
11からステップ115までの動作を実行する。
「x」msに達するまでの間に、フラグLは「0」に設
定されているので、増幅アンプ12の出力電圧を判定し
ているコンパレータ27の出力である判定信号CP1の
チェックを行い、該判定信号CP1が「1」の時、すな
わち増幅アンプ12の出力電圧振幅が大きい時、フラグ
Lを「1」(受光信号が大きい(強い)事を示す)と
し、前記タイマ1のカウント値が「x/2」msの時、
増幅アンプ12の出力電圧(A+B)をA/D変換回路
101によってA/D変換し、この際に得られる値をA
D1とする(ステップ111→112→113→114
→115)。
「x」msに達したことを判定すると、タイマ1をリセ
ットし、次いで信号SPL2をOFFにし、PSD1の
受光信号の一方(A側)の信号のみを増幅アンプ12へ
入力する(ステップ110→1116→117)。
し、「L=0」の場合、つまりPSD1の受光信号が小
さい(弱い)と判定できる場合は、PSD1の一方の信
号(A)を一定時間Tだけ下降積分し、次いでPSD1
の両方の信号(A+B)により初期値に達するまで上昇
積分を行い、この上昇積分に要する時間tと先の一定時
間Tとの比に基づいて被写体距離情報を得る(ステッ1
18→プ119→120→121)。この際の動作は既
に公知であるので、すなわち従来と同様の動作であるの
で、これ以上の説明は省略する。
である。
の場合、つまりPSD1の受光信号が大きい(強い)と
判定できる場合は、再びIRED28を点灯させ、タイ
マ1をスタートさせ、一定時間の経過を待つ(ステップ
118→122→123→124)。そして、一定時間
の経過後、前記タイマ1をリセットし、IRED28を
消灯し、新たにタイマ1をスタートさせ、カウントを開
始する(ステップ125→126→127)。そして、
前記タイマ1のカウント値が「x/2」msの時、増幅
アンプ12の出力電圧をA/D変換回路101によって
A/D変換し、この際に得られる値をAD2とする(ス
テップ128→129→130)。
「x」msに達したことを判定すると、タイマ1をリセ
ットする(ステップ128→131)。
テップ130において得られたA/D変換値AD2と前
記ステップ115において得られたA/D変換値AD1
を下式の様に演算する。
になる。
である。
度大きい(強い)信号かどうかを判定する手段と、ある
程度受光信号が大きければ、その増幅信号を直接A/D
変換し、このA/D変換値に基づいて測距情報を算出す
る手段を設けるようにしている。
ば被写体)までの距離やその反射率に関係なく信号蓄積
を行っていたため、その蓄積時間を常に必要としていた
が、本実施例によれば、受光信号が大きい場合(S/N
が良い場合)、すなわち測距対象物までの距離が近い、
或は高反射率の場合は、信号蓄積せずに増幅信号を直接
A/D変換し、この結果に基づいて測距情報を得ること
が可能となり、測距時間を画期的に短くできることにな
る。
値AD1,AD2は1回のA/D変換動作により得られ
た値になっているが、このA/D変換動作を複数回繰り
返し、その平均値をAD1,AD2としても良い。この
様な動作を行った際の各部の動作状態を示したのが図5
である。
を検出して、その時にA/D変換してAD1,AD2を
得るようにしても良い。
は、総和信号(A+B)ではなく、一方のA、或は、B
のみの信号で判定し、A/D変換してもよい。又、総和
信号(A+B)が所定レベルを超え、且つ、出力信号A
が所定レベルを超えている時、あるいは、総和信号(A
+B)が所定レベルを超え、且つ、出力信号Bが所定レ
ベルを超えている時、A/D変換しても良い。
受光手段よりの増幅信号を積分する積分手段と、受光手
段よりの増幅信号をA/D変換するA/D変換手段と、
前記受光手段よりの増幅信号が所定レベルを超えたか否
かを判定するレベル判定手段と、該レベル判定手段にて
所定レベル以下であることが判定されている場合には、
前記積分手段にて得られる情報に基づいて測距情報を算
出し、所定レベルを超えていることが判定されている場
合には、前記A/D変換手段にて得られる情報に基づい
て測距情報を算出する演算手段とを備え、受光手段より
の増幅信号が所定レベルを超えていることが判定されて
いる場合には、積分手段にて積分を行うことなく、直ち
に受光手段よりの増幅信号をA/D変換手段にてA/D
変換し、このA/D変換情報に基づいて測距情報を算出
するようにしている。
は、その反射率が高いような場合における測距情報算出
時間を、大幅に短縮することが可能となる。
す回路図である。
ある。
い)時の各部の動作状態を示すタイミングチャートであ
る。
い)時の各部の動作状態を示すタイミングチャートであ
る。
の動作状態を示すタイミングチャートである。
Claims (1)
- 【請求項1】 測距対象物へ信号光を投射する投光手段
と、該投光手段よりの前記測距対象物での反射光を受光
する受光手段と、該受光手段よりの増幅信号を積分する
積分手段と、前記受光手段よりの増幅信号をA/D変換
するA/D変換手段と、前記受光手段よりの増幅信号が
所定レベルを超えたか否かを判定するレベル判定手段
と、該レベル判定手段にて所定レベル以下であることが
判定されている場合には、前記積分手段にて得られる情
報に基づいて測距情報を算出し、所定レベルを超えてい
ることが判定されている場合には、前記A/D変換手段
にて得られる情報に基づいて測距情報を算出する演算手
段とを備えた測距装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4357695A JPH06201377A (ja) | 1992-12-25 | 1992-12-25 | 測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4357695A JPH06201377A (ja) | 1992-12-25 | 1992-12-25 | 測距装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06201377A true JPH06201377A (ja) | 1994-07-19 |
Family
ID=18455438
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4357695A Pending JPH06201377A (ja) | 1992-12-25 | 1992-12-25 | 測距装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06201377A (ja) |
-
1992
- 1992-12-25 JP JP4357695A patent/JPH06201377A/ja active Pending
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