JPH06201377A - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
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- JPH06201377A JPH06201377A JP4357695A JP35769592A JPH06201377A JP H06201377 A JPH06201377 A JP H06201377A JP 4357695 A JP4357695 A JP 4357695A JP 35769592 A JP35769592 A JP 35769592A JP H06201377 A JPH06201377 A JP H06201377A
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- signal
- light
- amplifier
- distance measurement
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 測距対象物までの距離が近い、或は、その反
射率が高いような場合における測距情報算出時間を、大
幅に短縮する。 【構成】 受光手段１よりの増幅信号を積分する積分手
段２０，２１と、受光手段よりの増幅信号をＡ／Ｄ変換
するＡ／Ｄ変換手段１０１と、受光手段よりの増幅信号
が所定レベルを超えたか否かを判定するレベル判定手段
２５，２６，２７と、該レベル判定手段にて所定レベル
以下であることが判定されている場合には、積分手段に
て得られる情報に基づいて測距情報を算出し、所定レベ
ルを超えていることが判定されている場合には、Ａ／Ｄ
変換手段にて得られる情報に基づいて測距情報を算出す
る演算手段１０３とを備え、受光手段よりの増幅信号が
所定レベルを超えていることが判定されている場合に
は、積分手段にて積分を行うことなく、直ちに受光手段
よりの増幅信号をＡ／Ｄ変換手段にてＡ／Ｄ変換し、こ
のＡ／Ｄ変換情報に基づいて測距情報を算出するように
している。
射率が高いような場合における測距情報算出時間を、大
幅に短縮する。 【構成】 受光手段１よりの増幅信号を積分する積分手
段２０，２１と、受光手段よりの増幅信号をＡ／Ｄ変換
するＡ／Ｄ変換手段１０１と、受光手段よりの増幅信号
が所定レベルを超えたか否かを判定するレベル判定手段
２５，２６，２７と、該レベル判定手段にて所定レベル
以下であることが判定されている場合には、積分手段に
て得られる情報に基づいて測距情報を算出し、所定レベ
ルを超えていることが判定されている場合には、Ａ／Ｄ
変換手段にて得られる情報に基づいて測距情報を算出す
る演算手段１０３とを備え、受光手段よりの増幅信号が
所定レベルを超えていることが判定されている場合に
は、積分手段にて積分を行うことなく、直ちに受光手段
よりの増幅信号をＡ／Ｄ変換手段にてＡ／Ｄ変換し、こ
のＡ／Ｄ変換情報に基づいて測距情報を算出するように
している。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、測距対象物へ信号光を
投射するＩＲＥＤ等の投光手段と、該投光手段よりの前
記測距対象物での反射光を受光するＰＳＤ等の受光手段
とを備えたアクティブ方式の測距装置の改良に関するも
のである。
投射するＩＲＥＤ等の投光手段と、該投光手段よりの前
記測距対象物での反射光を受光するＰＳＤ等の受光手段
とを備えたアクティブ方式の測距装置の改良に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】アクティブオートフォーカスの測距方式
は、既に知られている様に、投射した信号光の反射光を
ＰＳＤ等の受光素子により受光し、その二つの信号出力
によって受光面上の反射光の位置を検出することによ
り、被写体距離を得るものである。
は、既に知られている様に、投射した信号光の反射光を
ＰＳＤ等の受光素子により受光し、その二つの信号出力
によって受光面上の反射光の位置を検出することによ
り、被写体距離を得るものである。
【０００３】ここで従来においては、遠距離、低反射率
の被写体を想定し、Ｓ／Ｎの向上を図るため、常に受光
信号をある一定時間積分し、その蓄積された信号により
被写体距離を得ていた。
の被写体を想定し、Ｓ／Ｎの向上を図るため、常に受光
信号をある一定時間積分し、その蓄積された信号により
被写体距離を得ていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例では、近距離、高反射率の被写体であっても、つま
り受光信号が大きい（強い）場合でも、常に受光信号を
蓄積するので、その蓄積時間の為に測距時間が長くかか
っていた。
来例では、近距離、高反射率の被写体であっても、つま
り受光信号が大きい（強い）場合でも、常に受光信号を
蓄積するので、その蓄積時間の為に測距時間が長くかか
っていた。
【０００５】（発明の目的）本発明の目的は、測距対象
物までの距離が近い、或は、その反射率が高いような場
合における測距情報算出時間を、大幅に短縮することの
できる測距装置を提供することである。
物までの距離が近い、或は、その反射率が高いような場
合における測距情報算出時間を、大幅に短縮することの
できる測距装置を提供することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、受光手段より
の増幅信号を積分する積分手段と、受光手段よりの増幅
信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換手段と、前記受光手段
よりの増幅信号が所定レベルを超えたか否かを判定する
レベル判定手段と、該レベル判定手段にて所定レベル以
下であることが判定されている場合には、前記積分手段
にて得られる情報に基づいて測距情報を算出し、所定レ
ベルを超えていることが判定されている場合には、前記
Ａ／Ｄ変換手段にて得られる情報に基づいて測距情報を
算出する演算手段とを備え、受光手段よりの増幅信号が
所定レベルを超えていることが判定されている場合に
は、積分手段にて積分を行うことなく、直ちに受光手段
よりの増幅信号をＡ／Ｄ変換手段にてＡ／Ｄ変換し、こ
のＡ／Ｄ変換情報に基づいて測距情報を算出するように
している。
の増幅信号を積分する積分手段と、受光手段よりの増幅
信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換手段と、前記受光手段
よりの増幅信号が所定レベルを超えたか否かを判定する
レベル判定手段と、該レベル判定手段にて所定レベル以
下であることが判定されている場合には、前記積分手段
にて得られる情報に基づいて測距情報を算出し、所定レ
ベルを超えていることが判定されている場合には、前記
Ａ／Ｄ変換手段にて得られる情報に基づいて測距情報を
算出する演算手段とを備え、受光手段よりの増幅信号が
所定レベルを超えていることが判定されている場合に
は、積分手段にて積分を行うことなく、直ちに受光手段
よりの増幅信号をＡ／Ｄ変換手段にてＡ／Ｄ変換し、こ
のＡ／Ｄ変換情報に基づいて測距情報を算出するように
している。
【０００７】
【実施例】以下、本発明を図示の実施例に基づいて詳細
に説明する。
に説明する。
【０００８】図１は本発明の一の実施例における測距装
置の構成を示す回路図であり、同図において、１は受光
素子であるところのＰＳＤ（半導体位置検出器）であ
る。２，４は抵抗、３，５はオペアンプであり、これら
により前記ＰＳＤ１の出力電流を電圧に変換するための
電流電圧変換回路を構成している。６，７はＰＳＤ１に
受光されるＤＣ成分をカットするためのキャパシタ、
８，９は次段オペアンプゲイン決定用兼ＰＳＤ出力電圧
加算用抵抗、１０，１１はＰＳＤ１の一方の出力（Ａ）
と他方の出力（Ｂ）を選択するサンプル用アナログスイ
ッチ、１２は前記アナログスイッチ１０，１１を介して
入力する電圧を増幅する為の増幅アンプ、１３は前記増
幅アンプ１２の増幅率を決める抵抗である。
置の構成を示す回路図であり、同図において、１は受光
素子であるところのＰＳＤ（半導体位置検出器）であ
る。２，４は抵抗、３，５はオペアンプであり、これら
により前記ＰＳＤ１の出力電流を電圧に変換するための
電流電圧変換回路を構成している。６，７はＰＳＤ１に
受光されるＤＣ成分をカットするためのキャパシタ、
８，９は次段オペアンプゲイン決定用兼ＰＳＤ出力電圧
加算用抵抗、１０，１１はＰＳＤ１の一方の出力（Ａ）
と他方の出力（Ｂ）を選択するサンプル用アナログスイ
ッチ、１２は前記アナログスイッチ１０，１１を介して
入力する電圧を増幅する為の増幅アンプ、１３は前記増
幅アンプ１２の増幅率を決める抵抗である。
【０００９】１４，１５は増幅アンプ１２の出力信号を
「−１」倍する為の抵抗、１６，１７は増幅アンプ１２
の出力電圧を電流に変換する抵抗、１８，１９は増幅ア
ンプ１２の出力と後述するオペアンプ２９の出力を選択
するアナログスイッチ、２０は積分アンプ、２１は積分
キャパシタ、２２は積分キャパシタ２１に蓄積された電
荷を放電させるためのアナログスイッチである。２３は
放電用抵抗、２４は積分アンプ２０の出力電圧を判定す
るコンパレータであり、判定信号ＣＰ２を出力する。２
５，２６はＲ２，Ｒ１の抵抗値を持ち、所定の基準電圧
Ｖｃを分圧する抵抗、２７は増幅アンプ１２の出力電圧
と前記所定の基準電圧Ｖｃを分圧された電圧｛Ｖｃ・Ｒ
１／（Ｒ１＋Ｒ２）｝を判定するコンパレータであり、
判定信号ＣＰ１を出力する。２８は投光素子であるとこ
ろのＩＲＥＤ（赤外発光ダイオード）である。２９は増
幅アンプ１２の出力電圧を「−１」倍するオペアンプで
ある。
「−１」倍する為の抵抗、１６，１７は増幅アンプ１２
の出力電圧を電流に変換する抵抗、１８，１９は増幅ア
ンプ１２の出力と後述するオペアンプ２９の出力を選択
するアナログスイッチ、２０は積分アンプ、２１は積分
キャパシタ、２２は積分キャパシタ２１に蓄積された電
荷を放電させるためのアナログスイッチである。２３は
放電用抵抗、２４は積分アンプ２０の出力電圧を判定す
るコンパレータであり、判定信号ＣＰ２を出力する。２
５，２６はＲ２，Ｒ１の抵抗値を持ち、所定の基準電圧
Ｖｃを分圧する抵抗、２７は増幅アンプ１２の出力電圧
と前記所定の基準電圧Ｖｃを分圧された電圧｛Ｖｃ・Ｒ
１／（Ｒ１＋Ｒ２）｝を判定するコンパレータであり、
判定信号ＣＰ１を出力する。２８は投光素子であるとこ
ろのＩＲＥＤ（赤外発光ダイオード）である。２９は増
幅アンプ１２の出力電圧を「−１」倍するオペアンプで
ある。
【００１０】１０１は増幅アンプ１２の出力電圧をＡ／
Ｄ変換するＡ／Ｄ変換回路、１０２はＩＲＥＤ２８を駆
動する駆動回路、１０３は前記駆動回路１０２を制御し
たり、前記アナログスイッチ１０，１１，１８，１９，
２２のＯＮ，ＯＦＦを制御する信号ＳＰＬ１，ＳＰＬ
２，ＳＰＬ３，ＳＰＬ４，ＳＰＬ５を出力するＣＰＵで
ある。
Ｄ変換するＡ／Ｄ変換回路、１０２はＩＲＥＤ２８を駆
動する駆動回路、１０３は前記駆動回路１０２を制御し
たり、前記アナログスイッチ１０，１１，１８，１９，
２２のＯＮ，ＯＦＦを制御する信号ＳＰＬ１，ＳＰＬ
２，ＳＰＬ３，ＳＰＬ４，ＳＰＬ５を出力するＣＰＵで
ある。
【００１１】次に、図２のフローチャートにしたがっ
て、図１，図３，図４を用いて動作説明を行う。
て、図１，図３，図４を用いて動作説明を行う。
【００１２】まず、初期状態において、ＣＰＵ１０３は
信号ＳＰＬ１，ＳＰＬ２，ＳＰＬ３，ＳＰＬ４をＯＦＦ
にし、信号ＳＰＬ５をＯＮ状態として、積分キャパシタ
２１の電荷をリセット状態とする。また、受光信号が大
きい（強い）か否かのフラグＬを「０」とする（ステッ
プ１０１）。
信号ＳＰＬ１，ＳＰＬ２，ＳＰＬ３，ＳＰＬ４をＯＦＦ
にし、信号ＳＰＬ５をＯＮ状態として、積分キャパシタ
２１の電荷をリセット状態とする。また、受光信号が大
きい（強い）か否かのフラグＬを「０」とする（ステッ
プ１０１）。
【００１３】次に、測距開始と同時に信号ＳＰＬ１とＳ
ＰＬ２をＯＮにし、ＩＲＥＤ２８を発光させ、該ＩＲＥ
Ｄ２８の反射光を受光したＰＳＤ１の出力信号を電流電
圧変換し、ＤＣカットした信号の総和を（Ａ＋Ｂ）を増
幅アンプ１２に入力するべく状態にする（ステップ１０
２→１０３→１０４）。次いで、内蔵したタイマ１をス
タートさせ、ある一定時間（「ｘ」ｍｓ）をカウントす
る（ステップ１０５→１０６）。そして、一定時間が経
過の後、前記タイマ１をリセットし、ＩＲＥＤ２８を消
灯し、新たにタイマ１をスタートさせ、カウントを開始
する（ステップ１０７→１０８→１０９）。
ＰＬ２をＯＮにし、ＩＲＥＤ２８を発光させ、該ＩＲＥ
Ｄ２８の反射光を受光したＰＳＤ１の出力信号を電流電
圧変換し、ＤＣカットした信号の総和を（Ａ＋Ｂ）を増
幅アンプ１２に入力するべく状態にする（ステップ１０
２→１０３→１０４）。次いで、内蔵したタイマ１をス
タートさせ、ある一定時間（「ｘ」ｍｓ）をカウントす
る（ステップ１０５→１０６）。そして、一定時間が経
過の後、前記タイマ１をリセットし、ＩＲＥＤ２８を消
灯し、新たにタイマ１をスタートさせ、カウントを開始
する（ステップ１０７→１０８→１０９）。
【００１４】次に、前記タイマ１のカウント値が「ｘ」
ｍｓに達したかどうかを判定する（ステップ１１０）。
この結果、「ｘ」ｍｓに達していなければ、ステップ１
１１からステップ１１５までの動作を実行する。
ｍｓに達したかどうかを判定する（ステップ１１０）。
この結果、「ｘ」ｍｓに達していなければ、ステップ１
１１からステップ１１５までの動作を実行する。
【００１５】つまり、前記タイマ１のカウント値が
「ｘ」ｍｓに達するまでの間に、フラグＬは「０」に設
定されているので、増幅アンプ１２の出力電圧を判定し
ているコンパレータ２７の出力である判定信号ＣＰ１の
チェックを行い、該判定信号ＣＰ１が「１」の時、すな
わち増幅アンプ１２の出力電圧振幅が大きい時、フラグ
Ｌを「１」（受光信号が大きい（強い）事を示す）と
し、前記タイマ１のカウント値が「ｘ／２」ｍｓの時、
増幅アンプ１２の出力電圧（Ａ＋Ｂ）をＡ／Ｄ変換回路
１０１によってＡ／Ｄ変換し、この際に得られる値をＡ
Ｄ１とする（ステップ１１１→１１２→１１３→１１４
→１１５）。
「ｘ」ｍｓに達するまでの間に、フラグＬは「０」に設
定されているので、増幅アンプ１２の出力電圧を判定し
ているコンパレータ２７の出力である判定信号ＣＰ１の
チェックを行い、該判定信号ＣＰ１が「１」の時、すな
わち増幅アンプ１２の出力電圧振幅が大きい時、フラグ
Ｌを「１」（受光信号が大きい（強い）事を示す）と
し、前記タイマ１のカウント値が「ｘ／２」ｍｓの時、
増幅アンプ１２の出力電圧（Ａ＋Ｂ）をＡ／Ｄ変換回路
１０１によってＡ／Ｄ変換し、この際に得られる値をＡ
Ｄ１とする（ステップ１１１→１１２→１１３→１１４
→１１５）。
【００１６】その後、前記タイマ１のカウント値が
「ｘ」ｍｓに達したことを判定すると、タイマ１をリセ
ットし、次いで信号ＳＰＬ２をＯＦＦにし、ＰＳＤ１の
受光信号の一方（Ａ側）の信号のみを増幅アンプ１２へ
入力する（ステップ１１０→１１１６→１１７）。
「ｘ」ｍｓに達したことを判定すると、タイマ１をリセ
ットし、次いで信号ＳＰＬ２をＯＦＦにし、ＰＳＤ１の
受光信号の一方（Ａ側）の信号のみを増幅アンプ１２へ
入力する（ステップ１１０→１１１６→１１７）。
【００１７】次に、フラグＬが「０」かどうかを判定
し、「Ｌ＝０」の場合、つまりＰＳＤ１の受光信号が小
さい（弱い）と判定できる場合は、ＰＳＤ１の一方の信
号（Ａ）を一定時間Ｔだけ下降積分し、次いでＰＳＤ１
の両方の信号（Ａ＋Ｂ）により初期値に達するまで上昇
積分を行い、この上昇積分に要する時間ｔと先の一定時
間Ｔとの比に基づいて被写体距離情報を得る（ステッ１
１８→プ１１９→１２０→１２１）。この際の動作は既
に公知であるので、すなわち従来と同様の動作であるの
で、これ以上の説明は省略する。
し、「Ｌ＝０」の場合、つまりＰＳＤ１の受光信号が小
さい（弱い）と判定できる場合は、ＰＳＤ１の一方の信
号（Ａ）を一定時間Ｔだけ下降積分し、次いでＰＳＤ１
の両方の信号（Ａ＋Ｂ）により初期値に達するまで上昇
積分を行い、この上昇積分に要する時間ｔと先の一定時
間Ｔとの比に基づいて被写体距離情報を得る（ステッ１
１８→プ１１９→１２０→１２１）。この際の動作は既
に公知であるので、すなわち従来と同様の動作であるの
で、これ以上の説明は省略する。
【００１８】この時の各部の動作状態を示したのが図３
である。
である。
【００１９】一方、フラグＬの判定の結果、「Ｌ＝１」
の場合、つまりＰＳＤ１の受光信号が大きい（強い）と
判定できる場合は、再びＩＲＥＤ２８を点灯させ、タイ
マ１をスタートさせ、一定時間の経過を待つ（ステップ
１１８→１２２→１２３→１２４）。そして、一定時間
の経過後、前記タイマ１をリセットし、ＩＲＥＤ２８を
消灯し、新たにタイマ１をスタートさせ、カウントを開
始する（ステップ１２５→１２６→１２７）。そして、
前記タイマ１のカウント値が「ｘ／２」ｍｓの時、増幅
アンプ１２の出力電圧をＡ／Ｄ変換回路１０１によって
Ａ／Ｄ変換し、この際に得られる値をＡＤ２とする（ス
テップ１２８→１２９→１３０）。
の場合、つまりＰＳＤ１の受光信号が大きい（強い）と
判定できる場合は、再びＩＲＥＤ２８を点灯させ、タイ
マ１をスタートさせ、一定時間の経過を待つ（ステップ
１１８→１２２→１２３→１２４）。そして、一定時間
の経過後、前記タイマ１をリセットし、ＩＲＥＤ２８を
消灯し、新たにタイマ１をスタートさせ、カウントを開
始する（ステップ１２５→１２６→１２７）。そして、
前記タイマ１のカウント値が「ｘ／２」ｍｓの時、増幅
アンプ１２の出力電圧をＡ／Ｄ変換回路１０１によって
Ａ／Ｄ変換し、この際に得られる値をＡＤ２とする（ス
テップ１２８→１２９→１３０）。
【００２０】その後、前記タイマ１のカウント値が
「ｘ」ｍｓに達したことを判定すると、タイマ１をリセ
ットする（ステップ１２８→１３１）。
「ｘ」ｍｓに達したことを判定すると、タイマ１をリセ
ットする（ステップ１２８→１３１）。
【００２１】その後、ステップ１３２において、上記ス
テップ１３０において得られたＡ／Ｄ変換値ＡＤ２と前
記ステップ１１５において得られたＡ／Ｄ変換値ＡＤ１
を下式の様に演算する。
テップ１３０において得られたＡ／Ｄ変換値ＡＤ２と前
記ステップ１１５において得られたＡ／Ｄ変換値ＡＤ１
を下式の様に演算する。
【００２２】 （Ｖｃ−ＡＤ２）／（Ｖｃ−ＡＤ１） ………………（１） 上記の（１）式の結果、被写体距離情報が得られること
になる。
になる。
【００２３】この時の各部の動作状態を示したのが図４
である。
である。
【００２４】本実施例によれば、受光した信号がある程
度大きい（強い）信号かどうかを判定する手段と、ある
程度受光信号が大きければ、その増幅信号を直接Ａ／Ｄ
変換し、このＡ／Ｄ変換値に基づいて測距情報を算出す
る手段を設けるようにしている。
度大きい（強い）信号かどうかを判定する手段と、ある
程度受光信号が大きければ、その増幅信号を直接Ａ／Ｄ
変換し、このＡ／Ｄ変換値に基づいて測距情報を算出す
る手段を設けるようにしている。
【００２５】これにより、従来では、測距対象物（例え
ば被写体）までの距離やその反射率に関係なく信号蓄積
を行っていたため、その蓄積時間を常に必要としていた
が、本実施例によれば、受光信号が大きい場合（Ｓ／Ｎ
が良い場合）、すなわち測距対象物までの距離が近い、
或は高反射率の場合は、信号蓄積せずに増幅信号を直接
Ａ／Ｄ変換し、この結果に基づいて測距情報を得ること
が可能となり、測距時間を画期的に短くできることにな
る。
ば被写体）までの距離やその反射率に関係なく信号蓄積
を行っていたため、その蓄積時間を常に必要としていた
が、本実施例によれば、受光信号が大きい場合（Ｓ／Ｎ
が良い場合）、すなわち測距対象物までの距離が近い、
或は高反射率の場合は、信号蓄積せずに増幅信号を直接
Ａ／Ｄ変換し、この結果に基づいて測距情報を得ること
が可能となり、測距時間を画期的に短くできることにな
る。
【００２６】（変形例）本実施例において、Ａ／Ｄ変換
値ＡＤ１，ＡＤ２は１回のＡ／Ｄ変換動作により得られ
た値になっているが、このＡ／Ｄ変換動作を複数回繰り
返し、その平均値をＡＤ１，ＡＤ２としても良い。この
様な動作を行った際の各部の動作状態を示したのが図５
である。
値ＡＤ１，ＡＤ２は１回のＡ／Ｄ変換動作により得られ
た値になっているが、このＡ／Ｄ変換動作を複数回繰り
返し、その平均値をＡＤ１，ＡＤ２としても良い。この
様な動作を行った際の各部の動作状態を示したのが図５
である。
【００２７】また、増幅アンプ１２の出力電圧のピーク
を検出して、その時にＡ／Ｄ変換してＡＤ１，ＡＤ２を
得るようにしても良い。
を検出して、その時にＡ／Ｄ変換してＡＤ１，ＡＤ２を
得るようにしても良い。
【００２８】また、受光信号の増幅信号のレベル判定
は、総和信号（Ａ＋Ｂ）ではなく、一方のＡ、或は、Ｂ
のみの信号で判定し、Ａ／Ｄ変換してもよい。又、総和
信号（Ａ＋Ｂ）が所定レベルを超え、且つ、出力信号Ａ
が所定レベルを超えている時、あるいは、総和信号（Ａ
＋Ｂ）が所定レベルを超え、且つ、出力信号Ｂが所定レ
ベルを超えている時、Ａ／Ｄ変換しても良い。
は、総和信号（Ａ＋Ｂ）ではなく、一方のＡ、或は、Ｂ
のみの信号で判定し、Ａ／Ｄ変換してもよい。又、総和
信号（Ａ＋Ｂ）が所定レベルを超え、且つ、出力信号Ａ
が所定レベルを超えている時、あるいは、総和信号（Ａ
＋Ｂ）が所定レベルを超え、且つ、出力信号Ｂが所定レ
ベルを超えている時、Ａ／Ｄ変換しても良い。
【００２９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
受光手段よりの増幅信号を積分する積分手段と、受光手
段よりの増幅信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換手段と、
前記受光手段よりの増幅信号が所定レベルを超えたか否
かを判定するレベル判定手段と、該レベル判定手段にて
所定レベル以下であることが判定されている場合には、
前記積分手段にて得られる情報に基づいて測距情報を算
出し、所定レベルを超えていることが判定されている場
合には、前記Ａ／Ｄ変換手段にて得られる情報に基づい
て測距情報を算出する演算手段とを備え、受光手段より
の増幅信号が所定レベルを超えていることが判定されて
いる場合には、積分手段にて積分を行うことなく、直ち
に受光手段よりの増幅信号をＡ／Ｄ変換手段にてＡ／Ｄ
変換し、このＡ／Ｄ変換情報に基づいて測距情報を算出
するようにしている。
受光手段よりの増幅信号を積分する積分手段と、受光手
段よりの増幅信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換手段と、
前記受光手段よりの増幅信号が所定レベルを超えたか否
かを判定するレベル判定手段と、該レベル判定手段にて
所定レベル以下であることが判定されている場合には、
前記積分手段にて得られる情報に基づいて測距情報を算
出し、所定レベルを超えていることが判定されている場
合には、前記Ａ／Ｄ変換手段にて得られる情報に基づい
て測距情報を算出する演算手段とを備え、受光手段より
の増幅信号が所定レベルを超えていることが判定されて
いる場合には、積分手段にて積分を行うことなく、直ち
に受光手段よりの増幅信号をＡ／Ｄ変換手段にてＡ／Ｄ
変換し、このＡ／Ｄ変換情報に基づいて測距情報を算出
するようにしている。
【００３０】よって、測距対象物までの距離が近い、或
は、その反射率が高いような場合における測距情報算出
時間を、大幅に短縮することが可能となる。
は、その反射率が高いような場合における測距情報算出
時間を、大幅に短縮することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例における測距装置の構成を示
す回路図である。
す回路図である。
【図２】図１の測距装置の動作を示すフローチャートで
ある。
ある。
【図３】図１の測距装置において受光信号が小さい（弱
い）時の各部の動作状態を示すタイミングチャートであ
る。
い）時の各部の動作状態を示すタイミングチャートであ
る。
【図４】図１の測距装置において受光信号が大きい（強
い）時の各部の動作状態を示すタイミングチャートであ
る。
い）時の各部の動作状態を示すタイミングチャートであ
る。
【図５】図４の動作を複数回繰り返して行った際の各部
の動作状態を示すタイミングチャートである。
の動作状態を示すタイミングチャートである。
１ ＰＳＤ １２ 増幅アンプ ２０ 積分アンプ ２１ 積分キャパシタ ２５，２６ 抵抗 ２７ コンパレータ ２８ ＩＲＥＤ １０１ Ａ／Ｄ変換回路 １０２ ＩＲＥＤ駆動回路 １０３ ＣＰＵ
Claims (1)
- 【請求項１】 測距対象物へ信号光を投射する投光手段
と、該投光手段よりの前記測距対象物での反射光を受光
する受光手段と、該受光手段よりの増幅信号を積分する
積分手段と、前記受光手段よりの増幅信号をＡ／Ｄ変換
するＡ／Ｄ変換手段と、前記受光手段よりの増幅信号が
所定レベルを超えたか否かを判定するレベル判定手段
と、該レベル判定手段にて所定レベル以下であることが
判定されている場合には、前記積分手段にて得られる情
報に基づいて測距情報を算出し、所定レベルを超えてい
ることが判定されている場合には、前記Ａ／Ｄ変換手段
にて得られる情報に基づいて測距情報を算出する演算手
段とを備えた測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4357695A JPH06201377A (ja) | 1992-12-25 | 1992-12-25 | 測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4357695A JPH06201377A (ja) | 1992-12-25 | 1992-12-25 | 測距装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06201377A true JPH06201377A (ja) | 1994-07-19 |
Family
ID=18455438
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4357695A Pending JPH06201377A (ja) | 1992-12-25 | 1992-12-25 | 測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06201377A (ja) |
-
1992
- 1992-12-25 JP JP4357695A patent/JPH06201377A/ja active Pending
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