JPH06198406A - 連続鋳造鋳型内のパウダ層厚測定装置 - Google Patents
連続鋳造鋳型内のパウダ層厚測定装置Info
- Publication number
- JPH06198406A JPH06198406A JP35985792A JP35985792A JPH06198406A JP H06198406 A JPH06198406 A JP H06198406A JP 35985792 A JP35985792 A JP 35985792A JP 35985792 A JP35985792 A JP 35985792A JP H06198406 A JPH06198406 A JP H06198406A
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- layer
- powder layer
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 連続鋳造用モールド内のパウダ層厚を自動的
かつ正確に測定する。 【構成】 支持台22上に設けたエアシリンダ21aの
移動部分23aに取り付けられた支持棒11に、レーザ
距離測定装置12及び電極プローブ14が取り付けられ
る。電極プローブと鋳型M間に電圧を加え、電極プロー
ブと鋳型M間の電圧値の変化を測定する。レーザ距離測
定装置及び電極プローブをパウダ面に向けて垂直に降下
させる。電極プローブがパウダ溶融層P2に達すると、
抵抗が低下することにより電圧値が低下し、このときの
パウダ層P1表面までの距離x1 を測定する。電極プロ
ーブが溶鋼層Kに達すると、抵抗が略0になり電圧値も
略0になり、パウダ層P1表面までの距離x2 を測定す
る。測定距離x1 ,x2 から、パウダ溶融層及びそれを
除くパウダ層の厚みを得ることができる。
かつ正確に測定する。 【構成】 支持台22上に設けたエアシリンダ21aの
移動部分23aに取り付けられた支持棒11に、レーザ
距離測定装置12及び電極プローブ14が取り付けられ
る。電極プローブと鋳型M間に電圧を加え、電極プロー
ブと鋳型M間の電圧値の変化を測定する。レーザ距離測
定装置及び電極プローブをパウダ面に向けて垂直に降下
させる。電極プローブがパウダ溶融層P2に達すると、
抵抗が低下することにより電圧値が低下し、このときの
パウダ層P1表面までの距離x1 を測定する。電極プロ
ーブが溶鋼層Kに達すると、抵抗が略0になり電圧値も
略0になり、パウダ層P1表面までの距離x2 を測定す
る。測定距離x1 ,x2 から、パウダ溶融層及びそれを
除くパウダ層の厚みを得ることができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、連続鋳造鋳型内に投入
されたパウダ層の厚みを測定するパウダ層厚測定装置に
関する。
されたパウダ層の厚みを測定するパウダ層厚測定装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来、上記連続鋳造鋳型内に投入された
潤滑用のパウダの層厚の測定は、例えば図5(a)に示
すように、くの字状の金属パイプ3に1mmφのステン
レス線2を挿入し金属パイプ先端から60mm程度突出
させた測定治具を用い、金属パイプ3の先端を鋳型1内
のパウダ4表面に当てかつステンレス線2を垂直にさ
せ、1〜2秒後に引き上げるようにしていた。このと
き、溶鋼5内に浸漬したステンレス線2の先端部分に
は、図5(b)に示すように、溶鋼の地金5aが付着
し、この地金の付着部分を除いたステンレス線の長さx
を測定することにより、パウダ層の厚みを得るようにし
ていた。また、他のパウダ層厚の測定法として、例えば
特開平2ー142656号公報に示されているように、
渦流式距離計により溶鋼面のレベルを検出し、未溶融パ
ウダの一部を除去しレーザ距離計によりパウダ溶融層面
のレベルを検出し、両者の差を演算することによりパウ
ダ溶融層厚を測定するようにしたものがあった。
潤滑用のパウダの層厚の測定は、例えば図5(a)に示
すように、くの字状の金属パイプ3に1mmφのステン
レス線2を挿入し金属パイプ先端から60mm程度突出
させた測定治具を用い、金属パイプ3の先端を鋳型1内
のパウダ4表面に当てかつステンレス線2を垂直にさ
せ、1〜2秒後に引き上げるようにしていた。このと
き、溶鋼5内に浸漬したステンレス線2の先端部分に
は、図5(b)に示すように、溶鋼の地金5aが付着
し、この地金の付着部分を除いたステンレス線の長さx
を測定することにより、パウダ層の厚みを得るようにし
ていた。また、他のパウダ層厚の測定法として、例えば
特開平2ー142656号公報に示されているように、
渦流式距離計により溶鋼面のレベルを検出し、未溶融パ
ウダの一部を除去しレーザ距離計によりパウダ溶融層面
のレベルを検出し、両者の差を演算することによりパウ
ダ溶融層厚を測定するようにしたものがあった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記前者の
方法は、簡便かつ精度の良い方法であるが、人手に頼る
方法であり、作業を高熱下で行う必要があるため危険が
伴うという問題がある。また、ステンレス線が溶鋼中に
溶け落ちて鋳物の品質不良を発生させる恐れもある。ま
た、上記後者の方法は、前者のような問題はないが、パ
ウダ全体の厚みを得ることができず、また測定時にパウ
ダの一部を除去して、パウダ溶融層を測定するものであ
り、製造工程を管理する上で好ましくない、という問題
がある。本発明は、上記した問題を解決しようとするも
ので、自動的かつ製造工程管理上の問題を起こすことな
くパウダ層全体及びパウダ溶融層の厚みを測定すること
の可能な連続鋳造鋳型内のパウダ層厚測定装置を提供す
ることを目的とする。
方法は、簡便かつ精度の良い方法であるが、人手に頼る
方法であり、作業を高熱下で行う必要があるため危険が
伴うという問題がある。また、ステンレス線が溶鋼中に
溶け落ちて鋳物の品質不良を発生させる恐れもある。ま
た、上記後者の方法は、前者のような問題はないが、パ
ウダ全体の厚みを得ることができず、また測定時にパウ
ダの一部を除去して、パウダ溶融層を測定するものであ
り、製造工程を管理する上で好ましくない、という問題
がある。本発明は、上記した問題を解決しようとするも
ので、自動的かつ製造工程管理上の問題を起こすことな
くパウダ層全体及びパウダ溶融層の厚みを測定すること
の可能な連続鋳造鋳型内のパウダ層厚測定装置を提供す
ることを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の構成上の特徴は、支持部材によって支持さ
れて鋳型上に設けられ、鋳型内に投入されたパウダの表
面までの距離を測定する距離測定手段と、支持部材によ
って先端が下方に向くように支持されたプローブと、支
持部材を上下方向に移動させる上下方向移動手段と、プ
ローブと鋳型間に電圧を供給する電源装置と、プローブ
と鋳型間の電気量の変化を検出することによりプローブ
先端がパウダの溶融層及び溶鋼表面に到達したことを検
出する到達検出手段とを設けたことにある。
に、本発明の構成上の特徴は、支持部材によって支持さ
れて鋳型上に設けられ、鋳型内に投入されたパウダの表
面までの距離を測定する距離測定手段と、支持部材によ
って先端が下方に向くように支持されたプローブと、支
持部材を上下方向に移動させる上下方向移動手段と、プ
ローブと鋳型間に電圧を供給する電源装置と、プローブ
と鋳型間の電気量の変化を検出することによりプローブ
先端がパウダの溶融層及び溶鋼表面に到達したことを検
出する到達検出手段とを設けたことにある。
【0005】
【作用】上記のように構成した本発明においては、プロ
ーブの先端がパウダ溶融層に到達すると、到達検出手段
がプローブと鋳型間の電気量例えば電圧の数ボルトの低
下を検出することにより、パウダ溶融層への到達を検出
する。このとき、距離測定手段がパウダ表面までの距離
x1 を測定する。さらに、プローブの先端が溶鋼層に到
達すると、到達検出手段が上記電圧値の略0ボルトへの
低下を検出することにより、溶鋼層への到達を検出す
る。このとき、距離測定手段がパウダ表面までの距離x
2 を測定する。上記測定結果から、溶融層を除くパウダ
層の厚みy1 は、式y1 =a−x1 によって求められる
(但し、aは距離測定手段の基準位置とプローブ先端間
の一定距離を示す)。また、パウダ溶融層の厚みy
2 は、式y2 =x1 −x2 によって求められる。
ーブの先端がパウダ溶融層に到達すると、到達検出手段
がプローブと鋳型間の電気量例えば電圧の数ボルトの低
下を検出することにより、パウダ溶融層への到達を検出
する。このとき、距離測定手段がパウダ表面までの距離
x1 を測定する。さらに、プローブの先端が溶鋼層に到
達すると、到達検出手段が上記電圧値の略0ボルトへの
低下を検出することにより、溶鋼層への到達を検出す
る。このとき、距離測定手段がパウダ表面までの距離x
2 を測定する。上記測定結果から、溶融層を除くパウダ
層の厚みy1 は、式y1 =a−x1 によって求められる
(但し、aは距離測定手段の基準位置とプローブ先端間
の一定距離を示す)。また、パウダ溶融層の厚みy
2 は、式y2 =x1 −x2 によって求められる。
【0006】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面により説明す
る。図1及び図2は、本発明に係る連続鋳造用鋳型内の
パウダ層厚測定装置を概略的に示したものである。この
パウダ層厚測定装置PTは、図1に示すように、鋳型M
と、タンディッシュTDに取り付けられ鋳型M内に挿入
された浸漬ノズルN間の隙間に挿入することにより測定
を行うようになっている。パウダ層厚測定装置PTは、
測定部分10と駆動制御部分20とを備えている。測定
部分10は、コード挿入用を兼ねた支持棒11を設けて
おり、この支持棒11の先端部分にはパウダ層P1表面
までの距離を測定するレーザ式距離測定装置(以下、レ
ーザ測定装置と記す)12が設けられており、またレー
ザ測定装置12の側壁にはエアシリンダ13が設けられ
ており、その下端部には先端を下方に向けてステンレス
製の電極プローブ14が設けられている。
る。図1及び図2は、本発明に係る連続鋳造用鋳型内の
パウダ層厚測定装置を概略的に示したものである。この
パウダ層厚測定装置PTは、図1に示すように、鋳型M
と、タンディッシュTDに取り付けられ鋳型M内に挿入
された浸漬ノズルN間の隙間に挿入することにより測定
を行うようになっている。パウダ層厚測定装置PTは、
測定部分10と駆動制御部分20とを備えている。測定
部分10は、コード挿入用を兼ねた支持棒11を設けて
おり、この支持棒11の先端部分にはパウダ層P1表面
までの距離を測定するレーザ式距離測定装置(以下、レ
ーザ測定装置と記す)12が設けられており、またレー
ザ測定装置12の側壁にはエアシリンダ13が設けられ
ており、その下端部には先端を下方に向けてステンレス
製の電極プローブ14が設けられている。
【0007】駆動制御部分20は、固定台21と、固定
台21上に水平にかつ中央支持部22aによって取り付
けられた支持台22が設けられている。支持台22は固
定台21に設けられたエアシリンダ21aと左下端にて
連結されており、エアシリンダ21aの駆動により中央
支持部22aを中心として回動するようになっている。
支持台22上には、ロッドレスシリンダ23が設けられ
ており、このロッドレスシリンダ23の移動部分23a
はエンコーダ23bによって上下に移動するようになっ
ている。この移動部分23aには、前記支持棒11が水
平に取り付けられており、測定部分10は、エンコーダ
23bの駆動により上下移動するようになっており、ま
た、支持台22の回動によって左方向に移動するように
なっている。すなわち、パウダ層厚測定装置PTによる
パウダ層厚測定は、30分に1回程度行われるもので、
非測定時には高精度のレーザ測定装置12を高温の鋳型
上に放置しないようにするものである。
台21上に水平にかつ中央支持部22aによって取り付
けられた支持台22が設けられている。支持台22は固
定台21に設けられたエアシリンダ21aと左下端にて
連結されており、エアシリンダ21aの駆動により中央
支持部22aを中心として回動するようになっている。
支持台22上には、ロッドレスシリンダ23が設けられ
ており、このロッドレスシリンダ23の移動部分23a
はエンコーダ23bによって上下に移動するようになっ
ている。この移動部分23aには、前記支持棒11が水
平に取り付けられており、測定部分10は、エンコーダ
23bの駆動により上下移動するようになっており、ま
た、支持台22の回動によって左方向に移動するように
なっている。すなわち、パウダ層厚測定装置PTによる
パウダ層厚測定は、30分に1回程度行われるもので、
非測定時には高精度のレーザ測定装置12を高温の鋳型
上に放置しないようにするものである。
【0008】次に、パウダ層厚測定装置の電気回路構成
について、図2より説明する。この電気回路は、直流2
4ボルト電源に2つの抵抗R1,R2が直列に接続され
ている。抵抗R1,R2の端子間の接点mには電極プロ
ーブ14が接続されている。また、直流24ボルト電源
と抵抗R2間の接点nには鋳型Mが接続されており、電
極プローブ14と鋳型M間に、約10ボルトが加えられ
るようになっている。また、端子m,n間には電圧計V
が接続されている。また、図示しないが、端子m,n及
びレーザ測定装置12端子は、自動記録計に接続されて
おり、電圧測定値及び距離測定値が自動的に記録される
ようになっている。この測定記録の概略を図4に示す。
について、図2より説明する。この電気回路は、直流2
4ボルト電源に2つの抵抗R1,R2が直列に接続され
ている。抵抗R1,R2の端子間の接点mには電極プロ
ーブ14が接続されている。また、直流24ボルト電源
と抵抗R2間の接点nには鋳型Mが接続されており、電
極プローブ14と鋳型M間に、約10ボルトが加えられ
るようになっている。また、端子m,n間には電圧計V
が接続されている。また、図示しないが、端子m,n及
びレーザ測定装置12端子は、自動記録計に接続されて
おり、電圧測定値及び距離測定値が自動的に記録される
ようになっている。この測定記録の概略を図4に示す。
【0009】つぎに、以上のように構成した実施例の動
作を説明する。エアシリンダ21aの作動により支持台
22が回動して、これにより測定部10が鋳型M上に配
置される。そして、エンコーダ23bが作動して移動部
分23aが下方に移動を開始する。このとき、電極プロ
ーブ14とレーザ測定装置12及びパウダ表面との位置
関係は、図3(a)に示すようになっている。ここで、
x0 は、レーザ測定装置12による測定結果である。a
は、電極プローブ14の先端とレーザ測定装置12の出
口間の予め定められた距離である。また、電圧計Vの値
は、10ボルトのままである。
作を説明する。エアシリンダ21aの作動により支持台
22が回動して、これにより測定部10が鋳型M上に配
置される。そして、エンコーダ23bが作動して移動部
分23aが下方に移動を開始する。このとき、電極プロ
ーブ14とレーザ測定装置12及びパウダ表面との位置
関係は、図3(a)に示すようになっている。ここで、
x0 は、レーザ測定装置12による測定結果である。a
は、電極プローブ14の先端とレーザ測定装置12の出
口間の予め定められた距離である。また、電圧計Vの値
は、10ボルトのままである。
【0010】そして、電極プローブ14がさらに下降し
て、その先端がパウダ溶融層P2に到達すると、溶融層
の電気抵抗が数百オームであるため、図4に示すよう
に、電圧値が略2ボルトに低下することから、到達が明
らかになる。このとき、電極プローブ14とレーザ測定
装置12及びパウダ表面との位置関係は、図3(b)に
示すようになっている。ここで、x1 は、レーザ測定装
置12による測定結果であり、y1 は、溶融層を除いた
パウダ層P1の厚みであり、また、y2 は、パウダ溶融
層P2の厚みである。図3(a),(b)の関係から、
溶融層P2を除いたパウダ層P1の厚みy1が、下記数
1によって求められる。
て、その先端がパウダ溶融層P2に到達すると、溶融層
の電気抵抗が数百オームであるため、図4に示すよう
に、電圧値が略2ボルトに低下することから、到達が明
らかになる。このとき、電極プローブ14とレーザ測定
装置12及びパウダ表面との位置関係は、図3(b)に
示すようになっている。ここで、x1 は、レーザ測定装
置12による測定結果であり、y1 は、溶融層を除いた
パウダ層P1の厚みであり、また、y2 は、パウダ溶融
層P2の厚みである。図3(a),(b)の関係から、
溶融層P2を除いたパウダ層P1の厚みy1が、下記数
1によって求められる。
【0011】
【数1】 y1 =a−x1
【0012】そして、電極プローブ14がさらに下降し
て、その先端が溶鋼層Kに到達すると、図4に示すよう
に、溶鋼層Kの電気抵抗が略0オームであるために電圧
値が略0ボルトになることから、到達が明らかになる。
このとき、電極プローブ14とレーザ測定装置12及び
パウダ表面との位置関係は、図3(c)に示すようにな
っている。ここで、x2 は、レーザ測定装置12による
測定結果であり、y0は、溶融層P2を含むパウダ層全
体の厚みである。図3(a)〜(c)の関係から、パウ
ダ溶融層の厚みy2 が、下記数2によって求められる。
て、その先端が溶鋼層Kに到達すると、図4に示すよう
に、溶鋼層Kの電気抵抗が略0オームであるために電圧
値が略0ボルトになることから、到達が明らかになる。
このとき、電極プローブ14とレーザ測定装置12及び
パウダ表面との位置関係は、図3(c)に示すようにな
っている。ここで、x2 は、レーザ測定装置12による
測定結果であり、y0は、溶融層P2を含むパウダ層全
体の厚みである。図3(a)〜(c)の関係から、パウ
ダ溶融層の厚みy2 が、下記数2によって求められる。
【0013】
【数2】 y2 =x1 −x2
【0014】以上のように、上記実施例によれば、プロ
ーブのパウダ溶融層P2及び溶鋼層Kへの到達を電気的
に検知し、かつ電気測定の連動してプローブの移動距離
をレーザ測定装置により正確に検出することにより、両
測定結果から鋳型内に投入されたパウダのパウダ層厚み
及びパウダ溶融層厚みを正確に測定することが可能にな
った。また、このパウダ層厚測定装置によれば、自動的
に測定を行うことができるので、人手による危険を伴う
作業を廃止することができる。さらに、このパウダ層厚
測定装置によれば、パウダを投入したままの状態で測定
を行うことができるので、製造工程を混乱させることも
ない。
ーブのパウダ溶融層P2及び溶鋼層Kへの到達を電気的
に検知し、かつ電気測定の連動してプローブの移動距離
をレーザ測定装置により正確に検出することにより、両
測定結果から鋳型内に投入されたパウダのパウダ層厚み
及びパウダ溶融層厚みを正確に測定することが可能にな
った。また、このパウダ層厚測定装置によれば、自動的
に測定を行うことができるので、人手による危険を伴う
作業を廃止することができる。さらに、このパウダ層厚
測定装置によれば、パウダを投入したままの状態で測定
を行うことができるので、製造工程を混乱させることも
ない。
【0015】
【発明の効果】以上のように、本発明に係る連続鋳造鋳
型内のパウダ層厚測定装置によれば、自動的にかつ溶鋼
の品質を害することなく、パウダ溶融層の厚み及び溶融
層を除くパウダ層の厚みを正確かつ簡単に測定すること
ができる。
型内のパウダ層厚測定装置によれば、自動的にかつ溶鋼
の品質を害することなく、パウダ溶融層の厚み及び溶融
層を除くパウダ層の厚みを正確かつ簡単に測定すること
ができる。
【図1】本発明の一実施例に係る連続鋳造鋳型内のパウ
ダ層厚測定装置の測定状態の概略を示す斜視図である。
ダ層厚測定装置の測定状態の概略を示す斜視図である。
【図2】同パウダ層厚測定装置の概略構成を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図3】同パウダ層厚測定装置の測定値の求め方を示す
説明図である。
説明図である。
【図4】同パウダ層厚測定装置による電圧値及び距離測
定値の関係を示すグラフである。
定値の関係を示すグラフである。
【図5】従来例に係るパウダ層厚の測定方法を示す説明
図である。
図である。
11;支持棒、12;レーザ式距離測定装置、14;電
極プローブ、22;支持台、23;ロッドレスシリン
ダ、23a;移動部分、23b;エンコーダ、V;電圧
計、M;鋳型、N;浸漬ノズル。
極プローブ、22;支持台、23;ロッドレスシリン
ダ、23a;移動部分、23b;エンコーダ、V;電圧
計、M;鋳型、N;浸漬ノズル。
Claims (1)
- 【請求項1】 支持部材によって支持されて鋳型上に設
けられ、鋳型内に投入されたパウダの表面までの距離を
測定する距離測定手段と、 前記支持部材によって先端が下方に向くように支持され
たプローブと、 前記支持部材を上下方向に移動させる上下方向移動手段
と、 前記プローブと前記鋳型間に電圧を供給する電源装置
と、 前記プローブと前記鋳型間の電気量の変化を検出するこ
とにより、前記プローブ先端が前記パウダの溶融層及び
溶鋼表面に到達したことを検出する到達検出手段とを設
けたことを特徴とする連続鋳造鋳型内のパウダ層厚測定
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP35985792A JPH06198406A (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | 連続鋳造鋳型内のパウダ層厚測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP35985792A JPH06198406A (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | 連続鋳造鋳型内のパウダ層厚測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06198406A true JPH06198406A (ja) | 1994-07-19 |
Family
ID=18466660
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP35985792A Pending JPH06198406A (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | 連続鋳造鋳型内のパウダ層厚測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06198406A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101243116B1 (ko) * | 2005-10-04 | 2013-03-12 | 주식회사 포스코 | 알루미늄의 용융온도를 이용한 주형 내부 플럭스레벨측정기 |
CN104677262A (zh) * | 2013-12-02 | 2015-06-03 | 通用汽车环球科技运作有限责任公司 | 制动垫寿命监视系统 |
CN106111926A (zh) * | 2016-08-26 | 2016-11-16 | 武汉科技大学 | 一种结晶器保护渣厚度自动测量方法及装置 |
JP2018004336A (ja) * | 2016-06-29 | 2018-01-11 | 日本電気株式会社 | 検査装置、検査方法および検査プログラム |
JP2019002805A (ja) * | 2017-06-15 | 2019-01-10 | 三菱日立パワーシステムズ株式会社 | 多層付着物測定装置および多層付着物測定方法 |
JP2019002806A (ja) * | 2017-06-15 | 2019-01-10 | 三菱日立パワーシステムズ株式会社 | スケール厚さ計測装置及びスケール厚さ計測方法 |
JP2019002807A (ja) * | 2017-06-15 | 2019-01-10 | 三菱日立パワーシステムズ株式会社 | スケール厚さ計測装置及びスケール厚さ計測方法 |
CN109539961A (zh) * | 2017-09-22 | 2019-03-29 | 上海金艺检测技术有限公司 | 连铸机组扇形段上下框架位移的测量装置 |
-
1992
- 1992-12-28 JP JP35985792A patent/JPH06198406A/ja active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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