JPH06196784A - レーザ発光装置 - Google Patents
レーザ発光装置Info
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- JPH06196784A JPH06196784A JP4342250A JP34225092A JPH06196784A JP H06196784 A JPH06196784 A JP H06196784A JP 4342250 A JP4342250 A JP 4342250A JP 34225092 A JP34225092 A JP 34225092A JP H06196784 A JPH06196784 A JP H06196784A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】平均発光強度の一定制御に、外乱光の影響が及
ぶことを防止する。 【構成】駆動部１でレーザ光に一定周波数の変調をかけ
て駆動する。発光制御部２のフォトダイオードＰＤでレ
ーザ光を受光し、その受光出力に応じて駆動部１を制御
してレーザ光の平均発光強度を一定にする。上記発光制
御部２に受光出力から上記一定周波数で変調された信号
成分のみを抽出するバンドパスフィルタ２４を設ける。
バンドパスフィルタ２４で受光出力に含まれるレーザ光
の変調周波数以外の信号成分を除去する。これにより、
外乱光による受光出力の信号成分を除去し、外乱光によ
る影響を除去する。
ぶことを防止する。 【構成】駆動部１でレーザ光に一定周波数の変調をかけ
て駆動する。発光制御部２のフォトダイオードＰＤでレ
ーザ光を受光し、その受光出力に応じて駆動部１を制御
してレーザ光の平均発光強度を一定にする。上記発光制
御部２に受光出力から上記一定周波数で変調された信号
成分のみを抽出するバンドパスフィルタ２４を設ける。
バンドパスフィルタ２４で受光出力に含まれるレーザ光
の変調周波数以外の信号成分を除去する。これにより、
外乱光による受光出力の信号成分を除去し、外乱光によ
る影響を除去する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザ光を平均発光量
を一定に制御する機能を備えたレーザ発光装置に関する
ものである。
を一定に制御する機能を備えたレーザ発光装置に関する
ものである。
【０００２】
【従来の技術】被測定物体までの距離を三角測量方式で
測定する光学式測距装置では、投光素子としての半導体
レーザ（レーザダイオード）などのレーザを用い、この
レーザの発する光ビームを被測定物体に投光し、被測定
物体からの反射光を位置検出素子などの受光素子で受光
し、その受光出力から被測定物体までの距離を測定する
ものがある。なお、この種の光学式測距装置を用いて、
被測定物体の凹凸などの変位量を測定するものもある。
測定する光学式測距装置では、投光素子としての半導体
レーザ（レーザダイオード）などのレーザを用い、この
レーザの発する光ビームを被測定物体に投光し、被測定
物体からの反射光を位置検出素子などの受光素子で受光
し、その受光出力から被測定物体までの距離を測定する
ものがある。なお、この種の光学式測距装置を用いて、
被測定物体の凹凸などの変位量を測定するものもある。
【０００３】この種の光学式測距装置に用いられるレー
ザ発光装置を図３に示す。このレーザ発光装置では、レ
ーザとしてレーザダイオードＬＤを用いてあり、駆動電
源に対してレーザダイオードＬＤを介して直列接続され
たトランジスタＱ1 及び抵抗Ｒ1 からなる駆動部１で、
レーザダイオードＬＤに流れる電流を制御して発光量を
調整自在としてある。
ザ発光装置を図３に示す。このレーザ発光装置では、レ
ーザとしてレーザダイオードＬＤを用いてあり、駆動電
源に対してレーザダイオードＬＤを介して直列接続され
たトランジスタＱ1 及び抵抗Ｒ1 からなる駆動部１で、
レーザダイオードＬＤに流れる電流を制御して発光量を
調整自在としてある。
【０００４】この種のレーザ発光装置では一般的に発光
量を一定に保つ機能を備える。この発光量を一定に保つ
ために発光制御部２を備えている。この発光制御部２
は、レーザダイオードＬＤの発する光を受光するフォト
ダイオードＰＤと、フォトダイオードＰＤの出力である
電流信号を電圧信号に変化するＩ／Ｖ変換回路２１と、
このＩ／Ｖ変換回路２１の出力と基準電圧Ｖref との差
分を増幅する差動増幅回路２２と、この差動増幅出力を
積分してトランジスタＱ1 のバイアス電圧を発生する積
分回路２３とで構成してある。なお、基準電圧Ｖref は
可変抵抗ＶＲ1 の調節により可変設定でき、この基準電
圧Ｖref の設定により発光量を適宜設定できるようにし
てある。
量を一定に保つ機能を備える。この発光量を一定に保つ
ために発光制御部２を備えている。この発光制御部２
は、レーザダイオードＬＤの発する光を受光するフォト
ダイオードＰＤと、フォトダイオードＰＤの出力である
電流信号を電圧信号に変化するＩ／Ｖ変換回路２１と、
このＩ／Ｖ変換回路２１の出力と基準電圧Ｖref との差
分を増幅する差動増幅回路２２と、この差動増幅出力を
積分してトランジスタＱ1 のバイアス電圧を発生する積
分回路２３とで構成してある。なお、基準電圧Ｖref は
可変抵抗ＶＲ1 の調節により可変設定でき、この基準電
圧Ｖref の設定により発光量を適宜設定できるようにし
てある。
【０００５】上述の光学式測距装置では、外乱光により
測距誤りを生じることを防止するために、レーザ光に変
調をかけている。つまり、駆動部１のトランジスタＱ1
に積分回路２３の出力ＶO で直流バイアスをかけ、トラ
ンジスタＱ1 に変調信号を加えて、レーザダイオードＬ
Ｄの発する光に変調をかける。なお、レーザ光には一定
周波数ｆ0 の変調をかけている。
測距誤りを生じることを防止するために、レーザ光に変
調をかけている。つまり、駆動部１のトランジスタＱ1
に積分回路２３の出力ＶO で直流バイアスをかけ、トラ
ンジスタＱ1 に変調信号を加えて、レーザダイオードＬ
Ｄの発する光に変調をかける。なお、レーザ光には一定
周波数ｆ0 の変調をかけている。
【０００６】上記レーザ発光装置では、フォトダイオー
ドＰＤの受光出力が低下すると、積分回路２３の出力Ｖ
O と電源電圧Ｖccとの電位差が大きくなる。このため、
レーザダイオードＬＤに流れる電流が増加し、レーザダ
イオードＬＤの発光量を高くするように働く。逆に、フ
ォトダイオードＰＤの受光出力が大きくなると、積分回
路２３の出力ＶO と電源電圧Ｖccとの電位差が小さくな
り、レーザダイオードＬＤに流れる電流が低下し、レー
ザダイオードＬＤの発光量を低くするように働く。つま
り、レーザ光の増減と相反してトランジスタＱ1 のバイ
アス電圧を増減して、レーザダイオードＬＤの発光量を
一定に保つ。
ドＰＤの受光出力が低下すると、積分回路２３の出力Ｖ
O と電源電圧Ｖccとの電位差が大きくなる。このため、
レーザダイオードＬＤに流れる電流が増加し、レーザダ
イオードＬＤの発光量を高くするように働く。逆に、フ
ォトダイオードＰＤの受光出力が大きくなると、積分回
路２３の出力ＶO と電源電圧Ｖccとの電位差が小さくな
り、レーザダイオードＬＤに流れる電流が低下し、レー
ザダイオードＬＤの発光量を低くするように働く。つま
り、レーザ光の増減と相反してトランジスタＱ1 のバイ
アス電圧を増減して、レーザダイオードＬＤの発光量を
一定に保つ。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記レ
ーザ発光装置内に外乱光が入ると、フォトダイオードＰ
Ｄで上記外乱光が受光され、発光制御部２によるレーザ
光の発光量を一定に制御する機能が正常に機能しなくな
る。つまりは、外乱光によりレーザダイオードＬＤの受
光出力が増加し、あたかもレーザ光の発光量が大きい場
合と同様の状態となる。このため、外乱光によりレーザ
光の発光量が小さく抑えられる。
ーザ発光装置内に外乱光が入ると、フォトダイオードＰ
Ｄで上記外乱光が受光され、発光制御部２によるレーザ
光の発光量を一定に制御する機能が正常に機能しなくな
る。つまりは、外乱光によりレーザダイオードＬＤの受
光出力が増加し、あたかもレーザ光の発光量が大きい場
合と同様の状態となる。このため、外乱光によりレーザ
光の発光量が小さく抑えられる。
【０００８】このように、レーザダイオードＬＤの発光
量が小さくなると、例えば光学式測距装置に用いた場
合、受光素子の受光光量が低下するため、測距値に受光
装置側の回路のドリフトやノイズの影響が出やすくな
り、正確な測距を行うことができないという問題があっ
た。本発明は上述の点に鑑みて為されたものであり、そ
の目的とするところは、外乱光の影響を受けないレーザ
発光装置を提供することにある。
量が小さくなると、例えば光学式測距装置に用いた場
合、受光素子の受光光量が低下するため、測距値に受光
装置側の回路のドリフトやノイズの影響が出やすくな
り、正確な測距を行うことができないという問題があっ
た。本発明は上述の点に鑑みて為されたものであり、そ
の目的とするところは、外乱光の影響を受けないレーザ
発光装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明では、上記目的を
達成するために、レーザ光に一定周波数の変調をかけて
駆動する駆動部と、レーザ光を受光しその受光出力に応
じて駆動部を制御してレーザ光の平均発光強度を一定に
制御する発光制御部とを備え、受光出力から上記一定周
波数で変調された信号成分のみを抽出するフィルタを上
記発光制御部に設け、このフィルタ出力に応じてレーザ
光の平均発光強度を一定に制御している。
達成するために、レーザ光に一定周波数の変調をかけて
駆動する駆動部と、レーザ光を受光しその受光出力に応
じて駆動部を制御してレーザ光の平均発光強度を一定に
制御する発光制御部とを備え、受光出力から上記一定周
波数で変調された信号成分のみを抽出するフィルタを上
記発光制御部に設け、このフィルタ出力に応じてレーザ
光の平均発光強度を一定に制御している。
【００１０】また、同種のレーザ発光装置のレーザ光の
影響も除去するために、レーザ光に一定周波数の変調を
かけて駆動する駆動部と、レーザ光を受光しその受光出
力に応じて駆動部を制御してレーザ光の平均発光強度を
一定に制御する発光制御部とを備え、受光出力から上記
一定周波数で変調された信号成分のみを抽出するフィル
タと、フィルタの出力を変調信号に同期して整流する同
期整流回路とを上記発光制御部に設け、同期整流回路の
出力に応じてレーザ光の平均発光強度を一定に制御して
いる。
影響も除去するために、レーザ光に一定周波数の変調を
かけて駆動する駆動部と、レーザ光を受光しその受光出
力に応じて駆動部を制御してレーザ光の平均発光強度を
一定に制御する発光制御部とを備え、受光出力から上記
一定周波数で変調された信号成分のみを抽出するフィル
タと、フィルタの出力を変調信号に同期して整流する同
期整流回路とを上記発光制御部に設け、同期整流回路の
出力に応じてレーザ光の平均発光強度を一定に制御して
いる。
【００１１】
【作用】本発明は、上述のように構成して、フィルタで
受光出力に含まれるレーザ光の変調周波数以外の信号成
分を除去することにより、外乱光による受光出力の信号
成分を除去し、外乱光による影響を除去する。また、上
記構成に加えて、同期整流回路を設ければ、レーザ光の
変調周波数成分と同一の周波数成分であっても、自己の
レーザ光の変調信号と同期しない信号成分は除去するこ
とになり、同種のレーザ発光装置のレーザ光の影響も除
去することが可能となる。
受光出力に含まれるレーザ光の変調周波数以外の信号成
分を除去することにより、外乱光による受光出力の信号
成分を除去し、外乱光による影響を除去する。また、上
記構成に加えて、同期整流回路を設ければ、レーザ光の
変調周波数成分と同一の周波数成分であっても、自己の
レーザ光の変調信号と同期しない信号成分は除去するこ
とになり、同種のレーザ発光装置のレーザ光の影響も除
去することが可能となる。
【００１２】
【実施例】（実施例１）図１に本発明の一実施例を示
す。本実施例は、図３で説明したレーザ発光装置の発光
制御部２のＩ／Ｖ変換回路２１と差動増幅回路２２との
間に、変調周波数成分のみを抽出するバンドパスフィル
タ２４を設けたものである。
す。本実施例は、図３で説明したレーザ発光装置の発光
制御部２のＩ／Ｖ変換回路２１と差動増幅回路２２との
間に、変調周波数成分のみを抽出するバンドパスフィル
タ２４を設けたものである。
【００１３】このようにバンドパスフィルタ２４を設け
ることにより、たとえレーザ発光装置に外乱光が入って
も、バンドパスフィルタ２４でＩ／Ｖ変換回路２１の出
力から外乱光に伴う信号成分を除去することができる。
このため、このバンドパスフィルタ２４の出力と基準電
圧Ｖref の差分を差動増幅回路２２で増幅し、その増幅
出力を積分回路２３で積分した出力ＶO は、レーザ光の
発光量に応じたものとなる。従って、レーザ光の発光強
度のみに応じて直流バイアスを調整して、レーザダイオ
ードＬＤの発光強度を一定に制御できる。
ることにより、たとえレーザ発光装置に外乱光が入って
も、バンドパスフィルタ２４でＩ／Ｖ変換回路２１の出
力から外乱光に伴う信号成分を除去することができる。
このため、このバンドパスフィルタ２４の出力と基準電
圧Ｖref の差分を差動増幅回路２２で増幅し、その増幅
出力を積分回路２３で積分した出力ＶO は、レーザ光の
発光量に応じたものとなる。従って、レーザ光の発光強
度のみに応じて直流バイアスを調整して、レーザダイオ
ードＬＤの発光強度を一定に制御できる。
【００１４】よって、本実施例のレーザ発光装置を例え
ば光学式測距装置に用いた場合に、受光素子の受光光量
が低下するため、測距値に受光装置側の回路のドリフト
やノイズの影響により、正確な測距を行うことができな
いという問題を生じない。 （実施例２）図２に本発明の他の実施例を示す。本実施
例では発光制御部２にバンドパスフィルタ２４に加え
て、バンドパスフィルタ２４の出力を変調信号に同期し
て整流する同期整流回路２５を設けてある点が上記実施
例１と異なる。上記同期整流回路２５は一般的に矩形波
である変調信号と同期する同期信号に応じてバンドパス
フィルタ２４の出力を整流する。
ば光学式測距装置に用いた場合に、受光素子の受光光量
が低下するため、測距値に受光装置側の回路のドリフト
やノイズの影響により、正確な測距を行うことができな
いという問題を生じない。 （実施例２）図２に本発明の他の実施例を示す。本実施
例では発光制御部２にバンドパスフィルタ２４に加え
て、バンドパスフィルタ２４の出力を変調信号に同期し
て整流する同期整流回路２５を設けてある点が上記実施
例１と異なる。上記同期整流回路２５は一般的に矩形波
である変調信号と同期する同期信号に応じてバンドパス
フィルタ２４の出力を整流する。
【００１５】このようにすれば、レーザ光の変調周波数
成分と同一の周波数成分であっても、自己のレーザ光の
変調信号と同期しない信号成分は除去することができ、
外乱光と共に、同種のレーザ発光装置のレーザ光の影響
も除去することができる。従って、さらに良好に外乱光
による影響を除去することができる。
成分と同一の周波数成分であっても、自己のレーザ光の
変調信号と同期しない信号成分は除去することができ、
外乱光と共に、同種のレーザ発光装置のレーザ光の影響
も除去することができる。従って、さらに良好に外乱光
による影響を除去することができる。
【００１６】
【発明の効果】本発明は上述のように、レーザ光に一定
周波数の変調をかけて駆動する駆動部と、レーザ光を受
光しその受光出力に応じて駆動部を制御してレーザ光の
平均発光強度を一定に制御する発光制御部とを備え、受
光出力から上記一定周波数で変調された信号成分のみを
抽出するフィルタを上記発光制御部に設け、このフィル
タ出力に応じてレーザ光の平均発光強度を一定に制御し
ているので、フィルタで受光出力に含まれるレーザ光の
変調周波数以外の信号成分を除去して、外乱光による受
光出力の信号成分を除去することができ、外乱光による
影響を除去することができる。
周波数の変調をかけて駆動する駆動部と、レーザ光を受
光しその受光出力に応じて駆動部を制御してレーザ光の
平均発光強度を一定に制御する発光制御部とを備え、受
光出力から上記一定周波数で変調された信号成分のみを
抽出するフィルタを上記発光制御部に設け、このフィル
タ出力に応じてレーザ光の平均発光強度を一定に制御し
ているので、フィルタで受光出力に含まれるレーザ光の
変調周波数以外の信号成分を除去して、外乱光による受
光出力の信号成分を除去することができ、外乱光による
影響を除去することができる。
【００１７】また、レーザ光に一定周波数の変調をかけ
て駆動する駆動部と、レーザ光を受光しその受光出力に
応じて駆動部を制御してレーザ光の平均発光強度を一定
に制御する発光制御部とを備え、受光出力から上記一定
周波数で変調された信号成分のみを抽出するフィルタ
と、フィルタの出力を変調信号に同期して整流する同期
整流回路とを上記発光制御部に設け、同期整流回路の出
力に応じてレーザ光の平均発光強度を一定に制御してい
るので、レーザ光の変調周波数成分と同一の周波数成分
であっても、自己のレーザ光の変調信号と同期しない信
号成分を、同期整流回路で除去することができ、同種の
レーザ発光装置のレーザ光の影響も除去することができ
る。
て駆動する駆動部と、レーザ光を受光しその受光出力に
応じて駆動部を制御してレーザ光の平均発光強度を一定
に制御する発光制御部とを備え、受光出力から上記一定
周波数で変調された信号成分のみを抽出するフィルタ
と、フィルタの出力を変調信号に同期して整流する同期
整流回路とを上記発光制御部に設け、同期整流回路の出
力に応じてレーザ光の平均発光強度を一定に制御してい
るので、レーザ光の変調周波数成分と同一の周波数成分
であっても、自己のレーザ光の変調信号と同期しない信
号成分を、同期整流回路で除去することができ、同種の
レーザ発光装置のレーザ光の影響も除去することができ
る。
【図１】本発明の一実施例の回路図である。
【図２】他の実施例の回路図である。
【図３】従来例の回路図である。
１ 駆動部 ２ 発光制御部 ＬＤ レーザ ＰＤ フォトダイオード ２４ バンドパスフィルタ ２５ 同期整流回路
Claims (2)
- 【請求項１】 レーザ光に一定周波数の変調をかけて駆
動する駆動部と、レーザ光を受光しその受光出力に応じ
て駆動部を制御してレーザ光の平均発光強度を一定に制
御する発光制御部とを備え、受光出力から上記一定周波
数で変調された信号成分のみを抽出するフィルタを上記
発光制御部に設け、このフィルタ出力に応じてレーザ光
の平均発光強度を一定に制御して成ることを特徴とする
レーザ発光装置。 - 【請求項２】 レーザ光に一定周波数の変調をかけて駆
動する駆動部と、レーザ光を受光しその受光出力に応じ
て駆動部を制御してレーザ光の平均発光強度を一定に制
御する発光制御部とを備え、受光出力から上記一定周波
数で変調された信号成分のみを抽出するフィルタと、フ
ィルタの出力を変調信号に同期して整流する同期整流回
路とを上記発光制御部に設け、同期整流回路の出力に応
じてレーザ光の平均発光強度を一定に制御して成ること
を特徴とするレーザ発光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4342250A JPH06196784A (ja) | 1992-12-22 | 1992-12-22 | レーザ発光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4342250A JPH06196784A (ja) | 1992-12-22 | 1992-12-22 | レーザ発光装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06196784A true JPH06196784A (ja) | 1994-07-15 |
Family
ID=18352271
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4342250A Withdrawn JPH06196784A (ja) | 1992-12-22 | 1992-12-22 | レーザ発光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06196784A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007322177A (ja) * | 2006-05-30 | 2007-12-13 | Pulstec Industrial Co Ltd | レーザ光照射測定装置 |
| JP2010008088A (ja) * | 2008-06-24 | 2010-01-14 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 空間情報検出装置 |
| JP2012041856A (ja) * | 2010-08-18 | 2012-03-01 | Denso Corp | 燃料噴射制御装置 |
| CN117080860A (zh) * | 2023-10-16 | 2023-11-17 | 成都明夷电子科技有限公司 | 调制电流控制电路及数据传输电路 |
-
1992
- 1992-12-22 JP JP4342250A patent/JPH06196784A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007322177A (ja) * | 2006-05-30 | 2007-12-13 | Pulstec Industrial Co Ltd | レーザ光照射測定装置 |
| JP2010008088A (ja) * | 2008-06-24 | 2010-01-14 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 空間情報検出装置 |
| JP2012041856A (ja) * | 2010-08-18 | 2012-03-01 | Denso Corp | 燃料噴射制御装置 |
| CN117080860A (zh) * | 2023-10-16 | 2023-11-17 | 成都明夷电子科技有限公司 | 调制电流控制电路及数据传输电路 |
| CN117080860B (zh) * | 2023-10-16 | 2024-01-19 | 成都明夷电子科技有限公司 | 调制电流控制电路及数据传输电路 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000307 |