JPH06160082A - 光学式測距装置 - Google Patents
光学式測距装置Info
- Publication number
- JPH06160082A JPH06160082A JP31466792A JP31466792A JPH06160082A JP H06160082 A JPH06160082 A JP H06160082A JP 31466792 A JP31466792 A JP 31466792A JP 31466792 A JP31466792 A JP 31466792A JP H06160082 A JPH06160082 A JP H06160082A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- constant
- laser
- circuit
- modulation amount
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】投光素子が劣化しても一定の変調をかけた投光
ビームを得る。 【構成】レーザＬＡの発光パワーを受光素子ＰＤで検出
する。検波回路３２で発光素子ＰＤの出力から交流成分
のみを検出する。検波回路３２の出力に応じて増幅回路
３３の利得をレーザビームの変調量を一定とするように
調節する。
ビームを得る。 【構成】レーザＬＡの発光パワーを受光素子ＰＤで検出
する。検波回路３２で発光素子ＰＤの出力から交流成分
のみを検出する。検波回路３２の出力に応じて増幅回路
３３の利得をレーザビームの変調量を一定とするように
調節する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、被測定物体までの距離
を三角測量方式で測定する光学式測距装置であり、特に
光強度変調をかけた投光ビームを用いて被測定物体まで
の距離を測定する光学式測距装置に関するものである。
を三角測量方式で測定する光学式測距装置であり、特に
光強度変調をかけた投光ビームを用いて被測定物体まで
の距離を測定する光学式測距装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】この種の光学式測距装置としては図２に
示すものがある。この光学式測距装置では、投光素子と
しての半導体レーザなどのレーザＬＡの発する光ビーム
を投光レンズＬ1 を通して被測定物体Ｘに投光し、被測
定物体Ｘからの反射光を受光レンズＬ2 を通して位置検
出素子ＰＳＤが受光する。なお、上記レーザＬＡのレー
ザビームには、レーザ駆動回路３で発振回路２の出力に
応じてレーザビームに光強度変調をかけている。位置検
出素子ＰＳＤは、レーザＬＡから一定距離をおいて配置
されると共に、レーザＬＡのレーザビームに対してその
光軸が所定の傾きを持って交差するように配置されてい
る。この位置検出素子ＰＳＤでは被測定物体Ｘからの反
射光により受光スポットが結像され、この受光スポット
の結像位置は被測定物体Ｘまでの距離に応じて変化す
る。つまり、位置検出素子ＰＳＤの両端からは位置検出
信号Ｉ1 ，Ｉ2 が出力される。
示すものがある。この光学式測距装置では、投光素子と
しての半導体レーザなどのレーザＬＡの発する光ビーム
を投光レンズＬ1 を通して被測定物体Ｘに投光し、被測
定物体Ｘからの反射光を受光レンズＬ2 を通して位置検
出素子ＰＳＤが受光する。なお、上記レーザＬＡのレー
ザビームには、レーザ駆動回路３で発振回路２の出力に
応じてレーザビームに光強度変調をかけている。位置検
出素子ＰＳＤは、レーザＬＡから一定距離をおいて配置
されると共に、レーザＬＡのレーザビームに対してその
光軸が所定の傾きを持って交差するように配置されてい
る。この位置検出素子ＰＳＤでは被測定物体Ｘからの反
射光により受光スポットが結像され、この受光スポット
の結像位置は被測定物体Ｘまでの距離に応じて変化す
る。つまり、位置検出素子ＰＳＤの両端からは位置検出
信号Ｉ1 ，Ｉ2 が出力される。
【０００３】信号処理部１では、各位置検出信号Ｉ1 ，
Ｉ2 を夫々個別に増幅回路１１1 ，１１2 で増幅し、発
振回路２の出力に基づいてスイッチ及びオペアンプなど
の組合せで構成された同期検波回路１２1 ，１２2 で検
波し、その検波出力をＡ／Ｄ変換回路１３1 ，１３2 で
ディジタル信号に変換してＣＰＵからなる信号処理回路
１０に入力する。なお、レーザビームに変調をかけ、同
期検波回路１２1 ，１２2 で検波しているのは、外乱ノ
イズによる影響を除去するためである。
Ｉ2 を夫々個別に増幅回路１１1 ，１１2 で増幅し、発
振回路２の出力に基づいてスイッチ及びオペアンプなど
の組合せで構成された同期検波回路１２1 ，１２2 で検
波し、その検波出力をＡ／Ｄ変換回路１３1 ，１３2 で
ディジタル信号に変換してＣＰＵからなる信号処理回路
１０に入力する。なお、レーザビームに変調をかけ、同
期検波回路１２1 ，１２2 で検波しているのは、外乱ノ
イズによる影響を除去するためである。
【０００４】信号処理回路１０では、メモリ部（例え
ば、ＲＯＭ）１５1 に記憶されたプログラムに基づいて
上述した被測定物体Ｘまでの距離を求める信号処理を行
う。なお、メモリ部（ＲＡＭ）１５2 は演算処理結果を
記憶するなどの演算処理用として用いられる。そして、
その信号処理結果はＤ／Ａ変換回路１４でアナログ信号
に変換して出力される。
ば、ＲＯＭ）１５1 に記憶されたプログラムに基づいて
上述した被測定物体Ｘまでの距離を求める信号処理を行
う。なお、メモリ部（ＲＡＭ）１５2 は演算処理結果を
記憶するなどの演算処理用として用いられる。そして、
その信号処理結果はＤ／Ａ変換回路１４でアナログ信号
に変換して出力される。
【０００５】いま、位置検出信号Ｉ1 ，Ｉ2 に対するＡ
／Ｄ変換回路１４の出力であるディジタルデータを夫々
Ｖ1 ，Ｖ2 とすると、信号処理回路１０では、距離Ｚを Ｚ＝（Ｖ1 −ｋＶ2 ）／（Ｖ1 ＋Ｖ2 ） で求める。ここで、ｋは光学系あるいは回路部の利得に
より決まる値である。なお、上記光学式測距装置ではア
ナログ変換した信号を出力しているが、信号処理回路１
０からディジタル信号をそのまま出力する場合もある。
／Ｄ変換回路１４の出力であるディジタルデータを夫々
Ｖ1 ，Ｖ2 とすると、信号処理回路１０では、距離Ｚを Ｚ＝（Ｖ1 −ｋＶ2 ）／（Ｖ1 ＋Ｖ2 ） で求める。ここで、ｋは光学系あるいは回路部の利得に
より決まる値である。なお、上記光学式測距装置ではア
ナログ変換した信号を出力しているが、信号処理回路１
０からディジタル信号をそのまま出力する場合もある。
【０００６】上記レーザ駆動回路３では、一般に、レー
ザＬＡの発光パワーの平均値が一定になるように動作す
る機能を持つ。このため、レーザＬＡの近くに配置され
た監視用の受光素子ＰＤでレーザ光を検知し、その出力
を積分してその積分値に応じてレーザＬＡに流れるバイ
アス電流を変化させるバイアス電流回路３１を備えてい
る。つまりは、仮にレーザＬＡが劣化して、一定のパワ
ーで発光できなくなった場合に、バイアス電流回路３１
がレーザＬＡに流れるバイアス電流を多くして、レーザ
ＬＡの発光パワーを上げるように動作する。なお、レー
ザ駆動回路３では、上記バイアス電流回路３１の出力
に、発振回路２の出力をアンプＡＭＰ1 で増幅すると共
に電流変換した信号を重畳し、レーザＬＡに流れる電流
に一定振幅の変調をかけるようにしてある。
ザＬＡの発光パワーの平均値が一定になるように動作す
る機能を持つ。このため、レーザＬＡの近くに配置され
た監視用の受光素子ＰＤでレーザ光を検知し、その出力
を積分してその積分値に応じてレーザＬＡに流れるバイ
アス電流を変化させるバイアス電流回路３１を備えてい
る。つまりは、仮にレーザＬＡが劣化して、一定のパワ
ーで発光できなくなった場合に、バイアス電流回路３１
がレーザＬＡに流れるバイアス電流を多くして、レーザ
ＬＡの発光パワーを上げるように動作する。なお、レー
ザ駆動回路３では、上記バイアス電流回路３１の出力
に、発振回路２の出力をアンプＡＭＰ1 で増幅すると共
に電流変換した信号を重畳し、レーザＬＡに流れる電流
に一定振幅の変調をかけるようにしてある。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところで、レーザＬＡ
が劣化して一定の平均の発光パワーで発光させるのに大
きな電流を流す必要が生じると、その電流に対する発光
パワーの特性は図３中のロのようになる。なお、図３中
のイは正常時のレーザＬＡに流れる電流に対する発光パ
ワーの特性を示す。このように、レーザＬＡの発光特性
が変化すると、レーザ光の変調量は図３におけるＰ1 か
らＰ2 に小さくなる。これは、レーザ光の平均発光レベ
ルを一定にするために、バイアス電流がＩｂ1 からＩｂ
2 に変化しても、アンプＡＭＰ1 の利得が一定であり、
変調振幅ΔＩが変化しないためである。このため、レー
ザＬＡの劣化に伴ってＳＮが悪くなり（ノイズに対する
誤動作防止機能が低下し）、性能の劣化を来すという問
題があった。
が劣化して一定の平均の発光パワーで発光させるのに大
きな電流を流す必要が生じると、その電流に対する発光
パワーの特性は図３中のロのようになる。なお、図３中
のイは正常時のレーザＬＡに流れる電流に対する発光パ
ワーの特性を示す。このように、レーザＬＡの発光特性
が変化すると、レーザ光の変調量は図３におけるＰ1 か
らＰ2 に小さくなる。これは、レーザ光の平均発光レベ
ルを一定にするために、バイアス電流がＩｂ1 からＩｂ
2 に変化しても、アンプＡＭＰ1 の利得が一定であり、
変調振幅ΔＩが変化しないためである。このため、レー
ザＬＡの劣化に伴ってＳＮが悪くなり（ノイズに対する
誤動作防止機能が低下し）、性能の劣化を来すという問
題があった。
【０００８】本発明は上述の点に鑑みて為されたもので
あり、その目的とするところは、投光素子が劣化しても
一定の変調をかけた投光ビームを得ることができる光学
式測距装置を提供することにある。
あり、その目的とするところは、投光素子が劣化しても
一定の変調をかけた投光ビームを得ることができる光学
式測距装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明では、上記目的を
達成するために、光ビームを被測定物体に投光する投光
素子と、投光素子の光出力を検出して投光素子から発せ
られる投光ビームの平均光量を一定に保ち、一定周期で
光強度を強弱に変化させる光強度変調をかける駆動回路
と、被測定物体からの反射光を受光し受光面の被測定物
体からの反射光による受光スポットの結像位置に応じた
一対の位置検出信号を出力する位置検出素子と、位置検
出素子の夫々の位置検出信号から上記変調がかけられた
信号成分のみを検波する検波回路と、夫々の検波出力か
ら被測定物体までの距離を算出する信号処理回路とを備
える光学式測距装置において、投光ビームの変調量を検
出する変調量検出手段と、検出された変調量に応じて変
調量を一定に保つように投光素子に流れる電流を調整す
る電流制御手段とを上記駆動回路に設けている。
達成するために、光ビームを被測定物体に投光する投光
素子と、投光素子の光出力を検出して投光素子から発せ
られる投光ビームの平均光量を一定に保ち、一定周期で
光強度を強弱に変化させる光強度変調をかける駆動回路
と、被測定物体からの反射光を受光し受光面の被測定物
体からの反射光による受光スポットの結像位置に応じた
一対の位置検出信号を出力する位置検出素子と、位置検
出素子の夫々の位置検出信号から上記変調がかけられた
信号成分のみを検波する検波回路と、夫々の検波出力か
ら被測定物体までの距離を算出する信号処理回路とを備
える光学式測距装置において、投光ビームの変調量を検
出する変調量検出手段と、検出された変調量に応じて変
調量を一定に保つように投光素子に流れる電流を調整す
る電流制御手段とを上記駆動回路に設けている。
【００１０】
【作用】本発明は、上述のように構成することにより、
投光素子が劣化して一定の発光パワーで発光させるのに
大きな電流を流す必要が生じ、変調両が低下したことを
変調量検出手段で検出し、検出された変調量に応じて電
流制御手段が変調量を一定に保ち、ＳＮの劣化を防止す
る。
投光素子が劣化して一定の発光パワーで発光させるのに
大きな電流を流す必要が生じ、変調両が低下したことを
変調量検出手段で検出し、検出された変調量に応じて電
流制御手段が変調量を一定に保ち、ＳＮの劣化を防止す
る。
【００１１】
（実施例）本発明の一実施例を図１に基づいて説明す
る。本実施例の光学式測距装置の構成は基本的には図２
のものと同じであり、回路構成的には、レーザ駆動回路
３に発光素子ＰＤの出力に交流結合され、交流成分の大
きさを検出する検波回路３２を新たに設け、図２におけ
るアンプＡＭＰ1 の代わりに検波回路３２の出力に応じ
て利得が調整自在な増幅回路３３を用いた点に特徴があ
る。つまり、本実施例の場合には、レーザビームの変調
量を検出する変調量検出手段を、受光素子ＰＤ及び検波
回路３２で構成し、検出された変調量に応じて変調量を
一定に保つようにレーザＬＡに流れる電流を調整する電
流制御手段として、増幅回路３３を用いてある。
る。本実施例の光学式測距装置の構成は基本的には図２
のものと同じであり、回路構成的には、レーザ駆動回路
３に発光素子ＰＤの出力に交流結合され、交流成分の大
きさを検出する検波回路３２を新たに設け、図２におけ
るアンプＡＭＰ1 の代わりに検波回路３２の出力に応じ
て利得が調整自在な増幅回路３３を用いた点に特徴があ
る。つまり、本実施例の場合には、レーザビームの変調
量を検出する変調量検出手段を、受光素子ＰＤ及び検波
回路３２で構成し、検出された変調量に応じて変調量を
一定に保つようにレーザＬＡに流れる電流を調整する電
流制御手段として、増幅回路３３を用いてある。
【００１２】いま、レーザＬＡの劣化により、一定の発
光パワーで発光させるのに大きな電流を流す必要が生じ
た場合には、図３で説明したように電流−発光パワー特
性の変化に伴って、変調量が低下しようとする。しか
し、本実施例の場合には、この変調量の低下を検出し
て、増幅回路３３の利得を高くすることにより、図３に
おける変量振幅ΔＩを大きくする。このため、レーザＬ
Ａが劣化した場合にも、レーザビームを一定の変調量に
保つことができ、ＳＮの悪化を防止して、性能の劣化を
少なくすることができる。
光パワーで発光させるのに大きな電流を流す必要が生じ
た場合には、図３で説明したように電流−発光パワー特
性の変化に伴って、変調量が低下しようとする。しか
し、本実施例の場合には、この変調量の低下を検出し
て、増幅回路３３の利得を高くすることにより、図３に
おける変量振幅ΔＩを大きくする。このため、レーザＬ
Ａが劣化した場合にも、レーザビームを一定の変調量に
保つことができ、ＳＮの悪化を防止して、性能の劣化を
少なくすることができる。
【００１３】なお、上述の説明では変調量が低下した場
合の説明であったが、変調量が増加した場合には、変調
量を小さくして、変調量を一定に保つことは言うまでも
ない。例えば、周囲温度の変化などに伴うレーザビーム
の変調量の変化にも対応できる。また、以上の説明は投
光素子がレーザである場合について説明したが、レーザ
と同様に投光ビームのレベルを一定に保つ回路を備える
ものであれば、レーザ以外の投光素子にも本発明を適用
できることは言うまでもない。
合の説明であったが、変調量が増加した場合には、変調
量を小さくして、変調量を一定に保つことは言うまでも
ない。例えば、周囲温度の変化などに伴うレーザビーム
の変調量の変化にも対応できる。また、以上の説明は投
光素子がレーザである場合について説明したが、レーザ
と同様に投光ビームのレベルを一定に保つ回路を備える
ものであれば、レーザ以外の投光素子にも本発明を適用
できることは言うまでもない。
【００１４】
【発明の効果】本発明は上述のように、光ビームを被測
定物体に投光する投光素子と、投光素子の光出力を検出
して投光素子から発せられる投光ビームの平均光量を一
定に保ち、一定周期で光強度を強弱に変化させる光強度
変調をかける駆動回路と、被測定物体からの反射光を受
光し受光面の被測定物体からの反射光による受光スポッ
トの結像位置に応じた一対の位置検出信号を出力する位
置検出素子と、位置検出素子の夫々の位置検出信号から
上記変調がかけられた信号成分のみを検波する検波回路
と、夫々の検波出力から被測定物体までの距離を算出す
る信号処理回路とを備える光学式測距装置において、投
光ビームの変調量を検出する変調量検出手段と、検出さ
れた変調量に応じて変調量を一定に保つように投光素子
に流れる電流を調整する電流制御手段とを上記駆動回路
に設けているので、投光素子が劣化して一定の発光パワ
ーで発光させるのに大きな電流を流す必要が生じ、変調
両が低下したことを変調量検出手段で検出し、検出され
た変調量に応じて電流制御手段が変調量を一定に保つこ
とができ、ＳＮの劣化を防止することができる。
定物体に投光する投光素子と、投光素子の光出力を検出
して投光素子から発せられる投光ビームの平均光量を一
定に保ち、一定周期で光強度を強弱に変化させる光強度
変調をかける駆動回路と、被測定物体からの反射光を受
光し受光面の被測定物体からの反射光による受光スポッ
トの結像位置に応じた一対の位置検出信号を出力する位
置検出素子と、位置検出素子の夫々の位置検出信号から
上記変調がかけられた信号成分のみを検波する検波回路
と、夫々の検波出力から被測定物体までの距離を算出す
る信号処理回路とを備える光学式測距装置において、投
光ビームの変調量を検出する変調量検出手段と、検出さ
れた変調量に応じて変調量を一定に保つように投光素子
に流れる電流を調整する電流制御手段とを上記駆動回路
に設けているので、投光素子が劣化して一定の発光パワ
ーで発光させるのに大きな電流を流す必要が生じ、変調
両が低下したことを変調量検出手段で検出し、検出され
た変調量に応じて電流制御手段が変調量を一定に保つこ
とができ、ＳＮの劣化を防止することができる。
【図１】本発明の一実施例の構成図である。
【図２】従来例の構成図である。
【図３】同上の問題点の説明図である。
ＬＡ レーザ ＰＳＤ 位置検出素子 ＰＤ 受光素子 Ｘ 被測定物体 ３ レーザ駆動回路 １０ 信号処理回路 １２1 ，１２2 同期検波回路 ３１ バイアス回路 ３２ 検波回路 ３３ 増幅回路
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成５年７月５日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところで、レーザＬＡ
が劣化して一定の平均の発光パワーで発光させるのに大
きな電流を流す必要が生じると、その電流に対する発光
パワーの特性は図３中のロのようになる。なお、図３中
のイは正常時のレーザＬＡに流れる電流に対する発光パ
ワーの特性を示す。このように、レーザＬＡの発光特性
が変化すると、レーザ光の変調量は図３におけるＰ1 か
らＰ2 に小さくなる。これは、発光特性の変化で、電流
変化分に対する発光パワーの変化（スロープ効率）が小
さくなっても、アンプＡＭＰ1 の利得が一定であり、変
調振幅ΔＩが変化しないためである。このため、レーザ
ＬＡの劣化に伴ってＳＮが悪くなり（ノイズに対する誤
動作防止機能が低下し）、性能の劣化を来すという問題
があった。
が劣化して一定の平均の発光パワーで発光させるのに大
きな電流を流す必要が生じると、その電流に対する発光
パワーの特性は図３中のロのようになる。なお、図３中
のイは正常時のレーザＬＡに流れる電流に対する発光パ
ワーの特性を示す。このように、レーザＬＡの発光特性
が変化すると、レーザ光の変調量は図３におけるＰ1 か
らＰ2 に小さくなる。これは、発光特性の変化で、電流
変化分に対する発光パワーの変化（スロープ効率）が小
さくなっても、アンプＡＭＰ1 の利得が一定であり、変
調振幅ΔＩが変化しないためである。このため、レーザ
ＬＡの劣化に伴ってＳＮが悪くなり（ノイズに対する誤
動作防止機能が低下し）、性能の劣化を来すという問題
があった。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１０】
【作用】本発明は、上述のように構成することにより、
投光素子が劣化して一定の発光パワーで発光させるのに
大きな電流を流す必要が生じ、変調量が低下したことを
変調量検出手段で検出し、検出された変調量に応じて電
流制御手段が変調量を一定に保ち、ＳＮの劣化を防止す
る。
投光素子が劣化して一定の発光パワーで発光させるのに
大きな電流を流す必要が生じ、変調量が低下したことを
変調量検出手段で検出し、検出された変調量に応じて電
流制御手段が変調量を一定に保ち、ＳＮの劣化を防止す
る。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１４】
【発明の効果】本発明は上述のように、光ビームを被測
定物体に投光する投光素子と、投光素子の光出力を検出
して投光素子から発せられる投光ビームの平均光量を一
定に保ち、一定周期で光強度を強弱に変化させる光強度
変調をかける駆動回路と、被測定物体からの反射光を受
光し受光面の被測定物体からの反射光による受光スポッ
トの結像位置に応じた一対の位置検出信号を出力する位
置検出素子と、位置検出素子の夫々の位置検出信号から
上記変調がかけられた信号成分のみを検波する検波回路
と、夫々の検波出力から被測定物体までの距離を算出す
る信号処理回路とを備える光学式測距装置において、投
光ビームの変調量を検出する変調量検出手段と、検出さ
れた変調量に応じて変調量を一定に保つように投光素子
に流れる電流を調整する電流制御手段とを上記駆動回路
に設けているので、投光素子が劣化して一定の発光パワ
ーで発光させるのに大きな電流を流す必要が生じ、変調
量が低下したことを変調量検出手段で検出し、検出され
た変調量に応じて電流制御手段が変調量を一定に保つこ
とができ、ＳＮの劣化を防止することができる。
定物体に投光する投光素子と、投光素子の光出力を検出
して投光素子から発せられる投光ビームの平均光量を一
定に保ち、一定周期で光強度を強弱に変化させる光強度
変調をかける駆動回路と、被測定物体からの反射光を受
光し受光面の被測定物体からの反射光による受光スポッ
トの結像位置に応じた一対の位置検出信号を出力する位
置検出素子と、位置検出素子の夫々の位置検出信号から
上記変調がかけられた信号成分のみを検波する検波回路
と、夫々の検波出力から被測定物体までの距離を算出す
る信号処理回路とを備える光学式測距装置において、投
光ビームの変調量を検出する変調量検出手段と、検出さ
れた変調量に応じて変調量を一定に保つように投光素子
に流れる電流を調整する電流制御手段とを上記駆動回路
に設けているので、投光素子が劣化して一定の発光パワ
ーで発光させるのに大きな電流を流す必要が生じ、変調
量が低下したことを変調量検出手段で検出し、検出され
た変調量に応じて電流制御手段が変調量を一定に保つこ
とができ、ＳＮの劣化を防止することができる。
フロントページの続き (72)発明者 杉本 義彦 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内
Claims (1)
- 【請求項１】 光ビームを被測定物体に投光する投光素
子と、投光素子の光出力を検出して投光素子から発せら
れる投光ビームの平均光量を一定に保ち、一定周期で光
強度を強弱に変化させる光強度変調をかける駆動回路
と、被測定物体からの反射光を受光し受光面の被測定物
体からの反射光による受光スポットの結像位置に応じた
一対の位置検出信号を出力する位置検出素子と、位置検
出素子の夫々の位置検出信号から上記変調がかけられた
信号成分のみを検波する検波回路と、夫々の検波出力か
ら被測定物体までの距離を算出する信号処理回路とを備
える光学式測距装置において、投光ビームの変調量を検
出する変調量検出手段と、検出された変調量に応じて変
調量を一定に保つように投光素子に流れる電流を調整す
る電流制御手段とを上記駆動回路に設けて成ることを特
徴とする光学式測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31466792A JPH06160082A (ja) | 1992-11-25 | 1992-11-25 | 光学式測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31466792A JPH06160082A (ja) | 1992-11-25 | 1992-11-25 | 光学式測距装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06160082A true JPH06160082A (ja) | 1994-06-07 |
Family
ID=18056098
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31466792A Withdrawn JPH06160082A (ja) | 1992-11-25 | 1992-11-25 | 光学式測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06160082A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002079799A1 (fr) * | 2001-03-01 | 2002-10-10 | Sekisui Jushi Corporation | Appareil, materiel et procede de mesure de distance |
| US7233388B2 (en) | 2003-04-21 | 2007-06-19 | Nec Corporation | Distance measuring method, distance measuring device using same, and distance measuring structure using same |
| JP2007279023A (ja) * | 2006-03-15 | 2007-10-25 | Hitachi Maxell Ltd | スペーシング計測装置及び計測方法 |
| JP2010008088A (ja) * | 2008-06-24 | 2010-01-14 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 空間情報検出装置 |
-
1992
- 1992-11-25 JP JP31466792A patent/JPH06160082A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002079799A1 (fr) * | 2001-03-01 | 2002-10-10 | Sekisui Jushi Corporation | Appareil, materiel et procede de mesure de distance |
| KR100799275B1 (ko) * | 2001-03-01 | 2008-01-30 | 세키수이주시 가부시키가이샤 | 거리측정장치, 거리측정설비 및 거리측정방법 |
| CN100397095C (zh) * | 2001-03-01 | 2008-06-25 | 入谷忠光 | 测距装置、测距设备及测距方法 |
| US7233388B2 (en) | 2003-04-21 | 2007-06-19 | Nec Corporation | Distance measuring method, distance measuring device using same, and distance measuring structure using same |
| JP2007279023A (ja) * | 2006-03-15 | 2007-10-25 | Hitachi Maxell Ltd | スペーシング計測装置及び計測方法 |
| JP2010008088A (ja) * | 2008-06-24 | 2010-01-14 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 空間情報検出装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0467260B2 (ja) | ||
| JPS5842411B2 (ja) | 距離測定装置 | |
| JP2546152B2 (ja) | 光変調増幅器 | |
| JPH10239046A (ja) | 光学式変位測定装置および光学式変位測定システム | |
| JP2715206B2 (ja) | レーザ記録装置 | |
| US7269193B2 (en) | Semiconductor laser driving circuit and image recording apparatus | |
| JPH06160082A (ja) | 光学式測距装置 | |
| JP3980997B2 (ja) | 半導体レーザ駆動装置 | |
| JP4614039B2 (ja) | 電磁検出装置 | |
| JP3507563B2 (ja) | 回転角度センサ | |
| JP3974670B2 (ja) | 光学式変位測定装置 | |
| JPH03189584A (ja) | 距離測定装置 | |
| JP3045357B2 (ja) | 光走査記録装置 | |
| JP3042951B2 (ja) | 画像入力装置における光量一定化装置 | |
| JPH07159538A (ja) | 光照射式測距装置 | |
| JP3149592B2 (ja) | 半導体レーザ駆動装置 | |
| JP2830794B2 (ja) | 光送信回路 | |
| JPH06196784A (ja) | レーザ発光装置 | |
| JP3927064B2 (ja) | 非接触式変位計 | |
| JPH06258436A (ja) | 光波距離計 | |
| JPH10289462A (ja) | 光ディスクのレーザ出力制御システム及びその方法 | |
| JP3232132B2 (ja) | 光学式変位計 | |
| JPH06270462A (ja) | 画像形成装置の光量制御装置 | |
| KR100238310B1 (ko) | 모니터용 광검출기 일체형 표면광 레이저장치 | |
| JPS58150876A (ja) | 反射形光センサ |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000201 |