JPH06187392A - テストパターン作成装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ＬＳＩ等の回路の入力信号に対して自動的に
初期値を設定する。 【構成】 入力信号抽出手段１２によってテストパター
ンの波形の新規作成時に入力信号を抽出し、タイミング
抽出手段１３によってその入力信号の入力タイミングを
抽出し、信号名判断手段１４によってその入力信号の信
号名を判断し、初期値幅抽出手段１５によって予め定義
されている初期値設定幅を抽出して、初期値設定手段１
６によってその信号名と対応する入力タイミングの種類
とに応じた初期値をその初期値設定幅だけ設定する。し
たがって、回路の各入力信号に自動的に初期値を設定す
ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、ＬＳＩ等の回路をシ
ミュレーションするためのテストパターンを作成するテ
ストパターン作成装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、テストパターン作成装置による論
理回路検証用のテストパターンの作成には、実機等に合
わせたタイミングで自由に作成できるフリーフォーマッ
トのテストパターンと、ＬＳＩテスター等のテストデバ
イスを考慮して、各信号毎に任意のタイミングを指定し
てそれぞれのサイクルのタイミングで各信号が変化する
制限を付けるサイクル概念を持たせたサイクリックなテ
ストパターンの２種類がある。

【０００３】後者のサイクリックなテストパターンの作
成では、各テストパターンはサイクル幅の定義と各信号
のタイミングの定義の他に、あるサイクルで“０”から
“１”の変化がある時のベクタを“１”とし、“１”か
ら“０”の変化の時のベクタを“０”とするベクタ形式
である各信号の各サイクルでの変化の内容によって記述
される。

【０００４】従来、テストパターン作成装置によってＬ
ＳＩ等の回路をシミュレーションするためのテストパタ
ーンを作成する場合、回路の全ての入力信号に対してそ
れぞれ入力値を定義していた。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
テストパターン作成装置では、回路の全入力信号にそれ
ぞれ入力値を定義しなければならないので、回路の入力
信号が増えるとテストパターンの作成にかなりの手間と
時間がかかるという問題があった。この発明は上記の点
に鑑みてなされたものであり、ＬＳＩ等の回路の入力信
号に対して自動的に初期値を設定することを目的とす
る。

【０００６】

【課題を解決するための手段】この発明は上記の目的を
達成するため、ＬＳＩ等の回路のシミュレーション用の
テストパターンの波形を作成するテストパターン作成手
段と、その手段によって作成されるテストパターンの波
形を表示する表示手段を備えたテストパターン作成装置
において、テストパターンの波形の新規作成時に入力信
号を抽出する入力信号抽出手段と、その手段によって抽
出された入力信号の入力タイミングを抽出するタイミン
グ抽出手段と、その手段によって抽出された入力タイミ
ングの種類に応じて入力信号の初期値を設定する初期値
設定手段を設けたものである。

【０００７】また、入力信号の信号名を判断する信号名
判断手段を設け、上記初期値設定手段を信号名判断手段
によって判断された信号名とその信号名に対応する入力
タイミングの種類とに応じて入力信号の初期値を設定す
る手段にするとよい。さらに、初期値設定手段による初
期値の設定幅を変更する初期値設定幅変更手段を設ける
とよい。

【０００８】

【作用】この発明によるテストパターン作成装置は、Ｌ
ＳＩ等の回路のシミュレーション用のテストパターンの
波形の新規作成時に入力信号を抽出し、その抽出された
入力信号の入力タイミングを抽出し、その抽出された入
力タイミングの種類に応じて入力信号の初期値を設定す
るので、テストパターン作成時に回路の入力信号に初期
値を自動的に設定することができる。

【０００９】また、入力信号の信号名を判断してその信
号名とその信号名に対応する入力タイミングの種類とに
応じて入力信号の初期値を設定するようにすれば、テス
トパターン作成時に回路の入力信号にその信号名に応じ
た初期値を自動的に設定することができる。さらに、初
期値の設定幅を変更するようにすれば、テストパターン
作成時に回路の入力信号に初期値を設定する幅を任意に
変えることができる。

【００１０】

【実施例】以下この発明の実施例を図面に基づいて具体
的に説明する。図２はこの発明の一実施例であるテスト
パターン作成装置のハード構成を示すブロック図、図３
はそのテストパターン作成装置の外観の一例を示す図で
ある。このテストパターン作成装置は、オペレータがＬ
ＳＩ等の論理回路をシミュレーションするためのテスト
パターン作成時に各種の操作情報を入力するための入力
装置であるキーボード１及びマウス２を備えている。

【００１１】さらに、作成されたテストパターンのデー
タ等の各種データを記憶するためのハードディスク装
置，光ディスク装置，又はフロッピディスク装置等の記
憶装置３と、テストパターン作成時の作業画面や作成さ
れたテストパターンや各種メッセージ等の情報を表示す
るＣＲＴやＬＣＤ等のディスプレイである表示装置４も
備えている。

【００１２】さらにまた、ＣＰＵ，ＲＯＭ，及びＲＡＭ
等からなるマイクロコンピュータを内蔵し、この装置全
体の制御を司ると共に、後述するこの発明によるテスト
パターン作成装置におけるテストパターン作成時の回路
の入力信号に対する初期値自動設定を実現するための各
種機能を備えた処理装置５も備えている。

【００１３】図１は図２に示した処理装置５のテストパ
ターン作成時の回路の入力信号に対する初期値自動設定
に係わる機能を示すブロック図である。この処理装置５
は、テストパターン作成手段１０，表示手段１１，入力
信号抽出手段１２，タイミング抽出手段１３，信号名判
断手段１４，初期値幅抽出手段１５，及び初期値設定手
段１６の各手段を備えている。

【００１４】テストパターン作成手段１０はＬＳＩ等の
回路のシミュレーション用のテストパターンの波形を作
成する機能を、表示手段１１はテストパターン作成手段
１０によって作成されるテストパターンの波形を表示す
る機能をそれぞれ果たす。

【００１５】また、入力信号抽出手段１２はテストパタ
ーンの波形の新規作成時に入力信号を抽出する機能を、
タイミング抽出手段１３は入力信号抽出手段１２によっ
て抽出された入力信号の入力タイミングを抽出する機能
を、信号名判断手段１４は入力信号の信号名を判断する
機能をそれぞれ果たす。

【００１６】さらにまた、初期値幅抽出手段１５は初期
値設定手段１４による初期値を設定するサイクル数（設
定幅）を抽出する機能と、初期値設定手段１６による初
期値の設定幅を変更する初期値設定幅変更手段としての
機能を果たす。

【００１７】そして、初期値設定手段１６はタイミング
抽出手段１３によって抽出された入力タイミングの種類
に応じて入力信号の初期値を設定する機能、さらに信号
名判断手段１４によって判断された信号名とその信号名
に対応する入力タイミングの種類とに応じて入力信号の
初期値を設定する機能の各機能を果たす。

【００１８】図４は図２に示した記憶装置３内に格納さ
れている初期値設定幅ファイルのフォーマットの一例を
示す図である。その初期値設定幅ファイルには、テスト
パターン作成時に回路の入力信号に対して何サイクル分
の初期値を設定するかを示すデフォルト値が格納されて
いる。

【００１９】このデフォルト値は予めシステム管理者が
定義しておき、この場合は４サイクルの設定幅が定義さ
れている。なお、必要に応じてそのデフォルト値を定義
し直せば初期値の設定幅を任意に変更できる。

【００２０】図５は図２に示した記憶装置３内に格納さ
れているタイミング定義ファイルのフォーマットの一例
を示す図である。そのタイミング定義ファイルには、回
路の入出力信号名とその入出力タイミングとその種類等
のデータが格納されている。

【００２１】そのタイミング定義とは、サイクリックに
入力するテストパターンにおいて変化するタイミングを
定義するものである。例えば、入力タイミングの種類
は、「ＤＴ形式タイミング」「ＰＰ形式タイミング」
「ＮＰ形式タイミング」の３種類ある。

【００２２】図６はＤＴ形式，ＰＰ形式，及びＮＰ形式
の各形式の入力タイミングの波形図である。このよう
に、「ＤＴ形式タイミング」の波形はサイクルの初期か
ら一定の時間で１回変化し、「ＰＰ形式タイミング」及
び「ＮＰ形式タイミング」の波形はは１サイクルの中で
２回変化する。その波形の変化はディレイｄと幅ｗ又は
それらを組み合わせたタイミングの数によって任意に制
限を変更することができる。

【００２３】図７はＤＴ形式，ＰＰ形式，及びＮＰ形式
の入力タイミングを用いた各波形の一例を示す図であ
る。このように、図６に示した各形式のタイミングと１
サイクル毎の値を組み合わせてテストパターンを作成す
る。これらは、オペレータが任意に設定することができ
る。

【００２４】次に、図８に示すフローチャートによっ
て、このテストパターン作成装置における入力信号の初
期値自動設定の処理について説明する。まず、初期値設
定幅ファイルから初期値を設定する設定幅（サイクル
数）を抽出して信号名を抽出し、信号の終わりか否かを
判断して、終わりならばこの処理を終了する。

【００２５】また、信号の終わりでなければ、入力信号
か否かを判断し、入力信号でなければ信号の抽出処理に
戻って次の信号へ進むが、入力信号ならその値が既に設
定されているか否かを判断し、既に設定されているなら
信号の抽出処理に戻って次の信号へ進む。

【００２６】さらに、入力信号の値が既に設定されてい
なければ、タイミング定義ファイルを参照して入力タイ
ミングを抽出して調べて、その種類がＤＴ形式タイミン
グか否かを判断し、ＤＴ形式タイミングであればその信
号名が負論理であるか否かを判断し、負論理でなければ
初期値“０”を所定の設定値幅分（サイクル数）だけセ
ットしてこの処理を終了し、信号名が負論理であれば初
期値“１”を所定の設定値幅分だけセットしてこの処理
を終了する。

【００２７】また、入力タイミングの種類がＤＴ形式タ
イミングでなければ、さらにそれがＰＰ形式タイミング
か否かを判断し、ＰＰ形式タイミングならば初期値
“０”を所定の設定値幅分（サイクル数）だけセットし
てこの処理を終了し、ＰＰ形式タイミングでなければそ
れをＮＰ形式タイミングとして判定して初期値“１”を
所定の設定値幅分だけセットしてこの処理を終了する。

【００２８】つまり、初期値自動設定までの過程は、ま
ず、初期値を設定するサイクル数を初期値設定幅ファイ
ルから読み取り、信号名を抽出し、信号が終わりでなけ
ればその信号が入力信号か否かを調べる。ここで、入力
信号でない場合は次の信号について調べるが、入力信号
の場合はさらに値が設定されているか否かを調べ、設定
されている場合は次の信号に移る。

【００２９】また、値が設定されていない場合は、タイ
ミング定義ファイルから入力タイミングを調べ、その入
力タイミングの種類を調べる。入力タイミングがＤＴ形
式の場合は信号名を判断して、それが負論理である場合
は値“１”を設定幅分だけ初期値として設定し、負論理
でない場合は値“０”を設定幅分だけ初期値として設定
する。

【００３０】一方、入力タイミングがＤＴ形式でない場
合はＰＰ形式か否かを調べて、ＰＰ形式の場合は値
“０”を設定幅分だけ初期値として設定し、ＰＰ形式と
異なる場合は値“１”を設定幅分だけ初期値として設定
する。このようにして、全ての入力信号について調べて
初期値を設定する。

【００３１】したがって、図８に示したステップ１の処
理は初期値幅抽出手段１５が、ステップ２〜４の処理は
入力信号抽出手段１２が、ステップ６〜８の処理はタイ
ミング抽出手段１３が、ステップ１０の処理は信号名判
断手段１４が、ステップ７，１１の処理は初期値設定手
段１６がそれぞれ実行する。

【００３２】次に、入力信号の初期値自動設定時の表示
例について説明する。図９は回路のテストパターン作成
時の作業画面の一例を示す図であり、画面２０の信号名
欄２１には既に入出力信号名が設定されている。ここで
初期値自動設定を指示するとテストパターン表示欄２２
に各入力信号に対する初期値が設定されて表示される。

【００３３】図１０は図９に示した各入力信号に設定さ
れた初期値の一例を示す作業画面図である。ここでは、
図４に示した初期値設定幅ファイルに定義されているデ
ータを用いて初期値の設定幅を４サイクルにし、各入力
信号の入力タイミング及び信号名の種類は図５に示した
タイミング定義ファイルに定義されているデータに基づ
いて設定した場合を示している。

【００３４】このように、信号名「ＣＬＫ」「ＲＢ」
「ＤＡＴＡ」の各入力信号には、それぞれ値「０」
「１」「０」の初期値２３が４サイクル分だけ設定され
て表示される。そして、オペレータはこの初期値表示
後、各入力信号の必要な部分のみの値を変更することに
よって所望のテストパターンを作成する。

【００３５】次に、このテストパターン作成装置におけ
る具体的な作業画面の一例を示す。図１１はテストパタ
ーン作成前の初期画面を示す図、図１２は入力信号に初
期値を自動設定した後に作業画面の一例を示す図、図１
３は入力信号のタイミング定義時の作業画面の一例を示
すである。

【００３６】次に、この実施例におけるテストパターン
作成装置の効果を列挙する。 （１）回路のシミュレーションを行なうためのテストパ
ターンを作成する場合、その回路の全ての入力信号に自
動的に適切な初期値が設定されるので、必要な箇所のみ
に値を入力して所望のテストパターンを作成することが
できる。したがって、従来のように各入力信号毎に１つ
づつ値を入力せずに済み、テストパターンを手早く能率
良く作成することができる。

【００３７】（２）入力信号に初期値を設定する際、そ
の信号名に応じた初期値設定するので、オペレータが意
図した初期値を設定することができる。 （３）入力信号に初期値を設定する際、その設定幅を任
意に変更することができるので、オペレータが意図した
設定幅分の初期値を設定することができる。

【００３８】

【発明の効果】以上説明してきたように、この発明によ
るテストパターン作成装置によれば、テストパターン作
成時に回路の入力信号に初期値を自動的に設定すること
ができる。また、テストパターン作成時に回路の入力信
号にその信号名に応じた初期値を自動的に設定すること
ができる。さらに、テストパターン作成時に回路の入力
信号に初期値を設定する幅を任意に変えることができ
る。したがって、テストパターンを手早く能率良く作成
することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】図２に示す処理装置のテストパターン作成時の
回路の入力信号に対する初期値自動設定に係わる機能を
示すブロック図である。

【図２】この発明の一実施例であるテストパターン作成
装置のハード構成を示すブロック図である。

【図３】そのテストパターン作成装置の外観の一例を示
す図である。

【図４】図２に示す記憶装置内に格納されている初期値
設定幅ファイルのフォーマットの一例を示す図である。

【図５】図２に示す記憶装置内に格納されているタイミ
ング定義ファイルのフォーマットの一例を示す図であ
る。

【図６】ＤＴ形式，ＰＰ形式，及びＮＰ形式の入力タイ
ミングの波形図である。

【図７】ＤＴ形式，ＰＰ形式，及びＮＰ形式の入力タイ
ミングを用いた各波形の一例を示す図である。

【図８】このテストパターン作成装置における入力信号
の初期値自動設定の処理を示すフローチャートである。

【図９】このテストパターン作成装置における回路のテ
ストパターン作成時の作業画面の一例を示す図である。

【図１０】図９に示す作業画面における各入力信号に自
動設定された初期値の一例を示す作業画面図である。

【図１１】このテストパターン作成装置におけるテスト
パターン作成前の初期画面の一例を示す図である。

【図１２】このテストパターン作成装置における入力信
号に初期値を自動設定した後の作業画面の他の例を示す
図である。

【図１３】このテストパターン作成装置における入力信
号のタイミング定義時の作業画面の一例を示す図であ
る。

【符号の説明】 １ キーボード ２ マウス ３ 記憶装置 ４ 表示装置 ５ 処理装置 １０ テストパタ
ーン作成手段 １１ 表示手段 １２ 入力信号抽
出手段 １３ タイミング抽出手段 １４ 信号名判断
手段 １５ 初期値幅抽出手段 １６ 初期値設定
手段 ２０ 画面 ２１ 信号名欄 ２２ テストパターン表示欄 ２３ 初期値

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ＬＳＩ等の回路のシミュレーション用の
   テストパターンの波形を作成するテストパターン作成手
   段と、該手段によって作成されるテストパターンの波形
   を表示する表示手段とを備えたテストパターン作成装置
   において、 テストパターンの波形の新規作成時に入力信号を抽出す
   る入力信号抽出手段と、該手段によって抽出された入力
   信号の入力タイミングを抽出するタイミング抽出手段
   と、該手段によって抽出された入力タイミングの種類に
   応じて前記入力信号の初期値を設定する初期値設定手段
   とを設けたことを特徴とするテストパターン作成装置。
2. 【請求項２】 請求項１記載のテストパターン作成装置
   において、 前記入力信号の信号名を判断する信号名判断手段を設
   け、前記初期値設定手段が前記信号名判断手段によって
   判断された信号名と該信号名に対応する入力タイミング
   の種類とに応じて前記入力信号の初期値を設定する手段
   であることを特徴とするテストパターン作成装置。
3. 【請求項３】 請求項１又は２記載のテストパターン作
   成装置において、 前記初期値設定手段による初期値の設定幅を変更する初
   期値設定幅変更手段を設けたことを特徴とするテストパ
   ターン作成装置。