JPH06169041A - 半導体装置のフレームダムバー切断装置 - Google Patents

半導体装置のフレームダムバー切断装置

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JPH06169041A
JPH06169041A JP4301394A JP30139492A JPH06169041A JP H06169041 A JPH06169041 A JP H06169041A JP 4301394 A JP4301394 A JP 4301394A JP 30139492 A JP30139492 A JP 30139492A JP H06169041 A JPH06169041 A JP H06169041A
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JP
Japan
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lead frame
dam bar
semiconductor device
dam
frame
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JP4301394A
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English (en)
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Nobuhiko Tada
信彦 多田
Naoki Mitsuyanagi
直毅 三柳
Yoshiaki Shimomura
義昭 下村
Shigeyuki Sakurai
茂行 桜井
Yoshiya Nagano
義也 長野
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Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Abstract

(57)【要約】 【目的】 QFPのダムバー切断に際し、切断中のダム
バーによる塵芥等の悪影響を受けることなく、切断用ダ
ムバーを指示可能としたい。 【構成】 QFPの対向する1辺のリードフレーム位置
2を監視用とし、他辺のリードフレームのダムバー位
置P2の出現監視用に利用する。このために、監視カメ
ラ部31で位置P2にくるリードフレームの様子を連続
的に監視し、そこからダムバーの出現先頭位置を検出す
る。この検出タイミングでレーザ照射部32でのレーザ
励起を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、互いに対向するリード
フレーム辺を持つ場合の、ダムバー除去に好適な半導体
装置フレームダムバー切断装置に関する。
【0002】
【従来の技術】樹脂モールド後のリードフレームへの樹
脂流出を防ぐために、リードフレームには、必ずダムバ
ー(又はタイバーとも呼ぶ)を設けてある。ダムバー
は、リードフレームの配列方向に沿って、リードフレー
ムを結ぶ形で設けてある。樹脂モールド後にあっては、
ダムバーを除去する。これによって、各リードフレーム
は電気的に独立したものとなる。ダムバーの除去の従来
例は、特開平3−14816号、特開平3−29407
7号がある。両者とも、レーザビームをダムバーに照射
してその除去をはかる点で共通する。更に、特開平3−
148161号は、リードフレーム面とレーザ照射部と
の間にマスクをかけて、ダムバーのみの除去をはかる。
特開平3−294077号はダムバー近傍のフレーム表
面収縮量を検出し、事前に定めたダムバー位置の位置調
整を行う。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】特開平3−14816
1号は、マスクの位置決めやそのマスクへのレーザビー
ムの照射位置が正しく行われることが必要である。その
ために、リードフレームの2値化画像をカメラで得て、
この2値化画像のずれの様子から位置合わせをはかる。
しかし、リードフレーム全体の2値化は繁雑である。
【0004】特開平3−294077号は、ダムバー位
置の位置調整目的が、あくまでダムバー形成時の機械的
応力による収縮対策である。
【0005】本発明の目的は、簡便に加工ダムバー位置
へのレーザビーム照射の正確さを期す半導体装置のダム
バー切断装置を提供するものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、樹脂封止済の
四角形半導体部と、四角形の少なくとも対向する2辺か
ら辺に直交する方向に導出されたリードフレームと、各
リードフレームのダムバーと、より成る半導体装置にお
いて、上記対向する一方の辺のリードフレーム配列順序
を検出する検出手段と、対向する他方の辺のリードフレ
ームのダムバーに、上記検出手段で得たリードフレーム
配列順序で定まるダムバー出現位置のタイミングに同期
してレーザビームを照射するレーザ照射手段と、より成
る(請求項1)。
【0007】更に本発明は、樹脂封止済の四角形半導体
部と、四角形の各辺から辺に直交する方向に導出された
リードフレームと、各リードフレームのダムバーと、よ
り成る半導体装置において、該半導体装置を載せて加工
対象のリードフレームの配列方向に沿って移動する移動
部と、該移動部に直交する方向の固定位置に設置され、
加工対象のダムバーの位置にレーザビームを照射可能と
するレーザ照射部と、該加工対象のダムバーの存在する
辺に対向する辺のリードフレームを臨む方向に設置さ
れ、半導体装置の移動で順次現れる、該対向する辺のリ
ードフレームの配列順序を検出する検出手段と、該検出
したリードフレームから、半導体装置の移動で順次現れ
る、上記加工対象のリードフレームのダムバー位置を見
つけ、該ダムバー出現位置に同期して上記レーザ照射部
へのレーザビームの放出を行わせる制御手段と、より成
る(請求項2)。
【0008】更に本発明は、上記レーザ照射部と検出手
段との設置位置は、半導体装置の対向する2辺の幅及び
リードフレームの長さに応じて可変化した(請求項
3)。
【0009】
【作用】本発明によれば、対向2辺の一方のリードフレ
ームの配列順序を監視しながら、他方のリードフレーム
のダムバーの除去をレーザにより行う(請求項1〜
3)。
【0010】
【実施例】図2は、樹脂モールド後の3連式半導体装置
の平面図である。3連式半導体装置は、#1〜#3の3
つの半導体装置をリードフレーム部1で連続した状態の
装置である。その全体例を図3に示す。リードフレーム
部1は、半導体部2、3、4と各リードフレーム5、
6、7より成り、図2ではこの中で半導体部2のみを、
特に示してある。半導体部2、3、4は、樹脂モールド
ずみであり、次の工程ではダムバー切断に入るものとす
る。このダムバー切断に係る点が本発明である。
【0011】図2で、各半導体装置#1、#2、#3
は、四角形の半導体部2、3、4を有し、且つその4つ
の各辺から、辺に直交する方向にリードフレーム5、
6、7が導出している。これは、QFP(4辺形フラッ
トパッケージ装置)と呼ばれている。#1と#2、及び
#2と#3との間は、孔10、11で区切られている。
この3連式の他に、直列に6連構成の直列6連式、3連
式を並列にした並列6連式などがある。
【0012】図2の半導体装置#2は、周囲に樹脂モー
ルドされた半導体部2の4辺より、リードフレーム1
2、13、14、15がその辺に直交する方向に導出し
ている。各リードフレーム12、13、14、15は、
リードフレーム本体5A、5B、5C、5Dと、各リー
ドフレーム本体に直交方向で結合するダムバー8A、8
B、8C、8Dとより成る。ダムバー8A〜8Dが、半
導体部2への樹脂モールド時の樹脂のリードフレームへ
の流出の防止部材となる。
【0013】この樹脂封止後に、ダムバー8A〜8Dを
切断し、各リードフレーム本体を電気的に独立したもの
とする。ダムバー8A〜8Dを除去し、且つ周辺の各辺
の不要リードフレーム部材を除去した様子を図4に示
す。これは図2の点線部16に示した部分に相当する。
除去したダムバー8A〜8Dの様子を図4では点線で示
してある。
【0014】本発明の切断装置の実施例を図1に示す。
図2に示す如き、半導体装置#1、#2、#3より成る
パッケージ装置23をテーブル22の上に載せる。ダム
バーの除去は、#1→#2→#3の順序で行うものとす
る。図1では、#2(23)が載っているものとする。
#2の4辺のうちの対向する2辺の一方のリードフレー
ム25のダムバー位置P1の切断作業時には、他方のリ
ードフレーム24は、ダムバー位置P2の監視用に使
う。他方のリードフレーム24の監視位置P2は、リー
ドフレーム24のダムバーの位置ではなく、それよりも
外側の位置である。
【0015】ダムバーの外側位置とする理由は、ダムバ
ー位置がダムバー除去の前後で形状が不安定であること
(これは、図のフレーム24のダムバー切断時には、す
でにダムバー除去後のフレーム25を監視用に使うとき
に問題となる)、のためである。更に、互いに対向する
辺の中で一方を監視用、他方を加工用として使い分けた
のは、以下の通りである。第1に、加工対象のフレーム
を監視用に兼用としたのではレーザ切断時の種々の塵芥
の発生で監視精度が低下すること、第2にパッケージ装
置での各辺のリードフレーム幅やそのピッチ間隔、及び
長さなどは規格化されており、且つ対向する2つの辺の
リードフレームの配置も同一に規格化されており、1辺
のリードフレームの加工の位置制御のためには対向する
辺のリードフレームの位置の監視結果をそのまま利用で
きること、のためである。
【0016】図5には、テーブル22の移動に伴う監視
ラインL2と加工ラインL1との動きを示す。テーブル2
2は図の矢印のように定速度で移動する。移動を制御す
るのは、図1のマイコン30である。監視ラインL2
加工ラインL1とは、それぞれ対向する2辺のリードフ
レーム上に設定し、監視ラインL2は、ダムバー8Dよ
り外側に設定し、加工ラインL1はダムバー8Bの設置
位置上に設定する。
【0017】監視ラインL2の真上方向に監視カメラ部
31を図1のように設けておく。この監視カメラ部31
は初期設定のために移動可能であるが、監視中にあって
は固定位置にある。加工ラインL1の真上方向にレーザ
照射部32を図1のように設けておく。このレーザ照射
部32も初期設定のために移動可能であるが、加工中に
あっては固定位置にある。
【0018】監視カメラ部31による監視位置は、図5
のP2であり、レーザ照射部32による加工位置は、図
5のP1である。このP1、P2の位置及びその大きさが
固定であり、テーブル22が矢印の方向に移動すること
によって、左右の辺のリードフレームが次々にその
1、P2に出現する。
【0019】一方、監視ラインL2上でみるに、リード
フレームの存在する位置とダムバー8Dの存在する位置
に対応する溝部とが交互に出現する。これを反射光の有
無でみるに、リードフレームの存在する位置では反射光
が得られ(これをRと指示)、ダムバー8Dの存在する
位置に対応する溝部では反射光が得られず透過光のみと
なる(これをNと指示)。監視カメラ部31は、このR
とNとの交互出現を監視する。図1のマイコン30がカ
メラ部31の画像からダムバー8での位置P2上への出
現タイミングを検出する。左辺のリードフレーム上での
ダムバー8Dの出現と右辺のリードフレーム上でのダム
バー8Bの出現とは位置的に同期がとられている(左右
のリードフレームの同一規格化のためである)ため、位
置P2上の画像が得られるダムバー8Dの出現に同期さ
せて、P1上にレーザビームを照射するように、マイコ
ン30がレーザ照射部32内のレーザ発振部21を励起
する。かくして、位置P1のダムバーは、レーザビーム
によって切断される。以下、次のリードフレーム及びダ
ムバーの出現と更新してゆき、次々に右辺の4本のダム
バー(図5)が切断されることになる。
【0020】ここで、図1の全体動作を説明する。先
ず、監視カメラ部31及びレーザ照射部32の初期位置
決めをマイコン30が行う。初期位置決めとは、その時
の半導体その大きさによってダムバー位置が変化するた
めである。さて、図1で、レーザビーム発振器21は、
マイコン30によって励起タイミングの制御を受けて、
レーザビームを放出する。ダイクロイックミラー27
は、レーザビームを反射して大口径レンズ(集束用レン
ズ)26に送り、ここでビーム集束を行う。このレーザ
ビームは、リードフレーム25のダムバー位置P1に照
射されてダムバー切断を行う。
【0021】一方、リードフレーム24の監視点P2
様子は、反射光となりハーフミラー28を介して検出部
29へ送られる。検出部29は、例えば撮像素子であ
り、監視位置近辺を画像として監視する。マイコン30
は、検出部29で得た画像から加工対象のフレームを特
定し、そのフレームに結合したダムバーの出現位置を見
つける。出現位置に同期してマイコン30は、レーザ発
振器21の励起を行い、ダムバーが位置P1に出現する
毎にレーザ光を放出し、このレーザビームでダムバー切
断を行う。
【0022】図6は、1つの半導体装置に注目しての4
つの辺のフレームのダムバー切断のプロセスを示す図で
ある。4つの辺をA、B、C、Dとする。先ず、辺Bを
加工側とし、辺Dを監視側としてテーブル22を矢印の
方向に移動させて、辺Bのダムバーの切断を行う。辺B
のすべてのダムバー(4本の例とした)切断完了する
と、マイコン30がこれを検知し、テーブル22を90
゜回転させる。これによって、右辺には辺A、左辺には
辺Cがくることになり、同様に辺Aのすべてのダムバー
の切断を行う。辺Aのすべてのダムバーの切断が完了す
ると、マイコン30はテーブル22を90゜回転させ
る。これによって、辺Dが右辺、辺Bが左辺となり、同
様にダムバー切断を行う。更に、テーブル22を90゜
回転させ辺Cを右辺、辺Aを左辺におき、辺Dのダムバ
ー切断を行う。かくして、A、B、C、Dのすべての辺
のダムバー切断が完了する。
【0023】図1において、テーブル22及び監視カメ
ラ部31、レーザ照射部32は、いずれもx、y、zの
3軸方向への移動が可能になっている。ここで、z軸と
は、高さ方向の軸、x軸は、横方向の軸、y軸はテーブ
ルの監視及び加工のための移動方向(手前方向)を示す
軸である。監視カメラ部31及びレーザ照射部32の
x、y、zの3軸制御は、加工に先立っての31、32
の初期化のためにマイコン30の指示で行う。テーブル
22の初期化のためにも、このx、y、z軸の位置制御
はマイコン30の指示で行う。更に、マイコン30は、
こうした初期位置決め後にあってはテーブル30のy方
向の移動制御を行う。尚、22、31、32のx、y、
zの機械的制御機構は、種々公知のものを使えばよい。
【0024】図7、図8は監視カメラ部31とレーザ照
射部32の初期設定例を示す図である。図7の半導体装
置23に対して、図8の半導体装置23Aは、サイズが
大きい場合を示す。図7によれば、監視カメラ部31と
レーザ照射部32との距離はD1であり、且つP1とP2
位置は図のような位置としている。一方、図8によれ
ば、両者の距離はD2となり、且つP1とP2位置も異な
ってくる。そこで、ダムバー切断対象の半導体装置が2
3か23Aかによって監視カメラ部31とレーザ照射部
32の固定位置の位置決めを、D1又はD2になるような
x方向位置決めを行う。この時、z方向の高度な高さ制
御及びy方向位置の初期化も行う。こうした制御は、半
導体装置の23か23A等の種別によって、制御データ
をメモリにプリセットしておき、これを読み出して初期
化のためのデータとして利用すれば、初期化の自動化を
達成できる。制御データとは、(Di、xi、yi、zi
の4種類でよい。Diが距離、xi、yi、ziが初期位置
を示す。
【0025】図9は、半導体装置23の横断面図であ
る。半導体部26は基板27の上に積層しており、周辺
からリードフレーム24、25が外部へ導出している。
半導体部26とリードフレーム24、25とは図示して
いないがワイヤーボンディングで接続している。半導体
部26及びリードフレーム24、25の一部を含めて樹
脂28でモールドする。以上のモールド後の半導体装置
23に対してダムバー切断を行う。この切断後、リード
フレーム24、25を切断ダムバーに近い又は含む位置
24A、25Aで下方に折り曲げる。次いで、この半導
体装置23をプリント板に接着し、併せてリードフレー
ム24、25の端部をこのプリント板の導線部に自動ハ
ンダ付けする。
【0026】図10(a)〜(e)はマイコン30によ
る制御のための各種信号のタイムチャートを示す図であ
る。(a)は、テーブル22の速度パターンを示す図で
あり、テーブル22の移動開始時は加速して定速v0
入り、テーブル22の停止時は減速して停止させる。定
速状態の時にダムバーの切断を行う。(b)は監視カメ
ラ部31での検出信号E1を示し、時間経過に従って、
基準値E0よりも小さいダムバー対応位置からの反射信
号(R)と基準値E0よりも小さいダムバー対応位置か
らの反射信号(N)とを繰り返す。従って、この検出信
号E1を追跡することでダムバーの出現位置がわかるは
ずである。そのために、(c)に示すように検出信号E
1を基準値E0より大か小かで整形して2値化信号E2
求める。次に(d)に示すように2値化信号E2の立ち
上がり部分に同期してトリガー信号E3を生成する。ト
リガー信号E3はレーザ発振器21へ励起信号として利
用する。このトリガー信号E3を受けて一定の励起に必
要な時間遅れt1の後で時間幅t2のレーザを発振器21
が発生する。ここで、時間遅れt1を考慮してダムバー
の先頭位置の時点でレーザを発生するように、基準値E
0を設定しておく。当然のことながら、レーザの発射時
間幅t2は、その出現した1つのダムバーを切断可能な
エネルギーと時間幅とを与える値である。
【0027】尚、リードフレームを連結するダムバーの
他に、図2によれば、各種の不要なリードフレームの部
分がある。これらの切断は、別法によって行う。また、
切断対象のダムバーの開始点直前には図2の8BBの如
きダムバーの一部をなす部分が存在するが、この除去は
本実施例で同時に行ってもよく、又は除去は行われず別
法によって除去してもよい。
【0028】更に、直列3連式のパッケージ装置に対し
て、図6では、1個の半導体装置毎に4辺のダムバー切
断を行い、次に、次の位置にある半導体装置に対して図
6の如き手順でダムバー切断を行うというやり方をとっ
た。しかし、3個の半導体装置に対して、最初に、D辺
を利用してB辺に、次にC辺を利用してA辺、…という
具合いに同一部位に相当するダムバー切断を逐次的に行
ってもよい。また、1個の半導体装置のみを孔部10と
11とで独立に切離して、これをテーブルに載せてダム
バー切断を行ってもよい。
【0029】本実施例によれば、4辺それぞれにリード
フレームを持つQFPにおいて、対向する1辺を監視用
とし、他辺を加工用とすることによって、レーザ加工状
態から悪影響を受けないで、ダムバー切断が可能となっ
た。
【0030】尚、QFPの他に、2辺のみにリードフレ
ームを持つパッケージ装置でも、この2辺に関してのダ
ムバー切断を同様に実行できる。
【0031】更に、監視カメラ部31及びレーザ照射部
32は、監視ライン、加工ラインに対して直角方向とし
たが、必ずしも直角である必要はない。また、反射ミラ
ーやダイクロイックミラーで反射可能な故に、種々の角
度からレーザ放射及び反射信号検出が可能である。
【0032】監視カメラ部31は、撮像素子の一例とし
たが、これは、監視ラインに沿った画像を求めることが
可能なリニア構成であることが好ましい。また、撮像素
子の代わりに、撮像機能のない、リニア構成の検出素子
を用いてもよい。更に反射信号を得るためには、そのた
めの特別な外部光を照射してその反射光を得るやり方を
とってもよい。透過光を検出するやり方もある。
【0033】更に、テーブル移動例としたが、レーザ照
射部及び監視カメラ部を代わりに移動させる例もありう
る。
【0034】
【発明の効果】本発明によれば、QFPのパッケージ装
置において、対向する1辺を監視用、他辺を加工用とし
たことによって、加工対象となるダムバーの除去がレー
ザ切断による塵芥等の悪影響を受けることなく可能にな
った。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のダムバー切断装置のシステム構成実施
例図である。
【図2】本発明で加工対象とする直列3連式半導体パッ
ケージ装置の平面図である。
【図3】本発明で加工対象とする直列3連式半導体パッ
ケージ装置の略図である。
【図4】本発明でのダムバー切断後の半導体装置の平面
図である。
【図5】本発明の加工ラインL1と監視ラインL2とを示
す図である。
【図6】本発明の1つの半導体装置のダムバー切断手順
を示す図である。
【図7】図8との対比で示したサイズの異なる半導体装
置での初期位置決めを示す図である。
【図8】図7との対比で示したサイズの異なる半導体装
置での初期位置決めを示す図である。
【図9】本発明の半導体装置の横断面図である。
【図10】本発明のマイコン30による制御のための各
種信号のタイムチャートである。
【符号の説明】
1 3連式QFP 2、3、4 半導体部 #1、#2、#3、23 半導体装置 5A〜5D リードフレーム本体 5、6、7、12、13、14、15、24、25 リ
ードフレーム 8A〜8D ダムバー 21 レーザ発生部 22 テーブル 26 集束レンズ 27 ダイクロックミラー 28 ハーフミラー 29 検出部 30 マイコン 31 監視カメラ部 32 レーザ照射部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 桜井 茂行 茨城県土浦市神立町650番地 日立建機株 式会社土浦工場内 (72)発明者 長野 義也 茨城県土浦市神立町650番地 日立建機株 式会社土浦工場内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 樹脂封止済の四角形半導体部と、四角形
    の少なくとも対向する2辺から辺に直交する方向に導出
    されたリードフレームと、各リードフレームのダムバー
    と、より成る半導体装置において、上記対向する一方の
    辺のリードフレーム配列順序を検出する検出手段と、対
    向する他方の辺のリードフレームのダムバーに、上記検
    出手段で得たリードフレーム配列順序で定まるダムバー
    出現位置のタイミングに同期してレーザビームを照射す
    るレーザ照射手段と、より成る半導体装置のフレームダ
    ムバー切断装置。
  2. 【請求項2】 樹脂封止済の四角形半導体部と、四角形
    の各辺から辺に直交する方向に導出されたリードフレー
    ムと、各リードフレームのダムバーと、より成る半導体
    装置において、該半導体装置を載せて加工対象のリード
    フレームの配列方向に沿って移動する移動部と、該移動
    部に直交する方向の固定位置に設置され、加工対象のダ
    ムバーの位置にレーザビームを照射可能とするレーザ照
    射部と、該加工対象のダムバーの存在する辺に対向する
    辺のリードフレームを臨む方向に設置され、半導体装置
    の移動で順次現れる、該対向する辺のリードフレームの
    配列順序を検出する検出手段と、該検出したリードフレ
    ームから、半導体装置の移動で順次現れる、上記加工対
    象のリードフレームのタブ位置を見つけ、該タブ出現位
    置に同期して上記レーザ照射部へのレーザビームの放出
    を行わせる制御手段と、より成る半導体装置のフレーム
    ダムバー切断装置。
  3. 【請求項3】 上記レーザ照射部と検出手段との設置位
    置は、半導体装置の対向する2辺の幅及びリードフレー
    ムの長さに応じて可変化した請求項2の半導体装置のフ
    レームダムバー切断装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19581386C2 (de) * 1994-10-13 1998-07-23 Hitachi Construction Machinery Vorrichtung und Verfahren zum Schneiden von Hemmstegen (Dam-bars)
JP2006255761A (ja) * 2005-03-18 2006-09-28 Disco Abrasive Syst Ltd レーザー加工装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19581386C2 (de) * 1994-10-13 1998-07-23 Hitachi Construction Machinery Vorrichtung und Verfahren zum Schneiden von Hemmstegen (Dam-bars)
JP2006255761A (ja) * 2005-03-18 2006-09-28 Disco Abrasive Syst Ltd レーザー加工装置
JP4664713B2 (ja) * 2005-03-18 2011-04-06 株式会社ディスコ レーザー加工装置

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