JPH07183654A - 半導体装置の実装方法 - Google Patents

半導体装置の実装方法

Info

Publication number
JPH07183654A
JPH07183654A JP34529893A JP34529893A JPH07183654A JP H07183654 A JPH07183654 A JP H07183654A JP 34529893 A JP34529893 A JP 34529893A JP 34529893 A JP34529893 A JP 34529893A JP H07183654 A JPH07183654 A JP H07183654A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
leads
laser light
lead
semiconductor device
irradiated
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP34529893A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshimasa Saito
吉正 斎藤
Koichi Chiba
宏一 千葉
Tetsuo Kobayashi
哲郎 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Steel Corp
Original Assignee
Nippon Steel Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Steel Corp filed Critical Nippon Steel Corp
Priority to JP34529893A priority Critical patent/JPH07183654A/ja
Publication of JPH07183654A publication Critical patent/JPH07183654A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341Surface mounted components
    • H05K3/3421Leaded components

Landscapes

  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 高い接合性能を確保すると共に、プリント基
板に対して安全且つ的確にリードを接合し得る半導体装
置の実装方法を提供する。 【構成】 基板103に実装されるべき半導体装置10
1のリード102に対して、レーザ光100を照射する
ことにより、リード102を基板103に接合する。リ
ード102の幅とほぼ同等なビーム径を有するレーザ光
100を生成する工程と、レーザ光100をリード10
2の長手方向と交差する方向に、且つ複数のリード10
2に対して走査させる工程と、レーザ光100の走査を
順次反復的に行い、各リード102の全領域に対してレ
ーザ光100が照射されるように、レーザ光100の走
査経路を制御する工程と、を備えている。レーザ光10
0の出力は、走査経路におけるリード102相互間にて
OFFとなるように設定され、リード102上にのみレ
ーザ光100が照射されるようにしたものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザ光を用いて、半
導体装置のリードを基板に接合するようにした半導体装
置の実装方法に関する。
【0002】
【従来の技術】レーザ光を用いる半導体装置の実装方法
は、正確で効率的なものとして、研究開発が行われてい
る。ここで、図6乃至図8に基づき、従来のこの種の半
導体装置の実装方法の例を説明するが、図6において、
半導体装置101の多数のリード102が、プリント基
板103上に予め形成されている半田部104にて接合
されるものとする。
【0003】従来の実装方法によれば、図7に示したよ
うにリード102の長手方向に沿ってレーザ光100を
照射し、そのレーザ熱によって半田部104を溶融する
ことにより行われる。また図8に示したように、リード
102の接合部全体領域を照射し得るビーム径のレーザ
光100を照射するが、特に半田部104の溶融速度に
合わせた速度にてリード102に対して垂直方向からレ
ーザ光100を1回走査させることにより行われる。な
お、この種の実装方法の例としては、例えば特開平4−
263492号公報等に記載されたものが知られてい
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
半導体装置の実装方法において、特に図7に示した例の
場合、前述のようにリード102の長手方向に沿ってレ
ーザ光100を照射するようにしているため、リード1
02は、順次1本づつプリント基板103に接合され
る。そしてこの場合特に、リード102の高さのバラつ
きを吸収することが困難となり、リード102の接合強
度や電気的特性(接合性能)が安定しない等の問題が生
じ得る。また図8に示した例の場合、リード102に対
して大きなビーム径のレーザ光100を順次照射して、
一本づつ接合しなければならないが、その上、そのよう
な大径のレーザ光100の一部がプリント基板103に
照射され、そのプリント基板103にダメージを与える
等の問題があった。
【0005】本発明はかかる実情に鑑み、高い接合性能
を確保すると共に、プリント基板に対して安全且つ的確
にリードを接合し得る半導体装置の実装方法を提供する
ことを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明による半導体装置
の実装方法は、基板に実装されるべき半導体装置のリー
ドに対して、レーザ光を照射することにより、前記リー
ドを前記基板に接合するが、特に、前記リードの幅とほ
ぼ同等なビーム径を有するレーザ光を生成する工程と、
前記レーザ光を前記リードの長手方向と交差する方向
に、且つ複数の前記リードに対して走査させる工程と、
前記レーザ光の走査を順次反復的に行い、各リードの全
領域に対して前記レーザ光が照射されるように、前記レ
ーザ光の走査経路を制御する工程と、を備えている。
【0007】また、前記レーザ光の出力は、前記走査経
路におけるリード相互間にてOFFとなるように設定さ
れ、前記リード上にのみ前記レーザ光が照射されるよう
にしたものである。
【0008】
【作用】本発明によれば、レーザ発振器から発振したレ
ーザ光を、リード幅と同等の大きさのビーム径となるよ
うに集光してリード上に照射する。そしてこのレーザ光
が照射された部分の半田部が溶融した後、隣接するリー
ド上に同様なレーザ光を照射する。この工程を順次反復
して、最初にレーザ光が照射されたリードとその半田部
とが凝固する前に、再びレーザ光が照射される。これに
より、多数のリードを均一且つ的確に基板に接合し、高
い接合性能を得ることができる。
【0009】特に、リード相互間にてレーザ光の照射を
OFFとすることにより、基板にダメージを与えること
なく、リードを適正に接合することができる。
【0010】
【実施例】以下、図1乃至図5に基づき、本発明による
半導体装置の実装方法の好適な実施例を説明する。
【0011】図1は、本発明方法に使用するレーザ半田
付装置の概略構成例を示している。図において、1は第
1ステージ1a(X方向)及び第1ステージ1b(Y方
向)から成るX−Yステージ、2は第1ステージ1aを
移動させる駆動モータ、3は第2ステージ1bを移動さ
せる駆動モータである。第2ステージ1b上にプリント
基板103が載置され、更にプリント基板103上にそ
のリード102が半田部104と整合するように半導体
装置101がセットされる。
【0012】4は駆動モータ2,3の作動を制御する走
査制御部、5はレーザ光源6のレーザ出力を制御する出
力制御部である。レーザ光源6としては、半導体レーザ
等が好適である。7はレーザ光源6によって生成したレ
ーザ光100を平行化するコリメートレンズ、8は集光
レンズである。
【0013】図2は、上記レーザ半田付装置の構成を示
すブロック図である。図において、走査制御部4から駆
動モータ2,3に対してそれぞれパルス信号を送出する
ことにより、X−Yステージ1に対してステップ動作を
行わせ、そしてX−Yステージ1上の半導体装置101
における所望のリード102の所望の位置に、レーザ光
100を照射することができる。例えば、そのための一
構成例として、X−Yステージ1上方の適所に半導体装
置101まわりを撮影し得るビデオカメラ等の撮像手段
を設置し、この画像信号を画像認識処理部9へ送出す
る。そしてこの画像認識処理部9にて認識・処理された
データを座標データ10と共に走査制御部4へ供給し
て、これによりレーザ光100の照射位置が正確に制御
される。
【0014】一方、出力制御部5からレーザ光源6をO
N/OFFさせるパルス信号が送出されるが、この出力
制御部5のパルス信号は、走査制御部4のパルス信号と
対応させ、つまりX−Yステージ1の停止中にレーザ光
100を照射すると共に、X−Yステージ1の移動中に
はそのレーザ光100の照射を停止するようにすること
ができる。またレーザ光100の照射出力及び照射時間
等は、パルス信号の波形に応じて任意に設定することが
できる。また、レーザ光源6を連続して作動させて、連
続的にレーザ光100を照射させるようにすることも可
能である。その場合、レーザ光100の光路中の適所シ
ャッタ11を設け、このシャッタ11を該光路に対して
所定のタイミングで挿脱することによって、リード10
2に対するレーザ光100の照射タイミングを制御する
ことができる。
【0015】更に、各リード102に対して順次レーザ
光100を照射する場合、レーザ光源6からのレーザ光
100の光路中に反射ミラー12(図2参照)を配置
し、この反射ミラー10の反射角度を走査制御部4によ
って制御するように構成してもよい。この場合にも、所
望のリード102の所望の位置に、レーザ光100を照
射することができる。
【0016】次に上記のように構成された装置を用い
て、半導体装置101を実装する具体的方法を説明す
る。レーザ光源6においてレーザ発振器から発振したレ
ーザ光100は、集光レンズ8等で成る光学レンズ系に
てリード102の幅と同等の大きさ(好適にはリード1
02の幅以下)のビーム径となるように集光される。か
かるレーザ光100は、図1に示されるように、リード
102の上面に向けて照射される。
【0017】レーザ光源6から照射されたレーザ光10
0を走査させる場合、例えば図3に示したように、列設
されたリード102のうちの端部に位置するリード10
2において、その先端部102aから走査が開始され
る。例えば、矢印にて示されるほぼジグザグ状の走査経
路に沿って、レーザ光100の照射が行われる。この場
合、レーザ光100が照射された部分の半田部104が
溶融した後、隣接するリード102上に同様なレーザ光
100を照射する。この工程を順次反復して、最初にレ
ーザ光100が照射されたリード102に対応する半田
部104が凝固する前に、再びレーザ光100を照射す
ることが好ましい。
【0018】また図4に示したように、図示ような概略
ジグザグ状のレーザ光100の走査経路に沿って、リー
ド102の列設方向で往復させながらレーザ光100の
照射を行う際に、その走査経路の往路(実線により示さ
れている)においてのみレーザ出力をONとし、復路
(点線により示されている)においてはOFFとしても
よい。なお、かかるレーザ出力のON/OFF制御は、
出力制御部5により的確に行うことができる。
【0019】ところで、上記のように一定の走査経路に
沿ってレーザ光100を走査させる場合、1つのリード
102からこれに隣接するリード102に移行する際に
そのままレーザ光100を照射し続けると、プリント基
板103に対してダメージを与える危険がある。そこ
で、隣接するリード102間ではレーザ出力をOFFと
することにより、プリント基板103に対するダメージ
を防止した上で、リード102を適正に接合することが
できる。
【0020】この場合、レーザ出力をリード102の列
設ピッチに対応させてON/OFF制御しながら、レー
ザ光100を走査させる。これにより例えば図5に示さ
れるように、各リード102に対してスポット的(図
5、斜線部参照)にレーザ光100が照射され、つまり
リード102上にのみレーザ光100が照射され、その
リード102以外の特にプリント基板103に対しては
レーザ光100は照射されないようにすることができ
る。
【0021】上記の場合、一般には矩形形状を有する半
導体装置101の各辺にてリード102が列設されてい
るが、その矩形の辺単位で上述したレーザ光100の照
射を行ってもよく、また特に半導体装置101の各辺よ
り4方向にリード102が列設配置されている場合に
は、その半導体装置101の周囲を1周するかたちで、
矩形の各辺全体に対してレーザ光100を照射するよう
にしてもよい。
【0022】またリード102の先端部102aから走
査を開始する例を説明したが、このレーザ光100の照
射開始点を、リード102の基部102b(図3参照)
に設定して、この基部102bから始めて先端部102
aで終了するようにしてもよい。更にリード102にお
いてレーザ光100が照射されるべき領域は、少なくと
も先端部102a乃至基部102bの範囲に設定される
が、リード102の垂直部102c(図3)対してレー
ザ光100を照射するようにしてもよい。
【0023】ここで、上記実施例において、走査制御部
4によるステップ動作を行わない場合、特定位置、例え
ばプリント基板103上の適所に設定した認識マーク1
3(図1参照)から、最初にレーザ光100が照射され
るリード102までのパルス数を測定しておく。そして
駆動モータ2,3に付随したエンコーダからのパルス数
を読み取ることにより、リード102の位置を検出する
ことができる。そしてその後、上記エンコーダからのパ
ルス信号に基づき、走査制御部4から出力信号を送出す
ることにより、リード102上にのみレーザ光100を
照射することができる。
【0024】またレーザ光100を照射する際の最初の
位置合わせを行う場合、プリント基板103上の認識マ
ーク13を前記撮像手段によって割り出し、その座標に
基づいてレーザ光100の照射位置を算出することによ
り、正確に位置合わせ制御を行うことができる。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、レ
ーザ光をリードの長手方向と交差する方向に、複数回反
復的に走査させることにより、複数のリードを同時にプ
リント基板に接合して、正確且つ迅速に実装することが
できる。しかも、その場合レーザ光の照射を所定のタイ
ミングにてON/OFF制御して、リードに対してスポ
ット的にレーザ光を照射することにより、プリント基板
にダメージを与えることなく、リードを適正に接合する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の半導体装置の実装方法に係るレーザ半
田付装置の概略構成例を示す斜視図である。
【図2】本発明の半導体装置の実装方法に係る上記レー
ザ半田付装置の構成例を示すブロック図である。
【図3】本発明の半導体装置の実装方法におけるレーザ
光の走査経路の例を示す部分斜視図である。
【図4】本発明の半導体装置の実装方法におけるレーザ
光の走査経路の他の例を示す部分斜視図である。
【図5】本発明の半導体装置の実装方法におけるレーザ
光のスポット的照射例を示す部分斜視図である。
【図6】従来の半導体装置の実装方法に係る半導体装置
まわりの斜視図である。
【図7】従来の半導体装置の実装方法におけるレーザ光
の照射方法の例を示す部分斜視図である。
【図8】従来の半導体装置の実装方法におけるレーザ光
の照射方法の他の例を示す部分斜視図である。
【符号の説明】
1 X−Yステージ 2 駆動モータ 3 駆動モータ 4 走査制御部 5 出力制御部 6 レーザ光源 7 コリメートレンズ 8 集光レンズ 9 画像認識処理部 10 座標データ 11 シャッタ 12 反射ミラー 13 認識マーク 100 レーザ光 101 半導体装置 102 リード 103 プリント基板 104 半田部

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板に実装されるべき半導体装置のリー
    ドに対して、レーザ光を照射することにより、前記リー
    ドを前記基板に接合するようにした半導体装置の実装方
    法において、 前記リードの幅とほぼ同等なビーム径を有するレーザ光
    を生成する工程と、 前記レーザ光を前記リードの長手方向と交差する方向
    に、且つ複数の前記リードに対して走査させる工程と、 前記レーザ光の走査を順次反復的に行い、各リードの全
    領域に対して前記レーザ光が照射されるように、前記レ
    ーザ光の走査経路を制御する工程と、を備えていること
    を特徴とする半導体装置の実装方法。
  2. 【請求項2】 前記レーザ光の出力は、前記走査経路に
    おける前記リード相互間にてOFFとなるように設定さ
    れ、前記リード上にのみ前記レーザ光が照射されるよう
    にしたことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置の
    実装方法。
JP34529893A 1993-12-21 1993-12-21 半導体装置の実装方法 Withdrawn JPH07183654A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34529893A JPH07183654A (ja) 1993-12-21 1993-12-21 半導体装置の実装方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34529893A JPH07183654A (ja) 1993-12-21 1993-12-21 半導体装置の実装方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07183654A true JPH07183654A (ja) 1995-07-21

Family

ID=18375649

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP34529893A Withdrawn JPH07183654A (ja) 1993-12-21 1993-12-21 半導体装置の実装方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07183654A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7265315B2 (en) * 2004-06-10 2007-09-04 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Method of joining terminals by soldering
JP2019518334A (ja) * 2016-06-10 2019-06-27 クルーシャル マシンズ カンパニー リミテッド リールツーリールレーザーリフロー装置および方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7265315B2 (en) * 2004-06-10 2007-09-04 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Method of joining terminals by soldering
JP2019518334A (ja) * 2016-06-10 2019-06-27 クルーシャル マシンズ カンパニー リミテッド リールツーリールレーザーリフロー装置および方法
US11257783B2 (en) 2016-06-10 2022-02-22 Laserssel Co., Ltd. Device and method for reel-to-reel laser reflow
US11515287B2 (en) 2016-06-10 2022-11-29 Laserssel Co., Ltd. Device and method for reel-to-reel laser reflow

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7545024B2 (en) Laser beam processing apparatus for processing semiconductor wafer in production of semiconductor devices, laser beam processing method executed therein, and such semiconductor wafer processed thereby
US5580471A (en) Apparatus and method for material treatment and inspection using fiber-coupled laser diode
US6888096B1 (en) Laser drilling method and laser drilling device
JPH10323785A (ja) レーザ加工装置
EP1231013A1 (en) Method and apparatus for laser drilling
JPS62144875A (ja) エレクトロニクス構成要素を回路基板にはんだづけする装置
JP4048873B2 (ja) 位置決め加工方法
JPH07183654A (ja) 半導体装置の実装方法
JP2004358550A (ja) レーザ加工方法およびレーザ加工装置
JP2001096390A (ja) レーザ加工装置用コンタクトマスクのクリーニング方法及びマスククリーニング機構付きレーザ加工装置
JP3378242B1 (ja) レーザ加工方法及び加工装置
JP7339031B2 (ja) レーザー加工装置
JP2001001171A (ja) 表示基板用レーザ加工装置
JP4039306B2 (ja) 立体回路パターンの形成方法、装置、及びこれらを用いて製造される立体回路板
JP2000288753A (ja) レーザトリミング装置及び方法
JP2001079678A (ja) レーザ穴あけ加工方法及び加工装置
JP2011009243A (ja) はんだ溶解方法、実装基板の生産方法、およびはんだ溶解装置
JP3368425B2 (ja) レーザスキャン方法
JP3140968B2 (ja) レーザ加工装置
JPS61208893A (ja) はんだ付け方法
JP2949883B2 (ja) ボンディング装置
JPS63168080A (ja) 電子部品の半田付け方法
JPH038868B2 (ja)
JPS63168084A (ja) 電子部品の半田付け方法
JP2003185415A (ja) リード線検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20010306