JPH06168433A - 磁気ヘッド位置調整方法及びその装置 - Google Patents
磁気ヘッド位置調整方法及びその装置Info
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- JPH06168433A JPH06168433A JP34172792A JP34172792A JPH06168433A JP H06168433 A JPH06168433 A JP H06168433A JP 34172792 A JP34172792 A JP 34172792A JP 34172792 A JP34172792 A JP 34172792A JP H06168433 A JPH06168433 A JP H06168433A
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- Japan
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- magnetic head
- tape
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- optical measuring
- measurement
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- Adjustment Of The Magnetic Head Position Track Following On Tapes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 空間上６自由度でのマイクロメータ精度の磁
気ヘッド位置調整を行うこと。 【構成】 磁気ヘッド３０のテープ走行面を光学式測定
器４２の変位量（高さ）の測定結果から、測定結果の精
度、すなわちマイクロメータ精度で前後方向（突き出
し）の位置調整が出来る。また、磁気ヘッド３０のテー
プ走行面の離れた２カ所の光学式測定器の変位量（高
さ）及びその変曲位置の測定結果から、測定結果の精
度、すなわちマイクロメータ精度で、傾き（あおり）方
向、回転方向（アジマス）、横方向の位置調整が出来
る。また、チップをトラック高さ方向に動かし、トラッ
ク高さ方向の測定結果から、測定結果の精度、すなわち
マイクロメータ精度でトラック高さ方向の位置調整が出
来る。
気ヘッド位置調整を行うこと。 【構成】 磁気ヘッド３０のテープ走行面を光学式測定
器４２の変位量（高さ）の測定結果から、測定結果の精
度、すなわちマイクロメータ精度で前後方向（突き出
し）の位置調整が出来る。また、磁気ヘッド３０のテー
プ走行面の離れた２カ所の光学式測定器の変位量（高
さ）及びその変曲位置の測定結果から、測定結果の精
度、すなわちマイクロメータ精度で、傾き（あおり）方
向、回転方向（アジマス）、横方向の位置調整が出来
る。また、チップをトラック高さ方向に動かし、トラッ
ク高さ方向の測定結果から、測定結果の精度、すなわち
マイクロメータ精度でトラック高さ方向の位置調整が出
来る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気ヘッド位置調整方
法及びその装置に関し、より詳細には、磁気ヘッドのガ
イドに対するマイクロメータ精度の組み付け技術として
期待されている磁気ヘッド位置調整方法及びその装置に
関するものである。
法及びその装置に関し、より詳細には、磁気ヘッドのガ
イドに対するマイクロメータ精度の組み付け技術として
期待されている磁気ヘッド位置調整方法及びその装置に
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ＤＣＣ，ＤＭＲ等の磁気ヘッドのデジタ
ル化に伴うトラック数の増加やトラックピッチの狭細化
に対し、磁気ヘッド間及びガイドとの組み付け精度にお
いて、空間上６自由度を持ったマイクロメータ精度の位
置合わせ技術が必要になる。磁気ヘッドのガイドへの組
み付け技術としては、従来からテープ再生による方法が
開発されている。例えば、特開平２−１９５５０８号公
報の「テープレコーダのアジマス調整装置」は、テープ
レコーダにおける磁気ヘッドのテープ走行方向に対する
傾斜角調整の自動化を、テスト用テープに記録されたテ
スト信号の周波数に対応した段階調整、すなわち、高周
波数になるに従って位相差に関する微細な調整を行うよ
うにしたものである。また、特開昭５４−６３８０９号
公報の「テープレコーダにおけるヘッド角度調整装置」
は、再生ヘッドのステレオ再生出力端の一方に接続され
る第１の増幅回路と、該増幅回路の出力端に接続された
第１のレベル表示装置と、前記再生ヘッドのステレオ再
生出力端の他方に接続される第２の増幅回路と、該増幅
回路の出力端に接続されている第２のレベル表示装置か
ら成り、２つの表示装置を監視してヘッドの角度を正確
に保持するものである。
ル化に伴うトラック数の増加やトラックピッチの狭細化
に対し、磁気ヘッド間及びガイドとの組み付け精度にお
いて、空間上６自由度を持ったマイクロメータ精度の位
置合わせ技術が必要になる。磁気ヘッドのガイドへの組
み付け技術としては、従来からテープ再生による方法が
開発されている。例えば、特開平２−１９５５０８号公
報の「テープレコーダのアジマス調整装置」は、テープ
レコーダにおける磁気ヘッドのテープ走行方向に対する
傾斜角調整の自動化を、テスト用テープに記録されたテ
スト信号の周波数に対応した段階調整、すなわち、高周
波数になるに従って位相差に関する微細な調整を行うよ
うにしたものである。また、特開昭５４−６３８０９号
公報の「テープレコーダにおけるヘッド角度調整装置」
は、再生ヘッドのステレオ再生出力端の一方に接続され
る第１の増幅回路と、該増幅回路の出力端に接続された
第１のレベル表示装置と、前記再生ヘッドのステレオ再
生出力端の他方に接続される第２の増幅回路と、該増幅
回路の出力端に接続されている第２のレベル表示装置か
ら成り、２つの表示装置を監視してヘッドの角度を正確
に保持するものである。
【０００３】また、特開平３−４６１１５号公報の「ヘ
ッド位置決め制御装置」は、ライトヘッドの中心とリー
ドヘッドのトラックの中心を容易に合わせられるように
し、複数の磁気テープ装置間の互換性を良好にしたもの
である。
ッド位置決め制御装置」は、ライトヘッドの中心とリー
ドヘッドのトラックの中心を容易に合わせられるように
し、複数の磁気テープ装置間の互換性を良好にしたもの
である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来のテープ再生方法では、テープ幅精度、磁気記録精
度、テープ走行系の安定性、環境条件によるテープの伸
縮等、テープを媒体とすることに起因する精度劣化によ
り、マイクロメータ精度の安定した位置調整は困難であ
った。しかも、調整は、空間上の２自由度のみであっ
た。また、磁気ヘッドの位置によりテープ再生そのもの
が出来ないという問題点があった。
来のテープ再生方法では、テープ幅精度、磁気記録精
度、テープ走行系の安定性、環境条件によるテープの伸
縮等、テープを媒体とすることに起因する精度劣化によ
り、マイクロメータ精度の安定した位置調整は困難であ
った。しかも、調整は、空間上の２自由度のみであっ
た。また、磁気ヘッドの位置によりテープ再生そのもの
が出来ないという問題点があった。
【０００５】本発明は、このように実情に鑑みてなされ
たもので、ガイドと磁気ヘッドの組み付け精度を上げる
とともに、空間上の６自由度を合わせる磁気ヘッド位置
調整方法及びその装置を提供するものである。
たもので、ガイドと磁気ヘッドの組み付け精度を上げる
とともに、空間上の６自由度を合わせる磁気ヘッド位置
調整方法及びその装置を提供するものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、（１）テープ走行時のテープをガイドす
る案内手段に対して、該案内手段に設けられ、テープ走
行面と接する磁気ヘッドの高さ方向、横方向、突き出し
方向、チルト、アジマス及びアオリの６軸の位置合わせ
を行うこと、更には、（２）前記磁気ヘッドのテープ走
行面に対して、光学式測定手段を用いて位置合わせを行
うこと、或いは、（３）テープ走行時のテープをガイド
する案内手段と、該案内手段に設けられ、テープ走行面
と接するように配置された磁気ヘッドと、前記テープ走
行面の位置を測定する光学式測定手段と、該光学式測定
手段による測定結果に基づき、前記テープ走行面の位置
を演算する演算手段と、前記磁気ヘッドを移動させる移
動手段とから成ることを特徴とするものである。
成するために、（１）テープ走行時のテープをガイドす
る案内手段に対して、該案内手段に設けられ、テープ走
行面と接する磁気ヘッドの高さ方向、横方向、突き出し
方向、チルト、アジマス及びアオリの６軸の位置合わせ
を行うこと、更には、（２）前記磁気ヘッドのテープ走
行面に対して、光学式測定手段を用いて位置合わせを行
うこと、或いは、（３）テープ走行時のテープをガイド
する案内手段と、該案内手段に設けられ、テープ走行面
と接するように配置された磁気ヘッドと、前記テープ走
行面の位置を測定する光学式測定手段と、該光学式測定
手段による測定結果に基づき、前記テープ走行面の位置
を演算する演算手段と、前記磁気ヘッドを移動させる移
動手段とから成ることを特徴とするものである。
【０００７】
【作用】磁気ヘッドのテープ走行面を光学式測定器の変
位量（高さ）の測定結果から、測定結果の精度、すなわ
ちマイクロメータ精度で前後方向（突き出し）の位置調
整が出来る。また、磁気ヘッドのテープ走行面の離れた
２カ所の光学式測定器の変位量（高さ）及びその変曲位
置の測定結果から、測定結果の精度、すなわちマイクロ
メータ精度で、傾き（あおり）方向、回転方向（アジマ
ス）、横方向の位置調整が出来る。また、チップをトラ
ック高さ方向に動かし（測定器をトラック高さ方向に動
かしてもよい）トラック高さ方向の測定結果から、測定
結果の精度、すなわちマイクロメータ精度でトラック高
さ方向の位置調整が出来る。チルト方向の位置調整につ
いては、ヘッドを構成する材料の光の反射率の違いを利
用する。光学式測定器の変位置（高さ）の変曲位置の測
定結果と、光学式測定器反射量の変曲位置から距離を測
定し、その距離からチルトを演算すると、測定結果の精
度、すなわちマイクロメータ精度でチルト方向の位置調
整が出来る。このようにして、空間上６自由度でマイク
ロメータ等を使用し、高精度の磁気ヘッド位置調整が可
能となる。
位量（高さ）の測定結果から、測定結果の精度、すなわ
ちマイクロメータ精度で前後方向（突き出し）の位置調
整が出来る。また、磁気ヘッドのテープ走行面の離れた
２カ所の光学式測定器の変位量（高さ）及びその変曲位
置の測定結果から、測定結果の精度、すなわちマイクロ
メータ精度で、傾き（あおり）方向、回転方向（アジマ
ス）、横方向の位置調整が出来る。また、チップをトラ
ック高さ方向に動かし（測定器をトラック高さ方向に動
かしてもよい）トラック高さ方向の測定結果から、測定
結果の精度、すなわちマイクロメータ精度でトラック高
さ方向の位置調整が出来る。チルト方向の位置調整につ
いては、ヘッドを構成する材料の光の反射率の違いを利
用する。光学式測定器の変位置（高さ）の変曲位置の測
定結果と、光学式測定器反射量の変曲位置から距離を測
定し、その距離からチルトを演算すると、測定結果の精
度、すなわちマイクロメータ精度でチルト方向の位置調
整が出来る。このようにして、空間上６自由度でマイク
ロメータ等を使用し、高精度の磁気ヘッド位置調整が可
能となる。
【０００８】
【実施例】実施例について、図面を参照して以下に説明
する。図１は、本発明による磁気ヘッド位置調整方法の
一実施例を説明するための構成図で、図２は、図１にお
けるテープをガイドする案内治具（以下ガイドと略す）
の構成図、図３（ａ）,（ｂ）は、図１における磁気ヘ
ッドの構成図である。図中、１０は組み立ての終わった
磁気ヘッドユニット、２０はガイド、２１はガイドのＡ
ＺＴＥＣ部、２２はガイドのＦＡＴＧ面、２３はガイド
の窓部、３０は磁気ヘッド、３１は磁気ヘッドのテープ
走行面、３２は磁気ヘッドのトラック、３３は磁気ヘッ
ドの曲面のもっと高い場所（以下トップと略す）、３４
は磁気ヘッドの光学式測定器による測定面、３５は離れ
た磁気ヘッドの光学式測定器による測定面、３６は磁気
ヘッドのトラック高さ方向の光学式測定器による測定面
である。
する。図１は、本発明による磁気ヘッド位置調整方法の
一実施例を説明するための構成図で、図２は、図１にお
けるテープをガイドする案内治具（以下ガイドと略す）
の構成図、図３（ａ）,（ｂ）は、図１における磁気ヘ
ッドの構成図である。図中、１０は組み立ての終わった
磁気ヘッドユニット、２０はガイド、２１はガイドのＡ
ＺＴＥＣ部、２２はガイドのＦＡＴＧ面、２３はガイド
の窓部、３０は磁気ヘッド、３１は磁気ヘッドのテープ
走行面、３２は磁気ヘッドのトラック、３３は磁気ヘッ
ドの曲面のもっと高い場所（以下トップと略す）、３４
は磁気ヘッドの光学式測定器による測定面、３５は離れ
た磁気ヘッドの光学式測定器による測定面、３６は磁気
ヘッドのトラック高さ方向の光学式測定器による測定面
である。
【０００９】前記ガイド２０は、テープ走行時のテープ
高さを規制するＡＺＴＥＣ部２１と走行面を規制するＦ
ＡＴＧ面２２を有する。ここで、磁気ヘッド３０の調整
としては、ＡＺＴＥＣ部２１に規制されたテープ高さに
対するトラック高さ、ＦＡＴＧ面２２に対する突き出し
量（前後方向）、傾き（アオリ）、テープ走行方向に対
する回転（アジマス）、磁気ヘッド３０のトップ面３３
からのトラック３２位置（チルト）がある。
高さを規制するＡＺＴＥＣ部２１と走行面を規制するＦ
ＡＴＧ面２２を有する。ここで、磁気ヘッド３０の調整
としては、ＡＺＴＥＣ部２１に規制されたテープ高さに
対するトラック高さ、ＦＡＴＧ面２２に対する突き出し
量（前後方向）、傾き（アオリ）、テープ走行方向に対
する回転（アジマス）、磁気ヘッド３０のトップ面３３
からのトラック３２位置（チルト）がある。
【００１０】図４は、本発明による磁気ヘッド位置調整
装置の構成図で、図５及び図６は、横方向の測定結果、
図７は、トラック高さ方向の測定結果を示す図である。
図中、４１はガイド取り付け基準面、４２は光学式測定
器（レーザ変位計）、４３は演算機、４４はマイクロメ
ータ、４５は多軸ステージで、その他、図１〜図３と同
じ作用をする部分は同一の符号を付してある。まず、ガ
イドの基準面４１を装置に固定する。次に、磁気ヘッド
３０をガイド２０の窓部２３に挿入して光学式測定器４
２（この例ではレーザ変位計を使用）の測定範囲まで磁
気ヘッド３０を移動させる。光学式測定器４２による測
定は、磁気ヘッド３０のテープ走行面３１を多軸ステー
ジ４５により矢印方向３４，３５，３６に移動させて測
定する。磁気ヘッド３０のテープ走行面３１を光学式測
定器４２で測定し、変位量（高さ）の測定結果ｂ1か
ら、ＦＡＴＧ面２２に対する突き出し量（前後方向）の
位置まで磁気ヘッド３０を移動する。
装置の構成図で、図５及び図６は、横方向の測定結果、
図７は、トラック高さ方向の測定結果を示す図である。
図中、４１はガイド取り付け基準面、４２は光学式測定
器（レーザ変位計）、４３は演算機、４４はマイクロメ
ータ、４５は多軸ステージで、その他、図１〜図３と同
じ作用をする部分は同一の符号を付してある。まず、ガ
イドの基準面４１を装置に固定する。次に、磁気ヘッド
３０をガイド２０の窓部２３に挿入して光学式測定器４
２（この例ではレーザ変位計を使用）の測定範囲まで磁
気ヘッド３０を移動させる。光学式測定器４２による測
定は、磁気ヘッド３０のテープ走行面３１を多軸ステー
ジ４５により矢印方向３４，３５，３６に移動させて測
定する。磁気ヘッド３０のテープ走行面３１を光学式測
定器４２で測定し、変位量（高さ）の測定結果ｂ1か
ら、ＦＡＴＧ面２２に対する突き出し量（前後方向）の
位置まで磁気ヘッド３０を移動する。
【００１１】次に、磁気ヘッド３０のテープ走行面のＬ
離れた２カ所を光学式測定器４２により測定する。その
変位量（高さ）ａ1，ａ2の変曲点の位置ｂ1，ｂ2の２つ
の変位ｄ1，ｄ2及びその変曲位置ｆ1，ｆ2の値を演算機
４３により演算する。２カ所の測定結果のうち、２つの
変位量（高さ）ｄ1，ｄ2の測定結果を用いて傾き（あお
り）方向、２つの変曲位置ｆ1，ｆ2の測定結果から回転
方向（アジマス）及び横方向の位置を演算機４３を用い
て演算し、それぞれの規定位置に磁気ヘッド３０を移動
する。また、光学式測定器４２をトラック高さ方向３６
に動かして（磁気ヘッド３０をトラック高さ方向３６に
動かしてもよい）トラック高さ方向３６の測定を行う。
その測定結果ｉから変曲点ｊの位置ｋを演算機４３によ
り演算し、トラック高さ方向の規定位置に磁気ヘッド３
０を移動する。チルト方向の位置調整については、磁気
ヘッドを構成する材料の光の反射率の違いを利用する。
光学式測定器の変位量（高さ）ａ1の変曲点ｂ1の位置ｆ
1の測定結果と、光学式測定器反射強度ｈ1の変曲点ｃの
位置ｇからの距離Ｍの測定を行う。その測定結果からチ
ルトを演算機４３により演算し、チルト方向の規定位置
に磁気ヘッド３０を移動する。以上の移動はすべて磁気
ヘッド３０を取り付けた６自由度移動させるマイクロメ
ータ４４で行う。
離れた２カ所を光学式測定器４２により測定する。その
変位量（高さ）ａ1，ａ2の変曲点の位置ｂ1，ｂ2の２つ
の変位ｄ1，ｄ2及びその変曲位置ｆ1，ｆ2の値を演算機
４３により演算する。２カ所の測定結果のうち、２つの
変位量（高さ）ｄ1，ｄ2の測定結果を用いて傾き（あお
り）方向、２つの変曲位置ｆ1，ｆ2の測定結果から回転
方向（アジマス）及び横方向の位置を演算機４３を用い
て演算し、それぞれの規定位置に磁気ヘッド３０を移動
する。また、光学式測定器４２をトラック高さ方向３６
に動かして（磁気ヘッド３０をトラック高さ方向３６に
動かしてもよい）トラック高さ方向３６の測定を行う。
その測定結果ｉから変曲点ｊの位置ｋを演算機４３によ
り演算し、トラック高さ方向の規定位置に磁気ヘッド３
０を移動する。チルト方向の位置調整については、磁気
ヘッドを構成する材料の光の反射率の違いを利用する。
光学式測定器の変位量（高さ）ａ1の変曲点ｂ1の位置ｆ
1の測定結果と、光学式測定器反射強度ｈ1の変曲点ｃの
位置ｇからの距離Ｍの測定を行う。その測定結果からチ
ルトを演算機４３により演算し、チルト方向の規定位置
に磁気ヘッド３０を移動する。以上の移動はすべて磁気
ヘッド３０を取り付けた６自由度移動させるマイクロメ
ータ４４で行う。
【００１２】以上で、空間６自由度でマイクロメータ精
度の位置調整を完了し、接着剤等でガイド２０と磁気ヘ
ッド３０を固定することで組み付けを終了する。なお、
上記光学式測定器４２（ここでは、レーザ変位計を用い
て）は、レーザを用いたものであれば良い。また、光学
式測定器４２は水平・垂直に複数箇所測定を行っても良
く、傾め方向に複数箇所測定しても良い。また、測定す
るために光学式測定器４２を多数台用いても良いし、図
４のように光学式測定器４２を多軸ステージ４５等に取
り付けて動かしながら測定を行っても良い。また、演算
機は、コンピュータに限定することなく、演算ができる
ものであれば何でも良い。
度の位置調整を完了し、接着剤等でガイド２０と磁気ヘ
ッド３０を固定することで組み付けを終了する。なお、
上記光学式測定器４２（ここでは、レーザ変位計を用い
て）は、レーザを用いたものであれば良い。また、光学
式測定器４２は水平・垂直に複数箇所測定を行っても良
く、傾め方向に複数箇所測定しても良い。また、測定す
るために光学式測定器４２を多数台用いても良いし、図
４のように光学式測定器４２を多軸ステージ４５等に取
り付けて動かしながら測定を行っても良い。また、演算
機は、コンピュータに限定することなく、演算ができる
ものであれば何でも良い。
【００１３】このように、本発明は、磁気ヘッドのテー
プ走行面を測定するための光学式測定器と、該光学式測
定器の測定結果を処理する演算処理システムと、磁気ヘ
ッドを６自由度移動させるマイクロメータにより、ガイ
ドの基準面に対して光学式測定器の測定結果をもとに位
置合わせすることができる。
プ走行面を測定するための光学式測定器と、該光学式測
定器の測定結果を処理する演算処理システムと、磁気ヘ
ッドを６自由度移動させるマイクロメータにより、ガイ
ドの基準面に対して光学式測定器の測定結果をもとに位
置合わせすることができる。
【００１４】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によると、以下のような効果がある。すなわち、磁気ヘ
ッドを光学式測定器により測定することで、測定精度、
すなわちマイクロメータ精度で前後方向（突き出し）、
高さ方向、回転方向（アジマス）、横方向の位置、傾き
（アオリ）並びにチルト方向の位置調整が出来る。この
ようにして、空間上６自由度でマイクロメータ精度の磁
気ヘッド位置調整が可能となる。
によると、以下のような効果がある。すなわち、磁気ヘ
ッドを光学式測定器により測定することで、測定精度、
すなわちマイクロメータ精度で前後方向（突き出し）、
高さ方向、回転方向（アジマス）、横方向の位置、傾き
（アオリ）並びにチルト方向の位置調整が出来る。この
ようにして、空間上６自由度でマイクロメータ精度の磁
気ヘッド位置調整が可能となる。
【図１】本発明による磁気ヘッド位置調整方法の一実施
例を説明するための構成図である。
例を説明するための構成図である。
【図２】図１におけるガイドの構成図である。
【図３】図１における磁気ヘッドの構成図である。
【図４】本発明による磁気ヘッド位置調整装置を示す図
である。
である。
【図５】本発明におけるテープ走行面の横方向の測定結
果（その１）を示す図である。
果（その１）を示す図である。
【図６】本発明におけるテープ走行面の横方向の測定結
果（その２）を示す図である。
果（その２）を示す図である。
【図７】本発明におけるテープ走行面のトラック高さ方
向の測定結果を示す図である。
向の測定結果を示す図である。
１０…組み立ての終わった磁気ヘッドユニット、２０…
ガイド、２１…ガイドのＡＺＴＥＣ部、２２…ガイドの
ＦＡＴＧ面、２３…ガイドの窓部、３０…磁気ヘッド、
３１…磁気ヘッドのテープ走行面、３２…磁気ヘッドの
トラック、３３…磁気ヘッドのトップ、３４…磁気ヘッ
ドの光学式測定器による測定面、３５…離れた磁気ヘッ
ドの光学式測定器による測定面、３６…磁気ヘッドのト
ラック高さ方向の光学式測定器による測定面。 Ｘ：磁気ヘッドのテープ走行方向，Ｙ：磁気ヘッドの突
き出し方向，Ｚ：磁気ヘッドのトラック高さ方向。 Ｌ ：テープ走行面の測定ヵ所の距離，Ｉ：レーザ光の
反射量。 ａ1：３４にそって測定した変位量。 ａ2：３５にそって測定した変位量。 ｂ1：３４にそって測定した変位量の変曲点。 ｂ2：３５にそって測定した変位量の変曲点。 ｄ1：３４にそって測定した変位量の変曲点の変位量
（高さ）。 ｄ2：３５にそって測定した変位量の変曲点の変位量
（高さ）。 ｃ ：３４にそって測定した反射強度の変曲点。 ｅ ：３４にそって測定した反射強度の変位点。 ｆ1：３４にそって測定した変位量の変曲位置。 ｆ2：３５にそって測定した変位量の変曲位置。 ｇ ：３４にそって測定した反射強度の変曲位置。 ｈ1：３４にそって測定した反射強度。 ｈ2：３５にそって測定した反射強度。 ｉ ：トラック高さ方向の測定結果。 ｊ ：トラック高さ方向の変曲点。 ｋ ：トラック高さ方向の変曲位置。 Ｍ ：光学式測定器の変位量ａ1の変曲点ｂ1の位置ｆ1と
反射強度ｈ1の変曲点ｃの位置からの距離。
ガイド、２１…ガイドのＡＺＴＥＣ部、２２…ガイドの
ＦＡＴＧ面、２３…ガイドの窓部、３０…磁気ヘッド、
３１…磁気ヘッドのテープ走行面、３２…磁気ヘッドの
トラック、３３…磁気ヘッドのトップ、３４…磁気ヘッ
ドの光学式測定器による測定面、３５…離れた磁気ヘッ
ドの光学式測定器による測定面、３６…磁気ヘッドのト
ラック高さ方向の光学式測定器による測定面。 Ｘ：磁気ヘッドのテープ走行方向，Ｙ：磁気ヘッドの突
き出し方向，Ｚ：磁気ヘッドのトラック高さ方向。 Ｌ ：テープ走行面の測定ヵ所の距離，Ｉ：レーザ光の
反射量。 ａ1：３４にそって測定した変位量。 ａ2：３５にそって測定した変位量。 ｂ1：３４にそって測定した変位量の変曲点。 ｂ2：３５にそって測定した変位量の変曲点。 ｄ1：３４にそって測定した変位量の変曲点の変位量
（高さ）。 ｄ2：３５にそって測定した変位量の変曲点の変位量
（高さ）。 ｃ ：３４にそって測定した反射強度の変曲点。 ｅ ：３４にそって測定した反射強度の変位点。 ｆ1：３４にそって測定した変位量の変曲位置。 ｆ2：３５にそって測定した変位量の変曲位置。 ｇ ：３４にそって測定した反射強度の変曲位置。 ｈ1：３４にそって測定した反射強度。 ｈ2：３５にそって測定した反射強度。 ｉ ：トラック高さ方向の測定結果。 ｊ ：トラック高さ方向の変曲点。 ｋ ：トラック高さ方向の変曲位置。 Ｍ ：光学式測定器の変位量ａ1の変曲点ｂ1の位置ｆ1と
反射強度ｈ1の変曲点ｃの位置からの距離。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 八木 有百実 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内 (72)発明者 柿森 伸明 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内
Claims (3)
- 【請求項１】 テープ走行時のテープをガイドする案内
手段に対して、該案内手段に設けられ、テープ走行面と
接する磁気ヘッドの高さ方向，横方向，突き出し方向，
チルト，アジマス及びアオリの６軸の位置合わせを行う
ことを特徴とする磁気ヘッド位置調整方法。 - 【請求項２】 前記磁気ヘッドのテープ走行面に対し
て、光学式測定手段を用いて位置合わせを行うことを特
徴とする請求項１記載の磁気ヘッド位置調整方法。 - 【請求項３】 テープ走行時のテープをガイドする案内
手段と、該案内手段に設けられ、テープ走行面と接する
ように配置された磁気ヘッドと、前記テープ走行面の位
置を測定する光学式測定手段と、該光学式測定手段によ
る測定結果に基づき、前記テープ走行面の位置を演算す
る演算手段と、前記磁気ヘッドを移動させる移動手段と
から成ることを特徴とする磁気ヘッド位置調整装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34172792A JPH06168433A (ja) | 1992-11-27 | 1992-11-27 | 磁気ヘッド位置調整方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34172792A JPH06168433A (ja) | 1992-11-27 | 1992-11-27 | 磁気ヘッド位置調整方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06168433A true JPH06168433A (ja) | 1994-06-14 |
Family
ID=18348309
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34172792A Pending JPH06168433A (ja) | 1992-11-27 | 1992-11-27 | 磁気ヘッド位置調整方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06168433A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR19980045402A (ko) * | 1996-12-10 | 1998-09-15 | 조희재 | 자기헤드의 트랙높이 맞춤장치 및 그 맞춤방법 |
-
1992
- 1992-11-27 JP JP34172792A patent/JPH06168433A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR19980045402A (ko) * | 1996-12-10 | 1998-09-15 | 조희재 | 자기헤드의 트랙높이 맞춤장치 및 그 맞춤방법 |
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