JPH06168433A - 磁気ヘッド位置調整方法及びその装置 - Google Patents
磁気ヘッド位置調整方法及びその装置Info
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- JPH06168433A JPH06168433A JP34172792A JP34172792A JPH06168433A JP H06168433 A JPH06168433 A JP H06168433A JP 34172792 A JP34172792 A JP 34172792A JP 34172792 A JP34172792 A JP 34172792A JP H06168433 A JPH06168433 A JP H06168433A
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- JP
- Japan
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- magnetic head
- tape
- accuracy
- optical measuring
- measurement
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- Adjustment Of The Magnetic Head Position Track Following On Tapes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 空間上6自由度でのマイクロメータ精度の磁
気ヘッド位置調整を行うこと。 【構成】 磁気ヘッド30のテープ走行面を光学式測定
器42の変位量(高さ)の測定結果から、測定結果の精
度、すなわちマイクロメータ精度で前後方向(突き出
し)の位置調整が出来る。また、磁気ヘッド30のテー
プ走行面の離れた2カ所の光学式測定器の変位量(高
さ)及びその変曲位置の測定結果から、測定結果の精
度、すなわちマイクロメータ精度で、傾き(あおり)方
向、回転方向(アジマス)、横方向の位置調整が出来
る。また、チップをトラック高さ方向に動かし、トラッ
ク高さ方向の測定結果から、測定結果の精度、すなわち
マイクロメータ精度でトラック高さ方向の位置調整が出
来る。
気ヘッド位置調整を行うこと。 【構成】 磁気ヘッド30のテープ走行面を光学式測定
器42の変位量(高さ)の測定結果から、測定結果の精
度、すなわちマイクロメータ精度で前後方向(突き出
し)の位置調整が出来る。また、磁気ヘッド30のテー
プ走行面の離れた2カ所の光学式測定器の変位量(高
さ)及びその変曲位置の測定結果から、測定結果の精
度、すなわちマイクロメータ精度で、傾き(あおり)方
向、回転方向(アジマス)、横方向の位置調整が出来
る。また、チップをトラック高さ方向に動かし、トラッ
ク高さ方向の測定結果から、測定結果の精度、すなわち
マイクロメータ精度でトラック高さ方向の位置調整が出
来る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気ヘッド位置調整方
法及びその装置に関し、より詳細には、磁気ヘッドのガ
イドに対するマイクロメータ精度の組み付け技術として
期待されている磁気ヘッド位置調整方法及びその装置に
関するものである。
法及びその装置に関し、より詳細には、磁気ヘッドのガ
イドに対するマイクロメータ精度の組み付け技術として
期待されている磁気ヘッド位置調整方法及びその装置に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】DCC,DMR等の磁気ヘッドのデジタ
ル化に伴うトラック数の増加やトラックピッチの狭細化
に対し、磁気ヘッド間及びガイドとの組み付け精度にお
いて、空間上6自由度を持ったマイクロメータ精度の位
置合わせ技術が必要になる。磁気ヘッドのガイドへの組
み付け技術としては、従来からテープ再生による方法が
開発されている。例えば、特開平2−195508号公
報の「テープレコーダのアジマス調整装置」は、テープ
レコーダにおける磁気ヘッドのテープ走行方向に対する
傾斜角調整の自動化を、テスト用テープに記録されたテ
スト信号の周波数に対応した段階調整、すなわち、高周
波数になるに従って位相差に関する微細な調整を行うよ
うにしたものである。また、特開昭54−63809号
公報の「テープレコーダにおけるヘッド角度調整装置」
は、再生ヘッドのステレオ再生出力端の一方に接続され
る第1の増幅回路と、該増幅回路の出力端に接続された
第1のレベル表示装置と、前記再生ヘッドのステレオ再
生出力端の他方に接続される第2の増幅回路と、該増幅
回路の出力端に接続されている第2のレベル表示装置か
ら成り、2つの表示装置を監視してヘッドの角度を正確
に保持するものである。
ル化に伴うトラック数の増加やトラックピッチの狭細化
に対し、磁気ヘッド間及びガイドとの組み付け精度にお
いて、空間上6自由度を持ったマイクロメータ精度の位
置合わせ技術が必要になる。磁気ヘッドのガイドへの組
み付け技術としては、従来からテープ再生による方法が
開発されている。例えば、特開平2−195508号公
報の「テープレコーダのアジマス調整装置」は、テープ
レコーダにおける磁気ヘッドのテープ走行方向に対する
傾斜角調整の自動化を、テスト用テープに記録されたテ
スト信号の周波数に対応した段階調整、すなわち、高周
波数になるに従って位相差に関する微細な調整を行うよ
うにしたものである。また、特開昭54−63809号
公報の「テープレコーダにおけるヘッド角度調整装置」
は、再生ヘッドのステレオ再生出力端の一方に接続され
る第1の増幅回路と、該増幅回路の出力端に接続された
第1のレベル表示装置と、前記再生ヘッドのステレオ再
生出力端の他方に接続される第2の増幅回路と、該増幅
回路の出力端に接続されている第2のレベル表示装置か
ら成り、2つの表示装置を監視してヘッドの角度を正確
に保持するものである。
【0003】また、特開平3−46115号公報の「ヘ
ッド位置決め制御装置」は、ライトヘッドの中心とリー
ドヘッドのトラックの中心を容易に合わせられるように
し、複数の磁気テープ装置間の互換性を良好にしたもの
である。
ッド位置決め制御装置」は、ライトヘッドの中心とリー
ドヘッドのトラックの中心を容易に合わせられるように
し、複数の磁気テープ装置間の互換性を良好にしたもの
である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来のテープ再生方法では、テープ幅精度、磁気記録精
度、テープ走行系の安定性、環境条件によるテープの伸
縮等、テープを媒体とすることに起因する精度劣化によ
り、マイクロメータ精度の安定した位置調整は困難であ
った。しかも、調整は、空間上の2自由度のみであっ
た。また、磁気ヘッドの位置によりテープ再生そのもの
が出来ないという問題点があった。
来のテープ再生方法では、テープ幅精度、磁気記録精
度、テープ走行系の安定性、環境条件によるテープの伸
縮等、テープを媒体とすることに起因する精度劣化によ
り、マイクロメータ精度の安定した位置調整は困難であ
った。しかも、調整は、空間上の2自由度のみであっ
た。また、磁気ヘッドの位置によりテープ再生そのもの
が出来ないという問題点があった。
【0005】本発明は、このように実情に鑑みてなされ
たもので、ガイドと磁気ヘッドの組み付け精度を上げる
とともに、空間上の6自由度を合わせる磁気ヘッド位置
調整方法及びその装置を提供するものである。
たもので、ガイドと磁気ヘッドの組み付け精度を上げる
とともに、空間上の6自由度を合わせる磁気ヘッド位置
調整方法及びその装置を提供するものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、(1)テープ走行時のテープをガイドす
る案内手段に対して、該案内手段に設けられ、テープ走
行面と接する磁気ヘッドの高さ方向、横方向、突き出し
方向、チルト、アジマス及びアオリの6軸の位置合わせ
を行うこと、更には、(2)前記磁気ヘッドのテープ走
行面に対して、光学式測定手段を用いて位置合わせを行
うこと、或いは、(3)テープ走行時のテープをガイド
する案内手段と、該案内手段に設けられ、テープ走行面
と接するように配置された磁気ヘッドと、前記テープ走
行面の位置を測定する光学式測定手段と、該光学式測定
手段による測定結果に基づき、前記テープ走行面の位置
を演算する演算手段と、前記磁気ヘッドを移動させる移
動手段とから成ることを特徴とするものである。
成するために、(1)テープ走行時のテープをガイドす
る案内手段に対して、該案内手段に設けられ、テープ走
行面と接する磁気ヘッドの高さ方向、横方向、突き出し
方向、チルト、アジマス及びアオリの6軸の位置合わせ
を行うこと、更には、(2)前記磁気ヘッドのテープ走
行面に対して、光学式測定手段を用いて位置合わせを行
うこと、或いは、(3)テープ走行時のテープをガイド
する案内手段と、該案内手段に設けられ、テープ走行面
と接するように配置された磁気ヘッドと、前記テープ走
行面の位置を測定する光学式測定手段と、該光学式測定
手段による測定結果に基づき、前記テープ走行面の位置
を演算する演算手段と、前記磁気ヘッドを移動させる移
動手段とから成ることを特徴とするものである。
【0007】
【作用】磁気ヘッドのテープ走行面を光学式測定器の変
位量(高さ)の測定結果から、測定結果の精度、すなわ
ちマイクロメータ精度で前後方向(突き出し)の位置調
整が出来る。また、磁気ヘッドのテープ走行面の離れた
2カ所の光学式測定器の変位量(高さ)及びその変曲位
置の測定結果から、測定結果の精度、すなわちマイクロ
メータ精度で、傾き(あおり)方向、回転方向(アジマ
ス)、横方向の位置調整が出来る。また、チップをトラ
ック高さ方向に動かし(測定器をトラック高さ方向に動
かしてもよい)トラック高さ方向の測定結果から、測定
結果の精度、すなわちマイクロメータ精度でトラック高
さ方向の位置調整が出来る。チルト方向の位置調整につ
いては、ヘッドを構成する材料の光の反射率の違いを利
用する。光学式測定器の変位置(高さ)の変曲位置の測
定結果と、光学式測定器反射量の変曲位置から距離を測
定し、その距離からチルトを演算すると、測定結果の精
度、すなわちマイクロメータ精度でチルト方向の位置調
整が出来る。このようにして、空間上6自由度でマイク
ロメータ等を使用し、高精度の磁気ヘッド位置調整が可
能となる。
位量(高さ)の測定結果から、測定結果の精度、すなわ
ちマイクロメータ精度で前後方向(突き出し)の位置調
整が出来る。また、磁気ヘッドのテープ走行面の離れた
2カ所の光学式測定器の変位量(高さ)及びその変曲位
置の測定結果から、測定結果の精度、すなわちマイクロ
メータ精度で、傾き(あおり)方向、回転方向(アジマ
ス)、横方向の位置調整が出来る。また、チップをトラ
ック高さ方向に動かし(測定器をトラック高さ方向に動
かしてもよい)トラック高さ方向の測定結果から、測定
結果の精度、すなわちマイクロメータ精度でトラック高
さ方向の位置調整が出来る。チルト方向の位置調整につ
いては、ヘッドを構成する材料の光の反射率の違いを利
用する。光学式測定器の変位置(高さ)の変曲位置の測
定結果と、光学式測定器反射量の変曲位置から距離を測
定し、その距離からチルトを演算すると、測定結果の精
度、すなわちマイクロメータ精度でチルト方向の位置調
整が出来る。このようにして、空間上6自由度でマイク
ロメータ等を使用し、高精度の磁気ヘッド位置調整が可
能となる。
【0008】
【実施例】実施例について、図面を参照して以下に説明
する。図1は、本発明による磁気ヘッド位置調整方法の
一実施例を説明するための構成図で、図2は、図1にお
けるテープをガイドする案内治具(以下ガイドと略す)
の構成図、図3(a),(b)は、図1における磁気ヘ
ッドの構成図である。図中、10は組み立ての終わった
磁気ヘッドユニット、20はガイド、21はガイドのA
ZTEC部、22はガイドのFATG面、23はガイド
の窓部、30は磁気ヘッド、31は磁気ヘッドのテープ
走行面、32は磁気ヘッドのトラック、33は磁気ヘッ
ドの曲面のもっと高い場所(以下トップと略す)、34
は磁気ヘッドの光学式測定器による測定面、35は離れ
た磁気ヘッドの光学式測定器による測定面、36は磁気
ヘッドのトラック高さ方向の光学式測定器による測定面
である。
する。図1は、本発明による磁気ヘッド位置調整方法の
一実施例を説明するための構成図で、図2は、図1にお
けるテープをガイドする案内治具(以下ガイドと略す)
の構成図、図3(a),(b)は、図1における磁気ヘ
ッドの構成図である。図中、10は組み立ての終わった
磁気ヘッドユニット、20はガイド、21はガイドのA
ZTEC部、22はガイドのFATG面、23はガイド
の窓部、30は磁気ヘッド、31は磁気ヘッドのテープ
走行面、32は磁気ヘッドのトラック、33は磁気ヘッ
ドの曲面のもっと高い場所(以下トップと略す)、34
は磁気ヘッドの光学式測定器による測定面、35は離れ
た磁気ヘッドの光学式測定器による測定面、36は磁気
ヘッドのトラック高さ方向の光学式測定器による測定面
である。
【0009】前記ガイド20は、テープ走行時のテープ
高さを規制するAZTEC部21と走行面を規制するF
ATG面22を有する。ここで、磁気ヘッド30の調整
としては、AZTEC部21に規制されたテープ高さに
対するトラック高さ、FATG面22に対する突き出し
量(前後方向)、傾き(アオリ)、テープ走行方向に対
する回転(アジマス)、磁気ヘッド30のトップ面33
からのトラック32位置(チルト)がある。
高さを規制するAZTEC部21と走行面を規制するF
ATG面22を有する。ここで、磁気ヘッド30の調整
としては、AZTEC部21に規制されたテープ高さに
対するトラック高さ、FATG面22に対する突き出し
量(前後方向)、傾き(アオリ)、テープ走行方向に対
する回転(アジマス)、磁気ヘッド30のトップ面33
からのトラック32位置(チルト)がある。
【0010】図4は、本発明による磁気ヘッド位置調整
装置の構成図で、図5及び図6は、横方向の測定結果、
図7は、トラック高さ方向の測定結果を示す図である。
図中、41はガイド取り付け基準面、42は光学式測定
器(レーザ変位計)、43は演算機、44はマイクロメ
ータ、45は多軸ステージで、その他、図1〜図3と同
じ作用をする部分は同一の符号を付してある。まず、ガ
イドの基準面41を装置に固定する。次に、磁気ヘッド
30をガイド20の窓部23に挿入して光学式測定器4
2(この例ではレーザ変位計を使用)の測定範囲まで磁
気ヘッド30を移動させる。光学式測定器42による測
定は、磁気ヘッド30のテープ走行面31を多軸ステー
ジ45により矢印方向34,35,36に移動させて測
定する。磁気ヘッド30のテープ走行面31を光学式測
定器42で測定し、変位量(高さ)の測定結果b1か
ら、FATG面22に対する突き出し量(前後方向)の
位置まで磁気ヘッド30を移動する。
装置の構成図で、図5及び図6は、横方向の測定結果、
図7は、トラック高さ方向の測定結果を示す図である。
図中、41はガイド取り付け基準面、42は光学式測定
器(レーザ変位計)、43は演算機、44はマイクロメ
ータ、45は多軸ステージで、その他、図1〜図3と同
じ作用をする部分は同一の符号を付してある。まず、ガ
イドの基準面41を装置に固定する。次に、磁気ヘッド
30をガイド20の窓部23に挿入して光学式測定器4
2(この例ではレーザ変位計を使用)の測定範囲まで磁
気ヘッド30を移動させる。光学式測定器42による測
定は、磁気ヘッド30のテープ走行面31を多軸ステー
ジ45により矢印方向34,35,36に移動させて測
定する。磁気ヘッド30のテープ走行面31を光学式測
定器42で測定し、変位量(高さ)の測定結果b1か
ら、FATG面22に対する突き出し量(前後方向)の
位置まで磁気ヘッド30を移動する。
【0011】次に、磁気ヘッド30のテープ走行面のL
離れた2カ所を光学式測定器42により測定する。その
変位量(高さ)a1,a2の変曲点の位置b1,b2の2つ
の変位d1,d2及びその変曲位置f1,f2の値を演算機
43により演算する。2カ所の測定結果のうち、2つの
変位量(高さ)d1,d2の測定結果を用いて傾き(あお
り)方向、2つの変曲位置f1,f2の測定結果から回転
方向(アジマス)及び横方向の位置を演算機43を用い
て演算し、それぞれの規定位置に磁気ヘッド30を移動
する。また、光学式測定器42をトラック高さ方向36
に動かして(磁気ヘッド30をトラック高さ方向36に
動かしてもよい)トラック高さ方向36の測定を行う。
その測定結果iから変曲点jの位置kを演算機43によ
り演算し、トラック高さ方向の規定位置に磁気ヘッド3
0を移動する。チルト方向の位置調整については、磁気
ヘッドを構成する材料の光の反射率の違いを利用する。
光学式測定器の変位量(高さ)a1の変曲点b1の位置f
1の測定結果と、光学式測定器反射強度h1の変曲点cの
位置gからの距離Mの測定を行う。その測定結果からチ
ルトを演算機43により演算し、チルト方向の規定位置
に磁気ヘッド30を移動する。以上の移動はすべて磁気
ヘッド30を取り付けた6自由度移動させるマイクロメ
ータ44で行う。
離れた2カ所を光学式測定器42により測定する。その
変位量(高さ)a1,a2の変曲点の位置b1,b2の2つ
の変位d1,d2及びその変曲位置f1,f2の値を演算機
43により演算する。2カ所の測定結果のうち、2つの
変位量(高さ)d1,d2の測定結果を用いて傾き(あお
り)方向、2つの変曲位置f1,f2の測定結果から回転
方向(アジマス)及び横方向の位置を演算機43を用い
て演算し、それぞれの規定位置に磁気ヘッド30を移動
する。また、光学式測定器42をトラック高さ方向36
に動かして(磁気ヘッド30をトラック高さ方向36に
動かしてもよい)トラック高さ方向36の測定を行う。
その測定結果iから変曲点jの位置kを演算機43によ
り演算し、トラック高さ方向の規定位置に磁気ヘッド3
0を移動する。チルト方向の位置調整については、磁気
ヘッドを構成する材料の光の反射率の違いを利用する。
光学式測定器の変位量(高さ)a1の変曲点b1の位置f
1の測定結果と、光学式測定器反射強度h1の変曲点cの
位置gからの距離Mの測定を行う。その測定結果からチ
ルトを演算機43により演算し、チルト方向の規定位置
に磁気ヘッド30を移動する。以上の移動はすべて磁気
ヘッド30を取り付けた6自由度移動させるマイクロメ
ータ44で行う。
【0012】以上で、空間6自由度でマイクロメータ精
度の位置調整を完了し、接着剤等でガイド20と磁気ヘ
ッド30を固定することで組み付けを終了する。なお、
上記光学式測定器42(ここでは、レーザ変位計を用い
て)は、レーザを用いたものであれば良い。また、光学
式測定器42は水平・垂直に複数箇所測定を行っても良
く、傾め方向に複数箇所測定しても良い。また、測定す
るために光学式測定器42を多数台用いても良いし、図
4のように光学式測定器42を多軸ステージ45等に取
り付けて動かしながら測定を行っても良い。また、演算
機は、コンピュータに限定することなく、演算ができる
ものであれば何でも良い。
度の位置調整を完了し、接着剤等でガイド20と磁気ヘ
ッド30を固定することで組み付けを終了する。なお、
上記光学式測定器42(ここでは、レーザ変位計を用い
て)は、レーザを用いたものであれば良い。また、光学
式測定器42は水平・垂直に複数箇所測定を行っても良
く、傾め方向に複数箇所測定しても良い。また、測定す
るために光学式測定器42を多数台用いても良いし、図
4のように光学式測定器42を多軸ステージ45等に取
り付けて動かしながら測定を行っても良い。また、演算
機は、コンピュータに限定することなく、演算ができる
ものであれば何でも良い。
【0013】このように、本発明は、磁気ヘッドのテー
プ走行面を測定するための光学式測定器と、該光学式測
定器の測定結果を処理する演算処理システムと、磁気ヘ
ッドを6自由度移動させるマイクロメータにより、ガイ
ドの基準面に対して光学式測定器の測定結果をもとに位
置合わせすることができる。
プ走行面を測定するための光学式測定器と、該光学式測
定器の測定結果を処理する演算処理システムと、磁気ヘ
ッドを6自由度移動させるマイクロメータにより、ガイ
ドの基準面に対して光学式測定器の測定結果をもとに位
置合わせすることができる。
【0014】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によると、以下のような効果がある。すなわち、磁気ヘ
ッドを光学式測定器により測定することで、測定精度、
すなわちマイクロメータ精度で前後方向(突き出し)、
高さ方向、回転方向(アジマス)、横方向の位置、傾き
(アオリ)並びにチルト方向の位置調整が出来る。この
ようにして、空間上6自由度でマイクロメータ精度の磁
気ヘッド位置調整が可能となる。
によると、以下のような効果がある。すなわち、磁気ヘ
ッドを光学式測定器により測定することで、測定精度、
すなわちマイクロメータ精度で前後方向(突き出し)、
高さ方向、回転方向(アジマス)、横方向の位置、傾き
(アオリ)並びにチルト方向の位置調整が出来る。この
ようにして、空間上6自由度でマイクロメータ精度の磁
気ヘッド位置調整が可能となる。
【図1】本発明による磁気ヘッド位置調整方法の一実施
例を説明するための構成図である。
例を説明するための構成図である。
【図2】図1におけるガイドの構成図である。
【図3】図1における磁気ヘッドの構成図である。
【図4】本発明による磁気ヘッド位置調整装置を示す図
である。
である。
【図5】本発明におけるテープ走行面の横方向の測定結
果(その1)を示す図である。
果(その1)を示す図である。
【図6】本発明におけるテープ走行面の横方向の測定結
果(その2)を示す図である。
果(その2)を示す図である。
【図7】本発明におけるテープ走行面のトラック高さ方
向の測定結果を示す図である。
向の測定結果を示す図である。
10…組み立ての終わった磁気ヘッドユニット、20…
ガイド、21…ガイドのAZTEC部、22…ガイドの
FATG面、23…ガイドの窓部、30…磁気ヘッド、
31…磁気ヘッドのテープ走行面、32…磁気ヘッドの
トラック、33…磁気ヘッドのトップ、34…磁気ヘッ
ドの光学式測定器による測定面、35…離れた磁気ヘッ
ドの光学式測定器による測定面、36…磁気ヘッドのト
ラック高さ方向の光学式測定器による測定面。 X:磁気ヘッドのテープ走行方向,Y:磁気ヘッドの突
き出し方向,Z:磁気ヘッドのトラック高さ方向。 L :テープ走行面の測定ヵ所の距離,I:レーザ光の
反射量。 a1:34にそって測定した変位量。 a2:35にそって測定した変位量。 b1:34にそって測定した変位量の変曲点。 b2:35にそって測定した変位量の変曲点。 d1:34にそって測定した変位量の変曲点の変位量
(高さ)。 d2:35にそって測定した変位量の変曲点の変位量
(高さ)。 c :34にそって測定した反射強度の変曲点。 e :34にそって測定した反射強度の変位点。 f1:34にそって測定した変位量の変曲位置。 f2:35にそって測定した変位量の変曲位置。 g :34にそって測定した反射強度の変曲位置。 h1:34にそって測定した反射強度。 h2:35にそって測定した反射強度。 i :トラック高さ方向の測定結果。 j :トラック高さ方向の変曲点。 k :トラック高さ方向の変曲位置。 M :光学式測定器の変位量a1の変曲点b1の位置f1と
反射強度h1の変曲点cの位置からの距離。
ガイド、21…ガイドのAZTEC部、22…ガイドの
FATG面、23…ガイドの窓部、30…磁気ヘッド、
31…磁気ヘッドのテープ走行面、32…磁気ヘッドの
トラック、33…磁気ヘッドのトップ、34…磁気ヘッ
ドの光学式測定器による測定面、35…離れた磁気ヘッ
ドの光学式測定器による測定面、36…磁気ヘッドのト
ラック高さ方向の光学式測定器による測定面。 X:磁気ヘッドのテープ走行方向,Y:磁気ヘッドの突
き出し方向,Z:磁気ヘッドのトラック高さ方向。 L :テープ走行面の測定ヵ所の距離,I:レーザ光の
反射量。 a1:34にそって測定した変位量。 a2:35にそって測定した変位量。 b1:34にそって測定した変位量の変曲点。 b2:35にそって測定した変位量の変曲点。 d1:34にそって測定した変位量の変曲点の変位量
(高さ)。 d2:35にそって測定した変位量の変曲点の変位量
(高さ)。 c :34にそって測定した反射強度の変曲点。 e :34にそって測定した反射強度の変位点。 f1:34にそって測定した変位量の変曲位置。 f2:35にそって測定した変位量の変曲位置。 g :34にそって測定した反射強度の変曲位置。 h1:34にそって測定した反射強度。 h2:35にそって測定した反射強度。 i :トラック高さ方向の測定結果。 j :トラック高さ方向の変曲点。 k :トラック高さ方向の変曲位置。 M :光学式測定器の変位量a1の変曲点b1の位置f1と
反射強度h1の変曲点cの位置からの距離。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 八木 有百実 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内 (72)発明者 柿森 伸明 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内
Claims (3)
- 【請求項1】 テープ走行時のテープをガイドする案内
手段に対して、該案内手段に設けられ、テープ走行面と
接する磁気ヘッドの高さ方向,横方向,突き出し方向,
チルト,アジマス及びアオリの6軸の位置合わせを行う
ことを特徴とする磁気ヘッド位置調整方法。 - 【請求項2】 前記磁気ヘッドのテープ走行面に対し
て、光学式測定手段を用いて位置合わせを行うことを特
徴とする請求項1記載の磁気ヘッド位置調整方法。 - 【請求項3】 テープ走行時のテープをガイドする案内
手段と、該案内手段に設けられ、テープ走行面と接する
ように配置された磁気ヘッドと、前記テープ走行面の位
置を測定する光学式測定手段と、該光学式測定手段によ
る測定結果に基づき、前記テープ走行面の位置を演算す
る演算手段と、前記磁気ヘッドを移動させる移動手段と
から成ることを特徴とする磁気ヘッド位置調整装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34172792A JPH06168433A (ja) | 1992-11-27 | 1992-11-27 | 磁気ヘッド位置調整方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34172792A JPH06168433A (ja) | 1992-11-27 | 1992-11-27 | 磁気ヘッド位置調整方法及びその装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06168433A true JPH06168433A (ja) | 1994-06-14 |
Family
ID=18348309
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP34172792A Pending JPH06168433A (ja) | 1992-11-27 | 1992-11-27 | 磁気ヘッド位置調整方法及びその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06168433A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR19980045402A (ko) * | 1996-12-10 | 1998-09-15 | 조희재 | 자기헤드의 트랙높이 맞춤장치 및 그 맞춤방법 |
-
1992
- 1992-11-27 JP JP34172792A patent/JPH06168433A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR19980045402A (ko) * | 1996-12-10 | 1998-09-15 | 조희재 | 자기헤드의 트랙높이 맞춤장치 및 그 맞춤방법 |
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