JPH06167505A - 生化学自動分析装置 - Google Patents
生化学自動分析装置Info
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- JPH06167505A JPH06167505A JP34533892A JP34533892A JPH06167505A JP H06167505 A JPH06167505 A JP H06167505A JP 34533892 A JP34533892 A JP 34533892A JP 34533892 A JP34533892 A JP 34533892A JP H06167505 A JPH06167505 A JP H06167505A
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- timing
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 測定セルにわずかな汚れや傷が発生した場合
でも、汚れや傷の影響が最も小さくなる測光タイミング
を決定できるようにする。 【構成】 各反応セル１２に水を充填した状態でＮｏ．
１からＮｏ．４３までの全ての測定ポイントでのセルブ
ランク値を取得する操作を、測光スタート信号から測光
タイミングまでの時間をＴｏ，Ｔｏ＋ΔＴ，Ｔｏ＋２Δ
Ｔ，……というように微小時間ずつ変化させて繰り返
し、各測光タイミングでの測光値の変動幅の大きさに基
づいて最適な測光タイミングを決定する。
でも、汚れや傷の影響が最も小さくなる測光タイミング
を決定できるようにする。 【構成】 各反応セル１２に水を充填した状態でＮｏ．
１からＮｏ．４３までの全ての測定ポイントでのセルブ
ランク値を取得する操作を、測光スタート信号から測光
タイミングまでの時間をＴｏ，Ｔｏ＋ΔＴ，Ｔｏ＋２Δ
Ｔ，……というように微小時間ずつ変化させて繰り返
し、各測光タイミングでの測光値の変動幅の大きさに基
づいて最適な測光タイミングを決定する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は血清や尿などの多成分を
含む試料の目的成分濃度又は活性値を測定する生化学自
動分析装置に関するものであり、特に反応セルを自動的
に洗浄して繰り返し使用するとともに、測光部により反
応セルに光を照射して反応を測定する反応セル直接測光
方式の生化学自動分析装置に関するものである。
含む試料の目的成分濃度又は活性値を測定する生化学自
動分析装置に関するものであり、特に反応セルを自動的
に洗浄して繰り返し使用するとともに、測光部により反
応セルに光を照射して反応を測定する反応セル直接測光
方式の生化学自動分析装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】反応セル直接測光方式の生化学自動分析
装置では、反応セルが円周に沿って配列された反応ディ
スクをある回転角度だけ回転させながら測光する方式
や、反応ディスクをある回転角度だけ回転して停止さ
せ、その停止状態で分光光度計を反応ディスクの周りに
回転させながら測光する方式が採用されている。
装置では、反応セルが円周に沿って配列された反応ディ
スクをある回転角度だけ回転させながら測光する方式
や、反応ディスクをある回転角度だけ回転して停止さ
せ、その停止状態で分光光度計を反応ディスクの周りに
回転させながら測光する方式が採用されている。
【０００３】分光光度計による測光の例を一実施例を示
す図２と図３を参照して説明すると、各測定セル１２ご
とに分光光度計の光源３６ａから光センサ３６ｂへ至る
測定光の通る窓６２が設けられており、窓６２と隣りの
窓６２との間には光を遮るセクター６０が配置されてい
る。分光光度計の光センサ３６ｂは測光時には反応ディ
スク１０に対して相対的に回転する。セクター６０が光
センサ３６ｂを遮った瞬間に測光スタート信号が出力さ
れ、その一定時間Ｔａ秒後にダーク信号が取り込まれ、
さらにその一定時間Ｔｂ秒後にライト信号が取り込まれ
て両信号はＬｏｇアンプに送られてライト信号とダーク
信号の差から吸光度が求められる。
す図２と図３を参照して説明すると、各測定セル１２ご
とに分光光度計の光源３６ａから光センサ３６ｂへ至る
測定光の通る窓６２が設けられており、窓６２と隣りの
窓６２との間には光を遮るセクター６０が配置されてい
る。分光光度計の光センサ３６ｂは測光時には反応ディ
スク１０に対して相対的に回転する。セクター６０が光
センサ３６ｂを遮った瞬間に測光スタート信号が出力さ
れ、その一定時間Ｔａ秒後にダーク信号が取り込まれ、
さらにその一定時間Ｔｂ秒後にライト信号が取り込まれ
て両信号はＬｏｇアンプに送られてライト信号とダーク
信号の差から吸光度が求められる。
【０００４】各測定セルの反応ディスク上での位置は必
ずしも理想的に同心円上に等間隔に配置されているわけ
ではなく、加工や成形上の誤差や組立て調整誤差を有し
ている。そのため、測光スタート信号から測光タイミン
グまでの時間Ｔ（＝Ｔａ＋Ｔｂ）を最適化するために、
ダーク信号とライト信号をオシロスコープなどで検出
し、光センサ取りつけ位置を調整することによって測光
タイミングの最適化を図っている。
ずしも理想的に同心円上に等間隔に配置されているわけ
ではなく、加工や成形上の誤差や組立て調整誤差を有し
ている。そのため、測光スタート信号から測光タイミン
グまでの時間Ｔ（＝Ｔａ＋Ｔｂ）を最適化するために、
ダーク信号とライト信号をオシロスコープなどで検出
し、光センサ取りつけ位置を調整することによって測光
タイミングの最適化を図っている。
【０００５】一連の分析動作においては測定セル洗浄後
にセルに脱気水を分注し、その脱気水を排水するまでの
複数ポイント（例えば３ポイント）での測光位置でセル
ブランク値を測定し、その中間値をもってその測定セル
のブランク値としている。測定セルに汚れや傷が生じた
場合には、前回のセルブランク値と比較したり、そのセ
ルを交換したときのベース値と比較することによって測
定セルの良・不良を判定している。
にセルに脱気水を分注し、その脱気水を排水するまでの
複数ポイント（例えば３ポイント）での測光位置でセル
ブランク値を測定し、その中間値をもってその測定セル
のブランク値としている。測定セルに汚れや傷が生じた
場合には、前回のセルブランク値と比較したり、そのセ
ルを交換したときのベース値と比較することによって測
定セルの良・不良を判定している。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】生化学自動分析装置の
データ精度に対する要求は年々高まってきている。装置
を長期間使用していると、測定セルには光路付近にわず
かな傷や汚れなどが付着してくる。測光タイミングを固
定している場合には、その測光タイミングで測定セルを
通る光軸の位置がその傷や汚れにかかる場合にはその測
定セルによる測光データは不良になる。そこで、本発明
の第１の目的は、測定セルにわずかな汚れや傷が発生し
た場合でも、汚れや傷の影響が最も小さくなる測光タイ
ミングを決定できるようにすることである。
データ精度に対する要求は年々高まってきている。装置
を長期間使用していると、測定セルには光路付近にわず
かな傷や汚れなどが付着してくる。測光タイミングを固
定している場合には、その測光タイミングで測定セルを
通る光軸の位置がその傷や汚れにかかる場合にはその測
定セルによる測光データは不良になる。そこで、本発明
の第１の目的は、測定セルにわずかな汚れや傷が発生し
た場合でも、汚れや傷の影響が最も小さくなる測光タイ
ミングを決定できるようにすることである。
【０００７】反応ディスクの駆動用ギヤ加工誤差や組立
て調整誤差などにより、各測定ポイントにおいて測定セ
ルを通る光軸の位置がわずかにずれる場合がある。その
ため、ある測光ポイントでは測定セルのわずかな汚れや
傷が光路にかからなくてその測定セルによる測定データ
が正常であったとしても、他の測光ポイントではその汚
れや傷が光路にかかる事態が生じることがある。その場
合は、反応過程のデータモニターでデータが変動するこ
とになり、正確な測定を行なうことができなくなる。特
に、感度の低い分析項目においては問題となる。このよ
うな傷や汚れは、従来のように３ポイント程度のセルブ
ランク値の中間値をもって判定するセルチェックの方法
では検出できない場合がある。
て調整誤差などにより、各測定ポイントにおいて測定セ
ルを通る光軸の位置がわずかにずれる場合がある。その
ため、ある測光ポイントでは測定セルのわずかな汚れや
傷が光路にかからなくてその測定セルによる測定データ
が正常であったとしても、他の測光ポイントではその汚
れや傷が光路にかかる事態が生じることがある。その場
合は、反応過程のデータモニターでデータが変動するこ
とになり、正確な測定を行なうことができなくなる。特
に、感度の低い分析項目においては問題となる。このよ
うな傷や汚れは、従来のように３ポイント程度のセルブ
ランク値の中間値をもって判定するセルチェックの方法
では検出できない場合がある。
【０００８】各測定ポイントにおいて測定セルを通る光
軸の位置が正確に一致するように調整できるならば、傷
や汚れが光路にさえなければ測光に支障はないが、その
ような高精度の調整を行なうのは作業時間や労力の点か
ら困難である。本発明の第２の目的は、測光タイミング
を定めた場合に、全ての測定ポイントでの測光に傷や汚
れが影響を及ぼさないように、不良測定セルを見つける
ことができるようにすることである。
軸の位置が正確に一致するように調整できるならば、傷
や汚れが光路にさえなければ測光に支障はないが、その
ような高精度の調整を行なうのは作業時間や労力の点か
ら困難である。本発明の第２の目的は、測光タイミング
を定めた場合に、全ての測定ポイントでの測光に傷や汚
れが影響を及ぼさないように、不良測定セルを見つける
ことができるようにすることである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】第１の目的を達成するた
めに、本発明は各反応セルに水を充填した状態で複数の
測定ポイントでのセルブランク値を取得する操作を、測
光スタート信号から測光タイミングまでの時間を微小時
間ずつ変化させて繰り返し、各測光タイミングでの測光
値の変動幅の大きさに基づいて最適な測光タイミングを
決定する測光タイミング最適化調整モードを備えてい
る。
めに、本発明は各反応セルに水を充填した状態で複数の
測定ポイントでのセルブランク値を取得する操作を、測
光スタート信号から測光タイミングまでの時間を微小時
間ずつ変化させて繰り返し、各測光タイミングでの測光
値の変動幅の大きさに基づいて最適な測光タイミングを
決定する測光タイミング最適化調整モードを備えてい
る。
【００１０】第２の目的を達成するために、本発明は各
反応セルに水を充填した状態で全ての測定ポイントでセ
ルブランク値を取得し、全測光ポイントでの測光値につ
いてその変動幅が一定値以上になった測定セルを不良と
判定する測定セルチェックモードを備えている。
反応セルに水を充填した状態で全ての測定ポイントでセ
ルブランク値を取得し、全測光ポイントでの測光値につ
いてその変動幅が一定値以上になった測定セルを不良と
判定する測定セルチェックモードを備えている。
【００１１】
【実施例】図１は本発明が適用される生化学自動分析装
置の一例を表わしたものである。反応ディスク１０の周
囲に沿って反応セルを兼ねる測定セル１２が配列されて
いる。反応ディスク１０の近くにはターンテーブル１４
が設けられ、ターンテーブル１４には検体を収容したカ
ップが並べられる。１６はサンプラーであり、ターンテ
ーブル１４上の検体カップから検体を吸引し、測定セル
１２に注入する。１８はサンプラー１６に検体を吸引
し、反応管１２に注入するためのピペッタポンプと、検
体を脱気水で押し出すためのダイリュータポンプであ
る。ターンテーブル１４とピペッタポンプ・ダイリュー
タポンプ１８はサンプラー制御コンピュータ２２及びイ
ンターフェース２０を介してマイクロコンピュータ２４
によって制御される。１７はサンプラー１６のプローブ
や流路を洗浄するための洗浄液（例えば純水）が湧き出
す洗浄槽である。
置の一例を表わしたものである。反応ディスク１０の周
囲に沿って反応セルを兼ねる測定セル１２が配列されて
いる。反応ディスク１０の近くにはターンテーブル１４
が設けられ、ターンテーブル１４には検体を収容したカ
ップが並べられる。１６はサンプラーであり、ターンテ
ーブル１４上の検体カップから検体を吸引し、測定セル
１２に注入する。１８はサンプラー１６に検体を吸引
し、反応管１２に注入するためのピペッタポンプと、検
体を脱気水で押し出すためのダイリュータポンプであ
る。ターンテーブル１４とピペッタポンプ・ダイリュー
タポンプ１８はサンプラー制御コンピュータ２２及びイ
ンターフェース２０を介してマイクロコンピュータ２４
によって制御される。１７はサンプラー１６のプローブ
や流路を洗浄するための洗浄液（例えば純水）が湧き出
す洗浄槽である。
【００１２】測定セル１２中で検体と反応させる試薬を
測定セル１２に注入するために、ディスペンサ２６ａ，
２６ｂと試薬庫２８が設けられている。試薬庫２８に配
列された試薬瓶からディスペンサ２６ａ，２６ｂによっ
て試薬が吸引され、測定セル１２に注入される。３０は
ディスペンサ２６ａ，２６ｂで試薬を吸引し測定セル１
２に注入するためのディスペンサポンプであり、ディス
ペンサ２６ａ，２６ｂとディスペンサポンプ３０はディ
スペンサ制御コンピュータ３２とインターフェース２０
を介してマイクロコンピュータ２４により制御される。
２７ａ，２７ｂはそれぞれディスペンサ２６ａ，２６ｂ
のプローブや流路を洗浄するための洗浄液（例えば純
水）が湧き出す洗浄瓶である。
測定セル１２に注入するために、ディスペンサ２６ａ，
２６ｂと試薬庫２８が設けられている。試薬庫２８に配
列された試薬瓶からディスペンサ２６ａ，２６ｂによっ
て試薬が吸引され、測定セル１２に注入される。３０は
ディスペンサ２６ａ，２６ｂで試薬を吸引し測定セル１
２に注入するためのディスペンサポンプであり、ディス
ペンサ２６ａ，２６ｂとディスペンサポンプ３０はディ
スペンサ制御コンピュータ３２とインターフェース２０
を介してマイクロコンピュータ２４により制御される。
２７ａ，２７ｂはそれぞれディスペンサ２６ａ，２６ｂ
のプローブや流路を洗浄するための洗浄液（例えば純
水）が湧き出す洗浄瓶である。
【００１３】測定セル１２中の反応を光学的に検出する
測光部として、反応ディスク１０の近傍には測定セル１
２の配列の周囲に沿って往復方向に移動可能な分光光度
計３６が設けられている。
測光部として、反応ディスク１０の近傍には測定セル１
２の配列の周囲に沿って往復方向に移動可能な分光光度
計３６が設けられている。
【００１４】測定セル１２に注入された検体と試薬を撹
拌するために撹拌機構３４が反応ディスク１０の近くに
設けられている。測定セル１２の洗浄を行なうために、
反応ディスク１０の近くには洗浄機構３８が設けられて
いる。４０は洗浄機構３８のノズルから測定セル１２に
洗浄液を注入し回収するための洗浄ポンプである。洗浄
機構３８では測定セル１２内の反応液をまず吸引し、そ
れらを図示しない廃液タンクに送る。撹拌機構３４、洗
浄機構３８及び洗浄ポンプ４０は反応部制御コンピュー
タ４２及びインターフェース２０を介してマイクロコン
ピュータ２４によって制御される。４６は恒温循環水の
温度を一定に保つためのリザーバである。
拌するために撹拌機構３４が反応ディスク１０の近くに
設けられている。測定セル１２の洗浄を行なうために、
反応ディスク１０の近くには洗浄機構３８が設けられて
いる。４０は洗浄機構３８のノズルから測定セル１２に
洗浄液を注入し回収するための洗浄ポンプである。洗浄
機構３８では測定セル１２内の反応液をまず吸引し、そ
れらを図示しない廃液タンクに送る。撹拌機構３４、洗
浄機構３８及び洗浄ポンプ４０は反応部制御コンピュー
タ４２及びインターフェース２０を介してマイクロコン
ピュータ２４によって制御される。４６は恒温循環水の
温度を一定に保つためのリザーバである。
【００１５】分光光度計３６の検出出力は、Ｌｏｇ変換
部及びＡ／Ｄ変換部４４、並びにインターフェース２０
を介してマイクロコンピュータ２４に取り込まれる。イ
ンターフェース２０にはさらに、プリンタ４８、キーボ
ード５０、ＣＲＴ５２及びフロッピーディスクドライブ
５４が接続されている。
部及びＡ／Ｄ変換部４４、並びにインターフェース２０
を介してマイクロコンピュータ２４に取り込まれる。イ
ンターフェース２０にはさらに、プリンタ４８、キーボ
ード５０、ＣＲＴ５２及びフロッピーディスクドライブ
５４が接続されている。
【００１６】図２は反応ディスクと測光部を概略的に拡
大して示した図である。反応ディスク１０は１ステップ
で一定の回転角度だけ回転して停止し、その停止状態で
分光光度計３６の光センサ３６ｂが反応ディスク１０の
周りを回転しながら測光する。各測定セル１２ごとに分
光光度計３６の光源３６ａから光センサ３６ｂへ至る測
定光の通る窓６２が設けられており、窓６２と隣りの窓
６２との間には光を遮るセクター６０が配置されてい
る。
大して示した図である。反応ディスク１０は１ステップ
で一定の回転角度だけ回転して停止し、その停止状態で
分光光度計３６の光センサ３６ｂが反応ディスク１０の
周りを回転しながら測光する。各測定セル１２ごとに分
光光度計３６の光源３６ａから光センサ３６ｂへ至る測
定光の通る窓６２が設けられており、窓６２と隣りの窓
６２との間には光を遮るセクター６０が配置されてい
る。
【００１７】図３に示されるように、分光光度計３６に
よる測光では、セクター６０が光センサ３６ｂを遮った
瞬間に測光スタート信号が出力され、その一定時間Ｔａ
秒後にダーク信号が取り込まれ、さらにその一定時間Ｔ
ｂ秒後にライト信号が取り込まれる。両信号はＬｏｇア
ンプに送られてライト信号とダーク信号の差から吸光度
が求められる。
よる測光では、セクター６０が光センサ３６ｂを遮った
瞬間に測光スタート信号が出力され、その一定時間Ｔａ
秒後にダーク信号が取り込まれ、さらにその一定時間Ｔ
ｂ秒後にライト信号が取り込まれる。両信号はＬｏｇア
ンプに送られてライト信号とダーク信号の差から吸光度
が求められる。
【００１８】測光スタート信号からライト信号取得まで
の時間Ｔの基準となる時間をＴｏ（＝Ｔａ＋Ｔｂ）と
し、Ｔｏ，Ｔｏ＋ΔＴ，Ｔｏ＋２ΔＴ，……Ｔｏ＋ｎΔ
Ｔと変化させる。一例として、Ｔｏは１０ミリ秒程度で
あり、ΔＴは０．５ミリ秒程度とする。測光までの時間
Ｔを上記のように変化させた各測光タイミングにおい
て、全ての測定セルについて全ての測定ポイントでセル
ブランク値の測定を行なう。
の時間Ｔの基準となる時間をＴｏ（＝Ｔａ＋Ｔｂ）と
し、Ｔｏ，Ｔｏ＋ΔＴ，Ｔｏ＋２ΔＴ，……Ｔｏ＋ｎΔ
Ｔと変化させる。一例として、Ｔｏは１０ミリ秒程度で
あり、ΔＴは０．５ミリ秒程度とする。測光までの時間
Ｔを上記のように変化させた各測光タイミングにおい
て、全ての測定セルについて全ての測定ポイントでセル
ブランク値の測定を行なう。
【００１９】測光タイミング最適化調整モードでは、図
４に示されるようにセル洗浄後、脱気水が洗浄ノズルか
ら供給され、セルブランク値が３個の測定ポイントにお
いて測定され、その中間の値が基準セルブランク値とし
て採用される。このとき、複数の波長についてデータが
取得される。排水され、乾燥された測定セルにディスペ
ンサー２６ａ又は２６ｂのノズルから脱気水が分注され
た後、全ての測定ポイント（Ｎｏ．１〜Ｎｏ．４３）に
おいて、各波長のセルブランク値が測定される。
４に示されるようにセル洗浄後、脱気水が洗浄ノズルか
ら供給され、セルブランク値が３個の測定ポイントにお
いて測定され、その中間の値が基準セルブランク値とし
て採用される。このとき、複数の波長についてデータが
取得される。排水され、乾燥された測定セルにディスペ
ンサー２６ａ又は２６ｂのノズルから脱気水が分注され
た後、全ての測定ポイント（Ｎｏ．１〜Ｎｏ．４３）に
おいて、各波長のセルブランク値が測定される。
【００２０】測定データの一例を図５に示す。複数の波
長で測定されるが、一例として測定波長は３４０ｎｍで
あり、測光タイミングはＴｏとＴｏ＋ΔＴである。基準
セルブランク値と、各測定ポイントでのセルブランク値
を基準セルブランク値からの変動値として表わしてい
る。これらの数値は実際の測定値（ｍＡｂｓ）を１０倍
して表わされている。
長で測定されるが、一例として測定波長は３４０ｎｍで
あり、測光タイミングはＴｏとＴｏ＋ΔＴである。基準
セルブランク値と、各測定ポイントでのセルブランク値
を基準セルブランク値からの変動値として表わしてい
る。これらの数値は実際の測定値（ｍＡｂｓ）を１０倍
して表わされている。
【００２１】測光タイミングの最適値を決定する方法と
しては、基準となる測光タイミングＴｏにおいて、各測
定セルの各測定ポイントでのセルブランク値の変動幅が
±１ｍＡｂｓ未満の場合はその測光タイミングＴｏを採
用する。測光タイミングＴｏでのセルブランク値の変動
幅に±１ｍＡｂｓ以上の測定セルがあるときは、±１ｍ
Ａｂｓ以上の測定セルのない測光タイミングＴをもって
最適な測光タイミングとする。
しては、基準となる測光タイミングＴｏにおいて、各測
定セルの各測定ポイントでのセルブランク値の変動幅が
±１ｍＡｂｓ未満の場合はその測光タイミングＴｏを採
用する。測光タイミングＴｏでのセルブランク値の変動
幅に±１ｍＡｂｓ以上の測定セルがあるときは、±１ｍ
Ａｂｓ以上の測定セルのない測光タイミングＴをもって
最適な測光タイミングとする。
【００２２】どの測光タイミングでもセルブランク値の
変動幅±１ｍＡｂｓ以上の測定セルが含まれている場合
は、セルブランク値の変動幅±１ｍＡｂｓ以上の測定セ
ルの個数が最小の測光タイミングをもって最適値とす
る。最適と判定される測光タイミングが複数個ある場合
は、基準測光タイミングＴｏに最も近い＋側の測光タイ
ミングをもって最適値とする。ＴｏやΔＴの値や、セル
ブランク値の測定方法、最適測光タイミングの判定方法
などは実施例に示されたものに限らず、適宜変更するこ
とができる。
変動幅±１ｍＡｂｓ以上の測定セルが含まれている場合
は、セルブランク値の変動幅±１ｍＡｂｓ以上の測定セ
ルの個数が最小の測光タイミングをもって最適値とす
る。最適と判定される測光タイミングが複数個ある場合
は、基準測光タイミングＴｏに最も近い＋側の測光タイ
ミングをもって最適値とする。ＴｏやΔＴの値や、セル
ブランク値の測定方法、最適測光タイミングの判定方法
などは実施例に示されたものに限らず、適宜変更するこ
とができる。
【００２３】測光タイミング最適化調整モードは生化学
自動分析装置のメンテナンスメニューに組み込んでおい
てもよい。また、測光タイミング最適化調整モードは定
期的に自動的に実行されるようにプログラムしておいて
もよく、又は日常の測定動作時においてセルブランク値
が過去のベース値から一定値以上変動した時点で自動的
に実行されるようにプログラムしておいてもよい。
自動分析装置のメンテナンスメニューに組み込んでおい
てもよい。また、測光タイミング最適化調整モードは定
期的に自動的に実行されるようにプログラムしておいて
もよく、又は日常の測定動作時においてセルブランク値
が過去のベース値から一定値以上変動した時点で自動的
に実行されるようにプログラムしておいてもよい。
【００２４】傷や汚れによる不良測定セルを見つける測
定セルチェックモードでは、設定された測光タイミング
において、全ての測定ポイントでセルブランク測定を行
なう。このときも、図４に示されるように、セル洗浄後
脱気水が供給されてセルブランク値が３ポイントで測定
され、その中間値が基準セルブランク値として採用され
る。このときも複数の波長でデータが取得される。
定セルチェックモードでは、設定された測光タイミング
において、全ての測定ポイントでセルブランク測定を行
なう。このときも、図４に示されるように、セル洗浄後
脱気水が供給されてセルブランク値が３ポイントで測定
され、その中間値が基準セルブランク値として採用され
る。このときも複数の波長でデータが取得される。
【００２５】排水され乾燥された後、ディスペンサーの
ノズルから脱気水が各測定セルに分注され、全ての測定
ポイントで各波長のセルブランク値が測定される。全て
の測定ポイントのセルブランク値について、そのうちの
１つにでも基準セルブランク値からの変動幅が±１ｍＡ
ｂｓ以上となる測定セルに対しては、傷や汚れなどがあ
ることを示す警告を表示する。
ノズルから脱気水が各測定セルに分注され、全ての測定
ポイントで各波長のセルブランク値が測定される。全て
の測定ポイントのセルブランク値について、そのうちの
１つにでも基準セルブランク値からの変動幅が±１ｍＡ
ｂｓ以上となる測定セルに対しては、傷や汚れなどがあ
ることを示す警告を表示する。
【００２６】測定セルチェックモードも生化学自動分析
装置のメンテナンスメニューに組み込んでおいてもよ
い。また、測定セルチェックモードも定期的に自動的に
実行されるようにプログラムしておいてもよく、又は日
常の測定動作時においてセルブランク値が過去のベース
値から一定値以上変動した時点で自動的に実行されるよ
うにプログラムしておいてもよい。
装置のメンテナンスメニューに組み込んでおいてもよ
い。また、測定セルチェックモードも定期的に自動的に
実行されるようにプログラムしておいてもよく、又は日
常の測定動作時においてセルブランク値が過去のベース
値から一定値以上変動した時点で自動的に実行されるよ
うにプログラムしておいてもよい。
【００２７】
【発明の効果】本発明の測光タイミング最適化調整モー
ドを使用すれば、測光スタート信号から測光を行なうま
でのタイミングを最適なものに設定することができるの
で、測定セルに傷や汚れがある場合でも、傷や汚れが測
定データに与える影響が最も少なくなるタイミングで測
光することができるようになり、測定データの信頼性が
高まる。本発明の測定セルチェックモードを使用すれ
ば、セルの光路付近のわずかな傷や汚れを検出して警告
を出すことができるので、感度の低い分析項目でも信頼
性の高い正確なデータを得ることができる。
ドを使用すれば、測光スタート信号から測光を行なうま
でのタイミングを最適なものに設定することができるの
で、測定セルに傷や汚れがある場合でも、傷や汚れが測
定データに与える影響が最も少なくなるタイミングで測
光することができるようになり、測定データの信頼性が
高まる。本発明の測定セルチェックモードを使用すれ
ば、セルの光路付近のわずかな傷や汚れを検出して警告
を出すことができるので、感度の低い分析項目でも信頼
性の高い正確なデータを得ることができる。
【図１】本発明が適用される生化学自動分析装置の一例
を示す構成図である。
を示す構成図である。
【図２】同実施例における測光部を示す概略平面図であ
る。
る。
【図３】測光部における測光タイミングを示す図であ
る。
る。
【図４】本発明の測光タイミング最適化調整モード又は
測定セルチェックモードでのセルブランク測定を示す測
定セルの状態を示す図である。
測定セルチェックモードでのセルブランク測定を示す測
定セルの状態を示す図である。
【図５】本発明の測光タイミング最適化調整モードでの
出力データの一例を示す図である。
出力データの一例を示す図である。
１０ 反応ディスク １２ 測定セル ３６ 分光光度計 ３６ａ 光源 ３６ｂ 光センサ ６０ セクター ６２ 開口部
Claims (2)
- 【請求項１】 反応セルを自動的に洗浄して繰り返し使
用するとともに、測光部により反応セルに光を照射して
反応を測定する反応セル直接測光方式の生化学自動分析
装置において、各反応セルに水を充填した状態で複数の
測定ポイントでのセルブランク値を取得する操作を、測
光スタート信号から測光タイミングまでの時間を微小時
間ずつ変化させて繰り返し、各測光タイミングでの測光
値の変動幅の大きさに基づいて最適な測光タイミングを
決定する測光タイミング最適化調整モードを備えたこと
を特徴とする生化学自動分析装置。 - 【請求項２】 反応セルを自動的に洗浄して繰り返し使
用するとともに、測光部により反応セルに光を照射して
反応を測定する反応セル直接測光方式の生化学自動分析
装置において、各反応セルに水を充填した状態で全ての
測定ポイントでセルブランク値を取得し、全測光ポイン
トでの測光値についてその変動幅が一定値以上になった
測定セルを不良と判定する測定セルチェックモードを備
えたことを特徴とする生化学自動分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34533892A JP2590678B2 (ja) | 1992-11-30 | 1992-11-30 | 生化学自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34533892A JP2590678B2 (ja) | 1992-11-30 | 1992-11-30 | 生化学自動分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06167505A true JPH06167505A (ja) | 1994-06-14 |
| JP2590678B2 JP2590678B2 (ja) | 1997-03-12 |
Family
ID=18375916
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34533892A Expired - Fee Related JP2590678B2 (ja) | 1992-11-30 | 1992-11-30 | 生化学自動分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2590678B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006132211A1 (ja) * | 2005-06-08 | 2006-12-14 | Hitachi High-Technologies Corporation | 自動分析装置 |
| WO2006132209A1 (ja) * | 2005-06-08 | 2006-12-14 | Hitachi High-Technologies Corporation | 自動分析装置 |
| JP2015118042A (ja) * | 2013-12-19 | 2015-06-25 | ブラザー工業株式会社 | 検査装置、検査方法及びコンピュータプログラム |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6381978B2 (ja) | 2013-07-05 | 2018-08-29 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | 自動分析装置 |
-
1992
- 1992-11-30 JP JP34533892A patent/JP2590678B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006132211A1 (ja) * | 2005-06-08 | 2006-12-14 | Hitachi High-Technologies Corporation | 自動分析装置 |
| WO2006132209A1 (ja) * | 2005-06-08 | 2006-12-14 | Hitachi High-Technologies Corporation | 自動分析装置 |
| JP2006343164A (ja) * | 2005-06-08 | 2006-12-21 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| JP2006343163A (ja) * | 2005-06-08 | 2006-12-21 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| JP2015118042A (ja) * | 2013-12-19 | 2015-06-25 | ブラザー工業株式会社 | 検査装置、検査方法及びコンピュータプログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2590678B2 (ja) | 1997-03-12 |
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