JPH06166503A - 高純度窒素製造装置 - Google Patents
高純度窒素製造装置Info
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- JPH06166503A JPH06166503A JP31814392A JP31814392A JPH06166503A JP H06166503 A JPH06166503 A JP H06166503A JP 31814392 A JP31814392 A JP 31814392A JP 31814392 A JP31814392 A JP 31814392A JP H06166503 A JPH06166503 A JP H06166503A
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- JP
- Japan
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- gas
- combustible
- catalyst layer
- nitrogen
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- Pending
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01B—NON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
- C01B21/00—Nitrogen; Compounds thereof
- C01B21/04—Purification or separation of nitrogen
Abstract
(57)【要約】
【構成】原料空気中の可燃性不純ガスを触媒燃焼により
燃焼させて除去し、その後、深冷分離法により窒素を製
造する高純度窒素製造装置において、燃焼触媒を通過し
たガス中の内、選択的にＣＯ濃度を検出して、ＣＯ濃度
検出点におけるＣＯ濃度目標値との偏差に従って燃焼触
媒層の反応温度を制御するようにした。 【効果】製品窒素中の可燃性不純ガス濃度の変動幅が抑
制されて、純度の高い製品窒素を得るに好適な高純度窒
素製造装置を提供することができる。
燃焼させて除去し、その後、深冷分離法により窒素を製
造する高純度窒素製造装置において、燃焼触媒を通過し
たガス中の内、選択的にＣＯ濃度を検出して、ＣＯ濃度
検出点におけるＣＯ濃度目標値との偏差に従って燃焼触
媒層の反応温度を制御するようにした。 【効果】製品窒素中の可燃性不純ガス濃度の変動幅が抑
制されて、純度の高い製品窒素を得るに好適な高純度窒
素製造装置を提供することができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は原料空気中の可燃性不純
ガスを触媒燃焼により燃焼させて除去し、その後、深冷
分離法により窒素を製造する高純度窒素製造装置に関す
る。
ガスを触媒燃焼により燃焼させて除去し、その後、深冷
分離法により窒素を製造する高純度窒素製造装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】原料ガス中の可燃性不純ガスを触媒燃焼
法で除去し、窒素ガスを精製する方法は、一般に知られ
ており、例えば、特開昭61−111905号公報，特開昭61−
225568号公報に開示されている。
法で除去し、窒素ガスを精製する方法は、一般に知られ
ており、例えば、特開昭61−111905号公報，特開昭61−
225568号公報に開示されている。
【０００３】この種の触媒燃焼方法では、原料ガスの空
気中に含まれている可燃性不純ガスのＣＯまたはＨ2を
触媒燃焼でＣＯをＣＯ2に転化し、一方、Ｈ2をＨ2Ｏに
転化することが行われる。その後、窒素ガスを精製する
ため、触媒燃焼器の下流側に配設された吸着分離器で、
転化されたＣＯ2またはＨ2Ｏ等を吸着分離して系外に排
出し、ＣＯまたはＨ2 ガス等が除去された原料空気を深
冷分離装置に供給して製品窒素ガスを得ることが行われ
る。
気中に含まれている可燃性不純ガスのＣＯまたはＨ2を
触媒燃焼でＣＯをＣＯ2に転化し、一方、Ｈ2をＨ2Ｏに
転化することが行われる。その後、窒素ガスを精製する
ため、触媒燃焼器の下流側に配設された吸着分離器で、
転化されたＣＯ2またはＨ2Ｏ等を吸着分離して系外に排
出し、ＣＯまたはＨ2 ガス等が除去された原料空気を深
冷分離装置に供給して製品窒素ガスを得ることが行われ
る。
【０００４】このようにして空気を原料として深冷分離
法により目的とする窒素ガスを製造する場合、原料ガス
中には沸点差による精留分離が困難な可燃性不純ガスの
ＣＯ及びＨ2 ガス等が含まれていないため、高純度の窒
素を製造することができる。この結果、純度の高い窒素
ガスが要求される半導体製造プロセスのキャリアガスま
たは雰囲気調整ガス等として使用される。
法により目的とする窒素ガスを製造する場合、原料ガス
中には沸点差による精留分離が困難な可燃性不純ガスの
ＣＯ及びＨ2 ガス等が含まれていないため、高純度の窒
素を製造することができる。この結果、純度の高い窒素
ガスが要求される半導体製造プロセスのキャリアガスま
たは雰囲気調整ガス等として使用される。
【０００５】ところで、一般に半導体用ガス等として使
用される高純度窒素は不純物の含有率が可及的に低く、
かつ、不純物の含有率が常時一定で安定していることが
要求される。
用される高純度窒素は不純物の含有率が可及的に低く、
かつ、不純物の含有率が常時一定で安定していることが
要求される。
【０００６】ところが、原料空気中の可燃性不純物の濃
度は常時一定しておらず変動する。このため、原料空気
中の可燃性ガスを触媒燃焼で除去する際、触媒層での可
燃性不純物の除去率が常時一定で安定な状態にあって
も、空気中の可燃性不純物の濃度が変動すると、濃度変
動の影響を受けて触媒層を出た後の空気中に含まれる可
燃性不純物の濃度も変動する。この結果は深冷分離装置
で製造される製品窒素の純度にも影響を及ぼし、安定し
た純度の窒素の製造を困難とする要因となる。
度は常時一定しておらず変動する。このため、原料空気
中の可燃性ガスを触媒燃焼で除去する際、触媒層での可
燃性不純物の除去率が常時一定で安定な状態にあって
も、空気中の可燃性不純物の濃度が変動すると、濃度変
動の影響を受けて触媒層を出た後の空気中に含まれる可
燃性不純物の濃度も変動する。この結果は深冷分離装置
で製造される製品窒素の純度にも影響を及ぼし、安定し
た純度の窒素の製造を困難とする要因となる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ここで、安定した純度
の窒素を得るために前述した不都合を解決する手段とし
て、窒素ガスの需要先であるユースポイントの直前で窒
素中の可燃性不純ガスを更にニッケル触媒等で除去する
ことが提案されている。しかし、ユースポイントで触媒
燃焼を行う場合、転化されたＣＯ2またはＨ2Ｏ等の新た
な不純物を吸着剤等で吸着除去する操作とこれらの操作
を制御する付帯機器が必要となり、装置の維持管理と共
に設備コストが高くなる不都合が生じる。
の窒素を得るために前述した不都合を解決する手段とし
て、窒素ガスの需要先であるユースポイントの直前で窒
素中の可燃性不純ガスを更にニッケル触媒等で除去する
ことが提案されている。しかし、ユースポイントで触媒
燃焼を行う場合、転化されたＣＯ2またはＨ2Ｏ等の新た
な不純物を吸着剤等で吸着除去する操作とこれらの操作
を制御する付帯機器が必要となり、装置の維持管理と共
に設備コストが高くなる不都合が生じる。
【０００８】本発明目的は製品窒素中の可燃性不純物濃
度の変動幅が抑制されて純度の高い製品窒素を得るに好
適な窒素製造装置を提供することにある。
度の変動幅が抑制されて純度の高い製品窒素を得るに好
適な窒素製造装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述した目的
を達成するため、製品窒素中の可燃性不純ガスの変動要
因について検討し、製品窒素中に残存する可燃性不純ガ
ス濃度の経時変化について極微量成分の分析に適するAP
IMAS（Atmospheric Pressure Ionization MassSpectrom
eter：大気圧イオン化質量分析計）を用いて分析した。
分析は触媒層の反応温度を一定に維持することによって
行った。この結果、図４に示すように、多種多用な可燃
性ガスの内、ＣＯ及び炭化水素の濃度が特定の時間帯に
高くなる特異性を見出した。ＣＯ及び炭化水素の濃度が
高くなるピークは二つ見られ、特定の時間帯以外は略一
定の濃度となるが、両者の濃度変動幅を比較すると、特
にＣＯの方が著しく変動する。一方、他の可燃性不ガス
であるＨ2 濃度には顕著な経時変化は認められず、略一
定濃度で推移する。
を達成するため、製品窒素中の可燃性不純ガスの変動要
因について検討し、製品窒素中に残存する可燃性不純ガ
ス濃度の経時変化について極微量成分の分析に適するAP
IMAS（Atmospheric Pressure Ionization MassSpectrom
eter：大気圧イオン化質量分析計）を用いて分析した。
分析は触媒層の反応温度を一定に維持することによって
行った。この結果、図４に示すように、多種多用な可燃
性ガスの内、ＣＯ及び炭化水素の濃度が特定の時間帯に
高くなる特異性を見出した。ＣＯ及び炭化水素の濃度が
高くなるピークは二つ見られ、特定の時間帯以外は略一
定の濃度となるが、両者の濃度変動幅を比較すると、特
にＣＯの方が著しく変動する。一方、他の可燃性不ガス
であるＨ2 濃度には顕著な経時変化は認められず、略一
定濃度で推移する。
【００１０】前述した可燃性ガスの内、特にＣＯ濃度の
変化に特異性が認められる原因は、自動車等からの排気
ガス中に含まれるＣＯに起因すると考えられ、Ｈ2 等は
その発生源が極めて少ないため、著しい濃度変化となら
ないと考えられる。
変化に特異性が認められる原因は、自動車等からの排気
ガス中に含まれるＣＯに起因すると考えられ、Ｈ2 等は
その発生源が極めて少ないため、著しい濃度変化となら
ないと考えられる。
【００１１】前述した点から、燃焼触媒によって除去さ
れないで製品窒素中に残存する可燃性不純ガスの濃度
は、濃度変動幅が顕著に大きいＣＯ濃度によって左右さ
れ、製品窒素の純度が低下する変動要因がＣＯであるこ
とを究明した。
れないで製品窒素中に残存する可燃性不純ガスの濃度
は、濃度変動幅が顕著に大きいＣＯ濃度によって左右さ
れ、製品窒素の純度が低下する変動要因がＣＯであるこ
とを究明した。
【００１２】本発明は前述したＣＯ濃度の特異性のある
濃度変化に着目して、空気を原料として窒素を製造する
窒素製造装置において、原料空気中の可燃性不純ガスを
触媒燃焼して除去する際、触媒層を出た後のガス中の可
燃性不純ガスとしてＣＯ濃度を選択的に検出して、ＣＯ
濃度の変化に応じて触媒層の反応温度を制御し、製品窒
素中の可燃性不純ガスの残留率の変動を抑制すると共に
製品窒素純度を高めるようにした。
濃度変化に着目して、空気を原料として窒素を製造する
窒素製造装置において、原料空気中の可燃性不純ガスを
触媒燃焼して除去する際、触媒層を出た後のガス中の可
燃性不純ガスとしてＣＯ濃度を選択的に検出して、ＣＯ
濃度の変化に応じて触媒層の反応温度を制御し、製品窒
素中の可燃性不純ガスの残留率の変動を抑制すると共に
製品窒素純度を高めるようにした。
【００１３】したがって、本発明の特徴は、原料空気中
の可燃性不純ガスを燃焼触媒を通過させて燃焼させる手
段と前記燃焼触媒を通過して転化されたＣＯ2またはＨ2
Ｏを吸着除去する手段及び前記可燃性不純ガスが除去さ
れた空気を精留分離して窒素ガスを製造する深冷分離手
段を備えた高純度窒素製造装置において、前記燃焼触媒
を出た後のガス中のＣＯ濃度を検出して、前記ＣＯ濃度
の高低に応じて前記燃焼触媒層の反応温度を制御するこ
とにある。
の可燃性不純ガスを燃焼触媒を通過させて燃焼させる手
段と前記燃焼触媒を通過して転化されたＣＯ2またはＨ2
Ｏを吸着除去する手段及び前記可燃性不純ガスが除去さ
れた空気を精留分離して窒素ガスを製造する深冷分離手
段を備えた高純度窒素製造装置において、前記燃焼触媒
を出た後のガス中のＣＯ濃度を検出して、前記ＣＯ濃度
の高低に応じて前記燃焼触媒層の反応温度を制御するこ
とにある。
【００１４】
【作用】上述したように原料空気中の可燃性不純ガスを
燃焼触媒を用いて除去する際、可燃性不純ガス中の内、
特に濃度変動幅に特異性のあるＣＯを検出して、ＣＯ濃
度の変化を指標として触媒層の反応温度を制御すると、
製品窒素中における可燃性不純ガスの濃度変動を抑制す
ることができる。すなわち、原料空気中の可燃性不純ガ
ス濃度が変動して濃度が高くなっても触媒層の反応温度
が一定であると、触媒層はその反応温度に対応した除去
率であるため、可燃性不純ガス濃度が高くなった分触媒
層を出た空気中に含まれる可燃性不純ガス濃度も高くな
る。そして、この空気が原料として深冷分離処理される
ため、必然的に製品窒素中に含まれる可燃性不純ガス濃
度も高くなる。特に、可燃性不純ガスの内、ＣＯは特異
の時間帯に大きく濃度変動する現象を示すため、製品窒
素の純度は製造時間帯によって変動することになる。
燃焼触媒を用いて除去する際、可燃性不純ガス中の内、
特に濃度変動幅に特異性のあるＣＯを検出して、ＣＯ濃
度の変化を指標として触媒層の反応温度を制御すると、
製品窒素中における可燃性不純ガスの濃度変動を抑制す
ることができる。すなわち、原料空気中の可燃性不純ガ
ス濃度が変動して濃度が高くなっても触媒層の反応温度
が一定であると、触媒層はその反応温度に対応した除去
率であるため、可燃性不純ガス濃度が高くなった分触媒
層を出た空気中に含まれる可燃性不純ガス濃度も高くな
る。そして、この空気が原料として深冷分離処理される
ため、必然的に製品窒素中に含まれる可燃性不純ガス濃
度も高くなる。特に、可燃性不純ガスの内、ＣＯは特異
の時間帯に大きく濃度変動する現象を示すため、製品窒
素の純度は製造時間帯によって変動することになる。
【００１５】これに対して、触媒層の反応温度を触媒層
を出たＣＯ濃度とＣＯ検出点におけるＣＯ濃度目標値と
の偏差に応じて制御し、反応温度を変化させて可燃性不
純ガスの除去率を変化させるようにすると、原料空気中
のＣＯ濃度が変動して高くなっても、反応温度の設定値
が高く制御されて触媒層のＣＯ除去率が高められている
ので、触媒層を出た空気中に含まれるＣＯ濃度が高くな
るのが抑制される。この結果、原料空気中の可燃性不純
ガス濃度が変動しても製品窒素中に残留する可燃性不純
物濃度の変動が抑制されて、製造時間帯の経緯に関係無
く純度の高い製品窒素を提供することができる。
を出たＣＯ濃度とＣＯ検出点におけるＣＯ濃度目標値と
の偏差に応じて制御し、反応温度を変化させて可燃性不
純ガスの除去率を変化させるようにすると、原料空気中
のＣＯ濃度が変動して高くなっても、反応温度の設定値
が高く制御されて触媒層のＣＯ除去率が高められている
ので、触媒層を出た空気中に含まれるＣＯ濃度が高くな
るのが抑制される。この結果、原料空気中の可燃性不純
ガス濃度が変動しても製品窒素中に残留する可燃性不純
物濃度の変動が抑制されて、製造時間帯の経緯に関係無
く純度の高い製品窒素を提供することができる。
【００１６】
【実施例】以下、本発明の一実施例について説明する。
図１に示す高純度窒素製造装置のシステムフローにおい
て、１は圧縮機で、除塵器２を介して原料空気Ａ1 を所
定圧力まで加圧し、触媒層３に供給する。
図１に示す高純度窒素製造装置のシステムフローにおい
て、１は圧縮機で、除塵器２を介して原料空気Ａ1 を所
定圧力まで加圧し、触媒層３に供給する。
【００１７】４は触媒層３の入口側に配設された加熱器
で、原料空気Ａ1 を所定温度まで昇温し、加熱器４は触
媒層３内の反応温度を後述する設定された温度Ｔ0 に制
御する。
で、原料空気Ａ1 を所定温度まで昇温し、加熱器４は触
媒層３内の反応温度を後述する設定された温度Ｔ0 に制
御する。
【００１８】触媒層３内にはハニカム形状を有する触媒
５が充填されている。触媒としては、低温域で高活性な
Ｐｔ触媒またはＰｄ触媒等の貴金属触媒が選定される
が、触媒の種類が特に限定されるものではない。原料空
気Ａ1 は加熱器４を介して予熱され、触媒層３に流入す
る。ここで、原料空気Ａ1 中に微量含まれているＣＯま
たはＨ2等の可燃性不純ガスが触媒燃焼される。これに
伴ってＣＯまたはＨ2等はＣＯ2またはＨ2Ｏに転化され
る。
５が充填されている。触媒としては、低温域で高活性な
Ｐｔ触媒またはＰｄ触媒等の貴金属触媒が選定される
が、触媒の種類が特に限定されるものではない。原料空
気Ａ1 は加熱器４を介して予熱され、触媒層３に流入す
る。ここで、原料空気Ａ1 中に微量含まれているＣＯま
たはＨ2等の可燃性不純ガスが触媒燃焼される。これに
伴ってＣＯまたはＨ2等はＣＯ2またはＨ2Ｏに転化され
る。
【００１９】６は触媒層３の出口側に配設された吸着分
離器で、この吸着分離器は触媒層３で転化された原料空
気Ａ2 中のＣＯ2またはＨ2Ｏ等の不純物を吸着分離し、
不純物は脱着されて系外Ｅに排出される。そして、ＣＯ
2またはＨ2Ｏ等を含まない処理された原料空気Ａ2は導
管７を介して後述する深冷分離装置８に供給される。圧
力差吸着法による吸着分離器６内には図示していない
が、活性アルミナ等の吸着剤が吸着塔９Ａ及び９Ｂ内に
充填されている。そして、一方の吸着塔９Ａが飽和に達
する前に、再生された他方の吸着塔９Ｂに原料空気Ａ2
の供給が行われ吸着塔の切替が行われる。各吸着塔９
Ａ，９Ｂの切替操作は図示していないが、シーケンスコ
ントローラ（図示せず）等によって操作される。
離器で、この吸着分離器は触媒層３で転化された原料空
気Ａ2 中のＣＯ2またはＨ2Ｏ等の不純物を吸着分離し、
不純物は脱着されて系外Ｅに排出される。そして、ＣＯ
2またはＨ2Ｏ等を含まない処理された原料空気Ａ2は導
管７を介して後述する深冷分離装置８に供給される。圧
力差吸着法による吸着分離器６内には図示していない
が、活性アルミナ等の吸着剤が吸着塔９Ａ及び９Ｂ内に
充填されている。そして、一方の吸着塔９Ａが飽和に達
する前に、再生された他方の吸着塔９Ｂに原料空気Ａ2
の供給が行われ吸着塔の切替が行われる。各吸着塔９
Ａ，９Ｂの切替操作は図示していないが、シーケンスコ
ントローラ（図示せず）等によって操作される。
【００２０】深冷分離装置８は、熱交換器１１及び精留
塔１２等から主要部が構成され、先ず、導管７により原
料空気Ａ3 は熱交換器１１に導入される。ここで、原料
空気Ａ3 は窒素ガス，廃ガスと熱交換して冷却される。
塔１２等から主要部が構成され、先ず、導管７により原
料空気Ａ3 は熱交換器１１に導入される。ここで、原料
空気Ａ3 は窒素ガス，廃ガスと熱交換して冷却される。
【００２１】次に、原料空気Ａ3 は精留塔１２の下部に
導管１３を介して供給される。原料空気Ａ3 は精留塔１
２内に多数配設されている精留皿１４の液体と気液接触
し、精留分離される。窒素ガスは精留塔１２上部の導管
１５を通じて精留塔１２より抜き出され、製品窒素ガス
Ｎとして導管１６を通じて送出される。
導管１３を介して供給される。原料空気Ａ3 は精留塔１
２内に多数配設されている精留皿１４の液体と気液接触
し、精留分離される。窒素ガスは精留塔１２上部の導管
１５を通じて精留塔１２より抜き出され、製品窒素ガス
Ｎとして導管１６を通じて送出される。
【００２２】前述のように製品窒素ガスが送出される場
合、精留操作の以前の段階で精留分離が困難なＣＯまた
はＨ2等は触媒燃焼によって除去されているため、純度
の高いガスが得られる。
合、精留操作の以前の段階で精留分離が困難なＣＯまた
はＨ2等は触媒燃焼によって除去されているため、純度
の高いガスが得られる。
【００２３】高純度窒素製造装置が前記のように構成さ
れている場合、さらに触媒層３の反応温度を制御する温
度制御手段Ｃが次のように構成されている。この構成の
詳細について図２に基づいて説明する。１７は触媒層３
を出た後のガスの一部をサンプリングして、ガス中のＣ
Ｏ濃度を検出する検出手段で、検出手段は、先に説明し
たＡＰＩＭＡＳかまたはガスクロマトグラフ等により行
われる。ＣＯ濃度の検出対象となるガスは触媒層３を出
た後の原料空気Ａ2 かまたは深冷分離装置８を出た製品
窒素Ｎであってもよいが、ＡＰＩＭＡＳを用いる場合は
製品窒素が好ましい。ガスの一部は連続的にサンプリン
グされて、ガス濃度検出手段によりＣＯ濃度が検出され
る。検出値は出力値Ｄ1 として比較器１８に入力され
る。さらに、この比較器１８には触媒層３を出た後のガ
ス中のＣＯ濃度目標値Ｋ1 が入力される。この目標値Ｋ
1 はオペレータ等により入力され、任意に設定変更可能
である。比較器１８では、出力値Ｄ1とＣＯ濃度目標値
Ｋ1との偏差ΔＣＯが求められ、偏差ΔＣＯは演算器１
９に入力される。演算器１９では、偏差ΔＣＯに対応し
た修正温度ΔＴｍが求められ、この修正温度ΔＴｍは演
算器２０に入力される。偏差ΔＣＯと修正温度Ｔｍの関
係は、図３に示すように、予め使用する触媒の特性に応
じて設定される。演算器２０には、さらに基準設定温度
Ｔｎがオペレータ等によって予め入力され、数１に従っ
て触媒層３の基準反応温度Ｔ0 が求められる。
れている場合、さらに触媒層３の反応温度を制御する温
度制御手段Ｃが次のように構成されている。この構成の
詳細について図２に基づいて説明する。１７は触媒層３
を出た後のガスの一部をサンプリングして、ガス中のＣ
Ｏ濃度を検出する検出手段で、検出手段は、先に説明し
たＡＰＩＭＡＳかまたはガスクロマトグラフ等により行
われる。ＣＯ濃度の検出対象となるガスは触媒層３を出
た後の原料空気Ａ2 かまたは深冷分離装置８を出た製品
窒素Ｎであってもよいが、ＡＰＩＭＡＳを用いる場合は
製品窒素が好ましい。ガスの一部は連続的にサンプリン
グされて、ガス濃度検出手段によりＣＯ濃度が検出され
る。検出値は出力値Ｄ1 として比較器１８に入力され
る。さらに、この比較器１８には触媒層３を出た後のガ
ス中のＣＯ濃度目標値Ｋ1 が入力される。この目標値Ｋ
1 はオペレータ等により入力され、任意に設定変更可能
である。比較器１８では、出力値Ｄ1とＣＯ濃度目標値
Ｋ1との偏差ΔＣＯが求められ、偏差ΔＣＯは演算器１
９に入力される。演算器１９では、偏差ΔＣＯに対応し
た修正温度ΔＴｍが求められ、この修正温度ΔＴｍは演
算器２０に入力される。偏差ΔＣＯと修正温度Ｔｍの関
係は、図３に示すように、予め使用する触媒の特性に応
じて設定される。演算器２０には、さらに基準設定温度
Ｔｎがオペレータ等によって予め入力され、数１に従っ
て触媒層３の基準反応温度Ｔ0 が求められる。
【００２４】 Ｔ0＝Ｔｎ＋ΔＴｍ …（数１） 基準設定温度Ｔｎはオペレータ等によって任意に設定さ
れ、予め使用する触媒の特性に応じた反応温度から求め
られる。すなわち、触媒燃焼時の反応温度に対する可燃
性ガス（たとえばＣＯ）の除去特性は反応温度が高くな
るにつれて高くなる。したがって、予め前記した触媒の
ＣＯ除去率の特性を求めて、所定の除去率を得る基準設
定温度Ｔｎを設定する。次に、演算器２０で求められた
基準反応温度Ｔ0 は加熱器４の温度制御器２１に入力さ
れる。この温度制御器２１は演算器２０からの出力値で
ある基準反応温度Ｔ0 に基づいて触媒層３の温度が基準
反応温度Ｔ0 になるように触媒層３の温度Ｔｃを検出し
てフィードバック制御する。
れ、予め使用する触媒の特性に応じた反応温度から求め
られる。すなわち、触媒燃焼時の反応温度に対する可燃
性ガス（たとえばＣＯ）の除去特性は反応温度が高くな
るにつれて高くなる。したがって、予め前記した触媒の
ＣＯ除去率の特性を求めて、所定の除去率を得る基準設
定温度Ｔｎを設定する。次に、演算器２０で求められた
基準反応温度Ｔ0 は加熱器４の温度制御器２１に入力さ
れる。この温度制御器２１は演算器２０からの出力値で
ある基準反応温度Ｔ0 に基づいて触媒層３の温度が基準
反応温度Ｔ0 になるように触媒層３の温度Ｔｃを検出し
てフィードバック制御する。
【００２５】次に係る構成の動作について説明する。先
ず、原料空気Ａ1 は加熱器４を介して触媒層３内に入
り、ここで原料空気中の可燃性不純物は燃焼触媒５によ
って酸化されて、Ｈ2ＯまたはＣＯ2に転化される。転化
成分はその後吸着分離器６で吸着され、かつ系外に排出
される。可燃性不純物及び転化成分が除去された原料空
気Ａ3 は、その後、深冷分離装置８に導入され、ここで
精留分離されて製品窒素ガスＮが製造される。
ず、原料空気Ａ1 は加熱器４を介して触媒層３内に入
り、ここで原料空気中の可燃性不純物は燃焼触媒５によ
って酸化されて、Ｈ2ＯまたはＣＯ2に転化される。転化
成分はその後吸着分離器６で吸着され、かつ系外に排出
される。可燃性不純物及び転化成分が除去された原料空
気Ａ3 は、その後、深冷分離装置８に導入され、ここで
精留分離されて製品窒素ガスＮが製造される。
【００２６】前記のようにして製品窒素ガスが製造され
る場合、触媒層３の反応温度は次のように制御される。
すなわち、触媒層３を出た後のガス中のＣＯ濃度の検出
結果が出力値Ｄ1 として比較器１８に入力され、ここ
で、予め入力されたＣＯ濃度目標値Ｋ1 との偏差ΔＣＯ
が求められる。そして、この偏差ΔＣＯは演算器１９に
入力され、演算器１９で偏差ΔＣＯに対応した修正温度
ΔＴｍが求められる。修正温度Ｔｍは偏差ΔＣＯを修正
するに必要な温度であり、偏差ΔＣＯが大きくなるにつ
れ修正温度Ｔｍも大きくなり、偏差ΔＣＯが小さけれ
ば、その分、修正温度Ｔｍも小さくなる。一方、可燃性
ガス濃度の検出手段１７からの出力値Ｄ1 と目標値Ｋ1
との偏差が負の偏差−ΔＣＯである場合、演算器１９で
求められる修正温度は負の修正温度−ΔＴｍとして求め
られる。
る場合、触媒層３の反応温度は次のように制御される。
すなわち、触媒層３を出た後のガス中のＣＯ濃度の検出
結果が出力値Ｄ1 として比較器１８に入力され、ここ
で、予め入力されたＣＯ濃度目標値Ｋ1 との偏差ΔＣＯ
が求められる。そして、この偏差ΔＣＯは演算器１９に
入力され、演算器１９で偏差ΔＣＯに対応した修正温度
ΔＴｍが求められる。修正温度Ｔｍは偏差ΔＣＯを修正
するに必要な温度であり、偏差ΔＣＯが大きくなるにつ
れ修正温度Ｔｍも大きくなり、偏差ΔＣＯが小さけれ
ば、その分、修正温度Ｔｍも小さくなる。一方、可燃性
ガス濃度の検出手段１７からの出力値Ｄ1 と目標値Ｋ1
との偏差が負の偏差−ΔＣＯである場合、演算器１９で
求められる修正温度は負の修正温度−ΔＴｍとして求め
られる。
【００２７】演算器１９で求められた修正温度Ｔｍは他
の演算器２０に入力され、ここで基準設定温度Ｔｎに加
算されて触媒層３の反応温度を制御する基準反応温度Ｔ
0 が求められる。基準反応温度Ｔ0 は加熱器４の温度制
御器２１に入力され、この温度制御器２１は触媒層３の
反応温度Ｔｃが基準反応温度Ｔ0 になるように加熱器４
を制御する。
の演算器２０に入力され、ここで基準設定温度Ｔｎに加
算されて触媒層３の反応温度を制御する基準反応温度Ｔ
0 が求められる。基準反応温度Ｔ0 は加熱器４の温度制
御器２１に入力され、この温度制御器２１は触媒層３の
反応温度Ｔｃが基準反応温度Ｔ0 になるように加熱器４
を制御する。
【００２８】このようにして、触媒層３の反応温度を制
御するが、原料空気中の可燃性不純ガスの濃度は時間帯
によって大きく変化する。中でもＣＯガスの濃度が特定
の時間帯に顕著に高くなる特異性を示す。
御するが、原料空気中の可燃性不純ガスの濃度は時間帯
によって大きく変化する。中でもＣＯガスの濃度が特定
の時間帯に顕著に高くなる特異性を示す。
【００２９】ところで、触媒層の反応温度を制御する際
に、本発明では触媒層３を出た可燃性ガスの内、変動幅
が大きく、かつ特異性のある濃度変動を示すＣＯ濃度を
検出している。そして、ＣＯ濃度とＣＯ濃度検出点にお
けるＣＯ濃度目標値Ｋ1 との偏差ΔＣＯに応じて触媒層
３の反応温度を制御している。
に、本発明では触媒層３を出た可燃性ガスの内、変動幅
が大きく、かつ特異性のある濃度変動を示すＣＯ濃度を
検出している。そして、ＣＯ濃度とＣＯ濃度検出点にお
けるＣＯ濃度目標値Ｋ1 との偏差ΔＣＯに応じて触媒層
３の反応温度を制御している。
【００３０】したがって、特定の時間帯にＣＯ濃度が著
しく高くなって触媒層３を通過したガス中のＣＯ濃度が
高くなる傾向にあると、ＣＯ検出点における目標値Ｋ1
とガス中のＣＯ濃度との偏差ΔＣＯが大きくなる。しか
し、この偏差ΔＣＯに従って反応温度を高めるに必要な
修正温度ΔＴｍが演算器１９で求められ、かつ、修正温
度ΔＴｍが基準設定温度Ｔｎに加算されて触媒層３の基
準反応温度Ｔ0 が求められ、高除去率を維持する高めの
温度Ｔ0 に触媒層３の反応温度が制御される。したがっ
て、前述のように特定の時間帯に原料空気中のＣＯ濃度
が高くなっても、触媒層３を通過したガス中のＣＯ濃度
が高くなるのが防止されることになり、製品窒素中に残
留する可燃性不純物濃度の変動が抑制される。
しく高くなって触媒層３を通過したガス中のＣＯ濃度が
高くなる傾向にあると、ＣＯ検出点における目標値Ｋ1
とガス中のＣＯ濃度との偏差ΔＣＯが大きくなる。しか
し、この偏差ΔＣＯに従って反応温度を高めるに必要な
修正温度ΔＴｍが演算器１９で求められ、かつ、修正温
度ΔＴｍが基準設定温度Ｔｎに加算されて触媒層３の基
準反応温度Ｔ0 が求められ、高除去率を維持する高めの
温度Ｔ0 に触媒層３の反応温度が制御される。したがっ
て、前述のように特定の時間帯に原料空気中のＣＯ濃度
が高くなっても、触媒層３を通過したガス中のＣＯ濃度
が高くなるのが防止されることになり、製品窒素中に残
留する可燃性不純物濃度の変動が抑制される。
【００３１】一方、原料空気中の可燃性不純物の濃度が
時間帯の変化によって低下してくると、触媒層３は高い
除去率を得るに必要な反応温度に維持されているため、
触媒層３を通過したガス中のＣＯ濃度は低下する傾向と
なる。この場合、目標値Ｋ１よりも触媒層３を通過した
ガス中のＣＯ濃度が下回って、負の偏差−ΔＣＯとなる
と触媒層３の反応温度Ｔ０ を下げるに必要な負の修正
温度−ΔＴｍが演算器１９で求められる。そして、修正
温度−ΔＴｍが演算器２０に入力されることによって基
準設定温度Ｔｎを減じ、ＣＯ濃度の低下に対応した触媒
層３の基準反応温度Ｔ0が求められ、温度Ｔ0によって触
媒層３の反応温度が制御される。したがって、原料空気
中のＣＯ濃度が低下しても、ＣＯ濃度検出点における目
標値との偏差が少なく製品窒素中に残留する可燃性不純
物濃度の変動が抑制される。
時間帯の変化によって低下してくると、触媒層３は高い
除去率を得るに必要な反応温度に維持されているため、
触媒層３を通過したガス中のＣＯ濃度は低下する傾向と
なる。この場合、目標値Ｋ１よりも触媒層３を通過した
ガス中のＣＯ濃度が下回って、負の偏差−ΔＣＯとなる
と触媒層３の反応温度Ｔ０ を下げるに必要な負の修正
温度−ΔＴｍが演算器１９で求められる。そして、修正
温度−ΔＴｍが演算器２０に入力されることによって基
準設定温度Ｔｎを減じ、ＣＯ濃度の低下に対応した触媒
層３の基準反応温度Ｔ0が求められ、温度Ｔ0によって触
媒層３の反応温度が制御される。したがって、原料空気
中のＣＯ濃度が低下しても、ＣＯ濃度検出点における目
標値との偏差が少なく製品窒素中に残留する可燃性不純
物濃度の変動が抑制される。
【００３２】
【発明の効果】本発明によれば、製品窒素中の可燃性不
純ガス濃度の変動幅が抑制されて、純度の高い製品窒素
を得るに好適な高純度窒素製造装置を提供することがで
きる。
純ガス濃度の変動幅が抑制されて、純度の高い製品窒素
を得るに好適な高純度窒素製造装置を提供することがで
きる。
【図１】本発明の一実施例を示す高純度窒素製造装置の
系統図。
系統図。
【図２】図１の部分詳細を示すブロック図。
【図３】図２の部分説明図。
【図４】製品窒素中可燃性ガスの時間経過に対する濃度
変化の特性図。
変化の特性図。
１…圧縮機、３…触媒層、４…加熱器、６…吸着分離
器、８…深冷分離装置、１１…熱交換器、１２…精留
塔。
器、８…深冷分離装置、１１…熱交換器、１２…精留
塔。
フロントページの続き (72)発明者 山本 昭夫 山口県下松市東豊井794番地 株式会社日 立製作所笠戸工場内
Claims (1)
- 【請求項１】原料空気中の可燃性不純ガスを燃焼触媒を
通過させて燃焼させる手段と前記燃焼触媒を通過して転
化されたＣＯ2またはＨ2Ｏを吸着除去する手段及び前記
可燃性不純ガスが除去された空気を精留分離して窒素ガ
スを製造する深冷分離手段を備えた高純度窒素製造装置
において、前記燃焼触媒が充填された触媒層の出口側の
ガス中のＣＯ濃度を検出して、検出点におけるＣＯ濃度
目標値と前記ＣＯ濃度との偏差に応じて前記触媒層内の
温度を制御することを特徴とする高純度窒素製造装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31814392A JPH06166503A (ja) | 1992-11-27 | 1992-11-27 | 高純度窒素製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31814392A JPH06166503A (ja) | 1992-11-27 | 1992-11-27 | 高純度窒素製造装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06166503A true JPH06166503A (ja) | 1994-06-14 |
Family
ID=18095980
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31814392A Pending JPH06166503A (ja) | 1992-11-27 | 1992-11-27 | 高純度窒素製造装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06166503A (ja) |
-
1992
- 1992-11-27 JP JP31814392A patent/JPH06166503A/ja active Pending
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