JPH06164056A - 光走査用光源装置 - Google Patents
光走査用光源装置Info
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- JPH06164056A JPH06164056A JP43A JP31514992A JPH06164056A JP H06164056 A JPH06164056 A JP H06164056A JP 43 A JP43 A JP 43A JP 31514992 A JP31514992 A JP 31514992A JP H06164056 A JPH06164056 A JP H06164056A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 複数の発光点を有する半導体レーザの光出力
の検出を確実に行い、温度変化等の影響による発光出力
変動を適正に補正し得るようにすること。 【構成】 個別に発光制御される複数の発光源を有する
半導体レーザ１１から出射される光束を用いて光書込み
を行わせるようにした光走査用光源装置において、半導
体レーザ１１から出射される光束の一部を分光させるハ
ーフミラー１６と、このハーフミラー１６により分光反
射された検出光束１５を受光する受光部１８とを、半導
体レーザ１１を支持するベース部材１３上に一体化して
取付けた。
の検出を確実に行い、温度変化等の影響による発光出力
変動を適正に補正し得るようにすること。 【構成】 個別に発光制御される複数の発光源を有する
半導体レーザ１１から出射される光束を用いて光書込み
を行わせるようにした光走査用光源装置において、半導
体レーザ１１から出射される光束の一部を分光させるハ
ーフミラー１６と、このハーフミラー１６により分光反
射された検出光束１５を受光する受光部１８とを、半導
体レーザ１１を支持するベース部材１３上に一体化して
取付けた。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザプリンタ、デジ
タル複写機等の光走査書込み用に用いられる光走査用光
源装置に関する。
タル複写機等の光走査書込み用に用いられる光走査用光
源装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、各方面でのレーザ技術の利用が盛
んであり、その一つとして、画像記録を行うための光書
込み用にも半導体レーザ等のレーザ光源が用いられるよ
うになってきている。図６はこのような半導体レーザ１
の概略構成を示すもので、その主体をなすレーザチップ
（光源）２と、そのバックビームを検出光として受光す
るフォトダイオード３とを一体化搭載してなる。
んであり、その一つとして、画像記録を行うための光書
込み用にも半導体レーザ等のレーザ光源が用いられるよ
うになってきている。図６はこのような半導体レーザ１
の概略構成を示すもので、その主体をなすレーザチップ
（光源）２と、そのバックビームを検出光として受光す
るフォトダイオード３とを一体化搭載してなる。
【０００３】このようなフォトダイオード３を備えるの
は、一般に、半導体レーザ出力が図７に示すような温度
特性を有するため、図８に示すように、フォトダイオー
ド３の検出出力を出力検知部４で検知し、メインの出力
設定回路５を通して半導体レーザ制御板６にフィードバ
ック補正させ、半導体レーザ出力を温度変化に関係なく
安定化させるためである。
は、一般に、半導体レーザ出力が図７に示すような温度
特性を有するため、図８に示すように、フォトダイオー
ド３の検出出力を出力検知部４で検知し、メインの出力
設定回路５を通して半導体レーザ制御板６にフィードバ
ック補正させ、半導体レーザ出力を温度変化に関係なく
安定化させるためである。
【０００４】ところで、この種の光走査装置では、例え
ば１つの光源で複数ライン分の光書込みを同時に行い、
一層の高速化を図る等の目的のため、最近では、複数の
発光源を有する半導体レーザを用い、各発光源を個別に
発光制御するようにしたものもある。
ば１つの光源で複数ライン分の光書込みを同時に行い、
一層の高速化を図る等の目的のため、最近では、複数の
発光源を有する半導体レーザを用い、各発光源を個別に
発光制御するようにしたものもある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】このような複数個の発
光点を有する半導体レーザの場合も、温度変化に伴い、
その出力が変動するので、出力のフィードバック補正手
段が必要となる。しかし、半導体レーザにおいて、各発
光源対応のバックビームを図６の場合のような１個のフ
ォトダイオードで個別に検出するのは、回路構成上、困
難であり、安定した出力が得られないものとなってい
る。
光点を有する半導体レーザの場合も、温度変化に伴い、
その出力が変動するので、出力のフィードバック補正手
段が必要となる。しかし、半導体レーザにおいて、各発
光源対応のバックビームを図６の場合のような１個のフ
ォトダイオードで個別に検出するのは、回路構成上、困
難であり、安定した出力が得られないものとなってい
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明で
は、個別に発光制御される複数の発光源を有する半導体
レーザから出射される光束を用いて光書込みを行わせる
ようにした光走査用光源装置において、前記半導体レー
ザから出射される光束の一部を分光させるハーフミラー
と、このハーフミラーにより分光反射された検出光束を
受光する受光部とを、前記半導体レーザを支持するベー
ス部材上に一体化して取付けた。
は、個別に発光制御される複数の発光源を有する半導体
レーザから出射される光束を用いて光書込みを行わせる
ようにした光走査用光源装置において、前記半導体レー
ザから出射される光束の一部を分光させるハーフミラー
と、このハーフミラーにより分光反射された検出光束を
受光する受光部とを、前記半導体レーザを支持するベー
ス部材上に一体化して取付けた。
【０００７】この際、請求項２記載の発明では、受光部
を、光センサの受光面とし、請求項３記載の発明では、
受光部を、検出光束を受光素子に導く光ファイバの導入
口とし、この光ファイバの導入口を保持する保持部をベ
ース部材に形成した。
を、光センサの受光面とし、請求項３記載の発明では、
受光部を、検出光束を受光素子に導く光ファイバの導入
口とし、この光ファイバの導入口を保持する保持部をベ
ース部材に形成した。
【０００８】また、請求項４記載の発明では、半導体レ
ーザの発光源と受光部との間の光学的共役関係をなす位
置にハーフミラーにより分光反射された検出光束を前記
受光部上に集光させる集光レンズを設け、請求項５記載
の発明では、半導体レーザの発光源と受光部との間の光
学的共役関係をなす位置にハーフミラーにより分光反射
された検出光束を前記受光部上に集光させる凹面ミラー
を設けた。
ーザの発光源と受光部との間の光学的共役関係をなす位
置にハーフミラーにより分光反射された検出光束を前記
受光部上に集光させる集光レンズを設け、請求項５記載
の発明では、半導体レーザの発光源と受光部との間の光
学的共役関係をなす位置にハーフミラーにより分光反射
された検出光束を前記受光部上に集光させる凹面ミラー
を設けた。
【０００９】請求項６記載の発明では、受光部に入射す
る検出光束の光軸を受光部の法線に対して傾けて設定し
た。
る検出光束の光軸を受光部の法線に対して傾けて設定し
た。
【００１０】また、請求項７記載の発明では、光センサ
が取付けられるとともに半導体レーザに対する駆動回路
の一部が形成された回路基板をベース部材に一体化し
た。
が取付けられるとともに半導体レーザに対する駆動回路
の一部が形成された回路基板をベース部材に一体化し
た。
【００１１】
【作用】請求項１，２記載の発明においては、複数の発
光源を有する半導体レーザから出射される光束の一部を
ハーフミラーで分光反射させて検出光束として光センサ
等の受光部に導き、出力制御に供するので、複数発光源
方式のものにおいて安定した光出力を得ることができ、
この際、これらのハーフミラーや受光部が半導体レーザ
用のベース部材に一体化して取付けられているので、コ
リメータレンズとの位置調整時等においても光出力の検
出が可能となり、結局、従来の単一発光源方式の光源装
置と同様に取扱えるものとなる。
光源を有する半導体レーザから出射される光束の一部を
ハーフミラーで分光反射させて検出光束として光センサ
等の受光部に導き、出力制御に供するので、複数発光源
方式のものにおいて安定した光出力を得ることができ、
この際、これらのハーフミラーや受光部が半導体レーザ
用のベース部材に一体化して取付けられているので、コ
リメータレンズとの位置調整時等においても光出力の検
出が可能となり、結局、従来の単一発光源方式の光源装
置と同様に取扱えるものとなる。
【００１２】請求項３記載の発明による場合も同様の作
用をなすが、特に、受光部を光ファイバの導入口として
保持部によりベース部材に一体化しているので、回路基
板をベース部材に一体化できないような場合において、
外部ノイズ等の影響を受けることなく検出光束を受光素
子まで光伝送されるものとなり、確実な検出が可能とな
る。
用をなすが、特に、受光部を光ファイバの導入口として
保持部によりベース部材に一体化しているので、回路基
板をベース部材に一体化できないような場合において、
外部ノイズ等の影響を受けることなく検出光束を受光素
子まで光伝送されるものとなり、確実な検出が可能とな
る。
【００１３】また、請求項４，５記載の発明において
は、集光レンズや凹面ミラーを用いて発光源・受光部間
を光学的共役関係位置に設定することにより、効率よく
検出光束を検出でき、光学素子の配置誤差や環境変化に
よる光路ずれ等の影響が極力回避されるものとなる。特
に、凹面ミラーによる場合には、部品点数の削減にも寄
与するものとなる。
は、集光レンズや凹面ミラーを用いて発光源・受光部間
を光学的共役関係位置に設定することにより、効率よく
検出光束を検出でき、光学素子の配置誤差や環境変化に
よる光路ずれ等の影響が極力回避されるものとなる。特
に、凹面ミラーによる場合には、部品点数の削減にも寄
与するものとなる。
【００１４】請求項６記載の発明においては、受光部に
入射する検出光束の光軸を受光部の法線に対して傾けて
設定したので、受光部からの戻り光による半導体レーザ
出力への影響を除去でき、安定した出力制御が可能とな
る。
入射する検出光束の光軸を受光部の法線に対して傾けて
設定したので、受光部からの戻り光による半導体レーザ
出力への影響を除去でき、安定した出力制御が可能とな
る。
【００１５】請求項７記載の発明においては、駆動回路
の一部が形成された回路基板をベース部材に一体化し、
半導体レーザはもちろん、光センサをも搭載して回路構
成したので、外部ノイズの影響の少ないものとなり、信
頼性の高い光検出が可能となる。
の一部が形成された回路基板をベース部材に一体化し、
半導体レーザはもちろん、光センサをも搭載して回路構
成したので、外部ノイズの影響の少ないものとなり、信
頼性の高い光検出が可能となる。
【００１６】
【実施例】本発明の第一の実施例を図１ないし図３に基
づいて説明する。まず、図８に示した出力検知部、出力
設定回路、半導体レーザ制御板等に相当する駆動回路が
形成されて、半導体レーザ１１が搭載接続されるＰＣ板
（回路基板）１２が設けられている。前記半導体レーザ
１１は個別に発光制御される複数の発光源（図示せず）
を有するもので、その発光側頭部が圧入固定される圧入
部１３ａが形成されたベース部材１３が設けられてい
る。このベース部材１３は前記ＰＣ板１２の係合孔１２
ａに係合される取付脚１３ｂを有する。ここに、前記圧
入部１３ａの上方は開放されており、前記半導体レーザ
１１の複数の発光源より出射される書込み光束１４が後
述するようにコリメータレンズ側に進行するように形成
されている。このような書込み光束１４の光軸上に位置
させてその一部を検出光束１５として直交する方向に分
光反射させるハーフミラー１６が設けられている。この
ハーフミラー１６により分光反射された検出光束１５を
さらに前記ＰＣ板１２側に向けてＬ字状に屈曲させる反
射ミラー１７が設けられ、ＰＣ板１２上の対応位置には
受光部となる光センサ１８が搭載されるとともに、ベー
ス部材１３側には光センサ取付用凹部１３ｃが形成され
ている。これにより、ベース部材１３には半導体レーザ
１１はもちろん、光センサ１８やＰＣ板１２も一体化さ
れている。
づいて説明する。まず、図８に示した出力検知部、出力
設定回路、半導体レーザ制御板等に相当する駆動回路が
形成されて、半導体レーザ１１が搭載接続されるＰＣ板
（回路基板）１２が設けられている。前記半導体レーザ
１１は個別に発光制御される複数の発光源（図示せず）
を有するもので、その発光側頭部が圧入固定される圧入
部１３ａが形成されたベース部材１３が設けられてい
る。このベース部材１３は前記ＰＣ板１２の係合孔１２
ａに係合される取付脚１３ｂを有する。ここに、前記圧
入部１３ａの上方は開放されており、前記半導体レーザ
１１の複数の発光源より出射される書込み光束１４が後
述するようにコリメータレンズ側に進行するように形成
されている。このような書込み光束１４の光軸上に位置
させてその一部を検出光束１５として直交する方向に分
光反射させるハーフミラー１６が設けられている。この
ハーフミラー１６により分光反射された検出光束１５を
さらに前記ＰＣ板１２側に向けてＬ字状に屈曲させる反
射ミラー１７が設けられ、ＰＣ板１２上の対応位置には
受光部となる光センサ１８が搭載されるとともに、ベー
ス部材１３側には光センサ取付用凹部１３ｃが形成され
ている。これにより、ベース部材１３には半導体レーザ
１１はもちろん、光センサ１８やＰＣ板１２も一体化さ
れている。
【００１７】さらに、前記ミラー１６，１７間の光路上
には集光レンズ１９が配設されている。この集光レンズ
１９はハーフミラー１６による検出光束１５を光センサ
１８の受光面上に集光させるものであり、半導体レーザ
１１の各発光源の発光点とこの光センサ１８の受光面と
が光学的共役関係をなす配置関係となるように設定され
ている。
には集光レンズ１９が配設されている。この集光レンズ
１９はハーフミラー１６による検出光束１５を光センサ
１８の受光面上に集光させるものであり、半導体レーザ
１１の各発光源の発光点とこの光センサ１８の受光面と
が光学的共役関係をなす配置関係となるように設定され
ている。
【００１８】ここに、前記光センサ１８に対する検出光
束１５の光軸は、光センサ１８の受光面法線に対して僅
かな角度θだけ傾斜させて設定されている。
束１５の光軸は、光センサ１８の受光面法線に対して僅
かな角度θだけ傾斜させて設定されている。
【００１９】前記ベース部材１３にはこれらのハーフミ
ラー１６、集光レンズ１９及び反射ミラー１７を所定の
位置、角度で取付けるための取付部１３ｄ，１３ｅ，１
３ｆが凹部壁に形成され、各部を押える脚部を有する板
ばね２０により係止されている。この板ばね２０はその
係止部２０ａがベース部材１３側面の突起部１３ｇに係
止することにより固定される。
ラー１６、集光レンズ１９及び反射ミラー１７を所定の
位置、角度で取付けるための取付部１３ｄ，１３ｅ，１
３ｆが凹部壁に形成され、各部を押える脚部を有する板
ばね２０により係止されている。この板ばね２０はその
係止部２０ａがベース部材１３側面の突起部１３ｇに係
止することにより固定される。
【００２０】さらに、このようなベース部材１３はコリ
メータレンズ２１が取付けられたフランジ２２に調整固
定されて、平行光束を出射する光源装置とされる。
メータレンズ２１が取付けられたフランジ２２に調整固
定されて、平行光束を出射する光源装置とされる。
【００２１】このような構成によれば、複数の発光源を
有する半導体レーザ１１に関してそのフロントビームで
ある書込み光束１４を用い、その一部をハーフミラー１
６により分光反射させて光センサ１８に入力させて光出
力を検出し、フィードバック制御に供するので、各発光
源の光出力を１個の光センサ１８にて支障なく検出し得
るものとなり、温度変化に対して安定して光出力を得る
ことができる。特に、このための光学部材である半導体
レーザ１１、ハーフミラー１６及び光センサ１８がベー
ス部材１３により一体化されて相互間の位置決めがなさ
れているので、コリメータレンズ２１との位置調整時等
にあっても、半導体レーザ１１の光出力を検出すること
ができ、従来の単一発光源方式の光源装置と同様に取扱
えるものとなる。また、半導体レーザ１１の他、駆動回
路が形成され、光センサ１８を搭載したＰＣ板１２もベ
ース部材１３に一体化されているので、回路処理がＰＣ
板１２上で済み、外部ノイズの影響を極力低減できるも
のとなる。さらには、検出光束１５を光センサ１８の受
光面に集光させる集光レンズ１９が設けられ、発光点・
受光面間が光学的共役関係をなすように設定されている
ので、効率よく光出力を検出できる。即ち、ベース部材
１３に対する半導体レーザ１１の圧入による配置誤差や
その他の光学素子の配置誤差、さらには、環境変化によ
る光路ずれの影響が極力小さなものとなる。さらには、
光センサ１８の受光面に対する検出光束１５の光軸が傾
き設定されているので、光センサ１８からの戻り光が半
導体レーザ１１側まで戻ることがなく、戻り光による半
導体レーサ１１の出力の不安定化を抑制できる。
有する半導体レーザ１１に関してそのフロントビームで
ある書込み光束１４を用い、その一部をハーフミラー１
６により分光反射させて光センサ１８に入力させて光出
力を検出し、フィードバック制御に供するので、各発光
源の光出力を１個の光センサ１８にて支障なく検出し得
るものとなり、温度変化に対して安定して光出力を得る
ことができる。特に、このための光学部材である半導体
レーザ１１、ハーフミラー１６及び光センサ１８がベー
ス部材１３により一体化されて相互間の位置決めがなさ
れているので、コリメータレンズ２１との位置調整時等
にあっても、半導体レーザ１１の光出力を検出すること
ができ、従来の単一発光源方式の光源装置と同様に取扱
えるものとなる。また、半導体レーザ１１の他、駆動回
路が形成され、光センサ１８を搭載したＰＣ板１２もベ
ース部材１３に一体化されているので、回路処理がＰＣ
板１２上で済み、外部ノイズの影響を極力低減できるも
のとなる。さらには、検出光束１５を光センサ１８の受
光面に集光させる集光レンズ１９が設けられ、発光点・
受光面間が光学的共役関係をなすように設定されている
ので、効率よく光出力を検出できる。即ち、ベース部材
１３に対する半導体レーザ１１の圧入による配置誤差や
その他の光学素子の配置誤差、さらには、環境変化によ
る光路ずれの影響が極力小さなものとなる。さらには、
光センサ１８の受光面に対する検出光束１５の光軸が傾
き設定されているので、光センサ１８からの戻り光が半
導体レーザ１１側まで戻ることがなく、戻り光による半
導体レーサ１１の出力の不安定化を抑制できる。
【００２２】つづいて、本発明の第二の実施例を図４に
より説明する。前記実施例で示した部分と同一部分は同
一符号を用いて示す（以下の実施例でも同様とする）。
本実施例は、集光レンズ１９、反射ミラー１７に代え
て、集光機能を持つ凹面ミラー２３を設けたものであ
る。即ち、この凹面ミラー２３はハーフミラー１６によ
り分光反射された検出光束１５を光センサ１８の受光面
に集光させるものであり、発光点・受光面間が光学的共
役関係をなすように設定されている。
より説明する。前記実施例で示した部分と同一部分は同
一符号を用いて示す（以下の実施例でも同様とする）。
本実施例は、集光レンズ１９、反射ミラー１７に代え
て、集光機能を持つ凹面ミラー２３を設けたものであ
る。即ち、この凹面ミラー２３はハーフミラー１６によ
り分光反射された検出光束１５を光センサ１８の受光面
に集光させるものであり、発光点・受光面間が光学的共
役関係をなすように設定されている。
【００２３】よって、本実施例による場合も前記実施例
の場合と同様な効果が得られる上に、集光レンズ１９、
反射ミラー１７の機能が１つの光学部材（凹面ミラー２
３）で済み、部品点数を削減し得るものとなる。
の場合と同様な効果が得られる上に、集光レンズ１９、
反射ミラー１７の機能が１つの光学部材（凹面ミラー２
３）で済み、部品点数を削減し得るものとなる。
【００２４】なお、本実施例の場合も、凹面ミラー２３
による集光性に関して、その光軸が光センサ１８の受光
面法線に対して傾きを持つように設定してもよい。
による集光性に関して、その光軸が光センサ１８の受光
面法線に対して傾きを持つように設定してもよい。
【００２５】さらに、本発明の第三の実施例を図５によ
り説明する。本実施例は、光センサ１８に代えて、光フ
ァイバ２４の導入口２４ａを受光部として設け、検出光
束１５を光ファイバ２４により光伝送させて受光素子
（図示せず）に導くようにしたものである。ここに、光
ファイバ２４の端部のプラブ部２５をベース部材１３に
保持するための保持爪（保持部）１３ｈがベース部材１
３と一体的に形成されている。
り説明する。本実施例は、光センサ１８に代えて、光フ
ァイバ２４の導入口２４ａを受光部として設け、検出光
束１５を光ファイバ２４により光伝送させて受光素子
（図示せず）に導くようにしたものである。ここに、光
ファイバ２４の端部のプラブ部２５をベース部材１３に
保持するための保持爪（保持部）１３ｈがベース部材１
３と一体的に形成されている。
【００２６】本実施例による場合も、前述した実施例と
同様の効果が得られるが、特に、ＰＣ板１２をベース部
材１３に一体化させることができない場合に効果的とな
る。即ち、このような場合に光センサ１８で受光してＰ
Ｃ板１２上の回路に導くと、センサ・ＰＣ板間のリード
線部分が外部ノイズの影響を受けることになるが、光フ
ァイバ２４による光伝送によるため、外部ノイズに強い
ものとなる。
同様の効果が得られるが、特に、ＰＣ板１２をベース部
材１３に一体化させることができない場合に効果的とな
る。即ち、このような場合に光センサ１８で受光してＰ
Ｃ板１２上の回路に導くと、センサ・ＰＣ板間のリード
線部分が外部ノイズの影響を受けることになるが、光フ
ァイバ２４による光伝送によるため、外部ノイズに強い
ものとなる。
【００２７】
【発明の効果】請求項１，２記載の発明によれば、複数
の発光源を有する半導体レーザから出射される光束の一
部をハーフミラーで分光反射させて検出光束として光セ
ンサの受光面、光ファイバの導入口等の受光部に導き、
光出力を検出し出力制御に供するようにしたので、複数
発光源方式のものにおいて安定した光出力を得ることが
でき、この際、これらのハーフミラーや受光部が半導体
レーザ用のベース部材に一体化して取付けられているの
で、コリメータレンズとの位置調整時等においても光出
力の検出が可能となり、結局、従来の単一発光源方式の
光源装置と同様に取扱えるものとなる。特に、請求項３
記載の発明による場合には、受光部を光ファイバの導入
口として保持部によりベース部材に一体化したので、回
路基板をベース部材に一体化できないような場合におい
て、外部ノイズ等の影響を受けることなく検出光束を受
光素子まで光伝送されるものとなり、確実な検出が可能
となる。
の発光源を有する半導体レーザから出射される光束の一
部をハーフミラーで分光反射させて検出光束として光セ
ンサの受光面、光ファイバの導入口等の受光部に導き、
光出力を検出し出力制御に供するようにしたので、複数
発光源方式のものにおいて安定した光出力を得ることが
でき、この際、これらのハーフミラーや受光部が半導体
レーザ用のベース部材に一体化して取付けられているの
で、コリメータレンズとの位置調整時等においても光出
力の検出が可能となり、結局、従来の単一発光源方式の
光源装置と同様に取扱えるものとなる。特に、請求項３
記載の発明による場合には、受光部を光ファイバの導入
口として保持部によりベース部材に一体化したので、回
路基板をベース部材に一体化できないような場合におい
て、外部ノイズ等の影響を受けることなく検出光束を受
光素子まで光伝送されるものとなり、確実な検出が可能
となる。
【００２８】また、請求項４，５記載の発明によれば、
検出光束を受光部に集光させる集光レンズや凹面ミラー
を用いて発光源・受光部間を光学的共役関係に設定した
ので、効率よく検出光束を検出することができ、半導体
レーザ等の光学素子の配置誤差や環境変化による光路ず
れ等の影響を極力回避でき、特に、凹面ミラーによる場
合には、部品点数の削減にも寄与するものとなる。
検出光束を受光部に集光させる集光レンズや凹面ミラー
を用いて発光源・受光部間を光学的共役関係に設定した
ので、効率よく検出光束を検出することができ、半導体
レーザ等の光学素子の配置誤差や環境変化による光路ず
れ等の影響を極力回避でき、特に、凹面ミラーによる場
合には、部品点数の削減にも寄与するものとなる。
【００２９】請求項６記載の発明によれば、受光部に入
射する検出光束の光軸を受光部の法線に対して傾けて設
定したので、受光部からの戻り光による半導体レーザ出
力への影響を除去でき、安定した出力制御が可能とな
る。
射する検出光束の光軸を受光部の法線に対して傾けて設
定したので、受光部からの戻り光による半導体レーザ出
力への影響を除去でき、安定した出力制御が可能とな
る。
【００３０】請求項７記載の発明によれば、駆動回路の
一部が形成された回路基板をベース部材に一体化し、半
導体レーザはもちろん、光センサも搭載して回路構成し
たので、外部ノイズの影響の少ないものとなり、信頼性
の高い光検出が可能となる。
一部が形成された回路基板をベース部材に一体化し、半
導体レーザはもちろん、光センサも搭載して回路構成し
たので、外部ノイズの影響の少ないものとなり、信頼性
の高い光検出が可能となる。
【図１】本発明の第一の実施例を示す断面構造図であ
る。
る。
【図２】その一部の分解斜視図である。
【図３】受光部付近を示す断面構造図である。
【図４】本発明の第二の実施例を示す断面構造図であ
る。
る。
【図５】本発明の第三の実施例を示す断面構造図であ
る。
る。
【図６】従来例を示す一般的な半導体レーザの一部を切
欠いた斜視図である。
欠いた斜視図である。
【図７】半導体レーザの温度−出力特性図である。
【図８】そのフィードバック制御系を示すブロック図で
ある。
ある。
１１ 半導体レーザ １２ 回路基板 １３ ベース部材 １３ｈ 保持部 １５ 検出光束 １６ ハーフミラー １８ 光センサ（受光部） １９ 集光レンズ ２３ 凹面ミラー ２４ 光ファイバ ２４ａ 導入口
Claims (7)
- 【請求項１】 個別に発光制御される複数の発光源を有
する半導体レーザから出射される光束を用いて光書込み
を行わせるようにした光走査用光源装置において、前記
半導体レーザから出射される光束の一部を分光させるハ
ーフミラーと、このハーフミラーにより分光反射された
検出光束を受光する受光部とを、前記半導体レーザを支
持するベース部材上に一体化して取付けたことを特徴と
する光走査用光源装置。 - 【請求項２】 受光部を、光センサの受光面としたこと
を特徴とする請求項１記載の光走査用光源装置。 - 【請求項３】 受光部を、検出光束を受光素子に導く光
ファイバの導入口とし、この光ファイバの導入口を保持
する保持部をベース部材に形成したことを特徴とする請
求項１記載の光走査用光源装置。 - 【請求項４】 半導体レーザの発光源と受光部との間の
光学的共役関係をなす位置にハーフミラーにより分光反
射された検出光束を前記受光部上に集光させる集光レン
ズを設けたことを特徴とする請求項１，２又は３記載の
光走査用光源装置。 - 【請求項５】 半導体レーザの発光源と受光部との間の
光学的共役関係をなす位置にハーフミラーにより分光反
射された検出光束を前記受光部上に集光させる凹面ミラ
ーを設けたことを特徴とする請求項１，２又は３記載の
光走査用光源装置。 - 【請求項６】 受光部に入射する検出光束の光軸を受光
部の法線に対して傾けて設定したことを特徴とする請求
項１，２，３，４又は５記載の光走査用光源装置。 - 【請求項７】 光センサが取付けられるとともに半導体
レーザに対する駆動回路の一部が形成された回路基板を
ベース部材に一体化したことを特徴とする請求項２，
４，５又は６記載の光走査用光源装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4315149A JP2908652B2 (ja) | 1992-11-25 | 1992-11-25 | 光走査用光源装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4315149A JP2908652B2 (ja) | 1992-11-25 | 1992-11-25 | 光走査用光源装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06164056A true JPH06164056A (ja) | 1994-06-10 |
| JP2908652B2 JP2908652B2 (ja) | 1999-06-21 |
Family
ID=18062008
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4315149A Expired - Lifetime JP2908652B2 (ja) | 1992-11-25 | 1992-11-25 | 光走査用光源装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2908652B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6021145A (en) * | 1996-09-24 | 2000-02-01 | Minolta Co., Ltd. | Laser diode array unit |
| JP2000353332A (ja) * | 1999-04-19 | 2000-12-19 | Samsung Electronics Co Ltd | 光出力モジュール及びこれを採用した互換型光ピックアップ装置 |
| US7561318B2 (en) | 2005-08-04 | 2009-07-14 | Ricoh Company, Ltd. | Optical scanning apparatus and image forming apparatus |
| JP2011170055A (ja) * | 2010-02-18 | 2011-09-01 | Ricoh Co Ltd | 光源装置、光走査装置及び画像形成装置 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7800641B2 (en) | 2007-08-20 | 2010-09-21 | Ricoh Company, Ltd. | Light source unit, optical scan apparatus, and image formation apparatus |
| US7710445B2 (en) | 2007-08-31 | 2010-05-04 | Ricoh Company, Ltd. | Light source unit, optical scan apparatus, and image formation apparatus |
-
1992
- 1992-11-25 JP JP4315149A patent/JP2908652B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6021145A (en) * | 1996-09-24 | 2000-02-01 | Minolta Co., Ltd. | Laser diode array unit |
| JP2000353332A (ja) * | 1999-04-19 | 2000-12-19 | Samsung Electronics Co Ltd | 光出力モジュール及びこれを採用した互換型光ピックアップ装置 |
| US6587481B1 (en) | 1999-04-19 | 2003-07-01 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Light emitting module and compatible optical pickup device adopting the same |
| US7561318B2 (en) | 2005-08-04 | 2009-07-14 | Ricoh Company, Ltd. | Optical scanning apparatus and image forming apparatus |
| JP2011170055A (ja) * | 2010-02-18 | 2011-09-01 | Ricoh Co Ltd | 光源装置、光走査装置及び画像形成装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2908652B2 (ja) | 1999-06-21 |
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