JPH06163317A - 金属化フィルムコンデンサ - Google Patents
金属化フィルムコンデンサInfo
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- JPH06163317A JPH06163317A JP33367392A JP33367392A JPH06163317A JP H06163317 A JPH06163317 A JP H06163317A JP 33367392 A JP33367392 A JP 33367392A JP 33367392 A JP33367392 A JP 33367392A JP H06163317 A JPH06163317 A JP H06163317A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 蒸着膜電極を複数個に区分して保安機能を付
加した金属化フイルムコンデンサの、絶縁耐力と静電容
量減少の両特性を改善する。 【構成】 幅方向の端部に絶縁マ−ジンを設けた一対の
金属化フイルムのうち、何れか一方の金属化フイルムの
蒸着電極をフイルムの長手方向に絶縁溝で複数個に区分
し、保安機能を付加した金属化フイルムを、重ね合せて
巻回し両端面に金属溶射して電極引出部を設けてコンデ
ンサ素子を構成し、外部に端子を設けて外装した金属化
フイルムコンデンサにおいて、上記金属化フイルムの蒸
着電極を長手方向に複数個設けた絶縁溝の間隔長さを不
規則化してなる金属化フイルムコンデンサ。
加した金属化フイルムコンデンサの、絶縁耐力と静電容
量減少の両特性を改善する。 【構成】 幅方向の端部に絶縁マ−ジンを設けた一対の
金属化フイルムのうち、何れか一方の金属化フイルムの
蒸着電極をフイルムの長手方向に絶縁溝で複数個に区分
し、保安機能を付加した金属化フイルムを、重ね合せて
巻回し両端面に金属溶射して電極引出部を設けてコンデ
ンサ素子を構成し、外部に端子を設けて外装した金属化
フイルムコンデンサにおいて、上記金属化フイルムの蒸
着電極を長手方向に複数個設けた絶縁溝の間隔長さを不
規則化してなる金属化フイルムコンデンサ。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、金属化フイルムの蒸着
電極に長手方向に複数個の絶縁溝を設けて区分電極を形
成して保安機能を備えた金属化フイルムコンデンサ（以
下本発明のＭＦコンデンサという）の改良に関するもの
である。
電極に長手方向に複数個の絶縁溝を設けて区分電極を形
成して保安機能を備えた金属化フイルムコンデンサ（以
下本発明のＭＦコンデンサという）の改良に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】蒸着電極を絶縁溝で誘電体フイルムの長
手方向に複数個に区分した従来の金属化フイルムコンデ
ンサ（以下従来のＭＦコンデンサと云う）は、図３に示
すように絶縁溝７の間隔が等間隔に形成されており、金
属化フイルム１１、１２の巻回途上において絶縁溝７が
図４に示すように巻回層上で重なり合う絶縁溝７の巻回
層間での一致点「Ｐ」が形成される。
手方向に複数個に区分した従来の金属化フイルムコンデ
ンサ（以下従来のＭＦコンデンサと云う）は、図３に示
すように絶縁溝７の間隔が等間隔に形成されており、金
属化フイルム１１、１２の巻回途上において絶縁溝７が
図４に示すように巻回層上で重なり合う絶縁溝７の巻回
層間での一致点「Ｐ」が形成される。
【０００３】この絶縁溝７の一致点Ｐは、絶縁溝７の間
隔長さの整数倍でくり返される円周上の点に形成され、
金属化フイルムの巻回回数の増加とともに複数回の周期
でコンデンサ素子の内部に形成される。
隔長さの整数倍でくり返される円周上の点に形成され、
金属化フイルムの巻回回数の増加とともに複数回の周期
でコンデンサ素子の内部に形成される。
【０００４】また、この絶縁溝７の一致点は、極めて薄
い金属化フイルム（例えば１０μｍ以下のような）を巻
回したような場合、幾何学的に計算しうる単一点での一
致のみにとどまらず、上記の計算し得る一致点を中心と
した多重層に及ぶ絶縁溝の局部集中化がみられる。
い金属化フイルム（例えば１０μｍ以下のような）を巻
回したような場合、幾何学的に計算しうる単一点での一
致のみにとどまらず、上記の計算し得る一致点を中心と
した多重層に及ぶ絶縁溝の局部集中化がみられる。
【０００５】一般に、コンデンサ素子内部における電界
分布は、均一厚さの誘電体フイルム上に形成した対向電
極上にあっても一定でなく、電界のエッジ効果によって
蒸着電極の端部が最も強い電界の影響を受ける。このた
め、絶縁溝で分断した区分電極構造のＭＦコンデンサで
は絶縁溝部が最も強い電界影響を受けることになる。
分布は、均一厚さの誘電体フイルム上に形成した対向電
極上にあっても一定でなく、電界のエッジ効果によって
蒸着電極の端部が最も強い電界の影響を受ける。このた
め、絶縁溝で分断した区分電極構造のＭＦコンデンサで
は絶縁溝部が最も強い電界影響を受けることになる。
【０００６】等間隔に絶縁溝を形成した従来のＭＦコン
デンサは、上述したようにコンデンサ素子内部の特定の
位置に多層間に及ぶ絶縁溝が集中することになり、この
ようなＭＦコンデンサは絶縁溝が集中する局部で強い電
界ストレスの影響を受け、部分放電現象によって絶縁溝
部の誘電体劣化が進行し、最悪の場合には絶縁破壊を招
く恐れがある。また、上記の部分放電現象により蒸着電
極の消化が促進され静電容量の低下を招く欠点があっ
た。
デンサは、上述したようにコンデンサ素子内部の特定の
位置に多層間に及ぶ絶縁溝が集中することになり、この
ようなＭＦコンデンサは絶縁溝が集中する局部で強い電
界ストレスの影響を受け、部分放電現象によって絶縁溝
部の誘電体劣化が進行し、最悪の場合には絶縁破壊を招
く恐れがある。また、上記の部分放電現象により蒸着電
極の消化が促進され静電容量の低下を招く欠点があっ
た。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】発明が解決しようとす
る問題点は、区分電極構造のＭＦコンデンサの性能低下
の一因になっている絶縁溝の特定箇所への局部集中化を
避け、若しくは緩和することである。
る問題点は、区分電極構造のＭＦコンデンサの性能低下
の一因になっている絶縁溝の特定箇所への局部集中化を
避け、若しくは緩和することである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、等間隔に形成
した絶縁溝の間隔を不規則に構成したＭＦコンデンサで
ある。即ち、誘電体フイルムの幅方向の端部に絶縁マ−
ジン部を設けて蒸着電極を形成し、かつ上記誘電体フイ
ルムの幅方向に上記蒸着電極を分断する間隔が不規則な
絶縁溝を上記誘電体フイルムの長手方向に複数個設けた
片方の金属化フイルムと、上記絶縁溝を有しない他方の
金属化フイルムとを絶縁マ−ジン部が反対側になるよう
に重ね合せて巻回し、その両端部にメタリコン金属を溶
射して電極引出部を形成したコンデンサ素子を外装した
ことを特徴とする金属化フイルムコンデンサであり、図
１はコンデンサ素子の一部を解体した斜視図である。
した絶縁溝の間隔を不規則に構成したＭＦコンデンサで
ある。即ち、誘電体フイルムの幅方向の端部に絶縁マ−
ジン部を設けて蒸着電極を形成し、かつ上記誘電体フイ
ルムの幅方向に上記蒸着電極を分断する間隔が不規則な
絶縁溝を上記誘電体フイルムの長手方向に複数個設けた
片方の金属化フイルムと、上記絶縁溝を有しない他方の
金属化フイルムとを絶縁マ−ジン部が反対側になるよう
に重ね合せて巻回し、その両端部にメタリコン金属を溶
射して電極引出部を形成したコンデンサ素子を外装した
ことを特徴とする金属化フイルムコンデンサであり、図
１はコンデンサ素子の一部を解体した斜視図である。
【０００９】
【作用】一対の金属化フイルムのうち、何れか一方の金
属化フイルムの蒸着電極を、誘電体フイルムの長手方向
に設けた複数個の絶縁溝で区分した電極構造のＭＦコン
デンサの絶縁溝の間隔を図１に示すように不規則に形成
すれば、図３に示す等間隔で絶縁溝を形成した従来のＭ
Ｆコンデンサの欠点である絶縁溝の特定箇所への集中化
が、図２に示すように分散し緩和できる。
属化フイルムの蒸着電極を、誘電体フイルムの長手方向
に設けた複数個の絶縁溝で区分した電極構造のＭＦコン
デンサの絶縁溝の間隔を図１に示すように不規則に形成
すれば、図３に示す等間隔で絶縁溝を形成した従来のＭ
Ｆコンデンサの欠点である絶縁溝の特定箇所への集中化
が、図２に示すように分散し緩和できる。
【００１０】即ち、絶縁溝の間隔を不規則化することに
よって絶縁溝の一致点の周期性を同時に不規則化でき
る。このため、絶縁溝の一致点およびその近傍での多層
間の重なりが分散し、ＭＦコンデンサの上記性能低下の
原因になっていた電界の局部集中化が緩和し、ＭＦコン
デンサの絶縁破壊や静電容量の低下を防止することがで
きる。
よって絶縁溝の一致点の周期性を同時に不規則化でき
る。このため、絶縁溝の一致点およびその近傍での多層
間の重なりが分散し、ＭＦコンデンサの上記性能低下の
原因になっていた電界の局部集中化が緩和し、ＭＦコン
デンサの絶縁破壊や静電容量の低下を防止することがで
きる。
【００１１】
【実施例１】図１は絶縁溝が不規則である本発明のＭＦ
コンデンサ、図３は絶縁溝が等間隔である従来のＭＦコ
ンデンサを構成するＭＦコンデンサ素子の一部を解体し
た斜視図である。各誘電体フイルムはポリプロピレン
（ＰＰ）フイルムで、厚さはそれぞれ５μｍ、フイルム
幅４０ｍｍ、絶縁溝の間隔「ｌ」は図１の場合は１３〜
２３ｍｍを任意とする不規則間隔、図３の場合は１７．
２ｍｍの等間隔とした。蒸着電極はアルミニウム（Ａ
ｌ）で、蒸着膜抵抗値は３．５〜５．０Ω／□とした。
コンデンサ、図３は絶縁溝が等間隔である従来のＭＦコ
ンデンサを構成するＭＦコンデンサ素子の一部を解体し
た斜視図である。各誘電体フイルムはポリプロピレン
（ＰＰ）フイルムで、厚さはそれぞれ５μｍ、フイルム
幅４０ｍｍ、絶縁溝の間隔「ｌ」は図１の場合は１３〜
２３ｍｍを任意とする不規則間隔、図３の場合は１７．
２ｍｍの等間隔とした。蒸着電極はアルミニウム（Ａ
ｌ）で、蒸着膜抵抗値は３．５〜５．０Ω／□とした。
【００１２】試料コンデンサの定格は単相、２００Ｖ、
１０μＦで、巻回したコンデンサ素子を樹脂ケ−スに収
容し、十分乾燥したのち熱硬化性樹脂を充填し封止して
図５に示す試料コンデンサを製作した。
１０μＦで、巻回したコンデンサ素子を樹脂ケ−スに収
容し、十分乾燥したのち熱硬化性樹脂を充填し封止して
図５に示す試料コンデンサを製作した。
【００１３】試料コンデンサはＡ、Ｂの２種類とし、そ
れぞれ４０個づつ合計８０個を製作した。上記試料コン
デンサＡは図１に示す誘電体構造の本発明のＭＦコンデ
ンサで、試料Ｂは図３に示す誘電体構造の従来のＭＦコ
ンデンサである。
れぞれ４０個づつ合計８０個を製作した。上記試料コン
デンサＡは図１に示す誘電体構造の本発明のＭＦコンデ
ンサで、試料Ｂは図３に示す誘電体構造の従来のＭＦコ
ンデンサである。
【００１４】上記試料コンデンサについて、図６に示す
回路条件による保安性試験を行い評価した。
回路条件による保安性試験を行い評価した。
【００１５】保安性試験の評価 試料コンデンサＡ、Ｂを各４０個づつ合計８０個を６５
±２℃の恒温槽に収容し、それぞれ１試料毎に試験電圧
６０Ｈｚ、２６０ＶＡＣを連続印加し、これに図６の回
路条件で充電用コンデンサＣｏの放電パルスを１５秒に
１回試料コンデンサＣｘに充電し、試料コンデンサＣｘ
の試験電流がゼロになるまでこれを続けた。
±２℃の恒温槽に収容し、それぞれ１試料毎に試験電圧
６０Ｈｚ、２６０ＶＡＣを連続印加し、これに図６の回
路条件で充電用コンデンサＣｏの放電パルスを１５秒に
１回試料コンデンサＣｘに充電し、試料コンデンサＣｘ
の試験電流がゼロになるまでこれを続けた。
【００１６】次に、Ｃｏは試料コンデンサＣｘへの放電
用コンデンサで直流電圧を充電する。放電用コンデンサ
Ｃｏの充電電圧は試料コンデンサＣｘの試験条件によっ
て選択するが、本試験では試料コンデンサＡ−、Ｂ−
は試料コンデンサＣｘの定格交流電圧の４．５倍の直
流電圧９００Ｖを、試料コンデンサＡ−、Ｂ−は定
格交流電圧５．５倍の直流電圧１１００Ｖとした。な
お、放電用コンデンサＣｏの静電容量は試料コンデンサ
Ｃｘの１．７５倍の１７．５μＦで一定とした。
用コンデンサで直流電圧を充電する。放電用コンデンサ
Ｃｏの充電電圧は試料コンデンサＣｘの試験条件によっ
て選択するが、本試験では試料コンデンサＡ−、Ｂ−
は試料コンデンサＣｘの定格交流電圧の４．５倍の直
流電圧９００Ｖを、試料コンデンサＡ−、Ｂ−は定
格交流電圧５．５倍の直流電圧１１００Ｖとした。な
お、放電用コンデンサＣｏの静電容量は試料コンデンサ
Ｃｘの１．７５倍の１７．５μＦで一定とした。
【００１７】試験結果は表１に示す通りで、試験中およ
び試験終了後において、発煙、発火、クラック、著しい
外観損傷の有無及び試験中の試験電流の異常変化を観察
した結果を示す。その結果、本発明の試料コンデンサＡ
−、は何れも保安性１００％であり発煙、発火、ク
ラックおよび著しい外観損傷はなく、また試験中の異常
電流の変化もなかった。また、試料を分解して誘電体の
損傷を調査したが何れの試料にも全く異常は認められな
かった。
び試験終了後において、発煙、発火、クラック、著しい
外観損傷の有無及び試験中の試験電流の異常変化を観察
した結果を示す。その結果、本発明の試料コンデンサＡ
−、は何れも保安性１００％であり発煙、発火、ク
ラックおよび著しい外観損傷はなく、また試験中の異常
電流の変化もなかった。また、試料を分解して誘電体の
損傷を調査したが何れの試料にも全く異常は認められな
かった。
【００１８】次に、従来の試料コンデンサＢの結果につ
いて述べる。試料コンデンサＢ−は上記試料コンデン
サＡと同様に保安性１００％で、他の異常もなく正常で
あった。しかし、試料コンデンサＢ−は試料コンデン
サ２０個中２個が外装ケ−スにクラックを生じ、また他
の１個は試験中の電流変化が約２０％低下しており、瞬
時的な絶縁破壊の徴候を示した。試験結果の評価は保安
性９０％であった。
いて述べる。試料コンデンサＢ−は上記試料コンデン
サＡと同様に保安性１００％で、他の異常もなく正常で
あった。しかし、試料コンデンサＢ−は試料コンデン
サ２０個中２個が外装ケ−スにクラックを生じ、また他
の１個は試験中の電流変化が約２０％低下しており、瞬
時的な絶縁破壊の徴候を示した。試験結果の評価は保安
性９０％であった。
【００１９】上記試料コンデンサＢ−を２０個分解し
誘電体の損傷の有無を観察調査した結果、外装クラック
のもの２個、試験電流の異常変化を認めたもの１個、そ
の他のもの１個の合計４個、試料コンデンサの２０％が
絶縁溝の第２周目一致点付近で多層間の絶縁破壊、若し
くは絶縁破壊の痕跡が認められた。
誘電体の損傷の有無を観察調査した結果、外装クラック
のもの２個、試験電流の異常変化を認めたもの１個、そ
の他のもの１個の合計４個、試料コンデンサの２０％が
絶縁溝の第２周目一致点付近で多層間の絶縁破壊、若し
くは絶縁破壊の痕跡が認められた。
【００２０】
【表１】
【００２１】
【実施例２】図１は本発明の絶縁溝が不規則のＭＦコン
デンサ、図３は絶縁溝が等間隔である従来のＭＦコンデ
ンサを構成するＭＦコンデンサ素子の一部を解体した斜
視図を示す。各誘電体フイルムはポリプロピレン（Ｐ
Ｐ）フイルムで、厚さはそれぞれ５μｍ、フイルム幅４
０ｍｍ、絶縁溝の間隔「ｌ」は図１の場合は１３〜２３
ｍｍを任意とする不規則間隔、図３の場合は１７．２ｍ
ｍの等間隔とした。蒸着電極はアルミニウム（Ａｌ）
で、蒸着膜抵抗値は３．５〜５．０Ω／□とした。
デンサ、図３は絶縁溝が等間隔である従来のＭＦコンデ
ンサを構成するＭＦコンデンサ素子の一部を解体した斜
視図を示す。各誘電体フイルムはポリプロピレン（Ｐ
Ｐ）フイルムで、厚さはそれぞれ５μｍ、フイルム幅４
０ｍｍ、絶縁溝の間隔「ｌ」は図１の場合は１３〜２３
ｍｍを任意とする不規則間隔、図３の場合は１７．２ｍ
ｍの等間隔とした。蒸着電極はアルミニウム（Ａｌ）
で、蒸着膜抵抗値は３．５〜５．０Ω／□とした。
【００２２】試料コンデンサの定格は三相、２００Ｖ、
４０μＦでコンデンサ素子の数は３個から構成されてい
る。このうちの１個のコンデンサ素子を代表試料として
巻回し、試料コンデンサ素子の定格は２００ＶＡＣ、１
３．３μＦで、樹脂ケ−スに収容して、十分乾燥したの
ち、熱硬化性樹脂を充填し封止して図５に示す試料コン
デンサを製作した。
４０μＦでコンデンサ素子の数は３個から構成されてい
る。このうちの１個のコンデンサ素子を代表試料として
巻回し、試料コンデンサ素子の定格は２００ＶＡＣ、１
３．３μＦで、樹脂ケ−スに収容して、十分乾燥したの
ち、熱硬化性樹脂を充填し封止して図５に示す試料コン
デンサを製作した。
【００２３】試料コンデンサはＡ、Ｂの２種類とし、そ
れぞれ２０個づつ合計４０個を製作した。上記、試料コ
ンデンサＡは図１に示す誘電体構造の本発明のＭＦコン
デンサで、試料コンデンサＢは図３に示す誘電体構造の
従来のコンデンサである。
れぞれ２０個づつ合計４０個を製作した。上記、試料コ
ンデンサＡは図１に示す誘電体構造の本発明のＭＦコン
デンサで、試料コンデンサＢは図３に示す誘電体構造の
従来のコンデンサである。
【００２４】上記試料コンデンサについて次の試験を行
った。
った。
【００２５】長期連続耐用性試験（容量変化率−時間特
性） 試料コンデンサＡ、Ｂ各２０個を５５±２℃の恒温槽に
収容し、試験電圧６０Ｈｚ、２５０ＶＡＣを連続印加
し、印加開始後５００、１２５０、２５００、５０００
の各時間毎の静電容量を測定した。この試験は２５００
時間まではＪＩＳＣ ４９０１に基く試験で、さらに２
５００時間延長した５０００時間の長期試験を行った。
性） 試料コンデンサＡ、Ｂ各２０個を５５±２℃の恒温槽に
収容し、試験電圧６０Ｈｚ、２５０ＶＡＣを連続印加
し、印加開始後５００、１２５０、２５００、５０００
の各時間毎の静電容量を測定した。この試験は２５００
時間まではＪＩＳＣ ４９０１に基く試験で、さらに２
５００時間延長した５０００時間の長期試験を行った。
【００２６】試験結果と評価は試料コンデンサＡ、Ｂに
ついて、各試験時間毎の静電容量を測定し、試験開始前
の初期値と比較した容量変化率を算出し、試験途中経過
の容量変化率特性を把握するとともに、最終５０００時
間終了後の容量変化率を以って試料コンデンサＡ、Ｂの
優位差を評価した。
ついて、各試験時間毎の静電容量を測定し、試験開始前
の初期値と比較した容量変化率を算出し、試験途中経過
の容量変化率特性を把握するとともに、最終５０００時
間終了後の容量変化率を以って試料コンデンサＡ、Ｂの
優位差を評価した。
【００２７】上記試験の結果は表２に示す通りで、ＪＩ
Ｓ Ｃ ４９０１の評価２５００時間に対しては試料コ
ンデンサＡ、Ｂ何れも合格であった。しかし、さらに試
験時間を２５００時間延長した５０００時間で比較する
と、試料コンデンサＡである本発明のＭＦコンデンサが
長期耐用性において明らかに優位であることが分った。
Ｓ Ｃ ４９０１の評価２５００時間に対しては試料コ
ンデンサＡ、Ｂ何れも合格であった。しかし、さらに試
験時間を２５００時間延長した５０００時間で比較する
と、試料コンデンサＡである本発明のＭＦコンデンサが
長期耐用性において明らかに優位であることが分った。
【００２８】さらに、上記試験を終了した試料コンデン
サを分解して誘電体と蒸着電極の状態を観察調査した結
果、試料コンデンサＢである従来のＭＦコンデンサは絶
縁溝を狭む両側の蒸着電極後退が著しく、しかも蒸着電
極の全長４９．７ｍのうちで、巻始めから１〜２ｍ、
１２〜１４ｍ、２８〜３０ｍおよび巻終り部の４８
ｍ以後の部分に絶縁溝周辺の蒸着電極の消化後退が集中
し発生していることを確認した。
サを分解して誘電体と蒸着電極の状態を観察調査した結
果、試料コンデンサＢである従来のＭＦコンデンサは絶
縁溝を狭む両側の蒸着電極後退が著しく、しかも蒸着電
極の全長４９．７ｍのうちで、巻始めから１〜２ｍ、
１２〜１４ｍ、２８〜３０ｍおよび巻終り部の４８
ｍ以後の部分に絶縁溝周辺の蒸着電極の消化後退が集中
し発生していることを確認した。
【００２９】この絶縁溝周辺の蒸着電極の消化後退が集
中する箇所は、まぎれもなく等間隔に区分した金属化フ
イルムの絶縁溝が巻回途上において周期的に一致する点
とその近傍である。表３は設計上のコンデンサ素子の巻
回途上での絶縁溝の一致点の挙動を示すものであるが、
この挙動はコンデンサ素子を分解した結果の上記調査結
果と合致する。なお、上記分解調査結果の巻終り４８ｍ
以後の蒸着電極の消化後退は、巻回形コンデンサのコン
デンサ素子の巻終り部に見られる巻終りの巻回ゆるみに
よるもので絶縁溝の層間一致によるものではない。
中する箇所は、まぎれもなく等間隔に区分した金属化フ
イルムの絶縁溝が巻回途上において周期的に一致する点
とその近傍である。表３は設計上のコンデンサ素子の巻
回途上での絶縁溝の一致点の挙動を示すものであるが、
この挙動はコンデンサ素子を分解した結果の上記調査結
果と合致する。なお、上記分解調査結果の巻終り４８ｍ
以後の蒸着電極の消化後退は、巻回形コンデンサのコン
デンサ素子の巻終り部に見られる巻終りの巻回ゆるみに
よるもので絶縁溝の層間一致によるものではない。
【００３０】一方、試料コンデンサＡである本発明のコ
ンデンサ素子の分解調査結果をみると、上記試料コンデ
ンサＢのような周期的に集中する絶縁溝周辺の顕著な蒸
着電極の消化後退は生じていず、蒸着電極後退の目視観
察結果においても試料コンデンサＢよりも蒸着電極の消
化後退が少なかった。
ンデンサ素子の分解調査結果をみると、上記試料コンデ
ンサＢのような周期的に集中する絶縁溝周辺の顕著な蒸
着電極の消化後退は生じていず、蒸着電極後退の目視観
察結果においても試料コンデンサＢよりも蒸着電極の消
化後退が少なかった。
【００３１】
【表２】
【００３２】
【表３】
【００３３】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、一対の金
属化フイルムのうち、何れか一方の金属化フイルムの蒸
着電極を、誘電体フイルムの長手方向に設けた複数個の
絶縁溝によって等間隔に小区分して構成したＭＦコンデ
ンサの欠点である絶縁溝が、周期的なくり返しによって
巻回層間で一致する時の電界の集中影響が原因となって
生じる絶縁溝周辺の誘電体フイルムの劣化と、蒸着電極
の消化後退を絶縁溝の間隔の不規則化によって緩和し、
ＭＦコンデンサの絶縁耐力の強化と、容量変化の抑制に
よる長期耐用性の向上を実現し、従来になかった新規技
術を確立したものである。
属化フイルムのうち、何れか一方の金属化フイルムの蒸
着電極を、誘電体フイルムの長手方向に設けた複数個の
絶縁溝によって等間隔に小区分して構成したＭＦコンデ
ンサの欠点である絶縁溝が、周期的なくり返しによって
巻回層間で一致する時の電界の集中影響が原因となって
生じる絶縁溝周辺の誘電体フイルムの劣化と、蒸着電極
の消化後退を絶縁溝の間隔の不規則化によって緩和し、
ＭＦコンデンサの絶縁耐力の強化と、容量変化の抑制に
よる長期耐用性の向上を実現し、従来になかった新規技
術を確立したものである。
【００３４】本発明によって、ＭＦコンデンサの設計電
位傾度基準の格上によるＭＦコンデンサの小形化と、静
電容量減少の低減による長寿命化が図れるなどの効果が
あり、工業的ならびに実用的に価値大なるものである。
位傾度基準の格上によるＭＦコンデンサの小形化と、静
電容量減少の低減による長寿命化が図れるなどの効果が
あり、工業的ならびに実用的に価値大なるものである。
【図１】本発明の金属化フイルムコンデンサの一実施例
で、蒸着電極の絶縁溝の間隔を不規則化したコンデンサ
素子の一部を解体した斜視図である。
で、蒸着電極の絶縁溝の間隔を不規則化したコンデンサ
素子の一部を解体した斜視図である。
【図２】本発明の金属化フイルムコンデンサに係り、巻
回途上のコンデンサ素子の絶縁溝の位置関係を示す要部
拡大説明図である。
回途上のコンデンサ素子の絶縁溝の位置関係を示す要部
拡大説明図である。
【図３】従来の金属化フイルムコンデンサの一実施例
で、蒸着電極の絶縁溝を等間隔としたコンデンサ素子の
一部を解体した斜視図である。
で、蒸着電極の絶縁溝を等間隔としたコンデンサ素子の
一部を解体した斜視図である。
【図４】従来の金属化フイルムコンデンサに係り、巻回
途上のコンデンサ素子の絶縁溝の位置を示す要部拡大説
明図である。
途上のコンデンサ素子の絶縁溝の位置を示す要部拡大説
明図である。
【図５】本発明の金属化フイルムコンデンサの一実施例
の正面断面図である。
の正面断面図である。
【図６】本発明の金属化フイルムコンデンサおよび従来
の金属化フイルムコンデンサの保安性試験を行う保安性
試験回路図である。
の金属化フイルムコンデンサの保安性試験を行う保安性
試験回路図である。
１．コンデンサ素子 ２．電極引出部 ３．巻芯 ４．誘電体フイルム ５．複数個に区分した蒸着電極 ６．絶縁マ−ジン ７．絶縁溝 ８．フイルムの長手方向に複数個設けた絶縁溝の間隔 ９．複数個に区分しない蒸着電極 １０．絶縁溝を不規則の間隔とした金属化フイルム １１．蒸着電極を区分しない金属化フイルム １２．絶縁溝を等間隔とした金属化フイルム １３．樹脂ケ−ス １４．熱硬化性樹脂 １５．端子
Claims (1)
- 【請求項１】 誘電体フイルムの幅方向の端部に絶縁マ
−ジン部を設けて蒸着電極を形成し、かつ上記誘電体フ
イルムの幅方向に上記蒸着電極を分断する間隔が不規則
な絶縁溝を上記誘電体フイルムの長手方向に複数個設け
た片方の金属化フイルムと、上記絶縁溝を有しない他方
の金属化フイルムとを絶縁マ−ジン部が反対側になるよ
うに重ね合せて巻回し、その両端部にメタリコン金属を
溶射して電極引出部を形成したコンデンサ素子を外装し
たことを特徴とする金属化フイルムコンデンサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33367392A JP2637023B2 (ja) | 1992-11-18 | 1992-11-18 | 金属化フィルムコンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33367392A JP2637023B2 (ja) | 1992-11-18 | 1992-11-18 | 金属化フィルムコンデンサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06163317A true JPH06163317A (ja) | 1994-06-10 |
| JP2637023B2 JP2637023B2 (ja) | 1997-08-06 |
Family
ID=18268695
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33367392A Expired - Lifetime JP2637023B2 (ja) | 1992-11-18 | 1992-11-18 | 金属化フィルムコンデンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2637023B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0679456A1 (en) * | 1994-04-22 | 1995-11-02 | SALVAGNINI ITALIA S.p.A. | Device for measuring a bending angle in a programmable sheet bending brake |
| EP1052034A2 (en) * | 1999-03-22 | 2000-11-15 | FISHER & PAYKEL LIMITED | Sheet metal folder, controller and method |
-
1992
- 1992-11-18 JP JP33367392A patent/JP2637023B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0679456A1 (en) * | 1994-04-22 | 1995-11-02 | SALVAGNINI ITALIA S.p.A. | Device for measuring a bending angle in a programmable sheet bending brake |
| EP1052034A2 (en) * | 1999-03-22 | 2000-11-15 | FISHER & PAYKEL LIMITED | Sheet metal folder, controller and method |
| EP1052034A3 (en) * | 1999-03-22 | 2001-10-31 | FISHER & PAYKEL LIMITED | Sheet metal folder, controller and method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2637023B2 (ja) | 1997-08-06 |
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