JP2002214273A - 高圧ケーブル遮蔽銅テープ破断検査回路 - Google Patents
高圧ケーブル遮蔽銅テープ破断検査回路Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 遮蔽銅テープに交流成分が誘起されていて
も、交流成分の影響なく遮蔽銅テープの直流抵抗値の測
定を行う。 【解決手段】 少なくとも２相以上の交流電力を供給す
る高圧ケーブルの被覆絶縁材の周囲に前記高圧ケーブル
の延長方向に向けて巻き付けられ、各一端が接地された
各相毎の遮蔽銅テープＴＰR，ＴＰSの各他端とアース間
にそれぞれ接続された各相毎のコンデンサと、各コンデ
ンサの前記遮蔽銅テープの接続側に接続されて２相分の
遮蔽銅テープＴＰR，ＴＰSの抵抗値を測定する抵抗測定
手段（Ｂ，ＶＲ，Ｉ，Ｖ）を備えている。
も、交流成分の影響なく遮蔽銅テープの直流抵抗値の測
定を行う。 【解決手段】 少なくとも２相以上の交流電力を供給す
る高圧ケーブルの被覆絶縁材の周囲に前記高圧ケーブル
の延長方向に向けて巻き付けられ、各一端が接地された
各相毎の遮蔽銅テープＴＰR，ＴＰSの各他端とアース間
にそれぞれ接続された各相毎のコンデンサと、各コンデ
ンサの前記遮蔽銅テープの接続側に接続されて２相分の
遮蔽銅テープＴＰR，ＴＰSの抵抗値を測定する抵抗測定
手段（Ｂ，ＶＲ，Ｉ，Ｖ）を備えている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、高圧ＣＶケーブ
ルの遮蔽銅テープの破断を遮蔽銅テープにおける直流抵
抗値の測定より検査する高圧ケーブル遮蔽銅テープ破断
検査回路に関するものである。
ルの遮蔽銅テープの破断を遮蔽銅テープにおける直流抵
抗値の測定より検査する高圧ケーブル遮蔽銅テープ破断
検査回路に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に工場への電力供給は配電用高圧ケ
ーブルにて行われている。この高圧ケーブルの被覆絶縁
材の外周はケーブルの保安上や性能維持の目的から遮蔽
銅テープで覆われている。しかし、この遮蔽銅テープ
は、経年変化による腐食等により破断した場合に漏電事
故を引き起こすおそれがある。そのため、この様な事故
を未然に防止するために活線劣化診断を行う必要があ
る。
ーブルにて行われている。この高圧ケーブルの被覆絶縁
材の外周はケーブルの保安上や性能維持の目的から遮蔽
銅テープで覆われている。しかし、この遮蔽銅テープ
は、経年変化による腐食等により破断した場合に漏電事
故を引き起こすおそれがある。そのため、この様な事故
を未然に防止するために活線劣化診断を行う必要があ
る。
【０００３】図４は活線劣化診断を行う従来の高圧ケー
ブル遮蔽銅テープ破断検査回路の構成図である。Ｒ，
Ｓ，Ｔ相からなる三相高圧ケーブルにおける各遮蔽銅テ
ープＴＰR、ＴＰS，ＴＰTの一端はコンデンサＣ３によ
り交流的に共通接地されている。従って、高圧ケーブル
の芯線ＣR，ＣS，ＣTより誘導電圧により遮蔽銅テープ
ＴＰR、ＴＰS，ＴＰTに誘起された交流電圧はコンデン
サＣ３を通してアースに導出される。
ブル遮蔽銅テープ破断検査回路の構成図である。Ｒ，
Ｓ，Ｔ相からなる三相高圧ケーブルにおける各遮蔽銅テ
ープＴＰR、ＴＰS，ＴＰTの一端はコンデンサＣ３によ
り交流的に共通接地されている。従って、高圧ケーブル
の芯線ＣR，ＣS，ＣTより誘導電圧により遮蔽銅テープ
ＴＰR、ＴＰS，ＴＰTに誘起された交流電圧はコンデン
サＣ３を通してアースに導出される。
【０００４】一方、各遮蔽銅テープＴＰR、ＴＰS，ＴＰ
Tの他端においては、各相間（Ｒ−Ｓ，Ｓ−Ｔ，Ｒ−
Ｔ）毎に遮蔽銅テープより発生する交流成分を除去する
Ｌ−Ｃ１直列回路（交流成分除去回路）を切り替え接続
しながらコンデンサＣ１の両端にテスタを接続し、遮蔽
銅テープの抵抗値を計測して遮蔽銅テープの破断を検査
する。
Tの他端においては、各相間（Ｒ−Ｓ，Ｓ−Ｔ，Ｒ−
Ｔ）毎に遮蔽銅テープより発生する交流成分を除去する
Ｌ−Ｃ１直列回路（交流成分除去回路）を切り替え接続
しながらコンデンサＣ１の両端にテスタを接続し、遮蔽
銅テープの抵抗値を計測して遮蔽銅テープの破断を検査
する。
【０００５】例えば、今、Ｒ相とＴ相の遮蔽銅テープＴ
ＰR、ＴＰTを直列体として抵抗値を計測する場合に、各
相の遮蔽銅テープＴＰR、ＴＰTの他端間にインダクタン
ス６０Ｈ（直流抵抗値４８Ω）のコイルＬと４０μＦの
コンデンサＣ１の直列体を接続するとともに、コンデン
サＣ１が接続される遮蔽銅テープＴＰTの接続点をコン
デンサＣ２で交流接地する。このように、コイルＬとコ
ンデンサＣ１との直列体を交流成分除去回路として接続
し、且つ、遮蔽銅テープＴＰTの一端をコンデンサＣ２
で接地することで、各相の遮蔽銅テープ間に発生した交
流誘導電圧はコンデンサＣ２によりアースに導出され
る。
ＰR、ＴＰTを直列体として抵抗値を計測する場合に、各
相の遮蔽銅テープＴＰR、ＴＰTの他端間にインダクタン
ス６０Ｈ（直流抵抗値４８Ω）のコイルＬと４０μＦの
コンデンサＣ１の直列体を接続するとともに、コンデン
サＣ１が接続される遮蔽銅テープＴＰTの接続点をコン
デンサＣ２で交流接地する。このように、コイルＬとコ
ンデンサＣ１との直列体を交流成分除去回路として接続
し、且つ、遮蔽銅テープＴＰTの一端をコンデンサＣ２
で接地することで、各相の遮蔽銅テープ間に発生した交
流誘導電圧はコンデンサＣ２によりアースに導出され
る。
【０００６】このような回路構成において、コンデンサ
Ｃ１の両端にテスタのリード端子を接続すると、コイル
Ｌより遮蔽銅テープＴＰR、ＴＰTの直列体に電流が流
れ、その電流値を基に、遮蔽銅テープＴＰR、ＴＰTの抵
抗値を測定する。遮蔽銅テープＴＰR、ＴＰTが経年変化
により腐食で断面積が小さくなったり、延びて長さが変
わり抵抗値Ｒ１が変化したり、絶縁抵抗Ｒが小さくなら
ない限り、遮蔽銅テープＴＰR、ＴＰTの抵抗値はコイル
Ｌの直流抵抗値４８Ωを含む一定の抵抗値となる。
Ｃ１の両端にテスタのリード端子を接続すると、コイル
Ｌより遮蔽銅テープＴＰR、ＴＰTの直列体に電流が流
れ、その電流値を基に、遮蔽銅テープＴＰR、ＴＰTの抵
抗値を測定する。遮蔽銅テープＴＰR、ＴＰTが経年変化
により腐食で断面積が小さくなったり、延びて長さが変
わり抵抗値Ｒ１が変化したり、絶縁抵抗Ｒが小さくなら
ない限り、遮蔽銅テープＴＰR、ＴＰTの抵抗値はコイル
Ｌの直流抵抗値４８Ωを含む一定の抵抗値となる。
【０００７】また、遮蔽銅テープＴＰTの他端はコンデ
ンサＣ２で交流的に接地されているため、例え、遮蔽銅
テープＴＰTが破断して他端側がアースより浮き交流誘
導電圧により電位が発生したとしてもコンデンサＣ２を
通してアースに導出される。従って、抵抗値測定時に、
遮蔽銅テープＴＰTに人が接触しても人体よりアースに
向けて電流が流れ感電事故を起こすおそれはない。
ンサＣ２で交流的に接地されているため、例え、遮蔽銅
テープＴＰTが破断して他端側がアースより浮き交流誘
導電圧により電位が発生したとしてもコンデンサＣ２を
通してアースに導出される。従って、抵抗値測定時に、
遮蔽銅テープＴＰTに人が接触しても人体よりアースに
向けて電流が流れ感電事故を起こすおそれはない。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】遮蔽銅テープの破断検
査は、特に所定の相の遮蔽銅テープに破断が発生してい
ることを認識の上に検査を行うとは限らず、各相間の遮
蔽銅テープの他端間に交流成分除去回路を切り替え接続
しながらテスタにて抵抗値を測定し、遮蔽銅テープの破
断を検査していた。
査は、特に所定の相の遮蔽銅テープに破断が発生してい
ることを認識の上に検査を行うとは限らず、各相間の遮
蔽銅テープの他端間に交流成分除去回路を切り替え接続
しながらテスタにて抵抗値を測定し、遮蔽銅テープの破
断を検査していた。
【０００９】そのため、活線状態で、他端に交流接地用
のコンデンサを接続していない相の遮蔽銅テープに破断
が発生すると、芯線により遮蔽銅テープに誘導電圧が誘
起してアース間に電位が発生する。従って、抵抗値検査
のためにその遮蔽銅テープに接触した検査員には人体を
通して地絡電流が流れることもある。
のコンデンサを接続していない相の遮蔽銅テープに破断
が発生すると、芯線により遮蔽銅テープに誘導電圧が誘
起してアース間に電位が発生する。従って、抵抗値検査
のためにその遮蔽銅テープに接触した検査員には人体を
通して地絡電流が流れることもある。
【００１０】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたものであり、検査対象となる各相間の切
り替えに伴う、抵抗値測定回路の切り替えを容易にする
とともに、切り替え時における感電事故を防止できる高
圧ケーブル遮蔽銅テープ破断検査回路を提供することを
目的とする。
ためになされたものであり、検査対象となる各相間の切
り替えに伴う、抵抗値測定回路の切り替えを容易にする
とともに、切り替え時における感電事故を防止できる高
圧ケーブル遮蔽銅テープ破断検査回路を提供することを
目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】この発明に係る高圧ケー
ブル遮蔽銅テープ破断検査回路は、高圧ケーブルの被覆
絶縁材の周囲に前記高圧ケーブルの延長方向に向けて巻
き付けられ、一端が接地された遮蔽銅テープの他端とア
ース間に接続されたコンデンサと、このコンデンサの前
記遮蔽銅テープの接続側と前記遮蔽銅テープの一端間に
抵抗を測定する抵抗測定手段を備えたものである。この
発明は、抵抗測定対象となる遮蔽銅テープの一端をコン
デンサを通して交流的に接地、前記遮蔽銅テープの他端
をアースに接続した状態で前記遮蔽銅テープの各端部間
に抵抗測定手段を接続することで、遮蔽銅テープの破断
により遮蔽銅テープに交流電圧が誘起されてもコンデン
サによりアースに導出させるため感電事故を阻止でき
る。
ブル遮蔽銅テープ破断検査回路は、高圧ケーブルの被覆
絶縁材の周囲に前記高圧ケーブルの延長方向に向けて巻
き付けられ、一端が接地された遮蔽銅テープの他端とア
ース間に接続されたコンデンサと、このコンデンサの前
記遮蔽銅テープの接続側と前記遮蔽銅テープの一端間に
抵抗を測定する抵抗測定手段を備えたものである。この
発明は、抵抗測定対象となる遮蔽銅テープの一端をコン
デンサを通して交流的に接地、前記遮蔽銅テープの他端
をアースに接続した状態で前記遮蔽銅テープの各端部間
に抵抗測定手段を接続することで、遮蔽銅テープの破断
により遮蔽銅テープに交流電圧が誘起されてもコンデン
サによりアースに導出させるため感電事故を阻止でき
る。
【００１２】この発明に係る高圧ケーブル遮蔽銅テープ
破断検査回路は、少なくとも２相以上の交流電力を供給
する高圧ケーブルの被覆絶縁材の周囲に前記高圧ケーブ
ルの延長方向に向けて巻き付けられ、各一端が接地され
た各相毎の遮蔽銅テープの各他端とアース間にそれぞれ
接続された各相毎のコンデンサと、各コンデンサの前記
遮蔽銅テープの接続側に接続されて２相分の遮蔽銅テー
プの抵抗値を測定する抵抗測定手段を備えたものであ
る。この発明は、抵抗測定対象となる２相分の遮蔽銅テ
ープの各一端をコンデンサを通して交流的に接地、前記
遮蔽銅テープの各他端をアースに共通接続した状態で前
記遮蔽銅テープの各一端間に抵抗測定手段を接続するこ
とで、遮蔽銅テープの破断により遮蔽銅テープに交流電
圧が誘起されてもコンデンサによりアースに導出させる
ため感電事故を阻止できる。
破断検査回路は、少なくとも２相以上の交流電力を供給
する高圧ケーブルの被覆絶縁材の周囲に前記高圧ケーブ
ルの延長方向に向けて巻き付けられ、各一端が接地され
た各相毎の遮蔽銅テープの各他端とアース間にそれぞれ
接続された各相毎のコンデンサと、各コンデンサの前記
遮蔽銅テープの接続側に接続されて２相分の遮蔽銅テー
プの抵抗値を測定する抵抗測定手段を備えたものであ
る。この発明は、抵抗測定対象となる２相分の遮蔽銅テ
ープの各一端をコンデンサを通して交流的に接地、前記
遮蔽銅テープの各他端をアースに共通接続した状態で前
記遮蔽銅テープの各一端間に抵抗測定手段を接続するこ
とで、遮蔽銅テープの破断により遮蔽銅テープに交流電
圧が誘起されてもコンデンサによりアースに導出させる
ため感電事故を阻止できる。
【００１３】この発明に係る高圧ケーブル遮蔽銅テープ
破断検査回路における抵抗測定手段は、遮蔽銅テープに
一定電流を流す電流発生部と、流された電流により前記
遮蔽銅テープの両端に発生する電圧降下を測定する電圧
測定部とを備え、この電圧降下と前記流した一定電流よ
り前記遮蔽銅テープの抵抗値を測定し、測定結果より前
記遮蔽銅テープの破断を検査するものである。この発明
は、遮蔽銅テープに電流発生部より一定電流を流し、そ
の時遮蔽銅テープの抵抗成分で発生する電圧降下を電圧
測定部で測定し、この測定された電圧降下と流した一定
電流より遮蔽銅テープの抵抗値を測定し、測定値より遮
蔽銅テープの破断を検査する。
破断検査回路における抵抗測定手段は、遮蔽銅テープに
一定電流を流す電流発生部と、流された電流により前記
遮蔽銅テープの両端に発生する電圧降下を測定する電圧
測定部とを備え、この電圧降下と前記流した一定電流よ
り前記遮蔽銅テープの抵抗値を測定し、測定結果より前
記遮蔽銅テープの破断を検査するものである。この発明
は、遮蔽銅テープに電流発生部より一定電流を流し、そ
の時遮蔽銅テープの抵抗成分で発生する電圧降下を電圧
測定部で測定し、この測定された電圧降下と流した一定
電流より遮蔽銅テープの抵抗値を測定し、測定値より遮
蔽銅テープの破断を検査する。
【００１４】この発明に係る高圧ケーブル遮蔽銅テープ
破断検査回路における抵抗測定手段は、遮蔽銅テープに
誘起される交流成分をコンデンサでバイパスして排除し
なが電圧測定を行うものである。この発明によれば活線
状態において遮蔽銅テープに誘起される交流成分をコン
デンサでバイパスして排除しながら遮蔽銅テープの電圧
降下を測定する。
破断検査回路における抵抗測定手段は、遮蔽銅テープに
誘起される交流成分をコンデンサでバイパスして排除し
なが電圧測定を行うものである。この発明によれば活線
状態において遮蔽銅テープに誘起される交流成分をコン
デンサでバイパスして排除しながら遮蔽銅テープの電圧
降下を測定する。
【００１５】
【発明の実施の形態】実施の形態１．以下、この発明に
かかる高圧ケーブル遮蔽銅テープ破断検査回路の実施の
形態を図について説明する。図１は本回路の検査対象と
なる三相高圧ケーブルにおける遮蔽銅テープの接地線の
回路例である。高圧ケーブルにおける芯線Ｃｒ，Ｃｓ，
Ｃｔの被覆絶縁材の周囲に長手方向に向けて巻き付けら
れた遮蔽銅テープＴＰ R，ＴＰS，ＴＰTの各端部はそれ
ぞれアースに共通接続されている。各遮蔽銅テープＴＰ
R，ＴＰS，ＴＰTに接地線回路が形成されることで、例
え、遮蔽銅テープＴＰに破断が発生し誘導電圧が誘起さ
れてもアースに導出されるため、遮蔽銅テープＴＰに接
触しても感電することはない。
かかる高圧ケーブル遮蔽銅テープ破断検査回路の実施の
形態を図について説明する。図１は本回路の検査対象と
なる三相高圧ケーブルにおける遮蔽銅テープの接地線の
回路例である。高圧ケーブルにおける芯線Ｃｒ，Ｃｓ，
Ｃｔの被覆絶縁材の周囲に長手方向に向けて巻き付けら
れた遮蔽銅テープＴＰ R，ＴＰS，ＴＰTの各端部はそれ
ぞれアースに共通接続されている。各遮蔽銅テープＴＰ
R，ＴＰS，ＴＰTに接地線回路が形成されることで、例
え、遮蔽銅テープＴＰに破断が発生し誘導電圧が誘起さ
れてもアースに導出されるため、遮蔽銅テープＴＰに接
触しても感電することはない。
【００１６】遮蔽銅テープを直接接地すると、各相の遮
蔽銅テープＴＰ間に抵抗測定回路を接続して測定するこ
とができない。しかし、接地線回路を設けないと感電事
故を起こす可能性がある。従って、本発明は破断により
遮蔽銅テープに誘起される電圧が交流電圧であることに
注目し、各相の遮蔽銅テープの一端を図２に示すように
コンデンサにより交流的に接地する。
蔽銅テープＴＰ間に抵抗測定回路を接続して測定するこ
とができない。しかし、接地線回路を設けないと感電事
故を起こす可能性がある。従って、本発明は破断により
遮蔽銅テープに誘起される電圧が交流電圧であることに
注目し、各相の遮蔽銅テープの一端を図２に示すように
コンデンサにより交流的に接地する。
【００１７】図２より明らかなように、Ｒ，Ｓ，Ｔ相の
高圧ケーブルにおける遮蔽銅テープＴＰR，ＴＰS，ＴＰ
Tの一端をそれぞれコンデンサＣ１，Ｃ２，Ｃ３を通し
てアースに接地する。ここで、各コンデンサＣ１，Ｃ
２，Ｃ３の容量を１５０μＦとした場合、コンデンサの
インピーダンスはＺ＝１／ωｃの関係から１／（２π・
５０Ｈｚ・１５０・１０−６）≒２１Ωとなり、商用周
波数（例えば５０Ｈｚ）に対して遮蔽銅テープを２１Ω
で接地することになる。
高圧ケーブルにおける遮蔽銅テープＴＰR，ＴＰS，ＴＰ
Tの一端をそれぞれコンデンサＣ１，Ｃ２，Ｃ３を通し
てアースに接地する。ここで、各コンデンサＣ１，Ｃ
２，Ｃ３の容量を１５０μＦとした場合、コンデンサの
インピーダンスはＺ＝１／ωｃの関係から１／（２π・
５０Ｈｚ・１５０・１０−６）≒２１Ωとなり、商用周
波数（例えば５０Ｈｚ）に対して遮蔽銅テープを２１Ω
で接地することになる。
【００１８】更に、Ｒ相-Ｓ相間における遮蔽銅テープ
ＴＰR，ＴＰSの抵抗値を、芯線より誘導される交流成分
を除去して測定する測定回路を接続するためコンデンサ
Ｃａを遮蔽銅テープＴＰR，ＴＰS間に接続する。また、
同様な理由からコンデンサＣｂを遮蔽銅テープＴＰS，
ＴＰT間に接続し、更に、コンデンサＣｃを遮蔽銅テー
プＴＰR，ＴＰT間に接続する。コンデンサＣａ，Ｃｂ，
Ｃｃより交流成分除去回路を構成する。
ＴＰR，ＴＰSの抵抗値を、芯線より誘導される交流成分
を除去して測定する測定回路を接続するためコンデンサ
Ｃａを遮蔽銅テープＴＰR，ＴＰS間に接続する。また、
同様な理由からコンデンサＣｂを遮蔽銅テープＴＰS，
ＴＰT間に接続し、更に、コンデンサＣｃを遮蔽銅テー
プＴＰR，ＴＰT間に接続する。コンデンサＣａ，Ｃｂ，
Ｃｃより交流成分除去回路を構成する。
【００１９】尚、コンデンサＣ１，Ｃ２，Ｃ３は、配電
用ケーブルを電力設備に常設して電力供給に用いる場
合、抵抗値測定時以外は両端を短絡バーで短絡し、各相
の遮蔽銅テープＴＰR，ＴＰS，ＴＰTを電気的に直接接
地されるようにする。また、これらコンデンサＣ１，Ｃ
２，Ｃ３は可搬式の活線劣化診断装置の内部に組み込む
か、各コンデンサＣ１，Ｃ２，Ｃ３を遮蔽銅テープＴＰ
R，ＴＰS，ＴＰTと既存の接地端子との間に接続可能な
ように組み合わせて端子台上で接続した単一の装置を備
えてもよい。
用ケーブルを電力設備に常設して電力供給に用いる場
合、抵抗値測定時以外は両端を短絡バーで短絡し、各相
の遮蔽銅テープＴＰR，ＴＰS，ＴＰTを電気的に直接接
地されるようにする。また、これらコンデンサＣ１，Ｃ
２，Ｃ３は可搬式の活線劣化診断装置の内部に組み込む
か、各コンデンサＣ１，Ｃ２，Ｃ３を遮蔽銅テープＴＰ
R，ＴＰS，ＴＰTと既存の接地端子との間に接続可能な
ように組み合わせて端子台上で接続した単一の装置を備
えてもよい。
【００２０】このような構成で、例えば、Ｒ，Ｓ相間の
遮蔽銅テープＴＰR，ＴＰSの抵抗値を測定する場合は、
コンデンサＣａの両端に抵抗測定回路を接続する。測定
には直流回路を使用するため、他の相の遮蔽銅テープに
は他の相対応に設けたコンデンサにより電流が遮断され
て回り込むことはない。従って、抵抗値測定に測定対象
外の遮蔽銅テープの抵抗値が影響を及ぼすことはない。
遮蔽銅テープＴＰR，ＴＰSの抵抗値を測定する場合は、
コンデンサＣａの両端に抵抗測定回路を接続する。測定
には直流回路を使用するため、他の相の遮蔽銅テープに
は他の相対応に設けたコンデンサにより電流が遮断され
て回り込むことはない。従って、抵抗値測定に測定対象
外の遮蔽銅テープの抵抗値が影響を及ぼすことはない。
【００２１】次に、例えば、遮蔽銅テープＴＰR，ＴＰS
の抵抗値測定を図３に示す直流電圧降下法により行う場
合について説明する。今、コンデンサＣａの両端に電流
計Ｉを介して可変抵抗ＶＲと電池Ｂの直列回路を接続す
る。更に電流計Ｉの後には電圧計ＶをコンデンサＣａと
並列に接続する。コンデンサＣａのリード端子はインダ
クタンス成分と考えた場合に所定の抵抗値Ｒｌ１、Ｒｌ
２を有するものとする。電流計Ｉ、電圧計Ｖ、電池Ｂ、
可変抵抗ＶＲより抵抗測定回路を構成する。
の抵抗値測定を図３に示す直流電圧降下法により行う場
合について説明する。今、コンデンサＣａの両端に電流
計Ｉを介して可変抵抗ＶＲと電池Ｂの直列回路を接続す
る。更に電流計Ｉの後には電圧計ＶをコンデンサＣａと
並列に接続する。コンデンサＣａのリード端子はインダ
クタンス成分と考えた場合に所定の抵抗値Ｒｌ１、Ｒｌ
２を有するものとする。電流計Ｉ、電圧計Ｖ、電池Ｂ、
可変抵抗ＶＲより抵抗測定回路を構成する。
【００２２】この様な回路構成において、可変抵抗ＶＲ
を調整し、電流計Ｉを見ながら一定の直流電流ＩＤを遮
蔽銅テープＴＰR，ＴＰSに流す。この結果、遮蔽銅テー
プＴＰR，ＴＰSの抵抗値をＲＳ１，ＲＳ２とした場合
に、遮蔽銅テープＴＰR，ＴＰSは直列接続されているた
め、直列抵抗体Ｒｓ（ＲＳ１＋ＲＳ２）の両端には以下
の（１）式で示されるように電圧降下Ｅｓが発生する。
を調整し、電流計Ｉを見ながら一定の直流電流ＩＤを遮
蔽銅テープＴＰR，ＴＰSに流す。この結果、遮蔽銅テー
プＴＰR，ＴＰSの抵抗値をＲＳ１，ＲＳ２とした場合
に、遮蔽銅テープＴＰR，ＴＰSは直列接続されているた
め、直列抵抗体Ｒｓ（ＲＳ１＋ＲＳ２）の両端には以下
の（１）式で示されるように電圧降下Ｅｓが発生する。
【００２３】 Ｅｓ＝Ｒｓ・ＩD ・・・・・（１）
【００２４】更にコンデンサＣａの各リード抵抗Ｒｌ
１，Ｒｌ２にも直流電流ＩDにより以下の（２）、
（３）式で示す電圧降下ＥL1，ＥL2が発生する。
１，Ｒｌ２にも直流電流ＩDにより以下の（２）、
（３）式で示す電圧降下ＥL1，ＥL2が発生する。
【００２５】 ＥL1＝Ｒｌ１・ＩD ・・・・・（２） ＥL2＝Ｒｌ２・ＩD ・・・・・（３）
【００２６】次にコンデンサＣａの両端の電圧Ｅｃを電
圧計Ｖで測定すると以下の（４）、（５）式で表され
る。
圧計Ｖで測定すると以下の（４）、（５）式で表され
る。
【００２７】 Ｅｃ＝Ｅｓ＋ＥL1＋ＥL2 ・・・・・（４） Ｅｃ＝Ｅｓ＋（Ｒｌ１＋Ｒｌ２）・ＩD ・・・・・（５）
【００２８】上記（５）式よりＥｓを求めると以下の
（６）式で表せる。
（６）式で表せる。
【００２９】 Ｅｓ＝Ｅｃ-（Ｒｌ１＋Ｒｌ２）・ＩD ・・・・・（６）
【００３０】ここで、抵抗Ｒｌ１とＲｌ２の和はＲｌと
して既知であり、直流電流ＩDを例えば１０ｍＡとした
場合に上記Ｅｓは以下の（７）式で表すことができる。
して既知であり、直流電流ＩDを例えば１０ｍＡとした
場合に上記Ｅｓは以下の（７）式で表すことができる。
【００３１】 Ｅｓ＝Ｅｃ-Ｒｌ・１０ｍＡ ・・・・・（７）
【００３２】上記（１）式よりＲｓ＝Ｅｓ／ＩDとな
り、（１）式のＥｓに（７）式を代入すると抵抗Ｒｓは
以下の（８）式より求めることができる。
り、（１）式のＥｓに（７）式を代入すると抵抗Ｒｓは
以下の（８）式より求めることができる。
【００３３】 Ｒｓ＝（Ｅｃ／１０ｍＡ）−Ｒｌ ・・・・・（８）
【００３４】コンデンサＣａのリード線の抵抗値Ｒｌ、
遮蔽銅テープＴＰR、ＴＰSに流す電流を１０ｍＡとした
場合に、コンデンサＣａの両端電圧Ｅｃを電圧計で測定
し、上記（８）式に代入することで、遮蔽銅テープの直
流抵抗Ｒｓの算出を行える。
遮蔽銅テープＴＰR、ＴＰSに流す電流を１０ｍＡとした
場合に、コンデンサＣａの両端電圧Ｅｃを電圧計で測定
し、上記（８）式に代入することで、遮蔽銅テープの直
流抵抗Ｒｓの算出を行える。
【００３５】従って、正常時の遮蔽銅テープの直流抵抗
Ｒｓを予め測定しておき、この測定値と直流電圧降下法
で測定した活線時の遮蔽銅テープの直流抵抗Ｒｓと比較
することで、遮蔽銅テープの機械的な疲労度を推測で
き、所定時間継続して計測することで疲労の傾向を把握
することも可能である。これは、抵抗体の抵抗値は以下
の（９）式で表せるからである。
Ｒｓを予め測定しておき、この測定値と直流電圧降下法
で測定した活線時の遮蔽銅テープの直流抵抗Ｒｓと比較
することで、遮蔽銅テープの機械的な疲労度を推測で
き、所定時間継続して計測することで疲労の傾向を把握
することも可能である。これは、抵抗体の抵抗値は以下
の（９）式で表せるからである。
【００３６】 Ｒ＝ρ・（Ｌ／Ｄ） ・・・・・（９） ここで、ρは抵抗係数、Ｌは抵抗体の長さ、Ｄは抵抗体
の断面積である。
の断面積である。
【００３７】即ち、遮蔽銅テープの機械的な疲労により
抵抗体の長さＬが延びたり、断面積Ｄが縮まると、それ
らに比例、反比例して遮蔽銅テープの抵抗値が変わる。
そして抵抗値を上記の方法で測定することで、破断につ
ながる遮蔽銅テープの疲労の傾向を把握することができ
る。
抵抗体の長さＬが延びたり、断面積Ｄが縮まると、それ
らに比例、反比例して遮蔽銅テープの抵抗値が変わる。
そして抵抗値を上記の方法で測定することで、破断につ
ながる遮蔽銅テープの疲労の傾向を把握することができ
る。
【００３８】以上のようにこの発明によれば、各相の電
力ケーブルにおける遮蔽銅テープの一端をアースに直接
共通接続し、且つ、各他端をコンデンサを通してアース
に交流的に共通接続した後、この交流的に共通接続した
各遮蔽銅テープの一端間に交流成分除去回路を通して抵
抗測定回路を接続するようにした。
力ケーブルにおける遮蔽銅テープの一端をアースに直接
共通接続し、且つ、各他端をコンデンサを通してアース
に交流的に共通接続した後、この交流的に共通接続した
各遮蔽銅テープの一端間に交流成分除去回路を通して抵
抗測定回路を接続するようにした。
【００３９】この結果、抵抗測定時に遮蔽銅テープに破
断が発生しても、遮蔽銅テープに誘起された交流電圧は
コンデンサを通してアースに導出されるため、抵抗測定
回路を接続時に誘起された交流電圧により感電すること
はなく、抵抗測定回路の接続切り替えを安全に行える。
断が発生しても、遮蔽銅テープに誘起された交流電圧は
コンデンサを通してアースに導出されるため、抵抗測定
回路を接続時に誘起された交流電圧により感電すること
はなく、抵抗測定回路の接続切り替えを安全に行える。
【００４０】
【発明の効果】この発明は、抵抗測定対象となる遮蔽銅
テープの一端をコンデンサを通して交流的に接地、前記
遮蔽銅テープの他端をアースに接続した状態で前記遮蔽
銅テープの各端部間に抵抗測定手段を接続することで、
遮蔽銅テープの破断により遮蔽銅テープに交流電圧が誘
起されてもコンデンサによりアースに導出させること
で、容易に、且つ、安全に遮蔽銅テープの破断の有無を
測定抵抗値より確認できるという効果がある。
テープの一端をコンデンサを通して交流的に接地、前記
遮蔽銅テープの他端をアースに接続した状態で前記遮蔽
銅テープの各端部間に抵抗測定手段を接続することで、
遮蔽銅テープの破断により遮蔽銅テープに交流電圧が誘
起されてもコンデンサによりアースに導出させること
で、容易に、且つ、安全に遮蔽銅テープの破断の有無を
測定抵抗値より確認できるという効果がある。
【００４１】この発明は、抵抗測定対象となる２相分の
遮蔽銅テープの各一端をコンデンサを通して交流的に接
地、前記遮蔽銅テープの各他端をアースに共通接続した
状態で前記遮蔽銅テープの各一端間に抵抗測定手段を接
続することで、遮蔽銅テープの破断により遮蔽銅テープ
に交流電圧が誘起されてもコンデンサによりアースに導
出させることで、抵抗測定手段の切り替え接続が容易に
なると共に、安全に遮蔽銅テープの破断の有無を測定抵
抗値より確認できるという効果がある。
遮蔽銅テープの各一端をコンデンサを通して交流的に接
地、前記遮蔽銅テープの各他端をアースに共通接続した
状態で前記遮蔽銅テープの各一端間に抵抗測定手段を接
続することで、遮蔽銅テープの破断により遮蔽銅テープ
に交流電圧が誘起されてもコンデンサによりアースに導
出させることで、抵抗測定手段の切り替え接続が容易に
なると共に、安全に遮蔽銅テープの破断の有無を測定抵
抗値より確認できるという効果がある。
【００４２】この発明は、遮蔽銅テープに電流発生部よ
り一定電流を流し、その時遮蔽銅テープの抵抗成分で発
生する電圧降下を電圧測定部で測定し、この測定された
電圧降下と流した一定電流より遮蔽銅テープの抵抗値を
測定し、測定値より遮蔽銅テープの破断を検査すること
で、誘起される交流電圧による感電事故を防止し、活線
状態で遮蔽銅テープの活線劣化診断を行うことができる
という効果がある。
り一定電流を流し、その時遮蔽銅テープの抵抗成分で発
生する電圧降下を電圧測定部で測定し、この測定された
電圧降下と流した一定電流より遮蔽銅テープの抵抗値を
測定し、測定値より遮蔽銅テープの破断を検査すること
で、誘起される交流電圧による感電事故を防止し、活線
状態で遮蔽銅テープの活線劣化診断を行うことができる
という効果がある。
【００４３】この発明によれば活線状態においてケーブ
ル導体より遮蔽銅テープに誘起される交流成分を排除し
ながら遮蔽銅テープの電圧降下を測定することで、交流
成分の影響を無くし遮蔽銅テープの直流抵抗値の測定が
行えるため、活線状態で遮蔽銅テープの活線劣化診断を
行うことができるという効果がある。
ル導体より遮蔽銅テープに誘起される交流成分を排除し
ながら遮蔽銅テープの電圧降下を測定することで、交流
成分の影響を無くし遮蔽銅テープの直流抵抗値の測定が
行えるため、活線状態で遮蔽銅テープの活線劣化診断を
行うことができるという効果がある。
【図１】図１は本発明の実施の形態にかかる遮蔽銅テー
プ破断検査回路の検査対象となる配電用ケーブルの接地
線回路である。
プ破断検査回路の検査対象となる配電用ケーブルの接地
線回路である。
【図２】図２は本実施の形態に係る交流成分導出用のコ
ンデンサの接続形式を説明する図である。
ンデンサの接続形式を説明する図である。
【図３】図３は本実施の形態に係る高圧ケーブル遮蔽銅
テープ破断検査回路の構成を示す図である。
テープ破断検査回路の構成を示す図である。
【図４】図４は従来の高圧ケーブル遮蔽銅テープ破断検
査回路の構成を示す図である。
査回路の構成を示す図である。
Ｂ 電池 ＶＲ 可変抵抗器 Ｉ 電流計 Ｖ 電圧計 Ｃａ コンデンサ ＴＰR、ＴＰS、ＴＰT 高圧ケーブル遮蔽銅テープ ＲＳ１，ＲＳ２ 高圧ケーブル遮蔽銅テープの直流抵抗
成分
成分
Claims (4)
- 【請求項１】 高圧ケーブルの被覆絶縁材の周囲に前記
高圧ケーブルの延長方向に向けて巻き付けられ、一端が
接地された遮蔽銅テープの他端とアース間に接続された
コンデンサと、このコンデンサの前記遮蔽銅テープの接
続側と前記遮蔽銅テープの一端間に、抵抗を測定する抵
抗測定手段を備えたことを特徴とする高圧ケーブル遮蔽
銅テープ破断検査回路。 - 【請求項２】 少なくとも２相以上の交流電力を供給す
る高圧ケーブルの被覆絶縁材の周囲に前記高圧ケーブル
の延長方向に向けて巻き付けられ、各一端が接地された
各相毎の遮蔽銅テープの各他端とアース間にそれぞれ接
続された各相毎のコンデンサと、各コンデンサの前記遮
蔽銅テープの接続側に接続されて２相分の遮蔽銅テープ
の抵抗値を測定する抵抗測定手段とを備えたことを特徴
とする高圧ケーブル遮蔽銅テープ破断検査回路。 - 【請求項３】 前記抵抗測定手段は、遮蔽銅テープに一
定電流を流す電流発生部と、流された電流により前記遮
蔽銅テープの両端に発生する電圧降下を測定する電圧測
定部とを備え、この電圧降下と前記流した一定電流より
前記遮蔽銅テープＴＰの抵抗値を測定し、測定結果より
前記遮蔽銅テープの破断を検査することを特徴とする請
求項１または２に記載の高圧ケーブル遮蔽銅テープ破断
検査回路。 - 【請求項４】 前記抵抗測定手段は、遮蔽銅テープに誘
起される交流成分をコンデンサでバイパスして排除しな
が電圧測定を行うことを特徴とする請求項３に記載の高
圧ケーブル遮蔽銅テープ破断検査回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001013463A JP2002214273A (ja) | 2001-01-22 | 2001-01-22 | 高圧ケーブル遮蔽銅テープ破断検査回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001013463A JP2002214273A (ja) | 2001-01-22 | 2001-01-22 | 高圧ケーブル遮蔽銅テープ破断検査回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002214273A true JP2002214273A (ja) | 2002-07-31 |
Family
ID=18880312
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001013463A Pending JP2002214273A (ja) | 2001-01-22 | 2001-01-22 | 高圧ケーブル遮蔽銅テープ破断検査回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002214273A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103698590A (zh) * | 2013-12-02 | 2014-04-02 | 国家电网公司 | 10kV配电网电压实时监测仪装置 |
| CN110018386A (zh) * | 2019-05-24 | 2019-07-16 | 奇瑞汽车股份有限公司 | 电池组连接可靠性的评价方法 |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5213684A (en) * | 1975-07-22 | 1977-02-02 | Furukawa Electric Co Ltd:The | Method to detect the cable shield snap |
| JPS5429085A (en) * | 1977-08-08 | 1979-03-03 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Change over device for monitoring corrosion proof insulation of multiple cables |
| JPS5443544A (en) * | 1977-09-13 | 1979-04-06 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Monitoring method of breakig of shield |
| JPS6281581A (ja) * | 1985-10-04 | 1987-04-15 | Sumitomo Electric Ind Ltd | しやへい断線箇所測定方法 |
| JPH01320480A (ja) * | 1988-06-21 | 1989-12-26 | Mitsubishi Rayon Eng Co Ltd | 単心ケーブル遮蔽断線監視装置およびその方法 |
| JPH063390A (ja) * | 1992-06-17 | 1994-01-11 | Showa Electric Wire & Cable Co Ltd | ケーブルの劣化診断方法 |
| JPH09113553A (ja) * | 1995-10-20 | 1997-05-02 | Kita Nippon Electric Cable Co Ltd | 高圧ケ−ブル遮蔽銅テ−プ抵抗測定器 |
-
2001
- 2001-01-22 JP JP2001013463A patent/JP2002214273A/ja active Pending
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