JPH06147884A - 薄膜変位素子及びそれを用いた走査型トンネル顕微鏡、情報処理装置 - Google Patents
薄膜変位素子及びそれを用いた走査型トンネル顕微鏡、情報処理装置Info
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- JPH06147884A JPH06147884A JP4315547A JP31554792A JPH06147884A JP H06147884 A JPH06147884 A JP H06147884A JP 4315547 A JP4315547 A JP 4315547A JP 31554792 A JP31554792 A JP 31554792A JP H06147884 A JPH06147884 A JP H06147884A
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- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 title claims abstract description 58
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 52
- 230000005641 tunneling Effects 0.000 title claims description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 31
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 29
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 9
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 7
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 7
- 230000010365 information processing Effects 0.000 claims description 7
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 claims description 6
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 abstract description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 5
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N acetic acid Substances CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 2
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 2
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- QWPPOHNGKGFGJK-UHFFFAOYSA-N hypochlorous acid Chemical compound ClO QWPPOHNGKGFGJK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004518 low pressure chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000005019 vapor deposition process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 積層数の少ないユニモルフ構造の薄膜変位素
子において基板面と垂直方向の変位に加えて基板面と平
行方向の変位を実現することにある。 【構成】 薄膜圧電体、薄膜電極及び弾性体を有する薄
膜変位素子において、一端を基板に固定された基部カン
チレバー状変位体9の先端に、該基部カンチレバーの長
さ方向と直交する枝部カンチレバー状変位体11を設
け、かつ該枝部カンチレバーの根元付近を湾曲10さ
せ、枝部カンチレバーの長さ方向を基板面と直交させた
ものである。
子において基板面と垂直方向の変位に加えて基板面と平
行方向の変位を実現することにある。 【構成】 薄膜圧電体、薄膜電極及び弾性体を有する薄
膜変位素子において、一端を基板に固定された基部カン
チレバー状変位体9の先端に、該基部カンチレバーの長
さ方向と直交する枝部カンチレバー状変位体11を設
け、かつ該枝部カンチレバーの根元付近を湾曲10さ
せ、枝部カンチレバーの長さ方向を基板面と直交させた
ものである。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、片持ち梁り(カンチレ
バー)構造の変位素子(アクチュエータ)と、それらを
同一基板上へ複数配置した集積化アクチュエータ、個々
のアクチュエータに探針(プローブ)を取り付けたマル
チプローブ式の走査型トンネル顕微鏡、またそれらを応
用した情報の記録再生等を行う情報処理装置に関する。
バー)構造の変位素子(アクチュエータ)と、それらを
同一基板上へ複数配置した集積化アクチュエータ、個々
のアクチュエータに探針(プローブ)を取り付けたマル
チプローブ式の走査型トンネル顕微鏡、またそれらを応
用した情報の記録再生等を行う情報処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】走査型トンネル顕微鏡(以下STMと略
す)は、先鋭な導電性プローブを試料表面に数nm以下
に接近させた時に、その間の障壁を通り抜けて電流が流
れるトンネル効果を利用したものである。[G.Bin
nig et al.,Helvetica Phys
ica Acta,55,726(1982)、米国特
許第4343993号]。
す)は、先鋭な導電性プローブを試料表面に数nm以下
に接近させた時に、その間の障壁を通り抜けて電流が流
れるトンネル効果を利用したものである。[G.Bin
nig et al.,Helvetica Phys
ica Acta,55,726(1982)、米国特
許第4343993号]。
【0003】このSTMの原理を応用して、高密度な情
報処理(記録再生)を行う装置が、特開昭63−161
552号公報,特開昭63−161553号公報等に提
案されている。これはSTMと同様のプローブを用い
て、プローブと記録媒体間にかかる電圧を変化させて記
録を行うものである。
報処理(記録再生)を行う装置が、特開昭63−161
552号公報,特開昭63−161553号公報等に提
案されている。これはSTMと同様のプローブを用い
て、プローブと記録媒体間にかかる電圧を変化させて記
録を行うものである。
【0004】従来このようなSTMのプローブとしては
静電駆動方式のものや、圧電体薄膜を用いたものがあっ
た。
静電駆動方式のものや、圧電体薄膜を用いたものがあっ
た。
【0005】圧電体薄膜を用いたものはカンチレバー型
のものが一般的に知られており、一方向へのみ変位可能
なユニモルフ型と2方向以上へ変位可能なバイモルフ型
が有る。
のものが一般的に知られており、一方向へのみ変位可能
なユニモルフ型と2方向以上へ変位可能なバイモルフ型
が有る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、単純な
ユニモルフ構造では基板面と垂直方向の変位以外利用す
ることが難しく、またバイモルフ型は薄膜の積層回数が
多くなるため工程数が増え、作製には高度な技術が必要
であった。
ユニモルフ構造では基板面と垂直方向の変位以外利用す
ることが難しく、またバイモルフ型は薄膜の積層回数が
多くなるため工程数が増え、作製には高度な技術が必要
であった。
【0007】またカンチレバーの先端部に探針を形成し
走査型トンネル顕微鏡や原子間力顕微鏡のプローブとし
て用いる場合にも、基板面に対して垂直方向にアスペク
ト比の高い構造物を形成しなければならず、高度の技術
的手法が必要であった。
走査型トンネル顕微鏡や原子間力顕微鏡のプローブとし
て用いる場合にも、基板面に対して垂直方向にアスペク
ト比の高い構造物を形成しなければならず、高度の技術
的手法が必要であった。
【0008】そこで、本発明は積層数の少ないユニモル
フ構造の薄膜変位素子において、基板面と垂直方向の変
位に加えて基板面と平行方向の変位をも実現し、同時に
走査型トンネル顕微鏡の探針として有利な基板面に垂直
なアスペクト比の大きな構造物を実現することのできる
薄膜変位素子、及びそれを用いた走査型トンネル顕微鏡
及び情報処理装置を提供することを目的とする。
フ構造の薄膜変位素子において、基板面と垂直方向の変
位に加えて基板面と平行方向の変位をも実現し、同時に
走査型トンネル顕微鏡の探針として有利な基板面に垂直
なアスペクト比の大きな構造物を実現することのできる
薄膜変位素子、及びそれを用いた走査型トンネル顕微鏡
及び情報処理装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明の構成は以下の通りである。
の本発明の構成は以下の通りである。
【0010】第1に、薄膜圧電体、薄膜電極及び弾性体
を有する薄膜変位素子において、一端を基板に固定され
た基部カンチレバー状変位体の先端に、該基部カンチレ
バーの長さ方向と直交する枝部カンチレバー状変位体を
設け、かつ該枝部カンチレバーの根元付近を湾曲させ、
枝部カンチレバーの長さ方向を基板面と直交させること
により、基板面に対して、垂直及び平行方向の変位を可
能とした点にある。
を有する薄膜変位素子において、一端を基板に固定され
た基部カンチレバー状変位体の先端に、該基部カンチレ
バーの長さ方向と直交する枝部カンチレバー状変位体を
設け、かつ該枝部カンチレバーの根元付近を湾曲させ、
枝部カンチレバーの長さ方向を基板面と直交させること
により、基板面に対して、垂直及び平行方向の変位を可
能とした点にある。
【0011】第2に、前記枝部カンチレバー状変位体の
根元に形成した湾曲部に、加熱により収縮し引張応力を
発生させる金属薄膜を用いた前記第1に記載の薄膜変位
素子とした点である。
根元に形成した湾曲部に、加熱により収縮し引張応力を
発生させる金属薄膜を用いた前記第1に記載の薄膜変位
素子とした点である。
【0012】第3に、薄膜圧電体として酸化亜鉛を用い
たことを特徴とする前記第1及び第2記載の薄膜変位素
子にある。
たことを特徴とする前記第1及び第2記載の薄膜変位素
子にある。
【0013】第4に、前記第1に記載の枝部カンチレバ
ー状変位体の先端部に導電性の探針とその引出し電極を
設けたことを特徴とする前記第1〜3のいずれかに記載
の薄膜変位素子としている点にある。
ー状変位体の先端部に導電性の探針とその引出し電極を
設けたことを特徴とする前記第1〜3のいずれかに記載
の薄膜変位素子としている点にある。
【0014】第5に、前記第1〜4のいずれかに記載の
薄膜変位素子を同一のシリコン単結晶基板上へ複数配置
した点である。
薄膜変位素子を同一のシリコン単結晶基板上へ複数配置
した点である。
【0015】第6として、前記第1〜5のいずれかに記
載の薄膜変位素子を有することを特徴とする走査型トン
ネル顕微鏡としている点である。
載の薄膜変位素子を有することを特徴とする走査型トン
ネル顕微鏡としている点である。
【0016】第7は、トンネル電流を用いて記録媒体に
情報の記録再生等を行う情報処理装置において、前記第
1〜5のいずれかに記載の薄膜変位素子を用いた情報処
理装置としている点である。
情報の記録再生等を行う情報処理装置において、前記第
1〜5のいずれかに記載の薄膜変位素子を用いた情報処
理装置としている点である。
【0017】以下、本発明の構成及び作用を具体的な実
施例に基づいて説明する。
施例に基づいて説明する。
【0018】
【実施例】実施例1 図1は本発明の特徴を最も良く表す構成図であり、図
2,図3,図4はそれぞれ図1中のA−A’面,B−
B’面,C−C’面における断面図である。
2,図3,図4はそれぞれ図1中のA−A’面,B−
B’面,C−C’面における断面図である。
【0019】これらの図において、1は基板であり、2
は下部弾性体であり導電性物質よりなり下電極も兼ねて
いる。3は圧電体、4は基部上電極、5は枝部上電極、
6は収縮層、7は信号引出し電極、8は探針である。
は下部弾性体であり導電性物質よりなり下電極も兼ねて
いる。3は圧電体、4は基部上電極、5は枝部上電極、
6は収縮層、7は信号引出し電極、8は探針である。
【0020】以上の様な構成により9の基部カンチレバ
ー、10の湾曲部、11の枝部カンチレバーが形成され
ている。枝部カンチレバー11は基部カンチレバー9の
長さ方向に対して直角に形成されており、かつ湾曲部1
0により基部カンチレバー9のレバー面に対して垂直に
なる位置まで曲げられている。
ー、10の湾曲部、11の枝部カンチレバーが形成され
ている。枝部カンチレバー11は基部カンチレバー9の
長さ方向に対して直角に形成されており、かつ湾曲部1
0により基部カンチレバー9のレバー面に対して垂直に
なる位置まで曲げられている。
【0021】ここで圧電体3はその圧電分極軸が矢印1
2の方向に配向させて形成されており、電圧印加により
d31の逆圧電効果で伸長または収縮させることができ
る。各電極は、下部弾性体2を共通のグランドとし、基
部上電極4、枝部上電極5が基板1上へ個別に引出され
ており、この部分を通して電圧印加が出来るようになっ
ている。
2の方向に配向させて形成されており、電圧印加により
d31の逆圧電効果で伸長または収縮させることができ
る。各電極は、下部弾性体2を共通のグランドとし、基
部上電極4、枝部上電極5が基板1上へ個別に引出され
ており、この部分を通して電圧印加が出来るようになっ
ている。
【0022】上記の様な構成にした後、所定の駆動電圧
を加え圧電体を伸長または収縮させることにより、基部
カンチレバー9は図1中のz方向で屈曲変位を行う。ま
た枝部カンチレバー11はy方向へ屈曲変位させること
ができ、2方向へ変位可能なユニモルフの薄膜変位素子
を実現できる。
を加え圧電体を伸長または収縮させることにより、基部
カンチレバー9は図1中のz方向で屈曲変位を行う。ま
た枝部カンチレバー11はy方向へ屈曲変位させること
ができ、2方向へ変位可能なユニモルフの薄膜変位素子
を実現できる。
【0023】次に湾曲部10の形成法について説明す
る。湾曲部10の上面には収縮層6が形成されており、
この収縮層6は成膜後の加熱処理より強い引張り応力を
発生する薄膜が用いられている。このような性質はスパ
ッタリング法によって形成された金属薄膜にしばしば現
れる性質であり、特に成膜時の基板温度を低温にし、ス
パッタガス圧を高くした場合に著しい。
る。湾曲部10の上面には収縮層6が形成されており、
この収縮層6は成膜後の加熱処理より強い引張り応力を
発生する薄膜が用いられている。このような性質はスパ
ッタリング法によって形成された金属薄膜にしばしば現
れる性質であり、特に成膜時の基板温度を低温にし、ス
パッタガス圧を高くした場合に著しい。
【0024】この様な性質を有する薄膜の一例として、
スパッタリング法で形成したPd膜の膜応力の変化を示
すグラフを図5に示す。図5から分るように成膜時には
圧縮応力を有していた膜が加熱により強い引張り応力を
発生する。
スパッタリング法で形成したPd膜の膜応力の変化を示
すグラフを図5に示す。図5から分るように成膜時には
圧縮応力を有していた膜が加熱により強い引張り応力を
発生する。
【0025】この様な膜を湾曲部10の上面に形成し膜
厚と加熱温度を調節することにより、枝部カンチレバー
11を図1のごとくz方向へ向けることができる。
厚と加熱温度を調節することにより、枝部カンチレバー
11を図1のごとくz方向へ向けることができる。
【0026】なお本実施例においては図3に示すように
湾曲部10の位置において導電性の弾性体2を他の部分
よりも細くすることにより湾曲し易くしている。
湾曲部10の位置において導電性の弾性体2を他の部分
よりも細くすることにより湾曲し易くしている。
【0027】更に本発明においては信号引出し電極7を
枝部カンチレバー11の先端部まで形成している。これ
により枝部カンチレバー11の先端部を導電性の探針8
として用いることができる。
枝部カンチレバー11の先端部まで形成している。これ
により枝部カンチレバー11の先端部を導電性の探針8
として用いることができる。
【0028】このように導電性の探針8を先端部に設け
ることにより本発明による薄膜変位素子をSTMのプロ
ーブとして用いることができる。即ち、各電極に所定の
駆動電圧を印加し、基部カンチレバー9を屈曲変位さ
せ、探針8を観察対象の表面へ接近させる。表面が導電
性を持つ場合探針8と表面との距離が数nm程度まで近
づくと、探針8と表面との間に、トンネル電流が流れ
る。このトンネル電流は探針8と先端との距離により指
数関数的に変化するため、信号引出し電極7を通してこ
のトンネル電流を取り出して増幅を行い、基部カンチレ
バー9の駆動電圧にフィードバックをかけることによ
り、探針8と表面までの距離を一定に保つことができ
る。この様な状態で枝部カンチレバー11及び外部の微
小変位素子によりx,y方向に走査することにより、フ
ィードバック電圧の変化から、極微小表面の凹凸、導電
率の変化を観察することが可能である。
ることにより本発明による薄膜変位素子をSTMのプロ
ーブとして用いることができる。即ち、各電極に所定の
駆動電圧を印加し、基部カンチレバー9を屈曲変位さ
せ、探針8を観察対象の表面へ接近させる。表面が導電
性を持つ場合探針8と表面との距離が数nm程度まで近
づくと、探針8と表面との間に、トンネル電流が流れ
る。このトンネル電流は探針8と先端との距離により指
数関数的に変化するため、信号引出し電極7を通してこ
のトンネル電流を取り出して増幅を行い、基部カンチレ
バー9の駆動電圧にフィードバックをかけることによ
り、探針8と表面までの距離を一定に保つことができ
る。この様な状態で枝部カンチレバー11及び外部の微
小変位素子によりx,y方向に走査することにより、フ
ィードバック電圧の変化から、極微小表面の凹凸、導電
率の変化を観察することが可能である。
【0029】次に図6を用いて本実施例に係る薄膜変位
素子の製造方法の一例を説明する。
素子の製造方法の一例を説明する。
【0030】先ず面方位(100)の単結晶シリコン基
板1上へ減圧CVD法によりSi3N4 膜を1500Å
成膜し絶縁性の保護膜13を形成する(図6(a)参
照)。次に密着性確保のためCrを5〜10Å真空蒸着
したのち、Auを2000Å蒸着する。この蒸着工程に
おいて基板は200℃に加熱されており、後工程での加
熱による金属薄膜の収縮を出来るだけ小さくしている。
金属薄膜形成後、感光性レジストを塗布して一般的なフ
ォトリソグラフにより不要部のAu/Crをエッチング
除去し導電性の下部弾性体2を形成する(図6(b)参
照)。
板1上へ減圧CVD法によりSi3N4 膜を1500Å
成膜し絶縁性の保護膜13を形成する(図6(a)参
照)。次に密着性確保のためCrを5〜10Å真空蒸着
したのち、Auを2000Å蒸着する。この蒸着工程に
おいて基板は200℃に加熱されており、後工程での加
熱による金属薄膜の収縮を出来るだけ小さくしている。
金属薄膜形成後、感光性レジストを塗布して一般的なフ
ォトリソグラフにより不要部のAu/Crをエッチング
除去し導電性の下部弾性体2を形成する(図6(b)参
照)。
【0031】次にその上にスパッタ蒸着法によりZnO
を4000Å形成し、圧電体3を形成する。この上に感
光性レジストを塗布し、パターニングを行いエッチング
にて不要部分のZnOを除去する(図6(c)参照)。
を4000Å形成し、圧電体3を形成する。この上に感
光性レジストを塗布し、パターニングを行いエッチング
にて不要部分のZnOを除去する(図6(c)参照)。
【0032】再びAuを500Å成膜し、フォトリソグ
ラフによりパターニングを行い、基部上電極4,枝部上
電極5,信号引出し電極7を形成する(図6(d)参
照)。
ラフによりパターニングを行い、基部上電極4,枝部上
電極5,信号引出し電極7を形成する(図6(d)参
照)。
【0033】次に一般的にリフトオフ法と呼ばれる手法
を用いて収縮層6を形成する。即ち、感光性レジストを
塗布し収縮層6を形成する部分のみレジストを除去し、
圧電体3の表面を露出させる。この状態でスパッタ蒸着
によりPdを2000Å全面に成膜し、その後溶剤でレ
ジストを除去することによりレジスト上へ形成された薄
膜は除去される(図6(e)参照)。
を用いて収縮層6を形成する。即ち、感光性レジストを
塗布し収縮層6を形成する部分のみレジストを除去し、
圧電体3の表面を露出させる。この状態でスパッタ蒸着
によりPdを2000Å全面に成膜し、その後溶剤でレ
ジストを除去することによりレジスト上へ形成された薄
膜は除去される(図6(e)参照)。
【0034】この後Si単結晶基板1の裏面より面方位
によりエッチング速度の大きく異ることを利用した異方
性エッチングを行い、Si3 N4 の位置までSiを除去
する(図6(f)参照)。反応性イオンエッチング(R
IE)によりSi3 N4 膜を取り除き、基部カンチレバ
ー9,湾曲部10,枝部カンチレバー11を形成する
(図6(g)参照)。
によりエッチング速度の大きく異ることを利用した異方
性エッチングを行い、Si3 N4 の位置までSiを除去
する(図6(f)参照)。反応性イオンエッチング(R
IE)によりSi3 N4 膜を取り除き、基部カンチレバ
ー9,湾曲部10,枝部カンチレバー11を形成する
(図6(g)参照)。
【0035】以上の一連の工程によりL字型の構造を形
成した後200℃の加熱処理を行い収縮層6に引張り応
力を発生させ枝部カンチレバー11を上方へ反らせるこ
とにより、本実施例における薄膜変位素子を形成する。
成した後200℃の加熱処理を行い収縮層6に引張り応
力を発生させ枝部カンチレバー11を上方へ反らせるこ
とにより、本実施例における薄膜変位素子を形成する。
【0036】上記の作製例においてフォトリソグラフに
用いたエッチング液は、Auに対してはKI:I2 水溶
液、ZnOに対しては酢酸水溶液、Crに対しては(N
H4)2 Ce(NO3 )6 ;HClO4 水溶液を用い
た。またSiの異方性エッチングにはKOH水溶液を用
い、反応性イオンエッチングにはCF4 ガスを用いた。
電極及び弾性体として用いた金属はここで使用したもの
に限定されるものではなく、Ag,Cu,Al,Pt,
W等他の物質を用いること可能である。同様に圧電体も
ZnO以外にAlN,Ta2 O5 ,PZT,BaTiO
3 等他の物質を用いることができる。
用いたエッチング液は、Auに対してはKI:I2 水溶
液、ZnOに対しては酢酸水溶液、Crに対しては(N
H4)2 Ce(NO3 )6 ;HClO4 水溶液を用い
た。またSiの異方性エッチングにはKOH水溶液を用
い、反応性イオンエッチングにはCF4 ガスを用いた。
電極及び弾性体として用いた金属はここで使用したもの
に限定されるものではなく、Ag,Cu,Al,Pt,
W等他の物質を用いること可能である。同様に圧電体も
ZnO以外にAlN,Ta2 O5 ,PZT,BaTiO
3 等他の物質を用いることができる。
【0037】以下に本実施例で作製した薄膜変位素子の
各部の寸法及び駆動特性の一例を示す。
各部の寸法及び駆動特性の一例を示す。
【0038】 基部カンチレバー9の長さ 400μm 幅200
μm 枝部カンチレバー11の長さ 200μm 幅 50
μm 湾曲部10の長さ 200μm 駆動電圧 最大 3V 基部カンチレバー9の先端の最大変位量 4μm 枝部カンチレバー11の先端の最大変位量 1μm となった。
μm 枝部カンチレバー11の長さ 200μm 幅 50
μm 湾曲部10の長さ 200μm 駆動電圧 最大 3V 基部カンチレバー9の先端の最大変位量 4μm 枝部カンチレバー11の先端の最大変位量 1μm となった。
【0039】以上本発明を用いることにより、バイモル
フ型に比べ積層数が少なく構造の簡単なユニモルフ型の
薄膜アクチュエータで2方向の精密微小変位を実現する
ことができた。
フ型に比べ積層数が少なく構造の簡単なユニモルフ型の
薄膜アクチュエータで2方向の精密微小変位を実現する
ことができた。
【0040】また基板面より垂直方向にアスペクト比の
大きな構造体を形成しているため、その先端部をSTM
の探針として用いることが可能となった。
大きな構造体を形成しているため、その先端部をSTM
の探針として用いることが可能となった。
【0041】実施例2 図7及び図8は、実施例1において説明したカンチレバ
ー状変位体を有する薄膜変位素子を、同一のシリコン基
板1上に複数個作製してなる集積化アクチュエータ20
を作製したものである。
ー状変位体を有する薄膜変位素子を、同一のシリコン基
板1上に複数個作製してなる集積化アクチュエータ20
を作製したものである。
【0042】かかる集積化アクチュエータは、前述実施
例1で説明した作製方法において、フォトリソグラフの
パターンを拡張するだけでよい。このように、同一の基
板上へ複数のカンチレバーを同時に形成できるため、寸
法精度が非常に高く、各カンチレバー間の特性のばらつ
きも非常に小さく抑えることができる。
例1で説明した作製方法において、フォトリソグラフの
パターンを拡張するだけでよい。このように、同一の基
板上へ複数のカンチレバーを同時に形成できるため、寸
法精度が非常に高く、各カンチレバー間の特性のばらつ
きも非常に小さく抑えることができる。
【0043】また、基板としてSi単結晶を用いること
により、トランジスタやダイオード等の半導体素子も同
一基板上へ集積化することが可能となり、トンネル電流
増幅やカンチレバー駆動用のアンプを一体化することが
できる。
により、トランジスタやダイオード等の半導体素子も同
一基板上へ集積化することが可能となり、トンネル電流
増幅やカンチレバー駆動用のアンプを一体化することが
できる。
【0044】図8は本実施例の集積化アクチュエータを
用いたSTM装置を模式的に示した図である。これによ
り、集積化アクチュエータ20を用い、観察対象22の
表面上の複数の微小領域のSTM像を同時に観察するこ
とができる。同図において21及び23はx,y,z方
向に粗動機構を有する可動ステージであり、可動ステー
ジ21には集積化アクチュエータ20が固定され、可動
ステージ23には観察対象22が固定されている。
用いたSTM装置を模式的に示した図である。これによ
り、集積化アクチュエータ20を用い、観察対象22の
表面上の複数の微小領域のSTM像を同時に観察するこ
とができる。同図において21及び23はx,y,z方
向に粗動機構を有する可動ステージであり、可動ステー
ジ21には集積化アクチュエータ20が固定され、可動
ステージ23には観察対象22が固定されている。
【0045】以下に、本実施例で作製した集積化アクチ
ュエータの寸法の一例を示す。
ュエータの寸法の一例を示す。
【0046】 集積化アクチュエータ20の外径…40×40×1mm カンチレバーの本数 …90本実施例3 図9に実施例2で設目下集積化アクチュエータを用い
た、情報の記録・再生等を行える情報処理装置の模式図
を示す。
た、情報の記録・再生等を行える情報処理装置の模式図
を示す。
【0047】同図において、103は電圧印加により抵
抗値が変化する記録層、102は金属電極層、101は
記録媒体基板である。201はXYステージ、202は
本発明による集積化アクチュエータ、203は集積化ア
クチュエータの支持体、204は集積化アクチュエータ
をZ方向へ粗動するためのリニアアクチュエータ、20
5,206はXYステージをそれぞれX,Y方向へ駆動
するリニアアクチュエータ、207は記録再生用のバイ
アス回路である。301はトンネル電流検出器、302
は集積化アクチュエータをZ軸方向に移動させるための
サーボ回路であり、303はアクチュエータ204を駆
動するためのサーボ回路である。304は個々のカンチ
レバーを微小変位させるための駆動回路であり、305
はXYステージの位置制御を行う駆動回路である。30
6はこれらの操作を制御するコンピュータである。
抗値が変化する記録層、102は金属電極層、101は
記録媒体基板である。201はXYステージ、202は
本発明による集積化アクチュエータ、203は集積化ア
クチュエータの支持体、204は集積化アクチュエータ
をZ方向へ粗動するためのリニアアクチュエータ、20
5,206はXYステージをそれぞれX,Y方向へ駆動
するリニアアクチュエータ、207は記録再生用のバイ
アス回路である。301はトンネル電流検出器、302
は集積化アクチュエータをZ軸方向に移動させるための
サーボ回路であり、303はアクチュエータ204を駆
動するためのサーボ回路である。304は個々のカンチ
レバーを微小変位させるための駆動回路であり、305
はXYステージの位置制御を行う駆動回路である。30
6はこれらの操作を制御するコンピュータである。
【0048】このようなシステムを用いることにより、
大容量の情報を高密度に記録することが可能となり、ま
たプローブを多数集積化し、それらを同時に走査するた
め、高速度の記録再生を行うことができる。
大容量の情報を高密度に記録することが可能となり、ま
たプローブを多数集積化し、それらを同時に走査するた
め、高速度の記録再生を行うことができる。
【0049】このようなシステムに本発明の薄膜変位素
子によると、個々のプローブの分解能が向上し、記録再
生時のトラッキング性能が向上し、書込み、読取り時の
エラーの発生率を小さくすることができる。
子によると、個々のプローブの分解能が向上し、記録再
生時のトラッキング性能が向上し、書込み、読取り時の
エラーの発生率を小さくすることができる。
【0050】
【発明の効果】以上説明したように圧電体と金属膜より
構成される薄膜変位素子において、基部カンチレバー先
端部に分枝したカンチレバー状の構造を設け、その枝部
カンチレバーの根元部分を湾曲させることにより以下の
様な効果が得られる。
構成される薄膜変位素子において、基部カンチレバー先
端部に分枝したカンチレバー状の構造を設け、その枝部
カンチレバーの根元部分を湾曲させることにより以下の
様な効果が得られる。
【0051】2方向の微小変位を、積層数が少なく製造
工程数の少ないユニモルフ型の変位素子で実現すること
ができた。これにより、変位素子作製の際の工程数削
減、歩留りの向上を実現できた。
工程数の少ないユニモルフ型の変位素子で実現すること
ができた。これにより、変位素子作製の際の工程数削
減、歩留りの向上を実現できた。
【0052】基板面に対して垂直方向にアスペクト比の
大きな構造体を形成することができ、高分解能なSTM
のプローブを実現できた。
大きな構造体を形成することができ、高分解能なSTM
のプローブを実現できた。
【図1】実施例1にて示す薄膜変位素子の構成図であ
る。
る。
【図2】図1中A−A’面における断面図である。
【図3】図1中B−B’面における断面図である。
【図4】図1中C−C’面における断面図である。
【図5】収縮層の応力変化の特性図である。
【図6】実施例1にて示す薄膜変位素子の製造工程図で
ある。
ある。
【図7】実施例2にて示す集積化変位素子の構成図であ
る。
る。
【図8】実施例2にて示す集積化変位素子を用いたST
Mの部分断面図である。
Mの部分断面図である。
【図9】実施例3にて示す集積化変位素子を用いた情報
処理装置のブロック構成図である。
処理装置のブロック構成図である。
1 基板 2 下部弾性体 3 圧電体 4 基部上電極 5 枝部上電極 6 収縮層 7 信号引出し電極 8 探針 9 基部カンチレバー 10 湾曲部 11 枝部カンチレバー 12 圧電分極軸 13 保護膜 20 集積化アクチュエータ 21 可動ステージ 22 観察対象 23 可動ステージ 101 記録媒体基板 102 金属電極層 103 記録層 201 XYステージ 202 集積化アクチュエータ 203 支持体 204 Z方向リニアアクチュエータ 205 X方向リニアアクチュエータ 206 Y方向リニアアクチュエータ 207 記録再生用バイアス回路 301 トンネル電流検出器 302 サーボ回路 303 サーボ回路 304 カンチレバー駆動回路 305 駆動回路 306 コンピュータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 河田 春紀 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内
Claims (7)
- 【請求項1】 薄膜圧電体、薄膜電極及び弾性体を有す
る薄膜変位素子において、一端を基板に固定された基部
カンチレバー状変位体の先端に、該基部カンチレバーの
長さ方向と直交する枝部カンチレバー状変位体を有し、
かつ該枝部カンチレバーの根元付近の湾曲により、枝部
カンチレバーの長さ方向が基板面と垂直方向であること
を特徴とする薄膜変位素子。 - 【請求項2】 前記枝部カンチレバーの湾曲部に加熱に
より収縮する金属薄膜を用いたことを特徴とする請求項
1に記載の薄膜変位素子。 - 【請求項3】 前記薄膜圧電体として酸化亜鉛を用いた
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の薄膜変位素
子。 - 【請求項4】 前記枝部カンチレバー状変位体の先端部
に導電性の探針とその引出し電極を設けたことを特徴と
する請求項1乃至3のいずれかに記載の薄膜変位素子。 - 【請求項5】 請求項1乃至4のいずれかに記載の薄膜
変位素子が同一のシリコン単結晶基板上に複数配置され
ていることを特徴とする薄膜変位素子。 - 【請求項6】 請求項1乃至5のいずれかに記載の薄膜
変位素子を有することを特徴とする走査型トンネル顕微
鏡。 - 【請求項7】 トンネル電流を用いて記録媒体に情報の
記録再生等を行う情報処理装置において、少なくとも請
求項1乃至5のいずれかに記載の薄膜変位素子を有する
ことを特徴とする情報処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4315547A JP3044425B2 (ja) | 1992-11-02 | 1992-11-02 | 薄膜変位素子及びそれを用いた走査型トンネル顕微鏡、情報処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4315547A JP3044425B2 (ja) | 1992-11-02 | 1992-11-02 | 薄膜変位素子及びそれを用いた走査型トンネル顕微鏡、情報処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06147884A true JPH06147884A (ja) | 1994-05-27 |
JP3044425B2 JP3044425B2 (ja) | 2000-05-22 |
Family
ID=18066661
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4315547A Expired - Fee Related JP3044425B2 (ja) | 1992-11-02 | 1992-11-02 | 薄膜変位素子及びそれを用いた走査型トンネル顕微鏡、情報処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3044425B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999031514A1 (en) * | 1997-12-15 | 1999-06-24 | Seiko Instruments Inc. | Optical waveguide probe and its manufacturing method |
JP2007120965A (ja) * | 2005-10-25 | 2007-05-17 | Seiko Instruments Inc | 計測プローブ及び計測プローブの製造方法 |
-
1992
- 1992-11-02 JP JP4315547A patent/JP3044425B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999031514A1 (en) * | 1997-12-15 | 1999-06-24 | Seiko Instruments Inc. | Optical waveguide probe and its manufacturing method |
US6370306B1 (en) * | 1997-12-15 | 2002-04-09 | Seiko Instruments Inc. | Optical waveguide probe and its manufacturing method |
EP1705475A2 (en) * | 1997-12-15 | 2006-09-27 | Seiko Instruments Inc. | Optical waveguide probe and its manufacturing method |
EP1705475A3 (en) * | 1997-12-15 | 2007-05-02 | Seiko Instruments Inc. | Optical waveguide probe and its manufacturing method |
JP2008197121A (ja) * | 1997-12-15 | 2008-08-28 | Seiko Instruments Inc | 光導波路プローブおよびその製造方法 |
JP2010181419A (ja) * | 1997-12-15 | 2010-08-19 | Seiko Instruments Inc | 光導波路プローブの製造方法 |
JP4543225B2 (ja) * | 1997-12-15 | 2010-09-15 | セイコーインスツル株式会社 | 光導波路プローブの製造方法 |
JP2007120965A (ja) * | 2005-10-25 | 2007-05-17 | Seiko Instruments Inc | 計測プローブ及び計測プローブの製造方法 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP3044425B2 (ja) | 2000-05-22 |
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