JPH06140498A - 静電吸着装置 - Google Patents

静電吸着装置

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JPH06140498A
JPH06140498A JP6141892A JP6141892A JPH06140498A JP H06140498 A JPH06140498 A JP H06140498A JP 6141892 A JP6141892 A JP 6141892A JP 6141892 A JP6141892 A JP 6141892A JP H06140498 A JPH06140498 A JP H06140498A
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JP
Japan
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gas
pipe
detector
valve
insulator
Prior art date
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Application number
JP6141892A
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English (en)
Inventor
Takeshi Sunada
砂田  剛
Hideki Fujimoto
秀樹 藤本
Akio Matsuda
彰夫 松田
Masabumi Tanabe
正文 田辺
Eiichi Mizuno
栄一 水野
Toshio Hayashi
俊雄 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ulvac Inc
Original Assignee
Ulvac Inc
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Abstract

(57)【要約】 【目的】この発明の目的は、吸着面に被処理物が吸着し
ているか否かを判別することの可能な静電吸着装置を提
供することである。 【構成】この発明は、所定の間隔で並設された一対の電
極間に電圧を印加することによって、上記一対の電極を
覆う絶縁物の表面に配置された被処理物を静電的に吸着
する静電吸着装置において、上記被処理物の吸着面側に
気体を噴出させる気体噴出孔を上記絶縁物に設け、途中
に流量調節器と第1開閉弁を設けた気体導入管を気体噴
出管と気体排気管とに分岐し、その気体噴出管の途中に
第2開閉弁を設けたうえ、その気体噴出管を上記気体噴
出孔に接続し、また、上記気体排気管の途中に流量調整
弁を設けたうえ、上記気体排気管に排気ポンプを接続
し、更に、上記分岐した点の近傍に検出器を設けたこと
を特徴とするものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、ドライエッチング装
置、プラズマCVD装置、スパッタリング装置、イオン
注入装置等の半導体処理装置に使用される静電チャック
の吸着面に、シリコンウエハ等の被処理物が吸着されて
いるか否かの判別を可能にする静電吸着装置に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】ドライエッチング装置、プラズマCVD
装置、スパッタリング装置、イオン注入装置等の半導体
処理装置に使用される静電吸着装置は、静電チャックの
電極に高電圧を印加することによって発生する静電的吸
着力によって被処理物を吸着させる一方で、静電チャッ
クの吸着面と被処理物との隙間に気体を熱媒体として流
し、被処理物の温度を制御をしている。静電チャックの
吸着面に被処理物を吸着させる静電的吸着力が静電チャ
ックの突発的あるいは経時的変化等に起因して減衰した
場合、或いは静電チャックの吸着面に被処理物が未接触
の場合、静電チャックは被処理物との間で静電的吸着不
良が起きる。したがって、仮に、静電チャックの吸着面
に被処理物が吸着していない場合には、冷却機構からの
熱伝導による被処理物の温度制御が不可能になる。
【0003】そこで、静電チャックの吸着面に被処理物
が吸着しているか否かを判別するこことが必要となる。
しかしながら、従来の静電吸着装置においては、そのよ
うな判別を行う構成を持つものが存在していなかった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来の静電吸着装置
は、上記のように静電チャックの吸着面に被処理物が吸
着しているか否かを判別する構成をもっていなかったか
ら、静電チャックの吸着面に被処理物を吸着させる静電
的吸着力が静電チャックの突発的あるいは経時的変化等
に起因して減衰した場合、或いは静電チャックの吸着面
に被処理物が未接触の場合、静電チャックは被処理物と
の間で静電的吸着不良が起きたり、あるいは、冷却機構
からの熱伝導による被処理物の温度制御が不可能になる
等の問題が発生していた。
【0005】この発明の目的は、上記問題を解決して、
吸着面に被処理物が吸着しているか否かを判別すること
の可能な静電吸着装置を提供するものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この発明は、所定の間隔で並設された一対の電極間
に電圧を印加することによって、上記一対の電極を覆う
絶縁物の表面に配置された被処理物を静電的に吸着する
静電吸着装置において、上記被処理物の吸着面側に気体
を噴出させる気体噴出孔を上記絶縁物に設け、途中に流
量調節器と第1開閉弁を設けた気体導入管を気体噴出管
と気体排気管とに分岐し、その気体噴出管の途中に第2
開閉弁を設けたうえ、その気体噴出管を上記気体噴出孔
に接続し、また、上記気体排気管の途中に流量調整弁を
設けたうえ、上記気体排気管に排気ポンプを接続し、更
に、上記分岐したところに検出器を設けたことを特徴と
するものである。
【0007】
【作用】この発明においては、一対の電極を覆う絶縁物
の表面に配置された被処理物を静電的に吸着している状
態で、まず、気体導入管の第1開閉弁を開、気体噴出管
の第2開閉弁を閉にしたとき、分岐した点における気体
の圧力又は流量を検出器で測定する。次に、気体噴出管
の第2開閉弁を閉から開にしたときの分岐した点におけ
る気体の圧力又は流量の変化を検出器で測定し、その測
定より、絶縁物の表面に被処理物を静電的に吸着してい
る状態の良否を判別する。
【0008】
【実施例】以下、この発明の実施例について図面を参照
しながら説明する。この発明の実施例の静電吸着装置は
図1に示されている。同図において、冷却水配管等の冷
却機構1aを備えたアルミニウム製の基体1の上部に
は、アルミナ製の絶縁物4a、4bと、これらの絶縁物
4a、4bによって覆われている所定の間隔で並設され
た一対の電極2a、2bとで構成された静電チャック3
が設けられている。一対の電極2a、2b間には直流電
源6が接続され、この直流電源6より一対の電極2a、
2bに電位を与えると、静電チャック3に静電気が発生
して、静電チャック3の絶縁物4aの表面にシリコンウ
エハ等の被処理物5が吸着されるようになる。静電チャ
ック3の絶縁物4a、4bには熱伝導効率を高めるため
のガスを噴出する気体噴出孔7が設けられ、この気体噴
出孔7より噴出したガスは静電チャック3の絶縁物4a
と被処理物5との隙間を流れるようになっている。気体
導入管8の途中にはガスの流量を調節するためのマスフ
ローコントローラ9と圧空バルブの開閉弁10とが設け
られ、更に、気体導入管8はその先端部において気体噴
出管11と気体排気管12とに分岐されている。気体噴
出管11はその途中においてストップバルブの開閉弁1
3が設けられたうえ、先端部が気体噴出孔7に接続され
ている。一方、気体排気管12はその途中においてニー
ルドバルブの流量調整弁14が設けられたうえ、先端部
にガス排気用のロータリーポンプ15が接続されてい
る。また、気体導入管8の先端部の分岐する点において
はガスの圧力を測定する検出器16、即ち、隔膜真空計
が設けられている。
【0009】このような実施例において、ガスとして用
いられているヘリウムはマスフローコントローラ9で1
0sccmの流量に設定され、また、ガス排気用のロー
タリーポンプ15は排気速度を20リットル/minに
している。更に、開閉弁10を開け、開閉弁13を閉じ
たとき、検出器16で測定する圧力が平衡状態で10.
0Torrになるようにニールドバルブの流量調整弁1
4を調整する。そして、開閉弁10と開閉弁13とを共
に閉じた場合、検出器16で測定する圧力が下がり、平
衡状態で0.4Torr以下になるようにする。なお、
静電チャック3を配置している真空室(図示せず)内圧
力は2×10-5Torr以下である。
【0010】次に、図2は実施例の静電チャック3の絶
縁物4aの表面に被処理物5が正常に静電吸着されてい
る場合と、反対に正常に静電吸着されていない場合との
一例を示している。図中、横軸は時間、縦軸は検出器1
6で測定する圧力を示し、正常な静電吸着の場合を実線
で示し、正常でない静電吸着の場合を点線で示してい
る。
【0011】最初、実線で示される正常な静電吸着の場
合について説明する。まず、開閉弁10を開け、開閉弁
13を閉じ、時間が0になるまでは、圧力は平衡状態に
あり、検出器16で測定される圧力は10.0Torr
であるが、開閉弁13より先の気体噴出孔7内の圧力は
少なくとも0.4Torr以下になっている。この状態
で直流電源6の電圧を3KVにし、静電チャック3の絶
縁物4aの表面に被処理物5を正常に静電吸着したと仮
定する。次に、時間が0のときに開閉弁13を開ける
と、ガスは開閉弁13を通って気体噴出孔7の方向に流
れようとするが、これまで気体噴出孔7内の圧力が少な
くとも0.4Torr以下になってため、検出器16で
測定される圧力は一旦下がるようになる。しかしなが
ら、静電チャック3の絶縁物4aの表面に被処理物5を
正常に静電吸着しているので、静電チャック3の絶縁物
4aと被処理物5との間の隙間が極めて狭いため、この
隙間より真空室側に漏れるガスの漏れ量はほとんどな
い。そのため、検出器16で測定される圧力は再び平衡
状態になり、10.0Torrになる。
【0012】次に、点線で示される正常でない静電吸着
の場合について説明する。まず、開閉弁10を開け、開
閉弁13を閉じ、時間が0になるまでは、圧力は平衡状
態にあり、検出器16で測定される圧力は10.0To
rrであるが、開閉弁13より先の気体噴出孔7内の圧
力は少なくとも0.4Torr以下になっている。この
状態で直流電源6の電圧を0KVにすれば、静電チャッ
ク3の絶縁物4aの表面に被処理物5を静電吸着しなく
なる。この状態で、時間が0のときに開閉弁13を開け
ると、ガスは開閉弁13を通って気体噴出孔7の方向に
流れようとするが、これまで気体噴出孔7内の圧力が少
なくとも0.4Torr以下になっていたため、検出器
16で測定される圧力は下がるようになる。その後、静
電チャック3の絶縁物4aの表面に被処理物5を静電吸
着していないため、静電チャック3の絶縁物4aと被処
理物5との間の隙間よりガスが真空室側に漏れる量が多
くなる。そのため、検出器16で測定される圧力は1
0.0Torr以下で平衡状態になり、3.5Torr
になる。
【0013】このように検出器16で測定される圧力の
変動を測定することによって、絶縁物4aの表面に被処
理物5を静電吸着しているか否かを判別している。
【0014】なお、上記実施例の開閉弁10にストップ
バルブや電磁弁を用いてもよく、また、開閉弁13に圧
空バルブや電磁弁を用いてもよい。更に、検出器16に
ピラニ真空計や熱電対型真空計などを用いてもよい。ガ
スは熱伝導率の大きいヘリウムを使用しているが、これ
に限ることなく、使用温度で凝縮しないものであれば、
効率の大小があっても、如何なる種類のものを使用して
もよい。
【0015】更に、上記実施例は検出器16に圧力計を
使用しているが、この代わりに、流量計を用い、圧力を
一定にした場合の流量変動を測定して、絶縁物4aの表
面に被処理物5を静電吸着しているか否かを判別しても
よい。また、開閉弁10を開したうえ、開閉弁13から
気体噴出孔7に至るまでを真空にした場合には、開閉弁
13の開閉操作によって変動する開閉弁13を流れる流
量を測定して、絶縁物4aの表面に被処理物5を静電吸
着しているか否かを判別してもよい。
【0016】ところで、上記実施例の静電吸着装置はド
ライエッチング装置、プラズマCVD装置、スパッタリ
ング装置、イオン注入装置、蒸着装置等にも利用できる
ことはいうまでもない。
【0017】
【発明の効果】この発明においては、上記のように気体
噴出管の第2開閉弁を閉から開にしたときの分岐した点
における気体の圧力又は流量の変化を検出器で測定して
いるので、その測定より、絶縁物の表面に被処理物を静
電的に吸着しているか否かを判別することが出来る効果
を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施例を示す説明図
【図2】この発明の実施例において気体の圧力の変化を
検出器で測定したグラフ
【符号の説明】
1・・・・・・・・・・基体 1a・・・・・・・・・冷却機構 2a、2b・・・・・・電極 3・・・・・・・・・・静電チャック 4a、4b・・・・・・絶縁物 5・・・・・・・・・・被処理物 6・・・・・・・・・・直流電源 7・・・・・・・・・・気体噴出孔 8・・・・・・・・・・気体導入管 9・・・・・・・・・・マスフローコントローラ 10・・・・・・・・・開閉弁 11・・・・・・・・・気体噴出管 12・・・・・・・・・気体排気管 13・・・・・・・・・開閉弁 14・・・・・・・・・流量調整弁 15・・・・・・・・・ロータリーポンプ 16・・・・・・・・・検出器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 // H01L 21/203 S 8422−4M 21/302 B 9277−4M (72)発明者 田辺 正文 神奈川県茅ヶ崎市萩園2500番地日本真空技 術株式会社内 (72)発明者 水野 栄一 神奈川県茅ヶ崎市萩園2500番地日本真空技 術株式会社内 (72)発明者 林 俊雄 神奈川県茅ヶ崎市萩園2500番地日本真空技 術株式会社内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】所定の間隔で並設された一対の電極間に電
    圧を印加することによって、上記一対の電極を覆う絶縁
    物の表面に配置された被処理物を静電的に吸着する静電
    吸着装置において、上記被処理物の吸着面側に気体を噴
    出させる気体噴出孔を上記絶縁物に設け、途中に流量調
    節器と第1開閉弁を設けた気体導入管を気体噴出管と気
    体排気管とに分岐し、その気体噴出管の途中に第2開閉
    弁を設けたうえ、その気体噴出管を上記気体噴出孔に接
    続し、また、上記気体排気管の途中に流量調整弁を設け
    たうえ、上記気体排気管に排気ポンプを接続し、更に、
    上記分岐したところに検出器を設けたことを特徴とする
    静電吸着装置。
  2. 【請求項2】上記検出器は圧力計であることを特徴とす
    る請求項1記載の静電吸着装置。
  3. 【請求項3】上記検出器は流量計であることを特徴とす
    る請求項1記載の静電吸着装置。
JP6141892A 1992-02-16 1992-02-16 静電吸着装置 Pending JPH06140498A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002184850A (ja) * 2000-12-19 2002-06-28 Rohm Co Ltd プロセス装置におけるウェハ温度の制御方法
WO2019069531A1 (ja) * 2017-10-03 2019-04-11 旭ファイバーグラス株式会社 真空断熱材
JP2019161082A (ja) * 2018-03-15 2019-09-19 ヤマハ発動機株式会社 基板検出装置及び基板処理装置
CN115255983A (zh) * 2022-07-18 2022-11-01 宁波明德机械自动化有限公司 一种汽车轮毂加工用夹具

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002184850A (ja) * 2000-12-19 2002-06-28 Rohm Co Ltd プロセス装置におけるウェハ温度の制御方法
WO2019069531A1 (ja) * 2017-10-03 2019-04-11 旭ファイバーグラス株式会社 真空断熱材
JP2019065995A (ja) * 2017-10-03 2019-04-25 旭ファイバーグラス株式会社 真空断熱材
JP2019161082A (ja) * 2018-03-15 2019-09-19 ヤマハ発動機株式会社 基板検出装置及び基板処理装置
CN115255983A (zh) * 2022-07-18 2022-11-01 宁波明德机械自动化有限公司 一种汽车轮毂加工用夹具
CN115255983B (zh) * 2022-07-18 2024-04-05 杭州邦磊汽车零部件有限公司 一种汽车轮毂加工用夹具

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