JPH06130070A - 臨床用自動分析装置の電解質分析装置 - Google Patents

臨床用自動分析装置の電解質分析装置

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JPH06130070A
JPH06130070A JP27832792A JP27832792A JPH06130070A JP H06130070 A JPH06130070 A JP H06130070A JP 27832792 A JP27832792 A JP 27832792A JP 27832792 A JP27832792 A JP 27832792A JP H06130070 A JPH06130070 A JP H06130070A
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JP
Japan
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electrolyte
analysis
reagent
analyzer
sample
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JP27832792A
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English (en)
Inventor
Terumi Tamura
輝美 田村
Hiroyasu Uchida
裕康 内田
Osamu Ono
修 大野
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【構成】本発明は、比色分析部1のサンプリング機構
6,2重リング構造の反応容器8,反応容器8を回転移
動させる反応ディスク7,反応容器8内の検体と試薬の
混合液を温度制御する恒温反応槽9,試薬を保冷・保存
する保冷庫10,試薬を定量分注するディスペンサ1
1,反応容器8内に試薬を吐出する試薬ノズル12,検
体と試薬の混合を行う撹拌機構13,測定後の反応容器
8を洗浄する洗浄機構15,比色分析用の光度計14,
電解質分析用の電極18へ検体と希釈液の混合液を吸引
する吸引機構20と電極18が納められている恒温槽1
9により構成されている。 【効果】臨床用自動分析装置に最も適した電解質分析装
置を安価に提供すること。さらに、安定した電解質分析
データを得ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は臨床用自動分析装置の電
解質分析装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の臨床用自動分析装置は検体の電解
質分析を行うため、比色分析部と電解質分析部を持って
いた。
【0003】分析を受ける検体はサンプルラックにのせ
られたサンプルカップに分取されており、サンプルラッ
クはサンプラーによって比色分析部,電解質分析部を移
動する。
【0004】比色分析部には、検体を分取し、反応容器
に吐出するサンプリング機構、各検査項目に従って保冷
庫内の試薬を反応容器に分注する試薬分注機構、検体と
試薬の混合を促進させる撹拌機構、が設けられている。
【0005】更に、反応容器は、検体と試薬の反応速度
が周囲の環境によって変化しないように一定の温度に保
たれた恒温反応槽に取付けられている。
【0006】一定の反応時間を経過した反応容器内の検
体と試薬の混合液は、その呈色反応が光度計によって測
定され、比色分析のデータが得られる。
【0007】測定を終了した反応容器は洗浄機構によっ
て洗浄され、次の分析に使用される。
【0008】比色分析部での検体の分取を終えたサンプ
ルラックは、サンプラーにより移動し電解質分析部へ移
動する。
【0009】電解質分析部には、検体を分取するサンプ
リング機構、検体を希釈する容器としての希釈槽、希釈
液等の電解質分析用の試薬を分注する試薬分注機構が設
けられている。
【0010】希釈された検体は、吸引機構によって各電
解質の濃度に従った起電力を発生する電極に吸引され、
電解質分析のデータが得られる。
【0011】また、データの安定を図るため、電極,希
釈槽は一定の温度に制御された恒温槽内に納められてい
る。
【0012】なお、この臨床用自動分析装置の電解質分
析装置に関する先行技術としては、公技番号91−16497
等が挙げられる。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術では、比
色分析部,電解質分析部への検体の移動が同一のサンプ
ラーによって行われているため、比色分析部のサンプリ
ング位置での停止時間と電解質分析部での停止時間を同
期させる必要があった。
【0014】また、比色分析部では反応容器が多数設け
られているのに対して電解質分析部の希釈槽の数が少な
いため、電解質分析を依頼すると装置の検体処理能力が
低下してしまった。
【0015】さらに、希釈槽の数が少ないために、1検
体に対する分析時間が限定されてしまい検体と希釈液の
混合・撹拌に十分時間を取ることができなかった。この
ため、短時間で、一定の混合を行うことが電解質分析の
技術的課題であった。
【0016】さらにまた、電解質分析部には、データの
安定を図るため希釈槽、データ校正のための試薬、希釈
液および電極の温度を制御する専用の温度制御部を設
け、恒温槽も大形となっていた。
【0017】本発明は、上記問題点を解決し、臨床用自
動分析装置に適した電解質分析装置を安価に提供するこ
とにある。
【0018】さらに本発明は、電解質分析データの安定
性を向上させることにある。
【0019】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めに、比色分析部と電解質分析部を分割して設置せず、
比色分析部の反応容器を電解質分析部の希釈槽として使
用する。
【0020】特に、反応容器が内外周に分かれた2重リ
ング構造である場合には、電解質分析の希釈槽となる反
応容器を内周側もしくは外周側のいずれかに固定する。
【0021】さらに、比色分析部の反応容器から検体と
希釈液の混合液を電解質分析用の電極に吸引する機構を
比色分析部に設ける。
【0022】また、電解質分析に使用する反応容器の洗
浄には、生理食塩水を使用する。
【0023】
【作用】比色分析部と電解質分析部を分割しないことに
よって、サンプルラックにのせられた検体は比色分析部
と電解質分析部を移動する必要がなくなり、電解質分析
は比色分析の1項目として取扱われる。
【0024】これによって、比色分析部の反応容器の数
に従ったサンプリング周期で検体のサンプリングを行う
ことができるため、電解質分析の分析効率は向上し、臨
床用自動分析装置の検体処理能力を低下させることはな
い。
【0025】さらに、電解質分析に対する1検体当りの
分析・測定時間は比色分析に従って十分取ることができ
データ安定性を向上させることができる。
【0026】また、電解質分析に用いる希釈液等の試薬
は、比色分析部の試薬分注機構によって反応容器内の検
体に添加される。
【0027】これによって、電解質分析専用の試薬分注
機構は不要となる。
【0028】さらに、希釈液及びデータ校正用の試薬の
温度制御は、比色分析部の恒温反応槽によって行う。
【0029】これによって、従来必要であった電解質分
析用の試薬の温度制御は不要となる。
【0030】さらに、反応容器内の検体と希釈液の混合
は、比色分析部の撹拌機構によって行う。
【0031】これによって、検体と希釈液の混合効率は
向上し、電解質分析データの安定性も向上する。
【0032】また、反応容器が内外周に分かれている2
重リング構造である場合、電解質分析のための希釈槽と
して使用する反応容器を内、外周のいずれかに固定する
ことで、電解質分析のデータに対して比色分析の試薬が
及ぼす影響はない。
【0033】さらに、反応容器の洗浄においても比色分
析と分けて、水での洗浄ではなく生理食塩水で洗浄する
ことで、反応容器内の吸い残しによるデータへの影響を
少なくすることができる。
【0034】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1を用いて説明
する。
【0035】本実施例は、比色分析部1のサンプリング
機構6,2重リング構造の反応容器8,反応容器8を回
転移動させる反応ディスク7,反応容器8内の検体と試
薬の混合液を温度制御する恒温反応槽9,試薬を保冷・
保存する保冷庫10,試薬を定量分注するディスペンサ
11,反応容器8内に試薬を吐出する試薬ノズル12,
検体と試薬の混合を行う撹拌機構13,測定後の反応容
器8を洗浄する洗浄機構15,比色分析用の光度計1
4,電解質分析用の電極18へ検体と希釈液の混合液を
吸引する吸引機構20と電極18が納められている恒温
槽19により構成されている。
【0036】次に、本実施例の動作を説明する。
【0037】サンプラー5によって比色分析部1のサン
プリング位置に移動した検体は、比色分析部1のサンプ
リング機構6により分取される。
【0038】サンプリング機構6は、恒温反応槽9内に
取付けられている2重リング構造の反応容器8に検体を
吐出する。この検体に比色分析と電解質分析の依頼が行
われている場合、内周側の反応容器8に電解質分析用の
検体を吐出し、外周側の反応容器8に電解質分析用の検
体を吐出する。
【0039】反応容器8は、反応ディスク7が回転移動
することによって、試薬ノズル12位置に移動し、ここ
で、保冷庫10内の電解質分析用の希釈液が内周側の反
応容器内の検体にディスペンサ11によって一定量添加
され、比色分析用の試薬が外周側の反応容器内の検体に
ディスペンサ11によって一定量添加される。
【0040】試薬の添加を受けた反応容器8は反応ディ
スク7の回転移動によって撹拌機構13の位置に移動
し、撹拌機構13によってそれぞれ撹拌される。
【0041】撹拌された検体を入れた反応容器8は、さ
らに反応ディスク7が回転移動することによって電解質
分析用の電極18への吸引位置に移動し、吸引機構20
が電極18に検体と希釈液との混合液を吸引する。
【0042】これによって、電極18は検体の電解質濃
度に対応した電位を発生し、これを測定することで電解
質分析のデータを得る。
【0043】さらに、反応容器8内の検体と比色分析用
の試薬との呈色反応を光度計14によって測定すること
で比色分析のデータを得る。
【0044】測定の終了した反応容器8は、反応ディス
ク7の回転移動によって洗浄機構15の位置に移動し洗
浄機構15により洗浄される。
【0045】本実施例によれば、電解質分析は比色分析
の分析項目の1つとして取扱うことができる。
【0046】これによって、臨床用自動分析装置の検体
処理能力は電解質分析によって低下することはない。
【0047】さらに、電解質分析の分析・測定時間は比
色分析の分析・測定時間と同じである。
【0048】これによって、電解質分析が測定サイクル
に十分時間を取ることができるため、分析データの安定
性を向上させることができる。
【0049】さらに、電解質分析専用のサンプリング機
構,試薬分注機構を備える必要がなくなり従来に比べて
安価に電解質分析装置を構成することができる。
【0050】さらに、電解質分析に使用する試薬の温度
制御は行う必要がなくなり、電極のみ温度制御すること
で電解質分析用の恒温槽を小さくすることができる。
【0051】さらに、検体と希釈液の混合を比色分析部
の撹拌機構によって行わせることで、検体と希釈液の混
合効率は向上し、データの安定性を向上させることがで
きる。
【0052】さらにまた、反応容器の内周側を電解質分
析専用に固定することで、比色分析の試薬の影響を受け
ることはない。
【0053】さらにまた、洗浄に使用する洗浄液を生理
食塩水にすることで、反応容器内の吸い残しの影響をな
くすことができる。
【0054】
【発明の効果】本発明によれば、臨床用自動分析装置に
最も適した電解質分析装置を安価に提供することができ
る。
【0055】さらに、本発明によれば、安定した電解質
分析データを得ることができる。
【0056】さらにまた、本発明によれば、臨床用自動
分析装置の検体処理能力は電解質分析の分析依頼によっ
て低下することはない。
【図面の簡単な説明】
【図1】臨床用自動分析装置の電解質分析装置の実施例
を示す図である。
【符号の説明】
1…比色分析部、2…電解質分析部、3…サンプルラッ
ク、4…サンプルカップ、5…サンプラー、6…サンプ
リング機構、7…反応ディスク、8…反応容器、9…恒
温反応槽、10…保冷庫、11…ディスペンサ、12…
試薬ノズル、13…撹拌機構、14…光度計、15…洗
浄機構、16…希釈槽、17…試薬分注機構、18…電
極、19…恒温槽、20…吸引機構。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】比色分析部に電解質分析用の電極を設け、
    検体と希釈液の混合を行う希釈槽として比色分析部の反
    応容器を兼用し、比色分析部の試薬分注機構によって電
    解質分析用の試薬の分注・吐出を行わせ、比色分析部の
    撹拌機構によって検体と希釈液の混合を行い、比色分析
    部の恒温反応槽によって検体と希釈液の混合液の温度制
    御を行い、かつ、比色分析部の洗浄機構によって使用後
    の反応容器を洗浄することを特徴とする臨床用自動分析
    装置の電解質分析装置。
  2. 【請求項2】反応容器が同心円多重リング構造であり、
    その中の1つの円に配置された反応容器列を電解質分析
    専用に使用することを特徴とする請求項1記載の臨床用
    自動分析装置の電解質分析装置。
  3. 【請求項3】反応容器の洗浄に電解質分析に対しデータ
    影響の少ない生理食塩水等を用いていることを特徴とす
    る請求項1又は2記載の臨床用自動分析装置の電解質分
    析装置。
  4. 【請求項4】電解質分析装置を有する臨床用自動分析装
    置において、比色分析部の反応容器内の検体と試薬の混
    合液を電解質分析用の電極へ吸引する吸引機構を備えて
    いることを特徴とする請求項1記載の臨床用自動分析装
    置の電解質分析装置。
JP27832792A 1992-10-16 1992-10-16 臨床用自動分析装置の電解質分析装置 Pending JPH06130070A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1835292A1 (en) * 2006-03-14 2007-09-19 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analyzer

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1835292A1 (en) * 2006-03-14 2007-09-19 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analyzer
JP2007248085A (ja) * 2006-03-14 2007-09-27 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置

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