JPH02150770A - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置Info
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- JPH02150770A JPH02150770A JP30441688A JP30441688A JPH02150770A JP H02150770 A JPH02150770 A JP H02150770A JP 30441688 A JP30441688 A JP 30441688A JP 30441688 A JP30441688 A JP 30441688A JP H02150770 A JPH02150770 A JP H02150770A
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- analyzer
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Landscapes
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は分析を自動的に行なうことのできる自動分析装
置に関するものである。
置に関するものである。
自動分析装置は、例えば病院等において血清・尿などの
液体試料(検体)を自動的に連続分析するのに利用され
ている。
液体試料(検体)を自動的に連続分析するのに利用され
ている。
(従来の技術)
自動分析装置では、分析性能を保持するために、反応セ
ルの洗浄、恒温循環水の交換、検体分注器の洗浄、試薬
分注器の洗浄、撹拌棒の洗浄などのメンテナンス(保守
)動作を日常の分析動作の前後で行なう必要がある。
ルの洗浄、恒温循環水の交換、検体分注器の洗浄、試薬
分注器の洗浄、撹拌棒の洗浄などのメンテナンス(保守
)動作を日常の分析動作の前後で行なう必要がある。
これらのメンテナンス動作をできるだけ自動化するため
に、操作者がメンテナンス動作を開始するための指示を
分析装置に与えることによって、分析装置がメンテナン
ス動作を自動的に行なう(マニュアル動作)ようにした
自動分析装置がある。また、分析動作と連動してメンテ
ナンス動作を自動的に実行するようにした自動分析装置
もある。
に、操作者がメンテナンス動作を開始するための指示を
分析装置に与えることによって、分析装置がメンテナン
ス動作を自動的に行なう(マニュアル動作)ようにした
自動分析装置がある。また、分析動作と連動してメンテ
ナンス動作を自動的に実行するようにした自動分析装置
もある。
(発明が解決しようとする課題)
マニュアル動作機能を備えた自動分析装置では、メンテ
ナンス動作開始の指示を与えるのはあくまで人間であり
、少なくともメンテナンス動作の開始を指示するときに
は人手が必要である。そのため、例えば一般には作業が
行なわれていない深夜などにメンテナンス動作を行なわ
せるというようなことはできない。
ナンス動作開始の指示を与えるのはあくまで人間であり
、少なくともメンテナンス動作の開始を指示するときに
は人手が必要である。そのため、例えば一般には作業が
行なわれていない深夜などにメンテナンス動作を行なわ
せるというようなことはできない。
分析動作と連動して自動的にメンテナンス動作を行なわ
せる自動分析装置では1分析が行なわれる時間帯であっ
ても1分析とは直接結びつかないメンテナンス動作が行
なわれるため1分析装置の稼働率が低下する問題がある
。
せる自動分析装置では1分析が行なわれる時間帯であっ
ても1分析とは直接結びつかないメンテナンス動作が行
なわれるため1分析装置の稼働率が低下する問題がある
。
本発明はメンテナンス動作を自動的に行なわせるように
し、かつ、分析動作に支障を来たさない時間帯を選んで
自動的にメンテナンス動作を開始させるようにすること
によって1分析装置の稼働率を低下させることなく人手
を省くことのできる機能を備えた自動分析装置を提供す
ることを目的とするものである。
し、かつ、分析動作に支障を来たさない時間帯を選んで
自動的にメンテナンス動作を開始させるようにすること
によって1分析装置の稼働率を低下させることなく人手
を省くことのできる機能を備えた自動分析装置を提供す
ることを目的とするものである。
(課題を解決するための手段)
本発明は、実施例を示す第1図に示されるように1分析
を自動的に行なう分析機構及びメンテナンス開始信号を
受けてメンテナンス動作を自動的に行なうメンテナンス
機構を備えた分析装置本体2に、検体分注機構、試薬分
注機構、測定機構などの機構要素の作動回数と作動時間
を計測する機構部作動回数・時間計測手段4と、計測さ
れた作動機構部を時刻側に記憶する時刻別作動機構記憶
手段6と、時刻別作動機構記憶手段6の記憶内容からメ
ンテナンス動作に適した時間帯であるか否かを判定する
時刻側作動確率判定手段8とを備えたものである。
を自動的に行なう分析機構及びメンテナンス開始信号を
受けてメンテナンス動作を自動的に行なうメンテナンス
機構を備えた分析装置本体2に、検体分注機構、試薬分
注機構、測定機構などの機構要素の作動回数と作動時間
を計測する機構部作動回数・時間計測手段4と、計測さ
れた作動機構部を時刻側に記憶する時刻別作動機構記憶
手段6と、時刻別作動機構記憶手段6の記憶内容からメ
ンテナンス動作に適した時間帯であるか否かを判定する
時刻側作動確率判定手段8とを備えたものである。
(作用)
一定期間、例えば1力月間、分析装置本体2を第2図(
A)で示されるように1通常の分析業務に従って使用す
る。その期間中は1分析準備、分析1分析後始末のため
に分析装置が1日のうちどの時間帯にどれくらいの時間
又は回数動作したかが機構部作動回数・時間計測手段4
により計測され、時刻別作動機構記憶手段6に記憶され
る。
A)で示されるように1通常の分析業務に従って使用す
る。その期間中は1分析準備、分析1分析後始末のため
に分析装置が1日のうちどの時間帯にどれくらいの時間
又は回数動作したかが機構部作動回数・時間計測手段4
により計測され、時刻別作動機構記憶手段6に記憶され
る。
一定期間経過後1時刻側作動確率判定手段8は時刻別作
動機構記憶手段6の記憶内容に基づいて、1日のうちで
分析装置が日常業務に使用されないか、使用されない確
率の高い時間帯を判定する。
動機構記憶手段6の記憶内容に基づいて、1日のうちで
分析装置が日常業務に使用されないか、使用されない確
率の高い時間帯を判定する。
例えば、時刻側作動確率判定手段8によっである時間が
分析装置が使用されない時間帯であると判定されたとき
、時刻側作動確率判定手段8から分析装置本体2にメン
テナンス動作を行なうようにメンテナンス開始信号が与
えられる。その結果。
分析装置が使用されない時間帯であると判定されたとき
、時刻側作動確率判定手段8から分析装置本体2にメン
テナンス動作を行なうようにメンテナンス開始信号が与
えられる。その結果。
第2図(B)に示されるように1日常の分析業務が始ま
る前にすでに分析の準備が完了しており。
る前にすでに分析の準備が完了しており。
日常業務が終った後に分析後始末が自動的に行なわれる
ようになる。
ようになる。
(実施例)
第1図は一実施例を表わす。
分析装置本体2では1反応ディスク10の周りに反応セ
ル12が配列されている。反応ディスク10の近くには
ターンテーブル14が設けられ。
ル12が配列されている。反応ディスク10の近くには
ターンテーブル14が設けられ。
ターンテーブル14には検体を収容したカップが並べら
れる。16はサンプラーであり、ターンテーブル14上
の検体カップから検体を吸引し1反応セル12に注入す
る。18はサンプラー16に検体を吸引し1反応セル1
2に注入するためのピペッタポンプと、検体を脱気水で
押し出すためのダイリュータポンプである。ターンテー
ブル14とピペッタポンプ・ダイリュータポンプ18は
サンプラー制御コンピュータ22及びインターフェース
20を介してマイクロコンピュータ24によって制御さ
れる。17はサンプラー16のプローブや流路を洗浄す
るための、洗浄液が湧き出す洗浄槽である。
れる。16はサンプラーであり、ターンテーブル14上
の検体カップから検体を吸引し1反応セル12に注入す
る。18はサンプラー16に検体を吸引し1反応セル1
2に注入するためのピペッタポンプと、検体を脱気水で
押し出すためのダイリュータポンプである。ターンテー
ブル14とピペッタポンプ・ダイリュータポンプ18は
サンプラー制御コンピュータ22及びインターフェース
20を介してマイクロコンピュータ24によって制御さ
れる。17はサンプラー16のプローブや流路を洗浄す
るための、洗浄液が湧き出す洗浄槽である。
反応セル12中で検体と反応させる試薬を反応セル12
に注入するために、デイスペンサ26と試薬庫28が設
けられている。試薬庫28に配列された試薬瓶からデイ
スペンサ26によって試薬が吸引され1反応セル12に
注入される。30はデイスペンサ26で試薬を吸引し反
応セル12に注入するためのデイスペンサポンプであり
、デイスペンサ26とデイスペンサポンプ30はデイス
ペンサ制御コンピュータ32とインターフェース20を
介してマイクロコンピュータ24により制御される。2
7はデイスペンサ26のプローブや流路を洗浄するため
の、洗浄液が湧き出す洗浄瓶である。
に注入するために、デイスペンサ26と試薬庫28が設
けられている。試薬庫28に配列された試薬瓶からデイ
スペンサ26によって試薬が吸引され1反応セル12に
注入される。30はデイスペンサ26で試薬を吸引し反
応セル12に注入するためのデイスペンサポンプであり
、デイスペンサ26とデイスペンサポンプ30はデイス
ペンサ制御コンピュータ32とインターフェース20を
介してマイクロコンピュータ24により制御される。2
7はデイスペンサ26のプローブや流路を洗浄するため
の、洗浄液が湧き出す洗浄瓶である。
反応セル12に注入された検体と試薬を撹拌するために
撹拌機構34が反応ディスク10の近くに設けられ、ま
た反応セル12中の反応を光学的に検出するために、反
応ディスク10の近傍には往復動作可能な分光器36が
設けられている。
撹拌機構34が反応ディスク10の近くに設けられ、ま
た反応セル12中の反応を光学的に検出するために、反
応ディスク10の近傍には往復動作可能な分光器36が
設けられている。
反応セル12の洗浄を行なうために、反応ディスク10
の近くには洗浄機構38が設けられている。40は洗浄
機構38のノズルから反応セル12に洗浄液を注入し回
収するための洗浄ポンプである。洗浄機構38では反応
セル12内の反応液をまず吸引し、それらは図示しない
廃液タンクに送られる。
の近くには洗浄機構38が設けられている。40は洗浄
機構38のノズルから反応セル12に洗浄液を注入し回
収するための洗浄ポンプである。洗浄機構38では反応
セル12内の反応液をまず吸引し、それらは図示しない
廃液タンクに送られる。
撹拌機構34.洗浄機構38及び洗浄ポンプ40は反応
部制御コンピュータ42及びインターフェース20を介
してマイクロコンピュータ24によって制御される。
部制御コンピュータ42及びインターフェース20を介
してマイクロコンピュータ24によって制御される。
分光器36の検出出力は、log変換部及びA/D変換
部44.並びにインターフェース20を介してマイクロ
コンピュータ24に取り込まれる。
部44.並びにインターフェース20を介してマイクロ
コンピュータ24に取り込まれる。
46は恒温循環水の温度を一定に保つためのリザーバで
ある。
ある。
インターフェース20にはさらに、プリンタ48、キー
ボード50、CRT52及びフロッピーディスクドライ
ブ54が接続されている。
ボード50、CRT52及びフロッピーディスクドライ
ブ54が接続されている。
メンテナンス動作としては1例えば洗浄機4!j 38
によって反応セル12を洗浄すること、サンプラ16の
プローブや流路を洗浄することやデイスペンサ26のプ
ローブや流路を洗浄することがある。これらのメンテナ
ンス動作は自動的に行なうことのできるメンテナンス動
作である。メンテナンス動作にはこれらの他に1例えば
反応セル12が配列されている部分の恒温循環水の交換
、反応ディスクカバーの清掃、反応ディスク10におけ
る検体の蒸発を防ぐための水分の補給、洗浄機構38の
点検、各種タンクの点検、部品の交換などがあり、これ
らのうちには自動化が困難なものがある。
によって反応セル12を洗浄すること、サンプラ16の
プローブや流路を洗浄することやデイスペンサ26のプ
ローブや流路を洗浄することがある。これらのメンテナ
ンス動作は自動的に行なうことのできるメンテナンス動
作である。メンテナンス動作にはこれらの他に1例えば
反応セル12が配列されている部分の恒温循環水の交換
、反応ディスクカバーの清掃、反応ディスク10におけ
る検体の蒸発を防ぐための水分の補給、洗浄機構38の
点検、各種タンクの点検、部品の交換などがあり、これ
らのうちには自動化が困難なものがある。
メンテナンス動作のために、インターフェース20には
機構部作動回数・時間計測手段4、時刻別作動機構記憶
手段6、時刻別作動確率判定手段8が設けられている。
機構部作動回数・時間計測手段4、時刻別作動機構記憶
手段6、時刻別作動確率判定手段8が設けられている。
これらは電気回路によって構成することも可能であるが
、CPUとメモリ装置を用いて実現することもできる6
機構部作動回数・時間計測手段41時刻別作動機構記憶
手段6゜及び時刻別作動確率判定手段8は1分析装置本
体2が作動していないときでも作動する必要があるので
、CPUとメモリ装置で構成した場合であっても1分析
装置本体2のマイクロコンピュータ24とは別に設け、
電源を常時オン状態にしておく。
、CPUとメモリ装置を用いて実現することもできる6
機構部作動回数・時間計測手段41時刻別作動機構記憶
手段6゜及び時刻別作動確率判定手段8は1分析装置本
体2が作動していないときでも作動する必要があるので
、CPUとメモリ装置で構成した場合であっても1分析
装置本体2のマイクロコンピュータ24とは別に設け、
電源を常時オン状態にしておく。
次に、本実施例の動作について説明する。
第3図は機構部作動回数・時間計測手段4によって時刻
別作動機構記憶手段6にデータを記憶させるための動作
である。この動作は10ミリ秒ごとに起動されるものと
する。
別作動機構記憶手段6にデータを記憶させるための動作
である。この動作は10ミリ秒ごとに起動されるものと
する。
分析装置本体2に通電されているか否かを点検しくステ
ップS1)、通電が検出されなければ分析装置本体2が
作動していないとしてその時間を記録する(ステップ5
2)0通電されていれば、機構部が稼働中であるか否か
を点検し、稼働中であればその稼働場所と稼働時間を記
憶しくステップS3.S4)、稼働中でなければ操作者
がデータ処理をしているか否かを点検し、データ処理を
しておればデータ処理中であることとその処理時間を記
憶する(ステップS5.S4)。
ップS1)、通電が検出されなければ分析装置本体2が
作動していないとしてその時間を記録する(ステップ5
2)0通電されていれば、機構部が稼働中であるか否か
を点検し、稼働中であればその稼働場所と稼働時間を記
憶しくステップS3.S4)、稼働中でなければ操作者
がデータ処理をしているか否かを点検し、データ処理を
しておればデータ処理中であることとその処理時間を記
憶する(ステップS5.S4)。
第3図の動作により、時刻別作動機構記憶手段6には第
4図に示されるような時刻別作動機構テーブルが作成さ
れる。
4図に示されるような時刻別作動機構テーブルが作成さ
れる。
第5図により、作成された時刻別作動機構テーブルに基
づいてメンテナンス動作を実行するための動作を説明す
る。第5図の動作は1分ごとに起動されるものとする。
づいてメンテナンス動作を実行するための動作を説明す
る。第5図の動作は1分ごとに起動されるものとする。
まず機構別メンテナンステーブルを点検する(ステップ
510)。機構別メンテナンステーブルは第6図に示さ
れるようなものであり、別に設けたメモリ装置に保持さ
れている。機構名称、メンテナンス必要間隔及び所要時
間の項目は固定値であり、メンテナンス実行必要の項目
はその機構がメンテナンス必要間隔時間使用されたとき
にメンテナンスが必要である旨のフラッグが立てられ、
メンテナンスが行なわれるとメンテナンスが必要でない
旨のフラッグに置き換えられる。このメンテナンスには
機構の洗浄など、自動的に行なうことのできるものと1
部品交換のように人手を要するものとがある0機構部メ
ンテナンステーブルの点検の結果、機構や部品のメンテ
ナンスが必要と判断されたとき、例えばある部品が寿命
であるときなど(ステップ5ll)、分析装置本体2が
稼働中か否かが判断される(ステップ514)。稼働中
であればメンテナンスを実行できないので予約される(
ステップ515)。稼働中でなければ機構や部品のメン
テナンスが可能か否かが判断され(ステップ816)、
可能であれば実行される(ステップ517)、メンテナ
ンスが可能でなければ、可能でない要因が解析され(ス
テップ818)1人手を要さずに自動復帰が可能なもの
は自動復帰を実行しくステップS19,520) 、自
動復帰が不可能なものはCRT52により操作者に注意
を呼びかけるための表示を行なう(ステップ521)。
510)。機構別メンテナンステーブルは第6図に示さ
れるようなものであり、別に設けたメモリ装置に保持さ
れている。機構名称、メンテナンス必要間隔及び所要時
間の項目は固定値であり、メンテナンス実行必要の項目
はその機構がメンテナンス必要間隔時間使用されたとき
にメンテナンスが必要である旨のフラッグが立てられ、
メンテナンスが行なわれるとメンテナンスが必要でない
旨のフラッグに置き換えられる。このメンテナンスには
機構の洗浄など、自動的に行なうことのできるものと1
部品交換のように人手を要するものとがある0機構部メ
ンテナンステーブルの点検の結果、機構や部品のメンテ
ナンスが必要と判断されたとき、例えばある部品が寿命
であるときなど(ステップ5ll)、分析装置本体2が
稼働中か否かが判断される(ステップ514)。稼働中
であればメンテナンスを実行できないので予約される(
ステップ515)。稼働中でなければ機構や部品のメン
テナンスが可能か否かが判断され(ステップ816)、
可能であれば実行される(ステップ517)、メンテナ
ンスが可能でなければ、可能でない要因が解析され(ス
テップ818)1人手を要さずに自動復帰が可能なもの
は自動復帰を実行しくステップS19,520) 、自
動復帰が不可能なものはCRT52により操作者に注意
を呼びかけるための表示を行なう(ステップ521)。
ステップSllにおいて機構や部品のメンテナンスが必
要でない場合は、時刻別作動機構テーブル6が点検され
る(ステップ512)。そして日常のメンテナンスが必
要であるか否かが点検され(ステップ513)、必要で
あればそのメンテナンスに必要な機構が例えば第7図に
示されるようなメンテナンス決定テーブルから選び出さ
れる。
要でない場合は、時刻別作動機構テーブル6が点検され
る(ステップ512)。そして日常のメンテナンスが必
要であるか否かが点検され(ステップ513)、必要で
あればそのメンテナンスに必要な機構が例えば第7図に
示されるようなメンテナンス決定テーブルから選び出さ
れる。
メンテナンス決定テーブルも別に設けたメモリ装置に保
持されている。その後は、上記の機構や部品のメンテナ
ンスと同様に1分析装置本体2の稼働中か否か(ステッ
プ514)により、メンテナンスが可能であるか否か(
ステップ816)により、及び自動復帰が可能であるか
否か(ステップ519)によって、メンテナンスが予約
されたり、実行されたり、自動復帰が実行されたり1表
示されるなどの動作が行なわれる。
持されている。その後は、上記の機構や部品のメンテナ
ンスと同様に1分析装置本体2の稼働中か否か(ステッ
プ514)により、メンテナンスが可能であるか否か(
ステップ816)により、及び自動復帰が可能であるか
否か(ステップ519)によって、メンテナンスが予約
されたり、実行されたり、自動復帰が実行されたり1表
示されるなどの動作が行なわれる。
ステップS15でメンテナンス実行が予約されると、メ
ンテナンス動作が可能になった時点でメンテナンスが実
行される。
ンテナンス動作が可能になった時点でメンテナンスが実
行される。
通常の分析業務を一定期間行なった後、自動的にメンテ
ナンス動作をするようになった後でも。
ナンス動作をするようになった後でも。
時刻別作動機構記憶手段には常に最新の一定期間のデー
タを蓄積するようにしておけば1分析業務内容が変化し
てきても柔軟に対応することができる。
タを蓄積するようにしておけば1分析業務内容が変化し
てきても柔軟に対応することができる。
(発明の効果)
本発明では通常の分析業務を一定期間行なって分析業務
を妨げない時間帯を自動的に判定し、その時間帯に分析
準備や分析後始末などのうちの分析装置の性能を維持す
るためのメンテナンス動作や機構のチエツクを行なうよ
うにしたので、メンテナンス動作によって日常の分析業
務を妨げることが少なくなって分析装置の稼働率を落と
すことがなくなり、かつ、メンテナンス動作が自動的に
起動されるので人手を低減することができる。
を妨げない時間帯を自動的に判定し、その時間帯に分析
準備や分析後始末などのうちの分析装置の性能を維持す
るためのメンテナンス動作や機構のチエツクを行なうよ
うにしたので、メンテナンス動作によって日常の分析業
務を妨げることが少なくなって分析装置の稼働率を落と
すことがなくなり、かつ、メンテナンス動作が自動的に
起動されるので人手を低減することができる。
第1図は一実施例を示す構成図、第2図(A)は分析装
置の通常の動作を示すフローチャート図。 同図(B)は本発明により自動的にメンテナンス動作が
行なわれる場合の分析装置の動作を示すフローチャート
図、第3図は一実施例において時刻別作動機構記憶手段
にデータを記憶する動作を示すフローチャート図、第4
図は時刻別作動機構テーブルを示す概略図、第5図は一
実施例においてメンテナンス動作を実行するための動作
を示すフローチャート図、第6図は機構部メンテナンス
テーブルを示す図、第7図はメンテナンス決定テーブル
を示す図である。 2・・・・・・分析装置本体、4・・・・・・機構部作
動回数・時間計測手段、6・・・・・・時刻別作動機構
記憶手段、8・・・・・・時刻別作動確率判定手段。 特許出願人 株式会社島津製作所
置の通常の動作を示すフローチャート図。 同図(B)は本発明により自動的にメンテナンス動作が
行なわれる場合の分析装置の動作を示すフローチャート
図、第3図は一実施例において時刻別作動機構記憶手段
にデータを記憶する動作を示すフローチャート図、第4
図は時刻別作動機構テーブルを示す概略図、第5図は一
実施例においてメンテナンス動作を実行するための動作
を示すフローチャート図、第6図は機構部メンテナンス
テーブルを示す図、第7図はメンテナンス決定テーブル
を示す図である。 2・・・・・・分析装置本体、4・・・・・・機構部作
動回数・時間計測手段、6・・・・・・時刻別作動機構
記憶手段、8・・・・・・時刻別作動確率判定手段。 特許出願人 株式会社島津製作所
Claims (1)
- (1)分析を自動的に行なう分析機構及びメンテナンス
開始信号を受けてメンテナンス動作を自動的に行なうメ
ンテナンス機構を備えた分析装置において、機構部の作
動回数と作動時間を計測する機構部作動回数・時間計測
手段と、計測された作動機構部を時刻別に記憶する時刻
別作動機構記憶手段と、時刻別作動機構記憶手段の記憶
内容からメンテナンス動作に適した時間帯であるか否か
を判定する時刻別作動確率判定手段とを備えたことを特
徴とする自動分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63304416A JP2526645B2 (ja) | 1988-11-30 | 1988-11-30 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63304416A JP2526645B2 (ja) | 1988-11-30 | 1988-11-30 | 自動分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02150770A true JPH02150770A (ja) | 1990-06-11 |
JP2526645B2 JP2526645B2 (ja) | 1996-08-21 |
Family
ID=17932738
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63304416A Expired - Lifetime JP2526645B2 (ja) | 1988-11-30 | 1988-11-30 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2526645B2 (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008051542A (ja) * | 2006-08-22 | 2008-03-06 | Sysmex Corp | 分析装置 |
JP2009168491A (ja) * | 2008-01-11 | 2009-07-30 | Toshiba Corp | 自動分析装置及びその保守方法 |
EP1892531A3 (en) * | 2006-08-22 | 2009-08-12 | Sysmex Corporation | Sample analyzer |
JP2010048585A (ja) * | 2008-08-19 | 2010-03-04 | Olympus Corp | 自動分析装置 |
JP2012018103A (ja) * | 2010-07-09 | 2012-01-26 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
JP2012255662A (ja) * | 2011-06-07 | 2012-12-27 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
WO2019111790A1 (ja) * | 2017-12-05 | 2019-06-13 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
CN113125764A (zh) * | 2019-12-30 | 2021-07-16 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 样本分析仪及其自动维护的方法、可读存储介质 |
-
1988
- 1988-11-30 JP JP63304416A patent/JP2526645B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008051542A (ja) * | 2006-08-22 | 2008-03-06 | Sysmex Corp | 分析装置 |
EP1892531A3 (en) * | 2006-08-22 | 2009-08-12 | Sysmex Corporation | Sample analyzer |
US9297818B2 (en) | 2006-08-22 | 2016-03-29 | Sysmex Corporation | Sample analyzer |
JP2009168491A (ja) * | 2008-01-11 | 2009-07-30 | Toshiba Corp | 自動分析装置及びその保守方法 |
JP2010048585A (ja) * | 2008-08-19 | 2010-03-04 | Olympus Corp | 自動分析装置 |
JP2012018103A (ja) * | 2010-07-09 | 2012-01-26 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
JP2012255662A (ja) * | 2011-06-07 | 2012-12-27 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
WO2019111790A1 (ja) * | 2017-12-05 | 2019-06-13 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
JPWO2019111790A1 (ja) * | 2017-12-05 | 2021-01-14 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置 |
US11525838B2 (en) | 2017-12-05 | 2022-12-13 | Hitachi High-Tech Corporation | Automatic analyzer |
CN113125764A (zh) * | 2019-12-30 | 2021-07-16 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 样本分析仪及其自动维护的方法、可读存储介质 |
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