JPH06119356A - 修理業務支援装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 専門家による知識の記述、及び知識の保守を
容易とする。 【構成】 修理対象物の不良機能を判定した知識と、こ
の不良機能毎の不良箇所に関する知識とが、それぞれ不
良機能判定知識記憶部１０と不良箇所判定知識記憶部１
１とに別々に記憶されている。これら両記憶部１０，１
１の専門家の知識に基づき、出力部１４は、不良機能及
び不良箇所の判定に用いられた修理対象物の測定箇所を
表示して修理実行者に実測すべき箇所を指示する。そし
て、出力部１４の表示に従い、実測結果入力部１２から
修理対象物の測定箇所における実測結果が入力される
と、推論部１３が両記憶部１０，１１の専門家の知識に
従って修理対象物の不良箇所を推論処理により特定す
る。特定された不良箇所は、出力部１４から修理業務の
指示内容とともに出力表示される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、知識工学手法により、
電子回路基板や自動車エンジン等の不良箇所を提示する
修理業務支援装置に関し、特に、専門家による知識の記
述、及び知識の保守を容易とした修理業務支援装置に関
する。

【０００２】

【従来の技術】従来から、知識工学手法により修理業務
を支援する装置は、電子回路基板や自動車エンジン等を
修理対象物としてさまざまな分野で多岐にわたって利用
されており、この知識工学手法とは、それぞれの分野に
おける専門家の知識に従って与えられた問題を解決する
手法をいう。

【０００３】そこで、従来の修理業務支援装置では、専
門家によりルール形式で記述された修理対象物に関する
さまざまな知識をまとめて記憶しており、修理に先立っ
て、修理実行者が予め決められた通りに修理対象物の測
定すべき箇所を測定し、この測定箇所から得られた実測
結果が修理業務支援装置に入力される。

【０００４】そして、修理業務支援装置は、入力された
実測結果から専門家の知識に従って修理対象物の不良箇
所を推論し、この推論結果として修理対象物の修理すべ
き不良箇所を表示するように構成されている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の修理業務支援装置では、専門家の記述した修理対象
物に関する全ての知識がまとめて記憶されるので、さま
ざまな知識を記述するために複雑なルールが必要となっ
て専門家による知識の記述が難しくなり、しかも、電子
回路基板等を修理対象物とする場合のように、ルール数
の多い知識が記憶されるとなると、既に記憶された知識
の一部にルールの変更がある場合、全てのルールの変更
が必要となって知識の保守が困難になるという問題点が
あった。

【０００６】また、従来の修理業務支援装置では、修理
対象物の測定箇所から得られた実測結果を予め決められ
た通りに入力しなければならないので、修理業務に慣れ
ない非熟練者にとっては、どの測定箇所を測定すればよ
いのかわからず、修理業務を迅速に進めることができな
いという問題点もあった。

【０００７】そこで、本発明は上記問題点に着目してな
されたものであり、その目的とするところは、専門家に
よる知識の記述、及び知識の保守を容易とし、さらに、
修理業務を迅速に進めることができる修理業務支援装置
を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１記載の発明は、修理対象物の各測定箇所に
おける実測結果から、専門家の知識に従って修理対象物
の不良箇所を推論するとともに、推論された不良箇所を
提示する修理業務支援装置において、上記専門家の知識
のうち、上記測定箇所の測定条件に応じて上記修理対象
物に不良機能があるか否かと判定した知識を記憶する不
良機能判定知識記憶手段と、上記専門家の知識のうち、
上記測定箇所の測定条件に応じて上記修理対象物の不良
機能毎に不良箇所があるか否かと判定した知識を記憶す
る不良箇所判定知識記憶手段と、を備えることを特徴と
する。

【０００９】また、請求項２記載の発明は、請求項１記
載の発明において、不良機能判定知識記憶手段及び不良
箇所判定知識記憶手段に記憶された専門家の知識に基づ
き、不良機能及び不良箇所の判定に用いられた測定箇所
を修理対象物の実測すべき箇所として指示する実測箇所
指示手段、を備えることを特徴とする。

【００１０】

【作用】請求項１記載の発明では、修理対象物に不良機
能があるか否かと判定した専門家の知識、修理対象物の
不良機能毎に不良箇所があるか否かと判定した専門家の
知識それぞれを、不良機能判定知識記憶手段と不良箇所
判定知識記憶手段とが別々に記憶するので、専門家は、
不良機能に関する知識と不良箇所に関する知識とを別々
に分けて容易に記述することができ、しかも、既に記憶
された知識の一部にルールの変更があっても、それぞれ
の知識毎にルールを変更するだけで知識の保守を容易に
行うことができる。

【００１１】また、請求項２記載の発明では、不良機能
及び不良箇所の判定に用いられた測定箇所を実測箇所指
示手段が修理対象物の実測すべき箇所として指示するの
で、修理実行者は、この指示に従って修理対象物の測定
箇所を測定することにより修理業務を迅速に進めること
ができる。

【００１２】

【実施例】以下、請求項１及び２記載の発明を適用した
実施例について図面に基づき詳細に説明する。

【００１３】図１は、請求項１及び２記載の発明に係る
修理業務支援装置を電子回路基板の修理業務に適用した
場合の一実施例を示すブロック図である。

【００１４】図１に示すように、修理業務支援装置１
は、電子回路基板に不良機能があるか否かと判定した専
門家の知識、電子回路基板の不良機能毎に不良箇所があ
るか否かと判定した専門家の知識それぞれを、別々に記
憶する不良機能判定知識記憶部１０と不良箇所判定知識
記憶部１１、電子回路基板上の測定箇所から得られた実
測結果を入力する実測結果入力部１２、電子回路基板の
不良機能及び不良箇所を推論する推論部１３、及び推論
結果や実測すべき箇所等を出力表示する出力部１４から
概略構成されている。

【００１５】ここで、図２に示すように、電子回路基板
２は、ＩＣ３や抵抗４等の電子部品からなるものであ
り、これら電子部品のｐｉｎ等を実際に測定して得られ
た信号レベルが測定箇所の実測結果であるとともに、斜
線で示された部分が不良機能Ａ、塗り潰して示された部
分が不良箇所ａである。

【００１６】不良機能判定知識記憶部１０は、電子回路
基板上の測定箇所における測定条件に応じて電子回路基
板に不良機能があるか否かと判定した専門家の知識を記
憶するものである。

【００１７】図３は、この不良機能判定知識記憶部１０
の専門家の知識を例示した説明図であり、この図に示す
ように、不良機能判定知識記憶部１０の専門家の知識と
は、不良機能に関係するＩＣ１０２の２０ｐｉｎやＩＣ
１０３の１５ｐｉｎ等といった測定箇所を順番に測定
し、各測定箇所の測定条件である信号レベルに応じてク
ロック部の不良やリセットシーケンス部の不良等といっ
た不良機能を判定したものであり、視覚的にはフローチ
ャート形式で表現されるような知識である。

【００１８】不良箇所判定知識記憶部１１は、電子回路
基板上の測定箇所における測定条件に応じて電子回路基
板の不良機能毎に不良箇所があるか否かと判定した専門
家の知識を記憶するものである。

【００１９】図４は、この不良箇所判定知識記憶部１１
の専門家の知識を一部例示した説明図であり、この図に
示すように、不良箇所判定知識記憶部１１の専門家の知
識とは、ＩＣ１０３の不良や発振器の不良等といった不
良箇所を、この不良箇所に関係するＩＣ２の３０ｐｉｎ
やＩＣ１０３の２０ｐｉｎ等といった複数の測定箇所に
おける信号レベルに応じて判定したものであり、視覚的
にはマトリクス形式で表現されるような知識であるとと
もに、不良機能毎に記述される知識である。

【００２０】実測結果入力部１２は、図５に示すよう
に、電子回路基板上のＩＣ１０３の９８ｐｉｎやＩＣ２
の１２ｐｉｎ等といった測定箇所を入力するとともに、
これら各測定箇所を実際に測定した結果である信号レベ
ルを入力するためのものである。

【００２１】推論部１３は、電子回路基板の不良機能を
推論するとともに、電子回路基板の不良箇所を推論する
ものであり、不良機能を推論する際は、実測結果入力部
１２に入力された測定箇所の実測結果から、不良機能判
定知識記憶部１０の専門家の知識に従って不良機能を推
論するとともに、不良箇所を推論する際は、実測結果入
力部１２に入力された測定箇所の実測結果から、不良箇
所判定知識記憶部１１の専門家の知識に従って不良箇所
を推論する。

【００２２】出力部１４は、図６に示すように、推論部
１３の最終的な推論結果、すなわち電子回路基板の不良
箇所を修理業務の指示内容とともに出力表示するもので
あり、さらに、出力部１４は、修理実行者が電子回路基
板の測定箇所を実際に測定する先立って、上記不良機能
判定知識記憶部１０及び不良箇所判定知識記憶部１１に
記憶された専門家の知識に基づき、不良機能及び不良箇
所の判定に用いられた測定箇所を実測すべき箇所として
出力表示する。

【００２３】次に、この実施例に係る修理業務支援装置
１の処理について図７に基づき説明する。

【００２４】図７は、修理業務支援装置１の処理手順を
示したフローチャートである。

【００２５】まず、修理業務支援装置１は、不良機能判
定知識記憶部１０から不良機能に関するフローチャート
形式の専門家の知識を読み込み（ＳＴＥＰ１００）、こ
の専門家の知識に基づいて出力部１４から実測すべき測
定箇所を順番に表示して修理実行者に測定箇所を指示す
る（ＳＴＥＰ１１０）。

【００２６】この出力部１４からの指示に従って修理実
行者は、測定箇所を実際に測定し、この測定箇所の実測
結果を実測結果入力部１２に順次入力する（ＳＴＥＰ１
２０）。

【００２７】すると、推論部１３は、入力された実測結
果をＳＴＥＰ１００で読み込んだ不良機能判定知識と照
合して不良機能の推論を行い（ＳＴＥＰ１３０）、ある
実測結果に対して不良機能はないと判定した場合（ＳＴ
ＥＰ１４０“ＮＯ”）、再びＳＴＥＰ１１０の処理を行
うが、不良機能があると判定した場合（ＳＴＥＰ１４０
“ＹＥＳ”）、不良箇所判定知識記憶部１１から不良箇
所に関するマトリクス形式の専門家の知識を読み込む
（ＳＴＥＰ１５０）。

【００２８】この時、不良箇所判定知識記憶部１１に
は、不良機能毎に不良箇所があるか否かと判定した知識
が記憶されているので、ＳＴＥＰ１４０“ＹＥＳ”によ
り判定された不良機能に対応した不良箇所判定知識が推
論部１３に読み込まれることになる。

【００２９】図８は、不良箇所判定知識に従って推論部
１３が不良箇所を推論する手法を例示した説明図であ
り、以下、この図を参照しつつ説明する。

【００３０】ＳＴＥＰ１５０において推論部１３は、図
８に示すようなマトリクス形式の不良箇所判定知識を読
み込むが、この読み込んだ不良箇所判定知識に基づいて
測定すべき測定箇所（図８では５つの測定箇所）を出力
部１４から表示して修理実行者に測定箇所を指示する
（ＳＴＥＰ１６０）。

【００３１】この出力部１４からの指示に従って修理実
行者は、指示された測定箇所全てを実際に測定し、これ
ら測定箇所の実測結果が実測結果入力部１２に入力され
る（ＳＴＥＰ１７０）。

【００３２】すると、推論部１３は、入力された全ての
実測結果をＳＴＥＰ１５０で読み込んだ不良箇所判定知
識と照合して不定箇所を特定する（ＳＴＥＰ１８０）。

【００３３】例えば、図８に示すように、入力された測
定箇所の実測結果が斜線部分であるとすると、発振器の
不良とされる場合が他の不良箇所に比べて一番多いの
で、不良箇所は斜線で示される発振器と特定されること
となる。

【００３４】そして、最終的にＳＴＥＰ１８０で特定さ
れた不良箇所が電子回路基板２の修理箇所として出力部
１４から表示されるとともに、この修理箇所を修理する
方法も出力部１４から表示されて修理実行者に修理の指
示が与えられる（ＳＴＥＰ１９０）。

【００３５】以上のＳＴＥＰ１３０から１８０までが推
論処理となる。

【００３６】したがって、本実施例に係る修理業務支援
装置１によれば、不良機能の判定に関する知識と不良箇
所の判定に関する知識とが別々に記憶されているととも
に、不良機能判定知識はフローチャート形式で、また、
不良箇所判定知識はマトリクス形式で表現されるような
知識であるので、専門家は、これら両知識を別々に分け
て容易に記述することができ、しかも、既に記憶された
一方の知識にルールの変更があっても、他方の知識はル
ールを変更する必要なく知識の保守を容易に行うことが
できる。

【００３７】また、この修理業務支援装置１によれば、
電子回路基板の測定すべき測定箇所が出力部１４から出
力表示され、最終的には修理箇所とともに修理業務を指
示する内容が出力部１４から表示されるので、修理を実
行する者が非熟練者等であっても、出力部１４の表示内
容に従って測定箇所における実測結果を入力することに
より、修理業務支援装置１と対話的にデータのやりとり
を行って修理業務を迅速に進めることができる。

【００３８】なお、この実施例では、一例として修理対
象物を電子回路基板としだが、もちろん自動車エンジン
やプラント等といったものを修理対象物としても良い。

【００３９】

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
１記載の発明によれば、修理対象物の不良機能に関する
知識と、この不良機能毎の不良箇所に関する知識とが、
別々に記憶されるので、専門家は、これら両知識を別々
に分けて容易に記述することができ、しかも、既に記憶
された知識の一部に変更があっても、変更すべき一方の
知識だけを変更するだけで知識の保守を容易に行うこと
ができる。

【００４０】また、請求項２記載の発明によれば、上記
請求項１記載の発明による効果に加えて、修理対象物の
実際に測定すべき箇所が指示されるので、修理実行者
は、この指示に従って修理対象物の測定箇所を測定する
ことで迅速に修理業務を進めることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】請求項１及び２記載の発明に係る修理業務支援
装置の一実施例を示したブロック図。

【図２】修理対象物となる電子回路基板を示した説明
図。

【図３】不良機能判定知識記憶部の専門家の知識を例示
した説明図。

【図４】不定箇所判定知識記憶部の専門家の知識を一部
例示した説明図。

【図５】測定結果入力部から入力される測定箇所と実測
結果とを例示した説明図。

【図６】出力部から出力表示される不良箇所と修理業務
指示内容とを例示した説明図。

【図７】この実施例に係る修理業務支援装置の処理手順
を示したフローチャート。

【図８】推論部が不良箇所を特定する手法を例示した説
明図。

【符号の説明】

１ 修理業務支援装置 ２ 電子回路基板 １０ 不良機能判定知識記憶部 １１ 不良箇所判定知識記憶部 １２ 実測結果入力部 １３ 推論部 １４ 出力部 Ａ 不良機能 ａ 不良箇所

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 修理対象物の各測定箇所における実測結
   果から、専門家の知識に従って修理対象物の不良箇所を
   推論するとともに、推論された不良箇所を提示する修理
   業務支援装置において、 上記専門家の知識のうち、上記測定箇所の測定条件に応
   じて上記修理対象物に不良機能があるか否かと判定した
   知識を記憶する不良機能判定知識記憶手段と、 上記専門家の知識のうち、上記測定箇所の測定条件に応
   じて上記修理対象物の不良機能毎に不良箇所があるか否
   かと判定した知識を記憶する不良箇所判定知識記憶手段
   と、 を備えることを特徴とする修理業務支援装置。
2. 【請求項２】 不良機能判定知識記憶手段及び不良箇所
   判定知識記憶手段に記憶された専門家の知識に基づき、
   不良機能及び不良箇所の判定に用いられた測定箇所を修
   理対象物の実測すべき箇所として指示する実測箇所指示
   手段、を備えることを特徴とする請求項１記載の修理業
   務支援装置。