JPH0599634A - 外観検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 テーピング用テープのカバーテープの影響を
受けることなく、検体の像を一定の大きさの安定状態で
得るようにした外観検査装置を提供する。 【構成】 チップ抵抗器Ｒをテーピングしたテーピング
用テープ１が走行する途中に走行ガイド２４を設ける。
走行ガイド２４には外方へ湾曲するガイド面３６を設
け、テーピング用テープ１のカバーテープ３を緊張させ
る。テーピング用テープ１は浮き上がり防止ガイド２
５、２６によりガイド面３６からの浮き上がりを防止す
る。ガイド２４、２５、２６によりガイドされて走行す
るテーピング用テープ１内のチップ抵抗器Ｒを照明手段
２１、２２により照明し、撮像装置２３で撮像する。撮
像に際し、カバーテープ３を緊張させているので、その
影響を受けることがない。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、角板形チップ固定抵抗
器、チップ形コンデンサ等の検体をテーピング後のリー
ル巻き取り作業、若しくは外観検査作業等において搬送
する途中で、この検体の外観を検査するようにした外観
検査装置、特に、テーピング用テープの走行をガイドす
る装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】角板形チップ固定抵抗器等のチップ状電
子部品は、これをプリント基板等に自動実装機により実
装するが、この自動実装機にチップ状電子部品を容易に
供給することができるように、チップ状電子部品をテー
ピングしている。従来、チップ状電子部品のテーピング
に用いるテーピング用テープとしては、チップ状電子部
品を収納するための凹入部を打抜き加工により形成した
タイプと絞り加工により形成したタイプとがある。

【０００３】図１５（ａ）、（ｂ）は前者のタイプのテ
ーピング用テープを示し、（ａ）は一部平面図、（ｂ）
は縦断面図である。図１５（ａ）、（ｂ）に示すよう
に、テーピング用テープ１は収納用テープ２とカバーテ
ープ３とから構成され、収納用テープ２はテープ本体４
とボトムテープ５とから構成されている。テープ本体４
は紙製、若しくは透明なプラスチック製で、チップ状電
子部品Ｒを収納するための穴６と送り穴７が長手方向に
沿って打抜き加工により列設され、このテープ本体４の
裏面に光透過性を有する薄紙製のボトムテープ５が接着
され、穴６が閉塞されて凹入部８が形成されている。カ
バーテープ３は透明なプラスチックフィルム製で上記収
納用テープ２の凹入部８を閉塞することができるような
幅に設定されている。そして、収納用テープ２の凹入部
８にチップ状電子部品Ｒを順次供給し、カバーテープ３
を収納用テープ２の表面に重ね、両者を熱融着し、若し
くはあらかじめ塗布された接着剤により接着することに
より、チップ状電子部品Ｒを封入することができる。

【０００４】図１６は後者のタイプのテーピング用テー
プを示す縦断面図である。図１６に示すように、テーピ
ング用テープ１は収納用テープ２とカバーテープ３とか
ら構成される。収納用テープ２は透明なプラスチックフ
ィルムからなるテープにチップ状電子部品Ｒを収納する
ための凹入部８が長手方向に沿って絞り加工により列設
されると共に、送り穴（図示省略）が長手方向に沿って
打抜き加工により列設されている。カバーテープ３は図
１５（ａ）、（ｂ）に示すテーピング用テープ１の場合
と同様に形成されている。そして、収納用テープ２の凹
入部８にチップ状電子部品Ｒを順次供給し、カバーテー
プ３を収納用テープ２の表面に重ね、両者を熱融着、若
しくは接着することにより、チップ状電子部品Ｒを封入
することができる。

【０００５】上記チップ状電子部品Ｒは自身が正常であ
るばかりでなく、テーピング用テープ１に正常な姿勢で
収納しなければ自動実装機によりプリント基板に実装す
る際、トラブルが生じる。このようなトラブルを未然に
防止するには、チップ状電子部品Ｒの外観、すなわち、
外形輪郭および表面の状態等を検査する必要がある。従
来、チップ状電子部品Ｒの外観を検査するには、上記の
ようにテーピング用テープ１にチップ状電子部品Ｒを封
入してリールに巻き取り、このテーピング用テープ１を
別のリールに巻き替え、再びリールに巻き取る際、走行
するテーピング用テープ１のカバーテープ３上から肉眼
で外観の良、不良について判断している。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところで、近年、電子
部品は益々微小化しつつあり、例えば、角板形チップ固
定抵抗器は、数mm角ないし１mm角程度の大きさになりつ
つあり、上記従来例のような肉眼による検査方式では、
電子部品の微小化に対応することができない。また、最
近では１分間に１０００個程度の高速の検査速度が求め
られているが、肉眼による検査方式では、このような検
査速度を到底実現することができない。また、肉眼によ
る検査方式では、疲労による検査ミスの発生も懸念され
る上に、検査コストもかさみ、チップ状電子部品のコス
トを上昇させる要因ともなる。更に、肉眼による検査速
度はチップ状電子部品のテーピング速度に比べてはるか
に遅いため、一度巻き取ったテーピング用テープ１を肉
眼で追随することができる速度で再度、巻き替えながら
外観検査を行う必要があり、テーピング作業工程とは別
に検査工程を独立して設ける必要があった。

【０００７】また、近年、光センサや静電容量センサを
用いてテーピング状態の電子部品を検査する装置が実用
化されているが、この装置では電子部品の有無等の単純
な検査しか行うことができない。

【０００８】本発明は、上記のような従来の問題を解決
するものであり、撮像装置を用いてチップ状電子部品等
の検体の像を得ることができ、したがって、検体の微小
化および検査速度の高速化に対応することができ、しか
も、検体の像をテーピング用テープのカバーテープの影
響を受けることなく、一定の大きさの安定状態で得るこ
とができ、したがって、検体の検査精度を高めることが
できるようにした外観検査装置を提供することを目的と
するものである。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明の技術的手段は、収納用テープとカバーテープ
からなり、検体をテーピングしたテーピング用テープが
走行する途中で、上記検体を照明手段により照明して撮
像装置により撮像するに際し、湾曲状態に突出し、上記
テーピング用テープをそのカバーテープが緊張するよう
にガイドする湾曲ガイド面を有する走行ガイドを備えた
ものである。

【００１０】また、上記技術的手段において、湾曲ガイ
ド面にテーピング用テープを沿わせるようにテーピング
用テープの浮き上がりを防止する浮き上がり防止ガイド
を備えたものである。そして、上記浮き上がり防止ガイ
ドとしてローラを用いるのが好ましい。

【００１１】また、上記走行ガイドおよび浮き上がり防
止ガイドを、走行するテーピング用テープとの摩擦によ
り静電気が発生しない材料により形成するのが好まし
い。

【００１２】上記テーピング用テープの収納用テープと
しては、紙製、若しくはプラスチック製のテープ本体に
穴が列設され、上記テープ本体に光透過性を有する薄紙
製、若しくはプラスチック製のボトムテープが接着され
て凹入部が形成されたものを用い、または透明なプラス
チックからなり、凹入部が絞り加工により形成されたも
のを用いることができる。また、黒色のテーピング用テ
ープを用いた場合には、可視光に替え、赤外線、紫外
線、Ｘ線等を用いて検体を照明することができる。ま
た、上記検体を連続的に搬送し、または間歇的に搬送す
ることができる。

【００１３】上記検体としては、角板形チップ固定抵抗
器、チップ形コンデンサ等の電子部品のほか、錠剤等の
固形物を挙げることができる。

【００１４】

【作用】したがって、本発明によれば、テーピング用テ
ープを走行させて検体を搬送する途中で、走行ガイドの
湾曲ガイド面でテーピング用テープをガイドしてカバー
テープを緊張させる。この状態で検体を照明手段により
照明して撮像装置により撮像することにより、カバーテ
ープの影響をほとんど受けることなく、検体の像を一定
の大きさの安定状態で得ることができる。

【００１５】

【実施例】以下、本発明の第１の実施例について図面を
参照しながら説明する。図１は本発明の第１の実施例に
おける外観検査装置を示す一部破断正面図、図２は同外
観検査装置を示す一部破断側面図、図３は図１における
走行ガイドの一部拡大図、図４は図２における走行ガイ
ドの一部拡大図、図５は同外観検査装置を適用したテー
ピング用テープの巻き替え装置を示す全体概略構成図、
図６はテーピング用テープに対する本発明の外観検査装
置の配置説明図、図７は角板形チップ固定抵抗器の外観
検査動作説明図、図８、図９はそれぞれ同外観検査装置
による撮像例の平面図、図１０は同外観検査装置により
得られる映像の説明図、図１１は同外観検査装置による
外観検査状態説明図、図１２は比較例による外観検査状
態説明図である。

【００１６】図１０に示すように、検体である角板形チ
ップ固定抵抗器（以下、単にチップ抵抗器という）Ｒ
は、セラミック等からなる基板の外面に抵抗体となる炭
素皮膜が形成され、この炭素皮膜に所望の溝が形成され
て抵抗値が調整され、炭素皮膜がガラス等からなるコー
ト層Ｒ１により保護され、両端部に電極Ｒ２がめっき等
により形成され、表面側のコート層Ｒ１上に抵抗値の表
示Ｒ３が印刷等により施されている。

【００１７】このチップ抵抗器Ｒは上記のように、例え
ば、図１５（ａ）、（ｂ）に示す収納用テープ２をその
送り穴７を利用して間歇的に走行させる途中で、各凹入
部８に順次供給し、その後、カバーテープ３を収納用テ
ープ２の表面に重ね、両者を熱融着、若しくは接着する
ことによりテーピングすることができる。このようにチ
ップ抵抗器Ｒをテーピングしたテーピング用テープ１は
巻き取りリールに巻き取る。そして、巻き替えを行う。

【００１８】上記テーピング用テープ１を巻き替えるに
は、図５および図６に示すように、テーピング用テープ
１を巻き取っている巻き取りリール１１を支持台１２に
回転可能に支持させる。この巻き取りリール１１に巻き
取られているテーピング用テープ１をその送り穴７を利
用して送り装置１３により走行させ、モータ（図示省
略）により回転されている巻き取りリール１４に巻き取
る。そして、テーピング用テープ１の走行の途中で、本
発明の外観検査装置１５によりチップ抵抗器Ｒの外観を
検査する。なお、図５において、符号１６は外観検査装
置１５に接続された画像処理装置、１７は画像をモニタ
するためのテレビである。

【００１９】外観検査装置１５は本実施例では図１、図
２から明らかなように、第１の照明手段２１と、第２の
照明手段２２と、撮像装置２３と、走行ガイド２４と、
浮き上がり防止ガイド２５、２６等から構成されてい
る。

【００２０】第１の照明手段２１はハロゲンランプ等の
光源（図示省略）と、この光源から放出された光を導く
光ファイバ２７とからなる。そして、光ファイバ２７の
出射部２８が走行ガイド２４に沿って走行するテーピン
グ用テープ１の凹入部８内のチップ抵抗器Ｒの外形輪郭
の映像を得ることができるように走行ガイド２４の穴２
９部においてチップ抵抗器Ｒをその下方から照明するよ
うに配置されている（図６参照）。第２の照明手段２２
はハロゲンランプ等の光源（図示省略）と、この光源か
ら放出された光を導く光ファイバ３０とからなり、光フ
ァイバ３０の出射部３１には照明角度可変用の反射ミラ
ー３２が設けられている。第２の照明手段２２はその出
射部３１がテーピング用テープ１の凹入部８内のチップ
抵抗器Ｒの表面状態の映像を得ることができるようにチ
ップ抵抗器Ｒをカバーテープ３の上方から照明するよう
に配置され、しかも、テーピング用テープ１の走行方
向、すなわち、チップ抵抗器Ｒの搬送方向に沿って間隔
を置いて一対配置されている。

【００２１】撮像装置２３はテーピング用テープ１、す
なわち、チップ抵抗器Ｒの上方において、一対の光ファ
イバ３０の出射部３１の間で配置されている。この撮像
装置２３はケース３３内に１台の撮像カメラ（ＣＣＤカ
メラ）３４が備えられ、この１台の撮像カメラ３４によ
りチップ抵抗器Ｒの外形輪郭と表面状態を同時に撮像す
ることができるようになっている。撮像装置２３はチッ
プ抵抗器Ｒの外形輪郭と表面状態を撮像するため、搬送
されるチップ抵抗器Ｒの直上に配置するので、第２の照
明手段２２によるチップ抵抗器Ｒの表面の照明は斜め方
向となる。この場合、チップ抵抗器Ｒを一方向から照明
すると、チップ抵抗器Ｒの表面全体を均一な明るさに照
明することができないおそれがあるが、上記のように撮
像装置２３の両側の２方向から照明することにより、チ
ップ抵抗器Ｒの表面全体を均一な明るさに照明すること
ができる。このため、上記のように各第２の照明手段２
２の出射部３１は反射ミラー３２により光ファイバ３０
から出射される光を図７に示すように、撮像装置２３の
下方に集めることができるように構成されている。撮像
装置２３の撮像カメラ３４は少なくとも一つのチップ抵
抗器Ｒの全体形状を撮像することができる視野を有し、
かつ検査対象であるチップ抵抗器Ｒの表面状態を把握す
ることができる程度の解像度を有するものであれば任意
のものを採用することができる。この撮像装置２３は図
８に示すように、一視野で２個のチップ抵抗器Ｒを撮像
するようにしてもよく、または図９に示すように、一視
野で１個のチップ抵抗器Ｒを撮像するようにしてもよ
く、または一視野で３個以上のチップ抵抗器Ｒを撮像す
るようにしてもよい。

【００２２】走行ガイド２４は図１ないし図４に示すよ
うに、上面側、すなわち、第２の照明手段２２および撮
像装置２３側にテーピング用テープ１の走行を案内する
ガイド溝３５が形成され、ガイド溝３５の底面がガイド
面３６となっている。ガイド溝３５、すなわち、ガイド
面３６は第２の照明手段２２および撮像装置２３側へ突
出するように湾曲されている。

【００２３】浮き上がり防止ガイド２５と２６は走行ガ
イド２４に対するテーピング用テープ１によるチップ抵
抗器Ｒの搬入側と搬出側に設けられている。搬入側と搬
出側の浮き上がり防止ガイド２５と２６はローラからな
り、それぞれ支持部３７に基部が回動可能に軸支された
アーム３８の先端に回動可能に支持され、ばね（図示省
略）の弾性により走行するテーピング用テープ１をカバ
ーテープ３側から走行ガイド２４のガイド面３６に対し
て加圧し、テーピング用テープ１がガイド面３６から浮
き上がるのを防止している。走行ガイド２４、浮き上が
り防止ガイド２５、２６はテーピング用テープ１の走行
に伴う摩擦により静電気が発生しない材料により形成さ
れているのが好ましい。

【００２４】以上の構成において、以下、その動作につ
いて説明する。図５および図６に示すように、巻き取り
リール１１からチップ抵抗器Ｒをテーピングしたテーピ
ング用テープ１を繰り出し、このテーピング用テープ１
を送り穴７を利用して送り装置１３により走行させ、巻
き取りリール１４に巻き取る。この走行の途中で、図
１、図２および図７に示すように、外観検査装置１５に
よりチップ抵抗器Ｒの外形輪郭と表面状態を検出する。
すなわち、下部の第１の照明手段２１の出射部２８によ
り走行ガイド２４の穴２９からチップ抵抗器Ｒを光透過
性のボトムテープ５側の背後から照明し、チップ抵抗器
Ｒの周縁における影の発生を防止してチップ抵抗器Ｒの
外形輪郭を明確に浮かび上がらせることができ、上部の
一対の第２の照明手段２２の出射部３１によりチップ抵
抗器Ｒの表面全体を透明のガバーテープ３上から均一に
明るく照明することができる。そして、第１の照明手段
２１の光と第２の照明手段２２のチップ抵抗器Ｒによる
反射光を撮像カメラ３４に導き、図１０に示すように、
チップ抵抗器Ｒの外形輪郭Ｆと表面状態Ｓを同時に撮像
することができる。チップ抵抗器Ｒの検出方法の一例と
しては、撮像装置２３により得られた映像を画像処理
し、あらかじめ良品のデータとこのデータからの許容誤
差をメモリに登録しておき、撮像したチップ抵抗器Ｒの
映像をメモリ上で比較する。このほか、チップ抵抗器Ｒ
の外形輪郭の直線性を判断するなどの検出方法を採用す
ることもできる。そして、上記のように撮像装置２３の
一視野で複数個のチップ抵抗器Ｒの外観を検査すること
ができ（図８参照）、また、一視野で１個のチップ抵抗
器Ｒの外観を検査することができ（図９参照）、特に、
一視野で複数個のチップ抵抗器Ｒの外観を検査すること
により、テーピング用テープ１の走行のスピードアップ
に対応することができる。

【００２５】ここで、走行するテーピング用テープ１に
は巻き取りリール１１に巻き取られていたことによる巻
癖が付いており、水平（直線）方向に走行すると、図１
２に示すように、カバーテープ３にしわが発生して波打
つ。また、カバーテープ３を収納用テープ２に熱融着す
る際の不具合により同様にカバーテープ３にしわが発生
して波打つ。このようにカバーテープ３が波打つと、こ
れがレンズの役割を果たし、チップ抵抗器Ｒを撮像装置
２３で撮像する際、その大きさＦが異なり、検出不能と
なる。そこで、本発明実施例のように、テーピング用テ
ープ１を走行ガイド２４の外方へ湾曲するガイド面３６
に沿って走行させることにより、カバーテープ３のしわ
を除去して緊張させることができ、図１１に示すよう
に、チップ抵抗器Ｒの大きさＦがほぼ一定となるので、
検出可能となる。また、上記のように走行ガイド２４、
浮き上がり防止ガイド２５、２６をテーピング用テープ
１との摩擦により静電気が発生しない材料で形成するこ
とにより、凹入部８内のチップ抵抗器Ｒの姿勢を安定さ
せることができる。

【００２６】チップ抵抗器Ｒの外形輪郭および表面状態
が正常であり、かつチップ抵抗器Ｒがテーピング用テー
プ１の凹入部８内に正常な状態で収納されている場合に
は外観検査結果が正常であるので、テーピング用テープ
１を送り装置１３により走行させ、外観検査作業を続行
する。本発明により検出可能な不良例としては、チップ
抵抗器Ｒがテーピング用テープ１の凹入部８に収納され
ていない状態、チップ抵抗器Ｒが表裏反転してテーピン
グ用テープ１の凹入部８に収納されている状態、チップ
抵抗器Ｒがテーピング用テープ１の凹入部８に収納さ
れ、更にチップ抵抗器Ｒの一部がテープ本体４とボトム
テープ５の間に入り込んだ状態、チップ抵抗器Ｒがテー
ピング用テープ１の凹入部８に起立した状態で挿入され
ている状態、チップ抵抗器Ｒの外縁部が欠けている状
態、チップ抵抗器Ｒが割れている状態、チップ抵抗器Ｒ
の電極Ｒ２のめっき不良状態、チップ抵抗器Ｒのコート
層Ｒ１が欠けている不良状態、チップ抵抗器Ｒの抵抗値
の表示Ｒ３の不良状態等である。このほか、抵抗値の異
なるチップ抵抗器Ｒが混入している場合もあり、このよ
うな各種の不良が検出されると、テーピング用テープ１
の走行を停止させ、その場でボトムテープ５を破り、正
常なチップ抵抗器Ｒを収納し直し、ボトムテープ５を補
修するなどにより不良なチップ抵抗器Ｒを交換する。そ
の後、テーピング用テープ１を走行させ、外観検査作業
を続行する。

【００２７】このように１箇所に配置した撮像装置２３
でチップ抵抗器Ｒの外形輪郭と表面状態の両方を同時に
撮像することにより、表面状態の映像を常に外形輪郭と
一体的に把握することができる。これにより抵抗値の捺
印不良等のチップ抵抗器Ｒの表面状態を外形輪郭との関
係で把握することが可能となり、テーピング用テープ１
の凹入部８内にチップ抵抗器Ｒがランダムな状態で収納
されている場合でも、表面状態の良否を高速で判断する
ことができる。したがって、テーピング用テープ１の走
行速度を低下させることなく、従来どおりの処理速度を
維持することができる。しかも、光学倍率を上げること
により、チップ抵抗器Ｒの微小化に対応することができ
る。また、撮像装置２３は一台用いればよいので、構成
を簡素化し、検査コストを低下させることができる。ま
た、構成を簡素化しているので、既存の巻き替え装置等
に簡単に付設することができる。

【００２８】次に、本発明の第２の実施例について図面
を参照しながら説明する。図１３は本発明の第２の実施
例における外観検査装置を示す一部破断正面図、図１４
は同外観検査装置を示す一部破断側面図である。本実施
例においては、図１３、図１４に示すように、撮像装置
２３はケース３３内に外形輪郭用の第１の撮像カメラ
（ＣＣＤカメラ）３４ａと表面状態用の第２の撮像カメ
ラ（ＣＣＤカメラ）３４ｂが支持されている。第１の撮
像カメラ３４ａと第２の撮像カメラ３４ｂの前方にはそ
れぞれハーフミラー３９と反射ミラー４０が支持され、
ハーフミラー３９により光の一部を透過させて第１の撮
像カメラ３４ａに導き、残る一部を反射させ、更に反射
ミラー４０により反射させて第２の撮像カメラ３４ｂに
導くことができるようになっている。その他の構成は上
記第１の実施例と同様である。本実施例によれば、第１
と第２の別々の撮像カメラ３４ａと３４ｂによりチップ
抵抗器Ｒの外形輪郭と表面状態を同時に撮像するように
しているので、チップ抵抗器Ｒの表面のコントラストが
悪くても外形輪郭と表面状態を確実に同時に撮像するこ
とができる。

【００２９】なお、上記各実施例においては、図１５
（ａ）、（ｂ）に示すテーピング用テープ１を用いた場
合について説明したが、図１６に示すテーピング用テー
プ１を用いた場合についても適用することができ、この
ほか、検体を外部から透視できるものであれば、いかな
る形式のテーピング用テープであってもよい。また、検
体の検査表面が下面である場合には、第１の照明手段２
１と第２の照明手段２２および撮像装置２３の配置を入
れ替えればよい。また、第１の照明手段２１、第２の照
明手段２２の形状、配置形態並びに配置台数は上記実施
例に限定されるものではなく、このほか、４方向、全方
向等、それぞれの目的に応じて適宜選択することができ
る。また、第１と第２の撮像カメラ３４ａと３４ｂはハ
ーフミラー３９と反射ミラー４０を用いることなく、例
えば、斜め方向に配置して検体の外形輪郭と表面状態を
撮像するようにしてもよい。また、検体の他方の面や側
面（端面）を検査する必要がある場合には、撮像装置２
３の撮像カメラの台数を増やすことができ、または上記
各実施例の外観検査装置１５とは別の箇所に照明手段と
撮像装置を配置することもできる。また、走行ガイド２
４に湾曲したガイド面３６を有する反射ミラーを用いる
ことにより検体の表面状態に限らず、底面状態および側
面状態を検査することもできる。また、チップ抵抗器Ｒ
等の電子部品に限らず、錠剤やカプセル等を検査対象と
することもでき、この場合、走行ガイド２４、浮き上が
り防止ガイド２５、２６は静電気の発生を防止する材料
により形成しなくてもよい。また、黒色のテーピング用
テープを用いた場合には、可視光に替えて赤外線、紫外
線、Ｘ線等を用いることができる。このほか、本発明
は、その基本的技術思想を逸脱しない範囲で種々設計変
更することができる。

【００３０】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、テ
ーピング用テープを走行させて検体を搬送する途中で、
走行ガイドの湾曲ガイド面でテーピング用テープをガイ
ドしてカバーテープを緊張させる。この状態で検体を照
明手段で照明して撮像装置で撮像することにより、カバ
ーテープの影響をほとんど受けることなく、検体の像を
一定の大きさの安定状態で得ることができる。したがっ
て、検体の微小化および検査速度の高速化に対応するこ
とができ、しかも、検体の検査精度を高めることができ
る。

【００３１】また、湾曲ガイド面にテーピング用テープ
を沿わせるようにテーピング用テープの浮き上がりを防
止する浮き上がり防止ガイドを備えることにより、外観
検査の確実性を得ることができ、上記浮き上がり防止ガ
イドとしてローラを用いることにより、テーピング用テ
ープ等の損傷等を防止することができる。

【００３２】また、走行ガイドおよび浮き上がり防止ガ
イドをテーピング用テープとの摩擦により静電気が発生
しない材料により形成することにより、検体が電極等の
導電部を有する場合に、テーピング用テープ内において
姿勢が不安定になるのを防止することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例における外観検査装置を
示す一部破断正面図

【図２】同外観検査装置を示す一部破断側面図

【図３】図１における走行ガイドの一部拡大図

【図４】図２における走行ガイドの一部拡大図

【図５】同外観検査装置を適用したテーピング用テープ
の巻き替え装置を示す全体概略構成図

【図６】テーピング用テープに対する本発明の外観検査
装置の配置説明図

【図７】同外観検査装置による角板形チップ固定抵抗器
の外観検査動作説明図

【図８】同外観検査装置による撮像の一例を示す平面図

【図９】同外観検査装置による撮像の他の例を示す平面
図

【図１０】同外観検査装置により得られる映像の説明図

【図１１】同外観検査装置による外観検査状態説明図

【図１２】比較例による外観検査状態説明図

【図１３】本発明の第２の実施例における外観検査装置
を示す一部破断正面図

【図１４】同外観検査装置を示す一部破断側面図

【図１５】 （ａ）テーピング用テープの一例を示す一部平面図 （ｂ）同テーピング用テープを示す縦断面図

【図１６】テーピング用テープの他の例を示す縦断面図

【符号の説明】

１ テーピング用テープ ２ 収納用テープ ３ カバーテープ ４ テープ本体 ５ ボトムテープ ８ 凹入部 １３ 送り装置 １５ 外観検査装置 ２１ 第１の照明手段 ２２ 第２の照明手段 ２３ 撮像装置 ２４ 走行ガイド ２５ 浮き上がり防止ガイド ２６ 浮き上がり防止ガイド ３４ 撮像カメラ ３６ 湾曲ガイド面 Ｒ 角板形チップ固定抵抗器（検体）

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 収納用テープとカバーテープからなり、
   検体をテーピングしたテーピング用テープが走行する途
   中で、上記検体を照明手段により照明して撮像装置によ
   り撮像するに際し、湾曲状態に突出し、上記テーピング
   用テープをそのカバーテープが緊張するようにガイドす
   る湾曲ガイド面を有する走行ガイドを備えた外観検査装
   置。
2. 【請求項２】 湾曲ガイド面にテーピング用テープを沿
   わせるようにテーピング用テープの浮き上がりを防止す
   る浮き上がり防止ガイドを備えた請求項１記載の外観検
   査装置。
3. 【請求項３】 浮き上がり防止ガイドがローラである請
   求項２記載の外観検査装置。
4. 【請求項４】 走行ガイドおよび浮き上がり防止ガイド
   が走行するテーピング用テープとの摩擦により静電気が
   発生しない材料により形成された請求項１ないし３のい
   ずれかに記載の外観検査装置。