JPH0599635A - 外観検査装置 - Google Patents
外観検査装置Info
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- JPH0599635A JPH0599635A JP3289226A JP28922691A JPH0599635A JP H0599635 A JPH0599635 A JP H0599635A JP 3289226 A JP3289226 A JP 3289226A JP 28922691 A JP28922691 A JP 28922691A JP H0599635 A JPH0599635 A JP H0599635A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 検体の外形輪郭、表面状態に加えて裏面状態
および側面状態を撮像するようにして検体の微小化、検
査速度の高速化に対応すると共に、検体の全体を検査す
るようにした外観検査装置を提供する。 【構成】 ミラー11上で検体であるチップ状部品1を
搬送する。チップ部品1の搬送方向と直角方向の側面、
裏面をミラー11の反射を利用して照明手段16、2
2、24により照明し、各面の状態を撮像装置17、2
3、25により撮像する。チップ部品1の表面を照明手
段18、20により照明し、外形輪郭、表面状態を撮像
装置19、21により撮像する。チップ部品1の搬送方
向と平行方向の側面を照明手段26、28により照明
し、各面を撮像装置27、29により撮像する。
および側面状態を撮像するようにして検体の微小化、検
査速度の高速化に対応すると共に、検体の全体を検査す
るようにした外観検査装置を提供する。 【構成】 ミラー11上で検体であるチップ状部品1を
搬送する。チップ部品1の搬送方向と直角方向の側面、
裏面をミラー11の反射を利用して照明手段16、2
2、24により照明し、各面の状態を撮像装置17、2
3、25により撮像する。チップ部品1の表面を照明手
段18、20により照明し、外形輪郭、表面状態を撮像
装置19、21により撮像する。チップ部品1の搬送方
向と平行方向の側面を照明手段26、28により照明
し、各面を撮像装置27、29により撮像する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、角板形チップ固定抵抗
器、積層セラミックチップ形コンデンサ等の検体の外形
輪郭と、表面、裏面および側面の状態の外観を検査する
ようにした外観検査装置に関する。
器、積層セラミックチップ形コンデンサ等の検体の外形
輪郭と、表面、裏面および側面の状態の外観を検査する
ようにした外観検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】角板形チップ固定抵抗器等のチップ状電
子部品は、正常でなければこれをプリント基板に実装す
る際などにトラブルが生じる。このようなトラブルを未
然に防止するには、チップ状電子部品の外観、すなわ
ち、外形輪郭と、表面、裏面および側面の状態を検査す
る必要がある。従来、チップ状電子部品の外観を検査す
るには、テーピング用テープにチップ状電子部品を封入
してリールに巻き取り、このテーピング用テープを別の
リールに巻き替える際、走行するテーピング用テープの
カバーテープ上から肉眼で外観の良、不良について判断
している。
子部品は、正常でなければこれをプリント基板に実装す
る際などにトラブルが生じる。このようなトラブルを未
然に防止するには、チップ状電子部品の外観、すなわ
ち、外形輪郭と、表面、裏面および側面の状態を検査す
る必要がある。従来、チップ状電子部品の外観を検査す
るには、テーピング用テープにチップ状電子部品を封入
してリールに巻き取り、このテーピング用テープを別の
リールに巻き替える際、走行するテーピング用テープの
カバーテープ上から肉眼で外観の良、不良について判断
している。
【0003】また、従来、一般的に検体の外観を自動的
に検査するには、検体を光源により照明し、この照明さ
れた検体の外観を画像処理技術で把握するようにした構
成が知られている。
に検査するには、検体を光源により照明し、この照明さ
れた検体の外観を画像処理技術で把握するようにした構
成が知られている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年、電子
部品は益々微小化しつつあり、例えば、角板形チップ固
定抵抗器は、数mm角ないし1mm角程度の大きさになりつ
つあり、上記従来例のような肉眼による検査方式では、
電子部品の微小化に対応することができない。また、最
近では1分間に1000個程度の高速の検査速度が求め
られているが、肉眼による検査方式では、このような検
査速度を到底実現することができない。また、肉眼によ
る検査方式では、疲労による検査ミスの発生も懸念され
る上に、検査コストもかさみ、チップ状電子部品のコス
トを上昇させる要因ともなる。
部品は益々微小化しつつあり、例えば、角板形チップ固
定抵抗器は、数mm角ないし1mm角程度の大きさになりつ
つあり、上記従来例のような肉眼による検査方式では、
電子部品の微小化に対応することができない。また、最
近では1分間に1000個程度の高速の検査速度が求め
られているが、肉眼による検査方式では、このような検
査速度を到底実現することができない。また、肉眼によ
る検査方式では、疲労による検査ミスの発生も懸念され
る上に、検査コストもかさみ、チップ状電子部品のコス
トを上昇させる要因ともなる。
【0005】一方、上記従来例の画像処理方式では、検
体の外形輪郭と表面状態を撮像するのみであり、裏面や
側面の状態を撮像することができなかった。
体の外形輪郭と表面状態を撮像するのみであり、裏面や
側面の状態を撮像することができなかった。
【0006】また、近年、光センサや静電容量センサを
用いてテーピング状態の電子部品を検査する装置が実用
化されているが、この装置では電子部品の有無等の単純
な検査しか行うことができない。
用いてテーピング状態の電子部品を検査する装置が実用
化されているが、この装置では電子部品の有無等の単純
な検査しか行うことができない。
【0007】本発明は、上記のような従来の問題を解決
するものであり、撮像装置を用いて搬送されるチップ状
電子部品等の検体の外形輪郭と表面状態の像に加えて裏
面状態および側面状態の像を得ることができ、したがっ
て、検体の微小化および検査速度の高速化に対応するこ
とができ、しかも、検体の全体が正常であるか否かにつ
いて検査することができるようにした外観検査装置を提
供することを目的とするものである。
するものであり、撮像装置を用いて搬送されるチップ状
電子部品等の検体の外形輪郭と表面状態の像に加えて裏
面状態および側面状態の像を得ることができ、したがっ
て、検体の微小化および検査速度の高速化に対応するこ
とができ、しかも、検体の全体が正常であるか否かにつ
いて検査することができるようにした外観検査装置を提
供することを目的とするものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明の技術的手段は、走行ガイドであるミラーと、
このミラー上で検体を搬送する搬送手段と、搬送される
上記検体の表面側から外形輪郭のために照明する照明手
段および外形輪郭を撮像する撮像装置と、搬送される上
記検体の表面を照明する照明手段および表面状態を撮像
する撮像装置と、搬送される上記検体の裏面を上記ミラ
ーの反射を利用して照明する照明手段および裏面状態を
撮像する撮像装置と、搬送される上記検体の搬送方向と
直角方向の側面を上記ミラーの反射を利用して照明する
照明手段および側面状態を撮像する撮像装置と、搬送さ
れる上記検体の搬送方向と平行方向の側面を照明する照
明手段および側面状態を撮像する撮像装置とを備えたも
のである。
の本発明の技術的手段は、走行ガイドであるミラーと、
このミラー上で検体を搬送する搬送手段と、搬送される
上記検体の表面側から外形輪郭のために照明する照明手
段および外形輪郭を撮像する撮像装置と、搬送される上
記検体の表面を照明する照明手段および表面状態を撮像
する撮像装置と、搬送される上記検体の裏面を上記ミラ
ーの反射を利用して照明する照明手段および裏面状態を
撮像する撮像装置と、搬送される上記検体の搬送方向と
直角方向の側面を上記ミラーの反射を利用して照明する
照明手段および側面状態を撮像する撮像装置と、搬送さ
れる上記検体の搬送方向と平行方向の側面を照明する照
明手段および側面状態を撮像する撮像装置とを備えたも
のである。
【0009】上記目的を達成するための本発明の他の技
術的手段は、走行ガイドであるミラーと、このミラー上
で検体を搬送する搬送手段と、搬送される上記検体の表
面側から外形輪郭のために照明する照明手段および外形
輪郭を撮像する撮像装置と、搬送される上記検体の表面
を照明する照明手段および表面状態を撮像する撮像装置
と、搬送される上記検体の裏面を上記ミラーの反射を利
用して照明する照明手段および裏面状態を撮像する撮像
装置と、搬送される上記検体の搬送方向と直角方向の側
面を上記ミラーの反射を利用して照明する照明手段およ
び側面状態を撮像する撮像装置と、搬送される上記検体
の搬送方向と平行方向の側面を上記ミラーの反射を利用
して照明する照明手段および側面状態を撮像する撮像装
置とを備えたものである。
術的手段は、走行ガイドであるミラーと、このミラー上
で検体を搬送する搬送手段と、搬送される上記検体の表
面側から外形輪郭のために照明する照明手段および外形
輪郭を撮像する撮像装置と、搬送される上記検体の表面
を照明する照明手段および表面状態を撮像する撮像装置
と、搬送される上記検体の裏面を上記ミラーの反射を利
用して照明する照明手段および裏面状態を撮像する撮像
装置と、搬送される上記検体の搬送方向と直角方向の側
面を上記ミラーの反射を利用して照明する照明手段およ
び側面状態を撮像する撮像装置と、搬送される上記検体
の搬送方向と平行方向の側面を上記ミラーの反射を利用
して照明する照明手段および側面状態を撮像する撮像装
置とを備えたものである。
【0010】上記目的を達成するための本発明の他の技
術的手段は、走行ガイドであるハーフミラーと、このハ
ーフミラー上で検体を搬送する搬送手段と、搬送される
上記検体の表面側から外形輪郭のために照明する照明手
段および外形輪郭を撮像する撮像装置と、搬送される上
記検体の表面を照明する照明手段および表面状態を撮像
する撮像装置と、搬送される上記検体の裏面を上記ハー
フミラーを透過して照明する照明手段および裏面状態を
撮像する撮像装置と、搬送される上記検体の搬送方向と
直角方向の側面を上記ハーフミラーの反射を利用して照
明する照明手段および側面状態を撮像する撮像装置と、
搬送される上記検体の搬送方向と平行方向の側面を照明
する照明手段および側面状態を撮像する撮像装置とを備
えたものである。
術的手段は、走行ガイドであるハーフミラーと、このハ
ーフミラー上で検体を搬送する搬送手段と、搬送される
上記検体の表面側から外形輪郭のために照明する照明手
段および外形輪郭を撮像する撮像装置と、搬送される上
記検体の表面を照明する照明手段および表面状態を撮像
する撮像装置と、搬送される上記検体の裏面を上記ハー
フミラーを透過して照明する照明手段および裏面状態を
撮像する撮像装置と、搬送される上記検体の搬送方向と
直角方向の側面を上記ハーフミラーの反射を利用して照
明する照明手段および側面状態を撮像する撮像装置と、
搬送される上記検体の搬送方向と平行方向の側面を照明
する照明手段および側面状態を撮像する撮像装置とを備
えたものである。
【0011】上記目的を達成するための本発明の他の技
術的手段は、走行ガイドであるハーフミラーと、このハ
ーフミラー上で検体を搬送する搬送手段と、搬送される
上記検体の表面側から外形輪郭のために照明する照明手
段および外形輪郭を撮像する撮像装置と、搬送される上
記検体の表面を照明する照明手段および表面状態を撮像
する撮像装置と、搬送される上記検体の裏面を上記ハー
フミラーを透過して照明する照明手段および裏面状態を
撮像する撮像装置と、搬送される上記検体の搬送方向と
直角方向の側面を上記ハーフミラーの反射を利用して照
明する照明手段および側面状態を撮像する撮像装置と、
搬送される上記検体の搬送方向と平行方向の側面を上記
ハーフミラーの反射を利用して照明する照明手段および
側面状態を撮像する撮像装置とを備えたものである。
術的手段は、走行ガイドであるハーフミラーと、このハ
ーフミラー上で検体を搬送する搬送手段と、搬送される
上記検体の表面側から外形輪郭のために照明する照明手
段および外形輪郭を撮像する撮像装置と、搬送される上
記検体の表面を照明する照明手段および表面状態を撮像
する撮像装置と、搬送される上記検体の裏面を上記ハー
フミラーを透過して照明する照明手段および裏面状態を
撮像する撮像装置と、搬送される上記検体の搬送方向と
直角方向の側面を上記ハーフミラーの反射を利用して照
明する照明手段および側面状態を撮像する撮像装置と、
搬送される上記検体の搬送方向と平行方向の側面を上記
ハーフミラーの反射を利用して照明する照明手段および
側面状態を撮像する撮像装置とを備えたものである。
【0012】上記目的を達成するための本発明の更に他
の技術的手段は、上記各技術的手段における外形輪郭の
照明手段および撮像装置と、表面状態の照明手段および
撮像装置とが兼用されたものである。
の技術的手段は、上記各技術的手段における外形輪郭の
照明手段および撮像装置と、表面状態の照明手段および
撮像装置とが兼用されたものである。
【0013】そして、ミラーを用いた上記各技術的手段
における搬送手段として、上記ミラーの裏面に沿って走
行可能に設けられた非磁性材製のベルトと、このベルト
に所望間隔で取り付けられ、上記ミラーの表面上の検体
を吸着するマグネットとを備えることができる。また、
ミラー、若しくはハーフミラーを用いた上記各技術手段
における搬送手段として、上記ミラー上に走行可能に設
けられ、検体収納用の凹入部が列設された透明なプラス
チック製のテープを備えることができ、または上記ミラ
ー上に走行可能に設けられ、検体収納用の穴が列設され
た透明なプラスチック製のテープを備えることができ
る。
における搬送手段として、上記ミラーの裏面に沿って走
行可能に設けられた非磁性材製のベルトと、このベルト
に所望間隔で取り付けられ、上記ミラーの表面上の検体
を吸着するマグネットとを備えることができる。また、
ミラー、若しくはハーフミラーを用いた上記各技術手段
における搬送手段として、上記ミラー上に走行可能に設
けられ、検体収納用の凹入部が列設された透明なプラス
チック製のテープを備えることができ、または上記ミラ
ー上に走行可能に設けられ、検体収納用の穴が列設され
た透明なプラスチック製のテープを備えることができ
る。
【0014】また、上記検体を連続的に搬送し、または
間歇的に搬送することができる。上記検体としては、角
板形チップ固定抵抗器、チップ形コンデンサ等の電子部
品のほか、錠剤等の固形物を挙げることができる。
間歇的に搬送することができる。上記検体としては、角
板形チップ固定抵抗器、チップ形コンデンサ等の電子部
品のほか、錠剤等の固形物を挙げることができる。
【0015】
【作用】したがって、本発明によれば、ミラー、若しく
はハーフミラー上で検体を搬送する途中において、検体
の表面を照明し、検体の外形輪郭、表面の状態を撮像
し、検体の裏面をミラーの反射を利用して照明し、若し
くはハーフミラーを透過して照明し、裏面の状態を撮像
し、検体の各側面をミラー、若しくはハーフミラーの反
射を利用して照明し、若しくは検体の搬送方向と平行方
向の側面を照明し、検体の搬送方向と直角方向の側面を
ミラー、若しくはハーフミラーの反射を利用して照明
し、側面の状態を撮像する。このように撮像装置を用
い、搬送される検体の外形輪郭と表面状態の像に加えて
裏面状態および側面状態の像を得ることができる。
はハーフミラー上で検体を搬送する途中において、検体
の表面を照明し、検体の外形輪郭、表面の状態を撮像
し、検体の裏面をミラーの反射を利用して照明し、若し
くはハーフミラーを透過して照明し、裏面の状態を撮像
し、検体の各側面をミラー、若しくはハーフミラーの反
射を利用して照明し、若しくは検体の搬送方向と平行方
向の側面を照明し、検体の搬送方向と直角方向の側面を
ミラー、若しくはハーフミラーの反射を利用して照明
し、側面の状態を撮像する。このように撮像装置を用
い、搬送される検体の外形輪郭と表面状態の像に加えて
裏面状態および側面状態の像を得ることができる。
【0016】
【実施例】以下、本発明の第1の実施例について図面を
参照しながら説明する。図1ないし図8は本発明の第1
の実施例における外観検査装置を示し、図1は一部破断
正面図、図2は検体の裏面の照明手段および撮像装置
と、検体の搬送方向と直角方向の側面の照明手段および
撮像装置とを省略した一部破断側面図、図3、図4はそ
れぞれ搬送装置を示し、図1、図2の一部拡大図、図5
は検体の搬送方向と直角方向の側面の外観検査動作説明
図、図6は検体の表面の外観検査動作説明図、図7は検
体の裏面の外観検査動作説明図、図8は検体の搬送方向
と平行方向の側面の外観検査動作説明図である。
参照しながら説明する。図1ないし図8は本発明の第1
の実施例における外観検査装置を示し、図1は一部破断
正面図、図2は検体の裏面の照明手段および撮像装置
と、検体の搬送方向と直角方向の側面の照明手段および
撮像装置とを省略した一部破断側面図、図3、図4はそ
れぞれ搬送装置を示し、図1、図2の一部拡大図、図5
は検体の搬送方向と直角方向の側面の外観検査動作説明
図、図6は検体の表面の外観検査動作説明図、図7は検
体の裏面の外観検査動作説明図、図8は検体の搬送方向
と平行方向の側面の外観検査動作説明図である。
【0017】本実施例においては、図19に示す検体で
あるチップ状電子部品(図示例は角板形チップ固定抵抗
器)の外観検査面説明図から明らかなように、チップ状
電子部品(以下、チップ部品と略称する)1の外形輪郭
1Aと、表面の1Bの状態と、裏面1Cの状態と、四側
面1Dないし1Gの状態を撮像する。
あるチップ状電子部品(図示例は角板形チップ固定抵抗
器)の外観検査面説明図から明らかなように、チップ状
電子部品(以下、チップ部品と略称する)1の外形輪郭
1Aと、表面の1Bの状態と、裏面1Cの状態と、四側
面1Dないし1Gの状態を撮像する。
【0018】図1ないし図4に示すように、走行ガイド
であるミラー11が水平方向に設けられている。ミラー
11の裏面に沿って搬送ベルト12が走行可能に設けら
れている。搬送ベルト12は非磁性材製のベルト13に
所望間隔で凹入部14が列設され、各凹入部14にマグ
ネット15が取り付けられ、マグネット15がミラー1
1の裏面に沿って走行し得るようになっている。そし
て、ミラー11上に供給されたチップ部品1の電極等の
導電部を搬送ベルト12のマグネット11により吸着
し、搬送ベルト12の走行に伴い、チップ部品1をミラ
ー11上で搬送することができる。
であるミラー11が水平方向に設けられている。ミラー
11の裏面に沿って搬送ベルト12が走行可能に設けら
れている。搬送ベルト12は非磁性材製のベルト13に
所望間隔で凹入部14が列設され、各凹入部14にマグ
ネット15が取り付けられ、マグネット15がミラー1
1の裏面に沿って走行し得るようになっている。そし
て、ミラー11上に供給されたチップ部品1の電極等の
導電部を搬送ベルト12のマグネット11により吸着
し、搬送ベルト12の走行に伴い、チップ部品1をミラ
ー11上で搬送することができる。
【0019】チップ部品1の搬送方向に沿って照明手段
16、18、20、22、24、26、28および撮像
装置17、19、21、23、25、27、29が順次
設けられている。照明手段16はチップ部品1の搬送方
向と直角方向で後方の側面1Dを照明し、撮像装置17
は照明手段16により照明された側面1Dの状態を撮像
する。照明手段18はチップ部品1の外形輪郭1Aの撮
像のために照明し、撮像装置19は照明手段18により
照明された外形輪郭1Aを撮像する。照明手段20はチ
ップ部品1の表面1Bを照明し、撮像装置20は照明手
段20により照明された表面1Bの状態を撮像する。照
明手段22はチップ部品の裏面1Cを照明し、撮像装置
23は照明手段22により照明された裏面1Cの状態を
撮像する。照明手段24はチップ部品1の搬送方向と直
角方向で前方の側面1Eを照明し、撮像装置25は照明
手段24により照明された側面1Eの状態を撮像する。
照明手段26はチップ部品1の搬送方向と平行方向で一
方の側面1Fを照明し、撮像装置27は照明手段26に
より照明された側面1Fの状態を撮像する。照明手段2
8はチップ部品1の搬送方向と平行方向で他方の側面1
Gを照明し、撮像装置29は照明手段28により照明さ
れた側面1Gの状態を撮像する。各照明手段16、1
8、20、22、24、26、28と、各撮像装置1
7、19、21、23、25、27、29はそれぞれ同
様に構成されている。各照明手段16、18、20、2
2、24、26、28はハロゲンランプ等の光源(図示
省略)と、この光源から放出された光を導く光ファイバ
30とからなり、光ファイバ30の出射部31には照明
角度可変用の反射ミラー32が設けられている。各撮像
装置17、19、21、23、25、27、29はケー
ス33内に撮像カメラ(CCDカメラ)34が備えられ
ている。各照明手段16、18、20、22、24、2
6、28の出射部31は一対備えられ、各一対の出射部
31の間に撮像装置17、19、21、23、25、2
7、29の撮像カメラ34が配置されている。
16、18、20、22、24、26、28および撮像
装置17、19、21、23、25、27、29が順次
設けられている。照明手段16はチップ部品1の搬送方
向と直角方向で後方の側面1Dを照明し、撮像装置17
は照明手段16により照明された側面1Dの状態を撮像
する。照明手段18はチップ部品1の外形輪郭1Aの撮
像のために照明し、撮像装置19は照明手段18により
照明された外形輪郭1Aを撮像する。照明手段20はチ
ップ部品1の表面1Bを照明し、撮像装置20は照明手
段20により照明された表面1Bの状態を撮像する。照
明手段22はチップ部品の裏面1Cを照明し、撮像装置
23は照明手段22により照明された裏面1Cの状態を
撮像する。照明手段24はチップ部品1の搬送方向と直
角方向で前方の側面1Eを照明し、撮像装置25は照明
手段24により照明された側面1Eの状態を撮像する。
照明手段26はチップ部品1の搬送方向と平行方向で一
方の側面1Fを照明し、撮像装置27は照明手段26に
より照明された側面1Fの状態を撮像する。照明手段2
8はチップ部品1の搬送方向と平行方向で他方の側面1
Gを照明し、撮像装置29は照明手段28により照明さ
れた側面1Gの状態を撮像する。各照明手段16、1
8、20、22、24、26、28と、各撮像装置1
7、19、21、23、25、27、29はそれぞれ同
様に構成されている。各照明手段16、18、20、2
2、24、26、28はハロゲンランプ等の光源(図示
省略)と、この光源から放出された光を導く光ファイバ
30とからなり、光ファイバ30の出射部31には照明
角度可変用の反射ミラー32が設けられている。各撮像
装置17、19、21、23、25、27、29はケー
ス33内に撮像カメラ(CCDカメラ)34が備えられ
ている。各照明手段16、18、20、22、24、2
6、28の出射部31は一対備えられ、各一対の出射部
31の間に撮像装置17、19、21、23、25、2
7、29の撮像カメラ34が配置されている。
【0020】側面1Dの照明手段16および撮像装置1
7は、ミラー11の反射を利用して側面1Dを照明し、
ミラー11の反射を利用して側面1Dの状態を撮像する
ことができるようにミラー11の上方で斜め方向に配置
されている(図5参照)。外形輪郭1Aの照明手段18
および撮像装置19は、表面1B側を直接照明し、外形
輪郭1Aを直接撮像することができるようにミラー11
の上方で垂直方向に配置されている(図6参照)。表面
1Bの照明手段20および撮像装置21は、表面1Bを
直接照明し、表面1Bの状態を直接撮像することができ
るようにミラー11の上方で垂直方向に配置されている
(図6参照)。裏面1Cの照明手段22および撮像装置
23は、ミラー11の反射を利用して裏面1Cを照明
し、ミラー11の反射を利用して裏面1Cの状態を撮像
することができるようにミラー11の上方で斜め方向に
配置されている(図7参照)。側面1Eの照明手段24
および撮像装置25は、ミラー11の反射を利用して側
面1Eを照明し、ミラー11の反射を利用して側面1E
の状態を撮像することができるようにミラー11の上方
で斜め方向に配置されている(図5参照)。側面1Fの
照明手段26および撮像装置27は、側面1Fを直接照
明し、側面1Fの状態を直接撮像することができるよう
にミラー11の側方で水平方向に配置され、同様に、側
面1Gの照明手段28および撮像装置29は、側面1G
を直接照明し、側面1Gの状態を直接撮像することがで
きるようにミラー11の側方で水平方向に配置されてい
る(図8参照)。上記のように各照明手段16、18、
20、22、24、26、28は各撮像装置17、1
9、21、23、25、27、29の両側に配置されて
いるが、反射ミラー32により両側の2方向から照明す
ることにより、チップ部品1の各面の全体を均一な明る
さに照明することができる。
7は、ミラー11の反射を利用して側面1Dを照明し、
ミラー11の反射を利用して側面1Dの状態を撮像する
ことができるようにミラー11の上方で斜め方向に配置
されている(図5参照)。外形輪郭1Aの照明手段18
および撮像装置19は、表面1B側を直接照明し、外形
輪郭1Aを直接撮像することができるようにミラー11
の上方で垂直方向に配置されている(図6参照)。表面
1Bの照明手段20および撮像装置21は、表面1Bを
直接照明し、表面1Bの状態を直接撮像することができ
るようにミラー11の上方で垂直方向に配置されている
(図6参照)。裏面1Cの照明手段22および撮像装置
23は、ミラー11の反射を利用して裏面1Cを照明
し、ミラー11の反射を利用して裏面1Cの状態を撮像
することができるようにミラー11の上方で斜め方向に
配置されている(図7参照)。側面1Eの照明手段24
および撮像装置25は、ミラー11の反射を利用して側
面1Eを照明し、ミラー11の反射を利用して側面1E
の状態を撮像することができるようにミラー11の上方
で斜め方向に配置されている(図5参照)。側面1Fの
照明手段26および撮像装置27は、側面1Fを直接照
明し、側面1Fの状態を直接撮像することができるよう
にミラー11の側方で水平方向に配置され、同様に、側
面1Gの照明手段28および撮像装置29は、側面1G
を直接照明し、側面1Gの状態を直接撮像することがで
きるようにミラー11の側方で水平方向に配置されてい
る(図8参照)。上記のように各照明手段16、18、
20、22、24、26、28は各撮像装置17、1
9、21、23、25、27、29の両側に配置されて
いるが、反射ミラー32により両側の2方向から照明す
ることにより、チップ部品1の各面の全体を均一な明る
さに照明することができる。
【0021】以上の構成において、以下、その動作につ
いて説明する。ミラー11上に供給されたチップ部品1
は搬送ベルト12の走行に伴い、そのマグネット15の
吸着によりミラー11上を順次連続的に搬送される。こ
の搬送の途中で、図1、図2、図5に示すように、照明
手段16の出射部31によりチップ部品1の搬送方向と
直角方向で後方の側面1Dをミラー11の反射を利用し
て照明し、その反射光を撮像装置27の撮像カメラ34
に導き、側面1Dの状態を撮像する。このとき、撮像カ
メラ34を斜め方向に配置しているので、撮像面積が実
際の側面1Dの面積よりも小さくなるため、撮像面積を
実際の側面1Dの大きさと等しくなるように変換する。
続いて図1、図2、図6に示すように、照明手段18の
出射部31によりチップ部品1の表面1B側を直接照明
し、その反射光を撮像装置19の撮像カメラ34に導
き、チップ部品1の外形輪郭1Aを撮像する。続いて照
明手段20の出射部31によりチップ部品1の表面1B
を直接照明し、その反射光を撮像装置21の撮像カメラ
34に導き、表面1Bの状態を撮像する。続いて図1、
図2、図7に示すように、照明手段22の出射部31に
よりチップ部品1の裏面1Cをミラー11の反射を利用
して照明し、その反射光を撮像装置23の撮像カメラ3
4に導き、裏面1Cの状態を撮像する。このとき、側面
1Dの撮像の場合と同様に撮像面積が実際の裏面1Cの
面積より小さくなるため、等しい大きさになるように変
換する。続いて図1、図2、図5に示すように、チップ
部品1の搬送方向と直角方向で前方の側面1Eを上記側
面1Dの場合と同様に、照明手段24の出射部31によ
りミラー11の反射を利用して照明し、その反射光を撮
像装置25の撮像カメラ34に導き、側面1Eの状態を
撮像する。続いて図1、図2、図8に示すように照明手
段26の出射部31によりチップ部品1の搬送方向と平
行方向で一方の側面1Fを直接照明し、その反射光を撮
像装置27の撮像カメラ34に導き、側面1Fの状態を
撮像する。続いて照明手段28の出射部によりチップ部
品1の搬送方向と平行方向で他方の側面1Gを直接照明
し、その反射光を撮像装置29の撮像カメラ34に導
き、側面1Gの状態を撮像する。
いて説明する。ミラー11上に供給されたチップ部品1
は搬送ベルト12の走行に伴い、そのマグネット15の
吸着によりミラー11上を順次連続的に搬送される。こ
の搬送の途中で、図1、図2、図5に示すように、照明
手段16の出射部31によりチップ部品1の搬送方向と
直角方向で後方の側面1Dをミラー11の反射を利用し
て照明し、その反射光を撮像装置27の撮像カメラ34
に導き、側面1Dの状態を撮像する。このとき、撮像カ
メラ34を斜め方向に配置しているので、撮像面積が実
際の側面1Dの面積よりも小さくなるため、撮像面積を
実際の側面1Dの大きさと等しくなるように変換する。
続いて図1、図2、図6に示すように、照明手段18の
出射部31によりチップ部品1の表面1B側を直接照明
し、その反射光を撮像装置19の撮像カメラ34に導
き、チップ部品1の外形輪郭1Aを撮像する。続いて照
明手段20の出射部31によりチップ部品1の表面1B
を直接照明し、その反射光を撮像装置21の撮像カメラ
34に導き、表面1Bの状態を撮像する。続いて図1、
図2、図7に示すように、照明手段22の出射部31に
よりチップ部品1の裏面1Cをミラー11の反射を利用
して照明し、その反射光を撮像装置23の撮像カメラ3
4に導き、裏面1Cの状態を撮像する。このとき、側面
1Dの撮像の場合と同様に撮像面積が実際の裏面1Cの
面積より小さくなるため、等しい大きさになるように変
換する。続いて図1、図2、図5に示すように、チップ
部品1の搬送方向と直角方向で前方の側面1Eを上記側
面1Dの場合と同様に、照明手段24の出射部31によ
りミラー11の反射を利用して照明し、その反射光を撮
像装置25の撮像カメラ34に導き、側面1Eの状態を
撮像する。続いて図1、図2、図8に示すように照明手
段26の出射部31によりチップ部品1の搬送方向と平
行方向で一方の側面1Fを直接照明し、その反射光を撮
像装置27の撮像カメラ34に導き、側面1Fの状態を
撮像する。続いて照明手段28の出射部によりチップ部
品1の搬送方向と平行方向で他方の側面1Gを直接照明
し、その反射光を撮像装置29の撮像カメラ34に導
き、側面1Gの状態を撮像する。
【0022】チップ部品1の検出方法の一例としては、
撮像装置17、19、21、23、25、27、29に
より得られた映像を画像処理し、あらかじめ良品のデー
タとこのデータからの許容誤差をメモリに登録してお
き、撮像したチップ部品1の映像をメモリ上で比較す
る。このほか、チップ部品1の外形輪郭の直線性を判断
するなどの検出方法を採用することもできる。
撮像装置17、19、21、23、25、27、29に
より得られた映像を画像処理し、あらかじめ良品のデー
タとこのデータからの許容誤差をメモリに登録してお
き、撮像したチップ部品1の映像をメモリ上で比較す
る。このほか、チップ部品1の外形輪郭の直線性を判断
するなどの検出方法を採用することもできる。
【0023】チップ部品1が固定抵抗器である場合、図
20(a)に示すように、このチップ抵抗器1の外形輪
郭、表面等の状態が正常であれば、外観検査結果が正常
であるので、チップ抵抗器1を搬送ベルト12の走行に
より連続的に搬送し、外観検査作業を続行する。本発明
により検出可能な不良例としては、チップ抵抗器1の外
縁部が欠けている状態、チップ抵抗器1が割れている状
態、チップ抵抗器1の電極の不良状態、チップ抵抗器1
のコート層が欠けている不良状態、チップ抵抗器1の抵
抗値の表示の不良状態等である。また、チップ部品1が
コンデンサである場合も、検出可能な不良例としては、
抵抗値の表示の不良を除いてチップ抵抗器の場合と同様
である。このような各種の不良が検出されると、搬送ベ
ルト12の走行を停止し、チップ部品1の搬送を停止し
て不良のチップ部品1をミラー11上から除去する。
20(a)に示すように、このチップ抵抗器1の外形輪
郭、表面等の状態が正常であれば、外観検査結果が正常
であるので、チップ抵抗器1を搬送ベルト12の走行に
より連続的に搬送し、外観検査作業を続行する。本発明
により検出可能な不良例としては、チップ抵抗器1の外
縁部が欠けている状態、チップ抵抗器1が割れている状
態、チップ抵抗器1の電極の不良状態、チップ抵抗器1
のコート層が欠けている不良状態、チップ抵抗器1の抵
抗値の表示の不良状態等である。また、チップ部品1が
コンデンサである場合も、検出可能な不良例としては、
抵抗値の表示の不良を除いてチップ抵抗器の場合と同様
である。このような各種の不良が検出されると、搬送ベ
ルト12の走行を停止し、チップ部品1の搬送を停止し
て不良のチップ部品1をミラー11上から除去する。
【0024】以下、本発明の第2の実施例について図面
を参照しながら説明する。図9ないし図13は本発明の
第2の実施例における外観検査装置を示し、図9は一部
破断正面図、図10は検体の搬送方向と直角方向の側面
の照明手段および撮像装置を省略した一部破断側面図、
図11、図12はそれぞれ搬送装置を示し、図9、図1
0の一部拡大図、図13は検体の裏面の外観検査動作説
明図である。
を参照しながら説明する。図9ないし図13は本発明の
第2の実施例における外観検査装置を示し、図9は一部
破断正面図、図10は検体の搬送方向と直角方向の側面
の照明手段および撮像装置を省略した一部破断側面図、
図11、図12はそれぞれ搬送装置を示し、図9、図1
0の一部拡大図、図13は検体の裏面の外観検査動作説
明図である。
【0025】本実施例においては、図9ないし図12に
示すように、走行ガイドであるハーフミラー35が水平
方向に設けられ、ハーフミラー35の表面に沿って透明
なプラスチック製のテープ36が走行される。テープ3
6には凹入部37が列設され、各凹入部37にチップ部
品1が収納される。したがって、テープ36の走行によ
り各凹入部37に収納されたチップ部品1がハーフミラ
ー35上で搬送される。テープ36の上部には透明なガ
ラスからなる飛び出し防止板38が水平方向に設けら
れ、テープ36の走行に伴うチップ部品1の搬送の際、
チップ部品1が凹入部37から外方へ飛び出すのを防止
している。チップ部品1の裏面1Cの照明手段22およ
び撮像装置23は、ハーフミラー35を透過して裏面1
Cを照明し、ハーフミラー35を透過して裏面1Cの状
態を撮像することができるようにハーフミラー35の下
方で垂直方向に配置されている。そして照明手段22の
出射部31によりチップ部品1の裏面1Cをハーフミラ
ー35を透過して照明し、その反射光を撮像装置23の
撮像カメラ34に導き、裏面1Cの状態を撮像するよう
になっている。その他の構成については上記第1の実施
例と同様であるので、第1の実施例と同一部分には同一
符号を付してその説明を省略する。
示すように、走行ガイドであるハーフミラー35が水平
方向に設けられ、ハーフミラー35の表面に沿って透明
なプラスチック製のテープ36が走行される。テープ3
6には凹入部37が列設され、各凹入部37にチップ部
品1が収納される。したがって、テープ36の走行によ
り各凹入部37に収納されたチップ部品1がハーフミラ
ー35上で搬送される。テープ36の上部には透明なガ
ラスからなる飛び出し防止板38が水平方向に設けら
れ、テープ36の走行に伴うチップ部品1の搬送の際、
チップ部品1が凹入部37から外方へ飛び出すのを防止
している。チップ部品1の裏面1Cの照明手段22およ
び撮像装置23は、ハーフミラー35を透過して裏面1
Cを照明し、ハーフミラー35を透過して裏面1Cの状
態を撮像することができるようにハーフミラー35の下
方で垂直方向に配置されている。そして照明手段22の
出射部31によりチップ部品1の裏面1Cをハーフミラ
ー35を透過して照明し、その反射光を撮像装置23の
撮像カメラ34に導き、裏面1Cの状態を撮像するよう
になっている。その他の構成については上記第1の実施
例と同様であるので、第1の実施例と同一部分には同一
符号を付してその説明を省略する。
【0026】以下、本発明の第3の実施例について図面
を参照しながら説明する。図14、15は本発明の第3
の実施例における外観検査装置に用いる搬送装置を示
し、図14は図11と同様の一部破断正面図、図15は
図12と同様の一部破断側面図である。
を参照しながら説明する。図14、15は本発明の第3
の実施例における外観検査装置に用いる搬送装置を示
し、図14は図11と同様の一部破断正面図、図15は
図12と同様の一部破断側面図である。
【0027】本実施例においては、図14および図15
に示すように、透明なプラスチック製のテープ39に穴
40が列設され、各穴40にチップ部品1が収納され、
テープ39がハーフミラー35と透明なガラスからなる
飛び出し防止板38の間で走行することにより、チップ
部品1がハーフミラー35上で搬送されるようになって
いる。その他の構成についは上記第2の実施例と同様で
ある。
に示すように、透明なプラスチック製のテープ39に穴
40が列設され、各穴40にチップ部品1が収納され、
テープ39がハーフミラー35と透明なガラスからなる
飛び出し防止板38の間で走行することにより、チップ
部品1がハーフミラー35上で搬送されるようになって
いる。その他の構成についは上記第2の実施例と同様で
ある。
【0028】以下、本発明の第4の実施例について図面
を参照しながら説明する。図16は本発明の第4の実施
例における外観検査装置を示し、検体の搬送方向と平行
方向の側面の外観検査動作説明図である。
を参照しながら説明する。図16は本発明の第4の実施
例における外観検査装置を示し、検体の搬送方向と平行
方向の側面の外観検査動作説明図である。
【0029】本実施例においては、図16に示すよう
に、チップ部品1の搬送方向と平行方向の側面1F(1
G)をミラー11、若しくはハーフミラー35の反射を
利用して照明手段24(26)の出射部31により照明
し、その反射光を撮像装置27(29)の撮像カメラ3
4に導き、側面1F(1G)の状態を撮像するようにし
たものである。その他の構成については上記第1、第2
の実施例と同様である。
に、チップ部品1の搬送方向と平行方向の側面1F(1
G)をミラー11、若しくはハーフミラー35の反射を
利用して照明手段24(26)の出射部31により照明
し、その反射光を撮像装置27(29)の撮像カメラ3
4に導き、側面1F(1G)の状態を撮像するようにし
たものである。その他の構成については上記第1、第2
の実施例と同様である。
【0030】図17は上記第1、第2の実施例における
チップ部品1の外形輪郭1Aの照明方式、若しくは表面
1Bの照明方式の変形例を示している。本例において
は、図17に示すように、照明手段18、若しくは20
の出射部31からの出射光を反射ミラー41を介してチ
ップ部品1の表面1Bに導いて照明するようにしたもの
である。本例の照明方式は、チップ部品1の裏面1C、
側面1Dないし1Gの照明についても適用することがで
きる。
チップ部品1の外形輪郭1Aの照明方式、若しくは表面
1Bの照明方式の変形例を示している。本例において
は、図17に示すように、照明手段18、若しくは20
の出射部31からの出射光を反射ミラー41を介してチ
ップ部品1の表面1Bに導いて照明するようにしたもの
である。本例の照明方式は、チップ部品1の裏面1C、
側面1Dないし1Gの照明についても適用することがで
きる。
【0031】図18は上記第1の実施例におけるチップ
部品1の裏面1Cの撮像方式の変形例を示している。本
例においては、図18に示すように、チップ部品1の裏
面1Cのミラー11、若しくはハーフミラー35の反射
を利用して撮像する際、更に反射ミラー42を用いて反
射させて実際の裏面1Cの大きさに復元して撮像装置2
3により撮像するようにしたものである。本例の撮像方
式は、チップ部品1の側面1Dないし1Eをミラー1
1、若しくはハーフミラー35の反射を利用して撮像す
る場合にも適用することができる。
部品1の裏面1Cの撮像方式の変形例を示している。本
例においては、図18に示すように、チップ部品1の裏
面1Cのミラー11、若しくはハーフミラー35の反射
を利用して撮像する際、更に反射ミラー42を用いて反
射させて実際の裏面1Cの大きさに復元して撮像装置2
3により撮像するようにしたものである。本例の撮像方
式は、チップ部品1の側面1Dないし1Eをミラー1
1、若しくはハーフミラー35の反射を利用して撮像す
る場合にも適用することができる。
【0032】なお、上記第2、第3の実施例においても
ハーフミラー35をミラーに替え、チップ部品1の裏面
1Cをミラーの上方から反射方式を用いて照明すると共
に撮像することができる。また、チップ部品1の搬送手
段として、パレット状のミラーを連結部材により連結さ
せて走行させるようにし、各ミラーの表面上に供給した
チップ部品1を各ミラーの裏面に取り付けたマグネット
により吸着するなどにより保持して搬送するようにして
もよい。また、外形輪郭の照明手段18および撮像装置
19と表面の照明手段20および撮像装置21はいずれ
か一方で兼用することができる。また、チップ部品1は
連続的に搬送してもよく、間歇的に搬送してもよい。本
発明は、このほか、その基本的技術思想を逸脱しない範
囲で種々設計変更することができる。
ハーフミラー35をミラーに替え、チップ部品1の裏面
1Cをミラーの上方から反射方式を用いて照明すると共
に撮像することができる。また、チップ部品1の搬送手
段として、パレット状のミラーを連結部材により連結さ
せて走行させるようにし、各ミラーの表面上に供給した
チップ部品1を各ミラーの裏面に取り付けたマグネット
により吸着するなどにより保持して搬送するようにして
もよい。また、外形輪郭の照明手段18および撮像装置
19と表面の照明手段20および撮像装置21はいずれ
か一方で兼用することができる。また、チップ部品1は
連続的に搬送してもよく、間歇的に搬送してもよい。本
発明は、このほか、その基本的技術思想を逸脱しない範
囲で種々設計変更することができる。
【0033】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ミ
ラー、若しくはハーフミラー上で検体を搬送する途中に
おいて、検体の表面を照明し、検体の外形輪郭、表面の
状態を撮像し、検体の裏面をミラーの反射を利用して照
明し、若しくはハーフミラーを透過して照明し、裏面の
状態を撮像し、検体の各側面をミラー、若しくはハーフ
ミラーの反射を利用して照明し、若しくは検体の搬送方
向と平行方向の側面を照明し、検体の搬送方向と直角方
向の側面をミラー、若しくはハーフミラーの反射を利用
して照明し、側面の状態を撮像する。このように撮像装
置を用い、搬送される検体の外形輪郭と表面状態の像に
加えて裏面状態および側面状態の像を得ることができ
る。したがって、検体の微小化および検査速度の高速化
に対応することができ、しかも、検体の全体が正常であ
るか否かについて検査することができる。
ラー、若しくはハーフミラー上で検体を搬送する途中に
おいて、検体の表面を照明し、検体の外形輪郭、表面の
状態を撮像し、検体の裏面をミラーの反射を利用して照
明し、若しくはハーフミラーを透過して照明し、裏面の
状態を撮像し、検体の各側面をミラー、若しくはハーフ
ミラーの反射を利用して照明し、若しくは検体の搬送方
向と平行方向の側面を照明し、検体の搬送方向と直角方
向の側面をミラー、若しくはハーフミラーの反射を利用
して照明し、側面の状態を撮像する。このように撮像装
置を用い、搬送される検体の外形輪郭と表面状態の像に
加えて裏面状態および側面状態の像を得ることができ
る。したがって、検体の微小化および検査速度の高速化
に対応することができ、しかも、検体の全体が正常であ
るか否かについて検査することができる。
【図1】本発明の第1の実施例における外観検査装置を
示す一部破断正面図
示す一部破断正面図
【図2】同外観検査装置を示し、検体の裏面の照明手段
および撮像装置と、検体の搬送方向と直角方向の側面の
照明手段および撮像装置とを省略した一部破断側面図
および撮像装置と、検体の搬送方向と直角方向の側面の
照明手段および撮像装置とを省略した一部破断側面図
【図3】同外観検査装置に用いる搬送装置を示し、図1
の一部拡大図
の一部拡大図
【図4】同外観検査装置に用いる搬送装置を示し、図2
の一部拡大図
の一部拡大図
【図5】同外観検査装置を示し、検体の搬送方向と直角
方向の側面の外観検査動作説明図
方向の側面の外観検査動作説明図
【図6】同外観検査装置を示し、検体の裏面の外観検査
動作説明図
動作説明図
【図7】同外観検査装置を示し、検体の裏面の外観検査
動作説明図
動作説明図
【図8】同外観検査装置を示し、検体の搬送方向と平行
方向の側面の外観検査動作説明図
方向の側面の外観検査動作説明図
【図9】本発明の第2の実施例における外観検査装置を
示す一部破断正面図
示す一部破断正面図
【図10】同外観検査装置を示し、検体の搬送方向と直
角方向の側面の照明手段および撮像装置を省略した一部
破断側面図
角方向の側面の照明手段および撮像装置を省略した一部
破断側面図
【図11】同外観検査装置に用いる搬送装置を示し、図
9の一部拡大図
9の一部拡大図
【図12】同外観検査装置に用いる搬送装置を示し、図
10の一部拡大図
10の一部拡大図
【図13】同外観検査装置を示し、検体の裏面の外観検
査動作説明図
査動作説明図
【図14】本発明の第3の実施例における外観検査装置
に用いる搬送装置を示し、図11と同様の一部破断正面
図
に用いる搬送装置を示し、図11と同様の一部破断正面
図
【図15】同搬送装置を示し、図12と同様の一部破断
側面図
側面図
【図16】本発明の第4の実施例における外観検査装置
を示し、検体の搬送方向と平行方向の側面の外観検査動
作説明図
を示し、検体の搬送方向と平行方向の側面の外観検査動
作説明図
【図17】上記第1、第2の実施例における検体の外形
輪郭、表面の照明方式の変形例を示す説明図
輪郭、表面の照明方式の変形例を示す説明図
【図18】上記第1の実施例における検体の裏面の撮像
方式の変形例を示す説明図
方式の変形例を示す説明図
【図19】本発明の外観検査装置の検査対象であるチッ
プ状電子部品の外観検査面説明図
プ状電子部品の外観検査面説明図
1 チップ状電子部品(検体) 1A 外形輪郭 1B 表面 1C 裏面 1D 側面 1E 側面 1F 側面 1G 側面 11 ミラー 12 搬送ベルト 15 マグネット 16 側面1Dの照明手段 17 側面1Dの撮像装置 18 外形輪郭1Aの照明手段 19 外形輪郭1Aの撮像装置 20 表面1Bの照明手段 21 表面1Bの撮像装置 22 裏面1Cの照明手段 23 裏面1Cの撮像装置 24 側面1Eの照明手段 25 側面1Eの撮像装置 26 側面1Fの照明手段 27 側面1Fの撮像装置 28 側面1Gの照明手段 29 側面1Gの撮像装置 35 ハーフミラー 36 テープ 37 凹入部 39 テープ 40 穴
Claims (8)
- 【請求項1】 走行ガイドであるミラーと、このミラー
上で検体を搬送する搬送手段と、搬送される上記検体の
表面側から外形輪郭のために照明する照明手段および外
形輪郭を撮像する撮像装置と、搬送される上記検体の表
面を照明する照明手段および表面状態を撮像する撮像装
置と、搬送される上記検体の裏面を上記ミラーの反射を
利用して照明する照明手段および裏面状態を撮像する撮
像装置と、搬送される上記検体の搬送方向と直角方向の
側面を上記ミラーの反射を利用して照明する照明手段お
よび側面状態を撮像する撮像装置と、搬送される上記検
体の搬送方向と平行方向の側面を照明する照明手段およ
び側面状態を撮像する撮像装置とを備えた外観検査装
置。 - 【請求項2】 走行ガイドであるミラーと、このミラー
上で検体を搬送する搬送手段と、搬送される上記検体の
表面側から外形輪郭のために照明する照明手段および外
形輪郭を撮像する撮像装置と、搬送される上記検体の表
面を照明する照明手段および表面状態を撮像する撮像装
置と、搬送される上記検体の裏面を上記ミラーの反射を
利用して照明する照明手段および裏面状態を撮像する撮
像装置と、搬送される上記検体の搬送方向と直角方向の
側面を上記ミラーの反射を利用して照明する照明手段お
よび側面状態を撮像する撮像装置と、搬送される上記検
体の搬送方向と平行方向の側面を上記ミラーの反射を利
用して照明する照明手段および側面状態を撮像する撮像
装置とを備えた外観検査装置。 - 【請求項3】 走行ガイドであるハーフミラーと、この
ハーフミラー上で検体を搬送する搬送手段と、搬送され
る上記検体の表面側から外形輪郭のために照明する照明
手段および外形輪郭を撮像する撮像装置と、搬送される
上記検体の表面を照明する照明手段および表面状態を撮
像する撮像装置と、搬送される上記検体の裏面を上記ハ
ーフミラーを透過して照明する照明手段および裏面状態
を撮像する撮像装置と、搬送される上記検体の搬送方向
と直角方向の側面を上記ハーフミラーの反射を利用して
照明する照明手段および側面状態を撮像する撮像装置
と、搬送される上記検体の搬送方向と平行方向の側面を
照明する照明手段および側面状態を撮像する撮像装置と
を備えた外観検査装置。 - 【請求項4】 走行ガイドであるハーフミラーと、この
ハーフミラー上で検体を搬送する搬送手段と、搬送され
る上記検体の表面側から外形輪郭のために照明する照明
手段および外形輪郭を撮像する撮像装置と、搬送される
上記検体の表面を照明する照明手段および表面状態を撮
像する撮像装置と、搬送される上記検体の裏面を上記ハ
ーフミラーを透過して照明する照明手段および裏面状態
を撮像する撮像装置と、搬送される上記検体の搬送方向
と直角方向の側面を上記ハーフミラーの反射を利用して
照明する照明手段および側面状態を撮像する撮像装置
と、搬送される上記検体の搬送方向と平行方向の側面を
上記ハーフミラーの反射を利用して照明する照明手段お
よび側面状態を撮像する撮像装置とを備えた外観検査装
置。 - 【請求項5】 外形輪郭の照明手段および撮像装置と、
表面状態の照明手段および撮像装置とが兼用された請求
項1ないし4のいずれかに記載の外観検査装置。 - 【請求項6】 搬送手段がミラーの裏面に沿って走行可
能に設けられた非磁性材製のベルトと、このベルトに所
望間隔で取り付けられ、上記ミラーの表面上の検体を吸
着するマグネットとを備えた請求項1、2または5記載
の外観検査装置。 - 【請求項7】 搬送手段がミラー上に走行可能に設けら
れ、検体収納用の凹入部が列設された透明なプラスチッ
ク製のテープを備えた請求項1ないし5のいずれかに記
載の外観検査装置。 - 【請求項8】 搬送手段がミラー上に走行可能に設けら
れ、検体収納用の穴が列設された透明なプラスチック製
のテープを備えた請求項1ないし5のいずれかに記載の
外観検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3289226A JPH0739942B2 (ja) | 1991-10-08 | 1991-10-08 | 外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3289226A JPH0739942B2 (ja) | 1991-10-08 | 1991-10-08 | 外観検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0599635A true JPH0599635A (ja) | 1993-04-23 |
JPH0739942B2 JPH0739942B2 (ja) | 1995-05-01 |
Family
ID=17740424
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3289226A Expired - Lifetime JPH0739942B2 (ja) | 1991-10-08 | 1991-10-08 | 外観検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0739942B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7209919B1 (ja) * | 2022-07-25 | 2023-01-20 | 三菱電機株式会社 | 物品の外観検査方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6426104A (en) * | 1987-07-22 | 1989-01-27 | Mitsubishi Electric Corp | Appearance inspecting device for semiconductor device |
JPH03137502A (ja) * | 1989-10-23 | 1991-06-12 | Matsushita Electron Corp | 検査装置 |
-
1991
- 1991-10-08 JP JP3289226A patent/JPH0739942B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6426104A (en) * | 1987-07-22 | 1989-01-27 | Mitsubishi Electric Corp | Appearance inspecting device for semiconductor device |
JPH03137502A (ja) * | 1989-10-23 | 1991-06-12 | Matsushita Electron Corp | 検査装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7209919B1 (ja) * | 2022-07-25 | 2023-01-20 | 三菱電機株式会社 | 物品の外観検査方法 |
WO2024023888A1 (ja) * | 2022-07-25 | 2024-02-01 | 三菱電機株式会社 | 物品の外観検査方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0739942B2 (ja) | 1995-05-01 |
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