JPH0595074A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- JPH0595074A JPH0595074A JP3255429A JP25542991A JPH0595074A JP H0595074 A JPH0595074 A JP H0595074A JP 3255429 A JP3255429 A JP 3255429A JP 25542991 A JP25542991 A JP 25542991A JP H0595074 A JPH0595074 A JP H0595074A
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- Power Engineering (AREA)
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- Wire Bonding (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】ワイヤの配線装置の位置認識精度の向上とワイ
ヤに働く応力を低減させる。 【構成】中継基板の載置部5はダイパッド3の位置する
平面よりも、半導体チップ2と中継基板4とを結ぶワイ
ヤ7の位置する側に接近した位置にある。中継基板の載
置部5に載置されている中継基板4も、半導体チップ2
の能動側に接近した位置にある。半導体チップ2の能動
面側にある図示しない電極と中継基板4のワイヤ7によ
り配線される側の表面との高低差は小さくする。
ヤに働く応力を低減させる。 【構成】中継基板の載置部5はダイパッド3の位置する
平面よりも、半導体チップ2と中継基板4とを結ぶワイ
ヤ7の位置する側に接近した位置にある。中継基板の載
置部5に載置されている中継基板4も、半導体チップ2
の能動側に接近した位置にある。半導体チップ2の能動
面側にある図示しない電極と中継基板4のワイヤ7によ
り配線される側の表面との高低差は小さくする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置の製造技術
に関し、特に半導体チップとリードとの間にワイヤの中
継基板部を設けている半導体装置に有効な技術に関す
る。
に関し、特に半導体チップとリードとの間にワイヤの中
継基板部を設けている半導体装置に有効な技術に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来の技術としては、図2に示すような
ものがある。図において10は半導体装置を示す。11
は半導体チップ、12は中継基板、13は半導体チップ
11と中継基板12の載置部(以下ダイパッドと記
す)。半導体チップ11と中継基板12は図示されてい
ない接着剤で、ダイパッド13に固定されている。半導
体チップ11と中継基板12は同一平面上に載置されて
いる。14はリード、15は半導体チップ11と中継基
板12とを結ぶワイヤ、16は中継基板12とリード1
4とを結ぶワイヤ、17は樹脂封止部分。
ものがある。図において10は半導体装置を示す。11
は半導体チップ、12は中継基板、13は半導体チップ
11と中継基板12の載置部(以下ダイパッドと記
す)。半導体チップ11と中継基板12は図示されてい
ない接着剤で、ダイパッド13に固定されている。半導
体チップ11と中継基板12は同一平面上に載置されて
いる。14はリード、15は半導体チップ11と中継基
板12とを結ぶワイヤ、16は中継基板12とリード1
4とを結ぶワイヤ、17は樹脂封止部分。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述した従
来技術を用い、特に半導体チップとリードとの間にワイ
ヤの中継基板部を設けている半導体装置を製造したとこ
ろ、以下に示すような問題があることを見いだした。
来技術を用い、特に半導体チップとリードとの間にワイ
ヤの中継基板部を設けている半導体装置を製造したとこ
ろ、以下に示すような問題があることを見いだした。
【0004】すなわち、半導体チップと中継基板とは厚
みが異なっており、半導体チップと中継基板が同一平面
上に載置されていることにより、半導体チップの能動面
と中継基板とに高低差が発生する。この状態で、半導体
チップと中継基板とをワイヤにより配線する際、その高
低差によりワイヤの配線装置の位置認識精度が良好でな
くなる。また、ワイヤに無視できない応力が働くことが
わかった。
みが異なっており、半導体チップと中継基板が同一平面
上に載置されていることにより、半導体チップの能動面
と中継基板とに高低差が発生する。この状態で、半導体
チップと中継基板とをワイヤにより配線する際、その高
低差によりワイヤの配線装置の位置認識精度が良好でな
くなる。また、ワイヤに無視できない応力が働くことが
わかった。
【0005】本発明の目的は、半導体チップとリードと
の間に中継基板を用いた半導体装置であっても、ワイヤ
の配線装置の位置認識精度が良好で、また、ワイヤに働
く応力が低くなるような半導体装置の提供にある。
の間に中継基板を用いた半導体装置であっても、ワイヤ
の配線装置の位置認識精度が良好で、また、ワイヤに働
く応力が低くなるような半導体装置の提供にある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置は、
半導体チップ、半導体チップの周囲に載置された基板、
基板の周囲に配されたリード、半導体チップと基板とを
配線する金属細線(以下ワイヤと記す)、基板とリード
とを配線するリードを有し、これらを樹脂封止した半導
体装置において、中継基板載置部分と半導体チップの載
置部分とを分離し、中継基板載置部が半導体チップの載
置部と同一平面上になく、半導体チップの電極部側に接
近していることを特徴とする。
半導体チップ、半導体チップの周囲に載置された基板、
基板の周囲に配されたリード、半導体チップと基板とを
配線する金属細線(以下ワイヤと記す)、基板とリード
とを配線するリードを有し、これらを樹脂封止した半導
体装置において、中継基板載置部分と半導体チップの載
置部分とを分離し、中継基板載置部が半導体チップの載
置部と同一平面上になく、半導体チップの電極部側に接
近していることを特徴とする。
【0007】
【作用】半導体チップと中継基板との高低差がなくなる
ことにより、ワイヤの配線装置の位置認識精度が良好と
なり、また、ワイヤに働く応力を低減できる。
ことにより、ワイヤの配線装置の位置認識精度が良好と
なり、また、ワイヤに働く応力を低減できる。
【0008】
【実施例】図1、本発明の一実施例を解説する。
【0009】図1において、1は半導体装置、2は半導
体チップ。3は半導体チップ2のダイパッドであり、図
示しない接着剤によって半導体チップ2が固定されてい
る。4は中継基板。5は中継基板の載置部で、図示しな
い接着剤によって中継基板4が固定されている。6はリ
ード。7は半導体チップ2と中継基板4と結ぶワイヤ。
8は中継基板4とリード6を結ぶワイヤ。9は前述1か
ら8を収める樹脂封止部分である。
体チップ。3は半導体チップ2のダイパッドであり、図
示しない接着剤によって半導体チップ2が固定されてい
る。4は中継基板。5は中継基板の載置部で、図示しな
い接着剤によって中継基板4が固定されている。6はリ
ード。7は半導体チップ2と中継基板4と結ぶワイヤ。
8は中継基板4とリード6を結ぶワイヤ。9は前述1か
ら8を収める樹脂封止部分である。
【0010】ここで、半導体チップ2、ダイパッド3と
中継基板4、及び中継基板の載置部5との位置について
を説明する。
中継基板4、及び中継基板の載置部5との位置について
を説明する。
【0011】中継基板の載置部5はダイパッド3の位置
する同一平面上になく、ダイパッド3の位置する平面よ
りも、ダイパッド3に載置された半導体チップ2の能動
側、つまり、半導体チップ2と中継基板4とを結ぶワイ
ヤ7の位置する側に接近した位置にある。実施例におい
て、中継基板の載置部5の位置は、リード6と同一平面
上に位置しているが、同一平面上になくとも良い。そし
て、中継基板の載置部5に載置されている中継基板4
も、半導体チップ2の能動側に接近した位置にある。こ
のことにより、半導体チップ2の能動面側にある図示し
ない電極と中継基板4のワイヤ7により配線される側の
表面との高低差は小さい。
する同一平面上になく、ダイパッド3の位置する平面よ
りも、ダイパッド3に載置された半導体チップ2の能動
側、つまり、半導体チップ2と中継基板4とを結ぶワイ
ヤ7の位置する側に接近した位置にある。実施例におい
て、中継基板の載置部5の位置は、リード6と同一平面
上に位置しているが、同一平面上になくとも良い。そし
て、中継基板の載置部5に載置されている中継基板4
も、半導体チップ2の能動側に接近した位置にある。こ
のことにより、半導体チップ2の能動面側にある図示し
ない電極と中継基板4のワイヤ7により配線される側の
表面との高低差は小さい。
【0012】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、半
導体チップ、半導体チップの周囲に載置された基板、基
板の周囲に配されたリード、半導体チップと基板とを配
線するワイヤ、基板とリードとを配線するリードを有
し、これらを樹脂封止した半導体装置において、基板載
置部が半導体チップの載置部と同一平面上になく、半導
体チップの電極部側に接近していることにより、ワイヤ
の配線装置の位置認識精度が良好であり、また、ワイヤ
に働く応力が低くなるとゆう効果を有する。
導体チップ、半導体チップの周囲に載置された基板、基
板の周囲に配されたリード、半導体チップと基板とを配
線するワイヤ、基板とリードとを配線するリードを有
し、これらを樹脂封止した半導体装置において、基板載
置部が半導体チップの載置部と同一平面上になく、半導
体チップの電極部側に接近していることにより、ワイヤ
の配線装置の位置認識精度が良好であり、また、ワイヤ
に働く応力が低くなるとゆう効果を有する。
【図1】本発明の一実施例である半導体装置の断面図。
【図2】従来技術を説明するための半導体装置の断面
図。
図。
1、10 半導体装置 2、11 半導体チップ 3、13 ダイパッド 4、12 中継基板 5 中継基板載置部 6、14 リード 7、15 半導体チップと中継基板を結ぶワイヤ 8、16 中継基板とリードを結ぶワイヤ 9、17 樹脂封止部
Claims (1)
- 【請求項1】 半導体チップ、半導体チップの周囲に載
置された基板、基板の周囲に配されたリード、半導体チ
ップと基板とを配線する金属細線(以下ワイヤと記
す)、基板とリードとを配線するリードを有し、これら
を樹脂封止した半導体装置において、基板載置部分と半
導体チップの載置部分とを分離し、基板載置部が半導体
チップの載置部と同一平面上になく、半導体チップの電
極部側に接近していることを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3255429A JPH0595074A (ja) | 1991-10-02 | 1991-10-02 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3255429A JPH0595074A (ja) | 1991-10-02 | 1991-10-02 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0595074A true JPH0595074A (ja) | 1993-04-16 |
Family
ID=17278649
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3255429A Pending JPH0595074A (ja) | 1991-10-02 | 1991-10-02 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0595074A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7619168B2 (en) | 2005-08-18 | 2009-11-17 | Tdk Corporation | Flexible substrate, mounted structure, display unit, and portable electronic apparatus |
US20100258926A1 (en) * | 2005-09-30 | 2010-10-14 | FUJITSU SEMICONDUCTOR LIMITED (Formerly Fujitsu Microelectronics Limited) | Relay board and semiconductor device having the relay board |
-
1991
- 1991-10-02 JP JP3255429A patent/JPH0595074A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7619168B2 (en) | 2005-08-18 | 2009-11-17 | Tdk Corporation | Flexible substrate, mounted structure, display unit, and portable electronic apparatus |
US20100258926A1 (en) * | 2005-09-30 | 2010-10-14 | FUJITSU SEMICONDUCTOR LIMITED (Formerly Fujitsu Microelectronics Limited) | Relay board and semiconductor device having the relay board |
US8404980B2 (en) * | 2005-09-30 | 2013-03-26 | Fujitsu Semiconductor Limited | Relay board and semiconductor device having the relay board |
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