JPH0590919A - 自動スキユー校正装置 - Google Patents
自動スキユー校正装置Info
- Publication number
- JPH0590919A JPH0590919A JP4057443A JP5744392A JPH0590919A JP H0590919 A JPH0590919 A JP H0590919A JP 4057443 A JP4057443 A JP 4057443A JP 5744392 A JP5744392 A JP 5744392A JP H0590919 A JPH0590919 A JP H0590919A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- flip
- skew
- flop
- signals
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R35/00—Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
- G01R35/002—Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass of cathode ray oscilloscopes
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B60—VEHICLES IN GENERAL
- B60T—VEHICLE BRAKE CONTROL SYSTEMS OR PARTS THEREOF; BRAKE CONTROL SYSTEMS OR PARTS THEREOF, IN GENERAL; ARRANGEMENT OF BRAKING ELEMENTS ON VEHICLES IN GENERAL; PORTABLE DEVICES FOR PREVENTING UNWANTED MOVEMENT OF VEHICLES; VEHICLE MODIFICATIONS TO FACILITATE COOLING OF BRAKES
- B60T8/00—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force
- B60T8/32—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force responsive to a speed condition, e.g. acceleration or deceleration
- B60T8/34—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force responsive to a speed condition, e.g. acceleration or deceleration having a fluid pressure regulator responsive to a speed condition
- B60T8/48—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force responsive to a speed condition, e.g. acceleration or deceleration having a fluid pressure regulator responsive to a speed condition connecting the brake actuator to an alternative or additional source of fluid pressure, e.g. traction control systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Fluid Mechanics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Transportation (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Pulse Circuits (AREA)
- Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 多チャンネル信号源10の信号間のスキュー
を自動校正し、所望頻度で校正を繰り返すことができる
ようにする。 【構成】 1対のフリップ・フロップ18及び20の出
力信号を1対のラッチ22及び24がラッチしてスキュ
ー信号を発生する。このスキュー信号から、1対の信号
源12及び14のどちらの信号が進んでいるかわかる。
マイクロプロセッサ26は、スキュー信号を参照しなが
ら、進んでいる方の信号源を順次遅延させる。スキュー
信号が信号源からの信号の時間関係の変化を示したとき
の遅延制御信号の値から、マイクロプロセッサ26は、
校正すべき信号の遅延量を決定する。
を自動校正し、所望頻度で校正を繰り返すことができる
ようにする。 【構成】 1対のフリップ・フロップ18及び20の出
力信号を1対のラッチ22及び24がラッチしてスキュ
ー信号を発生する。このスキュー信号から、1対の信号
源12及び14のどちらの信号が進んでいるかわかる。
マイクロプロセッサ26は、スキュー信号を参照しなが
ら、進んでいる方の信号源を順次遅延させる。スキュー
信号が信号源からの信号の時間関係の変化を示したとき
の遅延制御信号の値から、マイクロプロセッサ26は、
校正すべき信号の遅延量を決定する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、多チャンネル信号源用
の自動的なスキュー校正の技術に関し、最も良い精度を
信号源が保つようにスキューを補正する装置に関する。
の自動的なスキュー校正の技術に関し、最も良い精度を
信号源が保つようにスキューを補正する装置に関する。
【0002】
【従来の技術】スキューは、信号源の基本的な時間に関
する特性であり、その校正は重要である。従来は、オシ
ロスコープのような外部装置で各信号源ごとに観測し
て、信号を手動で調整していた。複数の信号を時間に関
して並列にオシロスコープ上に表示し、信号間のスキュ
ーを校正するのである。
する特性であり、その校正は重要である。従来は、オシ
ロスコープのような外部装置で各信号源ごとに観測し
て、信号を手動で調整していた。複数の信号を時間に関
して並列にオシロスコープ上に表示し、信号間のスキュ
ーを校正するのである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】外部装置を必要とする
煩雑な手動による校正では時間がかかるので、すばやく
繰り返すことはできず、従って、手動での校正の間に信
号間にスキュー誤差が入り込んできてしまう。
煩雑な手動による校正では時間がかかるので、すばやく
繰り返すことはできず、従って、手動での校正の間に信
号間にスキュー誤差が入り込んできてしまう。
【0004】そこで、本発明は外部装置を必要とせず、
所望頻度で校正を繰り返すことができる自動スキュー校
正装置を提供することである。
所望頻度で校正を繰り返すことができる自動スキュー校
正装置を提供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、交差接続され
た1対のフリップ・フロップを含むスキュー信号発生回
路とマイクロプロセッサ(制御手段)を用いた多チャン
ネル信号源用の自動スキュー校正装置を提供する。1対
の信号源の出力信号を交差接続した形で1対のフリップ
・フロップに入力する。つまり、一方のフリップ・フロ
ップでは、第1信号源の出力信号がクロックとなり、第
2信号源の信号が入力信号となるとともに、他方のフリ
ップ・フロップでは第1信号源の出力信号が入力信号と
なり、第2信号源の信号がクロックとなる。
た1対のフリップ・フロップを含むスキュー信号発生回
路とマイクロプロセッサ(制御手段)を用いた多チャン
ネル信号源用の自動スキュー校正装置を提供する。1対
の信号源の出力信号を交差接続した形で1対のフリップ
・フロップに入力する。つまり、一方のフリップ・フロ
ップでは、第1信号源の出力信号がクロックとなり、第
2信号源の信号が入力信号となるとともに、他方のフリ
ップ・フロップでは第1信号源の出力信号が入力信号と
なり、第2信号源の信号がクロックとなる。
【0006】マイクロプロセッサは、フリップ・フロッ
プの出力信号を調べてどちらの信号が他に対して進んで
いるか決定し、進んでいる信号を順次調整し、各調整段
階でフリップ・フロップの出力信号を調べて、一方のフ
リップ・フロップ、よって他方のフリップ・フロップの
状態が変化するまで行う。フリップ・フロップが同じ状
態に保たれる時間間隔を2で割って、進んでいる信号の
時間が他方の信号と合致するようにする。または、一度
第1フリップ・フロップの状態が変わったら、進んでい
る信号を遅れた信号にしてしまい、次にどちらか1つフ
リップ・フロップの状態が変わるまで順次進めていく。
本来進んでいる信号源に対して適切なスキューの調整を
するためには、上述の第1フリップ・フロップの状態が
変化するのに要する時間間隔を平均すればよい。
プの出力信号を調べてどちらの信号が他に対して進んで
いるか決定し、進んでいる信号を順次調整し、各調整段
階でフリップ・フロップの出力信号を調べて、一方のフ
リップ・フロップ、よって他方のフリップ・フロップの
状態が変化するまで行う。フリップ・フロップが同じ状
態に保たれる時間間隔を2で割って、進んでいる信号の
時間が他方の信号と合致するようにする。または、一度
第1フリップ・フロップの状態が変わったら、進んでい
る信号を遅れた信号にしてしまい、次にどちらか1つフ
リップ・フロップの状態が変わるまで順次進めていく。
本来進んでいる信号源に対して適切なスキューの調整を
するためには、上述の第1フリップ・フロップの状態が
変化するのに要する時間間隔を平均すればよい。
【0007】
【実施例】図1には、多チャンネル信号源10を示して
おり、チャンネルA信号源12及びチャンネルB信号源
14は、それぞれチャンネルA及びB信号を出力する。
信号源12及び14は、それぞれスイッチSW1でチャ
ンネルA及びチャンネルB出力端に接続されるか、また
は校正回路16に接続される。1対の交差接続されたフ
リップ・フロップ18及び20の入力端は、それぞれ信
号源12及び14の出力端X及びYと接続されている。
X端は、第1フリップ・フロップ18のD入力端及び第
2フリップ・フロップ20のクロック入力端に接続さ
れ、Y端は、第1フリップ・フロップ18のクロック入
力端及び第2フリップ・フロップ20のD入力端に接続
されている。フリップ・フロップ18及び20のQ出力
信号A及びBをそれぞれラッチ22及び24に入力し、
これらラッチの出力信号をスキュー信号A及びBとす
る。校正回路(スキュー信号発生回路)16で発生する
これらスキュー信号は、入力信号X及びYの所定エッジ
の相対的な位置を示す。なお、以下、図中にあるFFと
は、すべてフリップ・フロップのことである。
おり、チャンネルA信号源12及びチャンネルB信号源
14は、それぞれチャンネルA及びB信号を出力する。
信号源12及び14は、それぞれスイッチSW1でチャ
ンネルA及びチャンネルB出力端に接続されるか、また
は校正回路16に接続される。1対の交差接続されたフ
リップ・フロップ18及び20の入力端は、それぞれ信
号源12及び14の出力端X及びYと接続されている。
X端は、第1フリップ・フロップ18のD入力端及び第
2フリップ・フロップ20のクロック入力端に接続さ
れ、Y端は、第1フリップ・フロップ18のクロック入
力端及び第2フリップ・フロップ20のD入力端に接続
されている。フリップ・フロップ18及び20のQ出力
信号A及びBをそれぞれラッチ22及び24に入力し、
これらラッチの出力信号をスキュー信号A及びBとす
る。校正回路(スキュー信号発生回路)16で発生する
これらスキュー信号は、入力信号X及びYの所定エッジ
の相対的な位置を示す。なお、以下、図中にあるFFと
は、すべてフリップ・フロップのことである。
【0008】マイクロプロセッサ(μP)26は、遅延
制御信号A及びBをそれぞれ信号源12及び14に供給
し、各信号源に信号遅延の絶対値を供給する。また、マ
イクロプロセッサ26は、スキュー校正信号をスイッチ
SW1に供給し、これによって、信号源12及び14か
らの信号をチャンネルA及びB出力端に供給するか、ま
たは、校正回路16に入力するかが決まる。そして、マ
イクロプロセッサ26は、フリップ・フロップ18及び
20の出力をラッチしてスキュー信号を作るために、サ
ンプル信号をクロック信号としてラッチ22及び24の
クロック入力端に供給するとともに、各スキュー信号を
マイクロプロセッサが取り込んで処理した後、ラッチを
りセットする。
制御信号A及びBをそれぞれ信号源12及び14に供給
し、各信号源に信号遅延の絶対値を供給する。また、マ
イクロプロセッサ26は、スキュー校正信号をスイッチ
SW1に供給し、これによって、信号源12及び14か
らの信号をチャンネルA及びB出力端に供給するか、ま
たは、校正回路16に入力するかが決まる。そして、マ
イクロプロセッサ26は、フリップ・フロップ18及び
20の出力をラッチしてスキュー信号を作るために、サ
ンプル信号をクロック信号としてラッチ22及び24の
クロック入力端に供給するとともに、各スキュー信号を
マイクロプロセッサが取り込んで処理した後、ラッチを
りセットする。
【0009】図2を参照すると、位置(1)で示すよう
にY信号の正の立ち上がりエッジがX信号の立ち上がり
エッジより進んでいるときには、第1フリップ・フロッ
プ18の出力信号Aが低レベルである一方で、第2フリ
ップ・フロップ20の出力信号Bは高レベルである。ま
た、位置(2)で示すようにY信号の正の立ち上がりエ
ッジがX信号の立ち上がりエッジより遅れているときに
は、第1フリップ・フロップ18の出力信号Aが高レベ
ルである一方で、第2フリップ・フロップ20の出力信
号Bは低レベルである。マイクロプロセッサ26がクロ
ックとしてサンプル信号をラッチ22及び24に供給す
ることにより、これら信号A及びBの値をラッチがそれ
ぞれ取込み、マイクロプロセッサへのスキュー信号A及
びBが発生する。または、ラッチ22及び24のクロッ
クであるサンプル信号を省略し、リセット信号がラッチ
をリセットした後の一定時間内にマイクロプロセッサ2
6がラッチの出力信号を読み込むようにする。
にY信号の正の立ち上がりエッジがX信号の立ち上がり
エッジより進んでいるときには、第1フリップ・フロッ
プ18の出力信号Aが低レベルである一方で、第2フリ
ップ・フロップ20の出力信号Bは高レベルである。ま
た、位置(2)で示すようにY信号の正の立ち上がりエ
ッジがX信号の立ち上がりエッジより遅れているときに
は、第1フリップ・フロップ18の出力信号Aが高レベ
ルである一方で、第2フリップ・フロップ20の出力信
号Bは低レベルである。マイクロプロセッサ26がクロ
ックとしてサンプル信号をラッチ22及び24に供給す
ることにより、これら信号A及びBの値をラッチがそれ
ぞれ取込み、マイクロプロセッサへのスキュー信号A及
びBが発生する。または、ラッチ22及び24のクロッ
クであるサンプル信号を省略し、リセット信号がラッチ
をリセットした後の一定時間内にマイクロプロセッサ2
6がラッチの出力信号を読み込むようにする。
【0010】図3で示すように、スキュー校正を始める
ときは、マイクロプロセッサ26がスイッチSW1にス
キュー校正信号を送り、これによって信号源12及び1
4の出力信号が校正回路16に供給される。マイクロプ
ロセッサ26からのサンプル信号によりラッチ22及び
24は、フリップ・フロップ18及び20の出力信号を
ラッチしてスキュー信号A及びBを発生する。スキュー
信号A及びBに基づいて、X又はY信号(進んでいる方
の信号)に対応する遅延制御信号CTLの遅延量を増加
させるために、遅延制御信号A又はBのどちらか適当な
遅延制御信号の遅延量を順次増加させる。マイクロプロ
セッサ26は、ラッチ22及び24をリセットしてフリ
ップ・フロップ18及び20の出力信号A及びBを再び
取込み、進んでいる信号源を順次遅延させていくと、ど
ちらのフリップ・フロップの状態が変化するかが決ま
る。フリップ・フロップ18及び20の一方の状態が変
化するまでこの処理を繰り返して、変化が起こったとき
の遅延制御信号CTLの値を第1遅延値T1として記録
する。遅延制御信号CTLの値として、遅延信号AとB
を入れ替えて、上述と同じ処理においてフリップ・フロ
ップ18及び20の他方の状態が変化を起こすまで引き
続き用いられる。変化が起こったときの遅延制御信号C
TLの値を、第2遅延値T2として記録する。マイクロ
プロセッサ26は、次にT1とT2の中間点を決め、こ
の値を遅延制御信号CTLに設定し、スキューの校正が
完成する。
ときは、マイクロプロセッサ26がスイッチSW1にス
キュー校正信号を送り、これによって信号源12及び1
4の出力信号が校正回路16に供給される。マイクロプ
ロセッサ26からのサンプル信号によりラッチ22及び
24は、フリップ・フロップ18及び20の出力信号を
ラッチしてスキュー信号A及びBを発生する。スキュー
信号A及びBに基づいて、X又はY信号(進んでいる方
の信号)に対応する遅延制御信号CTLの遅延量を増加
させるために、遅延制御信号A又はBのどちらか適当な
遅延制御信号の遅延量を順次増加させる。マイクロプロ
セッサ26は、ラッチ22及び24をリセットしてフリ
ップ・フロップ18及び20の出力信号A及びBを再び
取込み、進んでいる信号源を順次遅延させていくと、ど
ちらのフリップ・フロップの状態が変化するかが決ま
る。フリップ・フロップ18及び20の一方の状態が変
化するまでこの処理を繰り返して、変化が起こったとき
の遅延制御信号CTLの値を第1遅延値T1として記録
する。遅延制御信号CTLの値として、遅延信号AとB
を入れ替えて、上述と同じ処理においてフリップ・フロ
ップ18及び20の他方の状態が変化を起こすまで引き
続き用いられる。変化が起こったときの遅延制御信号C
TLの値を、第2遅延値T2として記録する。マイクロ
プロセッサ26は、次にT1とT2の中間点を決め、こ
の値を遅延制御信号CTLに設定し、スキューの校正が
完成する。
【0011】または、図4に示すように、遅延制御信号
CTLが第1遅延値T1に決まったら、信号源12及び
14の内の本来進んでいる方の信号源を明らかに遅ら
せ、この遅延をフリップ・フロップ18及び20の状態
で示せれるように、遅延制御信号CTLを調整する。そ
して、フリップ・フロップ18及び20の一方の状態が
変化するまで、遅延遅延制御信号CTLにより遅延量を
順次減少させ、この変化したときの遅延制御信号CTL
の値を第2遅延値T2として記録する。次に、遅延制御
信号CTLの値を上述のようにT1とT2の平均に設定
する。これは、図3の処理を改良したもので、それは、
図5に示すようにフリップ・フロップ装置のなかには、
遅延制御信号CTLが遅延が増加又は減少するかの方向
によってその状態変化にある有限な時間差を有するもの
があるためである。このようなフリップ・フロップ装置
を図3の処理に用いると極端な場合には、T2’が平均
をとるための第2遅延値になって、反対方向から処理を
行った場合のT2よりも大きな値となり、さらには、遅
延値T1’はT2’よりさえも大きくなってしまう。そ
れゆえ、図4の処理は、装置の特性のばらつき補償する
もので、可能な限り最良の平均値を遅延制御信号CTL
に設定し、2つの信号源12及び14間の実際のスキュ
ーを最小にできるよう考慮されている。
CTLが第1遅延値T1に決まったら、信号源12及び
14の内の本来進んでいる方の信号源を明らかに遅ら
せ、この遅延をフリップ・フロップ18及び20の状態
で示せれるように、遅延制御信号CTLを調整する。そ
して、フリップ・フロップ18及び20の一方の状態が
変化するまで、遅延遅延制御信号CTLにより遅延量を
順次減少させ、この変化したときの遅延制御信号CTL
の値を第2遅延値T2として記録する。次に、遅延制御
信号CTLの値を上述のようにT1とT2の平均に設定
する。これは、図3の処理を改良したもので、それは、
図5に示すようにフリップ・フロップ装置のなかには、
遅延制御信号CTLが遅延が増加又は減少するかの方向
によってその状態変化にある有限な時間差を有するもの
があるためである。このようなフリップ・フロップ装置
を図3の処理に用いると極端な場合には、T2’が平均
をとるための第2遅延値になって、反対方向から処理を
行った場合のT2よりも大きな値となり、さらには、遅
延値T1’はT2’よりさえも大きくなってしまう。そ
れゆえ、図4の処理は、装置の特性のばらつき補償する
もので、可能な限り最良の平均値を遅延制御信号CTL
に設定し、2つの信号源12及び14間の実際のスキュ
ーを最小にできるよう考慮されている。
【0012】上述のように本発明は、交差接続したフリ
ップ・フロップとマイクロプロセッサを用いて、多チャ
ンネル信号源のどの信号が他に対して進んでいるか決定
し、次に進んでいる信号の遅延量を2つの信号が時間的
に合致するまで自動的に調整して信号間のスキューを補
正する。
ップ・フロップとマイクロプロセッサを用いて、多チャ
ンネル信号源のどの信号が他に対して進んでいるか決定
し、次に進んでいる信号の遅延量を2つの信号が時間的
に合致するまで自動的に調整して信号間のスキューを補
正する。
【0013】
【発明の効果】本発明の装置によれば、マイクロプロセ
ッサでスキュー校正処理を制御できるので、操作者の操
作を必要としないで、校正を中断なしに所望頻度で行う
ことができる。操作者は、単に自動スキュー校正の頻度
を入力する、または、手動で校正処理を初期化するだけ
でよい。よって、最小限の操作で、スキューを校正し続
けることができる。
ッサでスキュー校正処理を制御できるので、操作者の操
作を必要としないで、校正を中断なしに所望頻度で行う
ことができる。操作者は、単に自動スキュー校正の頻度
を入力する、または、手動で校正処理を初期化するだけ
でよい。よって、最小限の操作で、スキューを校正し続
けることができる。
【図1】本発明による一実施例の多チャンネル信号源の
図である。
図である。
【図2】図1のX及びY端子の信号並びにフリップ・フ
ロップ18及び20のQ出力信号の時間関係を示す図で
ある。
ロップ18及び20のQ出力信号の時間関係を示す図で
ある。
【図3】本発明による校正のフローチャートである。
【図4】図3の改良した部分を示す本発明によるフロー
チャートである。
チャートである。
【図5】図3に示したフローチャートを用いたときのフ
リップ・フロップ装置の特性のばらつきによる時間関係
について示した図である。
リップ・フロップ装置の特性のばらつきによる時間関係
について示した図である。
10 多チャンネル信号源 12 チャンネルA信号源 14 チャンネルB信号源 16 校正回路 18 第1フリップ・フロップ 20 第2フリップ・フロップ 22 第1ラッチ 24 第2ラッチ 26 マイクロプロセッサ
Claims (1)
- 【請求項1】 多チャンネル信号源からの入力信号間の
スキューを自動校正する装置であって、 第1及び第2フリップ・フロップと、 制御手段とを具え、 上記多チャンネル信号源からの2つの上記入力信号の一
方を上記第1フリップ・フロップのD入力端及び上記第
2フリップ・フロップのクロック入力端に供給し、上記
2つ入力信号の他方を上記第1フリップ・フロップのク
ロック端及び上記第2フリップ・フロップのD入力端に
供給し、上記制御手段は、上記第1及び第2フリップ・
フロップの出力信号に従って上記多チャンネル信号源の
少なくとも1つの信号源の遅延量を変えて上記2つの入
力信号の時間関係を順次変え、上記遅延量に応じた第1
及び第2フリップ・フロップの出力信号の変化を検出し
て上記遅延量を決定することを特徴とする自動スキュー
校正装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/652,968 US5384781A (en) | 1991-02-11 | 1991-02-11 | Automatic skew calibration for multi-channel signal sources |
US652968 | 1991-02-11 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0590919A true JPH0590919A (ja) | 1993-04-09 |
Family
ID=24618962
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4057443A Pending JPH0590919A (ja) | 1991-02-11 | 1992-02-10 | 自動スキユー校正装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5384781A (ja) |
EP (1) | EP0499174B1 (ja) |
JP (1) | JPH0590919A (ja) |
DE (1) | DE69206006T2 (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE69723216T2 (de) * | 1996-12-06 | 2004-06-03 | Nec Corp. | Schaltung zum Einstellen eines Verzögerungsunterschiedes und Phaseneinsteller |
DE19861243B4 (de) * | 1997-07-01 | 2006-02-09 | Agilent Technologies, Inc. (n.d.Ges.d.Staates Delaware), Palo Alto | Entprellschaltung |
US6158030A (en) * | 1998-08-21 | 2000-12-05 | Micron Technology, Inc. | System and method for aligning output signals in massively parallel testers and other electronic devices |
US6466626B1 (en) | 1999-02-23 | 2002-10-15 | International Business Machines Corporation | Driver with in-situ variable compensation for cable attenuation |
US6294937B1 (en) | 1999-05-25 | 2001-09-25 | Lsi Logic Corporation | Method and apparatus for self correcting parallel I/O circuitry |
US6557066B1 (en) | 1999-05-25 | 2003-04-29 | Lsi Logic Corporation | Method and apparatus for data dependent, dual level output driver |
US6525577B2 (en) | 2000-12-08 | 2003-02-25 | International Business Machines Corporation | Apparatus and method for reducing skew of a high speed clock signal |
US6617901B1 (en) | 2001-04-27 | 2003-09-09 | Cypress Semiconductor Corp. | Master/dual-slave D type flip-flop |
ATE339810T1 (de) * | 2001-12-20 | 2006-10-15 | Bhavik Amin | Versatzverzögerungskompensator |
US20050132087A1 (en) * | 2003-12-12 | 2005-06-16 | Lech Glinski | Method and apparatus for video signal skew compensation |
US7587640B2 (en) * | 2005-09-27 | 2009-09-08 | Agere Systems Inc. | Method and apparatus for monitoring and compensating for skew on a high speed parallel bus |
US8385172B2 (en) | 2010-08-12 | 2013-02-26 | Mediatek Inc. | Method for recording critical patterns with different mark lengths onto optical storage medium and related controller thereof |
CN105738848B (zh) * | 2014-12-08 | 2019-10-18 | 华润矽威科技(上海)有限公司 | 一种自校准电路和自校准方法 |
WO2017144087A1 (en) * | 2016-02-23 | 2017-08-31 | Advantest Corporation | Method and device for calibrating an automated test equipment |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5614727A (en) * | 1979-07-18 | 1981-02-13 | Hitachi Ltd | Phase comparator of digital pll circuit |
JPS61161419A (ja) * | 1985-01-11 | 1986-07-22 | Sony Corp | ロ−タリ−エンコ−ダの取り込み回路 |
JPS6342224A (ja) * | 1986-08-07 | 1988-02-23 | Nec Corp | 遅延回路 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3230350A (en) * | 1961-12-05 | 1966-01-18 | Coleman Engineering Company In | Skew compensating system |
US3728679A (en) * | 1971-10-21 | 1973-04-17 | Weston Instruments Inc | Skew device |
US3976940A (en) * | 1975-02-25 | 1976-08-24 | Fairchild Camera And Instrument Corporation | Testing circuit |
US4357702A (en) * | 1980-11-28 | 1982-11-02 | C.N.R., Inc. | Error correcting apparatus |
US4477845A (en) * | 1982-02-22 | 1984-10-16 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Dynamic skew correction for multichannel analog recording |
US4542505A (en) * | 1983-11-14 | 1985-09-17 | Burroughs Corporation | Adjustable system for skew comparison of digital signals |
US4637018A (en) * | 1984-08-29 | 1987-01-13 | Burroughs Corporation | Automatic signal delay adjustment method |
US4700346A (en) * | 1985-05-10 | 1987-10-13 | Tandem Computers Incorporated | Self-checking, dual railed, leading edge synchronizer |
-
1991
- 1991-02-11 US US07/652,968 patent/US5384781A/en not_active Expired - Lifetime
-
1992
- 1992-02-10 JP JP4057443A patent/JPH0590919A/ja active Pending
- 1992-02-10 EP EP92102182A patent/EP0499174B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-02-10 DE DE69206006T patent/DE69206006T2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5614727A (en) * | 1979-07-18 | 1981-02-13 | Hitachi Ltd | Phase comparator of digital pll circuit |
JPS61161419A (ja) * | 1985-01-11 | 1986-07-22 | Sony Corp | ロ−タリ−エンコ−ダの取り込み回路 |
JPS6342224A (ja) * | 1986-08-07 | 1988-02-23 | Nec Corp | 遅延回路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69206006D1 (de) | 1995-12-21 |
EP0499174A1 (en) | 1992-08-19 |
US5384781A (en) | 1995-01-24 |
DE69206006T2 (de) | 1996-07-25 |
EP0499174B1 (en) | 1995-11-15 |
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