JPH0588774B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は回転機械の軸受として多用されてい
るころがり軸受（以下単に軸受と記する）の異常
を、機械の運転中に精度良く診断するための装置
に関する。

〔従来の技術〕

この種の装置として、ビエゾ素子を用いて振動
加速度を検出し、その自乗平均平方根値（以下
RMS値という）または尖頭値（以下ピーク値と
いう）を評価の尺度とするものが既に市販されて
いる。しかしながら軸受の欠陥の態様によつて振
動加速度の波形が著しく異なるため、単純な
RMS値またはピーク値のみの表示では精度のよ
い診断は出来ない。診断精度を上げるには、波形
処理等によつて欠陥の種類を弁別し、別に定めた
欠陥の種類毎の判定レベルにより診断するのが正
統でかつ信頼性も高いが、相当容量の情報処理装
置を必要とする関係上、高級技術者の介在を見ね
ばならず、また可搬型とすることが困難なため、
現場における診断には不適当である。診断精度を
上げる他の方法として、欠陥種類の相違、すなわ
ち波形の相違による補正を行つた振動レベルを表
示して、このレベル表示のみにて診断する方法が
考えられるが、現場における診断には向くものの
補正の量を決定するためのノウハウが必要であ
り、かつそのノウハウも理論的に明確なものでは
なく、対症療法的な経験則に基づくものであるた
め、汎用的な装置としての実現は見ていない。

そこで、これらの従来技術の有する欠点を除去
して、 (イ) 波形分析をする必要がなく、従つて大容量の
情報処理装置を具備せずに済み、その結果とし
可搬性のある装置を提供すること。

(ロ) 計器の指示する値のみで良否の判断ができ、
従つて初級技術者でも診断が可能な装置を提供
すること。

(ハ) 欠陥の種類によらずに精度の良い診断を行な
い得る装置を提供すること。

を主たる目的とし、この目的を達成するため、数
多くのこの種の診断データから波形による評価レ
ベルの相違を考慮した。新しい診断尺度を導入す
ることを特徴としたころがり軸受異常診断装置が
既に提案されている（特公昭61−57491）。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかし、このころがり軸受異常診断装置は、 １ 従来下記する装置が一般的に知られている。
すなわち、診断対象軸受の近傍に設置した加速
度検出器２で検出した軸受から発生する振動波
形をフイルタを通過させて1kHz以上10kHz以下
の高周波振動の固体音を検出してこれによつて
ころがり軸受異常診断をしているため、この周
波数帯域に診断対象のころがり軸受で軸支され
る軸上の歯車のかみあい周波数などによる外乱
振動がノイズとして混入する場合は診断の誤差
要因になるという問題がある。

２ 第２図は診断の対象となるころがり軸受３０
の断面図でａは玉軸受の断面図、ｂは円筒ころ
軸受の断面図である。この軸受３０の内輪３
２，転動体３４，外輪３６に発生する損傷部位
のきず３８は、従来軸受３０の幾何学的形状、
すなわち転動体３４の直径：ｄ，転動体３４の
ピツチ径：Ｄ，転動体３４の接触角：α（α〓
0゜），転動体34の個数Ｚと、内輪32の公称毎秒
回転数：fsnとから次式で計算される結果と、
包絡線検波回路による包絡線波形スペクトルと
を対比させることで、そのきず３８の損傷部位
を判別している。

(1) 内輪軌道面に損傷がある場合の発生周波数_{i i} ＝f_so／２（１＋ｄ／Ｄcosα）Ｚ（Hz）…(1) (2) 外輪軌道面に損傷がある場合の発生周波数_{p p} ＝f_so／２（１−ｄ／Ｄcosα）Ｚ（PH）…(2) (3) 転動体に損傷がある場合の発生周波数_{b b} ＝f_so／２・Ｄ／ｄ 〔１＋（ｄ／Ｄ）²cos²α〕Ｚ （Hz）…(3) 前記の式(1)，(2)，(3)では公称内輪回転数f_soを
あらかじめ本装置と別の装置で測定するか、電動
機に表示された値から求めた値を使用して計算す
るため、本装置による診断時の内輪の実回転数f_s
と若干違う場合がある。例えば誘導電動機におい
ては負荷の大小によつてすべりが異なるため、実
際の内輪回転数f_sと電動機に表示された値から求
めた値f_soと異なることがある。このため、_i，
_p，_bが正確に演算できず、損傷部位を検知でき
ないことがあるという問題がある。

本発明は、前記の従来装置の問題点を解決し
て、 １ 通過させる信号の信号通過帯域が可変である
可変フイルタを使用し、加速度検出器からの電
気信号に混入する軸受の固体音に基づく振動以
外の外乱振動のノイズを除去し、 ２ 包絡線波形のスペクトル分析に合せて、内輪
の実回転数が測定され、これを使用して正確な
演算ができて、損傷部位が正確に検知できる、
ころがり軸受異常診断装置を提供することを目
的とする。

〔問題点を解決するための手段〕

前記の問題点を解決するために、本発明は、こ
ろがり軸受に設置され、ころがり軸受より発生す
る固体音を加速度信号の形で電気信号に変換し出
力する加速度検出器と、診断に必要な周波数帯の
みを前記電気信号成分より取り出すフイルタと、
このフイルタを通過した波形の包絡線の波形を得
る包絡線検波回路と、この包絡線検波回路より出
力される包絡線波形の自乗平均平方根値を得る自
乗平均平方根値算出回路と、前記包絡線波形の尖
頭値を得る尖頭値算出回路と、前記自乗平均平方
根値および尖頭値より、 Ｑ＝Vrms×Vpeak×（ａ｜Vpeak／Vrms−５｜＋ｂ〕 但しVrms ；自乗平均平方根値 Vpeak；尖頭値 ａ，ｂ ；定数 を演算するＱ値演算回路とを備えたころがり軸受
異常診断装置において、 イ 前記のフイルタは通過させる信号の信号通過
帯域をフイルタ制御回路の制御によつて可変の
可変フイルタと、 ロ 前記の可変フイルタからの出力と前記の包絡
線検波回路からの出力とを後記する中央処理回
路からの信号によつて周波数分析回路に切換え
入力するとともに分析帯域を変更する周波数分
析制御回路と ハ 前記の周波数分析回路の出力と後記する中央
処理回路からの信号によつて表示回路を制御し
て表示するスペクトルを選択表示させるスペク
トル制御回路と、 ニ 診断対象ころがり軸受の名称，幾何学的形
状，公称内輪回転数などを入力する診断条件入
力回路と、 ホ 前記のフイルタ制御回路，Ｑ値演算回路，周
波数分析制御回路，周波数分析回路，スペクト
ル制御回路，診断条件入力回路および表示回路
と連結して相互に信号の伝送を行う中央処理回
路と、 ヘ 前記の中央処理回路に付設する記憶回路，デ
ータ出力回路，マイクロプリンタとを備え、 表示回路に表示されるＱ値の判定結果，損傷部
位の表示内容からころがり軸受の良否，きず，欠
陥の発生部位を診断できるものとする。

〔作用〕

本発明は、装置に備えた診断条件入力回路に、
診断対象軸受の名称，幾何学的形状，公称内輪回
転数などを入力すれば、同じく装置に備えた中央
処理回路は記憶回路，データ出力回路，マイクロ
プリンタを付設しており、記憶回路に記憶された
診断アルゴリズムに従つて中央処理回路が装置の
フイルタ制御回路，周波数分析回路，スペクトル
制御回路および表示回路を制御し、装置のＱ値演
算回路，周波数分析回路からのデータを取り込ん
で対象軸受の自動診断を行う。すなわち、対象軸
受の近傍に設置された加速度検出器によつて回転
中の対象軸受から発生する固体音を検出し、これ
に波形処理と演算を加えてＱ値を求め、一方周波
数スペクトルを得、Ｑ値の判定結果，損傷部位を
表示回路に表示するようにしたため、これによつ
て対象軸受の損傷の程度や損傷の部位が分る。

本発明においては、フイルタ制御回路によつて
可変フイルタを制御して信号通過帯域を可変とし
て、例えば歯車かみあい周波数などの軸受異常診
断に無関係な外乱を除去し、さらに軸受内輪の回
転数を従来公称回転数を使用していたのに代え
て、測定結果から実際の回転数を求めこれを演算
に使用するようにしたため、従来例に較べて診断
結果の精度が向上する。

〔実施例〕

本発明の実施例を第１図に示す。また第２図は
診断の対象となるころがり軸受３０を示す断面図
で、軸受部品として内輪３２，転動体３４，外輪
３６からなり、ａは玉軸受，ｂは円筒ころ軸受を
示し、また３８はきずを示す。

第１図によつて、本発明の構成と動作について
説明する。加速度検出器２は、診断対象の軸受３
０の近傍に接触させて、軸受３０から発生する固
体音を振動加速度（Ｇ）の形で電気信号として検
出する。軸受３０の固体音は1kHz以上10kHz以下
の高周波振動であつて、この帯域での高周波応答
特性の良好なピエゾ素子が加速度検出器２に用い
られる。この加速度検出器２で検出した電気信号
には、従来例と同じく軸受３０以外から生じる振
動成分も含まれているため、本発明の、通過させ
る信号の信号通過帯域をフイルタ制御回路の制御
によつて可変フイルタ６により前記の信号を通過
させて診断に不要な成分やノイズを除去する。

第３図は本発明によるころがり軸受異常診断装
置の動作を説明するための各種波形図である。第
３図Ａは、代表的な例として軸受３０の外輪３６
に傷３８のある場合の加速度検出器２で検出した
原波形を示すもので、横軸に時間（単位；10^-3
秒：msec）、縦軸に振動加速度（Ｇ）をとつてあ
る。第３図Ｂは、第３図Ａの原波形の周波数スペ
クトルを示したもので、振動の主成分が1.63kHz
であることが分る。一方第３図Ｅは第３図Ｂと同
じく第３図Ａの原形波の周波数スペクトルを示し
たもので、歯車のかみあい周波数が3.78kHz
（30cps×126歯）、〔cpsはcycles per second〕に
現われた例を示している。

加速度検出器２で検出した振動の電気信号に
は、軸受３０以外から生じる振動成分も含まれる
ので、これを除去するため可変フイルタ６で、 １ 通常は1kHz以下と10kHz以上の振動を除去
し、軸受高周波振動のみ抽出する。このため通
常は可変フイルタ６はフイルタ制御回路４によ
つて、ローパスフイルタ（以下LPフイルタと
記す）を10kHzに、ハイパスフイルタ（以下
HPフイルタと記す）を1kHzにセツトされてい
る。

２ 後記する表示回路２８で、前記の第３図Ｅの
ように3.78kHzのところに軸受高周波振動以外
の卓越スペクトルが現われる場合は、例えば歯
車かみあい周波数3.78kHzを除去するために、
フイルタ制御回路４によつて可変フイルタ６を
1.63kHzを中心とした狭帯域バンドパスフイル
タにセツトし、1.63kHz成分以外の振動成分を
除去する。なおこの可変フイルタ６は帯域を連
続可変としている。

前記の可変フイルタ６からの出力は包絡線検波
回路８に入力される。ここでは軸受３０の振動に
含まれる損傷による振動を抽出する。すなわち軸
受３０の振動の主成分は1kHz以上の高周波振動
であるが、この高周波振動は軸受３０の転動面や
転動体３４にきず３８などの損傷が現われると、
低周波（500Hz以下）成分で変調される。この低
周波振動は損傷の種類によつて、振動のレベルや
周波数を変えるため、包絡線検波方式による信号
処理（復調）を行つて、軸受診断に使用する。第
３図Ｃは第３図Ａの包絡線波形を示している。

次に軸受の損傷の程度を表わすＱ値を計算する
ため、自乗平均平方根値算出回路１０（以下
RMS値算出回路１０と記す）に包絡線検波回路
８から入力されて、ここで包絡線波形の0.1秒間
の実効値であるRMS値；Vrmsを算出する。また
包絡線検波回路８から尖頭値算出回路１２（以下
ピーク値算出回路１２と記す）に入力されて、こ
こで包絡線波形の0.1秒間の最高値である尖頭値
（以下ピーク値と記す）：Vpeakを算出する。こ
れらのRMS値算出回路１０とピーク値算出回路
１２とには市販のIC化された専用演算素子を用
いている。

Ｑ値演算回路１４には、RMS値算出回路１０
からVrmsが、ピーク値算出回路１２からVpeak
が入力され、次式に従つて診断尺度のＱ値の計算
がなされる。

Ｑ＝Vrms×Vpeak×〔ａ｜Vpeak／Vrms−５｜＋ｂ〕…
(4) 但し(4)式においてVrmsは包絡線波形のRMS
値、Vpeakは包絡線波形のPeak（ピーク）値、
ａ，ｂは定数である。

Ｑ値算出回路１４で算出したＱ値は、後記する
中央処理回路２４に入力する。

一方、前記の可変フイルタ６からの信号と、前
記の包絡線検波回路８からの信号と、後記する中
央処理回路２４からの信号によつて周波数分析制
御回路１６が周波数分析回路１８を制御してい
る。この周波数分析回路１８では、中央処理回路
２４の指令に従つて次の周波数分析が行われる。

１ 包絡線検波回路８からの前記の第３図Ｃに示
す包絡線波形を周波数分析して、第３図Ｄに示
す周波数スペクトルが求められる。第３図Ｄは
第３図Ｃの包絡線波形の周波数スペクトルを示
したもので、図中の卓越成分（78，156，211，
233，389，467Hz）は外輪３６のきず３８によ
つて生じた周波数スペクトルである。また周波
数分析した結果のその周波数スペクトルを中央
処理回路２４に入力し、前記の従来例において
説明した損傷部位に該当した周波数_i，_p，_b
の卓越成分を抽出する。

２ 軸受３０から検出した加速度信号には、この
軸受３０で軸支されて回転するロータの不釣合
による振動成分を必ず含んでいるが、この成分
は内輪３２の回転数f_sに一致している。可変フ
イルタ６からの出力波形を周波数分析回路１８
で周波数分析し、その周波数スペクトルを中央
処理回路２４に入力し、この内輪３の回転数f_s
が決定される。ただしこの場合可変フイルタ６
の信号通過帯域をf_sにセツトする必要がある。

３ 通常可変フイルタ６はLPフイルタを10kHz
に、HPフイルタを1kHzにセツトして軸受３０
の診断を行うが、この帯域は従来例の固定され
た帯域のフイルタによるものと同じ帯域である
が、第３図Ｅのように軸受３０の高周波振動
（1.63kHz成分）以外に3.78kHzの外乱成分を含
む場合、この外乱成分を除去するためにはフイ
ルタ制御回路４によつて可変フイルタ６の特性
を変えなければならない。このため可変フイル
タ６からの出力波形を周波数分析回路１８で周
波数分析し、第３図Ｂや第３図Ｅの周波数スペ
クトルを後記する表示回路２８に表示させて、
外乱成分を認識し可変フイルタ６の特性を変え
る。

周波数分析制御回路１６は中央処理回路２４か
らの指令に従つて、可変フイルタ６からの信号と
包絡線検波回路８からの信号を切換えて周波数分
析回路１８に出力し、同時に周波数分析回路１８
の分析帯域も変える。例えば前記の１）の損傷部
位に該当した周波数_i，_p，_bの卓越成分を抽出
する分析をする場合は、包絡線検波回路８からの
信号に切換え、分析帯域を500Hzにする。前記２）
の内輪３２の回転数f_sを分析する場合は、後記す
る診断条件入力回路２２で入力した対象軸受３０
の内輪３２の公称回転数f_soに合わせてフイルタ
制御回路４の中心周波数をこの公称回転数f_soに
セツトし、周波数分析回路１８の分析帯域を公称
回転数f_soの２倍の2f_soにセツトする。また可変フ
イルタ６からの信号を入力し、内輪３２の真の回
転数f_sを分析する。

前記３）の外乱成分について分析する場合は、
信号は可変フイルタ６からの信号を入力し、分析
帯域を10kHzにする。この場合周波数分析回路１
８の周波数スペクトルは、表示回路２８を制御し
て表示するスペクトルを選択表示させるスペクト
ル制御回路２０の指令に従つて、第３図Ｂや第３
図Ｅの波形を表示回路２８に表示する。

中央処理回路２４は診断アルゴリズムに従つ
て、フイルタ制御回路４と周波数分析制御回路１
６とスペクトル制御回路２０と表示回路２８とを
制御するとともに、Ｑ値演算回路１４からのＱ値
データ，周波数分析回路１８からの周波数スペク
トルのデータ，診断条件入力回路２２からの診断
対象軸受データである対象軸受名称，幾何学的形
状，公称内輪回転数f_soなどのデータを使用して
対象軸受の異常を自動診断する。また、記憶回路
２５のRAMに記憶したデータは、中央処理回路
２４を介してデータ出力回路２６から出力され外
部の大形コンピユータシステムなどに入力するこ
とができる。このデータ出力回路２６にはGP−
IB（形式名）やRS232C（形式名）などのLSIを使
用する。また表示回路２８に表示される診断結果
や周波数スペクトルはマイクロプリンタ２７によ
つてプリントできる。なお中央処理回路２４に
は、市販のマイクロセンタプロセツサユニツト
（μCPU）を使用し、診断アルゴリズムは記憶回
路２５のROMに記憶する。中央処理回路２４の
機能は、 １ 診断を始める前に、診断条件入力回路２２か
ら入力された診断対象軸受の名称，JISによる
軸受分類形式，前記の第２図に示す転動体３４
の直径ｄ，転動体３４のピツチ径Ｄ，転動体３
４の個数Ｚ，転動体３４の接触角αなどの幾何
学的形状のデータ，公称内輪回転数f_soを記憶
回路２５のRAMに記憶する。

２ 実機内輪回転数f_sを測定するため、公称内輪
回転数f_soに従つてフイルタ制御回路４と周波
数分析制御回路１６をセツトし、周波数分析回
路１８からの周波数スペクトルを中央処理回路
２４に取込む。この周波数スペクトルと公称内
輪回転数f_soとを対比させて、f_so近傍の卓越ス
ペクトルを検出し、その周波数から実際の内輪
３２の回転数f_sを検知して、記憶回路２５の
RAMに記憶する。

３ 診断を行うため、フイルタ制御回路４をLP
フイルタを10kHzに、HPフイルタを1kHzにセ
ツトし、周波数分析制御回路１６の制御によつ
て包絡線検波回路８からの信号を周波数分析回
路１８に取り込み、分析周波数帯域を500Hzに
セツトする。次にＱ値演算回路１４からのＱ値
データを中央処理回路２４に取り込み、記憶回
路２５のROMにあらかじめ記憶した判定基準
と対比させ、軸受３０の良否を判定する。この
基準は実験から決めたもので、Ｑが10以下は良
好、10から50までが注意、50以上は危険と判定
する。

また同時に周波数分析回路１８からの周波数ス
ペクトルを中央処理回路２４に取り込み、損傷部
位に該当する_i，_p，_bの有無を調べる。この抽
出は、先に２）によつて検知した内輪３２の実際
の回転数f_sと、あらかじめ入力した軸受３０の幾
何学的形状から、前記の〔発明が解決しようとす
る問題点〕の項で記載した式(1)，(2)，(3)にf_soの
代りにf_sを使用して演算した_i，_p，_bと周波数
スペクトルとを対比させて、_i，_p，_bに相当す
る卓越したスペクトルを抽出する。

Ｑ値の判定結果と損傷部位とは表示回路２８に
表示され、作業者はこの表示内容からころがり軸
受３０の良否（良好，注意，危険）、きず３８，
欠陥の発生部位を診断することができる。このよ
うにしてたとえば (1) Ｑ値が良好で_i，_p，_bも無ければころがり
軸受は良好と診断。

(2) Ｑ値が良好でも_i，_p，_bの何れかが現われ
た場合は注意と診断、その後の診断周期を短縮
する。

(3) Ｑ値が注意あるいは交換の状態と判定されて
も、_i，_p，_bが何れも無ければ、グリース切
れもしくは均一な通常の摩耗が進展しているも
のと診断。

(4) 一方前記の(3)の要因がなく、Ｑ値のみが高い
場合は、ころがり軸受は正常であるが、軸受以
外の外乱によるものと診断。

(5) 前記の(2)より状態が悪化して、Ｑ値が注意あ
るいは交換と判定され、_i，_p，_bの何れかが
現われた場合、_iならば内輪、_pならば外輪、
_bならば転動体というように損傷の部位が診断
できる。

(6) 一方、前記の(3)のようにＱ値のみが高く注意
あるいは交換の状態と判定され、_i，_p，_bが
何れも無く、他の外乱によるものと思われる場
合は、スペクトル制御回路２０に原波形の周波
数スペクトル表示を指定し、第３図Ｂや第３図
Ｅのような周波数スペクトルを表示回路２８に
表示させることができる。この表示がもし第３
図Ｂのように正常なスペクトルで外乱が無けれ
ば、前記の(3)のようにグリース切れもしくは均
一な通常の摩耗が進展しているものと診断が確
定できる。しかし第３図Ｅのようなスペクトル
であれば、3.78kHzの外乱によりＱ値が高くな
つたものと断定できる。この場合は第３図Ｅか
ら読み取つた軸受３０の高周波振動数1.63kHz
を、診断条件入力回路２２から入力し、フイル
タ制御回路４で可変フイルタ６の特性を狭帯域
にセツトし、3.78kHz成分を除去し、再診断を
行いこれによつて軸受高周波振動の振動波形デ
ータだけで正確な軸受３０の異常診断を行うこ
とができる。

前記の診断結果によつて、良好の場合はそのま
ま運転を継続し、注意であれば診断周期を短縮
し、交換の場合はその損傷の部位によつて、可能
の場合は軸受部品を交換し、あるいは軸受自体を
交換するなどの処置をとることができ、軸受の破
損による当該機械の重大な事故を未然に防止する
ことができる。

〔発明の効果〕

本発明は、装置に備えた診断条件入力回路に診
断対象軸受の名称，形状，回転数などを入力すれ
ば、同じく装置に備えた中央処理回路が装置の制
御回路を制御し、分析，演算のデータを取り込ん
で、対象軸受の自動診断を行い、結果を表示回路
に表示するようにしたため、これによつて対象軸
受の損傷の程度や損傷の部位が分る。

また本発明によれば、 １ 狭帯域の可変フイルタで信号通過帯域を可変
とし、軸受高周波振動以外の外乱を除去できる
ようにしたため、診断精度の向上とともに、診
断対象機種を拡大することができる。

２ 特別な準備を必要とせず簡単に実機の内輪回
転数を計測できるようにしたため、損傷の部位
の診断を誤らず正確に検知できる。

前記の診断結果によつて必要に応じて対象軸受
の交換，グリースの補給などの点検保守が適切か
つ確実に行えるから、軸受の破損による当該回転
機械の重大な事故を未然に防止することができ、
当該回転機械の信頼性，稼動率を大巾に向上させ
ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例を示すブロウク図、第
２図は診断対象となるころがり軸受の断面図でａ
は玉軸受の断面図、ｂは円筒ころ軸受の断面図、
第３図は本発明の装置の動作を説明するための各
種波形図で第３図Ａはころがり軸受の外輪に傷の
ある場合の加速度検出器で検出した原波形を示す
図、第３図Ｂは第３図Ａの原形波の周波数スペク
トルを示す図、第３図Ｃは第３図Ａの原形波の包
絡線波形を示す図、第３図Ｄは第３図Ｃの包絡線
波形の周波数スペクトルを示す図、第３図Ｅは第
３図Ｂと同じく第３図Ａの原形波の周波数スペク
トルを示す図である。 ２…加速度検出器、４…フイルタ制御回路、６
…可変フイルタ、８…包絡線検波回路、１０…自
乗平均平方根値算出回路（RMS値算出回路）、１
２…尖頭値算出回路（ピーク値算出回路）、１４
…Ｑ値演算回路、１６…周波数分析制御回路、１
８…周波数分析回路、２０…スペクトル制御回
路、２２…診断条件入力回路、２４…中央処理回
路、２８…表示回路、３０…ころがり軸受（軸
受）。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ ころがり軸受に設置され、ころがり軸受より
   発生する固体音を加速度信号の形で電気信号に変
   換し出力する加速度検出器と、診断に必要な周波
   数帯のみを前記電気信号成分より取り出すフイル
   タと、このフイルタを通過した波形の包絡線の波
   形を得る包絡線検波回路と、この包絡線検波回路
   より出力される包絡線波形の自乗平均平方根値を
   得る自乗平均平方根値算出回路と、前記包絡線波
   形の尖頭値を得る尖頭値算出回路と、前記自乗平
   均平方根値および尖頭値より、 Ｑ＝Vrms×Vpeak ×〔ａ｜Vpeak／Vrms−５｜＋ｂ〕 但しVrms ；自乗平均平方根値 Vpeak；尖頭値 ａ，ｂ ；定数 を演算するＱ値演算回路とを備えたころがり軸受
   異常診断装置において、 イ 前記のフイルタは通過させる信号の信号通過
   帯域をフイルタ制御回路の制御によつて可変の
   可変フイルタと、 ロ 前記の可変フイルタからの出力と前記の包絡
   線検波回路からの出力とを後記する中央処理回
   路からの信号によつて周波数分析回路に切換え
   入力するとともに分析帯域を変更する周波数分
   析制御回路と、 ハ 前記の周波数分析回路の出力と後記する中央
   処理回路からの信号によつて表示回路を制御し
   て表示するスペクトルを選択表示させるスペク
   トル制御回路と、 ニ 診断対象ころがり軸受の名称，幾何学的形
   状，公称内輪回転数などを入力する診断条件入
   力回路と、 ホ 前記のフイルタ制御回路，Ｑ値演算回路，周
   波数分析制御回路，周波数分析回路，スペクト
   ル制御回路，診断条件入力回路および表示回路
   と連結して相互に信号の伝送を行う中央処理回
   路と、 ヘ 前記の中央処理回路に付設する記憶回路，デ
   ータ出力回路，マイクロプリンタとを備え、 表示回路に表示されるＱ値の判定結果，損傷部
   位の表示内容からころがり軸受の良否，きず，欠
   陥の発生部位を診断できることを特徴とするころ
   がり軸受異常診断装置。 ２ 特許請求の範囲第１項記載の装置において、
   前記の周波数分析回路でころがり軸受の内輪の実
   回転数を検出し、ころがり軸受の内輪，外輪およ
   び転動体の損傷に起因する周波数の計算に前記の
   実回転数を使用して、前記の損傷に起因する周波
   数スペクトルを抽出することを特徴とするころが
   り軸受異常診断装置。