JPS6157491B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6157491B2 JPS6157491B2 JP55039347A JP3934780A JPS6157491B2 JP S6157491 B2 JPS6157491 B2 JP S6157491B2 JP 55039347 A JP55039347 A JP 55039347A JP 3934780 A JP3934780 A JP 3934780A JP S6157491 B2 JPS6157491 B2 JP S6157491B2
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- JP
- Japan
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- value
- vrms
- vpeak
- waveform
- bearing
- Prior art date
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Links
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims description 9
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 claims description 9
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 7
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 claims description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 2
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 5
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 3
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 3
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 230000009528 severe injury Effects 0.000 description 1
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- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M13/00—Testing of machine parts
- G01M13/04—Bearings
- G01M13/045—Acoustic or vibration analysis
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Rolling Contact Bearings (AREA)
- Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は回転機械の軸受として多用されてい
るころがり軸受の異常を、機械の運転中に精度良
く診断するための装置に関する。
るころがり軸受の異常を、機械の運転中に精度良
く診断するための装置に関する。
この種の装置として、ピエゾ素子を用いて振動
加速度を検出し、その自乗平均平方根値（以下
RMS値という）または尖頭値（以下ピーク値と
いう）を評価の尺度とするものが既に市販されて
いる。しかしながら軸受の欠陥の態様によつて振
動加速度の波形が著しく異なるため、単純な
RMS値またはピーク値のみの表示では精度のよ
い診断は出来ない。診断精度を上げるには、波形
処理等によつて欠陥の種類を弁別し、別に定めた
欠陥の種類毎の判定レベルにより診断するのが正
統でかつ信頼性も高いが、相当容量の情報処理装
置を必要とする関係上、高級技術者の介在を見ね
ばならず、また可搬型とすることが困難なため、
現場における診断には不適当である。診断精度を
上げる他の方法として、欠陥種類の相違、すなわ
ち波形の相違による補正を行なつた振動レベルを
表示して、このレベル表示のみにて診断する方法
が考えられるが、現場における診断には向くもの
の補正の量を決定するためのノウハウが必要であ
り、かつそのノウハウも理論的に明確なものでは
なく、対症療法的な経験則に基づくものであるた
め、汎用的な装置としての実現は見ていない。
加速度を検出し、その自乗平均平方根値（以下
RMS値という）または尖頭値（以下ピーク値と
いう）を評価の尺度とするものが既に市販されて
いる。しかしながら軸受の欠陥の態様によつて振
動加速度の波形が著しく異なるため、単純な
RMS値またはピーク値のみの表示では精度のよ
い診断は出来ない。診断精度を上げるには、波形
処理等によつて欠陥の種類を弁別し、別に定めた
欠陥の種類毎の判定レベルにより診断するのが正
統でかつ信頼性も高いが、相当容量の情報処理装
置を必要とする関係上、高級技術者の介在を見ね
ばならず、また可搬型とすることが困難なため、
現場における診断には不適当である。診断精度を
上げる他の方法として、欠陥種類の相違、すなわ
ち波形の相違による補正を行なつた振動レベルを
表示して、このレベル表示のみにて診断する方法
が考えられるが、現場における診断には向くもの
の補正の量を決定するためのノウハウが必要であ
り、かつそのノウハウも理論的に明確なものでは
なく、対症療法的な経験則に基づくものであるた
め、汎用的な装置としての実現は見ていない。
そこで本発明は、これらの従来技術の有する欠
点を除去して、 (イ) 波形分折をする必要がなく、従つて大容量の
情報処理装置を具備せずに済み、その結果とし
て可搬性のある装置を提供すること。
点を除去して、 (イ) 波形分折をする必要がなく、従つて大容量の
情報処理装置を具備せずに済み、その結果とし
て可搬性のある装置を提供すること。
(ロ) 計器の指示する値のみで良否の判断ができ、
従つて初級技術者でも診断が可能な装置を提供
すること。
従つて初級技術者でも診断が可能な装置を提供
すること。
(ハ) 欠陥の種類によらずに精度の良い診断を行な
い得る装置を提供すること。
い得る装置を提供すること。
を主たる目的とするものである。
本発明はこれらの目的を達成するために、数多
くのデータから波形による評価レベルの相違を考
慮した新しい尺度を導入することを特徴とするも
のであるが、説明の便宜上、まず本発明の実施例
の構成および動作について述べる。
くのデータから波形による評価レベルの相違を考
慮した新しい尺度を導入することを特徴とするも
のであるが、説明の便宜上、まず本発明の実施例
の構成および動作について述べる。
第１図は本発明の実施例のブロツク線図で、個
個のブロツクにて示される回路装置はいずれも公
知のものを使用することができる。１はたとえば
ピエゾ素子を用いた加速度検出器であり、診断す
べき軸受に密着させて軸受より発生する固体音を
加速度振動の形で電気信号に変換する。この振動
波形は多くの振動周波数成分を含みかつ振幅も広
範囲に変動し、ランダム波形に近いものである。
２は振動波形の中でころがり軸受の診断に必要な
周波数帯のみを取り出すためのフイルタであり、
これによつて診断に不必要な振動、たとえば不釣
合やミスアライメント等によつて発生する低い周
波数の振動や、キヤビテーシヨン、接触等によつ
て発生する高い周波数の振動を除く。
個のブロツクにて示される回路装置はいずれも公
知のものを使用することができる。１はたとえば
ピエゾ素子を用いた加速度検出器であり、診断す
べき軸受に密着させて軸受より発生する固体音を
加速度振動の形で電気信号に変換する。この振動
波形は多くの振動周波数成分を含みかつ振幅も広
範囲に変動し、ランダム波形に近いものである。
２は振動波形の中でころがり軸受の診断に必要な
周波数帯のみを取り出すためのフイルタであり、
これによつて診断に不必要な振動、たとえば不釣
合やミスアライメント等によつて発生する低い周
波数の振動や、キヤビテーシヨン、接触等によつ
て発生する高い周波数の振動を除く。
第２図Ａは代表的な例として軸受の外輪に傷の
ある場合の波形を示すもので、横軸に時間
（秒）、縦軸に振動可速度（Ｇ）をとつてある。こ
の波形を周波数分析すると第２図Ｂの如くにな
る。周波数分布がいくつかの群をなしているの
は、これらの周波数がころがり軸受の外輪、内
輪、保持器およびそれらの達成した固有振動数に
基づくためであり、フイルタの中心周波数はそれ
ぞれの使用目的に応じて対応する部品の固有振動
周波数に合わせるのが良い。一般的には外輪の固
有振動周波数に合わせるのが最も良い結果が得ら
れる。
ある場合の波形を示すもので、横軸に時間
（秒）、縦軸に振動可速度（Ｇ）をとつてある。こ
の波形を周波数分析すると第２図Ｂの如くにな
る。周波数分布がいくつかの群をなしているの
は、これらの周波数がころがり軸受の外輪、内
輪、保持器およびそれらの達成した固有振動数に
基づくためであり、フイルタの中心周波数はそれ
ぞれの使用目的に応じて対応する部品の固有振動
周波数に合わせるのが良い。一般的には外輪の固
有振動周波数に合わせるのが最も良い結果が得ら
れる。
さて再び第１図に戻つて、フイルタ２を通過し
た信号は包絡線検波回路３に与えられここで振動
周波数信号の包絡線信号が得られる。第２図Ａの
振動波形はこの処理により第２図Ｃに示すような
波形となる。第２図Ｃの波形を周波数分析すると
第２図Ｄの如くになる。横軸の目盛は拡大して示
してあるが、第２図Ｂからは明らかでない転動体
の公転周波数の成分（78Hz）をこの図からは明ら
かに認めることができる。第１図の端子４はこの
ような周波数分析を行なうための外部出力端子で
ある。
た信号は包絡線検波回路３に与えられここで振動
周波数信号の包絡線信号が得られる。第２図Ａの
振動波形はこの処理により第２図Ｃに示すような
波形となる。第２図Ｃの波形を周波数分析すると
第２図Ｄの如くになる。横軸の目盛は拡大して示
してあるが、第２図Ｂからは明らかでない転動体
の公転周波数の成分（78Hz）をこの図からは明ら
かに認めることができる。第１図の端子４はこの
ような周波数分析を行なうための外部出力端子で
ある。
さて、包絡線検波回路３の出力信号は、RMS
値算出回路５とピーク値算出回路６とに与えられ
る。これらの回路はいずれも直流出力で通常100
〜500ミリ秒のサンプリング時間毎にそれぞれの
値を出力するもので、市販の回路で十分である。
RMS値算出回路５とピーク値算出回路６の出力
は本発明の特徴である後述のＱ値を演算する計算
回路７に与えられる。計算回路７において演算さ
れたＱ値は指示計８に指示される。このＱ値によ
つて軸受の異常の程度を判断できるが、さらに転
動体の公転速度の指標であるDm×Ｎに対しての
Ｑ値の関係を示した判定図（第４図）を用いれば
よい。但し、Dmは転動体の公転直径（mm）、Ｎ
は機械の回転速度（r.P.m）である。そのために
判断回路１１が設けられ、この判断回路１１には
公転直径設定回路９、および回転速度設定回路１
０より設定値Dm，Ｎが入力され、後述するよう
に第４図に示す境界線Ａ，Ｂに基づいてＱ値の判
断がなされ良好であればランプ１２、注意であれ
ばランプ１３、停止であればランプ１４がそれぞ
れ点灯される。
値算出回路５とピーク値算出回路６とに与えられ
る。これらの回路はいずれも直流出力で通常100
〜500ミリ秒のサンプリング時間毎にそれぞれの
値を出力するもので、市販の回路で十分である。
RMS値算出回路５とピーク値算出回路６の出力
は本発明の特徴である後述のＱ値を演算する計算
回路７に与えられる。計算回路７において演算さ
れたＱ値は指示計８に指示される。このＱ値によ
つて軸受の異常の程度を判断できるが、さらに転
動体の公転速度の指標であるDm×Ｎに対しての
Ｑ値の関係を示した判定図（第４図）を用いれば
よい。但し、Dmは転動体の公転直径（mm）、Ｎ
は機械の回転速度（r.P.m）である。そのために
判断回路１１が設けられ、この判断回路１１には
公転直径設定回路９、および回転速度設定回路１
０より設定値Dm，Ｎが入力され、後述するよう
に第４図に示す境界線Ａ，Ｂに基づいてＱ値の判
断がなされ良好であればランプ１２、注意であれ
ばランプ１３、停止であればランプ１４がそれぞ
れ点灯される。
次に計算回路７におけるＱ値の演算について説
明する。計算回路７においては次の計算式により
Ｑ値の演算がなされる。
明する。計算回路７においては次の計算式により
Ｑ値の演算がなされる。
Ｑ＝Vrms×Vpeak×〔ａ｜Ｖｐｅａｋ／Ｖｒｍｓ−５
｜＋ｂ〕 …(1) 但し(1)式においてVrmsは包絡線波形のRMS
値、Vpeakは包絡線波形のPeak（ピーク）値、
ａ，ｂは定数である。
｜＋ｂ〕 …(1) 但し(1)式においてVrmsは包絡線波形のRMS
値、Vpeakは包絡線波形のPeak（ピーク）値、
ａ，ｂは定数である。
ここで(1)式の意味について説明する。それぞれ
の軸受において測定された包絡線波形のRMS値
のPeak値を実験により測定して、Ｖｐｅａｋ／Ｖｒｍｓ
，Vrms ×Vpeakを演算し、縦軸にＶｐｅａｋ／Ｖｒｍｓ、横軸
にVrms ×Vpeakをとつて両対数グラフ上にプロツトする
と第３図に示すようになり、Ｖｐｅａｋ／Ｖｒｍｓ＝５
の線の近 傍に集中する。図においては、軸受を分解点検し
た結果により、まだ十分使用に耐えるものは○
印、かなりの損傷があるが、まだ使用に耐えなく
もないものは△印、損傷がひどく使用できないと
判断したものは×印でそれぞれプロツトされてい
る。また図においてＶｐｅａｋ／Ｖｒｍｓ＝５の線の近
傍に集中 するのは波形がランダムな形だからである。図か
らも明らかなように正常な軸受は○印にてプロツ
トされているようにＶｐｅａｋ／Ｖｒｍｓ＝５の線の近
傍にあ り、かつVrms×Vpeakの値は低い。これに対し
て損傷のある軸受は△印，×印で示されているよ
うにＶｐｅａｋ／Ｖｒｍｓ＝５の線の近傍にあつたとし
ても Vrms×Vpeakの値は高くなる。したがつて良否
の判定はVrms×Vpeakの値で判定することがで
きることがこの実験データからわかる。
の軸受において測定された包絡線波形のRMS値
のPeak値を実験により測定して、Ｖｐｅａｋ／Ｖｒｍｓ
，Vrms ×Vpeakを演算し、縦軸にＶｐｅａｋ／Ｖｒｍｓ、横軸
にVrms ×Vpeakをとつて両対数グラフ上にプロツトする
と第３図に示すようになり、Ｖｐｅａｋ／Ｖｒｍｓ＝５
の線の近 傍に集中する。図においては、軸受を分解点検し
た結果により、まだ十分使用に耐えるものは○
印、かなりの損傷があるが、まだ使用に耐えなく
もないものは△印、損傷がひどく使用できないと
判断したものは×印でそれぞれプロツトされてい
る。また図においてＶｐｅａｋ／Ｖｒｍｓ＝５の線の近
傍に集中 するのは波形がランダムな形だからである。図か
らも明らかなように正常な軸受は○印にてプロツ
トされているようにＶｐｅａｋ／Ｖｒｍｓ＝５の線の近
傍にあ り、かつVrms×Vpeakの値は低い。これに対し
て損傷のある軸受は△印，×印で示されているよ
うにＶｐｅａｋ／Ｖｒｍｓ＝５の線の近傍にあつたとし
ても Vrms×Vpeakの値は高くなる。したがつて良否
の判定はVrms×Vpeakの値で判定することがで
きることがこの実験データからわかる。
以上のとおり、Vrms×Vpeakの値により良否
の判定を行なうことができることは実験データよ
り明らかであるが、このことは理論的にも次のよ
うに説明することができる。すなわちVrms×
Vpeakを変形すると次式のように表わすことがで
きる。
の判定を行なうことができることは実験データよ
り明らかであるが、このことは理論的にも次のよ
うに説明することができる。すなわちVrms×
Vpeakを変形すると次式のように表わすことがで
きる。
Vrms×Vpeak
＝（Vrms）2×Ｖｐｅａｋ／Ｖｒｍｓ …(2)
(2)式の右辺において、（Vrms）2はランダム波形の
パワーを示しており、通常ランダム波のエネルギ
ーを表わすのに用いられる値である。
パワーを示しており、通常ランダム波のエネルギ
ーを表わすのに用いられる値である。
一方、Ｖｐｅａｋ／Ｖｒｍｓはクレストフアクタリー
または波 形率と称して、波形のおおよその形の定義として
用いられるものである。ここで（Vrms）2の値に
ついて考えてみると、軸受にきず、うねり、電食
等の損傷がある場合にはランダム波形は大きくな
るため、当然のことながら（Vrms）2の値は大き
くなる。これに対してＶｐｅａｋ／Ｖｒｍｓの値はラン
ダム波よ りもPeak値が大きく出るような波形の場合、す
なわち軸受にきずがある場合には５よりも大きく
なるため、第３図においてＶｐｅａｋ／Ｖｒｍｓ＝５の
線より上 方に位置する。またランダム波よりも低周波成分
の多い波形の場合、すなわち軸受にうねり、電食
等がある場合には５よりも小さくなるため、第３
図においてＶｐｅａｋ／Ｖｒｍｓの値を掛算することに
より Ｖｐｅａｋ／Ｖｒｍｓ＝５を掛算する場合にくらべて（
Vrms）2 ×Ｖｐｅａｋ／Ｖｒｍｓの値は小さくなる。しかしなが
ら （Vrms）2の値のほうが損傷がある場合には大きな
変化を示すこと、損傷としてはうねりや電食より
もきずのほうが重大であることを考えればVrms
×Vpeakの値により良否の判別を行なうことがで
きるのである。
または波 形率と称して、波形のおおよその形の定義として
用いられるものである。ここで（Vrms）2の値に
ついて考えてみると、軸受にきず、うねり、電食
等の損傷がある場合にはランダム波形は大きくな
るため、当然のことながら（Vrms）2の値は大き
くなる。これに対してＶｐｅａｋ／Ｖｒｍｓの値はラン
ダム波よ りもPeak値が大きく出るような波形の場合、す
なわち軸受にきずがある場合には５よりも大きく
なるため、第３図においてＶｐｅａｋ／Ｖｒｍｓ＝５の
線より上 方に位置する。またランダム波よりも低周波成分
の多い波形の場合、すなわち軸受にうねり、電食
等がある場合には５よりも小さくなるため、第３
図においてＶｐｅａｋ／Ｖｒｍｓの値を掛算することに
より Ｖｐｅａｋ／Ｖｒｍｓ＝５を掛算する場合にくらべて（
Vrms）2 ×Ｖｐｅａｋ／Ｖｒｍｓの値は小さくなる。しかしなが
ら （Vrms）2の値のほうが損傷がある場合には大きな
変化を示すこと、損傷としてはうねりや電食より
もきずのほうが重大であることを考えればVrms
×Vpeakの値により良否の判別を行なうことがで
きるのである。
次に(1)式の右辺において〔ａ｜Ｖｐｅａｋ／Ｖｒｍ
ｓ−５｜＋ ｂ〕の項について説明する。以上の説明により
Vrms×Vpeakの値により一応の良否の判別を行
なうことができることが理解されるが、（Vrms）2
の値に対してＶｐｅａｋ／Ｖｒｍｓの値の変化のほうが
小さいた め、Vrms×Vpeakの値だけの良否の判別では
Ｖｐｅａｋ／Ｖｒｍｓ＝５の線から離れた損傷に対して
は不充分 なことがある。そのために、〔ａ｜Ｖｐｅａｋ／Ｖｒｍ
ｓ−５｜ ＋ｂ〕なる補正係数を掛算し、Vrms×Vpeakの
値を補正して(1)式に示すＱ値を演算するのであ
る。この補正の効果を第３図を用いて説明する
と、Vrms×Vpeakの値にて良否の判別を行なう
場合には例えば破線ａが境界となるが、補正係数
を掛算したＱ値にて良否の判別を行なう場合には
破線ｂが境界となりVrms×Vpeakの値がやや小
さいが、Ｖｐｅａｋ／Ｖｒｍｓの値が５より離れている
ものも含 むことができるようになる。なお軸受の種類によ
つて定数ａ，ｂの値を設定することにより第３図
において境界ｂの傾きを変えることができる。
ｓ−５｜＋ ｂ〕の項について説明する。以上の説明により
Vrms×Vpeakの値により一応の良否の判別を行
なうことができることが理解されるが、（Vrms）2
の値に対してＶｐｅａｋ／Ｖｒｍｓの値の変化のほうが
小さいた め、Vrms×Vpeakの値だけの良否の判別では
Ｖｐｅａｋ／Ｖｒｍｓ＝５の線から離れた損傷に対して
は不充分 なことがある。そのために、〔ａ｜Ｖｐｅａｋ／Ｖｒｍ
ｓ−５｜ ＋ｂ〕なる補正係数を掛算し、Vrms×Vpeakの
値を補正して(1)式に示すＱ値を演算するのであ
る。この補正の効果を第３図を用いて説明する
と、Vrms×Vpeakの値にて良否の判別を行なう
場合には例えば破線ａが境界となるが、補正係数
を掛算したＱ値にて良否の判別を行なう場合には
破線ｂが境界となりVrms×Vpeakの値がやや小
さいが、Ｖｐｅａｋ／Ｖｒｍｓの値が５より離れている
ものも含 むことができるようになる。なお軸受の種類によ
つて定数ａ，ｂの値を設定することにより第３図
において境界ｂの傾きを変えることができる。
以上の説明からも明らかなように、(1)式にてＱ
値を演算し、その値を判別の尺度とすることによ
りすでに十分な確度での判定が可能であるが、そ
れぞれのデータが採取された時の運転状態（Dm
×Ｎ）を横軸にとり、縦軸にＱ値をとつて第４図
に示すようなグラフを作成し、Dm×Ｎの値とＱ
値よりこのグラフを用いて判定を行なうようにす
ればより一層精度の高い判定結果を得ることがで
きる。なお、第４図においては、実線Ａ，Ｂをそ
れぞれ境界線として境界線Ａ以下は正常のもの
（良好）境界線Ａ，Ｂの中間はやや損傷があるが
まだ使用できるもの（注意）境界線Ｂ以上は交換
が必要なもの（停止）と判別するようにしてい
る。そしてこれらの判別結果は第１図に示すラン
プ１２，１３，１４で表示するようにすればよ
い。境界線Ａ，Ｂが図示のようにＤn×Ｎの値が
２×105mm／minのところで屈曲しているのは実
験データによればＱ値はＤn×Ｎの値が２×105
mm／min以上においては飽和する傾向があるから
である。
値を演算し、その値を判別の尺度とすることによ
りすでに十分な確度での判定が可能であるが、そ
れぞれのデータが採取された時の運転状態（Dm
×Ｎ）を横軸にとり、縦軸にＱ値をとつて第４図
に示すようなグラフを作成し、Dm×Ｎの値とＱ
値よりこのグラフを用いて判定を行なうようにす
ればより一層精度の高い判定結果を得ることがで
きる。なお、第４図においては、実線Ａ，Ｂをそ
れぞれ境界線として境界線Ａ以下は正常のもの
（良好）境界線Ａ，Ｂの中間はやや損傷があるが
まだ使用できるもの（注意）境界線Ｂ以上は交換
が必要なもの（停止）と判別するようにしてい
る。そしてこれらの判別結果は第１図に示すラン
プ１２，１３，１４で表示するようにすればよ
い。境界線Ａ，Ｂが図示のようにＤn×Ｎの値が
２×105mm／minのところで屈曲しているのは実
験データによればＱ値はＤn×Ｎの値が２×105
mm／min以上においては飽和する傾向があるから
である。
このように本発明によれば、(1)式で示すＱ値の
みを用いて判定を行なうようにしたため、種々の
異常による波形のちがいによつて異なる判定レベ
ルを用いねばならないというわずらわしさを避け
て、だれでも精度の高い判定を行うことができ
る。
みを用いて判定を行なうようにしたため、種々の
異常による波形のちがいによつて異なる判定レベ
ルを用いねばならないというわずらわしさを避け
て、だれでも精度の高い判定を行うことができ
る。
第１図は本発明によるころがり軸受異常診断装
置の構成を示すブロツク図、第２図は本発明によ
るころがり軸受異常診断装置の動作を説明するた
めの各種波形図、第３図は実験データをプロツト
した図、第４図はＤn×Ｎの変化に対してＱ値を
プロツトした図である。 １……加速度検出器、２……フイルタ、３……
包絡線検波回路、５……RMS値算出回路、６…
…ピーク値算出回路、７……計算回路、８……指
示計、１１……判断回路。
置の構成を示すブロツク図、第２図は本発明によ
るころがり軸受異常診断装置の動作を説明するた
めの各種波形図、第３図は実験データをプロツト
した図、第４図はＤn×Ｎの変化に対してＱ値を
プロツトした図である。 １……加速度検出器、２……フイルタ、３……
包絡線検波回路、５……RMS値算出回路、６…
…ピーク値算出回路、７……計算回路、８……指
示計、１１……判断回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 軸受に設置され、軸受より発生する固体音を
加速度信号の形で電気信号に変換し出力する加速
度検出器と、診断に必要な周波数帯のみを前記電
気信号成分より取り出すフイルタと、このフイル
タを通過した波形の包絡線の波形を得る包絡線検
波回路と、この包絡線検波回路より出力される包
絡線波形の自乗平均平方根値を得る自乗平均平方
根値算出回路と、前記包絡線波形の尖頭値を得る
尖頭値算出回路と、前記自乗平均平方根値および
尖頭値より、 Ｑ＝Vrms×Vpeak×〔ａ｜Ｖｐｅａｋ／Ｖｒｍｓ−５
｜＋ｂ〕 但しVrms；自乗平均平方根値、 Vpeak；尖頭値、 ａ，ｂ；定数 を演算する計算回路とを備え、前記Ｑ値を異常診
断の尺度として用いることを特徴とするころがり
軸受異常診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3934780A JPS56135140A (en) | 1980-03-27 | 1980-03-27 | Abnormality diagnostic device for roller bearing |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3934780A JPS56135140A (en) | 1980-03-27 | 1980-03-27 | Abnormality diagnostic device for roller bearing |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56135140A JPS56135140A (en) | 1981-10-22 |
| JPS6157491B2 true JPS6157491B2 (ja) | 1986-12-06 |
Family
ID=12550537
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3934780A Granted JPS56135140A (en) | 1980-03-27 | 1980-03-27 | Abnormality diagnostic device for roller bearing |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS56135140A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58127142A (ja) * | 1982-01-26 | 1983-07-28 | Nippon Seiko Kk | 軸受の傷検出装置 |
| JPS62151621A (ja) * | 1985-12-25 | 1987-07-06 | Anritsu Corp | ころがり軸受異常検出装置 |
| JPS62270820A (ja) * | 1986-05-16 | 1987-11-25 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | 振動音による軸受異常診断方法及びその装置 |
| JPH0643848B2 (ja) * | 1987-08-19 | 1994-06-08 | 株式会社日立製作所 | ころがり軸受の異常診断装置 |
| JP5104441B2 (ja) * | 2008-03-19 | 2012-12-19 | 富士電機株式会社 | 回転機械の転がり軸受診断方法 |
-
1980
- 1980-03-27 JP JP3934780A patent/JPS56135140A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56135140A (en) | 1981-10-22 |
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