JPH0588029A - オプトエレクトロニクデバイス - Google Patents

オプトエレクトロニクデバイス

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JPH0588029A
JPH0588029A JP4056181A JP5618192A JPH0588029A JP H0588029 A JPH0588029 A JP H0588029A JP 4056181 A JP4056181 A JP 4056181A JP 5618192 A JP5618192 A JP 5618192A JP H0588029 A JPH0588029 A JP H0588029A
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waveguide
lens
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light
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JP4056181A
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Bernhard Stegmueller
シユテークミユラー ベルンハルト
Gerhard Franz
フランツ ゲルハルト
Jochen Heinen
ハイネン ヨツヒエン
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Siemens AG
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    • G02B6/122Basic optical elements, e.g. light-guiding paths
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 光の入出力を行い更に別の光学デバイス又は
オプトエレクトロニクデバイスと共に融通性に富む装置
を実現するオプトエレクトロニクデバイスのための容易
に製造可能な構造を提供する。 【構成】 導波路2から鏡3を介して基板1を貫き光を
入出力し、基板1の導波路2と反対側の表面18には平
凸レンズ4が組み込まれる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、導波路中を導かれる
光の入出力のためのオプトエレクトロニクデバイスに関
する。
【0002】
【従来の技術】光はオプトエレクトロニクデバイス中で
信号キャリヤ又はエネルギーキャリヤとして用いられ
る。信号又はエネルギーを異なる要素の間で交換するた
めには光を伝達しなければならない。このために送信器
と受信器との間の結合が必要である。この結合は導波路
(ガラスファイバ)を経るか又は空間(導波路無し)を
通して行うことができる。しかしすべての場合に光をオ
プトエレクトロニクデバイスから出力するかこのデバイ
スに入力しなければならない。
【0003】オプトエレクトロニクデバイスにおいて基
板を貫いての光の結合は、この基板が放射された光に対
し透明であるときに可能である。GaAs及びInP基
板に対しては真空波長は0.9μm以上でなければなら
ず、Si基板に対しては1.1μm以上でなければなら
ない。光が基板を貫いて結合される装置では、電子結合
と光結合とを二つの分離した平面上に分配することがで
きる。光を導波路により基板の縁に沿って導くことはこ
の場合には必要でない。従ってオプトエレクトロニクデ
バイスの配置において比較的大きい自由度が得られる。
【0004】電子結合を光結合から分離するための前提
条件は、光が正確に定められた角度のもとに基板を離れ
ることを保証する技術が利用されるということである。
さもないと光パワーの大きい損失が生じるので、この損
失を個々のオプトエレクトロニクデバイスの個々の組み
立てにより低減しなければならない。そのために前記の
利点が失われる。各オプトエレクトロニクデバイスの製
造工程中にしばしば結晶面の方位が良好な効果を得るた
めに利用されるので、この出射角の決定のためには導波
路に対し垂直な方向が重要である。光をこのように出力
するには、ブラッグ反射形格子による導波路に沿った分
布帰還を用いることができる。しかしながらオプトエレ
クトロニクデバイスと光ファイバとの間の結合のため
に、導波路に対し直角に出射する光の横方向の電磁界分
布が主として導波路の導波特性により決定されるのが更
に有利である。この場合には導波路に対し正確に45°
の傾斜角を有する鏡で光を方向変換しなければならな
い。更にこの鏡には大きい平滑度の要求が課せられる。
すなわち鏡表面の粗さは光の波長に比べて小さくなけれ
ばならない。光学的な意味で非常に平滑な鏡は従来鏡面
劈開及びドライエッチングとこれに続くウエットエッチ
ングによるしか実現できない。この方向すなわち導波路
に対し45°の鏡面劈開は結晶学上の理由から不可能で
あるので、可能性としてエッチングだけが残る。ドライ
エッチングは多くの場合結晶方位に無関係に可能であり
特に粗面化された鏡を供給するので、エッチング工程を
伴う後処理が必要である。ウエットエッチング自体は劈
開と同様に本来結晶学的に卓越した面又は方向に沿って
のみ多くの場合に成功する。
【0005】基板からの光の出射後に回折現象に基づき
光ビームの著しい拡幅が起こる。従来技術では光ファイ
バの前に置かれた球レンズにより光を集束することによ
りこれに対処する。従って装置は直列に並べられたオプ
トエレクトロニクデバイス、球レンズ及び光ファイバを
備える。
【0006】光エネルギーの結合はオプトエレクトロニ
クデバイスでは一般に導波路へ向かう方向へ、導波路に
対し直角に配置された鏡により行われる。従来導波に対
し直角には、分布帰還に基づくブラック反射形格子によ
るか、又は導波に対し45°だけ傾けられた鏡により出
力される。これに関しては下記の文献を参照されたい。
リオー(Z.L. Liau )、ウォルポール(J.N.Walpol
e)、ミサギア(L.J. Missaggia)及びムル(D.E. Mull
)の論文「モノリシック集積された二焦点ミクロレン
ズを備えたInGaAsP/InP埋め込みヘテロ構造
表面放射ダイオードレーザ(InGaAsP/InP buried-heter
ostructure surface-emitting diode laserwith monoli
thic integrated bifocal microlens)」アプライド
フィジックスレターズ(Appl. Phys. Lett. )、第56
巻、第1219〜1221ページ(1990年);リオ
ー(Z.L. Liau )及びウォルポール(J.N. Walpole)の
論文「低いしきい電流及び高効率を有する表面放射Ga
InAsP/InPレーザ(Surface-emitting GaInAsP
/InP laser with low threshold current and high eff
iciency )」アプライド フィジックス レターズ(Ap
pl. Phys. Lett. )、第46巻、第115〜117ペー
ジ(1985年);ウォルポール(J.N. Walpole)の論
文「表面放射ダイオードレーザの研究開発(R&D on
Surface-Emitting Diode Lasers )」レーザ フォーカ
ス/エレクトロオプティックス(LaserF ocus/Electro-
Optics )、第66〜74ページ(1987年):斎藤
(H. Saito)及び野口(Y. Noguchi)の論文「ミクロコ
ーティングされた反射器を備える反射形表面放射1.3
μm・InGaAsP/InPレーザアレー(Reflecti
on-Type Surface-Emitting 1.3μm InGaAsP/InP Laser
Array with Microcoated Reflector)」日本応用物理学
会誌、第28巻、第L1239〜L1241ページ(1
989年);三原(M. Mihara )の論文「新しい表面放
射レーザダイオードの直接的な光ファイバへの結合(Ne
w Surface-Emitting Laser Diode Connectsto Optical
Fiber Directly )」JEE、ハイテクレポート(Hi-Te
ch Report)、第74〜77ページ(1989年):ド
ネリイ(J.P. Donnelly)、バイレイ(R.J. Bailey
)、ワン(C.A. Wang )、シンプソン(G.A. Simpso
n)、ラウシェンバッハ(K. Rauschenbach )の論文
「二次元表面放射ダイオードレーザアレーへのハイブリ
ッド的取り組み(Hybrid approach to two-dimensional
surface-emitting diodes laser arrays )」アプライ
ド フィジックス レターズ(Appl. Phys. Lett. )、
第53巻、第938〜940ページ(1988年);伊
賀(K. Iga)、小山(F. Koyama )及び木下(S. Kinos
hita)の論文「表面放射半導体レーザ(Surface-Emitti
ng Semiconductor Lasers )」アイトリプルイージャー
ナル(IEEE Journ. )量子エレクトロニクス編、第QE
−24巻、第1845〜1855ページ(1988
年)。
【0007】これらの公知装置の場合出力はリオー(Z.
L. Liau )ほかの論文に記載された装置を除いては基板
を貫いては行われない。この例外の場合には基板の体積
はレーザの共振空間に属する。レーザの共振条件はここ
では活性の導波路に直角な鏡と反射性の基板下面とによ
り決定される。レーザ運転を可能にするためにまたその
際光を出力するために、この装置の場合には基板下面の
有効な反射を金属被膜により高めなければならないが、
しかし金属被膜は部分的にしかレンズを越えて延びてい
ない。レンズの中央には金属被膜は丸い孔を有する。組
み込まれたレンズの球形の表面が複数の同心のメサのエ
ッチング及びこれに続く質量移動によるメサ段の面取り
により達成される。
【0008】類似の方法により導波路に対し45°傾け
られた鏡も加工される(リオー(Z.L. Liau )及びウォ
ルポール(J.N. Walpole)の論文参照)。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】この発明の課題は、光
の入出力を行い更に別の光学デバイス又はオプトエレク
トロニクデバイスと共にできる限り融通性のある装置を
実現するオプトエレクトロニクデバイスのための容易に
製造可能な構成を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】この課題はこの発明に基
づき、基板と、導波路と、この導波路を一つの方向に制
限し、かつ導波路中を導かれる光が基板の導波路に向か
う側の表面に対し垂直に基板中へ反射されるように、導
波路に対し45°傾けられている平らな鏡と、基板の導
波路と反対側の表面上に組み込まれた平凸レンズとを備
えることを特徴とするオプトエレクトロニクデバイスに
より解決される。この発明の実施態様は請求項2以下に
記載されている。
【0011】
【作用効果】この発明では光は45°の角度のもとに導
波路層から基板中へ反射される。基板の導波路と反対側
の表面上には基板の材料中に、光を集束する平凸レンズ
が形成される。従ってこの発明に基づく構造ではレンズ
がオプトエレクトロニクデバイスの基板中に組み込ま
れ、それにより製造時の作業工程がプレーナ技術の方向
へ移行される。III −V族半導体材料は石英に比べて高
い屈折率を有するので、レンズの等しい集束効果を得る
ためには公知の装置の場合より大きい曲率半径で十分で
ある。
【0012】
【実施例】次にこの発明に基づくオプトエレクトロニク
デバイスの複数の実施例を示す図面により、この発明を
詳細に説明する。
【0013】図1には基板1(例えばInP)上の導波
路2が示されている。デバイスの表面にはV字形溝12
がエッチングされている。この溝の側面は長手方向に導
波路2を制限し、かつ導波路の端部に長手方向に対し4
5°だけ傾いた鏡3を形成する。基板1の導波路2と反
対側の表面18上にはレンズ4が基板の構成部分として
形成されている。このレンズ4は基板の外面では凸状の
表面15により、また基板1の内部では想定上の平らな
境界面16により形成される。レンズ4の直径6は5μ
mないし350μmの間で変更できる。直径に応じて曲
率半径5も変化する。レンズはドライエッチング法(反
応性イオンエッチング又は(反応性)イオンビームエッ
チング)により加工される。レンズの表面すなわち凸状
の表面15は誘電体の層(例えばAl23 、SiO
2 )によりコーティングできる。
【0014】図2は図1の装置に比べて改善された構成
を示し、この場合にはレンズ4は基板1の導波路2と反
対側の表面18上の凹所21の中に配置されている。こ
うしてレンズの表面が基板のこの表面18の平らな部分
を越えて突出しないことが達成される。更に図2に示さ
れた距離7をこの凹所21の深さ22により決定するこ
とができる。鏡3はV字形溝12のエッチングにより加
工される。この溝12はイオンビームエッチング又はウ
エット化学エッチング又はイオンビームエッチングとこ
れに続くウエット化学エッチングにより加工される。同
様に斜めの入射角の反応性イオンビームエッチングの使
用も可能であり、この場合には必要な入射角を達成する
ために基板1が傾けられる。図2の実施例では溝12の
幅13は溝の深さ14より大きく、深さ自体は1μmな
いし5μmである。距離7は20μmないし200μm
である。基板1の厚さは200μm以下である。この実
施例では導波路2中に活性領域11が設けられ、この活
性領域へは図示の電極9、10を介して電流を供給でき
る。レーザ放射の励起のために分布帰還形格子8が設け
られている。この分布帰還形レーザ中で生じた光は鏡3
を介して基板1を貫き出力される。導波路2にはこの装
置により送られた光を検出する受信器を結合することが
できる。光はこの発明に基づく別の装置中へ入力するこ
とができる。
【0015】図3には別の実施例が示され、この場合に
はオプトエレクトロニクデバイスが別の支持体(以下で
副基板と呼ぶ)上に配置されている。この副基板23は
例えばシリコンから成る。副基板23の表面は平らとす
るか、又は組み込まれた別の平凸レンズを備えることが
できる。このレンズの加工はIII −V族材料の場合と同
様に行われる。ただ別のエッチングガスを用いなければ
ならない。基板23中に組み込まれるレンズ24は、図
3に示すように基板1と反対側に、又は基板1に向かう
側に、又は両側に設けることができる。図3では基板1
は図2のような凹所21を有する。この凹所の直径32
はレンズの直径6より約50μm大きい。この凹所21
中の基板1及び副基板23の表面は反射防止層19を備
える。中間室17は例えば反射低減性材料を充填するこ
とができる。中間室17は単に空気を含むこともでき
る。レンズ24を備えた基板1と反対側の基板23の表
面は同様に反射防止層19により覆われている。
【0016】シリコンから成る基板23中には図4に示
すように光ファイバ28をはめ込むことができ、光ファ
イバの端面は光ビーム方向に対し丁度直角とするか又は
傾けることができる。図4には副基板23の凹所25中
のレンズ24が示されている。この凹所25の深さ26
は、基板1中にレンズ4を設けまた副基板23中にレン
ズ24を設けるために十分に大きく寸法を選択されてい
る。基板1の成長面上には誘電体の保護層20が設けら
れている。レンズ4、24は反射防止層19を備える。
副基板23の基板1と反対側には光ファイバ28を収容
するための空所が設けられている。この空所はファイバ
のための結合域27を形成し同様に反射防止層19によ
り覆われている。ファイバはファイバクラッド29及び
ファイバコア30から成り、コア30は基板1から出射
する光の光路の延長線上に配置されている。この光ファ
イバの端面31は光ビーム方向に対し丁度直角とするか
又は傾けることができる。この光ファイバの端面に対し
てテーパ形の形状もまた可能である。すなわち端面はレ
ンズ状に膨らむか又は円錐形に尖るようにすることもで
きる。
【0017】再現可能なエッチング技術により、鏡3、
基板1中のレンズ4及び光ファイバ28の正確な幾何学
的すなわち特に光学的な整合が、場合によっては副基板
23中に組み込まれた別のレンズ24を介して可能であ
る。多重に一つのウェーハ上に配置されたこの発明に基
づく同一のデバイスに対して製造の際に一つの調節工程
で十分である。続いてデバイスを個々に分割することも
できる。
【0018】オプトエレクトロニクデバイスのこの発明
に基づく構成は特に下記の長所を有する。すなわち分布
帰還形格子又はブラッグ反射形格子を用いることができ
る。従って導波路の共振器を画成するファブリペロー形
の鏡を必要としない。45°の光の反射をもたらす鏡3
の別個の鏡面化も必要でない。唯一の条件は導波路のこ
の端面で全反射が45°以下で行われるということであ
る。ウエットエッチングによる鏡3の加工は容易に実施
可能であり非常に平滑な面を作り出すので、遠視野特性
の劣化が生じない。このオプトエレクトロニクデバイス
はシリコンから成る支持体上に構成することができ、そ
れにより色消しレンズ系を用いるという可能性が開かれ
る。ドライエッチングによるプレーナ技術での組み込み
凸レンズの加工は再現可能に実施され、問題の無い方法
である。更にレンズを基板の凹所中に沈め従って保護す
ることも可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に基づくオプトエレクトロニクデバイ
スの一実施例の長手方向断面図である。
【図2】デバイスの異なる実施例の長手方向断面図であ
る。
【図3】デバイスの異なる実施例の長手方向断面図であ
る。
【図4】デバイスの異なる実施例の長手方向断面図であ
る。
【符号の説明】
1 基板 2 導波路 3 鏡 4、24 レンズ 8 分布帰還形格子 9、10 電極 11 活性領域 18 表面 21、25 凹所 22 深さ 23 副基板 27 結合域
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ゲルハルト フランツ ドイツ連邦共和国 8000 ミユンヘン 90 ウイルヘルム‐クーネルト‐シユトラー セ 2 (72)発明者 ヨツヒエン ハイネン ドイツ連邦共和国 8013 ハール デイア ナシユトラーセ 38

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板(1)と、導波路(2)と、この導
    波路(2)を一つの方向に制限し、かつ導波路(2)中
    を導かれる光が基板(1)の導波路(2)に向かう側の
    表面に対し垂直に基板(1)中へ反射されるように、導
    波路(2)に対し45°傾けられている平らな鏡(3)
    と、基板(1)の導波路(2)と反対側の表面(18)
    上に組み込まれた平凸レンズ(4)とを備えることを特
    徴とするオプトエレクトロニクデバイス。
  2. 【請求項2】 レンズ(4)が基板(1)の導波路
    (2)と反対側の表面(18)上の凹所(21)の中に
    設けられ、この凹所(21)の深さ(22)が少なくと
    もレンズ(4)の厚さに等しいことを特徴とする請求項
    1記載のデバイス。
  3. 【請求項3】 基板(1)がレンズ(4)を有する表面
    (18)により副基板(23)上に取り付けられている
    ことを特徴とする請求項1又は2記載のデバイス。
  4. 【請求項4】 基板(1)がIII −V族の材料であり、
    副基板(23)がシリコンであることを特徴とする請求
    項3記載のデバイス。
  5. 【請求項5】 副基板(23)の基板(1)に向かう側
    の表面上にレンズ(24)が組み込まれていることを特
    徴とする請求項3又は4記載のデバイス。
  6. 【請求項6】 副基板(23)の基板(1)に向かう側
    の表面がレンズ(4、24)の範囲に凹所(25)を有
    することを特徴とする請求項3ないし5の一つに記載の
    デバイス。
  7. 【請求項7】 副基板(23)の基板(1)と反対側の
    表面上に光ファイバの接続のための結合域(27)が設
    けられていることを特徴とする請求項3ないし6の一つ
    に記載のデバイス。
  8. 【請求項8】 導波路(2)中にレーザ光発生のための
    活性領域(11)及び給電のための電極(9、10)が
    設けられていることを特徴とする請求項1ないし7の一
    つに記載のデバイス。
  9. 【請求項9】 活性領域(11)が分布帰還形格子
    (8)を有することを特徴とする請求項8記載のデバイ
    ス。
  10. 【請求項10】 活性領域(11)がブラッグ反射形格
    子を備えることを特徴とする請求項8記載のデバイス。
  11. 【請求項11】 共通の一つのチップ上に複数のデバイ
    スが設けられることを特徴とする請求項1ないし10の
    一つに記載のデバイス。
JP4056181A 1991-02-08 1992-02-05 オプトエレクトロニクデバイス Withdrawn JPH0588029A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4103930 1991-02-08
DE4103930.0 1991-02-08

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JPH0588029A true JPH0588029A (ja) 1993-04-09

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ID=6424704

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4056181A Withdrawn JPH0588029A (ja) 1991-02-08 1992-02-05 オプトエレクトロニクデバイス

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US (1) US5195150A (ja)
EP (2) EP0498169B1 (ja)
JP (1) JPH0588029A (ja)
DE (1) DE59204710D1 (ja)

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