JPH0587879A - 電気試験装置及び故障救済方法 - Google Patents
電気試験装置及び故障救済方法Info
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- JPH0587879A JPH0587879A JP3246243A JP24624391A JPH0587879A JP H0587879 A JPH0587879 A JP H0587879A JP 3246243 A JP3246243 A JP 3246243A JP 24624391 A JP24624391 A JP 24624391A JP H0587879 A JPH0587879 A JP H0587879A
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- Japan
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Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、電気試験装置及び故障救済方法に関
し、故障原因解析時間を短縮し、故障救済処理を効率的
に行うことを目的とする。 【構成】テストスキップデータは、プリント基板識別符
号と、電気試験前に検出された故障によりプリント基板
１に入力パターンを与えても期待値パターンが得られな
いと予測されるテストデータを識別するデータからな
る。テストデータがテストスキップデータで識別される
テストデータ以外のものであるときのみ、プリント基板
１の該試験箇所に入力パターンを与え、プリント基板１
から得られる出力パターンを期待値パターンと比較して
故障であるか否かを判定する。電気試験前後に検出され
た故障の救済処理を、電気試験後に一度に行う。
し、故障原因解析時間を短縮し、故障救済処理を効率的
に行うことを目的とする。 【構成】テストスキップデータは、プリント基板識別符
号と、電気試験前に検出された故障によりプリント基板
１に入力パターンを与えても期待値パターンが得られな
いと予測されるテストデータを識別するデータからな
る。テストデータがテストスキップデータで識別される
テストデータ以外のものであるときのみ、プリント基板
１の該試験箇所に入力パターンを与え、プリント基板１
から得られる出力パターンを期待値パターンと比較して
故障であるか否かを判定する。電気試験前後に検出され
た故障の救済処理を、電気試験後に一度に行う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、部品が一部又は全部実
装されたプリント基板に対する電気試験装置及び故障救
済方法に関する。
装されたプリント基板に対する電気試験装置及び故障救
済方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】プリント基板の部品実装高密度化、部品
のピン数増大化等により、プリント基板に対する電気試
験箇所は著しく増加し、試験に要する時間も益々長くな
ってきている。このため、試験時間の短縮化が要求され
ている。
のピン数増大化等により、プリント基板に対する電気試
験箇所は著しく増加し、試験に要する時間も益々長くな
ってきている。このため、試験時間の短縮化が要求され
ている。
【０００３】電気試験では、試験対象のプリント基板に
与える入力パターンと出力の期待値パターンとの組をテ
ストパターンとして予め磁気テープ等に記憶しておき、
試験の際にこのテストパターンを読み出し、その入力パ
ターンをプリント基板に与え、プリント基板からの出力
パターンを読み取り、この出力パターンを期待値パター
ンと比較して故障を検出する。故障が検出されると、そ
のテストパターン及び出力パターンがテスト結果として
出力される。このテスト結果に基づき、人が故障原因を
解析する（故障箇所の特定を含む）。この人による作業
は一般に長時間を要する。
与える入力パターンと出力の期待値パターンとの組をテ
ストパターンとして予め磁気テープ等に記憶しておき、
試験の際にこのテストパターンを読み出し、その入力パ
ターンをプリント基板に与え、プリント基板からの出力
パターンを読み取り、この出力パターンを期待値パター
ンと比較して故障を検出する。故障が検出されると、そ
のテストパターン及び出力パターンがテスト結果として
出力される。このテスト結果に基づき、人が故障原因を
解析する（故障箇所の特定を含む）。この人による作業
は一般に長時間を要する。
【０００４】一方、外観検査や各種試験により検出され
た故障の救済処理及び簡単な設計変更（エンジニアリン
グチェンジ）に伴う処理は、プリント基板へのストレス
や作業効率を考慮すると、まとめて１度に行った方が好
ましい。
た故障の救済処理及び簡単な設計変更（エンジニアリン
グチェンジ）に伴う処理は、プリント基板へのストレス
や作業効率を考慮すると、まとめて１度に行った方が好
ましい。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、故障救済処理
を電気試験後に１度に行うと、電気試験前に検出された
故障及び設計変更がプリント基板上で実際に行われてい
ないことによる故障が、他の故障と共に多数検出され、
故障原因の解析に無駄な時間や労力を費やすという問題
点があった。
を電気試験後に１度に行うと、電気試験前に検出された
故障及び設計変更がプリント基板上で実際に行われてい
ないことによる故障が、他の故障と共に多数検出され、
故障原因の解析に無駄な時間や労力を費やすという問題
点があった。
【０００６】本発明の目的は、このような問題点に鑑
み、故障原因解析時間を短縮可能な電気試験装置及び故
障救済処理を効率的に行うことが可能な故障救済方法を
提供することにある。
み、故障原因解析時間を短縮可能な電気試験装置及び故
障救済処理を効率的に行うことが可能な故障救済方法を
提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段及びその作用】図１は、本
発明に係る電気試験装置の原理構成を示す。
発明に係る電気試験装置の原理構成を示す。
【０００８】この電気試験装置は、プリント基板１の試
験箇所と該試験箇所に与える入力パターンと該入力パタ
ーンを与えたときにプリント基板１から得られる出力パ
ターンの期待値パターンとが格納されたテストデータ記
憶手段２と、プリント基板識別符号と該符号のプリント
基板１に該入力パターンを与えても該期待値パターンが
得られないと予測される該テストデータを識別するテス
トスキップデータとが格納されたテストスキップデータ
記憶手段３と、テストデータ記憶手段２及びテストスキ
ップデータ記憶手段３から該データを読み出し、該テス
トデータが該テストスキップデータで識別されるテスト
データ以外のものであるか否かを判別するテストスキッ
プ判別手段４と、該テストデータが該テストスキップデ
ータで識別されるテストデータ以外のものであると判別
された場合のみ、プリント基板１の該試験箇所に該入力
パターンを与え、プリント基板１から得られる出力パタ
ーンを該期待値パターンと比較して故障であるか否かを
判定するテスト実行手段５とを備えている。
験箇所と該試験箇所に与える入力パターンと該入力パタ
ーンを与えたときにプリント基板１から得られる出力パ
ターンの期待値パターンとが格納されたテストデータ記
憶手段２と、プリント基板識別符号と該符号のプリント
基板１に該入力パターンを与えても該期待値パターンが
得られないと予測される該テストデータを識別するテス
トスキップデータとが格納されたテストスキップデータ
記憶手段３と、テストデータ記憶手段２及びテストスキ
ップデータ記憶手段３から該データを読み出し、該テス
トデータが該テストスキップデータで識別されるテスト
データ以外のものであるか否かを判別するテストスキッ
プ判別手段４と、該テストデータが該テストスキップデ
ータで識別されるテストデータ以外のものであると判別
された場合のみ、プリント基板１の該試験箇所に該入力
パターンを与え、プリント基板１から得られる出力パタ
ーンを該期待値パターンと比較して故障であるか否かを
判定するテスト実行手段５とを備えている。
【０００９】本装置発明によれば、電気試験前に検出さ
れた故障箇所に影響される電気試験がスキップされるの
で、電気試験後に無駄な故障原因解析を行う必要がなく
なり、故障原因解析時間を短縮することができる。
れた故障箇所に影響される電気試験がスキップされるの
で、電気試験後に無駄な故障原因解析を行う必要がなく
なり、故障原因解析時間を短縮することができる。
【００１０】本装置発明の第１態様では、テストスキッ
プデータ記憶手段３には、個々のプリント基板によらず
種々の故障箇所とテストパターン識別データとが対応し
て格納され、かつ、個々のプリント基板の故障箇所が前
記プリント基板識別符号と対応して格納されている。
プデータ記憶手段３には、個々のプリント基板によらず
種々の故障箇所とテストパターン識別データとが対応し
て格納され、かつ、個々のプリント基板の故障箇所が前
記プリント基板識別符号と対応して格納されている。
【００１１】この構成の場合、個々のプリント基板によ
らないデータは故障シミュレーションで自動生成でき、
また、個々のプリント基板毎にテストパターン識別デー
タを作成する必要がないので、テストスキップデータ作
成作業が簡単になる。
らないデータは故障シミュレーションで自動生成でき、
また、個々のプリント基板毎にテストパターン識別デー
タを作成する必要がないので、テストスキップデータ作
成作業が簡単になる。
【００１２】本発明に係る故障救済方法では、電気試験
前に検出された故障の救済処理を行わずに上記電気試験
装置で電気試験を行い、該電気試験後に、該電気試験前
に検出された故障及び該電気試験により検出された故障
の救済処理を一度に行う。
前に検出された故障の救済処理を行わずに上記電気試験
装置で電気試験を行い、該電気試験後に、該電気試験前
に検出された故障及び該電気試験により検出された故障
の救済処理を一度に行う。
【００１３】この故障救済方法によれば、故障検出の度
に故障救済処理を行う場合よりも、プリント基板１への
ストレスが低減され、かつ、故障救済処理を一度に効率
的に行うことができる。
に故障救済処理を行う場合よりも、プリント基板１への
ストレスが低減され、かつ、故障救済処理を一度に効率
的に行うことができる。
【００１４】
以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説明する。
【００１５】図２は、電気試験装置構成図である。
【００１６】試験対象のプリント基板１０には、部品が
実装されている。この電気試験装置は、断線、短絡又は
誤配線等の故障と、抵抗、コンデンサ及びＩ／Ｏピンな
どの部品誤搭載や部品不良等の故障を検出するためのも
のである。
実装されている。この電気試験装置は、断線、短絡又は
誤配線等の故障と、抵抗、コンデンサ及びＩ／Ｏピンな
どの部品誤搭載や部品不良等の故障を検出するためのも
のである。
【００１７】プリント基板１０は、電気試験を行う前に
検出された故障、例えば製造不良による断線や短絡等の
故障の救済処理が行われていない。この故障は、当然、
個々のプリント基板１０により異なる。また、簡単な設
計変更がプリント基板上で実際に行われておらず、変更
部分に対し電気試験を行えば故障と判定される。
検出された故障、例えば製造不良による断線や短絡等の
故障の救済処理が行われていない。この故障は、当然、
個々のプリント基板１０により異なる。また、簡単な設
計変更がプリント基板上で実際に行われておらず、変更
部分に対し電気試験を行えば故障と判定される。
【００１８】プリント基板１０に対するテストデータ
は、前記設計変更後の設計データ及び部品実装情報に基
づいて生成され、テストデータファイル１２に予め格納
されている。テストデータファイル１２には、入力パタ
ーンと、この入力パターンを供給したときにプリント基
板１０から得られる出力パターンの期待値パターンと、
テストパターンシリアル番号とが多数配列されている。
この入力パターンと期待値パターンとの組が、テストパ
ターンを構成する。テストパターンは、プローブ総移動
距離が短くなるように配列されている。テストデータフ
ァイル１２にはまた、プリント基板１０上の入力パター
ン供給点及び出力パターン取出点の位置、すなわちプロ
ーブ当接位置を、テストパターンの要素と対応させたプ
ローブ位置テーブルが格納されている。
は、前記設計変更後の設計データ及び部品実装情報に基
づいて生成され、テストデータファイル１２に予め格納
されている。テストデータファイル１２には、入力パタ
ーンと、この入力パターンを供給したときにプリント基
板１０から得られる出力パターンの期待値パターンと、
テストパターンシリアル番号とが多数配列されている。
この入力パターンと期待値パターンとの組が、テストパ
ターンを構成する。テストパターンは、プローブ総移動
距離が短くなるように配列されている。テストデータフ
ァイル１２にはまた、プリント基板１０上の入力パター
ン供給点及び出力パターン取出点の位置、すなわちプロ
ーブ当接位置を、テストパターンの要素と対応させたプ
ローブ位置テーブルが格納されている。
【００１９】一方、故障／スキップファイル１３には、
故障、例えば短絡故障及びそのネット名と、該故障によ
り影響されるテストパターンのシリアル番号（テストパ
ターン自体であってもよい）とが対応して格納されてれ
る。また、検出故障ファイル１４には、プリント基板１
０のＩＤ番号と、このプリント基板１０について電気試
験前に各工程で既に検出された故障、例えば短絡故障及
びそのネット名が格納されている。
故障、例えば短絡故障及びそのネット名と、該故障によ
り影響されるテストパターンのシリアル番号（テストパ
ターン自体であってもよい）とが対応して格納されてれ
る。また、検出故障ファイル１４には、プリント基板１
０のＩＤ番号と、このプリント基板１０について電気試
験前に各工程で既に検出された故障、例えば短絡故障及
びそのネット名が格納されている。
【００２０】テストデータファイル１２、故障／スキッ
プファイル１３及び検出故障ファイル１４は、リーダ１
６を介してコンピュータ１８に読み込まれる。コンピュ
ータ１８は、これらのデータに基づき、テスト制御装置
２０に対しテスト箇所及び入力パターンを供給し、テス
ト制御装置２０から得られるプリント基板１０の出力パ
ターンを期待値パターンと比較して故障であるか否かを
判定し、その結果を出力装置２２、例えば表示装置、プ
リンタ及び磁気ディスク装置に供給する。
プファイル１３及び検出故障ファイル１４は、リーダ１
６を介してコンピュータ１８に読み込まれる。コンピュ
ータ１８は、これらのデータに基づき、テスト制御装置
２０に対しテスト箇所及び入力パターンを供給し、テス
ト制御装置２０から得られるプリント基板１０の出力パ
ターンを期待値パターンと比較して故障であるか否かを
判定し、その結果を出力装置２２、例えば表示装置、プ
リンタ及び磁気ディスク装置に供給する。
【００２１】テスト制御装置２０は、テストパターン及
び上記プローブ位置テーブルに基づいて、プローバ２４
が固定されたステージ２６を移動させ、プローバ２４の
プローブ２４ａをプリント基板１０上のテストパターン
入出力点に当接させる。そして、プローバ２４を介しプ
リント基板１０に入力パターンを供給する。プリント基
板１０はテストステーション２８に装着されている。プ
リント基板１０からの出力パターンは、プローバ２４を
介してテスト制御装置２０に供給される。
び上記プローブ位置テーブルに基づいて、プローバ２４
が固定されたステージ２６を移動させ、プローバ２４の
プローブ２４ａをプリント基板１０上のテストパターン
入出力点に当接させる。そして、プローバ２４を介しプ
リント基板１０に入力パターンを供給する。プリント基
板１０はテストステーション２８に装着されている。プ
リント基板１０からの出力パターンは、プローバ２４を
介してテスト制御装置２０に供給される。
【００２２】次に、コンピュータ１８のソフトウエア構
成を図３に基づいて説明する。以下、括弧内の数値は、
図中のステップ識別番号である。
成を図３に基づいて説明する。以下、括弧内の数値は、
図中のステップ識別番号である。
【００２３】（５０）検出故障ファイル１４からリーダ
１６を介し、現在検査対象となっているプリント基板１
０のＩＤ番号に対応した検出故障を全て読み出す。
１６を介し、現在検査対象となっているプリント基板１
０のＩＤ番号に対応した検出故障を全て読み出す。
【００２４】（５２）故障／スキップファイル１３を参
照して、この検出故障に対応したテストパターンシリア
ル番号を全て読み出す。
照して、この検出故障に対応したテストパターンシリア
ル番号を全て読み出す。
【００２５】（５４）テストデータファイル１２からリ
ーダ１６を介し、プローブ当接位置とテストパターン要
素との対応関係（プローブ位置テーブル）を読み出し
て、テスト制御装置２０に供給する。
ーダ１６を介し、プローブ当接位置とテストパターン要
素との対応関係（プローブ位置テーブル）を読み出し
て、テスト制御装置２０に供給する。
【００２６】（５６）テストパターン読み出しが終了し
ていれば、処理を終了し、終了していなければ次のステ
ップ５８へ進む。
ていれば、処理を終了し、終了していなければ次のステ
ップ５８へ進む。
【００２７】（５８）テストデータファイル１２からリ
ーダ１６を介しテストパターンシリアル番号及びテスト
パターンを読み出す。
ーダ１６を介しテストパターンシリアル番号及びテスト
パターンを読み出す。
【００２８】（６０）ステップ５８で読み出したテスト
パターンシリアル番号が、ステップ５２で読み出したテ
ストパターンシリアル番号のいずれにも一致しなけれ
ば、次のステップ６２へ進み、そうでなければステップ
６４へ進む。
パターンシリアル番号が、ステップ５２で読み出したテ
ストパターンシリアル番号のいずれにも一致しなけれ
ば、次のステップ６２へ進み、そうでなければステップ
６４へ進む。
【００２９】（６２）テストパターンをテスト制御装置
２０へ供給して、テストを実行させる。
２０へ供給して、テストを実行させる。
【００３０】（６４）テスト制御装置２０から得られる
出力パターンを期待値パターンと比較して、故障である
か否かを判定する。故障でなければ上記ステップ５６へ
戻り、故障であればそのテストパターン及び出力パター
ンを出力装置２２に供給した後、上記ステップ５６へ戻
る。
出力パターンを期待値パターンと比較して、故障である
か否かを判定する。故障でなければ上記ステップ５６へ
戻り、故障であればそのテストパターン及び出力パター
ンを出力装置２２に供給した後、上記ステップ５６へ戻
る。
【００３１】以上のような処理により、電気試験を行う
前に検出された故障箇所に影響される電気試験がスキッ
プされるので、この電気試験後に、長時間を要する無駄
な故障原因解析を行う必要がなくなる。
前に検出された故障箇所に影響される電気試験がスキッ
プされるので、この電気試験後に、長時間を要する無駄
な故障原因解析を行う必要がなくなる。
【００３２】電気試験後には、出力装置２２に得られた
データに基づいて故障原因を解析し、故障箇所を特定す
る。その後、この故障箇所、電気試験前にすでに検出さ
れた故障箇所及び設計変更部分に対し、故障救済処理を
１度に行う。
データに基づいて故障原因を解析し、故障箇所を特定す
る。その後、この故障箇所、電気試験前にすでに検出さ
れた故障箇所及び設計変更部分に対し、故障救済処理を
１度に行う。
【００３３】これにより、故障検出の度に故障救済処理
を行う場合よりも、プリント基板へのストレスが低減さ
れ、かつ、故障救済の作業効率が向上する。
を行う場合よりも、プリント基板へのストレスが低減さ
れ、かつ、故障救済の作業効率が向上する。
【００３４】故障救済処理後は、検出故障ファイル１４
を用いずに再度電気試験を行って、救済処理が正しく行
われたか否かを確認する。
を用いずに再度電気試験を行って、救済処理が正しく行
われたか否かを確認する。
【００３５】なお、本発明には外にも種々の変形例が含
まれる。例えば、テストデータファイル１２には、上記
プローブ位置テーブルを格納せずに、プローブの位置座
標とプローブのピン数に応じた次元のテストパターンと
の組み合わせを格納してもよい。この場合、テストスキ
ップ箇所をこのプローブ位置座標で指定し、テストスキ
ップするかどうかをプローブ位置座標で判断する構成で
あってもよい。
まれる。例えば、テストデータファイル１２には、上記
プローブ位置テーブルを格納せずに、プローブの位置座
標とプローブのピン数に応じた次元のテストパターンと
の組み合わせを格納してもよい。この場合、テストスキ
ップ箇所をこのプローブ位置座標で指定し、テストスキ
ップするかどうかをプローブ位置座標で判断する構成で
あってもよい。
【００３６】
【発明の効果】以上説明した如く、本発明に係る電気試
験装置によれば、電気試験前に検出された故障箇所に影
響される電気試験がスキップされるので、電気試験後に
無駄な故障原因解析を行う必要がなくなり、故障原因解
析時間を短縮することができるという優れた効果を奏
し、試験コスト低減に寄与するところが大きい。
験装置によれば、電気試験前に検出された故障箇所に影
響される電気試験がスキップされるので、電気試験後に
無駄な故障原因解析を行う必要がなくなり、故障原因解
析時間を短縮することができるという優れた効果を奏
し、試験コスト低減に寄与するところが大きい。
【００３７】本装置発明の上記第１態様によれば、個々
のプリント基板によらないデータは故障シミュレーショ
ンで自動生成でき、また、個々のプリント基板毎にテス
トパターン識別データを作成する必要がないので、テス
トスキップデータ作成作業が簡単になるという効果を奏
する。
のプリント基板によらないデータは故障シミュレーショ
ンで自動生成でき、また、個々のプリント基板毎にテス
トパターン識別データを作成する必要がないので、テス
トスキップデータ作成作業が簡単になるという効果を奏
する。
【００３８】本発明に係る故障救済方法によれば、故障
検出の度に故障救済処理を行う場合よりも、プリント基
板へのストレスが低減され、かつ、故障救済処理を一度
に効率的に行うことができるという効果を奏する。
検出の度に故障救済処理を行う場合よりも、プリント基
板へのストレスが低減され、かつ、故障救済処理を一度
に効率的に行うことができるという効果を奏する。
【図１】本発明に係る電気試験装置の原理構成図であ
る。
る。
【図２】本発明の一実施例の電気試験装置構成図であ
る。
る。
【図３】電気試験手順を示すフローチャートである。
１０ プリント基板 １２ テストデータファイル １３ 故障／スキップファイル １４ 検出故障ファイル １６ リーダ １８ コンピュータ ２０ テスト制御装置 ２２ 出力装置 ２４ プローバ ２４ａ プローブ ２６ ステージ ２８ テストステーション
Claims (3)
- 【請求項１】 プリント基板（１）の試験箇所と該試験
箇所に与える入力パターンと該入力パターンを与えたと
きに該プリント基板から得られる出力パターンの期待値
パターンとが格納されたテストデータ記憶手段（２）
と、 プリント基板識別符号と該符号のプリント基板に該入力
パターンを与えても該期待値パターンが得られないと予
測される該テストデータを識別するテストスキップデー
タとが格納されたテストスキップデータ記憶手段（３）
と、 該テストデータ記憶手段及び該テストスキップデータ記
憶手段から該データを読み出し、該テストデータが該テ
ストスキップデータで識別されるテストデータ以外のも
のであるか否かを判別するテストスキップ判別手段
（４）と、 該テストデータが該テストスキップデータで識別される
テストデータ以外のものであると判別された場合のみ、
該プリント基板の該試験箇所に該入力パターンを与え、
該プリント基板から得られる出力パターンを該期待値パ
ターンと比較して故障であるか否かを判定するテスト実
行手段（５）と、 を有することを特徴とする電気試験装置。 - 【請求項２】 前記テストスキップデータ記憶手段
（３）には、個々のプリント基板によらず種々の故障箇
所とテストパターン識別データとが対応して格納され
（１３）、かつ、個々のプリント基板の故障箇所が前記
プリント基板識別符号と対応して格納されている（１
４）ことを特徴とする請求項１記載の電気試験装置。 - 【請求項３】 電気試験前に検出された故障の救済処理
を行わずに、請求項２記載の装置で電気試験を行い、該
電気試験後に、該電気試験前に検出された故障及び該電
気試験により検出された故障の救済処理を一度に行うこ
とを特徴とする故障救済方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3246243A JPH0587879A (ja) | 1991-09-25 | 1991-09-25 | 電気試験装置及び故障救済方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3246243A JPH0587879A (ja) | 1991-09-25 | 1991-09-25 | 電気試験装置及び故障救済方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0587879A true JPH0587879A (ja) | 1993-04-06 |
Family
ID=17145637
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3246243A Withdrawn JPH0587879A (ja) | 1991-09-25 | 1991-09-25 | 電気試験装置及び故障救済方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0587879A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000067596A (ja) * | 1998-06-11 | 2000-03-03 | Gatefield Corp | Ｎｖｍセルベ―スｆｐｇａのテスト時間を減少させる方法 |
-
1991
- 1991-09-25 JP JP3246243A patent/JPH0587879A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000067596A (ja) * | 1998-06-11 | 2000-03-03 | Gatefield Corp | Ｎｖｍセルベ―スｆｐｇａのテスト時間を減少させる方法 |
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