JPH058374B2 - - Google Patents
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- JPH058374B2 JPH058374B2 JP59122933A JP12293384A JPH058374B2 JP H058374 B2 JPH058374 B2 JP H058374B2 JP 59122933 A JP59122933 A JP 59122933A JP 12293384 A JP12293384 A JP 12293384A JP H058374 B2 JPH058374 B2 JP H058374B2
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 62
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 27
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 22
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 claims description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 11
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 9
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 3
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- 238000002592 echocardiography Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23Q—DETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
- B23Q1/00—Members which are comprised in the general build-up of a form of machine, particularly relatively large fixed members
- B23Q1/25—Movable or adjustable work or tool supports
- B23Q1/44—Movable or adjustable work or tool supports using particular mechanisms
- B23Q1/48—Movable or adjustable work or tool supports using particular mechanisms with sliding pairs and rotating pairs
- B23Q1/4804—Movable or adjustable work or tool supports using particular mechanisms with sliding pairs and rotating pairs a single rotating pair followed perpendicularly by a single sliding pair
- B23Q1/4809—Movable or adjustable work or tool supports using particular mechanisms with sliding pairs and rotating pairs a single rotating pair followed perpendicularly by a single sliding pair followed perpendicularly by a single rotating pair
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/26—Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor
- G01N29/265—Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor by moving the sensor relative to a stationary material
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、試験体の内部欠陥や面圧等の内部状
態を超音波を利用して測定する超音波計測器に係
り、特に超音波を投射する探触子の試験体に対す
る位置を自動的に検出するようにした超音波計測
器の探触子位置検出装置に関する。
態を超音波を利用して測定する超音波計測器に係
り、特に超音波を投射する探触子の試験体に対す
る位置を自動的に検出するようにした超音波計測
器の探触子位置検出装置に関する。
試験体の内部欠陥や内部面圧等の内部状態を測
定する方法として、従来より、試験体の内部に探
触子から超音波を投射し、この超音波の反射エコ
ー量を再び探触子で検出するようにした超音波計
測器が知られている。
定する方法として、従来より、試験体の内部に探
触子から超音波を投射し、この超音波の反射エコ
ー量を再び探触子で検出するようにした超音波計
測器が知られている。
第９図は従来の超音波計測器の概略を示す外観
図であつて、１はオシロブラウン管や種々のつま
みスイツチ等を有する本体、２は超音波の発信・
受信を行なう探触子、３は本体１と探触子２とを
接続するコードであり、本体１は公知の図示しな
い直流電源、パルサー、増幅器等を備え、また探
触子２は公知の図示しない直流電磁石や送受信コ
イル等を備えている。
図であつて、１はオシロブラウン管や種々のつま
みスイツチ等を有する本体、２は超音波の発信・
受信を行なう探触子、３は本体１と探触子２とを
接続するコードであり、本体１は公知の図示しな
い直流電源、パルサー、増幅器等を備え、また探
触子２は公知の図示しない直流電磁石や送受信コ
イル等を備えている。
第１０図はかかる超音波測定器の使用形態の一
例を示す外観図であつて、４は試験体である。こ
の第１０図に示すように、試験体４の所定位置、
例えば矢印イで示す位置に前述の探触子２をあて
がい、この状態で探触子２から試験体４の内部に
超音波を入射し、該超音波が試験体４の内部の欠
陥またはその底面で反射する反射エコー量を再び
探触子２で受信することにより、試験体４の位置
イにおける内部欠陥の有無やその深さ等を測定す
る。同様にして、試験体４の矢印ロ，ハで示す位
置にも探触子２をあてがい、位置ロ，ハにおける
内部欠陥の有無やその深さ等を測定する。
例を示す外観図であつて、４は試験体である。こ
の第１０図に示すように、試験体４の所定位置、
例えば矢印イで示す位置に前述の探触子２をあて
がい、この状態で探触子２から試験体４の内部に
超音波を入射し、該超音波が試験体４の内部の欠
陥またはその底面で反射する反射エコー量を再び
探触子２で受信することにより、試験体４の位置
イにおける内部欠陥の有無やその深さ等を測定す
る。同様にして、試験体４の矢印ロ，ハで示す位
置にも探触子２をあてがい、位置ロ，ハにおける
内部欠陥の有無やその深さ等を測定する。
ところで、試験体４の製品としての信頼性を検
討するためには、試験体４の複数位置での測定は
勿論のこと、各測定位置で得られた測定値とそれ
ぞれの測定位置との相関関係を検討し、試験体４
における内部欠陥の分布等を検討する必要があ
る。そこで、従来は、各測定位置イ，ロ，ハ…に
塗料等で印を付け、測定完了後に各位置イ，ロ，
ハ…の長さを計測し、この計測値から試験体４に
対する探触子２の測定位置を求めるようにしてい
た。
討するためには、試験体４の複数位置での測定は
勿論のこと、各測定位置で得られた測定値とそれ
ぞれの測定位置との相関関係を検討し、試験体４
における内部欠陥の分布等を検討する必要があ
る。そこで、従来は、各測定位置イ，ロ，ハ…に
塗料等で印を付け、測定完了後に各位置イ，ロ，
ハ…の長さを計測し、この計測値から試験体４に
対する探触子２の測定位置を求めるようにしてい
た。
しかし、この従来の方法にあつては、探触子２
の試験体４に対する座標位置を求めるのに際し、
試験体４の測定位置に塗料等で印を付ける作業、
印を付けた測定位置間の長さをメジヤー等で計測
する作業、計測された測定位置間の長さから試験
体４に対する各測定位置の座標位置を計算する作
業を必要とし、作業工程が煩雑になるという欠点
があつた。
の試験体４に対する座標位置を求めるのに際し、
試験体４の測定位置に塗料等で印を付ける作業、
印を付けた測定位置間の長さをメジヤー等で計測
する作業、計測された測定位置間の長さから試験
体４に対する各測定位置の座標位置を計算する作
業を必要とし、作業工程が煩雑になるという欠点
があつた。
本発明の目的は、上述した従来技術の欠点を除
き、探触子の試験体上における座標位置を自動的
に測定できる超音波計測器の探触子位置検出方法
を提供することにある。
き、探触子の試験体上における座標位置を自動的
に測定できる超音波計測器の探触子位置検出方法
を提供することにある。
この目的を達成するため、本発明は、試験体に
超音波を投射可能な探触子を備え、超音波を利用
して前記試験体の内部状態を計測する超音波計測
器において、前記試験体上の任意位置に固着可能
な基台と、該基台に移動可能に支持され先端部に
前記探触子を設けた可動体と、前記探触子の前記
基台に対する位置を検出する検出手段とを備えた
探触子位置検出装置を用い、前記試検体上の任意
位置に２つの基点を設定し、前記探触子をこの２
つの基点に順次位置させて前記基台に対する２つ
の基点の位置を検出し、この検出した値によつて
２つの基点に対する前記基台の位置を算出し、次
いで前記探触子を前記試検体の計測点に位置させ
て前記基台に対する計測点の位置を検出し、前記
２つの基点のうちの１つの位置の検出値と前記計
測点の位置の検出値とによつて当該１つの基点と
基台とに対する計測点の位置を算出し、当該１つ
の基点を原点とし他の基点を座標軸上の点とする
ことにより定まるXY座標上に計測点の座標位置
を求めるようにしたことを特徴とする。
超音波を投射可能な探触子を備え、超音波を利用
して前記試験体の内部状態を計測する超音波計測
器において、前記試験体上の任意位置に固着可能
な基台と、該基台に移動可能に支持され先端部に
前記探触子を設けた可動体と、前記探触子の前記
基台に対する位置を検出する検出手段とを備えた
探触子位置検出装置を用い、前記試検体上の任意
位置に２つの基点を設定し、前記探触子をこの２
つの基点に順次位置させて前記基台に対する２つ
の基点の位置を検出し、この検出した値によつて
２つの基点に対する前記基台の位置を算出し、次
いで前記探触子を前記試検体の計測点に位置させ
て前記基台に対する計測点の位置を検出し、前記
２つの基点のうちの１つの位置の検出値と前記計
測点の位置の検出値とによつて当該１つの基点と
基台とに対する計測点の位置を算出し、当該１つ
の基点を原点とし他の基点を座標軸上の点とする
ことにより定まるXY座標上に計測点の座標位置
を求めるようにしたことを特徴とする。
以下、本発明の実施例を図面により説明する。
第１図は本発明による超音波計測器の探触子位
置検出方法に用いられる装置の第１の実施例を示
す平面図、第２図は第１図に示す超音波計測器の
探触子位置検出装置の変位検出部を示す部分断面
図、第３図は第１図に示す超音波計測器の探触子
位置検出装置の探触子取付部を示す外観図であ
り、第９，１０図に対応する部分には同一符号を
付けてある。
置検出方法に用いられる装置の第１の実施例を示
す平面図、第２図は第１図に示す超音波計測器の
探触子位置検出装置の変位検出部を示す部分断面
図、第３図は第１図に示す超音波計測器の探触子
位置検出装置の探触子取付部を示す外観図であ
り、第９，１０図に対応する部分には同一符号を
付けてある。
これらの図において、５は試験体４上の任意位
置にマグネツト等により固定される基台、６は基
台５の内部に配設された第１のロータリエンコー
ダ、７は基台５の上部に回転可能に配設された回
転体、８は支軸９を介して回転体７に連結された
歯車、１０は支軸９を支承するベアリングであ
り、回転体７の矢印Ｃ方向の回転量は支軸９およ
び歯車８を介して第１のロータリエンコーダ６に
伝達される。１１は回転体７の内部に配設された
第２のロータリエンコーダ、１２は回転体７に摺
動可能に嵌合されたロツドであり、ロツド１２の
矢印Ｄ方向の直線変位は第２のロータリエンコー
ダ１１で回転変位として変換され、該第２のロー
タリエンコーダ１１でロツド１２のストローク変
位量が検出される。２は前述した探触子、１３は
探触子２に固着された操作杆で、該操作杆１３は
ロツド１２の先端部に設けられた孔１２ａに摺動
自在に嵌合されており、これにより探触子２はロ
ツド１２に対して上下動可能かつ水平方向に回転
可能に取り付けられる。
置にマグネツト等により固定される基台、６は基
台５の内部に配設された第１のロータリエンコー
ダ、７は基台５の上部に回転可能に配設された回
転体、８は支軸９を介して回転体７に連結された
歯車、１０は支軸９を支承するベアリングであ
り、回転体７の矢印Ｃ方向の回転量は支軸９およ
び歯車８を介して第１のロータリエンコーダ６に
伝達される。１１は回転体７の内部に配設された
第２のロータリエンコーダ、１２は回転体７に摺
動可能に嵌合されたロツドであり、ロツド１２の
矢印Ｄ方向の直線変位は第２のロータリエンコー
ダ１１で回転変位として変換され、該第２のロー
タリエンコーダ１１でロツド１２のストローク変
位量が検出される。２は前述した探触子、１３は
探触子２に固着された操作杆で、該操作杆１３は
ロツド１２の先端部に設けられた孔１２ａに摺動
自在に嵌合されており、これにより探触子２はロ
ツド１２に対して上下動可能かつ水平方向に回転
可能に取り付けられる。
第４図は、前記第１および第２のロータリエン
コーダ６，１１から出力される信号を取り込んで
探触子２の座標位置を演算する処理装置１４の一
例を示すブロツク図である。この第４図に示すよ
うに処理装置１４は例えばマイクロコンピユータ
で構成してあり、第１のロータリエンコーダ６と
第２のロータリエンコーダ１１からの信号を入力
しそれらを切換えて出力するマルチプレクサ１４
ａと、各種の演算処理を行なうい中央処理装置
（CPU）１４ｂと、演算途中のデータ等を一時的
に記憶するRAMメモリ１４ｃと、演算により得
られた座標位置を表示装置１５に出力する出力器
１４ｄとを有している。
コーダ６，１１から出力される信号を取り込んで
探触子２の座標位置を演算する処理装置１４の一
例を示すブロツク図である。この第４図に示すよ
うに処理装置１４は例えばマイクロコンピユータ
で構成してあり、第１のロータリエンコーダ６と
第２のロータリエンコーダ１１からの信号を入力
しそれらを切換えて出力するマルチプレクサ１４
ａと、各種の演算処理を行なうい中央処理装置
（CPU）１４ｂと、演算途中のデータ等を一時的
に記憶するRAMメモリ１４ｃと、演算により得
られた座標位置を表示装置１５に出力する出力器
１４ｄとを有している。
次に、第５図に基づいて探触子２の座標位置の
演算原理について説明する。なお、この第５図に
おいて、Ｏ点は回転体７が基台５上で回転する時
の回転中心、すなわち支軸９の位置を示してい
る。
演算原理について説明する。なお、この第５図に
おいて、Ｏ点は回転体７が基台５上で回転する時
の回転中心、すなわち支軸９の位置を示してい
る。
まず、探触子２の検出座標平面（Ｘ−Ｙ平面）
と決定するために、原点（０，０）となるＡ点と
Ｘ方向の任意点のＢ点とを予め与えておく。すな
わち、Ａ点を指定した時のロツド１２の長さを第
２のロータリエンコーダ１１で検出してその長さ
をａとし、同様にＢ点を指定した時のロツド１２
の長さをロータリエンコーダ１１で検出してその
長さをｂとし、さらにＡ点とＢ点のＯ点に対する
角度を第１のロータリエンコーダ６で検出してそ
の角度をαとする。これらａ，ｂ，αが与えられ
ると、Ａ点とＢ点間の距離は、 ＝√2＋2−2・ … として求められ、が求められると、 ∠OAB＝cos-1a2＋（AB）2−b2／２・ａ・AB … が求められる。
と決定するために、原点（０，０）となるＡ点と
Ｘ方向の任意点のＢ点とを予め与えておく。すな
わち、Ａ点を指定した時のロツド１２の長さを第
２のロータリエンコーダ１１で検出してその長さ
をａとし、同様にＢ点を指定した時のロツド１２
の長さをロータリエンコーダ１１で検出してその
長さをｂとし、さらにＡ点とＢ点のＯ点に対する
角度を第１のロータリエンコーダ６で検出してそ
の角度をαとする。これらａ，ｂ，αが与えられ
ると、Ａ点とＢ点間の距離は、 ＝√2＋2−2・ … として求められ、が求められると、 ∠OAB＝cos-1a2＋（AB）2−b2／２・ａ・AB … が求められる。
いま、探触子２が任意の点Ｐにある場合、Ｏ点
からＰ点までの長さｐは第２のロータリエンコー
ダ１１でロツド１２の長さを検出することによつ
て求められ、またＡ点とＰ点のＯ点に対する角度
βすなわち∠AOPもロツド１２の回転量を第１
のロータリエンコーダ６で検出することにより求
められる。これらｐ，βが与えられると、前述と
同様にして、 ＝√2＋2−2・ … ∠OAP＝cos-1a2＋（AP）2−p2／２・ａ・AP … が求められ、と式により ∠PAB＝∠OAP−∠OAB … が求められる。以上より、Ｐ点の座標をそれぞれ
Px，Pyとすると、，式より Px＝×cos（∠PAB） Py＝×sin（∠PAB） が求められる。かかる演算処理は前述した処理装
置１４によつて行なわれ、処理装置１４は探触子
２の任意点の座標位置を表示装置１５に表示し、
あるいは当該座標位置をプリントアウトする。
からＰ点までの長さｐは第２のロータリエンコー
ダ１１でロツド１２の長さを検出することによつ
て求められ、またＡ点とＰ点のＯ点に対する角度
βすなわち∠AOPもロツド１２の回転量を第１
のロータリエンコーダ６で検出することにより求
められる。これらｐ，βが与えられると、前述と
同様にして、 ＝√2＋2−2・ … ∠OAP＝cos-1a2＋（AP）2−p2／２・ａ・AP … が求められ、と式により ∠PAB＝∠OAP−∠OAB … が求められる。以上より、Ｐ点の座標をそれぞれ
Px，Pyとすると、，式より Px＝×cos（∠PAB） Py＝×sin（∠PAB） が求められる。かかる演算処理は前述した処理装
置１４によつて行なわれ、処理装置１４は探触子
２の任意点の座標位置を表示装置１５に表示し、
あるいは当該座標位置をプリントアウトする。
なお、上述した第１の実施例にあつては探触子
２の直線方向の変位をロツド１２と第２のロータ
リエンコーダ１１とを用いて検出するものについ
て説明したが、第６図に示すようにこれらに代え
て回転体７に載置したポテンシヨメータ１６と、
該ポテンシヨメータ１６と探触子２とを接続する
ピアノ線１７とで、探触子２の直線方向の変位検
出手段を構成するようにしても良い。また、回転
体７の回転変化検出についても、第１のローラリ
エンコーダ６の代りに回転型ポテンシヨメータ等
を用いても良い。
２の直線方向の変位をロツド１２と第２のロータ
リエンコーダ１１とを用いて検出するものについ
て説明したが、第６図に示すようにこれらに代え
て回転体７に載置したポテンシヨメータ１６と、
該ポテンシヨメータ１６と探触子２とを接続する
ピアノ線１７とで、探触子２の直線方向の変位検
出手段を構成するようにしても良い。また、回転
体７の回転変化検出についても、第１のローラリ
エンコーダ６の代りに回転型ポテンシヨメータ等
を用いても良い。
第７図は本発明による超音波計測器の探触位置
検出方法に用いられる装置の他の実施例を示す平
面図であつて、第１図に対応する部分には同一符
号が付けられている。
検出方法に用いられる装置の他の実施例を示す平
面図であつて、第１図に対応する部分には同一符
号が付けられている。
この第７図において、１８，１９は予め長さが
知られているリンクであり、リンク１８の一端は
ピン２０によつて基台５上に回転可能に連結さ
れ、リンク１８の他端にはピン２１によつて他の
リンク１９の一端が連結され、該リンク１９の先
端部には先に説明した第１の実施例と同様に探触
子２が上下動かつ回転可能に取り付けられてい
る。また、図示しないが基台５の内部にはリンク
１８の基台５に対する角度を検出可能な手段、例
えばロータリエンコーダが配設されており、同様
にリンク１８とリンク１９との連結部分にも両リ
ンク１８，１９のなす角度を検出可能なロータリ
エンコーダ（図示せず）等が配設されている。
知られているリンクであり、リンク１８の一端は
ピン２０によつて基台５上に回転可能に連結さ
れ、リンク１８の他端にはピン２１によつて他の
リンク１９の一端が連結され、該リンク１９の先
端部には先に説明した第１の実施例と同様に探触
子２が上下動かつ回転可能に取り付けられてい
る。また、図示しないが基台５の内部にはリンク
１８の基台５に対する角度を検出可能な手段、例
えばロータリエンコーダが配設されており、同様
にリンク１８とリンク１９との連結部分にも両リ
ンク１８，１９のなす角度を検出可能なロータリ
エンコーダ（図示せず）等が配設されている。
この一実施例における探触子２の座標位置の演
算原理は以下の通りである。すなわち、第８図に
おいて、リンク１８が基台５上で回転する時の回
転中心をＯ点、両リンク１８，１９の連結点をＡ
点、リンク１９の先端部すなわち探触子２の位置
をＢ点、リンク１８の長さをａ（＝）、リンク
１９の長さをｂ（＝）、リンク１８とリンク１
９とのなす角度をγ（＝∠OAB）とすると、ａ，
ｂ，γはいずれも既知あるいは検出可能であるか
ら、まずＸ−Ｙ平面の原点（０，０）となるＢ点
を与えて ＝√2＋2−2・ … ∠AOB＝cos-1a2＋（OB）2−b2／２・ａ・OB … を求める。
算原理は以下の通りである。すなわち、第８図に
おいて、リンク１８が基台５上で回転する時の回
転中心をＯ点、両リンク１８，１９の連結点をＡ
点、リンク１９の先端部すなわち探触子２の位置
をＢ点、リンク１８の長さをａ（＝）、リンク
１９の長さをｂ（＝）、リンク１８とリンク１
９とのなす角度をγ（＝∠OAB）とすると、ａ，
ｂ，γはいずれも既知あるいは検出可能であるか
ら、まずＸ−Ｙ平面の原点（０，０）となるＢ点
を与えて ＝√2＋2−2・ … ∠AOB＝cos-1a2＋（OB）2−b2／２・ａ・OB … を求める。
次に、Ａ点がA′点、Ｂ点がB′点、γがγ′となる
ようにリンク１８，１９を移動して、Ｘ方向の任
意の点B′点を与え、 ′＝√2＋2−2・′ … ∠A′OB′＝cos-1a2＋（OB′）2−b2／２・ａ・OB′
… を求める。ここで、原点となるＢ点を指定した時
のリンク１８とB′点を指定した時のリンク１８
とのなす角度をδ（＝∠AOA′）とすると、δは
角度検出手段によつて検出可能であるから、この
δと，式より ∠BOB′＝δ＋∠A′OB′−∠AOB … が求められ、これにより ′＝√（）2＋（′）2−２（）
・（′）・（∠′）… ∠OBB′＝cos-1（OB）2＋（BB′）2−（OB′）2／２・O
B・BB′… が求められる。
ようにリンク１８，１９を移動して、Ｘ方向の任
意の点B′点を与え、 ′＝√2＋2−2・′ … ∠A′OB′＝cos-1a2＋（OB′）2−b2／２・ａ・OB′
… を求める。ここで、原点となるＢ点を指定した時
のリンク１８とB′点を指定した時のリンク１８
とのなす角度をδ（＝∠AOA′）とすると、δは
角度検出手段によつて検出可能であるから、この
δと，式より ∠BOB′＝δ＋∠A′OB′−∠AOB … が求められ、これにより ′＝√（）2＋（′）2−２（）
・（′）・（∠′）… ∠OBB′＝cos-1（OB）2＋（BB′）2−（OB′）2／２・O
B・BB′… が求められる。
このように、原点となるＢ点とＸ方向の任意の
B′点を予め与えた状態で探触子２をＸ−Ｙ方向
の任意の点Ｐに移動した場合、Ａ点はA″点へ、
Ｂ点はＰ点へと移動し、γはγ″，δはδ′となる。
これらγ″，δ′はいずれも検出可能であるから、 ＝√2＋2−2・″ … ∠A″OP＝cos-1a2＋（OP）2−b2／２・ａ・OP … が求められ、 ∠BOP＝δ′＋∠A″OP−∠AOB … ＝√（）2＋（）2−２（）・（
）・（∠）… ∠OBP＝cos-1（OB）2＋（BP）2−（OP）2／２・OB・BP
… が求められる。この式において、，，
BPは，，式により既に求められているか
ら、と式より ∠B′BP＝∠OBP−∠OBB′ … が求められる。以上より、Ｐ点の座標をそれぞれ
Px，Pyとすると、と式より ∠Px＝×cos（∠B′BP） Py＝×sin（∠B′BP） が求められる。かかる演算処理も、前述した第１
の実施例と同様に第４図に示す処理装置１４によ
つて行なわれ、該処理装置１４は探触子２の任意
の座標位置を表示装置１５に表示したり、あるい
はプリントアウトする。
B′点を予め与えた状態で探触子２をＸ−Ｙ方向
の任意の点Ｐに移動した場合、Ａ点はA″点へ、
Ｂ点はＰ点へと移動し、γはγ″，δはδ′となる。
これらγ″，δ′はいずれも検出可能であるから、 ＝√2＋2−2・″ … ∠A″OP＝cos-1a2＋（OP）2−b2／２・ａ・OP … が求められ、 ∠BOP＝δ′＋∠A″OP−∠AOB … ＝√（）2＋（）2−２（）・（
）・（∠）… ∠OBP＝cos-1（OB）2＋（BP）2−（OP）2／２・OB・BP
… が求められる。この式において、，，
BPは，，式により既に求められているか
ら、と式より ∠B′BP＝∠OBP−∠OBB′ … が求められる。以上より、Ｐ点の座標をそれぞれ
Px，Pyとすると、と式より ∠Px＝×cos（∠B′BP） Py＝×sin（∠B′BP） が求められる。かかる演算処理も、前述した第１
の実施例と同様に第４図に示す処理装置１４によ
つて行なわれ、該処理装置１４は探触子２の任意
の座標位置を表示装置１５に表示したり、あるい
はプリントアウトする。
なお、上記した各実施例においては、基台５を
試験体４の任意位置に固定する手段としてマグネ
ツトを利用したものについて説明したが、このマ
グネツトに代えて吸盤や万力等の他の固定手段を
用いても良い。
試験体４の任意位置に固定する手段としてマグネ
ツトを利用したものについて説明したが、このマ
グネツトに代えて吸盤や万力等の他の固定手段を
用いても良い。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、探触子
の試験体上における座標位置を自動的に測定する
ことができ、それ故、探触子によつて測定される
試験体の任意位置での内部状態と当該測定位置と
をそれぞれデータとして取る場合、その作業工程
を従来に比べて簡単にすることができる。又、座
標を任意に設定することができるので、基台を予
め定められてた位置に正確に設置する必要はな
く、計測に便利な位置に簡単に設置することがで
きる。
の試験体上における座標位置を自動的に測定する
ことができ、それ故、探触子によつて測定される
試験体の任意位置での内部状態と当該測定位置と
をそれぞれデータとして取る場合、その作業工程
を従来に比べて簡単にすることができる。又、座
標を任意に設定することができるので、基台を予
め定められてた位置に正確に設置する必要はな
く、計測に便利な位置に簡単に設置することがで
きる。
第１図は本発明による超音波計測器の探触子位
置検出方法に用いられる装置の第１の実施例を示
す平面図、第２図は第１図に示す超音波計測器の
探触子位置検出装置の変位検出部を示す部分断面
図、第３図は第１図に示す超音波計測器の探触子
位置検出装置の探触子取付部を示す外観図、第４
図は第１図に示す超音波計測器の探触子位置検出
装置に具備される処理装置の一例を示すブロツク
図、第５図は第４図に示す処理装置で演算される
演算原理を説明する原理図、第６図は本発明によ
る超音波計測器の探触子位置検出方法に用いられ
る装置の他の実施例を示す平面図、第７図は本発
明による超音波計測器の探触子位置検出方法に用
いられる装置のさらに他の実施例を示す平面図、
第８図は第７図に示す超音波計測器の探触子位置
検出装置における演算原理を説明する原理図、第
９図は従来の超音波計測器の概略を示す外観図、
第１０図は第９図に示す超音波計測器の使用形態
を示す外観図である。 ２……探触子、４……試験体、５……基台、
６，１１……ロータリエンコーダ（変位検出手
段）、１２……ロツド、１４……処理装置、１６
……ポテンシヨメータ（変位検出手段）、１７…
…ピアノ線、１８，１９……リンク。
置検出方法に用いられる装置の第１の実施例を示
す平面図、第２図は第１図に示す超音波計測器の
探触子位置検出装置の変位検出部を示す部分断面
図、第３図は第１図に示す超音波計測器の探触子
位置検出装置の探触子取付部を示す外観図、第４
図は第１図に示す超音波計測器の探触子位置検出
装置に具備される処理装置の一例を示すブロツク
図、第５図は第４図に示す処理装置で演算される
演算原理を説明する原理図、第６図は本発明によ
る超音波計測器の探触子位置検出方法に用いられ
る装置の他の実施例を示す平面図、第７図は本発
明による超音波計測器の探触子位置検出方法に用
いられる装置のさらに他の実施例を示す平面図、
第８図は第７図に示す超音波計測器の探触子位置
検出装置における演算原理を説明する原理図、第
９図は従来の超音波計測器の概略を示す外観図、
第１０図は第９図に示す超音波計測器の使用形態
を示す外観図である。 ２……探触子、４……試験体、５……基台、
６，１１……ロータリエンコーダ（変位検出手
段）、１２……ロツド、１４……処理装置、１６
……ポテンシヨメータ（変位検出手段）、１７…
…ピアノ線、１８，１９……リンク。
Claims (1)
- １ 試検体に超音波を投射可能な接触子を備え、
超音波を利用して前記試検体の内部状態を計測す
る超音波計測器において、前記試検体上の任意位
置に固着可能な基台と、該基台に移動可能に支持
され先端部に前記探触子を設けた可動体と、前記
探触子の前記基台に対する位置を検出する検出手
段とを備えた探触子位置検出装置を用い、前記試
検体上の任意位置に２つの基点を設定し、前記探
触子をこの２つの基点に順次位置させて前記基台
に対する２つの基点の位置を検出し、この検出し
た値によつて２つの基点に対する前記基台の位置
を算出し、次いで前記探触子を前記試検体の計測
点に位置させて前記基台に対する計測点の位置を
検出し、前記２つの基点のうちの１つの位置の検
出値と前記計測点の位置の検出値とによつて当該
１つの基点と基台とに対する計測点の位置を算出
し、当該１つの基点を原点とし他の基点を座標軸
上の点とすることにより定まるXY座標上に計測
点の座標位置を求めることを特徴とする超音波計
測器の探触子位置検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59122933A JPS613058A (ja) | 1984-06-16 | 1984-06-16 | 超音波計測器の探触子位置検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59122933A JPS613058A (ja) | 1984-06-16 | 1984-06-16 | 超音波計測器の探触子位置検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS613058A JPS613058A (ja) | 1986-01-09 |
| JPH058374B2 true JPH058374B2 (ja) | 1993-02-02 |
Family
ID=14848201
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59122933A Granted JPS613058A (ja) | 1984-06-16 | 1984-06-16 | 超音波計測器の探触子位置検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS613058A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4233908C2 (de) * | 1992-10-08 | 1994-08-04 | Acu Rite Gmbh | Positionsanzeige |
| JP5334785B2 (ja) | 2009-09-30 | 2013-11-06 | 三菱電機Ｆａ産業機器株式会社 | 無励磁作動型電磁ブレーキ制御装置及び方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5359488A (en) * | 1976-11-09 | 1978-05-29 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Inspector |
-
1984
- 1984-06-16 JP JP59122933A patent/JPS613058A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5359488A (en) * | 1976-11-09 | 1978-05-29 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Inspector |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS613058A (ja) | 1986-01-09 |
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