JPH0582412A - 半導体製造装置 - Google Patents

半導体製造装置

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JPH0582412A
JPH0582412A JP3120626A JP12062691A JPH0582412A JP H0582412 A JPH0582412 A JP H0582412A JP 3120626 A JP3120626 A JP 3120626A JP 12062691 A JP12062691 A JP 12062691A JP H0582412 A JPH0582412 A JP H0582412A
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JP
Japan
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stage
vertical direction
wafer
projection lens
semiconductor manufacturing
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Takenori Yamamura
武紀 山村
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NEC Kyushu Ltd
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NEC Kyushu Ltd
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】光学系およびステージの配列方向を変更するこ
とによって、レチクルマスク、縮小投影レンズ、ウェ
ハ、ステージの各面へのごみの付着を軽減し、かつステ
ージと駆動シャフトの間の遊びをなくす。 【構成】レチクルマスク6,縮小投影レンズ7,ウェハ
8,ステージ9の各表面が鉛直方向に対して平行になる
ように配列され、かつステージ9を駆動させるX方向お
よびY方向ステージ13,12の駆動シャフト14が鉛
直方向に対して45°の傾斜を持たせている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体製造装置に関し、
特にリソグラフィ技術に用いられる縮小投影露光装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来の半導体製造装置、特に縮小投影露
光装置の光学系及びステージは、図3の分解斜視図に示
すように鉛直方向に配列されている。水銀ランプ1より
放出された光は、楕円ミラー2により集光され、ダイク
ロイックミラー10により露光波長の光とそれ以外の波
長の光(照明用)とに分光される。露光波長の光はシャ
ッタ3、光を平行に整えるフライアイインテグレータ
4,ミラー11を介してコンデンサレンズ5で集光した
後、レチクルマスク6に照射される。レチクルマスク6
を通過した光は縮小投影レンズ7により縮小され、ステ
ージ9上のウェハ8に投影される。また、ステージ9
は、Y方向ステージ12およびX方向ステージ13の各
駆動シャフト14により、ウェハ8上の任意の露光した
い位置に移動する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この従来の半導体製造
装置では、レチクルマスク、縮小投影レンズ、ウェハ、
ステージは鉛直方向に対して主面が垂直な状態に配置さ
れ、浮遊塵や搬送系,駆動系により発生したごみが付着
し易い。その為、レチクルマスク、縮小投影レンズ、ウ
ェハにおいてはごみがマスクとなってパターンに欠陥が
生じたり、ステージにおいてはごみの付着によりウェハ
面が平坦でなくなり、焦点が合わなくなるという問題点
があった。また、ステージと駆動シャフトの間に遊びが
あり、ステージの移動距離にずれが生じるため、それを
補正する機構を設けなければならないという問題点があ
った。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体製造装置
は、光学系及びステージが鉛直方向に対し直角方向に配
列され、レチクルマスク、縮小投影レンズ、ウェハ、ス
テージの各表面は鉛直方向に対して平行になるように配
置され、かつステージを駆動させるX及びY方向ステー
ジの各シャフトが鉛直方向に対して45°の傾斜を持っ
て配置されている。
【0005】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。図1は本発明の一実施例の分解斜視図である。水銀
ランプ1より放出された光は楕円ミラー2により集光さ
れ、シャッター3および光を平行に整えるフライアイイ
ンテグレータ4を介してコンデンサレンズ5で集光した
後、レチクルマスク6に照射される。レチクルマスク6
を通過した光は縮小投影レンズ7により縮小され、ステ
ージ9上のウェハ8に投影される。また、ステージ9
は、Y方向ステージ12およびX方向ステージ13の各
駆動シャフト14によりウェハ8上の任意の露光したい
位置に移動する。本実施例は、各構成部分を鉛直方向に
対し直角方向に配列する。また、駆動シャフト14は鉛
直方向に対し45度傾斜させて設けてある。その結果、
レチクルマスク6,縮小投影レンズ7,ウェハ8,ステ
ージ9の各表面が鉛直方向に対し平行となるため、降下
塵が付着しにくい。さらに、ステージ9の表面が鉛直方
向に対して平行で、かつX,Y方向ステージ13および
12の各駆動シャフト14が鉛直方向に対し45°傾斜
しているため、ステージ9はその自重により駆動シャフ
ト14に密着し、遊びによる位置ずれを生じない。
【0006】図2は本発明の他の実施例の分解斜視図で
ある。動作は前記実施例と同じであるが、2枚のミラー
11を用い、光路をコの字型に折り曲げることによって
装置床面積の増大を防いでいる。
【0007】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、光学系
及びステージを鉛直方向に対し直角方向に配列し、レチ
クルマスク、縮小投影レンズ、ウェハ、ステージの各表
面が鉛直方向に対して平行になるように配置することに
より、ごみの付着を軽減できるという効果を有する。ま
た、ステージと駆動シャフトの遊びをなくすことによっ
て、それを補正する機構が不要となるという効果を有す
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の分解斜視図である。
【図2】本発明の他の実施例の分解斜視図である。
【図3】従来の露光装置の分解斜視図である。
【符号の説明】
1 水銀ランプ 2 楕円ミラー 3 シャッタ 4 フライアイインテグレータ 5 コンデンサレンズ 6 レチクルマスク 7 縮小投影レンズ 8 ウェハ 9 ステージ 10 ダイクロイックミラー 11 ミラー 12 Y方向ステージ 13 X方向ステージ 14 駆動シャフト

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 リソグラフィ技術に用いられる半導体製
    造装置において、その光学系及びステージが鉛直方向に
    対し直角方向に並ぶように配列され、レチクルマスク、
    縮小投影レンズ、ウェハ、ステージの各表面が鉛直方向
    に対して平行になるように配置され、ステージを駆動さ
    せるX及びY方向ステージの各シャフトが鉛直方向に対
    して45°の傾斜を持って配置されていることを特徴と
    する半導体製造装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07222557A (ja) * 1994-02-08 1995-08-22 Shizuji Katano ゲル状食品及びゾル状食品

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH07222557A (ja) * 1994-02-08 1995-08-22 Shizuji Katano ゲル状食品及びゾル状食品

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