JPH06302494A - 投影露光装置及びそれを用いた半導体素子の製造方法 - Google Patents

投影露光装置及びそれを用いた半導体素子の製造方法

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JPH06302494A
JPH06302494A JP5111059A JP11105993A JPH06302494A JP H06302494 A JPH06302494 A JP H06302494A JP 5111059 A JP5111059 A JP 5111059A JP 11105993 A JP11105993 A JP 11105993A JP H06302494 A JPH06302494 A JP H06302494A
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JP
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optical
optical element
plane
light source
light
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JP5111059A
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English (en)
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Masato Muraki
真人 村木
Noboru Taki
昇 滝
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 レチクル面上を均一に照明し、高解像度の投
影パターン像が得られる半導体素子製造用の投影露光装
置及びそれを用いた半導体素子の製造方法。 【構成】 光束を出射する照明部101と該照明部から
の光束を光導入口より導入して照明した第1物体6面上
のパターンを投影光学系により第2物体8面に投影露光
する装置本体部102とを別個独立に設けた投影露光装
置において、該照明部には該光導入口での光強度分布を
均一にする光学手段が設けられており、該装置本体側に
は2次光源を形成する為の光学要素がその入射面を該光
導入口に光学的に一致するように設けられており、該照
明部からの光束を該光学要素を介して該第1物体面に導
入していること。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は投影露光装置及びそれを
用いた半導体素子の製造方法に関し、特にIC,LSI
等の半導体素子を製造する際に第1物体面としてのレチ
クル面上の電子回路パターンを投影光学系(投影レン
ズ)により第2物体面としてのウエハ面上に投影すると
き、該レチクル面上の照度分布を適切に制御し、高精度
な投影パターン像が得られるようにしたものである。
【0002】
【従来の技術】従来よりIC,LSI等の半導体素子製
造用に高解像力、高スループット化が比較的容易な投影
露光装置(アライナー)が多く用いられている。
【0003】投影露光装置では多くの場合、レチクル面
照明用の光束を出射する照明部(露光光源)と、照明部
からの光束で照明されたレチクル面上のパターンを投影
光学系(投影レンズ)でウエハ面上に投影露光する装置
本体部とを一体的に構成している。
【0004】これに対して、近年投影レンズの高NA化
に伴う照明系NAの拡大や変形照明機構等の付加等によ
り照明系の大型化が進んでいる。又光源のパワーアップ
も進んでいる。その為照明系の重量増大により装置本体
の振動問題・変形問題が生じ、又光源で発生する熱の問
題も無視できなくなり、投影露光装置を露光光源と装置
本体部との2つの要素に別個独立に構成したものが種々
と提案されている。
【0005】この他投影露光装置ではウエハ面上に転写
されるパターンの像質は照明装置の性質、例えば被照射
面(レチクル面)上の照度分布の均一性等に大きく影響
される。
【0006】均一照明等の光学性能の向上を図った照明
装置としては、例えば特開昭47−4817号公報や特
開昭50−103976号公報等で提案されている。
【0007】一般に半導体素子の製造装置における照明
装置には集光効率の向上、焼付け面全面における均一露
光そして物理光学的効果の制御の為にレチクル面への照
明光束に一定の拡がり角を持たせることが要求される。
【0008】この為従来は高輝度の光源を用い、集光光
学系とウエハ面との間にフライアイレンズと呼ばれるレ
ンズアレイやオプティカルファイバー束等から成る所謂
オプティカルインテグレータとコンデンサーレンズ(コ
リメータレンズ)とを用いて均一照明及び光束の拡がり
を所定量持たせて照明光学系を構成している。
【0009】ステッパー等のレチクル面上のパターンを
ウエハ面上に投影光学系を用いて投影露光する所謂プロ
ジェクション露光方法ではコンデンサーレンズによりオ
プティカルインテグレータの像を投影光学系の入射瞳に
形成するようにして所謂ケーラー照明系を構成してい
る。
【0010】半導体素子の製造においては被照射面であ
るレチクル面の照度分布にムラがあるとウエハ面上に転
写されるパターンの線幅に不均一が生ずる。最近はIC
パターンの微細化がより要望されている為に線幅の均一
性はより高精度に、例えば従来の±3%以下より±1%
以下となるように要求されている。
【0011】このようにICパターンにより微細化の要
望に比例して被照射面の照度分布にも従来より以上にム
ラのない高精度の照明装置が要求されている。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】露光光源と装置本体部
とを分離して構成した投影露光装置において1回の露光
が終了する毎にウエハを移動しながら他の領域を露光
し、このような露光を順次複数回繰り返すことにより、
ウエハ面全体にパターン像を形成していくステップアン
ドリピート露光方式を用いるとXYステージの移動によ
りそれ自身の姿勢が変化してくる。
【0013】その為露光光源との相対的姿勢誤差が発生
し、照度ムラや露光量の損失(変化)等が生じてくる。
【0014】この為、従来は (イ)相対的姿勢誤差を補正するように、露光光源の光
導入部の光学系を制御する。 (ロ)装置マウントの剛性を上げ、相対的姿勢誤差を発
生しないようにする。 (ハ)装置マウントにサーボ機構を設け、装置を振動さ
せないようにする。 等の方法を用いていた。
【0015】しかしながら(イ)の方法では制御系のコ
ストアップや制御系が複雑になる等の問題点があった。
【0016】又(ロ)の方法では床振動が装置に伝達さ
れると共にXYステージ移動時に反力をステージ自身が
受けてステージ精度が低下するといった問題点があっ
た。
【0017】又(ハ)の方法では制御が大規模になり装
置全体が大型化してくるといった問題点があった。
【0018】本発明の第1の目的は、照明部(露光光
源)と装置本体部とを分離して構成したとき、装置本体
内に適切なる構成の光学要素を設けることにより照明部
と装置本体部とに相対的な姿勢誤差があっても、照明部
からの光束で第1物体としてのレチクルを均一の照度分
布で照明し、高解像度の投影パターン像が得られる投影
露光装置及びそれを用いた半導体素子の製造方法の提供
にある。
【0019】又照明部と装置本体部とが一体的に構成さ
れている投影露光装置でもステップアンドリピート露光
方式を用いると硝材やミラー等の光学部材の熱吸収等に
より光学特性が変化し、レチクル面上の照度分布が不均
一になってくる場合がある。
【0020】この為、従来は例えば歪曲収差の異なる複
数のコリメータレンズを用いて、最適なコリメータレン
ズを用いて照度ムラを補正していた。
【0021】しかしながら環境条件の変化や経時変化等
に起因する照度ムラを補正するのは大変難しかった。
【0022】又従来のその他の方法としてレチクル面と
共役の位置に照度分布を補正するような透過率分布を持
つNDフィルターを配置していた。
【0023】しかしながら精度良く照度分布を補正する
NDフィルターの作製は困難であった。
【0024】本発明の第2の目的は、照明系の光路中に
適切なる構成の光学要素を設けることにより、環境条件
の変化や経時的な変化があってもレチクル面上を均一の
照度分布で照明し、高解像度の投影パターン像が得られ
る投影露光装置及びそれを用いた半導体素子の製造方法
の提供にある。
【0025】
【課題を解決するための手段】本発明の投影露光装置
は、 (1−1)光束を出射する照明部と該照明部からの光束
を光導入口より導入して第1物体面を照明し、該第1物
体面上のパターンを投影光学系により第2物体面に投影
露光する装置本体部とを別個独立に設けた投影露光装置
において、該照明部には該光導入口での光強度分布を均
一にする光学手段が設けられており、該装置本体側には
2次光源を形成する為の光学要素がその入射面を該光導
入口に光学的に一致するように設けられており、該照明
部からの光束を該光学要素を介して該第1物体面に導入
していることを特徴としている。
【0026】特に、前記光学要素はオプティカルインテ
グレータであることや、前記光学手段はオプティカルイ
ンテグレータとコリメータレンズを有していることや、
前記光学手段は内面が反射面の複数の角パイプを2次元
的に配列した光導光部材とコリメータレンズを有してい
ること等を特徴としている。
【0027】(1−2)光束を出射する照明部と、該照
明部からの光束を光導入口より導入して第1物体面を照
明し、該第1物体面上のパターンを投影光学系により第
2物体面に投影露光する装置本体部とを別個独立に設け
た投影露光装置において、該装置本体側に2次光源を形
成する為の光学要素を、その入射面が該光導入口に光学
的に一致するように設けると共に該光学要素の射出面側
に入射角度によって透過率の異なる平行平面板を回動可
能に設け、該照明部と該装置本体部との相対的な姿勢誤
差に基づいて該平行平面板を回動させて、該第1物体面
上の照度分布を制御していることを特徴としている。
【0028】特に、前記光学要素はオプティカルインテ
グレータであることを特徴としている。
【0029】(1−3)照明部からの光束を2次光源を
形成する為の光学要素に入射させ、該光学要素の2次光
源面からの光束で第1物体を照明し、該第1物体面上の
パターンを投影光学系により第2物体面上に投影露光す
る際、該光学要素の2次光源面側に入射角度によって透
過率の異なる平行平面板を設けて該第1物体面上の照度
分布を制御していることを特徴としている。
【0030】特に、前記平行平面板を複数個設け、その
内少なくとも1つの平行平面板を選択的に光路中に装着
していることや、前記平行平面板を回動可能に設けて前
記第1物体面上の照度分布を可変としていることや、前
記光学要素の2次光源面側に前記平行平面板の回動に伴
う前記第1物体面上の照射領域の変化を補正する補正部
材を設けたこと等を特徴としている。
【0031】又、本発明の半導体素子の製造方法として
は、 (1−4)光束を出射する照明部と該照明部からの光束
を該照明部と別個独立に設けた装置本体部側の光導入口
より導入してレチクル面上のパターンを照明し、該レチ
クル面上のパターンを投影光学系によりウエハ面に投影
露光した後に該ウエハを現像処理工程を介して半導体素
子を製造する際、該照明部には該光導入口での光強度分
布を均一にする光学手段が設けられており、該装置本体
側には2次光源を形成する為の光学要素がその入射面を
該光導入口に光学的に一致するように設けられており、
該照明部からの光束を該光学要素を介して該レチクル面
に導光していることを特徴としている。
【0032】特に、前記光学要素はオプティカルインテ
グレータであることや、前記光学手段はオプティカルイ
ンテグレータとコリメータレンズを有していることや、
前記光学手段は内面が反射面の複数の角パイプを2次元
的に配列した光導光部材とコリメータレンズを有してい
ること等を特徴としている。
【0033】(1−5)光束を出射する照明部と、該照
明部からの光束を該照明部と別個独立に設けた装置本体
側の光導入口より導入してレチクル面上のパターンを照
明し、該レチクル面上のパターンを投影光学系によりウ
エハ面に投影露光した後に、該ウエハを現像処理工程を
介して半導体素子を製造する際、該装置本体側に2次光
源を形成する為の光学要素を、その入射面が該光導入口
に光学的に一致するように設けると共に該光学要素の射
出面側に入射角度によって透過率の異なる平行平面板を
回動可能に設け、該照明部と該装置本体部との相対的な
姿勢誤差に基づいて該平行平面板を回動させて、該レチ
クル面上の照度分布を制御していることを特徴としてい
る。
【0034】特に、前記光学要素はオプティカルインテ
グレータであることを特徴としている。
【0035】(1−6)照明部からの光束を2次光源を
形成する為の光学要素に入射させ、該光学要素の2次光
源面からの光束でレチクルを照明し、該レチクル面上の
パターンを投影光学系によりウエハ面上に投影露光した
後に、該ウエハを現像処理工程を介して半導体素子を製
造する際、該光学要素の2次光源面側に入射角度によっ
て透過率の異なる平行平面板を設けて該レチクル面上の
照度分布を制御していることを特徴としている。
【0036】特に、前記平行平面板を複数個設け、その
内少なくとも1つの平行平面板を選択的に光路中に装着
していることや、前記平行平面板を回動可能に設けて前
記レチクル面上の照度分布を可変としていることや、前
記光学要素の2次光源面側に前記平行平面板の回動に伴
う前記レチクル面上の照射領域の変化を補正する補正部
材を設けたこと等を特徴としている。
【0037】
【実施例】図1は本発明の投影露光装置の実施例1の要
部概略図である。
【0038】図中101は照明部(露光光源)、102
は装置本体部であり、双方は互いに分離して独立に設け
ている。2は楕円鏡、1は高輝度の発光部であり、楕円
鏡1の第1焦点近傍に配置している。発光部1は発光管
(不図示)の中の紫外線及び遠紫外線等を放射してい
る。
【0039】21はオプティカルインテグレータであ
り、複数の微小レンズ(フライアイレンズ)を2次元的
に配列した構成より成っている。オプティカルインテグ
レータ21の入射面21aは楕円鏡2の第2焦点近傍に
位置している。これにより楕円鏡2は発光部1の発光部
像を入射面21aに形成し、その射出面21bに配光特
性が均一な2次光源を形成している。
【0040】22はミラーである。23はコリメータレ
ンズであり、2次光源である射出面21bからの光束を
ミラー22を介して装置本体部102の光導入口102
aに設けた光学要素としてのオプティカルインテグレー
タ3の入射面3aに集光している。これによりオプティ
カルインテグレータ3の射出面3bに2次光源を形成し
ている。
【0041】尚オプティカルインテグレータ21とコリ
メータレンズ23は光導入口102a上での光強度分布
を均一にする光学手段の一要素を構成している。
【0042】オプティカルインテグレータ3の射出面
(2次光源)3bからの各微小レンズに基づく各光束は
ミラー4を介してコリメータレンズ5により集光し、各
々重ね合わさって被照射面である第1物体としてのレチ
クル6を均一照明している。
【0043】7は投影光学系でありレチクル6面上の回
路パターンをXYステージ9に載置した第2物体として
のウエハ8面上に縮小投影している。XYステージ9は
装置マウント10上に載置されており、ステップ移動す
ることによりウエハ8面上を順次露光している。露光さ
れたウエハ8は公知の現像処理工程を介して、これによ
り半導体素子を製造している。
【0044】本実施例ではコリメータレンズ23とオプ
ティカルインテグレータ3との間で投影露光装置を露光
光源101と装置本体102との2つの要素に分離して
いる。
【0045】これにより双方が正規の位置よりズレたと
きの姿勢誤差によるレチクル面上での照度ムラや露光量
損失、そして照明領域、telecentricity等への影響がな
るべく少なくなるようにしている。
【0046】例えばオプティカルインテグレータ3とミ
ラー4との間で露光光源101と装置本体102とを分
離するとオプティカルインテグレータ3の入射面3a上
の光強度分布は、双方に姿勢誤差がないときには図3
(A)の実線で示すように光軸に対して対称なガウス分
布となる。又レチクル5面上の照度分布は同図(B)に
示すように平坦になる。
【0047】しかしながら双方に姿勢誤差が発生すると
オプティカルインテグレータ3の入射面3aの光強度分
布は図3(A)の破線のように光軸に対して非対称とな
る。又レチクル5面上の照度分布は同図(B)に示すよ
うに傾斜した照度ムラが発生し、更に露光量も変化して
くる。
【0048】これに対して本実施例では露光光源101
を前述の如く構成することによりオプティカルインテグ
レータ3の入射面3aの光強度分布が図2(A)の実線
で示すように平坦となるようにしている。
【0049】そして露光光源101と装置本体102と
を前述の如くコリメータレンズ23とオプティカルイン
テグレータ3との間で分離している。
【0050】本実施例において双方に姿勢誤差が発生し
たときオプティカルインテグレータ3の入射面3aの光
強度分布は図2(A)の破線で示すようになる。このと
きオプティカルインテグレータ3の光取り込み範囲での
光強度分布の変化は小さい。
【0051】本実施例でのレチクル5面上の照度分布の
照度ムラは同図(B)の破線で示すように小さく、又露
光量の変化も小さいという特長がある。
【0052】尚本実施例において装置本体部102の光
導入口に設けたオプティカルインテグレータ3の入射面
3aの代りにその共役面を配置しても良い。
【0053】又オプティカルインテグレータ21,3と
して複数の微小レンズの代りに内面が反射面の複数の角
パイプを2次元的に配列して構成したものを用いても良
い。
【0054】本実施例では以上のように、照明部(露光
光源)と装置本体部とを分離することにより双方に相対
的な姿勢誤差が発生してもレチクル面上を均一に照明
し、高解像度の投影パターン像が得られる投影露光装置
を得ている。
【0055】図4は本発明の実施例2の要部概略図であ
る。
【0056】本実施例は図1の実施例1に比べて (2−1)露光光源101で用いているオプティカルイ
ンテグレータ21,ミラー22,そしてコリメータレン
ズ23を削除し、楕円鏡2の第2焦点近傍に装置本体部
104のオプティカルインテグレータ3の入射面3aが
直接位置するようにしていること。
【0057】(2−2)オプティカルインテグレータ3
とミラー4との間に入射角度によって透過率が異なるコ
ーティングを施した回動可能の平行平面板を配置してい
ること。
【0058】(2−3)該平行平面板の姿勢を露光光源
103と装置本体部104との相対的な姿勢誤差情報に
基づいて逐次変化させて、レチクル面上の照度ムラを補
正していること。 が異なっており、その他の構成は同じである。
【0059】次に本実施例の構成を図1の実施例1と一
部重複するが順次説明する。
【0060】図中103は照明部(露光光源)、104
は装置本体部であり、双方は互いに分離して独立に設け
ている。2は楕円鏡、1は高輝度の発光部であり、楕円
鏡1の第1焦点近傍に配置している。発光部1は発光管
(不図示)の中の紫外線及び遠紫外線等を放射してい
る。
【0061】楕円鏡2は発光部1の発光部像を第2焦点
近傍に形成している。
【0062】楕円鏡2の第2焦点近傍には装置本体部1
04の光導入口104aに設けた複数の微小レンズを2
次元的に配列した構成の光学要素としてのオプティカル
インテグレータ3の入射面3aが位置している。
【0063】これによりオプティカルインテグレータ3
の射出面3bに配光特性が均一の2次光源を形成してい
る。
【0064】24は入射角度によって透過率の異なるコ
ーティングを施した回動可能な平行平面板である。
【0065】オプティカルインテグレータ3の射出面
(2次光源)3bからの各微小レンズに基づく各光束は
平行平面板24を透過し、ミラー4を介してコリメータ
レンズ5により集光し、各々重ね合わさって被照射面で
ある第1物体としてのレチクル6を均一照明している。
【0066】7は投影光学系でありレチクル6面上の回
路パターンをXYステージ9に載置した第2物体として
のウエハ8面上に縮小投影している。XYステージ9は
装置マウント10上に載置されており、ステップ移動す
ることによりウエハ8面上を順次露光している。露光さ
れたウエハ8は公知の現像処理工程を介して、これによ
り半導体素子を製造している。
【0067】本実施例ではオプティカルインテグレータ
3の入射面3a側で投影露光装置を露光光源103と装
置本体104との2つの要素に分離している。
【0068】そしてオプティカルインテグレータ3の射
出面3b側に設けた平行平面板24の回動操作により、
露光光源103と装置本体部104との相対的な姿勢誤
差に基づくレチクル6面上の照度ムラを補正している。
【0069】一般にオプティカルインテグレータ3の射
出面3b側で露光光源103と装置本体部104とを分
離したとき双方が正規の位置よりズレて姿勢誤差が発生
するとレチクル面上で照度ムラや露光量損失そして照明
領域、telecentricity等への影響が出てくる。
【0070】これに対してオプティカルインテグレータ
3の入射面3a側で露光光源103と装置本体104と
を分離するとオプティカルインテグレータ3の入射面3
a上の光強度分布は、双方に姿勢誤差がないときには図
3(A)の実線で示すように光軸に対して対称なガウス
分布となる。又レチクル5面上の照度分布は同図(B)
に示すように平坦になる。
【0071】しかしながら双方に姿勢誤差が発生すると
オプティカルインテグレータ3の入射面3aの光強度分
布は図3(A)の破線のように光軸に対して非対称とな
る。又レチクル5面上の照度分布は同図(B)に示すよ
うに傾斜した照度ムラが発生し、更に露光量も変化して
くる。
【0072】これに対して本実施例ではオプティカルイ
ンテグレータ3の射出面3b側で投影露光装置を露光光
源103と装置本体部104とに分離すると共に該射出
面3b側に入射角度によって透過率の異なるコーティン
グを施した平行平面板24を回動可能に設けている。
【0073】そして露光光源103と装置本体部104
との相対的な姿勢誤差を姿勢検出手段で検出し、該姿勢
検出手段からの信号に基づいて平行平面板24を回動さ
せることによりレチクル6面上の照度ムラを補正してい
る。
【0074】次に本実施例に係る平行平面板24の光学
的作用について説明する。
【0075】図5は図4の平行平面板24近傍の拡大説
明図である。尚同図では簡単の為にミラー4は省略して
いる。
【0076】図5においてオプティカルインテグレータ
3に入射された光束は2次元的に配列された微小レンズ
3−i(i=1〜n)により発散光として射出し、平行
平面板24を透過し、コリメータレンズ5を介し被照射
面のレチクル6を照明する。このとき各微小レンズ3−
iから発散する光のうち同じ角度に進む光は被照射面の
レチクル6上の同じ場所に入射する。
【0077】例えば図中、光線20と光線30、光線2
1と光線31、光線22と光線32とではレチクル6上
の同一の場所に入射する。平行平面板24は入射角度に
よって透過率の異なるコーティングを施している為、入
射角度による透過率分布がレチクル6上の照度分布とな
る。
【0078】光軸に平行な光が平行平面板24に対して
θ=0°で入射する場合のレチクル6面上での照度分布
(透過率分布)は、例えば図6(A)の実線のようにな
る。但し実線は軸外に向かって照度が落ちる照度ムラは
光学系で補正され、照度分布は平らである。
【0079】ここで平行平面板24を傾斜させると(θ
=θi)照度分布は平行移動し、図6(A)の破線のよ
うになる。そして平行平面板24を傾斜することによる
照度分布の変化量は図6(B)のような傾斜成分の分布
になる。
【0080】以上から平行平面板24の傾斜は傾斜成分
の照度ムラを発生することができるので、装置本体部1
03と露光光源103との相対的姿勢誤差によって発生
する照度ムラと相対的姿勢誤差量との関係を予め実験的
に得ている。
【0081】そして姿勢検出手段で双方の相対的姿勢誤
差量を検知し、それによるレチクル6面上の照度ムラを
キャンセルするように平行平面板24を傾斜させ、これ
により照度ムラを補正している。
【0082】本実施例では説明上、平行平面板24を1
次元的に傾斜させたが、相対的姿勢誤差は2次元である
ので実際は平行平面板24を2次元的に姿勢を逐次変化
させている。
【0083】本実施例では、相対的姿勢誤差がない場
合、θ=0°としたがコーティングの特性を変更してお
いて初めから傾斜を持たしても良い。
【0084】尚本実施例において装置本体部104の光
導入口に設けたオプティカルインテグレータ3の入射面
3aの代りにその共役面を配置しても良い。
【0085】又オプティカルインテグレータ3として複
数の微小レンズの代りに内面が反射面の複数の角パイプ
を2次元的に配列して構成したものを用いても良い。
【0086】本実施例では以上のように、照明部(露光
光源)と装置本体部とを分離し、かつ平行平面板を用い
ることにより双方に相対的な姿勢誤差が発生してもレチ
クル面上を均一に照明し、高解像度の投影パターン像が
得られる投影露光装置を得ている。
【0087】尚本実施例においては平行平板としてはそ
の表面に多層膜や単層膜を施した場合と何も施さない場
合が適用可能である。
【0088】図7は本発明の実施例3の要部概略図であ
る。
【0089】本実施例は図4の実施例2に比べて (3−1)露光光源と装置本体部とを分離せず、一体的
に構成していること。
【0090】(3−2)楕円鏡2の代りにコンデンサー
レンズ等の光学系25を用いていること。
【0091】(3−3)ミラー4を省略していること。 等が異なっており、その他の構成は略同じである。
【0092】次に本実施例の構成を図4の実施例2と一
部重複するが順次説明する。
【0093】水銀灯やレーザー等の光源26からの光束
はコンデンサーレンズ等の光学系25により複数の微小
レンズを2次元的に配列した光学要素としてのオプティ
カルインテグレータ(フライアイレンズ)3の入射面3
aに集光している。そしてオプティカルインテグレータ
3の射出面3bに配光特性が均一な2次光源を形成して
いる。
【0094】該射出面3bの2次光源(各微小レンズ)
からの各光束は発散光束として平行平面板24に入射す
る。平行平面板24は実施例2と同様に入射角度によっ
て透過率の異なるコーティング(光学薄膜)を施した固
定又は回動可能な平行平面板より成っている。
【0095】平行平面板24を通過した光束はコリメー
タレンズ5で集光し、各々重なり合わせて被照射面であ
る第1物体としてのレチクル6を均一照明している。そ
してレチクル6面上の回路パターンを投影光学系7によ
り第2物体としてのウエハ8面上に縮小投影している。
【0096】次に本実施例によるウエハ面8の照度ムラ
の制御方法について説明する。
【0097】図8は図7の平行平面板8の表面に施した
コーティング(光学薄膜)の分光特性の説明図である。
【0098】本実施例の平行平面板24に施した光学薄
膜は図8に示すように特定の波長λ(波長域)の光に対
して高い透過率Tを示している。
【0099】図8においてλ0 は露光波長、曲線aは入
射角度θ=0、曲線bは入射角度θ≠0の場合の分光特
性である。
【0100】一般に光学薄膜は入射角度が大きくなると
分光特性が短波長側にシフトするが、光透過率の帯域が
狭い曲線aのような分光特性の場合、入射角度が0でな
くなることにより分光特性が短波長側にシフトし、bの
状態になる。このときの入射角度の違いによって生じる
露光波長における透過率の差はΔTである。
【0101】本実施例は光学薄膜の以上のような分光特
性を利用しており、平行平面板24の表面には分光特性
が光線の入射角度に敏感に変化する光学薄膜を施してい
る。
【0102】図9は図7の平行平面板24近傍の概略図
である。オプティカルインテグレータ3からの発散光束
は平行平面板24を透過し、コリメータレンズ5によっ
て収斂し、被照射面6を照明する。このときコリメータ
レンズ3の射出面3bからの射出角が同じ光は図5で説
明したのと同様に被照射面6上の同じ場所を照明する。
【0103】即ち、平行平面板24への入射角が同じも
の(例えば光線22,32,42)は被照射面6上の同
じ場所6aに入射することになる。平行平面板24はそ
の表面に入射角度に応じて透過率が変化する光学薄膜が
施されている為、被照射面6上において光軸対称な照度
分布を形成する働きをすることになる。
【0104】そこで平行平面板24上に投影露光装置固
有の照度ムラを打ち消す分光特性の光学薄膜を施してお
くことにより、ウエハ面8上の光軸対称な照度ムラを低
減している。
【0105】例えばウエハ面8上において周辺が中心に
対して照度が高い場合、平行平面板24には入射角が大
きくなるほど透過率が低下するタイプの光学薄膜を施し
ている。
【0106】尚、投影露光装置の性能の経時変化や使用
環境の変化に対応できるように、分光特性の異なる光学
薄膜を施した数種の平行平面板をターレット状に配置し
ておけば、状況に応じて簡単に照度ムラを補正すること
ができるので好ましい。前記実施例では異なる分光特性
の光学薄膜を施した数種の平行平面板としたが、異なる
分光特性を持つ異なる硝材の平行平面板でも構わない。
【0107】本実施例ではウエハ面8の紙面上の光軸の
上方部分の照度が中心に対して高く、光軸の下方部分の
照度が中心に対して低いという傾斜ムラ成分が生じた場
合、平行平面板24に入射角が大きくなるほど透過率が
低下する光学薄膜が施しておき、平行平面板24の光軸
の上方部分をオプティカルインテグレータ3に近づく方
向に傾斜させることにより、即ちオプティカルインテグ
レータ3から紙面上の光軸の上方へ向かう光束の平行平
面板24への入射角度を下方へ向かう光束より相対的に
小さくすることによってウエハ面8上の照度ムラの傾斜
成分を低減している。
【0108】図10は本発明の実施例4の一部分の要部
概略図である。
【0109】本実施例ではウエハ面8上での照度分布が
光軸に対して非対称となり、傾斜成分の照度ムラ及び照
射領域の変動を補正する場合を示している。
【0110】図中24aは照度補正用の回動可能な平行
平面板であり、24bは照射領域補正用の回動可能な補
正部材としての平行平面板である。平行平面板24aに
は入射角が大きいほど透過率が低下する分光特性の光学
薄膜が施してあり、平行平面板24bには図11に示し
たような入射角に鈍感な光学薄膜が施してある。
【0111】平行平面板24aはレチクル6の紙面上の
光軸の上方向部分の照度を下方向部分より相対的に低下
させる作用をしている。平行平面板24aが傾くことに
より照射領域(レクチル6上)にズレが生じるが、被照
射パターンが照射領域からはみ出すような場合は、照射
領域補正用の平行平面板24bを平行平面板24aと逆
方向に傾けることにより、照射領域のズレを補正してい
る。
【0112】以上のように実施例3,4においては入射
角度によって透過率の異なるコーティングを施した平行
平面板(光学素子)を光路中に配置することにより被照
射面上を均一照度し、光解像度の投影パターン像が得ら
れる投影露光装置を得ている。
【0113】次に上記説明した露光装置を利用した半導
体デバイスの製造方法の実施例を説明する。
【0114】図12は半導体デバイス(ICやLSI等
の半導体チップ、或は液晶パネルやCCD等)の製造の
フローを示す。
【0115】ステップ1(回路設計)では半導体デバイ
スの回路設計を行う。ステップ2(マスク製作)では設
計した回路パターンを形成したマスクを製作する。
【0116】一方ステップ3(ウエハ製造)ではシリコ
ン等の材料を用いてウエハを製造する。ステップ4(ウ
エハプロセス)は前工程と呼ばれ、上記用意したマスク
とウエハを用いてリソグラフィ技術によってウエハ上に
実際の回路を形成する。
【0117】次のステップ5(組み立て)は後工程と呼
ばれ、ステップ4によって作製されたウエハを用いて半
導体チップ化する工程であり、アッセンブリ工程(ダイ
シング、ボンディング)、パッケージング工程(チップ
封入)等の工程を含む。
【0118】ステップ6(検査)ではステップ5で作製
された半導体デバイスの動作確認テスト、耐久性テスト
等の検査を行う。こうした工程を経て半導体デバイスが
完成し、これが出荷(ステップ7)される。
【0119】図13は上記ウエハプロセスの詳細なフロ
ーを示す。ステップ11(酸化)ではウエハの表面を酸
化させる。ステップ12(CVD)ではウエハ表面に絶
縁膜を形成する。ステップ13(電極形成)ではウエハ
上に電極を蒸着によって形成する。ステップ14(イオ
ン打込み)ではウエハにイオンを打ち込む。ステップ1
5(レジスト処理)ではウエハに感光剤を塗布する。
【0120】ステップ16(露光)では上記説明した露
光装置によってマスクの回路パターンをウエハに焼付露
光する。ステップ17(現像)では露光したウエハを現
像する。ステップ18(エッチング)では現像したレジ
スト像以外の部分を削り取る。ステップ19(レジスト
剥離)ではエッチングが済んで不要となったレジストを
取り除く。
【0121】これらのステップを繰り返し行うことによ
ってウエハ上に多重に回路パターンが形成される。
【0122】本実施例の製造方法を用いれば、従来は製
造が難しかった高集積度の半導体デバイスを製造するこ
とができる。
【0123】
【発明の効果】本発明によれば以上のように、 (4−1)照明部(露光光源)と装置本体部とを分離し
て構成したとき、装置本体内に適切なる構成の光学要素
を設けることにより照明部と装置本体部とに相対的な姿
勢誤差があっても、照明部からの光束で第1物体として
のレチクルを均一の照明分布で照明し、高解像度の投影
パターン像が得られる投影露光装置及びそれを用いた半
導体素子の製造方法を達成することができる。
【0124】(4−2)照明系の光路中に適切なる構成
の光学要素を設けることにより、環境条件の変化や経時
的変化があってもレチクル面上を均一の照度分布で照明
し、高解像度の投影パターン像が得られる投影露光装置
及びそれを用いた半導体素子の製造方法を達成すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施例1の要部概略図
【図2】 図1のオプティカルインテグレータの入射
面上の照度分布の説明図
【図3】 図1のオプティカルインテグレータの入射
面上の照度分布の説明図
【図4】 本発明の実施例2の要部概略図
【図5】 図4の一部分の拡大説明図
【図6】 図4の平行平面板による照度分布の制御方
法の説明図
【図7】 本発明の実施例3の要部概略図
【図8】 入射角度の違いによる透過率の説明図
【図9】 図7の一部分の拡大説明図
【図10】 本発明の実施例4の一部分の要部概略図
【図11】 図10の補正部材の分光特性の説明図
【図12】 本発明の半導体素子の製造方法のフローチ
ャート
【図13】 本発明の半導体素子の製造方法のフローチ
ャート
【符号の説明】
101,103 照明部(露光光源) 102,104 装置本体部 1 光源 2 楕円鏡 3,21 オプティカルインテグレータ 4,22 ミラー 5,23 コリメータレンズ 6 第1物体(レチクル) 7 投影光学系 8 第2物体(ウエハ) 9 XYステージ 24,24a 平行平面板 24b 補正部材

Claims (20)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光束を出射する照明部と該照明部からの
    光束を光導入口より導入して第1物体面を照明し、該第
    1物体面上のパターンを投影光学系により第2物体面に
    投影露光する装置本体部とを別個独立に設けた投影露光
    装置において、該照明部には該光導入口での光強度分布
    を均一にする光学手段が設けられており、該装置本体側
    には2次光源を形成する為の光学要素がその入射面を該
    光導入口に光学的に一致するように設けられており、該
    照明部からの光束を該光学要素を介して該第1物体面に
    導光していることを特徴とする投影露光装置。
  2. 【請求項2】 前記光学要素はオプティカルインテグレ
    ータであることを特徴とする請求項1の投影露光装置。
  3. 【請求項3】 前記光学手段はオプティカルインテグレ
    ータとコリメータレンズを有していることを特徴とする
    請求項1又は2の投影露光装置。
  4. 【請求項4】 前記光学手段は内面が反射面の複数の角
    パイプを2次元的に配列した光導光部材とコリメータレ
    ンズを有していることを特徴とする請求項1又は2の投
    影露光装置。
  5. 【請求項5】 光束を出射する照明部と、該照明部から
    の光束を光導入口より導入して第1物体面を照明し、該
    第1物体面上のパターンを投影光学系により第2物体面
    に投影露光する装置本体部とを別個独立に設けた投影露
    光装置において、該装置本体側に2次光源を形成する為
    の光学要素を、その入射面が該光導入口に光学的に一致
    するように設けると共に該光学要素の射出面側に入射角
    度によって透過率の異なる平行平面板を回動可能に設
    け、該照明部と該装置本体部との相対的な姿勢誤差に基
    づいて該平行平面板を回動させて、該第1物体面上の照
    度分布を制御していることを特徴とする投影露光装置。
  6. 【請求項6】 前記光学要素はオプティカルインテグレ
    ータであることを特徴とする請求項5の投影露光装置。
  7. 【請求項7】 照明部からの光束を2次光源を形成する
    為の光学要素に入射させ、該光学要素の2次光源面から
    の光束で第1物体を照明し、該第1物体面上のパターン
    を投影光学系により第2物体面上に投影露光する際、該
    光学要素の2次光源面側に入射角度によって透過率の異
    なる平行平面板を設けて該第1物体面上の照度分布を制
    御していることを特徴とする投影露光装置。
  8. 【請求項8】 前記平行平面板を複数個設け、その内少
    なくとも1つの平行平面板を選択的に光路中に装着して
    いることを特徴とする請求項7の投影露光装置。
  9. 【請求項9】 前記平行平面板を回動可能に設けて前記
    第1物体面上の照度分布を可変としていることを特徴と
    する請求項7の投影露光装置。
  10. 【請求項10】 前記光学要素の2次光源面側に前記平
    行平面板の回動に伴う前記第1物体面上の照射領域の変
    化を補正する補正部材を設けたことを特徴とする請求項
    7の投影露光装置。
  11. 【請求項11】 光束を出射する照明部と該照明部から
    の光束を該照明部と別個独立に設けた装置本体部側の光
    導入口より導入してレチクル面上のパターンを照明し、
    該レチクル面上のパターンを投影光学系によりウエハ面
    に投影露光した後に該ウエハを現像処理工程を介して半
    導体素子を製造する際、該照明部には該光導入口での光
    強度分布を均一にする光学手段が設けられており、該装
    置本体側には2次光源を形成する為の光学要素がその入
    射面を該光導入口に光学的に一致するように設けられて
    おり、該照明部からの光束を該光学要素を介して該レチ
    クル面に導光していることを特徴とする半導体素子の製
    造方法。
  12. 【請求項12】 前記光学要素はオプティカルインテグ
    レータであることを特徴とする請求項11の半導体素子
    の製造方法。
  13. 【請求項13】 前記光学手段はオプティカルインテグ
    レータとコリメータレンズを有していることを特徴とす
    る請求項11又は12の半導体素子の製造方法。
  14. 【請求項14】 前記光学手段は内面が反射面の複数の
    角パイプを2次元的に配列した光導光部材とコリメータ
    レンズを有していることを特徴とする請求項11又は1
    2の半導体素子の製造方法。
  15. 【請求項15】 光束を出射する照明部と、該照明部か
    らの光束を該照明部と別個独立に設けた装置本体側の光
    導入口より導入してレチクル面上のパターンを照明し、
    該レチクル面上のパターンを投影光学系によりウエハ面
    に投影露光した後に、該ウエハを現像処理工程を介して
    半導体素子を製造する際、該装置本体側に2次光源を形
    成する為の光学要素を、その入射面が該光導入口に光学
    的に一致するように設けると共に該光学要素の射出面側
    に入射角度によって透過率の異なる平行平面板を回動可
    能に設け、該照明部と該装置本体部との相対的な姿勢誤
    差に基づいて該平行平面板を回動させて、該レチクル面
    上の照度分布を制御していることを特徴とする半導体素
    子の製造方法。
  16. 【請求項16】 前記光学要素はオプティカルインテグ
    レータであることを特徴とする請求項15の半導体素子
    の製造方法。
  17. 【請求項17】 照明部からの光束を2次光源を形成す
    る為の光学要素に入射させ、該光学要素の2次光源面か
    らの光束でレチクルを照明し、該レチクル面上のパター
    ンを投影光学系によりウエハ面上に投影露光した後に、
    該ウエハを現像処理工程を介して半導体素子を製造する
    際、該光学要素の2次光源面側に入射角度によって透過
    率の異なる平行平面板を設けて該レチクル面上の照度分
    布を制御していることを特徴とする半導体素子の製造方
    法。
  18. 【請求項18】 前記平行平面板を複数個設け、その内
    少なくとも1つの平行平面板を選択的に光路中に装着し
    ていることを特徴とする請求項17の半導体素子の製造
    方法。
  19. 【請求項19】 前記平行平面板を回動可能に設けて前
    記レチクル面上の照度分布を可変としていることを特徴
    とする請求項17の半導体素子の製造方法。
  20. 【請求項20】 前記光学要素の2次光源面側に前記平
    行平面板の回動に伴う前記レチクル面上の照射領域の変
    化を補正する補正部材を設けたことを特徴とする請求項
    17の半導体素子の製造方法。
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JP2001337463A (ja) * 2000-05-26 2001-12-07 Nikon Corp 露光装置、露光装置の製造方法、およびマイクロデバイスの製造方法
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