JPH0580612B2 - - Google Patents

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JPH0580612B2
JPH0580612B2 JP60093465A JP9346585A JPH0580612B2 JP H0580612 B2 JPH0580612 B2 JP H0580612B2 JP 60093465 A JP60093465 A JP 60093465A JP 9346585 A JP9346585 A JP 9346585A JP H0580612 B2 JPH0580612 B2 JP H0580612B2
Authority
JP
Japan
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lens
display
optical axis
deviation
optical system
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP60093465A
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English (en)
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JPS61251733A (ja
Inventor
Yoichi Iki
Seiji Mitani
Kazuo Morohashi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nippon Kogaku KK
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Publication date
Application filed by Nippon Kogaku KK filed Critical Nippon Kogaku KK
Priority to JP9346585A priority Critical patent/JPS61251733A/ja
Publication of JPS61251733A publication Critical patent/JPS61251733A/ja
Publication of JPH0580612B2 publication Critical patent/JPH0580612B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • G01M11/0228Testing optical properties by measuring refractive power
    • G01M11/0235Testing optical properties by measuring refractive power by measuring multiple properties of lenses, automatic lens meters

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
(発明の技術分野) 本発明は、被検レンズの位置合わせが容易に行
なえる自動レンズメータに関する。 (発明の背景) レンズメータで被検レンズの屈折特性の測定を
行なうには、測定光学系の光軸と被検レンズの光
軸とを位置合わせする必要がある。 従来、手動式のレンズメータ及び自動式のレン
ズメータでは、測定光学系の光軸と被検レンズの
光軸とのずれは、実際に被検レンズを通つてその
プリズによつて曲げられた光の像のずれ量Sによ
つて示していた。 しかしながら、このような光像のずれ量Sによ
る表示には、(1)度数の強い被検レンズでは被検レ
ンズを少し動かしただけで光像のずれ量Sが大き
く変わつてしまい、位置合わせが難かしい、(2)プ
ラスレンズとマイナスレンズでは光像の動く方向
が逆になつてしまうので、慣れないと位置合わせ
が混乱するおそれがある、という欠点があつた。 (発明の目的) 本発明は、測定光学系の光軸と被検レンズの光
軸とのずれの大きさに比例した表示が行なえると
共に、被検レンズの動かす方向をも表示すること
のできる自動レンズメータを得ることを目的とす
る。 (発明の概要) 本発明は、測定光学系と演算処理手段とを有
し、前記光学系の所定位置に挿入された被検レン
ズの光学特性に依存した光像の位置変化から前記
被検レンズの屈折力D、プリズム量P、プリズム
基底方向γとを前記演算処理手段によつて検出す
る自動レンズメータにおいて、二次元的に位置ず
れを表示する表示手段と、前記屈折力D、プリズ
ム量P、プリズム基底方向γ、各々に対応した信
号から、前記測定光学系の光軸と前記被検レンズ
の光軸とのずれの方向及びずれの大きさに比例し
た位置ずれ信号を求め、それによつて、前記測定
光学系の光軸と前記被検レンズの光軸とのずれの
方向及びずれの大きさに実質的に比例した表示を
前記表示手段に行なわせる表示制御手段と、を有
することを特徴とする自動レンズメータである。 すなわち、第5図a,b,cに示した如く、測
定光学系の光軸l1と、被検レンズの光軸l2とのず
れをhとすると、そのときの被検レンズの屈折力
Dとプリズム量Pとの間には、プレンテイスの公
式で示される関係、すなわち P=h・D が成立する。 従つて、逆にある状態でプリズムPと屈折力D
が測定されるとその時のずれhは h=P/D で求められるので、自動レンズメーターにおいて
ある状態でのプリズムPと屈折力Dを求めその値
よりずれhの大きさを求めることができる。又、
屈折力Dは第5図bの如きプラスレンズのときは
プラスの値を、第5図a,cの如きマイナスレン
ズのときはマイナスの値を持つのでこれがずれh
にそのまま適用され、ずれhもプラスの値とマイ
ナスの値を持つようになるので、プラスレンズと
マイナスレンズでずれの方向が逆になることによ
つてずれhとしては正しい方向に補正できる。 また、第5図a,b,cは光軸l1と光軸l2とを
含む面を紙面内にとつて示したが、光軸l1に垂直
な光像の位置検出面で考えると、光像は被検レン
ズのプリズムのために光軸l1を原点として2次元
的に振れることになる。この振れの方向はプリズ
ム基底方向γで表わせる。 従つて、ずれhの大きさでずれの大きさを、ま
たプリズム基底方向γ及びずれhの符号でずれの
方向がわかるので、それに応じて2次元的表示を
行なうことにより、測定者は被検レンズの光軸l2
が測定光学系の光軸l1に対してどの方向へどの位
ずれているので被検レンズをどの方向へどの位動
かせば光軸が合うかということを認識できる。 (実施例) 以下、図面に示した実施例に基づいて本発明を
説明する。 第1図は本発明の一実施例の自動レンズメータ
のブロツク図であり、第2図は第1図の自動レン
ズメータの外観図、第3図は位置ずれ表示パータ
ンの例である。 第1図において、測定光学系1は所定位置に被
検レンズが挿入されるようになつており、例えば
光ビームを被検レンズに入射せしめる如き構造に
なつているため、被検レンズを透過した光ビーム
に偏寄される。演算処理装置2は光ビームによる
光像の位置を検出するための光電位置検出器、ア
ナログデジタルコンバータ、マイクロコンピユー
タ等を有し、光電位置検出器からの光像の座標信
号から被検レンズの屈折力D、乱視軸方向θ、プ
リズム量P、ブリズム基底方向γを演算し、表示
スイツチ3からの表示信号によつて第1の表示駆
動装置4に駆動信号を入力する。その結果、セグ
メント表示素子等で構成される第1の表示装置5
には、被検レンズの屈折力D、乱視軸方向θ、プ
リズム量P、プリズム基底方向γが表示される。 以上の測定光学系1、演算処理装置2、表示ス
イツチ3、第1の表示駆動装置4、第1の表示装
置5は周知の自動レンズメータAを構成する。こ
のようにレンズメータは例えば特開昭58−737号
にて示されるようなものである。 演算処理装置2の屈折力D、プリズム量P、プ
リズム基底方向γに対応した信号は位置ずれ検出
用のマイクロコンピユータ6に入力される。マイ
クロコンピユータ6からの位置ずれを示す位置ず
れ信号は第2の表示装置8を駆動する第2の表示
駆動装置(一種のデコーダを用いることができ
る)7に入力される。従つて、第2の表示装置8
が例えば第3図の如く、直交する方向x−yへ中
心の発光ダイオード80に対称に配設した発光ダ
イオード群80a,80b,80c,80dにて
構成されており、各群がずれの方向によつて選択
され、かつ各群の4つの発光ダイオードがその点
灯数をずれの大きさに対応するようになせば、測
定者は被検レンズを指示されたずれが無くなるよ
うに発光ダイオードの点灯数に比例した距離だけ
被検レンズを動かせば良いから、位置合わせはき
わめて容易になる。 次に、このような表示を行なわせるために、マ
イクロコンピユータ6のフローチヤートを示す第
4図と共に、位置ずれ表示における動作を説明す
る。マイクロコンピユータ6は第4図のフローチ
ヤートに示すように、まずプリズム量Pとプリズ
ム基底方向γとからプリズム量Pをx,y方向に
分解してx方向のプリズム量Px,y方向のプリ
ズム量Pyを演算し(ステツプ40)、屈折力Dと、
プリズム量Px、及び屈折力Dとプリズム量Py
対応した発光ダイオードを表1に応じて点灯する
信号を出力する。(ステツプ41)。
【表】 すなわち、例えば屈折力Dが正でかつ0≦|D
|<D1、また、x方向のプリズム量Pxで正でか
つ|Px|が4P1<|Px|<16P1であり、さらに、
y方向のプリズム量Pyが正でかつ|Py|がP1
|Py|<4P1であれば、第3図aに斜線で示した
ように、中心の発光ダイオード、xの正方向の発
光ダイオード群80Cの発光ダイオードa1,a2
yの正方向の発光ダイオード群80aの発光ダイ
オードa1が点灯することが表1によつてわかる。 換言すれば、第2図に示したような自動レンズ
メータBにおいて、レンズ受け台9に被検レンズ
Lを載せると、第2の表示装置8には被検レンズ
Lの光軸と測定光学系の光軸とのずれに応じて、
両者を一致させるように、被検レンズLの移動方
向及び移動距離が表示される。そして、中心の発
光ダイオード80のみが点灯するように被検レン
ズLを移動した後、表示スイツチ3をオンすれ
ば、第1の表示装置5に被検レンズLの屈折力
D、乱視軸θ、プリズム量P等の正しい値が表示
される。 なお、第2図において、測定のための光ビーム
は、光源としての発光ダイオード等を射出した
後、レンズ受け台9の内部を通つて被検レンズL
を透過した後、レンズ筒10内のレンズによつて
不図示の位置検出器に入射するようになつてい
る。 以上の実施例では、x方向、y方向の発光ダイ
オード群80a,80b,80c,80dは正負
に各々3つづつ設けたが、よりきめの細かい表示
を行ないたた場合等は発光ダイオードの数を増加
させても良いことは勿論である。そして表1によ
れば、屈折力DをD1単位で考慮しているため、
屈折力D1の範囲ではずれの差は丸められており、
またプリズム量Pについても所定の範囲で丸めら
れているので、すべての場合に正確なずれの大き
さに応じた表示ができるわけではないが、上述の
如く発光ダイオードの数を増して行けば、実質的
には問題のない程度の正確な表示をできるように
なる。 さらに、表示の態様としては、ずれの大きさに
発光ダイオードの数を対応させるのではなく、点
灯する発光ダイオードの位置をずれの大きさに対
応させたり、点灯や点滅の組み合せによつて、少
ない数の発光ダイオードでよりきめの細かい表示
をするようになしても良い。 また、表示手段としては発光ダイオードに限ら
ず、液晶等の電気光学素子その他による表示装置
を用いることができる。 (発明の効果) 以上のように本発明によれば被測定レンズの度
数やプラスマイナスに関係なく、測定機の光軸と
レンズの光軸のずれの大きさに比例した量ととも
にレンズを動かすべき方向をも示すので位置合わ
せが行い易いという利点がある。更に応用として
方向指示部材の信号を用いてレンズを自動的に位
置合わせしてしまうようなオートアライメントオ
ートレンズメータも考えられる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のブロツク図、第2
図は第1図のブロツク図で示される自動レンズメ
ータの外観図、第3図は第1図で用いられる位置
ずれ表示パターンの平面図、第4図は第1図で用
いられるマイクロコンピユータのフローチヤート
を示す図、第5図a,b,cは各種レンズにおけ
るプリズムの影響を説明するための図である。 主要部分の符号の説明、1……測定光学系、2
……演算処理装置、6……マイクロコンピユー
タ、7……第2の表示駆動装置、8……第2の表
示装置。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 測定光学系と演算処理手段とを有し、前記光
    学系の所定位置に挿入された被検レンズの光学特
    性に依存した光像の位置変化から前記被検レンズ
    の屈折力D、プリズム量P、プリズム基底方向γ
    を前記演算処理手段によつて検出する自動レンズ
    メータにおいて、 前記測定光学系の光軸と前記被検レンズの光軸
    との位置ずれを二次元的に表示する表示手段と、 前記屈折力D、プリズム量P、及びプリズム基
    底方向γにそれぞれ対応した信号から前記測定光
    学系の光軸と前記被検レンズの光軸とのずれの方
    向及びずれの大きさに比例した位置ずれ信号を求
    め、それによつて、前記測定光学系の光軸と前記
    被検レンズの光軸とのずれの方向及びずれの大き
    さに実質的に比例した表示を前記表示手段に行わ
    せる表示制御手段と、 を有することを特徴とする自動レンズメータ。
JP9346585A 1985-04-30 1985-04-30 自動レンズメ−タ Granted JPS61251733A (ja)

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JP9346585A JPS61251733A (ja) 1985-04-30 1985-04-30 自動レンズメ−タ

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2569718Y2 (ja) * 1988-03-05 1998-04-28 ホーヤ株式会社 レンズメータの被検レンズ光学中心位置表示装置
JPH08271377A (ja) * 1995-03-31 1996-10-18 Topcon Corp 光学特性表示装置
JP4920181B2 (ja) * 2004-08-23 2012-04-18 株式会社ニデック レンズメータ

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HOYA HUMPHREY LENS ANALYZER nÞalfb±lxbýÐ=S53 *

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