JPH0579818A - 測距装置の受光装置 - Google Patents
測距装置の受光装置Info
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- JPH0579818A JPH0579818A JP24299391A JP24299391A JPH0579818A JP H0579818 A JPH0579818 A JP H0579818A JP 24299391 A JP24299391 A JP 24299391A JP 24299391 A JP24299391 A JP 24299391A JP H0579818 A JPH0579818 A JP H0579818A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 受光装置１０を構成する１対の受光素子ＣＨ
１，ＣＨ２の受光出力を演算して、両者の面積比が一致
するか否かを検出する測距方式において、欠けを生じた
反射光１２を正確に検出する。 【構成】 １対からなる個々の各受光素子ＣＨ１，ＣＨ
２を同一条件により複数個に分割して、それぞれ各受光
素子部ＣＨ１ａ，ＣＨ１ｂと、各受光素子部ＣＨ２ａ，
ＣＨ２ｂとしておき、各受光素子ＣＨ１，ＣＨ２間での
受光出力を演算して得られる反射光の面積比が一致しな
かった場合に、各受光素子部ＣＨ１ａとＣＨ１ｂとの
間，各受光素子部ＣＨ２ａとＣＨ２ｂとの間の受光出力
を演算して得られる反射光の面積比により、反射光の欠
けの有無を検出し得るようにする。
１，ＣＨ２の受光出力を演算して、両者の面積比が一致
するか否かを検出する測距方式において、欠けを生じた
反射光１２を正確に検出する。 【構成】 １対からなる個々の各受光素子ＣＨ１，ＣＨ
２を同一条件により複数個に分割して、それぞれ各受光
素子部ＣＨ１ａ，ＣＨ１ｂと、各受光素子部ＣＨ２ａ，
ＣＨ２ｂとしておき、各受光素子ＣＨ１，ＣＨ２間での
受光出力を演算して得られる反射光の面積比が一致しな
かった場合に、各受光素子部ＣＨ１ａとＣＨ１ｂとの
間，各受光素子部ＣＨ２ａとＣＨ２ｂとの間の受光出力
を演算して得られる反射光の面積比により、反射光の欠
けの有無を検出し得るようにする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、測距装置の受光装置
に関し、さらに詳しくは、カメラのアクティブオートフ
ォーカス機構などの測距装置に適用される誤測距防止手
段を講じた受光装置の改良に係るものである。
に関し、さらに詳しくは、カメラのアクティブオートフ
ォーカス機構などの測距装置に適用される誤測距防止手
段を講じた受光装置の改良に係るものである。
【０００２】
【従来の技術】図５は、従来例によるこの種の測距装置
としてのアクティブオートフォーカス機構における測距
用の１対の受光素子を用いた受光装置の構成，および当
該受光装置に対する通常の反射光の受光態様を説明する
概念図であり、図６は、同上従来例での受光装置に対す
る欠けを生じた反射光の受光態様を説明する概念図、図
７は、同上従来例での受光装置に対する欠けを生じた反
射光の受光によってもたらされる見掛け上の反射光の受
光態様を説明する概念図である。また、図８は同上従来
例でのアクティブオートフォーカス機構における測距時
の演算方式を示す説明図である。
としてのアクティブオートフォーカス機構における測距
用の１対の受光素子を用いた受光装置の構成，および当
該受光装置に対する通常の反射光の受光態様を説明する
概念図であり、図６は、同上従来例での受光装置に対す
る欠けを生じた反射光の受光態様を説明する概念図、図
７は、同上従来例での受光装置に対する欠けを生じた反
射光の受光によってもたらされる見掛け上の反射光の受
光態様を説明する概念図である。また、図８は同上従来
例でのアクティブオートフォーカス機構における測距時
の演算方式を示す説明図である。
【０００３】これらの従来例各図において、符号１０は
アクティブオートフォーカス機構における受光装置を示
し、ＣＨ１，ＣＨ２は当該受光装置１０を構成して隣接
配置される四角形状をなす１対の受光素子であり、Ａ
１，Ａ２はこれらの各受光素子ＣＨ１，ＣＨ２によって
受光された各反射光の検出出力である。また、１１は前
記各受光素子ＣＨ１，ＣＨ２に受光される通常の反射
光、１２は同様に受光される欠けを生じた反射光、１３
は同上欠けを生じた反射光１２の受光によってもたらさ
れる見掛け上での通常の反射光である。
アクティブオートフォーカス機構における受光装置を示
し、ＣＨ１，ＣＨ２は当該受光装置１０を構成して隣接
配置される四角形状をなす１対の受光素子であり、Ａ
１，Ａ２はこれらの各受光素子ＣＨ１，ＣＨ２によって
受光された各反射光の検出出力である。また、１１は前
記各受光素子ＣＨ１，ＣＨ２に受光される通常の反射
光、１２は同様に受光される欠けを生じた反射光、１３
は同上欠けを生じた反射光１２の受光によってもたらさ
れる見掛け上での通常の反射光である。
【０００４】上記従来構成によるアクティブオートフォ
ーカス機構においては、測距に際して、図５に示されて
いる如く、受光装置１０の各受光素子ＣＨ１，ＣＨ２に
受光される反射光の検出出力を図８に示す演算方式によ
って演算し、これを各反射光の面積比として検出するこ
とにより、測距のための１つの演算データに用いてい
る。
ーカス機構においては、測距に際して、図５に示されて
いる如く、受光装置１０の各受光素子ＣＨ１，ＣＨ２に
受光される反射光の検出出力を図８に示す演算方式によ
って演算し、これを各反射光の面積比として検出するこ
とにより、測距のための１つの演算データに用いてい
る。
【０００５】すなわち、この従来の測距手段によれば、
図５に見られる如く、各受光素子ＣＨ１，ＣＨ２に対し
て通常の反射光１１が均等に受光されると、図８の演算
方式によって両者の面積比が、 ＣＨ１：ＣＨ２＝１：１（図５） のように一致して検出され、また、一方の受光素子ＣＨ
１側に対してのみ、通常の反射光１１が受光されると、
同様に両者の面積比は、 ＣＨ１：ＣＨ２＝１：０ のように一致せずに検出される。
図５に見られる如く、各受光素子ＣＨ１，ＣＨ２に対し
て通常の反射光１１が均等に受光されると、図８の演算
方式によって両者の面積比が、 ＣＨ１：ＣＨ２＝１：１（図５） のように一致して検出され、また、一方の受光素子ＣＨ
１側に対してのみ、通常の反射光１１が受光されると、
同様に両者の面積比は、 ＣＨ１：ＣＨ２＝１：０ のように一致せずに検出される。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この従
来の測距手段においては、例えば、図６に示されている
ように、測距に際して受光される反射光に受光素子ＣＨ
２側で欠けを生じ、受光素子ＣＨ１側でのみ当該欠けを
生じた反射光１２が受光された場合には、両者の面積比
が、 ＣＨ１：ＣＨ２＝１：０（図６） のように一致せずに検出されることになるもので、こゝ
では、図７に見られるように、恰かも、該当する受光素
子ＣＨ１側においてのみ通常の反射光１１が受光された
のと同等の状態，換言すると、欠けを生じた反射光１２
によってもたらされる見掛け上での通常の反射光１３が
受光されたのと同様になり、両者の面積比の演算結果
が、 ＣＨ１：ＣＨ２＝１：０（図７） のように一致せずに検出されて了い、最終的には、受光
した受光素子ＣＨ１側での検出結果が、通常の反射光１
１によるものか、あるいは見掛け上での通常の反射光１
３によるものかを判別できないという問題点があった。
来の測距手段においては、例えば、図６に示されている
ように、測距に際して受光される反射光に受光素子ＣＨ
２側で欠けを生じ、受光素子ＣＨ１側でのみ当該欠けを
生じた反射光１２が受光された場合には、両者の面積比
が、 ＣＨ１：ＣＨ２＝１：０（図６） のように一致せずに検出されることになるもので、こゝ
では、図７に見られるように、恰かも、該当する受光素
子ＣＨ１側においてのみ通常の反射光１１が受光された
のと同等の状態，換言すると、欠けを生じた反射光１２
によってもたらされる見掛け上での通常の反射光１３が
受光されたのと同様になり、両者の面積比の演算結果
が、 ＣＨ１：ＣＨ２＝１：０（図７） のように一致せずに検出されて了い、最終的には、受光
した受光素子ＣＨ１側での検出結果が、通常の反射光１
１によるものか、あるいは見掛け上での通常の反射光１
３によるものかを判別できないという問題点があった。
【０００７】この発明は、このような従来の問題点を解
消するためになされたもので、その目的とするところ
は、通常の反射光については、これを本来の通常の反射
光として検出し、また、欠けを生じた反射光について
は、これを見掛け上での通常の反射光のようには検出せ
ずに、正確に欠けを生じた反射光として検出し得るよう
にした，この種の測距装置の受光装置を提供することで
ある。
消するためになされたもので、その目的とするところ
は、通常の反射光については、これを本来の通常の反射
光として検出し、また、欠けを生じた反射光について
は、これを見掛け上での通常の反射光のようには検出せ
ずに、正確に欠けを生じた反射光として検出し得るよう
にした，この種の測距装置の受光装置を提供することで
ある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、この発明に係る測距装置の受光装置は、隣接配置さ
れた１対からなる個々の各受光素子を、同一条件で分割
することによって１組づゝの各受光素子部にすると共
に、各受光素子間における反射光の面積比が一致しなか
った場合には、各受光素子部間における反射光の面積比
から反射光の欠けの有無を検出するようにしたものであ
る。
に、この発明に係る測距装置の受光装置は、隣接配置さ
れた１対からなる個々の各受光素子を、同一条件で分割
することによって１組づゝの各受光素子部にすると共
に、各受光素子間における反射光の面積比が一致しなか
った場合には、各受光素子部間における反射光の面積比
から反射光の欠けの有無を検出するようにしたものであ
る。
【０００９】すなわち、この発明は、受光装置（１０）
を構成して隣接配置される１対の受光素子（ＣＨ１）お
よび（ＣＨ２）を有し、各受光素子（ＣＨ１），（ＣＨ
２）の受光出力を演算して、両者の面積比が一致するか
否かを検出する測距方式において、前記１対からなる個
々の各受光素子（ＣＨ１）および（ＣＨ２）を同一条件
により複数個に分割して、それぞれ各受光素子部（ＣＨ
１ａ），（ＣＨ１ｂ）と、各受光素子部（ＣＨ２ａ），
（ＣＨ２ｂ）としておき、前記各受光素子（ＣＨ１），
（ＣＨ２）間での受光出力を演算して得られる反射光の
面積比が一致しなかった場合には、各受光素子部（ＣＨ
１ａ）と（ＣＨ１ｂ）との間，および各受光素子部（Ｃ
Ｈ２ａ）と（ＣＨ２ｂ）との間でのそれぞれの受光出力
を演算して得られる反射光の面積比により、反射光の欠
けの有無を検出し得るようにしたことを特徴とする測距
装置の受光装置である。
を構成して隣接配置される１対の受光素子（ＣＨ１）お
よび（ＣＨ２）を有し、各受光素子（ＣＨ１），（ＣＨ
２）の受光出力を演算して、両者の面積比が一致するか
否かを検出する測距方式において、前記１対からなる個
々の各受光素子（ＣＨ１）および（ＣＨ２）を同一条件
により複数個に分割して、それぞれ各受光素子部（ＣＨ
１ａ），（ＣＨ１ｂ）と、各受光素子部（ＣＨ２ａ），
（ＣＨ２ｂ）としておき、前記各受光素子（ＣＨ１），
（ＣＨ２）間での受光出力を演算して得られる反射光の
面積比が一致しなかった場合には、各受光素子部（ＣＨ
１ａ）と（ＣＨ１ｂ）との間，および各受光素子部（Ｃ
Ｈ２ａ）と（ＣＨ２ｂ）との間でのそれぞれの受光出力
を演算して得られる反射光の面積比により、反射光の欠
けの有無を検出し得るようにしたことを特徴とする測距
装置の受光装置である。
【００１０】
【作用】従って、この発明においては、１対からなる個
々の各受光素子（ＣＨ１）および（ＣＨ２）を、同一条
件で複数個に分割することによって１組づゝの各受光素
子部（ＣＨ１ａ），（ＣＨ１ｂ）と、各受光素子部（Ｃ
Ｈ２ａ），（ＣＨ２ｂ）とし、各受光素子（ＣＨ１）お
よび（ＣＨ２）間における反射光の面積比が一致しなか
ったときに、これらの各受光素子（ＣＨ１）および（Ｃ
Ｈ２）を構成する各受光素子部（ＣＨ１ａ）と（ＣＨ１
ｂ）との間，および各受光素子部（ＣＨ２ａ）と（ＣＨ
２ｂ）との間における反射光の面積比を得るようにした
ので、１対からなる個々の各受光素子（ＣＨ１）および
（ＣＨ２）によっては、通常の反射光による相互の面積
比を検出でき、１組の各受光素子部（ＣＨ１ａ）と（Ｃ
Ｈ１ｂ），および各受光素子部（ＣＨ２ａ）と（ＣＨ２
ｂ）によっては、反射光の欠けの有無を検出できる。
々の各受光素子（ＣＨ１）および（ＣＨ２）を、同一条
件で複数個に分割することによって１組づゝの各受光素
子部（ＣＨ１ａ），（ＣＨ１ｂ）と、各受光素子部（Ｃ
Ｈ２ａ），（ＣＨ２ｂ）とし、各受光素子（ＣＨ１）お
よび（ＣＨ２）間における反射光の面積比が一致しなか
ったときに、これらの各受光素子（ＣＨ１）および（Ｃ
Ｈ２）を構成する各受光素子部（ＣＨ１ａ）と（ＣＨ１
ｂ）との間，および各受光素子部（ＣＨ２ａ）と（ＣＨ
２ｂ）との間における反射光の面積比を得るようにした
ので、１対からなる個々の各受光素子（ＣＨ１）および
（ＣＨ２）によっては、通常の反射光による相互の面積
比を検出でき、１組の各受光素子部（ＣＨ１ａ）と（Ｃ
Ｈ１ｂ），および各受光素子部（ＣＨ２ａ）と（ＣＨ２
ｂ）によっては、反射光の欠けの有無を検出できる。
【００１１】
【実施例】以下，この発明に係る測距装置の受光装置の
実施例につき、図１ないし図４を参照して詳細に説明す
る。
実施例につき、図１ないし図４を参照して詳細に説明す
る。
【００１２】図１は、この発明の一実施例を適用したア
クティブオートフォーカス機構での測距用の隣接配置さ
れた各１組づゝ１対の受光素子を用いた受光装置の構
成，および当該受光装置の各受光素子に対する通常の反
射光の受光態様を説明する概念図であり、図２は、同上
実施例での一方の受光素子のみに対する通常の反射光の
受光態様を説明する概念図、図３は、同上実施例での一
方の受光素子のみに対する欠けを生じた反射光の受光態
様を説明する概念図である。また、図４は、同上実施例
でのアクティブオートフォーカス機構における測距時の
演算方式を示す説明図である。こゝで、これらの実施例
各図において、上記従来例各図と同一符号は、同一また
は相当部分を示す。
クティブオートフォーカス機構での測距用の隣接配置さ
れた各１組づゝ１対の受光素子を用いた受光装置の構
成，および当該受光装置の各受光素子に対する通常の反
射光の受光態様を説明する概念図であり、図２は、同上
実施例での一方の受光素子のみに対する通常の反射光の
受光態様を説明する概念図、図３は、同上実施例での一
方の受光素子のみに対する欠けを生じた反射光の受光態
様を説明する概念図である。また、図４は、同上実施例
でのアクティブオートフォーカス機構における測距時の
演算方式を示す説明図である。こゝで、これらの実施例
各図において、上記従来例各図と同一符号は、同一また
は相当部分を示す。
【００１３】これらの実施例各図においても、符号１０
はアクティブオートフォーカス機構における受光装置を
示し、ＣＨ１，ＣＨ２は当該受光装置１０を構成して隣
接配置される四角形状をなす１対の受光素子、ＣＨ１
ａ，ＣＨ１ｂおよびＣＨ２ａ，ＣＨ２ｂは当該１対から
なる各受光素子ＣＨ１，ＣＨ２の四角形状を同一対角線
上で斜め方向に２分割して形成したそれぞれに１組づゝ
の各受光素子部であり、Ａ１ａ，Ａ１ｂおよびＡ２ａ，
Ａ２ｂは当該１組づゝの各受光素子部ＣＨ１ａ，ＣＨ１
ｂおよびＣＨ２ａ，ＣＨ２ｂによって受光された各反射
光の受光出力である。また、１１は前記各受光素子ＣＨ
１，ＣＨ２に受光される通常の反射光、１２は同様に受
光される欠けを生じた反射光である。
はアクティブオートフォーカス機構における受光装置を
示し、ＣＨ１，ＣＨ２は当該受光装置１０を構成して隣
接配置される四角形状をなす１対の受光素子、ＣＨ１
ａ，ＣＨ１ｂおよびＣＨ２ａ，ＣＨ２ｂは当該１対から
なる各受光素子ＣＨ１，ＣＨ２の四角形状を同一対角線
上で斜め方向に２分割して形成したそれぞれに１組づゝ
の各受光素子部であり、Ａ１ａ，Ａ１ｂおよびＡ２ａ，
Ａ２ｂは当該１組づゝの各受光素子部ＣＨ１ａ，ＣＨ１
ｂおよびＣＨ２ａ，ＣＨ２ｂによって受光された各反射
光の受光出力である。また、１１は前記各受光素子ＣＨ
１，ＣＨ２に受光される通常の反射光、１２は同様に受
光される欠けを生じた反射光である。
【００１４】しかして、上記実施例構成によるアクティ
ブオートフォーカス機構の場合、測距に際して、図１に
示されているように、受光装置１０の各受光素子ＣＨ１
およびＣＨ２に受光される反射光，ひいては当該各受光
素子ＣＨ１およびＣＨ２をそれぞれに構成する１組づゝ
の各受光素子部ＣＨ１ａ，ＣＨ１ｂおよびＣＨ２ａ，Ｃ
Ｈ２ｂに受光される反射光は、それぞれの受光出力Ａ１
ａ，Ａ１ｂおよびＡ２ａ，Ａ２ｂとして図４に示す演算
方式で次のように演算され、これを各反射光の面積比と
して検出することにより、その検出結果を測距のための
１つの演算データに用いる。
ブオートフォーカス機構の場合、測距に際して、図１に
示されているように、受光装置１０の各受光素子ＣＨ１
およびＣＨ２に受光される反射光，ひいては当該各受光
素子ＣＨ１およびＣＨ２をそれぞれに構成する１組づゝ
の各受光素子部ＣＨ１ａ，ＣＨ１ｂおよびＣＨ２ａ，Ｃ
Ｈ２ｂに受光される反射光は、それぞれの受光出力Ａ１
ａ，Ａ１ｂおよびＡ２ａ，Ａ２ｂとして図４に示す演算
方式で次のように演算され、これを各反射光の面積比と
して検出することにより、その検出結果を測距のための
１つの演算データに用いる。
【００１５】すなわち、この実施例の測距手段によれ
ば、図１に見られるように、各受光素子ＣＨ１，ＣＨ２
に対して通常の反射光１１が均等に受光されると、図４
の演算方式によって各受光素子部ＣＨ１ａ，ＣＨ１ｂお
よびＣＨ２ａ，ＣＨ２ｂの面積比が、 ＣＨ１ａ＋ＣＨ１ｂ：ＣＨ２ａ＋ＣＨ１ｂ＝１：１（図
１） のように一致して検出され、また、一方の受光素子ＣＨ
１側に対してのみ、通常の反射光１１が受光されると、
同様に各受光素子部ＣＨ１ａ，ＣＨ１ｂおよびＣＨ２
ａ，ＣＨ２ｂの面積比は、 ＣＨ１ａ＋ＣＨ１ｂ：ＣＨ２ａ＋ＣＨ１ｂ＝１：０（図
２） のように一致せずに検出されることになる。
ば、図１に見られるように、各受光素子ＣＨ１，ＣＨ２
に対して通常の反射光１１が均等に受光されると、図４
の演算方式によって各受光素子部ＣＨ１ａ，ＣＨ１ｂお
よびＣＨ２ａ，ＣＨ２ｂの面積比が、 ＣＨ１ａ＋ＣＨ１ｂ：ＣＨ２ａ＋ＣＨ１ｂ＝１：１（図
１） のように一致して検出され、また、一方の受光素子ＣＨ
１側に対してのみ、通常の反射光１１が受光されると、
同様に各受光素子部ＣＨ１ａ，ＣＨ１ｂおよびＣＨ２
ａ，ＣＨ２ｂの面積比は、 ＣＨ１ａ＋ＣＨ１ｂ：ＣＨ２ａ＋ＣＨ１ｂ＝１：０（図
２） のように一致せずに検出されることになる。
【００１６】そして、各面積比が一致しなかったときに
は、受光された反射光が、通常の反射光１１であるか、
または、欠けを生じた反射光１２，つまり、上述した従
来例における見掛け上の通常の反射光１３であるかを判
別するために、この場合の受光出力を生じた受光素子Ｃ
Ｈ１に対し、その１組の各受光素子部ＣＨ１ａ，ＣＨ１
ｂにおける各受光出力Ａ１ａ，Ａ１ｂを再演算すること
により、それぞれの各面積比が、 ＣＨ１ａ：ＣＨ１ｂ＝１：１（図２に対応） であれば、これが該当する受光素子ＣＨ１側での各受光
素子部ＣＨ１ａ，ＣＨ１ｂに対してのみ、通常の反射光
１１が受光された場合であるものと判断でき、また、そ
れぞれの各面積比が、 ＣＨ１ａ：ＣＨ１ｂ＝０：１（図３に対応） であれば、これが該当する受光素子ＣＨ１側での該当し
ない受光素子ＣＨ２に隣接した受光素子部ＣＨ１ｂに対
してのみ、欠けを生じた反射光１２が受光された場合で
あるものと判断できるのであり、最終的には、このよう
にして、受光された反射光が、通常の反射光１１である
か、または、欠けを生じた反射光１２であるかを極めて
容易に判別し得るのである。
は、受光された反射光が、通常の反射光１１であるか、
または、欠けを生じた反射光１２，つまり、上述した従
来例における見掛け上の通常の反射光１３であるかを判
別するために、この場合の受光出力を生じた受光素子Ｃ
Ｈ１に対し、その１組の各受光素子部ＣＨ１ａ，ＣＨ１
ｂにおける各受光出力Ａ１ａ，Ａ１ｂを再演算すること
により、それぞれの各面積比が、 ＣＨ１ａ：ＣＨ１ｂ＝１：１（図２に対応） であれば、これが該当する受光素子ＣＨ１側での各受光
素子部ＣＨ１ａ，ＣＨ１ｂに対してのみ、通常の反射光
１１が受光された場合であるものと判断でき、また、そ
れぞれの各面積比が、 ＣＨ１ａ：ＣＨ１ｂ＝０：１（図３に対応） であれば、これが該当する受光素子ＣＨ１側での該当し
ない受光素子ＣＨ２に隣接した受光素子部ＣＨ１ｂに対
してのみ、欠けを生じた反射光１２が受光された場合で
あるものと判断できるのであり、最終的には、このよう
にして、受光された反射光が、通常の反射光１１である
か、または、欠けを生じた反射光１２であるかを極めて
容易に判別し得るのである。
【００１７】なお、上記実施例装置においては、１対か
らなる個々の各受光素子ＣＨ１，ＣＨ２を、それぞれ四
角形状に形成させ、かつ１組づゝの各受光素子部ＣＨ１
ａ，ＣＨ１ｂとＣＨ２ａ，ＣＨ２ｂとを、それぞれに当
該四角形状を同一対角線上で斜め方向に２分割して形成
させているが、必ずしもこの分割態様にのみ制限を受け
るものではなく、より以上の複数個に任意の方向で分割
することによっても同様な作用，効果が得られることは
勿論である。
らなる個々の各受光素子ＣＨ１，ＣＨ２を、それぞれ四
角形状に形成させ、かつ１組づゝの各受光素子部ＣＨ１
ａ，ＣＨ１ｂとＣＨ２ａ，ＣＨ２ｂとを、それぞれに当
該四角形状を同一対角線上で斜め方向に２分割して形成
させているが、必ずしもこの分割態様にのみ制限を受け
るものではなく、より以上の複数個に任意の方向で分割
することによっても同様な作用，効果が得られることは
勿論である。
【００１８】
【発明の効果】以上、実施例によって詳述したように、
この発明方法によれば、受光装置を構成して隣接配置さ
れる１対の受光素子を有し、これらの各受光素子の受光
出力を演算して、両者の面積比が一致するか否かを検出
する測距方式において、１対からなる個々の各受光素子
を同一条件により複数個に分割して、それぞれに一方の
各受光素子部と、他方の各受光素子部とを形成してお
き、各受光素子間での受光出力を演算して得られる反射
光の面積比が一致しなかった場合には、一方の各受光素
子部間，および他方の各受光素子部間におけるそれぞれ
の受光出力の演算により、これらの間の各反射光の面積
比を得て、反射光の欠けの有無を検出できるもので、最
終的には、１対からなる個々の各受光素子によって、通
常の反射光による相互の面積比を検出でき、また、当該
各受光素子を構成する１組の各受光素子部によって、反
射光の欠けの有無を検出でき、この結果，高精度による
測距操作が可能になるという優れた特長を発揮し得るの
である。
この発明方法によれば、受光装置を構成して隣接配置さ
れる１対の受光素子を有し、これらの各受光素子の受光
出力を演算して、両者の面積比が一致するか否かを検出
する測距方式において、１対からなる個々の各受光素子
を同一条件により複数個に分割して、それぞれに一方の
各受光素子部と、他方の各受光素子部とを形成してお
き、各受光素子間での受光出力を演算して得られる反射
光の面積比が一致しなかった場合には、一方の各受光素
子部間，および他方の各受光素子部間におけるそれぞれ
の受光出力の演算により、これらの間の各反射光の面積
比を得て、反射光の欠けの有無を検出できるもので、最
終的には、１対からなる個々の各受光素子によって、通
常の反射光による相互の面積比を検出でき、また、当該
各受光素子を構成する１組の各受光素子部によって、反
射光の欠けの有無を検出でき、この結果，高精度による
測距操作が可能になるという優れた特長を発揮し得るの
である。
【図１】この発明の一実施例装置を適用したアクティブ
オートフォーカス機構の受光装置の構成，および通常の
反射光の受光態様を説明する概念図である。
オートフォーカス機構の受光装置の構成，および通常の
反射光の受光態様を説明する概念図である。
【図２】図１の受光装置の一方の受光素子のみに対する
通常の反射光の受光態様を説明する概念図である。
通常の反射光の受光態様を説明する概念図である。
【図３】図１一方の受光素子のみに対する欠けを生じた
反射光の受光態様を説明する概念図である。
反射光の受光態様を説明する概念図である。
【図４】図１のアクティブオートフォーカス機構におけ
る測距時の演算方式を示す説明図である。
る測距時の演算方式を示す説明図である。
【図５】従来のアクティブオートフォーカス機構の受光
装置の構成，およびこの受光装置に対する通常の反射光
の受光態様を説明する概念図である。
装置の構成，およびこの受光装置に対する通常の反射光
の受光態様を説明する概念図である。
【図６】図５の受光装置に対する欠けを生じた反射光の
受光態様を説明する概念図である。
受光態様を説明する概念図である。
【図７】図５のの受光装置に対する欠けを生じた反射光
の受光によってもたらされる見掛け上の反射光の受光を
説明する概念図である。
の受光によってもたらされる見掛け上の反射光の受光を
説明する概念図である。
【図８】図５ののアクティブオートフォーカス機構にお
ける測距時の演算方式を示す説明図である。
ける測距時の演算方式を示す説明図である。
１０ アクティブオートフォーカス機構の受光装置 ＣＨ１，ＣＨ２ １対からなる個々の各受光素子 ＣＨ１ａ，ＣＨ１ｂ 一方の受光素子を構成する１組の
各受光素子部 ＣＨ２ａ，ＣＨ２ｂ 他方の受光素子を構成する１組の
各受光素子部 Ａ１ａ，Ａ１ｂ 一方の各受光素子部の受光出力 Ａ２ａ，Ａ２ｂ 他方の各受光素子部の受光出力 １１ 通常の反射光 １２ 欠けを生じた反射光
各受光素子部 ＣＨ２ａ，ＣＨ２ｂ 他方の受光素子を構成する１組の
各受光素子部 Ａ１ａ，Ａ１ｂ 一方の各受光素子部の受光出力 Ａ２ａ，Ａ２ｂ 他方の各受光素子部の受光出力 １１ 通常の反射光 １２ 欠けを生じた反射光
Claims (2)
- 【請求項１】 受光装置を構成して隣接配置される１対
の受光素子ＣＨ１およびＣＨ２を有し、各受光素子ＣＨ
１，ＣＨ２の受光出力を演算して、両者の面積比が一致
するか否かを検出する測距装置の測距方式において、 前記１対からなる個々の各受光素子ＣＨ１およびＣＨ２
を同一条件で複数個に分割して、それぞれに各受光素子
部ＣＨ１ａ，ＣＨ１ｂと、各受光素子部ＣＨ２ａ，ＣＨ
２ｂとしておき、 前記各受光素子ＣＨ１，ＣＨ２間での受光出力を演算し
て得られる反射光の面積比が一致しなかった場合には、 前記各受光素子部ＣＨ１ａとＣＨ１ｂとの間，および各
受光素子部ＣＨ２ａとＣＨ２ｂとの間でのそれぞれの受
光出力を演算して得られる反射光の面積比により、反射
光の欠けの有無を検出し得るようにしたことを特徴とす
る測距装置の受光装置。 - 【請求項２】 前記１対からなる個々の各受光素子ＣＨ
１およびＣＨ２が、それぞれに四角形状に形成されてお
り、 また、前記１組づゝの各受光素子部ＣＨ１ａおよびＣＨ
１ｂと、ＣＨ２ａおよびＣＨ２ｂとが、それぞれに四角
形状を同一対角線上で斜め方向に２分割して形成されて
いる請求項１記載の測距装置の受光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24299391A JPH0579818A (ja) | 1991-09-24 | 1991-09-24 | 測距装置の受光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24299391A JPH0579818A (ja) | 1991-09-24 | 1991-09-24 | 測距装置の受光装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0579818A true JPH0579818A (ja) | 1993-03-30 |
Family
ID=17097300
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24299391A Pending JPH0579818A (ja) | 1991-09-24 | 1991-09-24 | 測距装置の受光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0579818A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000041248A1 (en) * | 1998-12-28 | 2000-07-13 | Hamamatsu Photonics K.K. | Semiconductor position detector and range finder using the same |
-
1991
- 1991-09-24 JP JP24299391A patent/JPH0579818A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000041248A1 (en) * | 1998-12-28 | 2000-07-13 | Hamamatsu Photonics K.K. | Semiconductor position detector and range finder using the same |
| US6529281B2 (en) | 1998-12-28 | 2003-03-04 | Hamamatsu Photonics K.K. | Position sensitive detectors and distance measuring apparatus using them |
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